JPH10135558A - 半導体発光素子の光量制御方法および装置 - Google Patents

半導体発光素子の光量制御方法および装置

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JPH10135558A
JPH10135558A JP30554396A JP30554396A JPH10135558A JP H10135558 A JPH10135558 A JP H10135558A JP 30554396 A JP30554396 A JP 30554396A JP 30554396 A JP30554396 A JP 30554396A JP H10135558 A JPH10135558 A JP H10135558A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 画像データに基づいてオン・オフ制御される
光ビームを射出する半導体発光素子の光量制御方法にお
いて、半導体発光素子の光量が自己発熱により変化する
のを補正して、高精度な光量制御を可能にし、特に光ビ
ーム走査装置に適用した場合に画質の向上を可能にす
る。 【解決手段】 所定の画像データの画像記録に先行して
この画像データに近接する一定範囲内の画像データのオ
ン・オフ時間比を求め、このオン・オフ時間比に基づい
て所定の画像データを記録するための駆動電流に付加す
るバイアス電流を制御して、光ビームの光量を略一定に
制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体レーザな
どの半導体発光素子が出力する光ビームの光量がそのオ
ン・オフ時間比により変動するのを防止する半導体発光
素子の光量制御方法と、この方法の実施に直接使用する
光量制御装置とに関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体レーザや発光ダイオードなどの半
導体発光素子では、駆動電流がしきい値電流を超えるか
否かにより光ビームがオン・オフする。例えば半導体レ
ーザでは、このしきい値電流以下では光は自然光であ
り、これを超えると誘導放出光が発振されてレーザビー
ムが射出される。
【0003】また半導体レーザではその光変換効率が温
度に非常に敏感であり、駆動電流が固定の場合には出力
ビームの光量の温度依存性が大きい。そのため駆動電流
のうち発光に寄与しない成分が熱に変って半導体レーザ
の温度が上昇し(自己発熱)、出力ビームの光量が低下
する現象(ドループ現象)がみられる。
【0004】このため半導体レーザをオン・オフ制御す
る駆動電流を、画像データに基づいてオン・オフ変化す
るパルス電流と、一定電流のバイアス電流(固定バイア
ス電流)とを加算することにより形成している。すなわ
ちバイアス電流を付加することにより、光量低下を防ぐ
ものである。
【0005】図2は、この半導体レーザを駆動する電流
(駆動電流)を形成するパルス電流IPおよびバイアス
電流IBの波形と、出力光量Pとの関係を説明する図で
ある。この図2において、画像データが1111…とな
って連続して画素の書込みを指示する場合には(図2の
上段左側の(A)参照)、パルス電流IPはこの画像デ
ータが1の間連続してHレベルとなる。そしてこれに一
定のバイアス電流IBを付加した駆動電流ID(=IP
B)で半導体レーザを駆動していた。
【0006】同様に画像データが画素ごとに交互に1と
0とに変化する場合には(図2の下段左側の(B)参
照)、パルス電流IPもこれに対応してHレベルとLレ
ベルとに交互に変化する。この場合もバイアス電流IB
は一定であって、画像データが連続して1となる場合
(同図(A))のバイアス電流IBと同じ電流値として
いた。
【0007】
【従来技術の問題点】しかし半導体レーザは前記したよ
うに温度依存性が大きいため、例えば連続する駆動電流
D=IP+IBを半導体レーザに供給する場合(図2の
(A))には、出力光量Pは時間経過と共に大きく減少
する。同様に駆動電流ID=IP+IBがパルス状に断続
する場合(図2の(B))には、出力光量Pは各駆動電
流IDのパルスの時間幅内で時間と共に減少する。
【0008】このように出力光量が駆動電流IDにより
変化すると、記録画像の画質が劣化するという問題が生
じる。例えばこのような半導体レーザを使って走査光学
系により走査する光ビーム走査装置では、長い連続する
黒線となる走査ラインを書き込む場合に、走査ラインの
走査始点側で濃くなり、終点側で淡くなる。
【0009】そこでこのように走査ラインの終点側で走
査ラインが淡くなるのを防ぐため、駆動電流IDに付加
するバイアス電流IBを十分大きく設定することが考え
られる。しかしこの場合には画像を書き込むパルス電流
