JPH10130871A - アルミニウムエッチング液の取り扱い方法 - Google Patents

アルミニウムエッチング液の取り扱い方法

Info

Publication number
JPH10130871A
JPH10130871A JP30418796A JP30418796A JPH10130871A JP H10130871 A JPH10130871 A JP H10130871A JP 30418796 A JP30418796 A JP 30418796A JP 30418796 A JP30418796 A JP 30418796A JP H10130871 A JPH10130871 A JP H10130871A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aluminum
etching
etching solution
orp value
metal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP30418796A
Other languages
English (en)
Inventor
Giyousan Nei
暁山 寧
Takashi Zenimori
隆志 銭盛
Toru Shimizu
透 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dowa Holdings Co Ltd
Original Assignee
Dowa Mining Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dowa Mining Co Ltd filed Critical Dowa Mining Co Ltd
Priority to JP30418796A priority Critical patent/JPH10130871A/ja
Publication of JPH10130871A publication Critical patent/JPH10130871A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Weting (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来、アルミニウム−セラミックス複合部材
の製造においては、エッチング後におけるスカート幅が
大きくなり、寸法不良による歩留低下という欠点があっ
た。 【解決手段】 本発明のアルミニウムエッチング液の取
り扱い方法においては、エッチング処理槽中のアルミニ
ウムエッチング液に過酸化水素を添加して塩化第二鉄溶
液のORP値を495以上ならしめる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はアルミニウムエッチ
ング液の取り扱い方法、特に、アルミニウム−セラミッ
クス複合部材製造において特に繰り返し使用されるエッ
チング槽中のアルミニウムエッチング液の取り扱い方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、金属−セラミックス複合部材の主
な製造方法として、接着、めっき、メタライズ、溶射、
ろう接、DBC、焼き嵌め、鋳ぐるみ等の方法が知られ
ている。
【0003】近年上記方法のうち、工業的方法としてD
BC法や窒化アルミニウム基板等にろう材を介して接合
するろう接合法が広く実用化されている。このうちDB
C法では、接合できる金属が銅に限られ、且つ接合温度
がCu−Oの共晶点近くの狭い範囲に限られている為、
膨れや未接のような接合欠陥が発生し易いという問題点
がある。ろう接法の場合は、高価なろう材を使用し、且
つ接合を真空中で行なわなければならない為、コストが
高く、応用範囲が限られている。また、ろう材には、一
般に接合する金属と他の金属とさらには非金属を添加し
た共晶合金が使用され、それ自体は一般に接合する金属
より硬いので、直接接合体に比べて、ろう接体の耐ヒー
トサイクル寿命が短いなどの問題点があった。
【0004】本発明者らは上記問題点を解決する装置と
して、特開平8−198692号公報「金属−セラミッ
クス複合部材の製造装置」に開示したように、セラミッ
クス部材を連続的に供給する搬送手段と、搬送されたセ
ラミックス部材を予熱する予熱部と、予熱されたセラミ
ックス部材を坩堝内の金属溶湯中を通過させて、セラミ
ックス部材の周囲面に金属を接合させる接合部と、該接
