JPH099304A - ビーム位置シミュレーション調整装置 - Google Patents
ビーム位置シミュレーション調整装置Info
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- JPH099304A JPH099304A JP7180862A JP18086295A JPH099304A JP H099304 A JPH099304 A JP H099304A JP 7180862 A JP7180862 A JP 7180862A JP 18086295 A JP18086295 A JP 18086295A JP H099304 A JPH099304 A JP H099304A
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N9/00—Details of colour television systems
- H04N9/12—Picture reproducers
- H04N9/16—Picture reproducers using cathode ray tubes
- H04N9/28—Arrangements for convergence or focusing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/44—Factory adjustment of completed discharge tubes or lamps to comply with desired tolerances
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
Abstract
(57)【要約】
【目的】 テレビジョン受像機のカラー陰極線管内シャ
ドーマスクの熱膨張過程における電子ビーム照射位置の
調整をリアルタイムで演算変換してグラフィックス表示
させ、カラー陰極線管の通電時間の短縮と出来上がりが
品質の均一化をする。 【構成】 シャドーマスクの熱膨張を安定させるための
通電時間を測定する時間計測部と、シャドーマスクの熱
膨張特性を記憶する特性記憶部と、カラー陰極線管本体
の温度計測と内部熱量によるシャドーマスク熱膨張量を
測定する温度計測部と、それらの情報を演算する演算部
と、演算結果によるシャドーマスク熱膨張の完全安定を
予測（シミュレーション）した狙い目をモニターへ表示
する表示部とからなる。
ドーマスクの熱膨張過程における電子ビーム照射位置の
調整をリアルタイムで演算変換してグラフィックス表示
させ、カラー陰極線管の通電時間の短縮と出来上がりが
品質の均一化をする。 【構成】 シャドーマスクの熱膨張を安定させるための
通電時間を測定する時間計測部と、シャドーマスクの熱
膨張特性を記憶する特性記憶部と、カラー陰極線管本体
の温度計測と内部熱量によるシャドーマスク熱膨張量を
測定する温度計測部と、それらの情報を演算する演算部
と、演算結果によるシャドーマスク熱膨張の完全安定を
予測（シミュレーション）した狙い目をモニターへ表示
する表示部とからなる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、カラー陰極線管の電子
ビーム照射位置のズレを調整するピュリティー調整にお
ける、ビーム位置シミュレーション調整装置に関するも
のである。
ビーム照射位置のズレを調整するピュリティー調整にお
ける、ビーム位置シミュレーション調整装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来、テレビジョン受像機の生産工程に
おいて、カラー陰極線管（ＣＲＴ）の電子ビームの照射
