JPH10142241A - カンチレバーの評価装置 - Google Patents
カンチレバーの評価装置Info
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- JPH10142241A JPH10142241A JP8298872A JP29887296A JPH10142241A JP H10142241 A JPH10142241 A JP H10142241A JP 8298872 A JP8298872 A JP 8298872A JP 29887296 A JP29887296 A JP 29887296A JP H10142241 A JPH10142241 A JP H10142241A
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Abstract
る。 【解決手段】カンチレバー1の固定端部1aの一面側を
着脱自在に支持する支持部材10と、この支持部材10
に支持されたカンチレバー1の固定端部1aの他面側に
当接自在に配置され、カンチレバー1の他面側に当接し
たとき、固定端部1aを介してカンチレバー1を振動さ
せる加振部材6と、この加振部材6を前記他面側に当接
した状態でカンチレバー1の固定端部1aを前記支持部
材10とによって押圧して挟持する押圧部材2と、前記
カンチレバー1の自由端部1bに対向してカンチレバー
1の振動を検出し、変位信号を出力する検出手段4と、
前記加振部材6に加振信号を出力すると共に、前記検出
手段4からの変位信号が入力されカンチレバー1の固有
振動数を検出する周波数解析装置3とを有する。押圧部
材2に取り付けた加振部材6と、支持部材10とによっ
て、カンチレバー1を挟持するため、着脱が簡単であ
り、カンチレバー1の交換時に破壊することがなくな
る。
Description
の走査型プロープ顕微鏡に用いるカンチレバーの固有振
動数を検出して、特性を評価する評価装置に関する。
固有振動させながらカンチレバーを試料表面上に走査
し、この走査により得た表面情報から画像を形成するも
のとして走査型プローブ顕微鏡がある。特開昭63−3
09802号公報には、尖った先端部を有した片持ち針
を原子間力が発生可能な距離まで、試料表面に近づけた
状態で走査し、原子間力に影響されて生じる片持ち針の
振動の固有振動数からシフトを検出し、検出した振動数
のシフトを片持ち針の先端部と試料表面の距離を示す情
報として使用することにより、試料表面の像を形成し
て、測定することが記載されている。
相当し、また、固有振動数として走査型プローブ顕微鏡
の測定時には、数十KHzから数百KHzまでの中で用
途により特定の共振周波数f1 が用いられる。ところが
共振周波数f1 は、多数個のカンチレバーをウエハーに
作製した場合、カンチレバーの製造上、各カンチレバー
毎に、あるいはカンチレバーを形成したウエハー毎にバ
ラツキが出やすい。このため、特定の共振周波数f1 を
有するカンチレバーのみを選別して使っているのが実情
である。
カンチレバーのみを選別する、即ち、各カンチレバーの
固有振動数を検出して共振周波数f1 と一致するか否か
を求める装置として、特開平6−201315号公報に
記載されている走査型プローブ顕微鏡装置を用いること
ができる。図8および図9は、この装置を用いてカンチ
レバーの固有走査振動数を検出して評価する方法を示
す。
チレバー131を接着剤、粘着剤、粘着テープ等によっ
て実際の使用状態と略同じように加振圧電体132の下
面に固定する。次いで、振幅検出部136を介して、加
振圧電体132を可変周波数で駆動し、加振圧電体13
2に貼り付けられているカンチレバー131を振動す
る。カンチレバー131の振動振幅の変位はカンチレバ
ー131の上部に構成されている変位検出器135で検
出され、振幅検出部136により処理され、振幅量とし
てコンピュータ133へ出力される。
は、横軸に可変周波数、縦軸に振幅量をプロットし、順
次可変周波数を変化させた時の振幅量を表している。図
9よりカンチレバー131の特性、即ち特定の固有振動
数を求め、走査型プローブ顕微鏡の測定時に必要となる
カンチレバーの共振周波数f1 と一致しているか否かを
評価する。この評価の結果、共振周波数f1 と一致して
いるときは使用可能とし、不一致のときは使用不可とし
