JPH10112054A - 光ピックアップシステム - Google Patents
光ピックアップシステムInfo
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- JPH10112054A JPH10112054A JP9265663A JP26566397A JPH10112054A JP H10112054 A JPH10112054 A JP H10112054A JP 9265663 A JP9265663 A JP 9265663A JP 26566397 A JP26566397 A JP 26566397A JP H10112054 A JPH10112054 A JP H10112054A
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- pickup system
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- optical pickup
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1359—Single prisms
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
- G11B7/0909—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only by astigmatic methods
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 単純な構造を有し、且つ小型化された新規
な光ピックアップシステムを提供する。 【解決手段】 Ｐ及びＳ偏光成分よりなる光線を発生
する光源２１０と、偏光成分を変換させるλ／４プレー
ト２３０と、記録面から情報信号を検出する光検出器２
６０と、偏光成分のうちの一つをλ／４プレート２３０
を通じて光ディスク２５０に反射し、他の偏光成分を透
過し、光ディスク２５０から反射された光線を透過させ
得る第１表面２２２と、入射光線を光検出器２６０に反
射し得る第２表面２２４とを備えて、光ピックアップシ
ステムが記録面に記録された情報信号を読取るようにす
るビームスプリッター２２０とを含む。
な光ピックアップシステムを提供する。 【解決手段】 Ｐ及びＳ偏光成分よりなる光線を発生
する光源２１０と、偏光成分を変換させるλ／４プレー
ト２３０と、記録面から情報信号を検出する光検出器２
６０と、偏光成分のうちの一つをλ／４プレート２３０
を通じて光ディスク２５０に反射し、他の偏光成分を透
過し、光ディスク２５０から反射された光線を透過させ
得る第１表面２２２と、入射光線を光検出器２６０に反
射し得る第２表面２２４とを備えて、光ピックアップシ
ステムが記録面に記録された情報信号を読取るようにす
るビームスプリッター２２０とを含む。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ピックアップシ
ステムに関し、特に、集積されたビームスプリッターを
用いて単純化された構造を有する光ピックアップシステ
ムに関する。
ステムに関し、特に、集積されたビームスプリッターを
用いて単純化された構造を有する光ピックアップシステ
ムに関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、レーザディスクのような光情報
記録用ディスクにおいては、一般に、焦点エラーが発生
する問題点がある。このため、非点収差法（astigmatic
method）はこのような問題点を解決するために提案さ
れてきた。
記録用ディスクにおいては、一般に、焦点エラーが発生
する問題点がある。このため、非点収差法（astigmatic
method）はこのような問題点を解決するために提案さ
れてきた。
【０００３】図１は、非点収差法を用いた従来の光ピッ
クアップシステム１００の模式図であって、このシステ
ムは、本願に引用文として参照される米国特許出願Ｎ
ｏ.４，０２３，０３３号明細書に、「Optical Focusing
Device」との名称で開示されている。光ピックアップシ
ステム１００は、光源１１０、ビームスプリッター１２
０、対物レンズ１３０、光情報記録ディスク１４０（以
下、光ディスクと称す）、円筒形レンズ１５０及び光検
出器１６０を含む。このシステム１００において、レー
ザダイオードなどの光源１１０から放射された光線１２
０は、ビームスプリッター１２０へ入射して、組み込ま
れた反射面１２２により部分的に反射される。反射面１
２２から反射された光線は、対物レンズ１３０を通じて
光ディスク１４０の記録面１４４上に集束光線として放
射される。光ディスク１４０から反射された集束光線は
対物レンズ１３０によって収束され、ビームスプリッタ
ー１２０を通じて部分的に伝送され、円筒形レンズ１５
