JPH10136410A - Ｃｒｔコンバージェンス測定方法 - Google Patents
Ｃｒｔコンバージェンス測定方法Info
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- JPH10136410A JPH10136410A JP28679096A JP28679096A JPH10136410A JP H10136410 A JPH10136410 A JP H10136410A JP 28679096 A JP28679096 A JP 28679096A JP 28679096 A JP28679096 A JP 28679096A JP H10136410 A JPH10136410 A JP H10136410A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 カラーＣＲＴコンバージェンス調整時に、高
精度且つ安定してＲＧＢの電子ビーム位置を測定する。 【解決手段】 カラーＣＲＴ前面に映し出された所定の
ピッチを持ったテストラインパターン11をスタティック
＆ダイナミックコンバージェンス測定兼用カメラ12でセ
ンシングし、テストラインパターン11とカメラ12のＣＣ
Ｄ画素14間にて発生する光学干渉正弦波形15を測定す
る。光学干渉正弦波形15の１周期Ｌ’は、テストライン
パターン11のピッチＬに相当するため、ズームカメラを
用いなくても、光学的にテストラインパターン11を拡大
したことになる。このＲＧＢ光学干渉正弦波形19，20，
21をスタティック＆ダイナミックコンバージェンス測定
兼用カメラ12で取り込み、画像処理でＲＧＢそれぞれの
位相を検出し、同一周期に合わせることにより、カラー
ＣＲＴコンバージェンス調整において、高精度にＲＧＢ
(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定し、調整すること
ができる。
精度且つ安定してＲＧＢの電子ビーム位置を測定する。 【解決手段】 カラーＣＲＴ前面に映し出された所定の
ピッチを持ったテストラインパターン11をスタティック
＆ダイナミックコンバージェンス測定兼用カメラ12でセ
ンシングし、テストラインパターン11とカメラ12のＣＣ
Ｄ画素14間にて発生する光学干渉正弦波形15を測定す
る。光学干渉正弦波形15の１周期Ｌ’は、テストライン
パターン11のピッチＬに相当するため、ズームカメラを
用いなくても、光学的にテストラインパターン11を拡大
したことになる。このＲＧＢ光学干渉正弦波形19，20，
21をスタティック＆ダイナミックコンバージェンス測定
兼用カメラ12で取り込み、画像処理でＲＧＢそれぞれの
位相を検出し、同一周期に合わせることにより、カラー
ＣＲＴコンバージェンス調整において、高精度にＲＧＢ
(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定し、調整すること
ができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、カラーＣＲＴを用
いたテレビ及びディスプレイモニタの生産工程におい
て、カラーＣＲＴコンバージェンス調整時に、高精度且
つ安定してＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定
し、調整するＣＲＴコンバージェンス測定方法に関する
ものである。
いたテレビ及びディスプレイモニタの生産工程におい
て、カラーＣＲＴコンバージェンス調整時に、高精度且
つ安定してＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定
し、調整するＣＲＴコンバージェンス測定方法に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】図２は従来のカラーＣＲＴコンバージェ
ンス測定方法を説明する図である。この測定方法の装置
の構成は、図２(a)に示すようにカラーＣＲＴ１から発
射されたＲＧＢ調整前の電子ビームの結像位置61をスタ
ティックコンバージェンス用クローズアップカメラ(Ｃ
ＣＤカメラ)２と２台のダイナミックコンバージェンス
用カメラ３にてセンシングするようになっている。
ンス測定方法を説明する図である。この測定方法の装置
の構成は、図２(a)に示すようにカラーＣＲＴ１から発
射されたＲＧＢ調整前の電子ビームの結像位置61をスタ
ティックコンバージェンス用クローズアップカメラ(Ｃ
ＣＤカメラ)２と２台のダイナミックコンバージェンス
用カメラ３にてセンシングするようになっている。