位置のズレを調整するピュリティー調整のためには、Ｃ
ＲＴの一部拡大断面図である図８（ａ），（ｂ），
（ｃ）のＣＲＴの電子ビーム照射状態から明らかなよう
に、シャドーマスク１が冷の状態の時（図８（ｂ））の
シャドーマスク１と蛍光体面２との間隔Ｂはシャドーマ
スク１が安定の状態の時の間隔Ａよりも大となり蛍光体
面２上の電子ビーム３は外ズレの形で蛍光体を照射し、
シャドーマスク１が膨張の状態の時（図８（ｃ））のシ
ャドーマスク１と蛍光体面２との間隔Ｃは間隔Ａよりも
小となり電子ビーム３は内ズレの形で蛍光体を照射し、
シャドーマスク１が安定の状態の時（図８（ａ））電子
ビーム３が蛍光体のセンターを照射するのに比し、照射
ズレを生ずるため、一定時間のエージング即ちテレビジ
ョン受像機の電源の通電を一定時間継続し、ＣＲＴ内部
のシャドーマスク１の熱膨張が完全に安定した事を確認
した後、蛍光体に照射する電子ビーム位置を調整決定し
ており、上記エージングに要する時間は、準備，粗調を
行い最低２０分間が必要であった。
おいて、カラー陰極線管（ＣＲＴ）の電子ビームの照射
位置のズレを調整するピュリティー調整のためには、Ｃ
ＲＴの一部拡大断面図である図８（ａ），（ｂ），
（ｃ）のＣＲＴの電子ビーム照射状態から明らかなよう
に、シャドーマスク１が冷の状態の時（図８（ｂ））の
シャドーマスク１と蛍光体面２との間隔Ｂはシャドーマ
スク１が安定の状態の時の間隔Ａよりも大となり蛍光体
面２上の電子ビーム３は外ズレの形で蛍光体を照射し、
シャドーマスク１が膨張の状態の時（図８（ｃ））のシ
ャドーマスク１と蛍光体面２との間隔Ｃは間隔Ａよりも
小となり電子ビーム３は内ズレの形で蛍光体を照射し、
シャドーマスク１が安定の状態の時（図８（ａ））電子
ビーム３が蛍光体のセンターを照射するのに比し、照射
ズレを生ずるため、一定時間のエージング即ちテレビジ
ョン受像機の電源の通電を一定時間継続し、ＣＲＴ内部
のシャドーマスク１の熱膨張が完全に安定した事を確認
した後、蛍光体に照射する電子ビーム位置を調整決定し
ており、上記エージングに要する時間は、準備，粗調を
行い最低２０分間が必要であった。
【０００３】また、ＣＲＴ本体の温度や周辺温度により
ＣＲＴの放射熱量も異なる事から、蛍光体に照射するビ
ーム位置を微修正しながら調整する事が必要であった。
ＣＲＴの放射熱量も異なる事から、蛍光体に照射するビ
ーム位置を微修正しながら調整する事が必要であった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】今日、テレビジョン受
像機の量産工場では、生産数の増加や付加価値機能モデ
ルにより設備総長は短くなりつつあるのに対し、上記従
来の生産方法では電子ビームの調整に時間を要すると共
に、周囲の温度変化に伴う微調整の必要性等からその都
度設備延長を要求されてしまい、さらには、年間を通じ
て出来上がりを均一化する事は困難であるという問題が
あった。
像機の量産工場では、生産数の増加や付加価値機能モデ
ルにより設備総長は短くなりつつあるのに対し、上記従
来の生産方法では電子ビームの調整に時間を要すると共
に、周囲の温度変化に伴う微調整の必要性等からその都
度設備延長を要求されてしまい、さらには、年間を通じ
て出来上がりを均一化する事は困難であるという問題が
あった。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は前記課題を解決
するため、代表されるＣＲＴの通電時間軸からシャドー
マスクの熱膨張位置を特性記憶部へ前段階で入力してお
き、実際の調整までの通電時間において、シャドーマス
クの熱膨張が完全に安定した時の電子ビームの照射位置
