JPH1010183A - Ｉｃのインサーキットテスタによる足浮き検出方法並びに足押え具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＩＣピンのファインピッチ化に対応できてプ
ロービングを行ない易くし、打痕傷を少なくする。 【解決手段】 ＩＣ１０のグランド又は電源ピン１２ａ
が接続すべきパターン１６ａと被検査用入力又は出力ピ
ン１２ｂが接続すべきパターン１６ｂとに測定用ピンプ
ローブ２６を１本ずつ押し当て、グランド又は電源ピン
１２ａと対応するパターン１６ａの間及び被検査用入力
又は出力ピン１２ｂと対応するパターン１６ｂの間の両
導通状態を示す電気量を測定し、更にグランド又は電源
ピン１２ａと被検査用入力又は出力ピン１２ｂとに絶縁
性加圧用プローブ３０を１本ずつ押し当て、同様にグラ
ンド又は電源ピン１２ａと対応するパターン１６ａの間
及び被検査用入力又は出力ピン１２ｂと対応するパター
ン１６ｂの間の両導通状態を示す電気量を測定し、両電
気量の差をしきい値と比べる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はＸ−Ｙ方式、ピンボ
ード方式等のインサーキットテスタを用いて行なうプリ
ント基板に実装したＩＣ（集積回路）の足浮き検出方法
並びに足押え具に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、実装基板即ち多数の電子部品等を
装着し、半田付けしたプリント基板はインサーキットテ
スタを用いて、その基板の必要な測定点に適宜ピンプロ
ーブの先端を接触させ、それ等の各部品の有無を電気的
に検出し、或いは各部品の特性値等を電気的に測定して
基板の良否の判定を行っている。この種のインサーキッ
トテスタには被検査基板を載せる測定台上に検査治具た
るフィクスチュアー（ピンボード）を設置するピンボー
ド方式のものと、被検査基板を載せる測定台上にＸ−Ｙ
ユニット等を設置するＸ−Ｙ方式のものとがある。

【０００３】そして、ピンボード方式ではボードに被検
査基板の測定点の数に等しい数のピンプローブを測定点
の位置に対応させて設け、被検査基板の上にフィクスチ
ュアーを載せることにより、各ピンプローブを各測定点
にそれぞれ接触する。一方、Ｘ−Ｙ方式ではＸ軸方向に
可動するアームの上にＹ軸方向に可動するＺ軸ユニット
を備え、そのＺ軸ユニットで１本のピンプローブをＺ軸
方向に可動可能に支持し、Ｘ−Ｙユニットを制御するこ
とにより、そのピンプローブを基板の上方からＸ軸、Ｙ
軸、Ｚ軸方向にそれぞれ適宜移動して、予め設定した各
測定点に順次接触する。それ故、ピンボード方式のもの
は多量の同一被検査基板の測定に適するのに対し、Ｘ−
Ｙ方式のものは多品種少量の被検査基板の測定に適す
る。なお、通常は測定用ピンプローブとしてその先端が
鋭く突出するものを使用する。

【０００４】これ等の方式によるインサーキットテスタ
を用いて、プリント基板に実装したＩＣの半田付け不良
によるピン（リード）とパターンとの接触不良即ちＩＣ
の足浮きを検査する場合、通常はＩＣのピンとそのピン
が半田付けされるべき基板上のパターンにそれぞれ測定
用ピンプローブを接触し、ピンと対応するパターン間の
導通状態を示す抵抗値を測定することによって足浮きの
有無の判定を行なっている。その際、ＩＣのピンに対し
て正確なプロービングを必要とする。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＩＣの
ピンピッチは近年狭くなってきており、ファインピッチ
化が著しい。それ故、インサーキットテスタを用いてピ
ンピッチの狭いＩＣに対し、足浮きの検査を実施しよう
としても、ピン上に先端が鋭く突出した測定用ピンプロ
ーブを正確に立て難い。特に、足浮き検出の精度を上げ
るには、図３に示すような４端子法によって抵抗値の測
定を行なう必要があるため、プロービングが一層困難に
なる。図中、１０がＩＣ、１２がそのピン、１４がプリ
ント基板、１６がその配線用パターンである。又、１８
が計測部、２０がその定電流源、２２が直流電流計、２
４が直流電圧計、２６が測定用ピンプローブである。な
お、測定用ピンプローブは先端が鋭く突出しているた
め、ＩＣのピンやパターンに押し当てると打痕傷が付
く。