て選別していた。
なカンチレバーを加振圧電体に貼り付け固定とした状態
においてカンチレバーの尖った先端部と試料表面とを近
づけすぎた場合など、操作上のミス等によりカンチレバ
ーを破損することがあり、測定に先立って、カンチレバ
ーの交換が必要となる。しかしながら、交換すべき新た
なカンチレバーが所定の共振周波数f1 を有しているも
のであるか否かが不明であると、測定すべき試料を準備
した後には、新たなカンチレバーについての特性を評価
する必要があり、直ちに走査型プローブ顕微鏡による試
料の測定ができない。このため、カンチレバーの破損が
あっても、所定の共振周波数f1 を有するカンチレバー
に直ちに交換できるように多数個準備することが望まれ
ている。
術による走査型プローブ顕微鏡を用い、予めカンチレバ
ーの特性を評価する場合には、カンチレバーを加振圧電
体に接着剤等で固定する必要がある。
るため、他数個のカンチレバーを評価する場合は、加振
圧電体の固定部位からカンチレバーを一旦剥がし、次段
のカンチレバーと取り替える事が必要であり、剥がした
カンチレバーは変形により使用出来ない状態になる場合
がある。また通常使われている半導体プロセスを使用し
て製作されたカンチレバーは、ウエハー上に複数形成さ
れており、ウエハー上に形成されたカンチレバーの各々
を評価するため、抜き取り評価としてウエハー上から1
個単位でカンチレバーを複数個切り出し、切り取った1
個ずつを加振圧電体に固定して、特性を評価し、全体の
評価につなげる検査があるが、この場合にも、剥がした
カンチレバーが変形するので使用できなくなっていた。
この為、全数検査、多量サンプルの抜き取り検査ができ
ず、検査効率が悪い。また振動量が加振圧電体およびカ
ンチレバーを保持している固定部分の振動特性に影響さ
れ、正確な評価ができないものとなっている。
り、請求項1,2の発明は、1個のカンチレバーまた
は、複数のカンチレバーを破壊せずに評価できるカンチ
レバーの評価装置を提供することを目的とする。
上に複数形成されたカンチレバーに対し、各々加振する
必要が無く、測定時の加振圧電体の脱着回数を減らし
て、複数個のカンチレバーを高速に評価できるカンチレ
バーの評価装置を提供することを目的とする。
れたカンチレバー、あるいは複数のカンチレバーに対
し、さらに高精度でカンチレバーの評価ができるカンチ
レバーの評価装置を提供することを目的とする。
チレバーの固有振動数を検出し、その特性を評価するカ
ンチレバーの評価装置において、前記カンチレバーの固
定端部の一面側を着脱自在に支持する支持部材と、この
支持部材に支持されたカンチレバーの固定端部の他面側
に当接自在に配置され、カンチレバーの他面側に当接し
たとき、固定端部を介してカンチレバーを振動させる加
振部材と、この加振部材を前記他面側に当接した状態で
カンチレバーの固定端部を前記支持部材とによって押圧
して挟持する押圧部材と、前記カンチレバーの自由端部
に対向してカンチレバーの振動を検出し、変位信号を出
力する検出手段と、前記加振部材に加振信号を出力する
と共に、前記検出手段からの変位信号が入力されカンチ
レバーの固有振動数を検出する周波数解析装置と、を有
することを特徴とする。
されたカンチレバーに対し、加振部材が当接して振動さ
せ、この振動によって検出手段および周波数解析装置が
カンチレバーの固有振動数を検出する。カンチレバーの
固定は押圧部材に取り付けられた加振部材と、支持部材
とで固定端部を挟むことにより行われ、押圧部材の押圧
を解除するだけで支持部材へのカンチレバーの交換がで
き、カンチレバーが破壊されることがなくなる。
動数を検出し、その特性を評価するカンチレバーの評価
装置において、多数のカンチレバーの各固定端部をそれ
ぞれウエハー本体に接続した状態で形成されたウエハー
の前記ウエハー本体を支持する支持部材と、この支持部
材に支持されたウエハーの一面側であって、ウエハーの
少なくとも1個のカンチレバーの固定端部に当接自在に
配置され、固定端部に接したとき、固定端部を介してカ
ンチレバーを振動させる加振部材と、前記加振部材によ
って、振動するカンチレバーの自由端部に対向してカン
チレバーの振動を検出し、この変位信号を出力する検出
手段と、前記加振部材に加振信号を出力すると共に、前
記検出手段からの変位信号が入力され、カンチレバーの