【０００３】次に図２(a)に示す装置の測定動作を説明
すると、図２(b)に示すようにカラーＣＲＴ１の画面８
に映し出された、コンバージェンス測定上の中央テスト
パターン４をスタティックコンバージェンス用クローズ
アップカメラ(ＣＣＤカメラ)２にてセンシングし、測定
用マスク５のエリアのＲＧＢテストパターンの輝度重心
をＲとＢの重心のＧの重心に対する相対位置を図示せざ
る画像処理コンピュータで画像処理により計算し、スタ
ティックコンバージェンスを測定する。
すると、図２(b)に示すようにカラーＣＲＴ１の画面８
に映し出された、コンバージェンス測定上の中央テスト
パターン４をスタティックコンバージェンス用クローズ
アップカメラ(ＣＣＤカメラ)２にてセンシングし、測定
用マスク５のエリアのＲＧＢテストパターンの輝度重心
をＲとＢの重心のＧの重心に対する相対位置を図示せざ
る画像処理コンピュータで画像処理により計算し、スタ
ティックコンバージェンスを測定する。
【０００４】そして、図２(c)のように、ＲＧＢ調整前
の電子ビームの結像位置61について、ＲＧＢをそれぞれ
測定した後、ＲＧＢ調整後の電子ビームの結像位置(コ
ンバージェンス後)62のようにＲＧＢを集中するように
調整する。
の電子ビームの結像位置61について、ＲＧＢをそれぞれ
測定した後、ＲＧＢ調整後の電子ビームの結像位置(コ
ンバージェンス後)62のようにＲＧＢを集中するように
調整する。
【０００５】次にカラーＣＲＴ１の画面８の周辺テスト
パターンを２台のダイナミックコンバージェンス用カメ
ラ３でセンシングし、ダイナミックコンバージェンスを
スタティック同様に画像処理コンピュータで測定調整す
る。このときのＲＧＢのシャドウマスク７に対するＲＧ
Ｂ調整後の電子ビームの結像位置(コンバージェンス後)
62との位置関係は、図２(d)の左側に示すようになって
いる。
パターンを２台のダイナミックコンバージェンス用カメ
ラ３でセンシングし、ダイナミックコンバージェンスを
スタティック同様に画像処理コンピュータで測定調整す
る。このときのＲＧＢのシャドウマスク７に対するＲＧ
Ｂ調整後の電子ビームの結像位置(コンバージェンス後)
62との位置関係は、図２(d)の左側に示すようになって
いる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のカラーＣＲＴコンバージェンス測定方法において
は、カラーＣＲＴ画面上のテストパターン１点をスタテ
ィックコンバージェンス用クローズアップカメラ(ＣＣ
Ｄカメラ)２にてセンシングするため、スタティックコ
ンバージェンスの所定の精度を確保するにはズームカメ
ラが必要となり、１台のカラーＣＲＴ１にスタティック
コンバージェンス、ダイナミックコンバージェンスを測
定するのに３台のカメラ(カメラ２と２台のカメラ３)が
必要となる。
来のカラーＣＲＴコンバージェンス測定方法において
は、カラーＣＲＴ画面上のテストパターン１点をスタテ
ィックコンバージェンス用クローズアップカメラ(ＣＣ
Ｄカメラ)２にてセンシングするため、スタティックコ
ンバージェンスの所定の精度を確保するにはズームカメ
ラが必要となり、１台のカラーＣＲＴ１にスタティック
コンバージェンス、ダイナミックコンバージェンスを測
定するのに３台のカメラ(カメラ２と２台のカメラ３)が
必要となる。
【０００７】また、測定条件において、中央テストパタ
ーン４が測定マスク５上にない場合、測定エラーとな
り、生産現場での位置決めや、カラーＣＲＴ１の少しの
画像ひずみでも影響を受けやすく、不安定要素をもって
いる。
ーン４が測定マスク５上にない場合、測定エラーとな
り、生産現場での位置決めや、カラーＣＲＴ１の少しの
画像ひずみでも影響を受けやすく、不安定要素をもって
いる。
【０００８】また、図２(d)左側図示の例ではＲＧＢの
電子ビームの結像位置62は合っているにもかかわらず、
図２(d)右側図示のようにＲＧＢのシャドウマスク７の
位置が異なるため正確な輝度重心位置が求められるない
という問題を有していた。
電子ビームの結像位置62は合っているにもかかわらず、
図２(d)右側図示のようにＲＧＢのシャドウマスク７の
位置が異なるため正確な輝度重心位置が求められるない
という問題を有していた。
【０００９】本発明は上記のような課題を解決し、カラ
ーＣＲＴコンバージェンス調整を、１台のカメラで高精
度にＲＧＢの電子ビーム位置を測定し調整し得るととも
に、画像処理によりＲＧＢのシャドウマスク寸法を補正
できるようにしたことを目的とする。
ーＣＲＴコンバージェンス調整を、１台のカメラで高精
度にＲＧＢの電子ビーム位置を測定し調整し得るととも
に、画像処理によりＲＧＢのシャドウマスク寸法を補正