【０００６】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、第１にＩＣのピンピッチのファ
イン化にも対応し易く、打痕傷を少なくすることのでき
るＩＣのインサーキットテスタによる足浮き検出方法を
提供することを目的とする。又、第２にＩＣのインサー
キットテスタによる足浮き検出方法に使用するのに好適
な足押え具を提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による第１目的対応のＩＣのインサーキット
テスタによる足浮き検出方法ではインサーキットテスタ
を用いて、プリント基板に実装したＩＣのピンと対応す
るパターン間の導通状態を示す電気量を測定し、その測
定結果からＩＣの足浮きの有無を判定する。

【０００８】その際、ＩＣのグランド又は電源ピンが接
続すべきパターンと被検査用入力又は出力ピンが接続す
べきパターンとにそれぞれ測定用ピンプローブを１本ず
つ押し当て、そのグランド又は電源ピンと対応するパタ
ーン間及び被検査用入力又は出力ピンと対応するパター
ン間の両導通状態を示す電気量を測定し、更にそれ等の
グランド又は電源ピンと被検査用入力又は出力ピンとに
絶縁性加圧用プローブを押し当て、同様にグランド又は
電源ピンと対応するパターン間及び被検査用入力又は出
力ピンと対応するパターン間の両導通状態を示す電気量
を測定し、それ等の両電気量の差をしきい値と比べる。

【０００９】又、第２目的対応の足押え具では少なくと
も先端部に絶縁材料を有する棒状体を絶縁性加圧用プロ
ーブとして２本備え、それ等の絶縁性加圧用プローブの
基端部寄り箇所を支持部材を介して一体に結合する。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下添付図面に基づいて、本発明
の実施の形態を説明する。図１は本発明を適用したＸ−
Ｙ方式インサーキットテスタに備える測定用ピンプロー
ブ、足押え具のＩＣの足浮き検査時におけるピンとパタ
ーンに対する配置関係を示す図である。図中、２８がコ
状の足押え具、３０（３０ａ、３０ｂ）がその棒状の絶
縁性加圧用プローブ、３２が両絶縁性加圧用プローブ３
０の基端部を結合する棒状の支持部材である。

【００１１】この足押え具２８はＸ−ＹユニットのＺ軸
ユニットに設置したエアシリンダ（図示なし）のピスト
ンロッド先端部３４に装着する等して使用する。そし
て、ＩＣ１０の足浮き検査時には検査対象となっている
１対のピン１２に、対応するプローブ３０でそれぞれ加
圧力を与える。それ故、両加圧用プローブ３０は少なく
とも各先端部３６（３６ａ、３６ｂ）を絶縁性にする必
要があり、足押え具２８にコ状の金属棒を用いる場合に
は両先端部３６を絶縁材料でそれぞれ被覆する。その
際、金属棒の先端を平らにしたり、絶縁材料としてゴム
等の絶縁性を有するものを採用したりすると、当然ピン
１２に打痕傷が付き難い。又、足押え具の全体をプラス
チック等の絶縁材料で形成することもできる。なお、図
１では従来例の説明で用いた番号を対応する同一部分に
使用した。

【００１２】このような測定用ピンプローブ２６、足押
え具２８を備えたＸ−Ｙ方式インサーキットテスタを用
いてＩＣ１０の足浮きを検査する場合、先ずＩＣ１０の
グランド（ＧＮＤ）ピン１２ａが接続すべきパターン１
６ａと被検査用に選んだ１本の入力又は出力ピン１２ｂ
が接続すべきパターン１６ｂとに測定用ピンプローブ２
６（２６ａ、２６ｂ）をそれぞれ押し当てる。なお、測
定用ピンプローブ２６はエアシリンダのピストンロッド
として動作させることができる。

