JPH10125616A - パワートランジスタ - Google Patents
パワートランジスタInfo
- Publication number
- JPH10125616A JPH10125616A JP27848496A JP27848496A JPH10125616A JP H10125616 A JPH10125616 A JP H10125616A JP 27848496 A JP27848496 A JP 27848496A JP 27848496 A JP27848496 A JP 27848496A JP H10125616 A JPH10125616 A JP H10125616A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- emitter
- polysilicon
- electrode
- power transistor
- emitter electrode
- Prior art date
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- Pending
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- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 パワートランジスタは、大電流を流しこれを
ターンオフするので、エミッタ中央近傍で発熱する。こ
の熱をケース外に放熱するため、エミッタ電極を金属板
で圧接する。このとき、エミッタの上に酸化膜があり、
その上にエミッタ電極が形成されているので、エミッタ
電極を加圧したとき、エミッタの中央部が良好に圧接さ
れず、金属圧接板側に熱が伝導されにくい。また、エミ
ッタ電極を圧接したとき、酸化膜部分が強く加圧され変
形してベース電極とのギャップを狹め特性を損なう。 【解決手段】 エミッタ電極3Eを、エミッタ3の表面
にポリシリコン7を形成して、このポリシリコン7の表
面に形成する。このことによりエミッタ電極を加圧して
も電極は変形しない。
ターンオフするので、エミッタ中央近傍で発熱する。こ
の熱をケース外に放熱するため、エミッタ電極を金属板
で圧接する。このとき、エミッタの上に酸化膜があり、
その上にエミッタ電極が形成されているので、エミッタ
電極を加圧したとき、エミッタの中央部が良好に圧接さ
れず、金属圧接板側に熱が伝導されにくい。また、エミ
ッタ電極を圧接したとき、酸化膜部分が強く加圧され変
形してベース電極とのギャップを狹め特性を損なう。 【解決手段】 エミッタ電極3Eを、エミッタ3の表面
にポリシリコン7を形成して、このポリシリコン7の表
面に形成する。このことによりエミッタ電極を加圧して
も電極は変形しない。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、パワートランジス
タに関し、特に、エミッタ電極を金属圧接体で圧接する
パワートランジスタに関する。
タに関し、特に、エミッタ電極を金属圧接体で圧接する
パワートランジスタに関する。
【0002】
【従来の技術】パワートランジスタは、大電流を通電
し、この電流をスイッチング(ターンオフ)するので、
このスイッチングする際に熱を発生する。この熱をケー
スの外部に放熱し、寄生インダクタンスを小さく抑制す
る必要から、モリブデン(Mo)やタングステン(W)
等比較的シリコンと熱膨張係数の近い金属板を圧接体と
して使用し、エミッタ電極を圧接し、この金属圧接体か
ら放熱するようにしている。図3に、この従来のパワー
トランジスタの断面図を示す。
し、この電流をスイッチング(ターンオフ)するので、
このスイッチングする際に熱を発生する。この熱をケー
スの外部に放熱し、寄生インダクタンスを小さく抑制す
る必要から、モリブデン(Mo)やタングステン(W)
等比較的シリコンと熱膨張係数の近い金属板を圧接体と
して使用し、エミッタ電極を圧接し、この金属圧接体か
ら放熱するようにしている。図3に、この従来のパワー
トランジスタの断面図を示す。
【0003】パワートランジスタは、図3に示すように
コレクタ1,ベース2,エミッタ3からなり、コレクタ