固有振動数を検出する周波数解析装置と、前記ウエハー
本体を支持する支持部材を介して、ウエハーに形成され
た各カンチレバーの固定端部および自由端部をそれぞれ
前記加振部材と検出手段の位置に移動させるステージ
と、を有することを特徴とする。
形成されたカンチレバーの固定端部に加振部材が当接し
て、支持部材にカンチレバーを固定する。従って、この
場合にも、加振部材のカンチレバーへの当接を解除する
だけで、ウエハーの交換ができ、カンチレバーを破壊す
ることがない。
動数を検出し、その特性を評価するカンチレバーの評価
装置において、多数のカンチレバーの各固定端部をそれ
ぞれウエハー本体に接続した状態で形成されたウエハー
の前記ウエハー本体を支持する支持部材と、この支持部
材に支持されたウエハーの一面側における前記ウエハー
本体上に固定され、ウエハー本体を介して各カンチレバ
ーを振動させる加振部材と、この加振部材によって振動
するカンチレバーの少なくとも1つのカンチレバーの自
由端部に対向して、カンチレバーの振動を検出し、変位
信号を出力する検出手段と、前記加振部材に加振信号を
出力すると共に、前記検出手段からの変位信号が入力さ
れ、カンチレバーの固有振動数を検出する周波数解析装
置と、前記ウエハー本体を支持する支持部材を介して、
ウエハーに形成された各カンチレバーの自由端部を前記
検出手段の位置に移動させるステージと、を有すること
を特徴とする。
固定されており、加振部材の振動によってウエハー全体
が振動し、この振動によってウエハーに形成されている
すべてのカンチレバーが振動する。このため、加振部材
を個々のカンチレバーに望ませる必要がなくなり、評価
を迅速に行うことができる。
動数を検出し、その特性を評価するカンチレバーの評価
装置において、多数のカンチレバーの各固定端部をそれ
ぞれウエハー本体に接続した状態で形成されたウエハー
の前記ウエハー本体を支持する支持部材と、この支持部
材に支持されたウエハーのカンチレバーを振動させる加
振部材と、この加振部材によって振動するカンチレバー
の固定端部に対向して固定端部の振動を検出し、変位信
号を出力する第1の検出手段と、前記加振部材によって
振動するカンチレバーの自由端部の振動を検出し、変位
信号を出力する第2の検出手段と、前記加振部材に加振
信号を出力すると共に、前記第1の検出手段からの変位
信号と第2の検出手段からの変位信号とが入力され、こ
れらの変位信号を差分してカンチレバーの固有振動数を
検出する周波数解析装置とを有することを特徴とする。
動および自由端部の振動の2つの振動情報によってカン
チレバーの固有振動数を検出するため、正確な検出が可
能となる。
振動数を検出して、その特性を評価するための評価装置
を示す。同図において、カンチレバー1はその固定端部
1aが、支持部材としてのベース10の支持部10aに
載置されると共に、その上側の面が下端に圧電素子6を
取り付けた押圧部材としてのバネ2によって押圧されて
いる。これによりカンチレバー1はベース10と圧電素
子6との間に着脱自在に保持されている。
ー本体60と、ウエハー本体60に形成された多数個の
カンチレバー1とを備えている。カンチレバー1はウエ
ハー本体60上にマイクロファブリケーション、マイク
ロマシニングからなる半導体製作技術をベースにして、
微細形状に多数個を形成した後、このウエハー本体60
より図2(b)で示す点線位置で1個単位で切り出した
ものである。このカンチレバー1は図2(b)で示す肉
薄の先端側が探針5を有する自由端部1bとなってい
る。なお固定端部1a下面の段差は製造上で形成される
ものである。前記ベース10は、上述した支持部10a
を上方に向けて突出した台座部10bと、台座部10b
から上方に向けて立設した支柱部10cと、支柱部10
cから屈曲して水平方向に伸びた水平部10dとを骨組
みの基本構造としている。このベース10の水平部10
dの下面にバネ2が配設され、これにより台座部10か
ら突出する支持部10aに載置されたカンチレバー1の
固定端部1aを圧電素子6を介して押圧しつつ挟持する
構成となっている。
探針5の裏側には、自由端部1bから所定の間隔を有し
て、カンチレバー1の振動振幅を検出する変位センサー
4aを有する検出部4が配設されている。この変位セン
サー4aは周知の光てこ法、ナイフエッジ法又は、臨界
角検出法等の原理により作製されている。