【００１３】そして、定電流源２０より両測定用ピンプ
ローブ２６を通じてＩＣ１０に定電流を流す。すると、
図２に示すようにグランドピン１２ａと多数存在する各
入力又は出力ピン１２ｂ（１２ｂ1 、１２ｂ2 ）との間
には常に寄生ダイオード３８（３８ａ、３８ｂ）が存在
するため、その特性に従った電流が流れる。その際、グ
ランドピン１２ａが足浮き状態にあり、対応するパター
ン１６ａとの間が離れていれば、電流は流れないが、被
検査用入力又は出力ピン１２ｂが足浮き状態にあり、対
応するパターン１６ｂとの間が離れていても、グランド
ピン１２ａと各パターン１６との間には通常他の複数の
入力又は出力ピン１２ｂに関する寄生ダイオードが並列
接続の状態で介在しているため電流が流れる。なお、図
２では入力又は出力ピン１２ｂを２本だけ例示した。

【００１４】そこで、電流計２４によりグランドピン１
２ａと対応するパターン１６ａの間及び被検査用入力又
は出力ピン１２ｂと対応するパターン１６ｂの間の両導
通状態を示す電圧値Ｖ1 を測定する。次に足押え具２８
を下降し、グランドピン１２ａと被検査用入力又は出力
ピン１２ｂとに絶縁性加圧用プローブ３０をそれぞれ押
し当てる。すると、グランドピン１２ａや被検査用入力
又は出力ピン１２ｂが足浮き状態であっても、それ等の
各ピン１２ａ、１２ｂが対応する各パターン１６ｂとそ
れぞれ良好に接触するようになる。

【００１５】再び、定電流源２０より両測定用ピンプロ
ーブ２６を通じてＩＣ１０に定電流を流し、電圧計２４
によりグランドピン１２ａと対応するパターン１６ａの
間及び被検査用入力又は出力ピン１２ｂと対応するパタ
ーン１６ｂの間の両導通状態を示す電圧値Ｖ2 を測定す
る。そして、両電圧値Ｖ1 、Ｖ2 の差をしきい値と比
べ、その差がしきい値より大きい場合に被検査用入力又
は出力ピン１２ｂが足浮きであると決定し、小さい場合
に足浮きでないと決定する。なお、グランドピン１２ａ
が足浮きの場合には電圧値Ｖ1 が無限大に近づく等して
大きくなるため、電圧値Ｖ1 を測定するだけで足浮きの
判定を行なえる。

【００１６】このようにして、２本の絶縁性加圧用プロ
ーブ３０を備えた足押え具２８を用いてＩＣ１０の足浮
きの検査を行なうと、測定用ピンプローブ２６をピン１
２に立てる必要がなく、ピン１２より通常少し幅広にな
っているパターン１６に立てればよいので、ＩＣ１０の
ピンピッチのファイン化にも対応できてプロービングを
容易に行なえる。しかも、このような足押え具２８に両
絶縁性加圧用プローブ３０のプローブ間距離可変機構
（図示なし）を備えると、同一の足押え具２８を用い
て、ＩＣ１０に備えられている多数の各入力又は出力ピ
ン１２ｂの足浮きの検査を順次行なえるため一層好都合
になる。なお、各絶縁性加圧用プローブ３０を独立した
ものにして、別々に操作してもよい。

【００１７】なお、上記実施の形態では計測部１８に定
電流源２０と直流電圧計２４を備え、両絶縁性加圧用プ
ローブ３０でグランドピン１２ａと被検査用入力又は出
力ピン１２ｂとを押える前後で、電圧値Ｖ1 、Ｖ2 を測
定して被検査用入力又は出力ピン１２ｂの足浮きの有無
の判定を行なったが、計測部１８に定電圧源と直流電流
計を備え、両絶縁性加圧用プローブ３０でグランドピン
１２ａと被検査用入力又は出力ピン１２ｂとを押える前
後で電流値Ｉ1 、Ｉ2 を測定し、両電流値Ｉ1、Ｉ2 の
差を算出してしきい値と比べることによって被検査用入
力又は出力ピン１２ｂの足浮きの有無の判定を行なうこ
ともできる。

【００１８】又、上記実施の形態では両絶縁性加圧用プ
ローブ３０を用い、グランドピン１２ａと被検査用入力
又は出力ピン１２ｂとを押える前後で電圧値、電流値等
の電気量を測定して、被検査用入力又は出力ピン１２ｂ
の足浮きの有無の判定を行なったが、ＩＣにはその電源
（Ｖｃｃ）ピンと各入力又は出力ピンとの間にも常に寄
生ダイオードが存在するので、同様に両絶縁性加圧用プ
ローブを用い、電源ピンと被検査用入力又は出力ピンと
を押える前後で電気量をそれぞれ測定して、被検査用入
力又は出力ピンの足浮きの有無の判定を行なえる。但
し、電源ピンと入力又は出力ピンとの間に存在する寄生
ダイオードの方向性は反対である。