できるようにしたことを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
し目的を達成するため、カラーＣＲＴに所定のピッチを
持った図形を映し出し、この所定のピッチを持った図形
と、それをセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素
ピッチとの干渉を用いて、画像処理でＲＧＢそれぞれの
位相を検出し、同一周期に合わせることにより、高精度
にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定するもの
である。
し目的を達成するため、カラーＣＲＴに所定のピッチを
持った図形を映し出し、この所定のピッチを持った図形
と、それをセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素
ピッチとの干渉を用いて、画像処理でＲＧＢそれぞれの
位相を検出し、同一周期に合わせることにより、高精度
にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定するもの
である。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１記載の発明は、
カラーＣＲＴに所定のピッチを持った図形を映し出し、
所定のピッチを持った図形と、それをセンシングするＣ
ＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、高
精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定しよ
うとしたものであり、所定のピッチを持った図形とＣＣ
Ｄ画素ピッチとの干渉波形の１周期の長さは、カラーＣ
ＲＴに映し出したライン１ピッチ分に相当する。つま
り、ＲＧＢ図形の１ラインを光学的干渉により拡大した
情報をセンシングすることにより、直接ラインのずれを
高輝度にセンシングできるという作用を有する。
カラーＣＲＴに所定のピッチを持った図形を映し出し、
所定のピッチを持った図形と、それをセンシングするＣ
ＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、高
精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定しよ
うとしたものであり、所定のピッチを持った図形とＣＣ
Ｄ画素ピッチとの干渉波形の１周期の長さは、カラーＣ
ＲＴに映し出したライン１ピッチ分に相当する。つま
り、ＲＧＢ図形の１ラインを光学的干渉により拡大した
情報をセンシングすることにより、直接ラインのずれを
高輝度にセンシングできるという作用を有する。
【００１２】また、本発明の請求項２記載の発明は、カ
ラーＣＲＴに所定のピッチを持った図形を画面全面に映
し出し、画面全面に映し出された所定のピッチを持った
図形と、それをセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ
画素ピッチとの干渉を用いて、カラーＣＲＴ画面の任意
の場所で安定的に、且つ高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の
電子ビーム位置を測定しようとしたものであり、カラー
ＣＲＴ画面の周辺などの任意の場所で、センシングパタ
ーンの位置などの影響を全く受けることなく、安定して
且つ高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測
定することができるという作用を有する。
ラーＣＲＴに所定のピッチを持った図形を画面全面に映
し出し、画面全面に映し出された所定のピッチを持った
図形と、それをセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ
画素ピッチとの干渉を用いて、カラーＣＲＴ画面の任意
の場所で安定的に、且つ高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の
電子ビーム位置を測定しようとしたものであり、カラー
ＣＲＴ画面の周辺などの任意の場所で、センシングパタ
ーンの位置などの影響を全く受けることなく、安定して
且つ高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測
定することができるという作用を有する。
【００１３】また、本発明の請求項３記載の発明は、カ
ラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定のピッチを持った図形