０を透過することによって非点収差が生じ、光検出器１
６０の受光面１６２に入射される。この受光面１６２は
４つの四角形光電セル（図示せず）に分けられる。各光
電セルは光強さを測定する形態で出力信号を発生する。
四角形の受光面の一方の対角線上に位置した２つの光電
セルからの出力は、第１加算器へ伝送され、もう一方の
対角線上に位置した２つの光電セルからの出力は、第２
加算器へ伝送される。その後、第１及び第２加算器１
６、１７からの出力は差動増幅器（図示せず）へ伝送さ
れる。この差動増幅器は、第１及び第２加算器からの出
力を比較して関連する焦点エラーを発生する。かかる焦
点エラーは単に２つの加算器からの出力の間の差分値で
ある。
クアップシステム１００の模式図であって、このシステ
ムは、本願に引用文として参照される米国特許出願Ｎ
ｏ.４，０２３，０３３号明細書に、「Optical Focusing
Device」との名称で開示されている。光ピックアップシ
ステム１００は、光源１１０、ビームスプリッター１２
０、対物レンズ１３０、光情報記録ディスク１４０（以
下、光ディスクと称す）、円筒形レンズ１５０及び光検
出器１６０を含む。このシステム１００において、レー
ザダイオードなどの光源１１０から放射された光線１２
０は、ビームスプリッター１２０へ入射して、組み込ま
れた反射面１２２により部分的に反射される。反射面１
２２から反射された光線は、対物レンズ１３０を通じて
光ディスク１４０の記録面１４４上に集束光線として放
射される。光ディスク１４０から反射された集束光線は
対物レンズ１３０によって収束され、ビームスプリッタ
ー１２０を通じて部分的に伝送され、円筒形レンズ１５
０を透過することによって非点収差が生じ、光検出器１
６０の受光面１６２に入射される。この受光面１６２は
４つの四角形光電セル（図示せず）に分けられる。各光
電セルは光強さを測定する形態で出力信号を発生する。
四角形の受光面の一方の対角線上に位置した２つの光電
セルからの出力は、第１加算器へ伝送され、もう一方の
対角線上に位置した２つの光電セルからの出力は、第２
加算器へ伝送される。その後、第１及び第２加算器１
６、１７からの出力は差動増幅器（図示せず）へ伝送さ
れる。この差動増幅器は、第１及び第２加算器からの出
力を比較して関連する焦点エラーを発生する。かかる焦
点エラーは単に２つの加算器からの出力の間の差分値で
ある。
【０００４】非点収差が生じたのち、光検出器１６０の
受光面１６２上に形成された光束の映像形態は、光ディ
スク１４０の記録面１４４と光線の集束点１４２との間
の位置関係によって変わる。このような光束の映像形態
の変化を検出するために、円筒形レンズ１５０が集束点
１４２と光検出器１６０との間に位置することによっ
て、光線が記録面１４４上に正確に集束された場合、受
光面１６２上の光束の映像形態は円形になる。これは、
従来技術においては、合焦位置（just focused positio
n）として知られている。光ディスク１４０が対物レン
ズ１３０の中心点と合焦位置とにより形成された光軸に
沿って動く場合、焦点エラー信号は、合焦位置から光デ
ィスク１４０の記録面１４４までの変位方向を表すゼロ
でない符号を有することによって、焦点エラー信号を検
出し得る。
受光面１６２上に形成された光束の映像形態は、光ディ
スク１４０の記録面１４４と光線の集束点１４２との間
の位置関係によって変わる。このような光束の映像形態
の変化を検出するために、円筒形レンズ１５０が集束点
１４２と光検出器１６０との間に位置することによっ
て、光線が記録面１４４上に正確に集束された場合、受
光面１６２上の光束の映像形態は円形になる。これは、
従来技術においては、合焦位置（just focused positio
n）として知られている。光ディスク１４０が対物レン
ズ１３０の中心点と合焦位置とにより形成された光軸に
沿って動く場合、焦点エラー信号は、合焦位置から光デ
ィスク１４０の記録面１４４までの変位方向を表すゼロ
でない符号を有することによって、焦点エラー信号を検
出し得る。
【０００５】上述した従来の光ピックアップシステム１
００は、光検出器１６０とビームスプリッター１２０と
の間に位置した円筒形レンズ１５０を用いることによっ
て、光ピックアップの大きさが大きくなり、光ピックア
ップシステム１００の全体的な光路が拡張されることに
よって、システム１００の構造が全体的に増大される欠
点を有する。
００は、光検出器１６０とビームスプリッター１２０と
の間に位置した円筒形レンズ１５０を用いることによっ
て、光ピックアップの大きさが大きくなり、光ピックア
ップシステム１００の全体的な光路が拡張されることに
よって、システム１００の構造が全体的に増大される欠
点を有する。
【０００６】さらに、従来の非点収差法は、ビームスポ
ットを非点収差方式で集束するために円筒形レンズ１５
０を要する。また、従来の円筒形レンズ１５０が平面で
ないので、光線が光ディスク１４０の記録面１４４上の