合されたセラミックス部材を徐冷して金属−セラミック
ス複合部材となす冷却部からなる装置を提供した。
【0005】上記の製造装置により、連続的に大量の金
属−セラミックス複合部材を製造することができ、得ら
れた複合部材を塩化第二鉄溶液でエッチング処理を施し
て所定形状の回路を形成している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】然しながらこの場合、
エッチング槽内でエッチング処理を繰り返すことによ
り、処理基板であるアルミニウムがエッチング液におけ
る塩化第二鉄溶液中に溶け出し、エッチング後における
スカート幅が大きくなり、寸法不良による歩留低下とい
う問題があった。
【0007】本発明は上記の問題を解決する方法を提供
することを目的とする。
【0008】本発明者らは斯かる課題を解決するために
鋭意研究したところ、アルミニウムの溶解が塩化第二鉄
溶液中のORP値を下げることによってエッチング幅が
大きくなることが判明した。然しながら、このORP値
を一定値以上に制御することによってスカート幅も同一
幅にコントロールできることを見出し、本発明を提供す
ることができた。
【0009】本発明でエッチング処理する金属は、アル
ミニウム板及びアルミニウム合金板であるが、アルミニ
ウム溶湯の中をセラミックス基板を通過させることによ
り、このセラミックス基板両面に、所定厚みのアルミニ
ウムが接合された接合体が得られる。
【0010】また、上記接合体の表裏両面の金属板を研
磨することによって均質化を図る研磨工程と、研磨した
表面金属板上に感光性樹脂膜を加圧圧着し、フォトマス
クを通して露光した後、現像処理することにより回路パ
ターン形状のレジスト膜を形成し、一方、研磨した裏面
金属板上には表面金属板と同様の手法で放熱板形状のレ
ジスト膜を形成するレジスト形成工程と、次いで得られ
た回路パターン並びに放熱板上にメッキ処理を施すメッ
キ工程とでセラミックス回路基板を製造できる。
【0011】上記回路基板を製造する場合には、上記接
合体と、塩化第二鉄溶液を充填したエッチング槽内を移
動することによって所定形状に回路面や放熱面を形成す
るが、これによってエッチング槽内にはエッチング処理
されたアルミニウムが溶解することになる。
【0012】エッチング液中のアルミニウム分が増える
と、回路面や放熱面の端部のスカート幅が大きくなり寸
法不良による歩留低下という問題が発生するが、本発明
者は塩化第二鉄溶液のORP値に注目したところ、特定
数値以下になるとこのスカート幅が大きくなることが判
った。
【0013】この場合、回路端面を凹凸が少なく且つス
カートの幅をできるだけ小さくするためにエッチング液
として塩酸5〜15%、塩化第二鉄30〜40%、残部
水からなる組成のエッチング液を用いるが、この場合の
ORP値は575であった。このエッチング液中でアル
ミニウム複合基板のエッチング処理を繰り返すと液中に
アルミニウム分が増え、ORP値が段々と下がりだし、
それに伴いエッチング処理した回路面や放熱面のスカー
ト幅が新液の78μmから250μm以上に大きく増加
した。
【0014】スカート幅が約150μm以上になると規
格はずれが発生し、寸法不良となる。従って、本発明に
おいては、ORP値を495以上になるように、過酸化
水素を該エッチング液中に添加することによってORP
値を制御した。
【0015】
【課題を解決するための手段】即ち、本発明の第1は、
エッチング処理槽中のアルミニウムエッチング液におけ
る塩化第二鉄溶液のORP値を495以上、好ましくは
520以上の範囲に維持することを特徴とするアルミニ
ウムエッチング液の取り扱い方法である。
【0016】本発明の第2は、上記のORP値を過酸化
水素の添加により495以上に制御することを特徴とす
るアルミニウムエッチング液の取り扱い方法である。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、実施例を参照して本発明の
詳細について説明するが、本発明の範囲はこれらに限定
されるものではない。
【0018】(実施例1)
【0019】図1は、アルミニウム−セラミックス複合
基板の製造装置の模式断面図を示す。アルミニウムを坩
堝7の中にセットし、セラミックス部材2としてのアル
ミナ基板を入口側ダイス6Aの入口から水平に入れて、
その先端が坩堝7の内壁から少し坩堝内部に出るように
セットしてから、窒素ガス雰囲気中において坩堝7をヒ
ーター4によりアルミニウムを750℃に加熱し、アル