たカンチレバー1の自由端部1bの振動振幅を変位信号
として、周波数解析装置としてのスペクトラムアナライ
ザー3に出力するように接続されている。スペクトラム
アナライザー3は、カンチレバー1を振動させるための
加振信号Aを加振部材としての圧電素子6に出力する。
またスペクトラムアナライザー3はこのときの検出部4
からの変位信号Bを受け取り、カンチレバー1の振動振
幅および位相を計算する。この計算結果は表示部3aで
表示される。
ら1個単位のカンチレバー1を図2(b)の点線位置で
切り出す。次いで、カンチレバー1の固定端部1aをベ
ース10の台座部10bから突出する支持部10aに載
置する。そして、固定端部1aの反対側の面に対し、バ
ネ2で付勢された圧電素子6を当接させ、押圧力により
カンチレバー1を支持する。
電素子6に対し、周波数を順次変化させながら加振信号
Aを印加する。この加振信号Aによりカンチレバー1の
自由端部1bは周波数毎に対応した振動を行う。この周
波数ごとの振動を変位センサー4aで測定し、かつ検出
部4において各周波数の振動振幅に対応した変位信号B
が得られる。この変位信号Bがスペクトラムアナライザ
ー3に出力されて、各周波数に対応した振動振幅が計算
される。そしてスペクトラムアナライザー3によって振
動状態の最大値が求められ、カンチレバー1の共振周波
数が求められ、この数値が表示部3aに表示される。
し、骨組みの構造が略コ字状のベース10の台座部にス
テージ12が固定されている。このステージ12には、
上部に円錐状のゴム11を配した支柱18を少なくとも
3本立設し、各ゴム11の錐頂部を介して少なくとも3
点で接することによりウエハー59のウエハー本体60
を保持する。ゴム11は圧電素子6によるウエハー本体
60の振動を減衰しないようにするためのものである。
ステージ12は、クロスステージで構成することによ
り、X,Y方向に移動可能である。
に複数個のカンチレバー1が形成されている。カンチレ
バー1はマイクロファブリケーション、マイクロマシニ
ングとからなる半導体デバイス作成技術をベースに微細
形状に加工されている。このカンチレバー1はその接続
部がウエハー本体60に連設するが、側面および先端側
はウエハー本体60と分離されている。そして、カンチ
レバー1は先端側がさらに3角形状に肉抜きされ且つ肉
薄にされた自由端部1bと、自由端部1bよりも肉厚に
されて前記3角形状部分を支持する固定端部1aとから
構成されている。なお、拡大図(b)で示す点線位置で
ウエハー本体60から切断されたカンチレバー1は、走
査型プローブ顕微鏡の加振圧電体に貼り付けられること
になる。
針5を設けた長さ500〜2000μm、幅200μm
の窒化シリコンからなり、固定端部1aは、シリコン又
はパイレックスからなる。カンチレバー1の固定端部1
a上部にはカンチレバーを振動させるための加振部材と
して、ゴム7に保持された圧電素子6が設けられてい
る。ゴム7は上下に移動可能なローラステージを有する
ステージ9に支えられて圧電素子6をZ方向に可動可能
としている。
固定された取り付け板61に取り付けられている。ファ
イバー13は、カンチレバー1の自由端部1bの下部に
配置され、これによりカンチレバー1の自由端部1bの
振動振幅を測定する。このファイバー13は、ファイバ
ーセンサ14を介して振動振幅を振動信号Bとして出力
する。スペクトラムアナライザー3は、加振信号Aを圧
電素子6に出力し圧電素子6を振動させると共に、この
時の振動信号Bを入力するようにファイバーセンサ14
に接続されており、振動振幅および位相を計算する、周
波数解析装置として機能する。また、このスペクトラム
アナライザー3は計算結果の表示部3aを有している。
エハー本体60全体をX,Y方向で移動させ、圧電素子
6をカンチレバー1の固定端部1a上部に位置決めする
ように操作する。ステージ9を下降し、圧電素子6をカ
ンチレバー1の固定端部1aに押圧する。この時、ゴム
7は押圧する圧力がカンチレバー1に急激に作用しない
ようにする緩衝材の働きをする。
の加振信号Aにより加振され、この圧電素子6が接触し
ているカンチレバー1は、加振信号Aの周波数で振動す
る。振動振幅は、カンチレバー1の自由端部1b下部に
位置するファイバー13により検出され、ファイバーセ
ンサ14により電気信号としての振動信号Bとなる。カ