合焦位置に位置する場合、受光面１６２の中心点が光束
の円形形状の中心点と一致しないように、円筒形レンズ
１５０を集束点１４２と光検出器１６０の受光面１６２
の中心との間に正確に方向付けることは困難である。
ットを非点収差方式で集束するために円筒形レンズ１５
０を要する。また、従来の円筒形レンズ１５０が平面で
ないので、光線が光ディスク１４０の記録面１４４上の
合焦位置に位置する場合、受光面１６２の中心点が光束
の円形形状の中心点と一致しないように、円筒形レンズ
１５０を集束点１４２と光検出器１６０の受光面１６２
の中心との間に正確に方向付けることは困難である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の主な
目的は、単純な構造を有し、且つ小型化された新規な光
ピックアップシステムを提供することにある。
目的は、単純な構造を有し、且つ小型化された新規な光
ピックアップシステムを提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の一実施例によれば、記録面を有する光デ
ィスク上に記録された情報信号を読取る光ピックアップ
システムであって、Ｐ及びＳ偏光成分を有する光線を発
生する光源と、投射された前記光線の偏光成分を変換さ
せるλ／４プレートと、前記光ディスクの記録面から情
報信号を検出する検出手段と、前記光線の偏光成分が前
記λ／４プレートを透過することによって、他の偏光成
分に変換され、前記偏光成分のうちの１つを前記λ／４
プレートを通じて前記光ディスクに反射し、他の偏光成
分を透過し、前記光ディスクから反射された光線を透過
させ得る前記第１表面と、入射光線を前記検出手段に反
射し得る第２表面とを備えて、前記光ピックアップシス
テムが前記記録面に記録された情報信号を読取るように
する光学手段とを有することを特徴とする光ピックアッ
プシステムが提供される。
めに、本発明の一実施例によれば、記録面を有する光デ
ィスク上に記録された情報信号を読取る光ピックアップ
システムであって、Ｐ及びＳ偏光成分を有する光線を発
生する光源と、投射された前記光線の偏光成分を変換さ
せるλ／４プレートと、前記光ディスクの記録面から情
報信号を検出する検出手段と、前記光線の偏光成分が前
記λ／４プレートを透過することによって、他の偏光成
分に変換され、前記偏光成分のうちの１つを前記λ／４
プレートを通じて前記光ディスクに反射し、他の偏光成
分を透過し、前記光ディスクから反射された光線を透過
させ得る前記第１表面と、入射光線を前記検出手段に反
射し得る第２表面とを備えて、前記光ピックアップシス
テムが前記記録面に記録された情報信号を読取るように
する光学手段とを有することを特徴とする光ピックアッ
プシステムが提供される。
【０００９】本発明の他の実施例によれば、ナイフエッ
ジを用いて、記録面を有する光ディスクに記録された情
報信号を再生し得る光ピックアップシステムであって、
Ｐ及びＳ偏光成分を有する光線を発生する光源と、透過
された前記光線の偏光成分が変換するλ／４プレート
と、前記光ディスクの記録面から情報信号を検出する検
出手段と、前記光線の偏光成分が前記λ／４プレートを
透過することによって、他の偏光成分に変換され、前記
偏光成分のうちの１つを前記λ／４プレートを通じて前
記光ディスクに反射し、他の偏光成分を透過し、前記光
ディスクから反射された光線を透過させ得る前記第１表
面と、入射光線を前記検出手段に反射し得る第２表面と
を備えて、前記第２表面が前記記録面に記録された情報
信号を読取るようにする光学手段と、前記光線を前記光
ディスクの前記記録面に集束し、前記記録面から反射さ
れた前記光線を前記検出手段に収束する対物レンズとを
有することを特徴とする光ピックアップシステムが提供
される。
ジを用いて、記録面を有する光ディスクに記録された情
報信号を再生し得る光ピックアップシステムであって、
Ｐ及びＳ偏光成分を有する光線を発生する光源と、透過
された前記光線の偏光成分が変換するλ／４プレート
と、前記光ディスクの記録面から情報信号を検出する検
出手段と、前記光線の偏光成分が前記λ／４プレートを
透過することによって、他の偏光成分に変換され、前記
偏光成分のうちの１つを前記λ／４プレートを通じて前
記光ディスクに反射し、他の偏光成分を透過し、前記光
ディスクから反射された光線を透過させ得る前記第１表
面と、入射光線を前記検出手段に反射し得る第２表面と
を備えて、前記第２表面が前記記録面に記録された情報
信号を読取るようにする光学手段と、前記光線を前記光
ディスクの前記記録面に集束し、前記記録面から反射さ
れた前記光線を前記検出手段に収束する対物レンズとを
有することを特徴とする光ピックアップシステムが提供
される。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適実施例につい
て図面を参照しながらより詳しく説明する。