ミニウムを溶解して金属溶湯1とする。
【0020】その後、入口側からアルミナ基板を連続的
に供給するとアルミナ基板は、順番に該溶湯1中に入
り、溶湯1に濡れてから出口側のダイス6Bに入り、ア
ルミナ基板の両表面に厚さ0.5mmのアルミニウム3
が接合した状態で出口から連続的に押し出され、金属−
セラミックス複合部材5として回収された(接合工
程)。
【0021】次いで得られた複合部材の表・裏面アルミ
ニウム板表面を交互に研磨機で研磨して、表面を均一な
面にした(研磨工程)。
【0022】次いで表面アルミニウム板に感光レジスト
膜を圧着し、遮光パターンマスクを当てて露光し、更に
現像処理を行ない遮光した部分のレジスト膜を除去し
た。この遮光パターンマスクにはアルミナ基板の分割溝
に対応する部分が遮光されるように形成した遮光パター
ンと、製品の回路パターンに対応する非回路パターン部
分が遮光されるように形成した遮光パターンを具備して
いるものを用いた。
【0023】同様に裏面アルミニウム板にも、アルミナ
基板の分割溝の外周より0.5mm幅の周辺部が遮光さ
れるように形成した遮光パターンマスクを当てて、露光
した後現像処理した(レジスト形成工程)。
【0024】次いで上記露光及び現像処理を終えて接合
基板をエッチング処理することによって、レジストが接
合したマスキング部分を残して他部のアルミニウムを塩
化第二鉄−塩酸混合液で溶解することによってアルミナ
基板には、非回路パターン部分と分割溝部分に対応する
部分のアルミニウムを溶解した(エッチング工程)。
【0025】この場合、塩化第二鉄−塩酸混合液として
は、10%塩酸と37%塩化第二鉄(40ボーメ)と水
とを1:3:6の比率で混合した液(液温35℃)を用
いたが、この場合のORP値は575であり、得られた
回路面や放熱面の端部のスカート幅は70μmであっ
た。
【0026】次いで水酸化ナトリウムの水溶液を用いて
レジスト膜を除去した。
【0027】次いで上記基板の表・裏面をクリーニング
した後、通常の無電解めっき処理を行なうために、エッ
チング−ジスマット酸洗−ジンケート−酸洗−ジンケー
ト処理を行なった。このようにして基板の表面を均一に
して、無電解めっきを行ない、約1〜10μmのNiめ
っきを施した(めっき処理工程)。
【0028】得られた処理品を基板の分割線に沿って2
分割し、更にその周りのダミー部分を分割除去し最終製
品として図2に示すように26mm×51mm×0.6
35mmのセラミックス部材2の表・裏面に、厚さ0.
5mmのアルミニウム回路8とアルミニウム放熱板9と
をそれぞれ有するアルミニウム板を直接接合した電子回
路基板を得た。
【0029】(実施例2)
【0030】実施例1で使用したエッチング液が入って
いるエッチング槽を利用して、表1に示すような日数後
に回路基板を作成した。この場合のORP値やスカート
幅の結果は、表1に併せて示した。
【0031】
【表1】
【0032】表1の結果から理解されるように45日後
に試験した時のORP値は490に下がっており、得ら
れた回路面や放熱面の端部のスカート幅は285μmと
なっており、電子回路基板としての製品には使用できな
いものであった。
【0033】このため50日後の試験では、エッチング
液中のORP値を495以上に上げるために過酸化水素
水(和光純薬製1級品)を50リットル添加したとこ
ろ、ORP値が515となり且つスカート幅も123μ
mの回路基板を得ることができた。
【0034】更に60日後には、エッチング液中に10
%塩酸を10リットルと37%塩化第二鉄とを50リッ
トル添加してORP値を525としたところ、端部が1
28μmのスカート幅の電子回路基板を得た。
【0035】
【発明の効果】上述のように、本発明は従来はエッチン
グ液がアルミニウム分で汚染されるとその都度エッチン
グ液自体を交換していたものを、液中のORP値を処理
することで長時間使用することができ、電子回路基板の
製造コストを安価にできるという効果を有するものであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例において用いた金属−セラミッ
クス複合部材を製造するための装置の模式断面図であ
る。
【図2】本発明実施例で得られた回路基板を示す断面図
である。
【符号の説明】
1 金属溶湯 2 セラミックス部材 3 アルミニウム金属 4 ヒーター 5 金属−セラミックス複合部材 6A 入口側ダイス 6B 出口側のダイス 7 坩堝 8 アルミニウム回路 9 アルミニウム放熱板