を、ＣＲＴ本体温度を測定する温度測定部からの温度補
正値と通電時間を測定する時間計測部からの通電時間に
よる各々の特性を比較演算して、自動的にその時間軸で
の最適ビーム照射位置を予測（シミュレーション）して
調整用モニターへ瞬時に表示させる狙い目表示部から構
成されたビーム位置シミュレーション調整装置を提供す
るものである。
するため、代表されるＣＲＴの通電時間軸からシャドー
マスクの熱膨張位置を特性記憶部へ前段階で入力してお
き、実際の調整までの通電時間において、シャドーマス
クの熱膨張が完全に安定した時の電子ビームの照射位置
を、ＣＲＴ本体温度を測定する温度測定部からの温度補
正値と通電時間を測定する時間計測部からの通電時間に
よる各々の特性を比較演算して、自動的にその時間軸で
の最適ビーム照射位置を予測（シミュレーション）して
調整用モニターへ瞬時に表示させる狙い目表示部から構
成されたビーム位置シミュレーション調整装置を提供す
るものである。
【０００６】
【作用】本発明は上記に提示した構成により、ＣＲＴ内
部のシャドーマスクの熱膨張過程であっても、熱膨張が
完全に安定した時と同様の調整が可能となり、結果的に
通電時間を短縮できる。
部のシャドーマスクの熱膨張過程であっても、熱膨張が
完全に安定した時と同様の調整が可能となり、結果的に
通電時間を短縮できる。
【０００７】
【実施例】以下本発明の実施例におけるビーム位置シミ
ュレーション調整装置について、図面を参照しながら説
明する。図１は本発明の実施例におけるビーム位置シミ
ュレーション調整装置の構成を示すブロック図、図２は
同実施例におけるテレビジョン受像機の温度，輝度測定
斜視図、図３は同実施例における基本ドリフトによるビ
ーム移動軌跡図、図４は同実施例における温度ドリフト
によるビーム移動軌跡図、図５は同実施例における輝度
ドリフトによるビーム移動軌跡図、図６は調整用モニタ
ー画面図、図７は同実施例のシミュレーションの流れを
示すフローチャートである。
ュレーション調整装置について、図面を参照しながら説
明する。図１は本発明の実施例におけるビーム位置シミ
ュレーション調整装置の構成を示すブロック図、図２は
同実施例におけるテレビジョン受像機の温度，輝度測定
斜視図、図３は同実施例における基本ドリフトによるビ
ーム移動軌跡図、図４は同実施例における温度ドリフト
によるビーム移動軌跡図、図５は同実施例における輝度
ドリフトによるビーム移動軌跡図、図６は調整用モニタ
ー画面図、図７は同実施例のシミュレーションの流れを
示すフローチャートである。
【０００８】まず、図１について説明する。４は時間計
測部であり、生産ラインのパレット上に載置されたテレ
ビジョン受像機の電源がＯＮとなりＣＲＴに通電が開始
した時間を、時間発生器５からコントローラ６を通じて
１６進数に変換した時間データとして、通信ターミナル
７から光通信によって上記パレット上に設けられた時間
メモリーカード８に生産工程の流れの中で送信し、その
後、テレビジョン受像機を載置したパレットが生産工程
の電子ビーム照射位置調整場所に到達したところにおい
て、上記時間メモリーカード８からの時間データを通信
ターミナル９により、光通信によってコントーラ１０で
１６進数から上記時間発生器５で発生した時間に変換
し、２３２Ｃ回線によりコンピュータ１１内部の時間計
測回路１２へ伝達される。
測部であり、生産ラインのパレット上に載置されたテレ
ビジョン受像機の電源がＯＮとなりＣＲＴに通電が開始
した時間を、時間発生器５からコントローラ６を通じて
１６進数に変換した時間データとして、通信ターミナル
７から光通信によって上記パレット上に設けられた時間
メモリーカード８に生産工程の流れの中で送信し、その