て図面を参照しながらより詳しく説明する。
【００１１】図２及び図３には、本発明の第１及び第２
実施例による光ピックアップシステム２００、３００の
概略的な断面図が各々示されている。図２及び図３中
で、同一部分は同一の参照符号を付して表示したことに
注目されたい。
実施例による光ピックアップシステム２００、３００の
概略的な断面図が各々示されている。図２及び図３中
で、同一部分は同一の参照符号を付して表示したことに
注目されたい。
【００１２】図２によると、本発明の第１実施例による
光ピックアップシステム２００は、λ1の波長を有し、
Ｐ及びＳ偏光成分を有する光線を発生するためのレーザ
ダイオードまたは半導体レーザのようなレーザ光源２１
０と、λ／４プレート２３０と、対物レンズ２４０と、
光検出器２６０及び光線に透明なベース２２３、第１及
び第２表面２２２、２２４を有するビームスプリッター
２２０から構成される。ここで、ビームスプリッター２
２０は、第１表面２２２には入射するＰ偏光成分を反射
し得る第１物質を蒸着し、第２表面２２４には入射する
Ｓ偏光成分を透過し得る第２物質を蒸着することによっ
て作られる。λ／４プレート２３０が対物レンズ２４０
とビームスプリッター２２０との間に位置し対物レンズ
２４０の焦点と対物レンズ２４０の中心点とを結ぶ光軸
が、λ／４プレート２３０の中心点を透過してビームス
プリッター２２０の第１及び第２表面２２２、２２４が
予め定められた角度(好ましくは、４５度)に合うよう
に、対物レンズ２４０、λ／４プレート２３０及びビー
ムスプリッター２２０を整列する。
光ピックアップシステム２００は、λ1の波長を有し、
Ｐ及びＳ偏光成分を有する光線を発生するためのレーザ
ダイオードまたは半導体レーザのようなレーザ光源２１
０と、λ／４プレート２３０と、対物レンズ２４０と、
光検出器２６０及び光線に透明なベース２２３、第１及
び第２表面２２２、２２４を有するビームスプリッター
２２０から構成される。ここで、ビームスプリッター２
２０は、第１表面２２２には入射するＰ偏光成分を反射
し得る第１物質を蒸着し、第２表面２２４には入射する
Ｓ偏光成分を透過し得る第２物質を蒸着することによっ
て作られる。λ／４プレート２３０が対物レンズ２４０
とビームスプリッター２２０との間に位置し対物レンズ
２４０の焦点と対物レンズ２４０の中心点とを結ぶ光軸
が、λ／４プレート２３０の中心点を透過してビームス
プリッター２２０の第１及び第２表面２２２、２２４が
予め定められた角度(好ましくは、４５度)に合うよう
に、対物レンズ２４０、λ／４プレート２３０及びビー
ムスプリッター２２０を整列する。
【００１３】光源２１０から発せられた光線は、第１表
面２２２から反射された後、光軸に添う点にλ／４プレ
ート２３０を透過して対物レンズ２４０によって集束さ
れ、フォーカスされる。ここで、光線は、光軸とビーム
スプリッター２２０の第１表面２２２との第１交点と、
光源の中心点とを結ぶ第１線分に添って配置される。予
め定められた角度が４５度である場合、第１線分は光軸
に対して直角であることが望ましい。
面２２２から反射された後、光軸に添う点にλ／４プレ
ート２３０を透過して対物レンズ２４０によって集束さ
れ、フォーカスされる。ここで、光線は、光軸とビーム
スプリッター２２０の第１表面２２２との第１交点と、
光源の中心点とを結ぶ第１線分に添って配置される。予
め定められた角度が４５度である場合、第１線分は光軸
に対して直角であることが望ましい。
【００１４】光源２１０から発生された光線がビームス
プリッター２２０に入射すると、ビームスプリッター２
２０の第１表面２２２はＳ−偏光成分を透過し、Ｐ−偏
光成分を反射する。第１表面２２２から反射されたＰ−
偏光成分は、λ／４プレート２３０を透過し対物レンズ
２４０によって光ディスク２５０の記録面にフォーカス
される。その後、光ディスク２５０の記録面から反射さ
れたＰ−偏光光線は対物レンズ２４０によって集束さ
れ、λ／４プレート２３０を透過することによって、Ｐ
−偏光成分がＳ−偏光成分に変換される。Ｐ−偏光成分
からＳ−偏光成分に変換された光線は、ビームスプリッ
ター２２０の第１表面２２２を透過してビームスプリッ
ター２２０の第２表面２２４に入射するようになる。そ
の後、Ｓ−偏光成分はビームスプリッター２２０の第２
表面２２４から反射されて光検出器２６０に反射され
る。図２において、ビームスプリッター２２０第１表面
２２２を透過するＳ−偏光成分の光線は点線によって表
れる。ビームスプリッター２２０に入射する光線が平行
光でなく、ビームスプリッター２２０が光軸に対して所
定の角度を成しているため、ビームスプリッター２２０
のベース２２３は光線に対して非点収差を発生するよう
に充分厚く、これに応じてＳ−偏光光線を非点収差を有
する光線に変えて、光検出器２６０が焦点エラー信号を
検出するようになる。
プリッター２２０に入射すると、ビームスプリッター２
２０の第１表面２２２はＳ−偏光成分を透過し、Ｐ−偏