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 エッチング処理槽中のアルミニウムエッ
    チング液における塩化第二鉄溶液のORP値を495以
    上、好ましくは520以上の範囲に維持することを特徴
    とするアルミニウムエッチング液の取り扱い方法。
  2. 【請求項2】 上記のORP値を過酸化水素の添加によ
    り495以上に制御することを特徴とする請求項1記載
    のアルミニウムエッチング液の取り扱い方法。
JP30418796A 1996-10-31 1996-10-31 アルミニウムエッチング液の取り扱い方法 Pending JPH10130871A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30418796A JPH10130871A (ja) 1996-10-31 1996-10-31 アルミニウムエッチング液の取り扱い方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30418796A JPH10130871A (ja) 1996-10-31 1996-10-31 アルミニウムエッチング液の取り扱い方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10130871A true JPH10130871A (ja) 1998-05-19

Family

ID=17930085

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30418796A Pending JPH10130871A (ja) 1996-10-31 1996-10-31 アルミニウムエッチング液の取り扱い方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10130871A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105925982A (zh) * 2016-05-30 2016-09-07 苏州安洁科技股份有限公司 一种用于制备铝材双面异形电路板的蚀刻液
CN105925981A (zh) * 2016-05-30 2016-09-07 苏州安洁科技股份有限公司 一种用于制备双面铝材电路板的蚀刻液
EP1482771B1 (en) * 2003-05-30 2018-11-28 Dowa Metaltech Co., Ltd. Metal/ceramic circuit board and method for producing same

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1482771B1 (en) * 2003-05-30 2018-11-28 Dowa Metaltech Co., Ltd. Metal/ceramic circuit board and method for producing same
CN105925982A (zh) * 2016-05-30 2016-09-07 苏州安洁科技股份有限公司 一种用于制备铝材双面异形电路板的蚀刻液
CN105925981A (zh) * 2016-05-30 2016-09-07 苏州安洁科技股份有限公司 一种用于制备双面铝材电路板的蚀刻液

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5349340B2 (ja) エッチング方法
CN113766747A (zh) 一种微细线路的pcb微蚀刻工艺以及电路板
JP2893226B2 (ja) 集積回路ダイス用リードフレームのストリツプを連続的に製造する方法及び装置
JPH10130871A (ja) アルミニウムエッチング液の取り扱い方法
CN113260178B (zh) 一种刚挠结合板高精密线路的制备方法
JP5129189B2 (ja) 金属セラミックス接合基板及びその製造方法
US5843621A (en) Process and apparatus for coating printed circuit boards
JPH10125824A (ja) バイアホールを有する回路基板及びその製造方法
JP3550212B2 (ja) セラミックス電子回路基板の製造方法
JPH10251878A (ja) 塩化銀除去剤
TWI461123B (zh) 薄膜基板及其製作方法
JP3507185B2 (ja) エッチング加工方法
JPH01295487A (ja) 厚板導体付プリント配線板の製造方法
CN112831809A (zh) 一种引线框架加工方法
KR100243373B1 (ko) 리드 프레임 제조방법
JP3186478U (ja) ドライフィルムレジストの薄膜化処理装置
KR20020049218A (ko) 드라이 필름 레지스트를 이용한 인쇄회로기판의 제조방법
JPH01256159A (ja) リードフレームへの半田外装方法
JP5537476B2 (ja) 導電パターンの作製方法
JP5537463B2 (ja) 導電パターンの作製方法
JPH01251690A (ja) セラミックス回路基板の製造方法
JPS5830134A (ja) ドライエツチング方法
CN114724958A (zh) 半导体引线框架蚀刻设备的制造方法
JPH06252307A (ja) リードフレームの製造方法
JP2000243467A (ja) 電子部品基板のはんだ付け方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051122

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060123

A02 Decision of refusal

Effective date: 20060221

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

A521 Written amendment

Effective date: 20060424

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Effective date: 20060620

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Effective date: 20060707

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912