を映し出し、上記所定のピッチを持った図形と、上記図
形をセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチ
との干渉を用いて、画像処理により、ＲＧＢのシャドウ
マスク寸法を補正することができ、高精度にＲＧＢ
(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定し調整することが
できるという作用を有する。
ラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定のピッチを持った図形
を映し出し、上記所定のピッチを持った図形と、上記図
形をセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチ
との干渉を用いて、画像処理により、ＲＧＢのシャドウ
マスク寸法を補正することができ、高精度にＲＧＢ
(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定し調整することが
できるという作用を有する。
【００１４】（実施の形態）図１は本発明の実施の形態
におけるカラーＣＲＴコンバージェンス測定方法を説明
する図である。この測定方法の装置の構成は、図１(a)
に示すように図示せざるカラーＣＲＴに映し出された所
定のピッチを持ったテストラインパターン11を１台のス
タティック＆ダイナミックコンバージェンス測定兼用カ
メラ12(以下、単にカメラという)でセンシングし、画像
処理コンピュータ13で測定処理するようになっている。
におけるカラーＣＲＴコンバージェンス測定方法を説明
する図である。この測定方法の装置の構成は、図１(a)
に示すように図示せざるカラーＣＲＴに映し出された所
定のピッチを持ったテストラインパターン11を１台のス
タティック＆ダイナミックコンバージェンス測定兼用カ
メラ12(以下、単にカメラという)でセンシングし、画像
処理コンピュータ13で測定処理するようになっている。
【００１５】次にカラーＣＲＴコンバージェンス測定方
法について、図１を用いてその動作を説明する。まず、
図１(a)において、カラーＣＲＴ全面に映し出された所
定のピッチを持ったテストラインパターン11をカメラ12
でセンシングし、テストラインパターン11とカメラ12の
ＣＣＤ画素14間にて発生する光学干渉正弦波形15を測定
する。このときの光学干渉正弦波形15は、図１(b)に示
すように、テストラインパターン11とカメラ12のＣＣＤ
画素14間にて発生する。テストラインパターン11のピッ
チＬは、カメラ12のＣＣＤ画素14のピッチＣとΔだけず
れた関係とする(Δはズレ量)。
法について、図１を用いてその動作を説明する。まず、
図１(a)において、カラーＣＲＴ全面に映し出された所
定のピッチを持ったテストラインパターン11をカメラ12
でセンシングし、テストラインパターン11とカメラ12の
ＣＣＤ画素14間にて発生する光学干渉正弦波形15を測定
する。このときの光学干渉正弦波形15は、図１(b)に示
すように、テストラインパターン11とカメラ12のＣＣＤ
画素14間にて発生する。テストラインパターン11のピッ
チＬは、カメラ12のＣＣＤ画素14のピッチＣとΔだけず
れた関係とする(Δはズレ量)。
【００１６】
【数１】Ｌ＝Ｃ±Δ また、テストラインパターン11のピッチＬは、光学干渉
正弦波形15の１周期Ｌ’と等価であり、且つ、また光学
干渉正弦波形15の１周期Ｌ’は、テストラインパターン
11のピッチＬに相当するため、ズームカメラを用いなく
ても、光学的にテストラインパターン11を拡大したこと
になる。
正弦波形15の１周期Ｌ’と等価であり、且つ、また光学
干渉正弦波形15の１周期Ｌ’は、テストラインパターン
11のピッチＬに相当するため、ズームカメラを用いなく
ても、光学的にテストラインパターン11を拡大したこと
になる。
【００１７】ここで、図１(c)は、Ｒ光学干渉正弦波形1
9とＧ光学干渉正弦波形20とＢ光学干渉正弦波形21に係
るＲＧＢの電子ビーム調整前の状態を示し、図１(d)は
Ｒ光学干渉正弦波形19とＧ光学干渉正弦波形20とＢ光学
干渉正弦波形21に係るＲＧＢの電子ビーム調整後の状態
を示している。このＲＧＢ光学干渉正弦波形19，20，21
をカメラ12で取り込み、画像処理コンピュータ13の画像
処理でＲＧＢそれぞれの位相を検出し、同一周期に合わ
せることにより、カラーＣＲＴコンバージェンス調整に
おいて、高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置