光成分を反射する。第１表面２２２から反射されたＰ−
偏光成分は、λ／４プレート２３０を透過し対物レンズ
２４０によって光ディスク２５０の記録面にフォーカス
される。その後、光ディスク２５０の記録面から反射さ
れたＰ−偏光光線は対物レンズ２４０によって集束さ
れ、λ／４プレート２３０を透過することによって、Ｐ
−偏光成分がＳ−偏光成分に変換される。Ｐ−偏光成分
からＳ−偏光成分に変換された光線は、ビームスプリッ
ター２２０の第１表面２２２を透過してビームスプリッ
ター２２０の第２表面２２４に入射するようになる。そ
の後、Ｓ−偏光成分はビームスプリッター２２０の第２
表面２２４から反射されて光検出器２６０に反射され
る。図２において、ビームスプリッター２２０第１表面
２２２を透過するＳ−偏光成分の光線は点線によって表
れる。ビームスプリッター２２０に入射する光線が平行
光でなく、ビームスプリッター２２０が光軸に対して所
定の角度を成しているため、ビームスプリッター２２０
のベース２２３は光線に対して非点収差を発生するよう
に充分厚く、これに応じてＳ−偏光光線を非点収差を有
する光線に変えて、光検出器２６０が焦点エラー信号を
検出するようになる。
【００１５】光検出器２６０は、ビームスプリッター２
２０の第２表面２２４から反射されて変換されたＳ−偏
光光線の焦点に位置し、検出器２６０の中心点と、ビー
ムスプリッター２２０の第２表面２２４と光軸との間の
第２交点とを結ぶ第２線分上に位置する。ここで、予め
定められた角度が４５度である場合、第２線分は光軸に
対して垂直である。光検出器２６０から第１交点までの
変換されたＳ−偏光成分の光線は光源２１０から第１交
点までの光路と同一である。光検出器２６０は光線の強
さで測定することができる。ビームスプリッター２２０
の第２表面２２４から反射された非点収差光線は、光検
出器２６０に入射することによって、光ピックアップシ
ステム２００が光ディスク２５０の記録面からの情報信
号を再生するようにする。
２０の第２表面２２４から反射されて変換されたＳ−偏
光光線の焦点に位置し、検出器２６０の中心点と、ビー
ムスプリッター２２０の第２表面２２４と光軸との間の
第２交点とを結ぶ第２線分上に位置する。ここで、予め
定められた角度が４５度である場合、第２線分は光軸に
対して垂直である。光検出器２６０から第１交点までの
変換されたＳ−偏光成分の光線は光源２１０から第１交
点までの光路と同一である。光検出器２６０は光線の強
さで測定することができる。ビームスプリッター２２０
の第２表面２２４から反射された非点収差光線は、光検
出器２６０に入射することによって、光ピックアップシ
ステム２００が光ディスク２５０の記録面からの情報信
号を再生するようにする。
【００１６】従来の光ピックアップシステム１００と比
較して、本発明の光ピックアップシステム２００は簡単
な整列、簡単な構造を有する。これは、非点収差を発生
するのに充分な厚さと第１及び第２表面２２２、２２４
とを有するビームスプリッター２２０を用いることによ
って可能である。ここで、ビームスプリッター２２０の
第１表面２２２はＰ−偏光成分の光線を反射することが
でき、Ｓ−偏光成分の光線は透過することができる第１
物質を塗布して形成し、ビームスプリッター２２０の第
２表面２２４は光線を反射させることができる第２物質
を塗布して作れることによって、従来の光ピックアップ
システム１００の円筒形状のレンズ１５０取り除くこと
ができ、光ピックアップシステム２００の全体的な光路
を短縮することができる。更に、ビームスプリッター２
２０に第１及び第２表面２２２、２２４が一体化されて
いるため、本発明の光ピックアップシステム２００の整
列が従来の光ピックアップシステム１００より容易であ
る。
較して、本発明の光ピックアップシステム２００は簡単
な整列、簡単な構造を有する。これは、非点収差を発生
するのに充分な厚さと第１及び第２表面２２２、２２４
とを有するビームスプリッター２２０を用いることによ
って可能である。ここで、ビームスプリッター２２０の
第１表面２２２はＰ−偏光成分の光線を反射することが
でき、Ｓ−偏光成分の光線は透過することができる第１
物質を塗布して形成し、ビームスプリッター２２０の第
２表面２２４は光線を反射させることができる第２物質
を塗布して作れることによって、従来の光ピックアップ
システム１００の円筒形状のレンズ１５０取り除くこと
ができ、光ピックアップシステム２００の全体的な光路
を短縮することができる。更に、ビームスプリッター２
２０に第１及び第２表面２２２、２２４が一体化されて
いるため、本発明の光ピックアップシステム２００の整
列が従来の光ピックアップシステム１００より容易であ
る。
【００１７】また、図３には、本発明の第２実施例によ
るビームスプリッター３２０を用いた光ピックアップシ
ステム３００の概略的な断面図が示されている。ビーム
スプリッター３２０は第２表面３２４の一部分３２５が