ンチレバー1の周波数特性を得るため、スペクトラムア
ナライザー3は加振信号Aの周波数を順次変化させてカ
ンチレバー1を加振し、同時にカンチレバー1の自由端
部1bの振動信号Bの振幅および位相を順次検出し、こ
れを表示部3aで表示する。
周波数を順次変化させ振幅および位相を検出する方法と
は別に、ランダム信号を出力し、入力信号をフーリエ解
析する機能を有している。従ってランダム信号により圧
電素子6を加振し、振動信号Bをフーリエ解析しても同
様の結果が得られる。
60にカンチレバー1が一体化している状態で、カンチ
レバー1の特性を評価できるので、従来のように加振圧
電体の固定部からの剥がし取りの工程が必要なくなる。
このため評価したカンチレバー1に対して変形を与える
ことなく、良好な特性を有する多数のカンチレバーを準
備することができる。よってウエハーのカンチレバーの
全数検査や多量の抜き取り検査を行うことができるとと
もに、振動量が加振圧電体およびカンチレバーを保持し
ている固定部位の振動特性に影響されない正確な評価が
できる。即ち、カンチレバーの固定端部を直接加振する
ため、高周波で加振でき、高い共振周波数を持ったカン
チレバーの評価が行える。
態3を示す。ベース10に固定されたステージ12に
は、3箇所に均等配した円錐状のゴム11が直接固定さ
れ、ゴム11を介して3点で接することにより、図2に
示すウエハー59のウエハー本体60を保持する。な
お、ゴム11は4個以上を均等配に保持してもよい。ス
テージ12は、クロスローラステージ等で構成されてお
り、X,Y方向に移動可能である。
個のカンチレバー1が形成されている。これはマイクロ
ファブリケーション、マイクロマイニングからなる半導
体デバイス作成技術をベースに微細形状に加工される。
探針5(図2参照)を設けた長さ500〜2000μ
m、幅200μmの窒化シリコンからなり、固定端部1
aは、シリコン又はパイレックスからなる。
センサ51はカンチレバー1の自由端部1bの上部に設
けられ、自由端部1bの振動振幅を検出し振動信号Bを
出力する。変位センサ51は、光てこ法、ナイフエッジ
法又は臨界角検出法等を利用して作られた光変位センサ
で構成することができる。
レバー1の基部であるウエハー本体60上に取り付けら
れ、加振信号Aに従い圧電素子52を振動させる事によ
りウエハー本体60全体が加振する。スペクトラムアナ
ライザー3は、加振信号Aを圧電素子52に出力して、
圧電素子52を振動させると共に、この時の振動信号B
が入力されて振動振幅および位相を計算する。圧電素子
52のウエハーへの取り付けは粘着剤による取り付け、
あるいは、実施の形態1で示したゴム7とステージ9に
よる取り付けが可能である。
ハー本体60全体を移動させ、変位センサ51をカンチ
レバー1の自由端部1b上部に位置決めする。変位セン
サ51から出射する検出光は、カンチレバー1の自由端
部に当てられ、圧電素子52により振動させられるカン
チレバー1の自由端部1bにおける変位を検出してい
る。即ち、圧電素子51は、スペクトラムアナライザー
3により出力される加振信号Aにより振動させられる。
この振動は、ウエハー本体60全体に伝わって、結果的
にカンチレバー1の自由端部1bを振動させる。このと
き、ゴム11は、ウエハー本体60の振動を減衰しない
ように機能する。カンチレバー1の自由端部1bの振動
振幅は、変位センサ51により検出され、電気信号とし
ての振動信号Bを出力する。カンチレバー1の周波数特
性を得るために、スペクトラムアナライザー3は加振信
号Aの周波数を順次変化させてウエハー本体60を加振
し、同時にカンチレバー1の自由端部1bの振動信号B
の振幅および位相を順次検出し、表示部3aで表示す
る。
周波数を順次変化させ振幅および位相を検出する方法と
は別に、ランダム信号を出力し、入力信号をフーリエ解
析する機能を有している。従って、ランダム信号により
圧電素子52を加振し、振動信号Bをフーリエ解析して
も同様の結果が得られる。
体を加振するため、各々個別に加振部を取付ける必要が
無く、装置構成が簡略化できると共に加振部を取り付け
る手順が一度で済むため測定時間が短縮できる。また加
振部材である圧電素子52を比較的強固なウエハー本体
60上に取り付けることにより、非常に壊れやすいカン
チレバー1への接触が必要無くなり、操作性が向上する
と共に、カンチレバーを安全に評価できる。