Pがオフの時すなわち白を書込む時にもこの大きなバ
イアス電流が半導体レーザに供給されることになる。こ
のため半導体レーザは出力光量Pが0になるべき時にも
僅かな光量の光ビームを出力し続けることになり、白と
なるべき画像領域が淡く着色することになる。
【0010】
【発明の目的】この発明はこのような事情に鑑みなされ
たものであり、半導体レーザなどの半導体発光素子の光
量が自己発熱により変化するのを補正して、高精度な光
量制御を可能にし、特に光ビーム走査装置に適用した場
合には画質を向上させることができる半導体発光素子の
光量制御方法を提供することを第1の目的とする。また
この方法の実施に直接使用する光量制御装置を提供する
ことを第2の目的とする。
【0011】
【発明の構成】この発明によればこの第1の目的は、画
像データに基づいてオン・オフ制御される光ビームを射
出する半導体発光素子の光量制御方法において、所定の
画像データの画像記録に先行してこの画像データに近接
する一定範囲内の画像データのオン・オフ時間比を求
め、このオン・オフ時間比に基づいて前記所定の画像デ
ータを記録するための駆動電流に付加するバイアス電流
を制御して、光ビームの光量を略一定に制御することを
特徴とする半導体発光素子の光量制御方法により達成さ
れる。
【0012】ここにバイアス電流は、一定の固定バイア
ス電流IBFと、オン・オフ時間比に依存して変化する付
加バイアス電流IBAとの和で形成できる。光ビーム走査
装置に適用する場合には、一走査ラインのオン・オフ時
間比をこの走査ラインの画像記録より先行して求めてお
き、この走査ラインの画像出力時にはこの求めたオン・
オフ時間比によりバイアス電流IBを決めることができ
る。
【0013】オン・オフ時間比は、所定の画像データに
近接した一定画像領域やこの所定画像データを含む一走
査ラインに対して求める代わりに、もっと狭い範囲、例
えば走査ライン上で所定の画像データを含む一定範囲ご
とに求め、この一定範囲内の画像記録時にこの求めたオ
ン・オフ時間比を用いてもよい。
【0014】オン・オフ時間比は、画像データを一走査
ラインごとにラインメモリに読込む際に求めることがで
きる。しかし例えば1ページ分などの所定量の画像デー
タをページメモリに読込む際(あるいは読込んだ後)
に、画像データの領域ごとに対応したオン・オフ時間比
を予め求めてメモリに記憶しておいてもよい。この場合
にはこのメモリに入れたデータを画像出力時に順次読出
しながらバイアス電流を決めればよい。
【0015】本発明の第2の目的は、画像データに基づ
いてオン・オフ制御される光ビームを射出する半導体発
光素子の光量制御装置において、前記半導体発光素子の
オン・オフ時間比による光量変化を補正するために半導
体発光素子の駆動電流に付加する付加バイアス電流を記
憶するメモリと、一定範囲の画像データから画像データ
のオン・オフ時間比を求めるデューティ比検出部と、求
めたオン・オフ時間比に対応する付加バイアス電流を前
記メモリのデータを用いて求める付加バイアス電流発生
部と、前記一定範囲の画像データに基づいて前記半導体
発光素子をオン・オフさせるためのパルス電流を出力す
るパルス変調部と、このパルス電流に前記付加バイアス
電流を含むバイアス電流を付加して半導体発光素子の駆
動電流を出力する加算部とを備えることを特徴とする半
導体発光素子の光量制御装置により達成される。
【0016】ここに半導体発光素子は、半導体レーザ
や、発光ダイオードなどの半導体の発光現象を利用した
素子が使用できる。光ビーム走査装置に適用する場合に
は、走査ラインの先頭側で光ビームの光量を光検出器で
検出し、その結果をパルス変調部にフィードバックさせ
てパルス電流の出力電流レベルを決める光量制御手段が
考え得る。
【0017】
【実施態様】図1はこの発明の一実施態様を説明する
図、図2はそのバイアス電流IBを形成するパルス電流
Pおよびバイアス電流IBと出力光量Pとの関係を従来
技術と比較して説明する図である。また図3は動作説明
図である。
【0018】図1に示す実施態様は、本発明を光ビーム
走査装置に適用したものであり、画像を記録するもので
ある。この図1において符号10は半導体レーザであ
り、温度制御部12を有する。この温度制御部12は、
例えば温度制御用ペルチェ素子で形成され、環境温度が
変化してもレーザーの温度を一定に制御する。すなわち
半導体レーザ10の駆動電流IDにより発生する熱をペ
ルチェ素子により吸熱し、温度変化を抑制するものであ
る。
【0019】14はコリメート光学系であり、半導体レ
ーザ10が射出するレーザビームを平行ビームとする。
この平行なレーザビームは回転多面鏡(ポリゴナルミラ
ー)16およびfθレンズ18からなる走査光学系によ