Ｓ−偏光成分の光線を反射する物質塗布され、残余の部
分はＳ−偏光成分の光線が透過できる物質で塗布されて
いることを除いては、図２に示されている本発明の好適
な第１実施例と同一である。ここで、第２表面３２４
は、光軸と第２表面３２４との間の交点を透過する線分
によって２つに分けられ、部分３２５は交点に下の方に
位置する第２表面３２４の部分である。第２表面３２４
の部分３２５の上側のエッジがナイフエッジとして作用
することによって、光ピックアップシステム３００が光
ディスク２５０の記録面からの情報信号を再生するよう
にする。
るビームスプリッター３２０を用いた光ピックアップシ
ステム３００の概略的な断面図が示されている。ビーム
スプリッター３２０は第２表面３２４の一部分３２５が
Ｓ−偏光成分の光線を反射する物質塗布され、残余の部
分はＳ−偏光成分の光線が透過できる物質で塗布されて
いることを除いては、図２に示されている本発明の好適
な第１実施例と同一である。ここで、第２表面３２４
は、光軸と第２表面３２４との間の交点を透過する線分
によって２つに分けられ、部分３２５は交点に下の方に
位置する第２表面３２４の部分である。第２表面３２４
の部分３２５の上側のエッジがナイフエッジとして作用
することによって、光ピックアップシステム３００が光
ディスク２５０の記録面からの情報信号を再生するよう
にする。
【００１８】本発明の第１実施例と比較して、第２実施
例はビームスプリッター３２０の厚さを減らすことがで
きる。これは、第２表面３２４の部分３２５の上側のエ
ッジをナイフエッジとして使うことによって可能であ
る。従って、ビームスプリッター３２０は非点収差を発
生する程度で厚くなくてもよい。
例はビームスプリッター３２０の厚さを減らすことがで
きる。これは、第２表面３２４の部分３２５の上側のエ
ッジをナイフエッジとして使うことによって可能であ
る。従って、ビームスプリッター３２０は非点収差を発
生する程度で厚くなくてもよい。
【００１９】本発明の第１実施例において、非点収差を
発生させるビームスプリッター２２０を用いた光ピック
アップシステムについて説明したが、もし、ビームスプ
リッター２２０が非点収差を発生させるのに充分な厚さ
を備えない場合、ビームスプリッター２２０の第２表面
３３４の一部分上に非点収差を発生させ得るフレネルレ
ンズ(Fresnel lens)のような光デバイスを形成して使う
ことができる。ここで、一部分は光ディスクから反射さ
れた光線が入射する位置である。
発生させるビームスプリッター２２０を用いた光ピック
アップシステムについて説明したが、もし、ビームスプ
リッター２２０が非点収差を発生させるのに充分な厚さ
を備えない場合、ビームスプリッター２２０の第２表面
３３４の一部分上に非点収差を発生させ得るフレネルレ
ンズ(Fresnel lens)のような光デバイスを形成して使う
ことができる。ここで、一部分は光ディスクから反射さ
れた光線が入射する位置である。
【００２０】上記において、本発明の好適な実施の形態
について説明したが、本発明の請求範囲を逸脱すること
なく、当業者は種々の改変をなし得るであろう。
について説明したが、本発明の請求範囲を逸脱すること
なく、当業者は種々の改変をなし得るであろう。
【００２１】
【発明の効果】従って、本発明によれば、組み込まれた
円筒形状レンズを取り除いて全体的な光路をより一層減
らして、且つ、非点収差の発生に充分な厚さ及び入射光
線を反射、透過し得る２つの表面を有するビームスプリ
ッターを用いて、システムをより簡単に構成することが
できる。
円筒形状レンズを取り除いて全体的な光路をより一層減
らして、且つ、非点収差の発生に充分な厚さ及び入射光
線を反射、透過し得る２つの表面を有するビームスプリ
ッターを用いて、システムをより簡単に構成することが
できる。
【図１】従来の光学ヘッドの概略的な模式図。
【図２】本発明の第１実施例によるビームスプリッター
を用いた光ピックアップシステムの概略的な模式図。
を用いた光ピックアップシステムの概略的な模式図。
【図３】本発明の第２実施例による対物レンズを用いた
光ピックアップシステムの概略的な模式図。
光ピックアップシステムの概略的な模式図。
２００ 光ピックアップシステム ２１０ 光源 ２２０ ビームスプリッター ２２２ ビームスプリッターの第１表面 ２２３ ベース ２２４ ビームスプリッターの第２表面 ２３０ λ／４プレート ２４０ 対物レンズ ２５０ 光ディスク ３００ 光ピックアップシステム ３２０ ビームスプリッター ３２２ ビームスプリッターの第１表面 ３２３ ベース ３２４ ビームスプリッターの第２表面 ３２５ 第２表面の一部分
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号 Ｐ１９９６−４３０９４ (32)優先日 1996年９月30日 (33)優先権主張国 韓国（ＫＲ）
Claims (10)
- 【請求項１】 記録面を有する光ディスク上に記録さ