1には基板4を介してコレクタ電極1Cが、ベース2に
はベース電極2Bが、またエミッタ3にはエミッタ電極
3Eが設けられている。そして、エミッタ電極3Eをモ
リブデンやタングステン等のシリコンと熱膨張係数の近
い金属板から成る金属圧接体5で圧接し、この金属圧接
体5を介して発生した熱を放熱している。
コレクタ1,ベース2,エミッタ3からなり、コレクタ
1には基板4を介してコレクタ電極1Cが、ベース2に
はベース電極2Bが、またエミッタ3にはエミッタ電極
3Eが設けられている。そして、エミッタ電極3Eをモ
リブデンやタングステン等のシリコンと熱膨張係数の近
い金属板から成る金属圧接体5で圧接し、この金属圧接
体5を介して発生した熱を放熱している。
【0004】なお、図中6はベース━エミッタ接合保護
用の酸化膜を示す。
用の酸化膜を示す。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】エミッタ電極3Eを金
属圧接体5で圧接するとき、エミッタ電極3Eは、図3
に示すように酸化膜6の上に重ねて形成されているの
で、圧接されると酸化膜6の上を強く圧接することにな
り、中央部は圧接されにくくなっている。
属圧接体5で圧接するとき、エミッタ電極3Eは、図3
に示すように酸化膜6の上に重ねて形成されているの
で、圧接されると酸化膜6の上を強く圧接することにな
り、中央部は圧接されにくくなっている。
【0006】パワートランジスタは大電流をスイッチン
グするので、そのときに高い熱を発生するが、その発熱
は図3の丸で示すエミッタの中央近傍で集中する。しか
し、この発熱した熱は、エミッタ電極3Eが金属圧接体
5に部分的にしか接合していないので、金属圧接体5へ
の熱伝導がしにくい。従って、十分な放熱は期待できな
い。放熱が不充分であると、大電流のスイッチングがで
きなくなる。
グするので、そのときに高い熱を発生するが、その発熱
は図3の丸で示すエミッタの中央近傍で集中する。しか
し、この発熱した熱は、エミッタ電極3Eが金属圧接体
5に部分的にしか接合していないので、金属圧接体5へ
の熱伝導がしにくい。従って、十分な放熱は期待できな
い。放熱が不充分であると、大電流のスイッチングがで
きなくなる。
【0007】また、エミッタ電極3Eを金属圧接体5で
圧接したとき、酸化膜6の部分が加圧されるので、エミ
ッタ電極3Eは変形し、横方向に伸びてベース電極2B
とのギャップが狹まり、ベース━エミッタ間の良好な絶
縁距離は保てなくなる。これを考慮してあらかじめベー
ス━エミッタ間の距離を広くすると、無駄な面積をとる
ことになり、面積利用率が低下するという問題が発生す
る。
圧接したとき、酸化膜6の部分が加圧されるので、エミ
ッタ電極3Eは変形し、横方向に伸びてベース電極2B
とのギャップが狹まり、ベース━エミッタ間の良好な絶
縁距離は保てなくなる。これを考慮してあらかじめベー
ス━エミッタ間の距離を広くすると、無駄な面積をとる
ことになり、面積利用率が低下するという問題が発生す
る。
【0008】以上の点に鑑み、本発明は、放熱効果が優
れ、しかもエミッタ電極を圧接しても変形することのな
い此の種のパワートランジスタを得ることを目的とす
る。
れ、しかもエミッタ電極を圧接しても変形することのな
い此の種のパワートランジスタを得ることを目的とす
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の課題は、エミッタ
電極の圧接部が部分的であること、およびエミッタ電極
を圧接したときに変形することに起因するもので、本願
の発明者は、種々検討した結果、ポリシリコンは、アル
ミなどの電極に比べて圧接による変形が少なく、ベース
電極との良好な絶縁をとるためのギャップを設けるのに
も適していることに着目し、エミッタの表面にポリシリ
コンを形成し、このポリシリコンの表面にエミッタ電極
を形成することにより、従来の課題が解決できることを
見い出した。よって、本発明は、エミッタの表面にポリ
シリコンを形成し、エミッタ電極は、このポリシリコン
の表面に形成することを基本とする。
電極の圧接部が部分的であること、およびエミッタ電極
を圧接したときに変形することに起因するもので、本願
の発明者は、種々検討した結果、ポリシリコンは、アル