り、感光体20に導かれる。感光体20はドラム22に
保持され、レーザビームは回転多面鏡16の回転に伴っ
て感光体20上を走査する。24はこの時のレーザビー
ムの走査軌跡である走査ラインである。
【0020】走査ライン24の先頭側すなわち走査開始
側には、光検出器としてのフォトセンサ26が設けら
れ、レーザビームの光量Pを検出する。この光量Pを示
す信号はパルス電流制御部28に導かれ、後記するよう
に光量制御装置にフィードバックされる。すなわちこの
パルス電流制御部28では、光量の設定値P0と検出し
た光量Pとの差ΔP(=P0−P)を求め、光量制御装
置ではこの差ΔPを0にするように光量を制御するもの
である。
【0021】この光量制御装置は、外部の画像装置(図
示せず)から送られて来る画像データを走査ライン24
の一本分の画像データごとにラインメモリ30に取込
む。そしてこの読込んだ画像データをパラレル→シリア
ル変換部(P/S変換部)32でシリアル信号の形式に
変換する。このシリアル信号は走査ライン24の走査に
同期して画素ごとに変化する2値信号である。
【0022】すなわち図2に示すように画像データが1
ならHレベルの信号を出力し、画像データが0ならLレ
ベルの信号を出力する。なおこのH、Lのレベルは逆に
設定してもよい。この2値信号はパルス変調部34に入
力され、ここから半導体レーザ10を駆動するためのパ
ルス電流IPが出力される。
【0023】このパルス電流IPは、画像データが1の
時に半導体レーザ10が黒を記録するために必要とする
電流値となり、画像データが0の時に半導体レーザ10
が白を記録するために電流が0となる。なお黒を記録す
る時の電流値は図2の(C)、(D)に示すように前記
従来技術で説明したパルス電流IP(図2の(A)、
(B)よりも僅かに小さい。このように電流差ΔIP
設けたのは、後記する付加バイアス電流IBAが付加され
ることを配慮したものである。
【0024】なおこのパルス変調部34では、前記パル
ス電流制御部28から送られて来る光量差ΔP=P0
Pに基づいてパルス電流IPのHレベルの電流値を制御
している。これは前記したように半導体レーザ10のレ
ーザビーム光量Pが走査ライン24の先頭側で一定光量
0となるようにして走査ラインごとの濃度が不揃いに
なるのを防ぐものである。
【0025】このようにしてパルス変調部34で作られ
出力されるパルス電流IPには、加算部36においてバ
イアス電流IBが加算され、両者の和IP+IBが半導体
レーザ10の駆動電流IDとなる。この発明ではこのバ
イアス電流IBを固定バイアス電流IBFと付加バイアス
電流IBAとの和により形成し、付加バイアス電流IBA
画像データのオン・オフ時間比(以下デューティ比とい
う)に依存させるものである。
【0026】この付加バイアス電流IBAを形成するため
の付加バイアス電流制御部38は次のように構成され
る。まず使用する半導体レーザ10に特有な光量の温度
依存性を示すデータがメモリとしてのルックアップテー
ブル(LUT)40に記憶される。このデータは、デュ
ーティ比に対する光量の減少量を示すものであってもよ
いが、ここでは光量の減少量を補って光量を一定に保つ
ために必要なバイアス電流、すなわち付加バイアス電流
BAを示すものである。
【0027】このようなデータを予めLUT40に読込
ませた後、画像データを読込む。すなわち前記ラインメ
モリ30に一走査ライン分の画像データを読込むが、こ
の際にバイアス電流制御部38もこの同じ画像データを
逐次読込む。42はデューティ比検出部であり、この読
込んだ一走査ライン分の画像データのデューティ比Dを
求める。ここでは画像データのオン時間(TON)とオフ
時間(TOFF)を用いて、TON/(TON+TOFF)をデュ
ーティ比Dとする。
【0028】44は付加バイアス電流発生部であり、求
めたデューティ比Dに対応する付加バイアス電流IBA
LUT40のデータを用いて求める。この求めた付加バ
イアス電流IBAは、デューティ比Dが大きい時(図2の
(C)参照)には大きい。またデューティ比Dが小さい
時(図2の(D)参照)には小さい。
【0029】このように作られた付加バイアス電流IBA
は、固定バイアス電流発生部46が発生する一定の固定
バイアス電流IBFと加算部48で加算され、この和(I
BA+IBF)が新しいバイアス電流IBとなる。このバイ
アス電流IBは前記したように加算部36でパルス電流
Pと加算されて、この和(IP+IB)が駆動電流ID
なる。
【0030】このようにデューティ比Dにより変化する
付加バイアス電流IBAを用いて、ラインメモリ30に記
憶した画像データを出力し感光体20に記録する。すな
わち図3に示すように、n番目の走査ラインの画像デー
タをラインメモリ30に一時記憶して次の(n+1)番