れた情報信号を読取る光ピックアップシステムであっ
て、 Ｐ及びＳ偏光成分を有する光線を発生する光源と、 投射された前記光線の偏光成分を変換させるλ／４プレ
ートと、 前記光ディスクの記録面から情報信号を検出する検出手
段と、 前記光線の偏光成分が前記λ／４プレートを透過するこ
とによって、他の偏光成分に変換され、前記偏光成分の
うちの１つを前記λ／４プレートを通じて前記光ディス
クに反射し、他の偏光成分を透過し、前記光ディスクか
ら反射された光線を透過させ得る前記第１表面と、入射
光線を前記検出手段に反射し得る第２表面とを備えて、
前記光ピックアップシステムが前記記録面に記録された
情報信号を読取るようにする光学手段とを有することを
特徴とする光ピックアップシステム。 - 【請求項２】 前記光線を前記光ディスクの前記記録
面に集束し、前記記録面から反射された前記光線を前記
検出手段に収束し得る対物レンズを更に有することを特
徴とする請求項１に記載の光ピックアップシステム。 - 【請求項３】 前記λ／４プレートが、前記光学手段
と前記対物レンズとの間に配置されることを特徴とする
請求項２に記載の光ピックアップシステム。 - 【請求項４】 前記対物レンズが、前記λ／４プレー
トと前記光ディスクとの間に配置されることを特徴とす
る請求項３に記載の光ピックアップシステム。 - 【請求項５】 前記光学手段の第１表面が、前記対物
レンズの中心点と前記対物レンズの焦点とを結んで形成
された光軸に対して、予め定められた角度だけ傾けられ
配列されることを特徴とする請求項２に記載の光ピック
アップシステム。 - 【請求項６】 前記予め定められた角度が、４５度で
あることを特徴とする請求項５に記載の光ピックアップ
システム。 - 【請求項７】 前記第２表面が、前記第１表面から予
め定められた間隔だけ隔てられていることによって、前
記光学手段を通じて透過された光線に対して非点収差を
発生するようにすることを特徴とする請求項５に記載の
光ピックアップシステム。 - 【請求項８】 前記光源が、前記光線が前記光軸に沿
って対物レンズにより集束され、前記光源と前記光学手
段の第１表面と前記光軸との間の交点とを結ぶ第１線分
に沿って整列されるようにする位置に置かれることを特
徴とする請求項５に記載の光ピックアップシステム。 - 【請求項９】 ナイフエッジを用いて、記録面を有す
る光ディスクに記録された情報信号を再生し得る光ピッ
クアップシステムであって、 Ｐ及びＳ偏光成分を有する光線を発生する光源と、 透過された前記光線の偏光成分が変換するλ／４プレー
トと、 前記光ディスクの記録面から情報信号を検出する検出手
段と、 前記光線の偏光成分が前記λ／４プレートを透過するこ
とによって、他の偏光成分に変換され、前記偏光成分の
うちの１つを前記λ／４プレートを通じて前記光ディス
クに反射し、他の偏光成分を透過し、前記光ディスクか
ら反射された光線を透過させ得る前記第１表面と、入射
光線を前記検出手段に反射し得る第２表面とを備えて、
前記第２表面が前記記録面に記録された情報信号を読取
るようにする光学手段と、 前記光線を前記光ディスクの前記記録面に集束し、前記
記録面から反射された前記光線を前記検出手段に収束す
る対物レンズとを有することを特徴とする光ピックアッ
プシステム。 - 【請求項１０】 前記第２表面が、前記対物レンズの
中心点と前記対物レンズの焦点とを結んで形成された光
軸と、前記第２表面との間の交点を通る線分とによって
２つに分けられる第２表面の部分から選択される一部分
を有する備えることを特徴とする請求項９に記載の光ピ
ックアップシステム。
Applications Claiming Priority (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1996-43087 | 1996-09-30 | ||
| KR1996-43086 | 1996-09-30 | ||
| KR1019960043087A KR19980023589A (ko) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 광 픽-업장치 |
| KR1996-43093 | 1996-09-30 | ||
| KR1019960043094A KR19980023596A (ko) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 광 픽업 장치 |
| KR1019960043093A KR19980023595A (ko) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 광 픽업 장치 |
| KR1019960043086A KR19980023588A (ko) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 광 픽-업장치 |