ミなどの電極に比べて圧接による変形が少なく、ベース
電極との良好な絶縁をとるためのギャップを設けるのに
も適していることに着目し、エミッタの表面にポリシリ
コンを形成し、このポリシリコンの表面にエミッタ電極
を形成することにより、従来の課題が解決できることを
見い出した。よって、本発明は、エミッタの表面にポリ
シリコンを形成し、エミッタ電極は、このポリシリコン
の表面に形成することを基本とする。
【0010】ポリシリコンはアルミなどの電極に比べ圧
接による変形が少なく、ベース電極との良好な絶縁を取
るためのギャップを設けるのに適している。このため、
カソード電極を薄くし、電極圧接による電極の変形を抑
制でき、この変形によるベース電極との短絡を防ぐこと
ができる。また、ターンオフ時に発生する発熱は、この
ポリシリコン層を通り外部に放熱されるため、遮断耐量
が増加し、動作周波数を高くでき、更に、電極の厚さを
薄くできることからパターン形成の精度が向上し、ゲー
ト電極との絶縁に伴うデットスペースを低減でき、素子
の面積利用率が増加できるようになる。
接による変形が少なく、ベース電極との良好な絶縁を取
るためのギャップを設けるのに適している。このため、
カソード電極を薄くし、電極圧接による電極の変形を抑
制でき、この変形によるベース電極との短絡を防ぐこと
ができる。また、ターンオフ時に発生する発熱は、この
ポリシリコン層を通り外部に放熱されるため、遮断耐量
が増加し、動作周波数を高くでき、更に、電極の厚さを
薄くできることからパターン形成の精度が向上し、ゲー
ト電極との絶縁に伴うデットスペースを低減でき、素子
の面積利用率が増加できるようになる。
【0011】ここでこのポリシリコンは、エミッタと同
じタイプにすることで、エミッタとして作用する。
じタイプにすることで、エミッタとして作用する。
【0012】このエミッタ電極は、エミッタに直接接合
しない構成とするか、又はその一部をエミッタに接合す
る構成とする。
しない構成とするか、又はその一部をエミッタに接合す
る構成とする。
【0013】エミッタとエミッタ電極との間にポリシリ
コンがあると、このポリシリコン部が抵抗として働き、
エミッタからベースに注入する電子の注入効率が若干悪
くなるが、エミッタ電極の一部をエミッタに接合する
と、従来のパワートランジスタとほぼ同じスイッチング
特性が得られる。
コンがあると、このポリシリコン部が抵抗として働き、
エミッタからベースに注入する電子の注入効率が若干悪
くなるが、エミッタ電極の一部をエミッタに接合する
と、従来のパワートランジスタとほぼ同じスイッチング
特性が得られる。
【0014】また、このポリシリコンの抵抗分によっ
て、エミッタ中央に集中する電流フローが広げられ、熱
集中が緩和される。
て、エミッタ中央に集中する電流フローが広げられ、熱
集中が緩和される。
【0015】以上のように、エミッタ電極は、ポリシリ
コンの表面に形成しているので、金属圧接体でエミッタ
電極を圧接しても、エミッタ電極は変形することはな
く、また、エミッタの中央部近傍で発生した熱も、ポリ
シリコンを介してエミッタ電極および金属圧接体に良好
に伝導されるので、放熱効果も向上する。
コンの表面に形成しているので、金属圧接体でエミッタ
電極を圧接しても、エミッタ電極は変形することはな
く、また、エミッタの中央部近傍で発生した熱も、ポリ
シリコンを介してエミッタ電極および金属圧接体に良好
に伝導されるので、放熱効果も向上する。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
によって説明する。
によって説明する。
【0017】なお、図3と同一名称又は相当部分には、
これと同じ符号を付して詳細な説明を省略する。
これと同じ符号を付して詳細な説明を省略する。
【0018】図1は本発明の第1の実施の形態のパワー
トランジスタの断面図で、エミッタ電極部の構成に特徴
を有する。
トランジスタの断面図で、エミッタ電極部の構成に特徴
を有する。
【0019】即ち、エミッタ電極部は、エミッタ3の表
面にポリシリコン7を形成し、このポリシリコン7の表
面にエミッタ電極3Eを形成する。このポリシリコン7
は、エミッタ3がn型の場合はn型のポリシリコンを形
