JPH1010183A - Icのインサーキットテスタによる足浮き検出方法並びに足押え具 - Google Patents
Icのインサーキットテスタによる足浮き検出方法並びに足押え具Info
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- JPH1010183A JPH1010183A JP8181383A JP18138396A JPH1010183A JP H1010183 A JPH1010183 A JP H1010183A JP 8181383 A JP8181383 A JP 8181383A JP 18138396 A JP18138396 A JP 18138396A JP H1010183 A JPH1010183 A JP H1010183A
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Abstract
ロービングを行ない易くし、打痕傷を少なくする。 【解決手段】 IC10のグランド又は電源ピン12a
が接続すべきパターン16aと被検査用入力又は出力ピ
ン12bが接続すべきパターン16bとに測定用ピンプ
ローブ26を1本ずつ押し当て、グランド又は電源ピン
12aと対応するパターン16aの間及び被検査用入力
又は出力ピン12bと対応するパターン16bの間の両
導通状態を示す電気量を測定し、更にグランド又は電源
ピン12aと被検査用入力又は出力ピン12bとに絶縁
性加圧用プローブ30を1本ずつ押し当て、同様にグラ
ンド又は電源ピン12aと対応するパターン16aの間
及び被検査用入力又は出力ピン12bと対応するパター
ン16bの間の両導通状態を示す電気量を測定し、両電
気量の差をしきい値と比べる。
Description
ード方式等のインサーキットテスタを用いて行なうプリ
ント基板に実装したIC(集積回路)の足浮き検出方法
並びに足押え具に関する。
装着し、半田付けしたプリント基板はインサーキットテ
スタを用いて、その基板の必要な測定点に適宜ピンプロ
ーブの先端を接触させ、それ等の各部品の有無を電気的
に検出し、或いは各部品の特性値等を電気的に測定して
基板の良否の判定を行っている。この種のインサーキッ
トテスタには被検査基板を載せる測定台上に検査治具た
るフィクスチュアー(ピンボード)を設置するピンボー
ド方式のものと、被検査基板を載せる測定台上にX−Y
ユニット等を設置するX−Y方式のものとがある。
査基板の測定点の数に等しい数のピンプローブを測定点
の位置に対応させて設け、被検査基板の上にフィクスチ
ュアーを載せることにより、各ピンプローブを各測定点
にそれぞれ接触する。一方、X−Y方式ではX軸方向に
可動するアームの上にY軸方向に可動するZ軸ユニット
を備え、そのZ軸ユニットで1本のピンプローブをZ軸
方向に可動可能に支持し、X−Yユニットを制御するこ
とにより、そのピンプローブを基板の上方からX軸、Y
軸、Z軸方向にそれぞれ適宜移動して、予め設定した各
測定点に順次接触する。それ故、ピンボード方式のもの
は多量の同一被検査基板の測定に適するのに対し、X−
Y方式のものは多品種少量の被検査基板の測定に適す
る。なお、通常は測定用ピンプローブとしてその先端が
鋭く突出するものを使用する。
を用いて、プリント基板に実装したICの半田付け不良
によるピン(リード)とパターンとの接触不良即ちIC
の足浮きを検査する場合、通常はICのピンとそのピン
が半田付けされるべき基板上のパターンにそれぞれ測定
用ピンプローブを接触し、ピンと対応するパターン間の
導通状態を示す抵抗値を測定することによって足浮きの
有無の判定を行なっている。その際、ICのピンに対し
て正確なプロービングを必要とする。
ピンピッチは近年狭くなってきており、ファインピッチ
化が著しい。それ故、インサーキットテスタを用いてピ
ンピッチの狭いICに対し、足浮きの検査を実施しよう
としても、ピン上に先端が鋭く突出した測定用ピンプロ
ーブを正確に立て難い。特に、足浮き検出の精度を上げ
るには、図3に示すような4端子法によって抵抗値の測
定を行なう必要があるため、プロービングが一層困難に
なる。図中、10がIC、12がそのピン、14がプリ