目の走査ラインのデューティ比Dを求めている間にn番
目の走査ラインの画像記録を行う。この結果、出力光量
Pの減少は図2の(C)、(D)に示すように小さくな
る。
【0031】以上の実施態様では一走査ライン分の画像
データをラインメモリ30に読込む間に、この同じ走査
ラインで用いるデューティ比および付加バイアス電流I
BAを求めていた。しかし他の画像データを用いてデュー
ティ比Dや付加バイアス電流IBAを求めてもよい。
【0032】図4は他の方法を示す概念図である。ここ
では一走査ライン分の画像データの一部をデューティ比
検出範囲A1、A2…とし、この検出範囲A1、A2…内の
画像データから求めたデューティ比を用いて、この検出
範囲A1、A2…の一部B1、B2…の画像データに用いる
付加バイアス電流IBAを決定する。この方法によれば走
査ラインの狭い範囲ごとにデューティ比が変化してもこ
れらの狭い範囲ごとに最適な付加バイアス電流を求める
から一層画質が向上する。
【0033】デューティ比を求める範囲は他の方法で決
めてもよい。例えば画像のある領域に対してデューティ
比を求め、この領域の画像出力時にこのデューティ比を
用いて付加バイアス電流を決めてもよい。例えば写真調
の濃度領域と文字などの2値濃度領域とを含む画像に対
しては、各領域ごとにデューティ比や付加バイアス電流
を求めるのがよい。
【0034】
【発明の効果】請求項1の発明は以上のように、所定の
画像データに近接する一定範囲内の画像データのデュー
ティ比を求め、このデューティ比に基づきバイアス電流
を制御して発光素子の自己発熱による光量変化を補正
し、半導体発光素子の光量を略一定に保つものであるか
ら、高精度な光量制御が可能になる。このため光ビーム
走査装置に適用して画像を記録する場合には、画質が向
上する。
【0035】ここにバイアス電流は一定不変の固定バイ
アス電流と、デューティ比により変化する付加バイアス
電流との和で形成することができる(請求項2)。デュ
ーティ比は走査ラインごとに求め、この走査ラインを画
像出力する時にこのデューティ比から求めたバイアス電
流を用いるように構成することができる(請求項3)。
【0036】デューティ比は同一走査ライン内の一部範
囲の画像データから求めることができ、この求めたデュ
ーティ比から得たバイアス電流をこの一部範囲内の一部
の画像データを出力するために用いることができる(請
求項4)。
【0037】デューティ比およびバイアス電流は、一走
査ラインの画像データをラインメモリに読込んでいる間
に求め、この走査ラインを画像出力している間に次の走
査ラインのデューティ比およびバイアス電流を求めるよ
うに動作させることができる(請求項5)。また一定量
の画像データ、例えば1ページ分の画像データをページ
メモリに読込む際に、各走査ラインごとにデューティ比
あるいはバイアス電流を求めてメモリに記憶しておくこ
とも可能である。この場合には画像出力する時に走査ラ
インごとに、用いるデューティ比あるいはバイアス電流
をメモリから読出して用いることになるが、これにより
画像出力速度を上げることができる(請求項6)。
【0038】請求項7の発明によれば、この方法の実施
に直接使用する光量制御装置が得られる。この場合半導
体発光素子は半導体レーザとすることができるが(請求
項8)、他の素子例えば発光ダイオードなどであっても
よい。この装置を光ビーム走査装置に適用した場合には
画質を向上させることができる(請求項9)。この装置
は一走査ラインごとの画像データを記憶するラインメモ
リを備え、このラインメモリに画像データを読込む間に
この走査ラインに用いるバイアス電流を求めるようにす
るのがよい(請求項10)。
【0039】走査ラインの走査開始側すなわち走査の先
頭側に光ビームの光量を検出する光検出器を設け、求め
た光量が一定値になるように光量をフィードバック制御
するのがよい(請求項11)。この場合には走査ライン
ごとの先頭側の光量を一定に管理できるから走査ライン
ごとの濃淡の変動が少くなり、高品質な画像を得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施態様の概念を示す図
【図2】そのバイアス電流と出力光量の関係を示す図
【図3】その動作説明図
【図4】他の実施態様の動作説明図
【符号の説明】
10 半導体発光素子としての半導体レーザ 16 走査光学系の一部である回転多面鏡 20 感光体 26 光検出器としてのフォトセンサ 30 ラインメモリ 34 パルス変調部 36 加算部 38 バイアス電流制御部 40 付加バイアス電流を記憶するメモリとしてのルッ
クアップテーブル(LUT) 42 デューティ比検出部 44 付加バイアス電流発生部 46 固定バイアス電流発生部 48 加算部 ID 駆動電流 IP パルス電流 IB バイアス電流 IBA 付加バイアス電流 IBF 固定バイアス電流