成し、また、p型の場合はp型のポリシリコンを形成す
る。このように、エミッタと同じタイプのポリシリコン
を形成することにより、エミッタとして作用する。
面にポリシリコン7を形成し、このポリシリコン7の表
面にエミッタ電極3Eを形成する。このポリシリコン7
は、エミッタ3がn型の場合はn型のポリシリコンを形
成し、また、p型の場合はp型のポリシリコンを形成す
る。このように、エミッタと同じタイプのポリシリコン
を形成することにより、エミッタとして作用する。
【0020】ポリシリコンはアルミなどの電極に比べ圧
接による変形が少なく、ベース電極との良好な絶縁を取
るためのギャップを設けるのに適しており、エミッタ電
極を薄くし、電極圧接による電極の変形を抑制でき、こ
の変形によるベース電極との短絡を防ぐことができる。
接による変形が少なく、ベース電極との良好な絶縁を取
るためのギャップを設けるのに適しており、エミッタ電
極を薄くし、電極圧接による電極の変形を抑制でき、こ
の変形によるベース電極との短絡を防ぐことができる。
【0021】また、ターンオフ時に発生する発熱は、こ
のポリシリコン層を通り外部に放熱されるため、素子の
遮断耐量が増加し、動作周波数を高くできる。更に、電
極の厚さを薄くできることからパターン形成の精度が向
上し、ベース電極との絶縁に伴うデットスペースを低減
でき、素子の面積利用率が増加できる。
のポリシリコン層を通り外部に放熱されるため、素子の
遮断耐量が増加し、動作周波数を高くできる。更に、電
極の厚さを薄くできることからパターン形成の精度が向
上し、ベース電極との絶縁に伴うデットスペースを低減
でき、素子の面積利用率が増加できる。
【0022】図2は本発明の第2の実施の形態の断面図
で、図1と異なる点は、エミッタ電極3Eの一部をエミ
ッタ3に接合し、接合部cを形成した点である。
で、図1と異なる点は、エミッタ電極3Eの一部をエミ
ッタ3に接合し、接合部cを形成した点である。
【0023】接合部分の構成としては、ポリシリコン部
を酸化膜6のエミッタ開口部よりポリシリコン部を狹く
し、エミッタ3の周辺部でエミッタ電極3Eと接合し、
接合部cを形成する。
を酸化膜6のエミッタ開口部よりポリシリコン部を狹く
し、エミッタ3の周辺部でエミッタ電極3Eと接合し、
接合部cを形成する。
【0024】パワートランジスタのターンオンは、ベー
ス電極からエミッタ電極に電流を通電すると、エミッタ
からベースにキャリアが注入され、ターンオンする。こ
のキャリアの注入は、エミッタの周辺部から起こる。
ス電極からエミッタ電極に電流を通電すると、エミッタ
からベースにキャリアが注入され、ターンオンする。こ
のキャリアの注入は、エミッタの周辺部から起こる。
【0025】ポリシリコンがエミッタの上にあると、こ
のポリシリコン部が抵抗として働くので、図1のような
構造では、若干注入効率が悪くなってしまう。しかし、
図2の様にエミッタの周辺部でエミッタ電極とコンタク
トをとることによって、従来のトランジスタとほぼ同等
のゲインが得られる。
のポリシリコン部が抵抗として働くので、図1のような
構造では、若干注入効率が悪くなってしまう。しかし、
図2の様にエミッタの周辺部でエミッタ電極とコンタク
トをとることによって、従来のトランジスタとほぼ同等
のゲインが得られる。
【0026】
【発明の効果】以上のように本発明は、パワートランジ
スタのエミッタ電極を、エミッタの表面にポリシリコン
を形成し、このポリシリコンの表面に形成して、このエ
ミッタ電極を金属圧接体で圧接するようにしたので、エ
ミッタ中央部に発生する熱はポリシリコン,エミッタ電
極を介して金属圧接体に伝導され、外部に放熱される。
スタのエミッタ電極を、エミッタの表面にポリシリコン
を形成し、このポリシリコンの表面に形成して、このエ
ミッタ電極を金属圧接体で圧接するようにしたので、エ
ミッタ中央部に発生する熱はポリシリコン,エミッタ電
極を介して金属圧接体に伝導され、外部に放熱される。
【0027】また、エミッタ電極は加圧されても、ポリ
シリコン部を介して圧接するので、エミッタ電極のベー
ス電極との対向部は変形することがない。
シリコン部を介して圧接するので、エミッタ電極のベー
ス電極との対向部は変形することがない。
【0028】このことから、パワートランジスタのエミ