を測定し調整することができる。
9とＧ光学干渉正弦波形20とＢ光学干渉正弦波形21に係
るＲＧＢの電子ビーム調整前の状態を示し、図１(d)は
Ｒ光学干渉正弦波形19とＧ光学干渉正弦波形20とＢ光学
干渉正弦波形21に係るＲＧＢの電子ビーム調整後の状態
を示している。このＲＧＢ光学干渉正弦波形19，20，21
をカメラ12で取り込み、画像処理コンピュータ13の画像
処理でＲＧＢそれぞれの位相を検出し、同一周期に合わ
せることにより、カラーＣＲＴコンバージェンス調整に
おいて、高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置
を測定し調整することができる。
【００１８】次にＲＧＢのシャドウマスク寸法を補正す
ることについて説明すると、コンバージェンスの目的
は、ＲＧＢシャドウマスク７のＲＧＢそれぞれの位置
に、Ｒテストラインパターン16、Ｇテストラインパター
ン17、Ｂテストラインパターン１８を調整することであ
るから、ＲＧＢシャドウマスク７のＲＧＢ間の寸法を既
知として、ＲＧＢ間の寸法に相当するＲＧＢ光学干渉正
弦波形１９，20，21の位相をずらして調整することが可
能となり、高精度にスタティックコンバージェンスを調
整することができる。
ることについて説明すると、コンバージェンスの目的
は、ＲＧＢシャドウマスク７のＲＧＢそれぞれの位置
に、Ｒテストラインパターン16、Ｇテストラインパター
ン17、Ｂテストラインパターン１８を調整することであ
るから、ＲＧＢシャドウマスク７のＲＧＢ間の寸法を既
知として、ＲＧＢ間の寸法に相当するＲＧＢ光学干渉正
弦波形１９，20，21の位相をずらして調整することが可
能となり、高精度にスタティックコンバージェンスを調
整することができる。
【００１９】なお、図１(e)は、Ｒテストラインパター
ン16、Ｇテストラインパターン17、Ｂテストラインパタ
ーン18のシャドウマスクで見たＲＧＢ電子ビーム調整前
の状態である。
ン16、Ｇテストラインパターン17、Ｂテストラインパタ
ーン18のシャドウマスクで見たＲＧＢ電子ビーム調整前
の状態である。
【００２０】図１(f)は、Ｒテストラインパターン16、
Ｇテストラインパターン17、Ｂテストラインパターン18
のシャドウマスクで見たＲＧＢ電子ビーム調整後の状態
である。
Ｇテストラインパターン17、Ｂテストラインパターン18
のシャドウマスクで見たＲＧＢ電子ビーム調整後の状態
である。
【００２１】以上のように本実施の形態によれば、カラ
ーＣＲＴに映し出された所定のピッチを持ったテストラ
インパターン11をスタティック＆ダイナミックコンバー
ジェンス測定兼用カラーカメラ12でセンシングし、テス
トラインパターン11とカメラ12のＣＣＤ画素14間にて発
生する光学干渉正弦波形15を用いることにより、光学的
にテストラインパターン11を拡大したことになるＲＧＢ
光学干渉正弦波形19，20，21をズームカメラを用いるこ
となく高精度にスタティックコンバージェンスを測定す
ることができる。
ーＣＲＴに映し出された所定のピッチを持ったテストラ
インパターン11をスタティック＆ダイナミックコンバー
ジェンス測定兼用カラーカメラ12でセンシングし、テス
トラインパターン11とカメラ12のＣＣＤ画素14間にて発
生する光学干渉正弦波形15を用いることにより、光学的
にテストラインパターン11を拡大したことになるＲＧＢ
光学干渉正弦波形19，20，21をズームカメラを用いるこ
となく高精度にスタティックコンバージェンスを測定す
ることができる。
【００２２】また、カラーＣＲＴ全面に映し出された所
定のピッチを持ったテストラインパターン11を用いるこ
とにより、ＣＲＴ画面の周辺などの任意の場所で、従来
のような測定用マスク５の位置などの影響を全く受ける
ことなく、安定して且つ高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の
電子ビーム位置を測定することができ、且つ１台のカメ
ラで且つ固定焦点でスタティックコンバージェンス、ダ
イナミックコンバージェンスを安定して且つ高精度に測
定できる。
定のピッチを持ったテストラインパターン11を用いるこ
とにより、ＣＲＴ画面の周辺などの任意の場所で、従来
のような測定用マスク５の位置などの影響を全く受ける
ことなく、安定して且つ高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の
電子ビーム位置を測定することができ、且つ１台のカメ
ラで且つ固定焦点でスタティックコンバージェンス、ダ
イナミックコンバージェンスを安定して且つ高精度に測
定できる。