態4を示す。ベース10に固定されたステージ12に
は、3箇所に均等に配した円錐状のゴム11が直接固定
され、ゴム11を介して3点で接することにより、図2
に示すウエハー59のウエハー本体60を保持してい
る。なお、ゴムは4個以上でウエハーを保持してもよ
い。ステージ12は、クロスステージ等からなり、X,
Y方向に移動可能である。
図2に示すように複数個のカンチレバー1が形成されて
いる。これは、マイクロファブリケーション、マイクロ
シニングからなる半導体デバイス製作技術をベースに微
細形状に加工することができる。カンチレバー1の自由
端部1bは、先端に探針5を設けた長さ500〜200
0μm、幅200μmの窒化シリコンからなり、固定端
部1aは、シリコン又はパイレックスからなる。
ァイバー22の一端はカンチレバー1の自由端部1bの
上部に隙間を設けて配置され、これにより自由端部1b
の振動振幅を測定するとともにファイバーセンサ23よ
り振動信号Cを出力する。
ァイバー21の一端はカンチレバー1の固定端部1aの
上部に隙間を設けて配置し、固定端部1aの振動振幅を
測定するとともに、ファイバーセンサ24より振動信号
Dを出力する。圧電素子52は、カンチレバー1の基部
を構成しているウエハー本体60上に取り付けられ、振
動することによりウエハー本体60全体を加振する。
Aを圧電素子52に印加して、圧電素子52を振動させ
ると共に、この時の振動信号CおよびDが入力されるこ
とによりカンチレバー1の振動振幅および位相を計算す
る。さらに、このスペクトラムアナライザー3は、両者
の振幅、位相を周波数軸上で差分し、カンチレバー1の
自由端部1bだけの振動特性を得る機能を有している。
ー本体60全体を移動させ、ファイバーセンサ22の一
端およびファイバーセンサ21の一端のそれぞれをカン
チレバー1の自由端部1bの上部および固定端部1aの
上部に位置決めする。圧電素子52は、加振信号Aによ
り振動し、ウエハー本体60全体にこの振動を伝え、結
果としてカンチレバー1を振動させる。この時ゴム11
は、ウエハー本体60の振動を減衰しないように機能す
る。
は、圧電素子52の振動特性およびその固定端部1aお
よびウエハー本体60およびこれを保持しているゴム1
1等の振動特性がカンチレバー1の自由端部1bの振動
特性に含まれている。カンチレバー1の自由端部1bの
振動特性だけを外乱より分離し検出するため、スペクト
ラムアナライザー3は加振信号Aの周波数を順次変化さ
せて、カンチレバー1を加振すると同時に、固定端部1
aの振動をファイバー21で検出し、さらに振動を自由
端部1bの振動をファイバー22で検出し、振幅、位相
情報を得る。両者の振幅、位相を周波数軸上でスペクト
ラムアナライザー3により差分することによりカンチレ
バー1の自由端部1bだけの振動特性を得ることができ
る。
数を順次変化させ接続および位相を検出する方法とは別
に、ランダム信号を出力し、入力信号をフーリエ解析す
る機能を有している。従って、ランダム信号により圧電
素子52を加振し、振動信号CおよびDをフーリエ解析
しこれらの差を計算しても同様の結果が得られる。
の振動を検出するためファイバー21および22を配置
したが、ファイバー21の一端を自由端部および固定端
部にスライド移動させる機構を設けても良く、これによ
り1本のファイバーだけでも同様の効果が得られる。
定端部の振動特性と自由端部の振動特性を同時に検出
し、差分を取るため、正確な評価ができる。またカンチ
レバー以外の振動特性を固定端部の信号でキャンセルで
きるため高精度で安定したカンチレバー評価が可能にな
る。
素子52を粘着剤によって取り付けているが、実施の形
態1で示したように、ウエハー内の1個のカンチレバー
の固定端部に対して直接に圧電素子を接触させ且つこの
圧電素子をゴムを介してステージ12により押圧し、ゴ
ム11との間でウエハー本体60あるいはカンチレバー
1を支持してもよい。
ーあるいはウエハーは水平状態にしてゴムで支えている
が、これに限らず、垂直状態にして支えて実施すること
もできる。例えば図1に対しては、図3で示すように、
カンチレバー1を支持する支持部10aの形状を、カン
チレバーの固定端部1aの一面側とカンチレバー1の後
端面とを支持するL字形の屈曲形状とすることにより、
他の構成をそのままして測定が可能となる。