ッタ側の熱抵抗を小さく、かつ、ベース━エミッタ接合
の信頼性が高く、更にベース━エミッタ間にできる無効
面積を低減でき、面積の利用率が向上する、このことに
より、トランジスタの特性が向上し、動作周波数を高く
できる等の優れた効果を奏する。
ッタ側の熱抵抗を小さく、かつ、ベース━エミッタ接合
の信頼性が高く、更にベース━エミッタ間にできる無効
面積を低減でき、面積の利用率が向上する、このことに
より、トランジスタの特性が向上し、動作周波数を高く
できる等の優れた効果を奏する。
【0029】また、第2の実施の形態を適用することに
より、上記の効果に加え、パワートランジスタのゲート
能力が向上し、ターンオン特性の向上と、ターンオフ時
の電流、熱の集中が緩和され、遮断耐量が向上するとい
う効果を奏する。
より、上記の効果に加え、パワートランジスタのゲート
能力が向上し、ターンオン特性の向上と、ターンオフ時
の電流、熱の集中が緩和され、遮断耐量が向上するとい
う効果を奏する。
【図1】本発明の第1の実施の形態の断面図。
【図2】本発明の第2の実施の形態の断面図。
【図3】従来のパワートランジスタの断面図。
1…コレクタ 2…ベース 3…エミッタ 4…基板 5…金属圧接体 6…酸化膜 7…ポリシリコン 1C…コレクタ電極 2B…ベース電極 3E…エミッタ電極
Claims (2)
- 【請求項1】 エミッタの表面にエミッタ電極を形成
し、該エミッタ電極を金属圧接体で圧接してなるパワー
トランジスタにおいて、 前記エミッタの表面に、該エミッタと同じタイプのポリ
シリコンを形成し、このポリシリコンの表面にエミッタ
電極を形成したことを特徴とするパワートランジスタ。 - 【請求項2】 エミッタの表面にエミッタ電極を形成
し、該エミッタ電極を金属圧接体で圧接してなるパワー
トランジスタにおいて、 前記エミッタの表面に該エミッタと同じタイプのポリシ
リコンを形成し、このポリシリコンの表面にエミッタ電
極を形成するとともに、該エミッタ電極の一部をエミッ
タに接合したことを特徴とするパワートランジスタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27848496A JPH10125616A (ja) | 1996-10-22 | 1996-10-22 | パワートランジスタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27848496A JPH10125616A (ja) | 1996-10-22 | 1996-10-22 | パワートランジスタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10125616A true JPH10125616A (ja) | 1998-05-15 |
Family
ID=17597978
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27848496A Pending JPH10125616A (ja) | 1996-10-22 | 1996-10-22 | パワートランジスタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10125616A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7741700B2 (en) | 2004-03-30 | 2010-06-22 | Nec Corporation | Transistor with heat dissipating means |
-
1996
- 1996-10-22 JP JP27848496A patent/JPH10125616A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7741700B2 (en) | 2004-03-30 | 2010-06-22 | Nec Corporation | Transistor with heat dissipating means |
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