JPH10104173A - X線分析装置のインタロック機構 - Google Patents

X線分析装置のインタロック機構

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Publication number
JPH10104173A
JPH10104173A JP8277179A JP27717996A JPH10104173A JP H10104173 A JPH10104173 A JP H10104173A JP 8277179 A JP8277179 A JP 8277179A JP 27717996 A JP27717996 A JP 27717996A JP H10104173 A JPH10104173 A JP H10104173A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shutter
stopper
shield cover
ray
cover
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8277179A
Other languages
English (en)
Inventor
Masao Mizuta
雅夫 水田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd filed Critical Horiba Ltd
Priority to JP8277179A priority Critical patent/JPH10104173A/ja
Publication of JPH10104173A publication Critical patent/JPH10104173A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 部品点数が少なく、簡易な構成でトラブル発
生要因が少なくコスト安なX線分析装置のインタロック
機構を提供する。 【解決手段】 開閉式のシールドカバー3に、X線を遮
蔽するためのシャッター8のスライド移動を規制するス
トッパー5を設け、そのストッパー5の一側面に設けた
曲面部51をシールドカバー3の枢支軸4を中心とする
回動軌跡に沿うように形成している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、容器内において試
料にX線を照射させてX線分析をおこなうX線分析装置
におけるシャッターの開動作を規制するために設けられ
るインタロック機構の技術分野に属する。
【0002】
【従来の技術】X線分析装置に設けられるインタロック
機構は、従来、例えば図4(A),(B)に示すよう
に、構成される。同図にて、符号aはベースプレート、
bは試料、cは試料カバー、dはフック、eはシャッタ
ー、fはシャッタースライダー、gはストッパ、hはス
プリングである。
【0003】上述のような構成により、試料カバーcが
開いている状態では、(図4(A)参照)、スプリング
hで押し上げられたストッパgにシャッタースライダー
fの先端が当接してシャッターeが開かないようにロッ
クされている。一方、試料カバーcを閉じると(図4
(B)参照)、フックdの下端でストッパgを押し下
げ、シャッターeが図外のスプリングによって押し出さ
れるように(図示右方向に)開かれる。このとき、フッ
クdの溝にシャッタースライダーfが引掛かっており、
試料カバーcを開くことができないようになっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述のような従来のイ
ンタロック機構では、構成が複雑であり、部材点数が多
いため、コンパクト化が困難でトラブルの発生要因も多
く、また、コスト高ともなっていた。その他、図示は省
略するがシャッターを電動式として、試料カバーを閉じ
るとマイクロスイッチが接続されてそのシャッターを開
かせるようにした方式もあるが、信頼性に欠けるという
難点があった。
【0005】本発明はこのような実情に鑑みてなされ、
部品点数が少なく、コンパクト化が可能な簡易な構成で
トラブル発生要因が少なく、コスト安なX線分析装置の
インタロック機構を提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は上述の課題を解
決するための手段を以下のように構成している。すなわ
ち、請求項1に記載の発明では、外部へのX線の漏洩を
防止するために、X線照射位置にあるサンプルを覆うよ
うに設けられる開閉式のシールドカバーに、X線管から
放射されるX線を遮蔽するためのシャッターのスライド
移動を規制するストッパーを設けてなることを特徴とし
ている。
【0007】請求項2に記載の発明では、請求項1に記
載の発明における前記ストッパーが前記シールドカバー
の枢支軸側に設けられ、かつ、前記シールドカバーを開
くと前記シャッターと当接する凹状の曲面部が前記スト
ッパーの一側面に設けられ、その曲面部が前記枢支軸を
中心とする回動軌跡に沿うように形成されていることを
特徴としている。
【0008】ストッパーをシールドカバーと一体化させ
たきわめて簡易な構成であり、部品点数が少なく、コン
パクト化が可能となり、また、トラブル発生要因も少な
くなり、コスト安に提供することができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下に本発明のX線分析装置のイ
ンタロック機構の実施形態を図面に基づいて詳細に説明
する。図1、図2はX線分析装置のインタロック機構の
構成を示し、これらの図において、符号1はベースプレ
ート、2は試料容器、3は開閉自在なシールドカバー、
4はその枢支軸、5はストッパー、6はX線管、7はX
線検出器、8はシャッター、9はシャッター8と一体化
されたシャッタースライダー、10はシャッタースライ
ダー9を案内するガイドバーであり、シールドカバー3
が開かれると(図1参照)、シャッター8(またはシャ
ッタースライダー9)の先端81がストッパー5の一側
面に形成された曲面部51に当接してスライド移動が規
制され、X線管6から放射されるX線をシャッター8で
遮蔽して外部への漏洩が防止されるようになっている。
【0010】一方、シールドカバー3を閉じた状態では
(図2参照)、ストッパー5はシャッター8と当接しな
い位置にあり、図外のスプリングにより、シャッター8
はガイドバー10に沿って開方向に移動し、試料容器2