【００２３】また、カラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定
のピッチを持った図形を映し出し、上記所定のピッチを
持った図形と、上記図形をセンシングするＣＣＤ撮像素
子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、画像処理によ
り、ＲＧＢのシャドウマスク寸法を補正することがで
き、高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測
定し調整することができる。
のピッチを持った図形を映し出し、上記所定のピッチを
持った図形と、上記図形をセンシングするＣＣＤ撮像素
子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、画像処理によ
り、ＲＧＢのシャドウマスク寸法を補正することがで
き、高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測
定し調整することができる。
【００２４】なお、以上の説明では、カラーＣＲＴコン
バージェンス測定方法を水平方向で構成した例で説明し
たが、その他垂直方向についても同様に実施可能であ
る。
バージェンス測定方法を水平方向で構成した例で説明し
たが、その他垂直方向についても同様に実施可能であ
る。
【００２５】
【発明の効果】以上のように本発明は、カラーＣＲＴに
ＲＧＢそれぞれ所定のピッチを持った図形を映し出し、
上記所定のピッチを持った図形と、それをセンシングす
るＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用い
て、センシングすることにより、カラーＣＲＴコンバー
ジェンス調整において高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電
子ビーム位置を測定することができる。
ＲＧＢそれぞれ所定のピッチを持った図形を映し出し、
上記所定のピッチを持った図形と、それをセンシングす
るＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用い
て、センシングすることにより、カラーＣＲＴコンバー
ジェンス調整において高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電
子ビーム位置を測定することができる。
【図１】本発明の実施の形態におけるカラーＣＲＴコン
バージェンス測定方法を説明する図である。
バージェンス測定方法を説明する図である。
【図２】従来のカラーＣＲＴコンバージェンス測定方法
を説明する図である。
を説明する図である。
１，８…ＣＲＴ、 ２…スタティックコンバージェンス
用カメラ、 ３…ダイナミックコンバージェンス用カメ
ラ、 ４…コンバージェンス測定上の中央テストパター
ン、 ５…測定マスク、 ７…ＲＧＢシャドウマスク、
11…ＣＲＴに映し出された所定のピッチを持ったテス
トラインパターン、 12…スタティック＆ダイナミック
コンバージェンス測定兼用カメラ、 13…画像処理コン
ピュータ、14…カメラ12のＣＣＤ画素、 15…光学干渉
正弦波形、 16…Ｒテストラインパターン、 17…Ｇテ
ストラインパターン、 18…Ｂテストラインパターン、
19…Ｒ光学干渉正弦波形、 20…Ｇ光学干渉正弦波形、
21…Ｂ光学干渉正弦波形、 61…ＲＧＢ調整前の電子
ビームの結像位置、 62…ＲＧＢ調整後の電子ビームの
結像位置(コンバージェンス後)。
用カメラ、 ３…ダイナミックコンバージェンス用カメ
ラ、 ４…コンバージェンス測定上の中央テストパター
ン、 ５…測定マスク、 ７…ＲＧＢシャドウマスク、
11…ＣＲＴに映し出された所定のピッチを持ったテス
トラインパターン、 12…スタティック＆ダイナミック
コンバージェンス測定兼用カメラ、 13…画像処理コン
ピュータ、14…カメラ12のＣＣＤ画素、 15…光学干渉
正弦波形、 16…Ｒテストラインパターン、 17…Ｇテ
ストラインパターン、 18…Ｂテストラインパターン、
19…Ｒ光学干渉正弦波形、 20…Ｇ光学干渉正弦波形、
21…Ｂ光学干渉正弦波形、 61…ＲＧＢ調整前の電子
ビームの結像位置、 62…ＲＧＢ調整後の電子ビームの
結像位置(コンバージェンス後)。
Claims (3)
- 【請求項１】 カラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定のピ
ッチを持った図形を映し出し、上記所定のピッチを持っ
た図形と、上記図形をセンシングするＣＣＤ撮像素子の
ＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、画像処理でＲＧＢ
それぞれの位相を検出し、同一周期に合わせることによ
り、ＲＧＢの電子ビーム位置を測定することを特徴とす
るＣＲＴコンバージェンス測定方法。 - 【請求項２】 カラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定のピ
ッチを持った図形を画面全面に映し出し、画面全面に映
し出された上記所定のピッチを持った図形と、上記図形
をセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチと
の干渉を用いて、画像処理でＲＧＢそれぞれの位相を検
出し、同一周期に合わせることにより、ＣＲＴ画面の任
意の場所でＲＧＢの電子ビーム位置を測定することを特
徴とする請求項１記載のＣＲＴコンバージェンス測定方
法。 - 【請求項３】 カラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定のピ
ッチを持った図形を映し出し、上記所定のピッチを持っ
た図形と、上記図形をセンシングするＣＣＤ撮像素子の
ＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、画像処理でＲＧＢ
それぞれの位相を検出し、同一周期に合わせることによ
り、ＲＧＢのシャドウマスク寸法を補正して、ＲＧＢの
電子ビーム位置を測定することを特徴とするＣＲＴコン
バージェンス測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28679096A JP3760217B2 (ja) | 1996-10-29 | 1996-10-29 | Ｃｒｔコンバージェンス測定方法 |
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| JPH10136410A true JPH10136410A (ja) | 1998-05-22 |
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| JP28679096A Expired - Fee Related JP3760217B2 (ja) | 1996-10-29 | 1996-10-29 | Ｃｒｔコンバージェンス測定方法 |
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| JP (1) | JP3760217B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6552755B1 (en) | 2000-01-29 | 2003-04-22 | Samsung Electronics Co., Ltd | Method for measuring convergence by using a mixed color pattern |
| CN104796689A (zh) * | 2015-04-07 | 2015-07-22 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 一种ccd像素位置偏差计算方法 |
-
1996
- 1996-10-29 JP JP28679096A patent/JP3760217B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6552755B1 (en) | 2000-01-29 | 2003-04-22 | Samsung Electronics Co., Ltd | Method for measuring convergence by using a mixed color pattern |
| CN104796689A (zh) * | 2015-04-07 | 2015-07-22 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 一种ccd像素位置偏差计算方法 |
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| Publication number | Publication date |
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| JP3760217B2 (ja) | 2006-03-29 |
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