後、テレビジョン受像機を載置したパレットが生産工程
の電子ビーム照射位置調整場所に到達したところにおい
て、上記時間メモリーカード８からの時間データを通信
ターミナル９により、光通信によってコントーラ１０で
１６進数から上記時間発生器５で発生した時間に変換
し、２３２Ｃ回線によりコンピュータ１１内部の時間計
測回路１２へ伝達される。
【０００９】そこで時間計測回路１２では、コンピュー
タ１１内部クロックにより到達時間から時間発生器５で
発生した時間を減算する事で、生産工程にある全てのテ
レビジョン受像機について、それぞれ実際の通電時間を
算出する事ができる。
タ１１内部クロックにより到達時間から時間発生器５で
発生した時間を減算する事で、生産工程にある全てのテ
レビジョン受像機について、それぞれ実際の通電時間を
算出する事ができる。
【００１０】次に、１３は特性記憶部であり、シャドー
マスク熱膨張による電子ビーム照射位置ズレ量を時間軸
から測定したデータを前段取りにて、フロッピー１４へ
ファイル化して保存しておき、必要な特性データのキー
ワードを膨張特性データ１５へ入力すれば読み出しが可
能であり、また時間計測回路１２で算出された通電時間
から、その時の特性位置を自動的に算出してコンピュー
タ１１内の時間軸特性演算回路１６へ伝達する。
マスク熱膨張による電子ビーム照射位置ズレ量を時間軸
から測定したデータを前段取りにて、フロッピー１４へ
ファイル化して保存しておき、必要な特性データのキー
ワードを膨張特性データ１５へ入力すれば読み出しが可
能であり、また時間計測回路１２で算出された通電時間
から、その時の特性位置を自動的に算出してコンピュー
タ１１内の時間軸特性演算回路１６へ伝達する。
【００１１】さらに１７は温度計測部であり、ＣＲＴ本
体の温度を放射型温度計１８により温度測定をして、ま
たＣＲＴ内部の熱量を蛍光体から発生する発光量を輝度
センサー１９により測定し、各々をアナログ／デジタル
変換器２０によりデジタル化してコンピュータ１１へ伝
達する。
体の温度を放射型温度計１８により温度測定をして、ま
たＣＲＴ内部の熱量を蛍光体から発生する発光量を輝度
センサー１９により測定し、各々をアナログ／デジタル
変換器２０によりデジタル化してコンピュータ１１へ伝
達する。
【００１２】そこで、コンピュータ１１内の温度補正値
演算回路２１と輝度補正値演算回路２２により、基準と
なる時間軸特性演算回路１６の特性データを、現在の状
況の中で最も適した特性値へ補正をして、演算部２３へ
伝達される。さらに演算部２３では、最終的に算出され
た最適特性データを比較演算回路２４において、補正前
の特性データと補正後の特性データを比較して、リミッ
ト範囲を越えない事を確認の上、狙い目表示部２５へ最
適狙い目値として伝達され、最適狙い目演算回路２６で
最適狙い目値をＸ−Ｙ座標に置き換え表示用モニター２
７へグラフィックスとして表示される。そのグラフィッ
クス化された最適狙い目に、従来のビーム位置計測装置
から出力された電子ビーム照射位置マーカを合致させる
事で、ＣＲＴ内部シャドーマスクの熱膨張の過程であっ
ても調整ができる。
演算回路２１と輝度補正値演算回路２２により、基準と
なる時間軸特性演算回路１６の特性データを、現在の状
況の中で最も適した特性値へ補正をして、演算部２３へ
伝達される。さらに演算部２３では、最終的に算出され
た最適特性データを比較演算回路２４において、補正前
の特性データと補正後の特性データを比較して、リミッ
ト範囲を越えない事を確認の上、狙い目表示部２５へ最
適狙い目値として伝達され、最適狙い目演算回路２６で
最適狙い目値をＸ−Ｙ座標に置き換え表示用モニター２
７へグラフィックスとして表示される。そのグラフィッ