ント基板、16がその配線用パターンである。又、18
が計測部、20がその定電流源、22が直流電流計、2
4が直流電圧計、26が測定用ピンプローブである。な
お、測定用ピンプローブは先端が鋭く突出しているた
め、ICのピンやパターンに押し当てると打痕傷が付
く。
てなされたものであり、第1にICのピンピッチのファ
イン化にも対応し易く、打痕傷を少なくすることのでき
るICのインサーキットテスタによる足浮き検出方法を
提供することを目的とする。又、第2にICのインサー
キットテスタによる足浮き検出方法に使用するのに好適
な足押え具を提供することを目的とする。
に、本発明による第1目的対応のICのインサーキット
テスタによる足浮き検出方法ではインサーキットテスタ
を用いて、プリント基板に実装したICのピンと対応す
るパターン間の導通状態を示す電気量を測定し、その測
定結果からICの足浮きの有無を判定する。
続すべきパターンと被検査用入力又は出力ピンが接続す
べきパターンとにそれぞれ測定用ピンプローブを1本ず
つ押し当て、そのグランド又は電源ピンと対応するパタ
ーン間及び被検査用入力又は出力ピンと対応するパター
ン間の両導通状態を示す電気量を測定し、更にそれ等の
グランド又は電源ピンと被検査用入力又は出力ピンとに
絶縁性加圧用プローブを押し当て、同様にグランド又は
電源ピンと対応するパターン間及び被検査用入力又は出
力ピンと対応するパターン間の両導通状態を示す電気量
を測定し、それ等の両電気量の差をしきい値と比べる。
も先端部に絶縁材料を有する棒状体を絶縁性加圧用プロ
ーブとして2本備え、それ等の絶縁性加圧用プローブの
基端部寄り箇所を支持部材を介して一体に結合する。
の実施の形態を説明する。図1は本発明を適用したX−
Y方式インサーキットテスタに備える測定用ピンプロー
ブ、足押え具のICの足浮き検査時におけるピンとパタ
ーンに対する配置関係を示す図である。図中、28がコ
状の足押え具、30(30a、30b)がその棒状の絶
縁性加圧用プローブ、32が両絶縁性加圧用プローブ3
0の基端部を結合する棒状の支持部材である。
ユニットに設置したエアシリンダ(図示なし)のピスト
ンロッド先端部34に装着する等して使用する。そし
て、IC10の足浮き検査時には検査対象となっている
1対のピン12に、対応するプローブ30でそれぞれ加
圧力を与える。それ故、両加圧用プローブ30は少なく
とも各先端部36(36a、36b)を絶縁性にする必
要があり、足押え具28にコ状の金属棒を用いる場合に
は両先端部36を絶縁材料でそれぞれ被覆する。その
際、金属棒の先端を平らにしたり、絶縁材料としてゴム
等の絶縁性を有するものを採用したりすると、当然ピン
12に打痕傷が付き難い。又、足押え具の全体をプラス
チック等の絶縁材料で形成することもできる。なお、図
1では従来例の説明で用いた番号を対応する同一部分に
使用した。
え具28を備えたX−Y方式インサーキットテスタを用
いてIC10の足浮きを検査する場合、先ずIC10の
グランド(GND)ピン12aが接続すべきパターン1
6aと被検査用に選んだ1本の入力又は出力ピン12b
が接続すべきパターン16bとに測定用ピンプローブ2
6(26a、26b)をそれぞれ押し当てる。なお、測
定用ピンプローブ26はエアシリンダのピストンロッド
として動作させることができる。
ローブ26を通じてIC10に定電流を流す。すると、
図2に示すようにグランドピン12aと多数存在する各
入力又は出力ピン12b(12b1 、12b2 )との間
には常に寄生ダイオード38(38a、38b)が存在
するため、その特性に従った電流が流れる。その際、グ
ランドピン12aが足浮き状態にあり、対応するパター
ン16aとの間が離れていれば、電流は流れないが、被
検査用入力又は出力ピン12bが足浮き状態にあり、対
応するパターン16bとの間が離れていても、グランド
ピン12aと各パターン16との間には通常他の複数の
入力又は出力ピン12bに関する寄生ダイオードが並列
接続の状態で介在しているため電流が流れる。なお、図
2では入力又は出力ピン12bを2本だけ例示した。
2aと対応するパターン16aの間及び被検査用入力又
は出力ピン12bと対応するパターン16bの間の両導