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 画像データに基づいてオン・オフ制御さ
    れる光ビームを射出する半導体発光素子の光量制御方法
    において、所定の画像データの画像記録に先行してこの
    画像データに接近する一定範囲内の画像データのオン・
    オフ時間比を求め、このオン・オフ時間比に基づいて前
    記所定の画像データを記録するための駆動電流に付加す
    るバイアス電流を制御して、光ビームの光量を略一定に
    制御することを特徴とする半導体発光素子の光量制御方
    法。
  2. 【請求項2】 バイアス電流は一定の固定バイアス電流
    と、オン・オフ時間比により変化する付加バイアス電流
    との和からなる請求項1の半導体発光素子の光量制御方
    法。
  3. 【請求項3】 光ビームを走査して画像の記録を行う光
    ビーム走査装置に適用され、画像データのオン・オフ時
    間比を求める一定範囲を所定画像データを含む走査ライ
    ンとし、走査ラインごとの画像データのオン・オフ時間
    比を各走査ラインの画像記録に先行して求め、走査ライ
    ンの画像記録中はこの走査ラインに対して求めたオン・
    オフ時間比により決まるバイアス電流を用いる請求項1
    または2の半導体発光素子の光量制御方法。
  4. 【請求項4】 光ビームを走査させて画像の記録を行う
    光ビーム走査装置に適用され、同一走査ライン上で所定
    の画像データの前後一定範囲にある画像データのオン・
    オフ時間比に基づいて、前記所定の画像データを出力す
    るためのバイアス電流を求める請求項1または2の半導
    体発光素子の光量制御方法。
  5. 【請求項5】 一つの走査ラインの画像データをライン
    メモリに記憶しながら、この画像データからこの走査ラ
    インに対するバイアス電流を求め、この求めたバイアス
    電流を用いて前記ラインセンサに記憶した画像データに
    対する駆動電流を出力する動作を1走査ラインごとに繰
    り返す請求項3の半導体発光素子の光量制御方法。
  6. 【請求項6】 読込んだ所定量の画像データに対して使
    用するバイアス電流を予め求めてメモリに記憶してお
    き、記録する画像データに対するバイアス電流をメモリ
    から読出して用いる請求項1〜4のいずれかの半導体発
    光素子の光量制御方法。
  7. 【請求項7】 画像データに基づいてオン・オフ制御さ
    れる光ビームを射出する半導体発光素子の光量制御装置
    において、前記半導体発光素子のオン・オフ時間比によ
    る光量変化を補正するために半導体発光素子の駆動電流
    に付加する付加バイアス電流を記憶するメモリと、一定
    範囲の画像データから画像データのオン・オフ時間比を
    求めるデューティ比検出部と、求めたオン・オフ時間比
    に対応する付加バイアス電流を前記メモリのデータを用
    いて求める付加バイアス電流発生部と、前記一定範囲の
    画像データに基づいて前記半導体発光素子をオン・オフ
    させるためのパルス電流を出力するパルス変調部と、こ
    のパルス電流に前記付加バイアス電流を含むバイアス電
    流を付加して半導体発光素子の駆動電流を出力する加算
    部とを備えることを特徴とする半導体発光素子の光量制
    御装置。
  8. 【請求項8】 半導体発光素子は半導体レーザである請
    求項7の半導体発光素子の光量制御装置。
  9. 【請求項9】 光ビームを走査して画像の記録を行う光
    ビーム走査装置に適用される請求項6または7の半導体
    発光素子の光量制御装置。
  10. 【請求項10】 一走査ライン分の画像データを記憶す
    るラインメモリを備え、前記デューティー比検出部はこ
    のラインメモリに読込む画像データを用いてオン・オフ
    時間比を求め、前記パルス変調部はこのラインメモリに
    記憶された画像データを用いてパルス電流を出力する請
    求項9の半導体発光素子の光量制御装置。
  11. 【請求項11】 半導体発光素子が出力する光ビームの
    光量を走査ラインの先頭付近で検出する光検出器と、検
    出した光量を一定にするようにパルス変調部が出力する
    パルス電流を制御するパルス電流制御部とを備える請求
    項9または10の半導体発光素子の光量制御装置。
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