クス化された最適狙い目に、従来のビーム位置計測装置
から出力された電子ビーム照射位置マーカを合致させる
事で、ＣＲＴ内部シャドーマスクの熱膨張の過程であっ
ても調整ができる。
【００１３】次に、図２について説明する。図２はテレ
ビジョン受像機の温度，輝度測定斜視図であり、テレビ
ジョン受像機２８のＣＲＴの表面２９中央に管面温度測
定センター３０、ＣＲＴの表面２９右側左側にビーム位
置／輝度測定センサー３１，３２をそれぞれ設け、温度
と輝度を測定している。
ビジョン受像機の温度，輝度測定斜視図であり、テレビ
ジョン受像機２８のＣＲＴの表面２９中央に管面温度測
定センター３０、ＣＲＴの表面２９右側左側にビーム位
置／輝度測定センサー３１，３２をそれぞれ設け、温度
と輝度を測定している。
【００１４】次に、図３について説明する。図３は基本
ドリフトによるビーム移動軌跡図であり、横軸にはＣＲ
Ｔに通電を開始してからビーム位置の調整をする迄の時
間（分）を、縦軸にはＣＲＴのシャドーマスクの熱膨張
によるビーム位置の前後へのズレの距離（μｍ）をそれ
ぞれ示し、環境温度が２０℃，輝度１２００μＡの時、
実測に基づいて軌跡が描かれており、例えば、通電開始
後５分の場合の基本ドリフトは−２０μｍである。
ドリフトによるビーム移動軌跡図であり、横軸にはＣＲ
Ｔに通電を開始してからビーム位置の調整をする迄の時
間（分）を、縦軸にはＣＲＴのシャドーマスクの熱膨張
によるビーム位置の前後へのズレの距離（μｍ）をそれ
ぞれ示し、環境温度が２０℃，輝度１２００μＡの時、
実測に基づいて軌跡が描かれており、例えば、通電開始
後５分の場合の基本ドリフトは−２０μｍである。
【００１５】次に、図４について説明する。図４は温度
ドリフトによるビーム移動軌跡図であり、横軸にはＣＲ
Ｔに通電を開始してからビーム位置の調整をする迄の時
間（分）を、縦軸にはＣＲＴのシャドーマスクの熱膨張
によるビーム位置の前後へのズレの距離（μｍ）をそれ
ぞれ示している。環境温度を１０℃〜３０℃に変化させ
た時、図３に示した基本ドリフトによるビーム移動軌跡
図は環境温度に基づきビームは変動し、２１インチＣＲ
Ｔのシャドーマスクの変動は１０℃で＋６μｍ，２０℃
で０μｍ，３０℃で−６μｍになり、１℃当たりビーム
変動量は０．６μｍになる。従って、例えば平均環境温
度を２０℃として時間軸から算出した基本ドリフト位置
に温度ドリフト値を加える、即ち、環境温度１５℃，エ
ージング５分の場合、調整ポイントは次式 調整ポイント＝基本ドリフト＋温度ドリフト ＝−２０μｍ＋（０．６×５℃） ＝−１７μｍ のようになる。
ドリフトによるビーム移動軌跡図であり、横軸にはＣＲ
Ｔに通電を開始してからビーム位置の調整をする迄の時
間（分）を、縦軸にはＣＲＴのシャドーマスクの熱膨張
によるビーム位置の前後へのズレの距離（μｍ）をそれ
ぞれ示している。環境温度を１０℃〜３０℃に変化させ
た時、図３に示した基本ドリフトによるビーム移動軌跡
図は環境温度に基づきビームは変動し、２１インチＣＲ
Ｔのシャドーマスクの変動は１０℃で＋６μｍ，２０℃
で０μｍ，３０℃で−６μｍになり、１℃当たりビーム
変動量は０．６μｍになる。従って、例えば平均環境温
度を２０℃として時間軸から算出した基本ドリフト位置
に温度ドリフト値を加える、即ち、環境温度１５℃，エ
ージング５分の場合、調整ポイントは次式 調整ポイント＝基本ドリフト＋温度ドリフト ＝−２０μｍ＋（０．６×５℃） ＝−１７μｍ のようになる。
【００１６】次に、図５について説明する。図５は輝度
ドリフトによるビーム移動軌跡図であり、横軸にはＣＲ
Ｔに通電を開始してからビーム位置の調整をする迄の時
間（分）を、縦軸にはＣＲＴのシャドーマスクの熱膨張