ステージ12上に、ウエハー本体60の外周側面を支持
するための支持用受け部材62を追加する。この支持用
受け部材62の底面62aによってウエハー59の落下
を防止するとともに、各支柱18のゴム11に対して、
ウエハー59を押圧し固定するように、支持用受け部材
62の凹部内にバネ63を配し、バネ63に取り付けた
レバー64を設けている。このレバー64の進退操作に
よりバネ63による付勢を解除し、ウエハー59を着脱
自在にする。
チレバーにを加振部材と支持部材とによって挟持して固
定するため、カンチレバーを破壊せずに評価できる。
ンチレバーを同時に加振するため、カンチレバーに直接
接触せずに複数個のカンチレバーを高速に評価できる。
ーの固定端部と自由端部の振動を検出して周波数解析し
た後、両者を差分する信号処理部を設けたことにより、
カンチレバーの振動特性を高精度に検出できる。
バーの斜視図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 カンチレバーの固有振動数を検出し、そ
の特性を評価するカンチレバーの評価装置において、 前記カンチレバーの固定端部の一面側を着脱自在に支持
する支持部材と、 この支持部材に支持されたカンチレバーの固定端部の他
面側に当接自在に配置され、カンチレバーの他面側に当
接したとき、固定端部を介してカンチレバーを振動させ
る加振部材と、 この加振部材を前記他面側に当接した状態でカンチレバ
ーの固定端部を前記支持部材とによって押圧して挟持す
る押圧部材と、 前記カンチレバーの自由端部に対向してカンチレバーの
振動を検出し、変位信号を出力する検出手段と、 前記加振部材に加振信号を出力すると共に、前記検出手
段からの変位信号が入力されカンチレバーの固有振動数
を検出する周波数解析装置と、 を有することを特徴とするカンチレバーの評価装置。 - 【請求項2】 カンチレバーの固有振動数を検出し、そ
の特性を評価するカンチレバーの評価装置において、 多数のカンチレバーの各固定端部をそれぞれウエハー本
体に接続した状態で形成されたウエハーの前記ウエハー
本体を支持する支持部材と、 この支持部材に支持されたウエハーの一面側であって、
ウエハーの少なくとも1個のカンチレバーの固定端部に
当接自在に配置され、固定端部に接したとき、固定端部
を介してカンチレバーを振動させる加振部材と、 前記加振部材によって、振動するカンチレバーの自由端
部に対向してカンチレバーの振動を検出し、この変位信
号を出力する検出手段と、 前記加振部材に加振信号を出力すると共に、前記検出手
段からの変位信号が入力され、カンチレバーの固有振動
数を検出する周波数解析装置と、 前記ウエハー本体を支持する支持部材を介して、ウエハ
ーに形成された各カンチレバーの固定端部および自由端
部をそれぞれ前記加振部材と検出手段の位置に移動させ
るステージと、 を有することを特徴とするカンチレバーの評価装置。 - 【請求項3】 カンチレバーの固有振動数を検出し、そ
の特性を評価するカンチレバーの評価装置において、 多数のカンチレバーの各固定端部をそれぞれウエハー本
体に接続した状態で形成されたウエハーの前記ウエハー
本体を支持する支持部材と、 この支持部材に支持されたウエハーの一面側における前
記ウエハー本体上に固定され、ウエハー本体を介して各
カンチレバーを振動させる加振部材と、 この加振部材によって振動するカンチレバーの少なくと
も1つのカンチレバーの自由端部に対向して、カンチレ
バーの振動を検出し、変位信号を出力する検出手段と、 前記加振部材に加振信号を出力すると共に、前記検出手
段からの変位信号が入力され、カンチレバーの固有振動
数を検出する周波数解析装置と、 前記ウエハー本体を支持する支持部材を介して、ウエハ
ーに形成された各カンチレバーの自由端部を前記検出手
段の位置に移動させるステージと、 を有することを特徴とするカンチレバーの評価装置。 - 【請求項4】 カンチレバーの固有振動数を検出し、そ
の特性を評価するカンチレバーの評価装置において、 多数のカンチレバーの各固定端部をそれぞれウエハー本
体に接続した状態で形成されたウエハーの前記ウエハー
本体を支持する支持部材と、 この支持部材に支持されたウエハーのカンチレバーを振
動させる加振部材と、 この加振部材によって振動するカンチレバーの固定端部
に対向して固定端部の振動を検出し、変位信号を出力す