【００１９】又、上記実施の形態では足押え具２８に備
えた絶縁性加圧用プローブ３０をグランド又は電源ピン
と被検査用入力又は出力ピンとにそれぞれ１本ずつ押し
当てたが、ＩＣ１０の全ピン１２を一括して押せる絶縁
性加圧用プローブを備えた足押え具を用いてもよい。

【００２０】又、上記実施の形態ではＸ−Ｙ方式インサ
ーキットテスタによるＩＣ１０の足浮き検出方法につい
て説明したが、ピンボード方式インサーキットテスタに
よりＩＣ１０の足浮きの検出も行なえる。後者の場合に
はＩＣ１０の全ピン１２に対応する各パターン１６に、
ピンボードに備えた対応する各測定用ピンプローブをそ
れぞれ押し当てた後、グランドまたは電源ピンと対応す
るパターン間及び被検査用入力又は出力ピンと対応する
パターン間の両導通状態を示す電気量の測定を行なう。

【００２１】

【発明の効果】以上説明した本発明によれば、請求項１
記載の発明ではＩＣの足浮きを検査する際、測定用ピン
プローブをピンより通常少し幅広になっているパターン
に押し当て、ピンに対しては絶縁性加圧用プローブを押
し当てるため、測定用ピンプローブを立て易く、ＩＣピ
ンのファインピッチ化にも対応し易くなる。しかも、Ｉ
Ｃピンに打痕傷を付けない。

【００２２】又、請求項２記載の発明では備えられてい
る２本の各絶縁性加圧用プローブをグランド又は電源ピ
ンが接続すべきパターンと被検査用入力又は出力ピンが
接続すべきパターンとに対し、同時に操作できるため、
絶縁性加圧用プローブを操作するＸ−Ｙユニットの数等
を少なくできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用したＸ−Ｙ方式インサーキットテ
スタに備える測定用ピンプローブ、足押え具のＩＣの足
浮き検査時におけるピンとパターンに対する配置関係を
示す図である。

【図２】ＩＣのグランドピンと入力又は出力ピンとの間
に存在する寄生ダイオードを示す図である。

【図３】従来のＸ−Ｙ方式インサーキットテスタに備え
る測定用ピンプローブの４端子法によるＩＣの足浮き検
査時におけるピンとパターンに対する配置関係を示す図
である。

【符号の説明】

１０…ＩＣ １２ａ…グランドピン １２ｂ…入力又は
出力ピン １４…プリント基板 １６…パターン １８
…計測部 ２０…定電流源 ２４…電圧計 ２６…測定
用ピンプローブ ２８…足押え具 ３０…絶縁性加圧用
プローブ ３２…支持部材 ３６…プローブ先端部 ３
８…寄生ダイオード

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 インサーキットテスタを用いて、プリン
   ト基板に実装したＩＣのピンと対応するパターン間の導
   通状態を示す電気量を測定し、その測定結果からＩＣの
   足浮きの有無を判定するＩＣのインサーキットテスタに
   よる足浮き検出方法において、上記ＩＣのグランド又は
   電源ピンが接続すべきパターンと被検査用入力又は出力
   ピンが接続すべきパターンとにそれぞれ測定用ピンプロ
   ーブを１本ずつ押し当て、そのグランド又は電源ピンと
   対応するパターン間及び被検査用入力又は出力ピンと対
   応するパターン間の両導通状態を示す電気量を測定し、
   更にそれ等のグランド又は電源ピンと被検査用入力又は
   出力ピンとに絶縁性加圧用プローブを押し当て、同様に
   グランド又は電源ピンと対応するパターン間及び被検査
   用入力又は出力ピンと対応するパターン間の両導通状態
   を示す電気量を測定し、それ等の両電気量の差をしきい
   値と比べることを特徴とするＩＣのインサーキットテス
   タによる足浮き検出方法。
2. 【請求項２】 少なくとも先端部に絶縁材料を有する棒
   状体を絶縁性加圧用プローブとして２本備え、それ等の
   絶縁性加圧用プローブの基端部寄り箇所を支持部材を介
   して一体に結合することを特徴とする足押え具。