| KR1996-43094 | 1996-09-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10112054A true JPH10112054A (ja) | 1998-04-28 |
Family
ID=27483159
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9265663A Pending JPH10112054A (ja) | 1996-09-30 | 1997-09-30 | 光ピックアップシステム |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5905254A (ja) |
| JP (1) | JPH10112054A (ja) |
| CN (1) | CN1181537A (ja) |
| FR (1) | FR2754096B1 (ja) |
| NL (1) | NL1007179C2 (ja) |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL7907216A (nl) * | 1979-09-28 | 1981-03-31 | Philips Nv | Optisch fokusfout-detektiestelsel. |
| EP0225564A3 (en) * | 1985-11-30 | 1988-07-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical head |
| KR900008380B1 (ko) * | 1986-07-01 | 1990-11-17 | 미쓰비시덴기 가부시기 가이샤 | 광학식 헤드장치 |
| JPH0664750B2 (ja) * | 1987-04-27 | 1994-08-22 | パイオニア株式会社 | 光学ヘツド |
| JPH04318333A (ja) * | 1991-04-17 | 1992-11-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘッド装置 |
| US5331622A (en) * | 1991-05-28 | 1994-07-19 | Applied Magnetics Corporation | Compact optical head |
| US5568315A (en) * | 1991-05-28 | 1996-10-22 | Discovision Associates | Optical beamsplitter |
| US5309422A (en) * | 1991-06-10 | 1994-05-03 | Alps Electric Co., Ltd. | Light separation element and light receiving optical device using same |
| KR950015241A (ko) * | 1993-11-16 | 1995-06-16 | 배순훈 | 광픽업의 포커스에러 검출방법 및 그 장치 |
| US5787058A (en) * | 1995-05-31 | 1998-07-28 | Daewoo Electronics Co., Ltd. | Optical pickup apparatus utilizing a polygonal prism |
-
1997
- 1997-09-30 NL NL1007179A patent/NL1007179C2/nl not_active IP Right Cessation
- 1997-09-30 FR FR9712152A patent/FR2754096B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1997-09-30 JP JP9265663A patent/JPH10112054A/ja active Pending
- 1997-09-30 CN CN97122590A patent/CN1181537A/zh active Pending
- 1997-09-30 US US08/940,890 patent/US5905254A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5905254A (en) | 1999-05-18 |
| FR2754096B1 (fr) | 1999-12-10 |
| CN1181537A (zh) | 1998-05-13 |
| NL1007179A1 (nl) | 1998-03-31 |
| NL1007179C2 (nl) | 1998-07-08 |
| FR2754096A1 (fr) | 1998-04-03 |
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