る第1の検出手段と、 前記加振部材によって振動するカンチレバーの自由端部
の振動を検出し、変位信号を出力する第2の検出手段
と、 前記加振部材に加振信号を出力すると共に、前記第1の
検出手段からの変位信号と第2の検出手段からの変位信
号とが入力され、これらの変位信号を差分してカンチレ
バーの固有振動数を検出する周波数解析装置と、 を有することを特徴とするカンチレバーの評価装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29887296A JP3670777B2 (ja) | 1996-11-11 | 1996-11-11 | カンチレバーの評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29887296A JP3670777B2 (ja) | 1996-11-11 | 1996-11-11 | カンチレバーの評価装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10142241A true JPH10142241A (ja) | 1998-05-29 |
JP3670777B2 JP3670777B2 (ja) | 2005-07-13 |
Family
ID=17865285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29887296A Expired - Fee Related JP3670777B2 (ja) | 1996-11-11 | 1996-11-11 | カンチレバーの評価装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3670777B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001183257A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-06 | Mitsutoyo Corp | プローブの検査方法及び装置 |
WO2005010501A1 (ja) * | 2003-07-29 | 2005-02-03 | Toudai Tlo, Ltd. | 走査型プローブ顕微鏡 |
WO2006093209A1 (ja) * | 2005-03-02 | 2006-09-08 | Japan Science And Technology Agency | ヘテロダインレーザドップラープローブ及びそれを用いた測定システム |
JP2009008508A (ja) * | 2007-06-27 | 2009-01-15 | Nagaoka Univ Of Technology | 振動測定装置及び振動測定方法 |
-
1996
- 1996-11-11 JP JP29887296A patent/JP3670777B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPWO2006093209A1 (ja) * | 2005-03-02 | 2008-08-07 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ヘテロダインレーザドップラープローブ及びそれを用いた測定システム |
US7719663B2 (en) | 2005-03-02 | 2010-05-18 | Japan Science And Technology Agency | Heterodyne laser doppler probe and measurement system using the same |
JP4485571B2 (ja) * | 2005-03-02 | 2010-06-23 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ヘテロダインレーザドップラープローブ及びそれを用いた測定システム |
JP2009008508A (ja) * | 2007-06-27 | 2009-01-15 | Nagaoka Univ Of Technology | 振動測定装置及び振動測定方法 |
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