通状態を示す電圧値V1 を測定する。次に足押え具28
を下降し、グランドピン12aと被検査用入力又は出力
ピン12bとに絶縁性加圧用プローブ30をそれぞれ押
し当てる。すると、グランドピン12aや被検査用入力
又は出力ピン12bが足浮き状態であっても、それ等の
各ピン12a、12bが対応する各パターン16bとそ
れぞれ良好に接触するようになる。
ーブ26を通じてIC10に定電流を流し、電圧計24
によりグランドピン12aと対応するパターン16aの
間及び被検査用入力又は出力ピン12bと対応するパタ
ーン16bの間の両導通状態を示す電圧値V2 を測定す
る。そして、両電圧値V1 、V2 の差をしきい値と比
べ、その差がしきい値より大きい場合に被検査用入力又
は出力ピン12bが足浮きであると決定し、小さい場合
に足浮きでないと決定する。なお、グランドピン12a
が足浮きの場合には電圧値V1 が無限大に近づく等して
大きくなるため、電圧値V1 を測定するだけで足浮きの
判定を行なえる。
ーブ30を備えた足押え具28を用いてIC10の足浮
きの検査を行なうと、測定用ピンプローブ26をピン1
2に立てる必要がなく、ピン12より通常少し幅広にな
っているパターン16に立てればよいので、IC10の
ピンピッチのファイン化にも対応できてプロービングを
容易に行なえる。しかも、このような足押え具28に両
絶縁性加圧用プローブ30のプローブ間距離可変機構
(図示なし)を備えると、同一の足押え具28を用い
て、IC10に備えられている多数の各入力又は出力ピ
ン12bの足浮きの検査を順次行なえるため一層好都合
になる。なお、各絶縁性加圧用プローブ30を独立した
ものにして、別々に操作してもよい。
電流源20と直流電圧計24を備え、両絶縁性加圧用プ
ローブ30でグランドピン12aと被検査用入力又は出
力ピン12bとを押える前後で、電圧値V1 、V2 を測
定して被検査用入力又は出力ピン12bの足浮きの有無
の判定を行なったが、計測部18に定電圧源と直流電流
計を備え、両絶縁性加圧用プローブ30でグランドピン
12aと被検査用入力又は出力ピン12bとを押える前
後で電流値I1 、I2 を測定し、両電流値I1、I2 の
差を算出してしきい値と比べることによって被検査用入
力又は出力ピン12bの足浮きの有無の判定を行なうこ
ともできる。
ローブ30を用い、グランドピン12aと被検査用入力
又は出力ピン12bとを押える前後で電圧値、電流値等
の電気量を測定して、被検査用入力又は出力ピン12b
の足浮きの有無の判定を行なったが、ICにはその電源
(Vcc)ピンと各入力又は出力ピンとの間にも常に寄
生ダイオードが存在するので、同様に両絶縁性加圧用プ
ローブを用い、電源ピンと被検査用入力又は出力ピンと
を押える前後で電気量をそれぞれ測定して、被検査用入
力又は出力ピンの足浮きの有無の判定を行なえる。但
し、電源ピンと入力又は出力ピンとの間に存在する寄生
ダイオードの方向性は反対である。
えた絶縁性加圧用プローブ30をグランド又は電源ピン
と被検査用入力又は出力ピンとにそれぞれ1本ずつ押し
当てたが、IC10の全ピン12を一括して押せる絶縁
性加圧用プローブを備えた足押え具を用いてもよい。
ーキットテスタによるIC10の足浮き検出方法につい
て説明したが、ピンボード方式インサーキットテスタに
よりIC10の足浮きの検出も行なえる。後者の場合に
はIC10の全ピン12に対応する各パターン16に、
ピンボードに備えた対応する各測定用ピンプローブをそ
れぞれ押し当てた後、グランドまたは電源ピンと対応す
るパターン間及び被検査用入力又は出力ピンと対応する
パターン間の両導通状態を示す電気量の測定を行なう。
記載の発明ではICの足浮きを検査する際、測定用ピン
プローブをピンより通常少し幅広になっているパターン
に押し当て、ピンに対しては絶縁性加圧用プローブを押
し当てるため、測定用ピンプローブを立て易く、ICピ
ンのファインピッチ化にも対応し易くなる。しかも、I
Cピンに打痕傷を付けない。
る2本の各絶縁性加圧用プローブをグランド又は電源ピ
ンが接続すべきパターンと被検査用入力又は出力ピンが
接続すべきパターンとに対し、同時に操作できるため、
絶縁性加圧用プローブを操作するX−Yユニットの数等