によるビーム位置の前後へのズレの距離（μｍ）をそれ
ぞれ示している。輝度を１００μＡ毎に変化させた時、
図３に示した基本ドリフトによるビーム移動軌跡図は輝
度に基づきビームは変動し、２１インチＣＲＴのシャド
ーマスクの変動は輝度１１００μＡで＋６μｍ，１２０
０μＡで０μｍ，１３００μＡで−６μｍになり、１μ
Ａ当たりビーム変動量は０．０６μｍになる。従って、
例えば基準輝度値をテレビジョン受像機の出荷状態とし
て時間軸から算出した基本ドリフト位置に輝度ドリフト
値を加える、即ち、輝度１０００μＡ，エージング５分
の場合、調整ポイントは次式 調整ポイント＝基本ドリフト＋輝度ドリフト ＝−２０μｍ＋（０．０６×２００μＡ） ＝−８μｍ のようになる。
ドリフトによるビーム移動軌跡図であり、横軸にはＣＲ
Ｔに通電を開始してからビーム位置の調整をする迄の時
間（分）を、縦軸にはＣＲＴのシャドーマスクの熱膨張
によるビーム位置の前後へのズレの距離（μｍ）をそれ
ぞれ示している。輝度を１００μＡ毎に変化させた時、
図３に示した基本ドリフトによるビーム移動軌跡図は輝
度に基づきビームは変動し、２１インチＣＲＴのシャド
ーマスクの変動は輝度１１００μＡで＋６μｍ，１２０
０μＡで０μｍ，１３００μＡで−６μｍになり、１μ
Ａ当たりビーム変動量は０．０６μｍになる。従って、
例えば基準輝度値をテレビジョン受像機の出荷状態とし
て時間軸から算出した基本ドリフト位置に輝度ドリフト
値を加える、即ち、輝度１０００μＡ，エージング５分
の場合、調整ポイントは次式 調整ポイント＝基本ドリフト＋輝度ドリフト ＝−２０μｍ＋（０．０６×２００μＡ） ＝−８μｍ のようになる。
【００１７】次に、図６について説明する。図６は、図
１における狙い目表示部２５の表示用モニター２７の調
整用モニター画面であり、３３は表示用モニター２７の
モニター画面、３４はモニター画面３３上の基本ドリフ
トによる狙い目位置、３５はモニター画面３３上の従来
のビーム位置計測装置から出力された電子ビーム照射位
置マーカである調整用マーカ、３６は各種条件追加後の
モニター画面３３上の最適狙い目位置である。ＣＲＴを
安定させるための各種条件をＣＰＵで演算して、最適狙
い目位置３６をモニター画面３３上に自動表示し、調整
用マーカ３５を、偏向ヨークを前後させ最適狙い目位置
３６内に合わせる事により、ＣＲＴ内部シャドーマスク
の熱膨張の過程であっても調整ができる。
１における狙い目表示部２５の表示用モニター２７の調
整用モニター画面であり、３３は表示用モニター２７の
モニター画面、３４はモニター画面３３上の基本ドリフ
トによる狙い目位置、３５はモニター画面３３上の従来
のビーム位置計測装置から出力された電子ビーム照射位
置マーカである調整用マーカ、３６は各種条件追加後の
モニター画面３３上の最適狙い目位置である。ＣＲＴを
安定させるための各種条件をＣＰＵで演算して、最適狙
い目位置３６をモニター画面３３上に自動表示し、調整
用マーカ３５を、偏向ヨークを前後させ最適狙い目位置
３６内に合わせる事により、ＣＲＴ内部シャドーマスク
の熱膨張の過程であっても調整ができる。
【００１８】次に、図７について説明する。図７は本実
施例におけるシミュレーションの流れをまとめて示した
フローチャートであり、テレビジョン受像機の電源ＯＮ
３７と同時にＯＮ時間の書き込み３８を開始し、メモリ
ーカード３９に時間を書き込み、またテレビジョン受像
機のＣＲＴの通電４０に伴いビーム変動が生じ、ＯＮ時
間の読み出し４１から通電時間を測定して、基本ドリフ
ト算出４２，温度ドリフト算出４３，輝度ドリフト算出
４４を経て図６における最適狙い目位置３６を算出４５
する。例えば、基準温度２０℃，基準輝度１２００μＡ