にX線が照射され、X線分析をおこなうことができる。
【0011】上述のストッパー5はシールドカバー3の
一端部に固定される単一部材であり、その内側の一側面
に形成された凹状の曲面部51は、シールドカバー3の
枢支軸4を中心とする回動軌跡に沿うような曲面に形成
されたカムとして機能し、シールドカバー3が、図1の
二点鎖線と実線とで示される間の如何なる角度で開かれ
ても常にその曲面部51がシャッター8の先端と当接
し、そのスライド移動を確実に阻止(規制)することが
できる。なお、開状態のシャッター8は図外のレバーを
操作するとによって元の閉状態の位置に戻すことができ
るようになっている。
【0012】このようなきわめて簡易な構成により、別
途、可動部材を用いることなく、シャッター8が開の状
態下でシールドカバー3が開の状態となり得ないように
することができ、トラブルの発生要因を極減することが
でき、信頼性の高いインタロック機構をコスト安に提供
することができ、また、部材点数が少ないことから装置
のコンパクト化も可能となる。
【0013】図3は異なる実施形態を示し、この場合、
シールドカバー3の枢支軸4とガイドバー10の軸心を
同一方向に設定し、シールドカバー3の枢支軸4の近傍
に例えば板金材よりなる図示のようなストッパー5を設
け、シールドカバー3が閉の状態(実線で図示)では、
ストッパー5はシャッター8と干渉しない位置にあり、
シャッター8の開方向へのスライド移動(紙面に垂直手
前方向)が許容される一方、シールドカバー3が開の状
態(実線と二点鎖線とで示される間の状態)では、スト
ッパー5がシャッター8の先端に当接する位置に移動し
てそのシャッター8のスライド移動を確実に阻止するこ
とができる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のX線分析
装置のインタロック機構によれば、X線管から放射され
るX線を遮蔽するためのシャッターのスライド移動を規
制するためのストッパーをシールドカバーに設けたの
で、きわめて簡易な構成で、部材点数が少なく、コンパ
クト化も可能となり、また、トラブルの発生要因が少な
くなり、信頼性が向上し、かつ、コスト安を実現するこ
とができる。
【0015】例えばそのストッパーをシールドカバーの
枢支軸側に設け、そのシールドカバーを開くとシャッタ
ーと当接する凹状の曲面部を前記ストッパーの一側面に
設け、その曲面部を前記枢支軸を中心とする回動軌跡に
沿うように形成することもできる。
【0016】なお、ストッパーは、図示の実施形態の形
状に限定されるものではなく、シールドカバーの開状態
にてシャッターのスライド移動を規制できるものであれ
ば、その形状の如何を問わず適宜に採用できるのはいう
までもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のX線分析装置のインタロック機構のシ
ールドカバー開状態の構成図である。
【図2】同シールドカバー開状態の構成図である。
【図3】同異なる実施形態を示す構成図である。
【図4】(A)は従来のインタロック機構の一例を示す
試料カバー開状態の構成図、(B)は同試料カバーの閉
状態の構成図である。
【符号の説明】
2…試料容器(サンプル)、3…シールドカバー、4…
枢支軸、5…ストッパー、51…曲面部、6…X線管、
8…シャッター。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部へのX線の漏洩を防止するために、
    X線照射位置にあるサンプルを覆うように設けられる開
    閉式のシールドカバーに、X線管から放射されるX線を
    遮蔽するためのシャッターのスライド移動を規制するス
    トッパーを設けてなることを特徴とするX線分析装置の
    インタロック機構
  2. 【請求項2】 前記ストッパーが前記シールドカバーの
    枢支軸側に設けられ、かつ、前記シールドカバーを開く
    と前記シャッターと当接する凹状の曲面部が前記ストッ
    パーの一側面に設けられ、その曲面部が前記枢支軸を中
    心とする回動軌跡に沿うように形成されていることを特
    徴とする請求項1に記載のX線分析装置のインタロック
    機構
JP8277179A 1996-09-28 1996-09-28 X線分析装置のインタロック機構 Pending JPH10104173A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8277179A JPH10104173A (ja) 1996-09-28 1996-09-28 X線分析装置のインタロック機構

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8277179A JPH10104173A (ja) 1996-09-28 1996-09-28 X線分析装置のインタロック機構

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10104173A true JPH10104173A (ja) 1998-04-24

Family

ID=17579918

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8277179A Pending JPH10104173A (ja) 1996-09-28 1996-09-28 X線分析装置のインタロック機構

Country Status (1)

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JP (1) JPH10104173A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016050827A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 日本電子株式会社 放射線分析装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2016050827A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 日本電子株式会社 放射線分析装置

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