を少なくできる。
スタに備える測定用ピンプローブ、足押え具のICの足
浮き検査時におけるピンとパターンに対する配置関係を
示す図である。
に存在する寄生ダイオードを示す図である。
る測定用ピンプローブの4端子法によるICの足浮き検
査時におけるピンとパターンに対する配置関係を示す図
である。
出力ピン 14…プリント基板 16…パターン 18
…計測部 20…定電流源 24…電圧計 26…測定
用ピンプローブ 28…足押え具 30…絶縁性加圧用
プローブ 32…支持部材 36…プローブ先端部 3
8…寄生ダイオード
Claims (2)
- 【請求項1】 インサーキットテスタを用いて、プリン
ト基板に実装したICのピンと対応するパターン間の導
通状態を示す電気量を測定し、その測定結果からICの
足浮きの有無を判定するICのインサーキットテスタに
よる足浮き検出方法において、上記ICのグランド又は
電源ピンが接続すべきパターンと被検査用入力又は出力
ピンが接続すべきパターンとにそれぞれ測定用ピンプロ
ーブを1本ずつ押し当て、そのグランド又は電源ピンと
対応するパターン間及び被検査用入力又は出力ピンと対
応するパターン間の両導通状態を示す電気量を測定し、
更にそれ等のグランド又は電源ピンと被検査用入力又は
出力ピンとに絶縁性加圧用プローブを押し当て、同様に
グランド又は電源ピンと対応するパターン間及び被検査
用入力又は出力ピンと対応するパターン間の両導通状態
を示す電気量を測定し、それ等の両電気量の差をしきい
値と比べることを特徴とするICのインサーキットテス
タによる足浮き検出方法。 - 【請求項2】 少なくとも先端部に絶縁材料を有する棒
状体を絶縁性加圧用プローブとして2本備え、それ等の
絶縁性加圧用プローブの基端部寄り箇所を支持部材を介
して一体に結合することを特徴とする足押え具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18138396A JP3703042B2 (ja) | 1996-06-22 | 1996-06-22 | Icのインサーキットテスタによる足浮き検出方法並びにその足押え具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18138396A JP3703042B2 (ja) | 1996-06-22 | 1996-06-22 | Icのインサーキットテスタによる足浮き検出方法並びにその足押え具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1010183A true JPH1010183A (ja) | 1998-01-16 |
JP3703042B2 JP3703042B2 (ja) | 2005-10-05 |
Family
ID=16099779
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18138396A Expired - Fee Related JP3703042B2 (ja) | 1996-06-22 | 1996-06-22 | Icのインサーキットテスタによる足浮き検出方法並びにその足押え具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3703042B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013217796A (ja) * | 2012-04-10 | 2013-10-24 | Nidec-Read Corp | 部品内蔵基板の検査方法 |
-
1996
- 1996-06-22 JP JP18138396A patent/JP3703042B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2013217796A (ja) * | 2012-04-10 | 2013-10-24 | Nidec-Read Corp | 部品内蔵基板の検査方法 |
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