とし、通電時間５分，環境温度１５℃，輝度１０００μ
Ａの時、 基本ドリフトは実測データから−２０μｍ 温度ドリフト＝（２０−１５）×０．６＝＋３μｍ 輝度ドリフト＝（１２００−１０００）×０．０６＝＋
１２μｍ から最適狙い目位置は−５μｍとなる。
施例におけるシミュレーションの流れをまとめて示した
フローチャートであり、テレビジョン受像機の電源ＯＮ
３７と同時にＯＮ時間の書き込み３８を開始し、メモリ
ーカード３９に時間を書き込み、またテレビジョン受像
機のＣＲＴの通電４０に伴いビーム変動が生じ、ＯＮ時
間の読み出し４１から通電時間を測定して、基本ドリフ
ト算出４２，温度ドリフト算出４３，輝度ドリフト算出
４４を経て図６における最適狙い目位置３６を算出４５
する。例えば、基準温度２０℃，基準輝度１２００μＡ
とし、通電時間５分，環境温度１５℃，輝度１０００μ
Ａの時、 基本ドリフトは実測データから−２０μｍ 温度ドリフト＝（２０−１５）×０．６＝＋３μｍ 輝度ドリフト＝（１２００−１０００）×０．０６＝＋
１２μｍ から最適狙い目位置は−５μｍとなる。
【００１９】以上のように、本実施例によれば、一般
に、ＣＲＴ内部のシャドーマスクは輝度熱や周辺温度に
より熱膨張し、シャドーマスクの位置がズレると電子ビ
ームの照射位置も変化をしてしまい、電子ビームの位置
調整もシャドーマスクの熱膨張が安定してから始めなけ
ればならないという問題点を、輝度熱や周辺温度による
シャドーマスクの熱膨張がリニアに変化する事を利用
し、その変化量を係数化して調整する事で熱膨張の安定
を待つ事なく調整ができるものである。また、ＣＲＴの
自己発熱によるシャドーマスクの熱膨張を時系列的に係
数化する事でこれらを基準に調整狙い目を表示し、さら
に、輝度や周辺温度により調整するときの環境条件で基
準となる狙い目を修正する事で精度を向上させられる。
に、ＣＲＴ内部のシャドーマスクは輝度熱や周辺温度に
より熱膨張し、シャドーマスクの位置がズレると電子ビ
ームの照射位置も変化をしてしまい、電子ビームの位置
調整もシャドーマスクの熱膨張が安定してから始めなけ
ればならないという問題点を、輝度熱や周辺温度による
シャドーマスクの熱膨張がリニアに変化する事を利用
し、その変化量を係数化して調整する事で熱膨張の安定
を待つ事なく調整ができるものである。また、ＣＲＴの
自己発熱によるシャドーマスクの熱膨張を時系列的に係
数化する事でこれらを基準に調整狙い目を表示し、さら
に、輝度や周辺温度により調整するときの環境条件で基
準となる狙い目を修正する事で精度を向上させられる。
【００２０】
【発明の効果】以上のように本発明は、シャドーマスク
等の部品の温度特性を利用して、ＣＲＴへの通電開始か
ら完全安定までの過程中に、完全安定をコンピュータで
個々に予測させる事で、電子ビーム照射位置の出来上が
り品質を均一化すると共に、ＣＲＴの通電時間を短縮す
る事ができるビーム位置シミュレーション調整装置を提
供するものである。
等の部品の温度特性を利用して、ＣＲＴへの通電開始か
ら完全安定までの過程中に、完全安定をコンピュータで
個々に予測させる事で、電子ビーム照射位置の出来上が
り品質を均一化すると共に、ＣＲＴの通電時間を短縮す
る事ができるビーム位置シミュレーション調整装置を提
供するものである。
【図１】本発明の位置シミュレーション調整装置の一実
施例における構成を示すブロック図
施例における構成を示すブロック図
【図２】同実施例におけるテレビジョン受像機の温度，
輝度測定斜視図
輝度測定斜視図
【図３】同実施例における基本ドリフトによるビーム移
動軌跡図
動軌跡図
【図４】同実施例における温度ドリフトによるビーム移
動軌跡図
動軌跡図
【図５】同実施例における輝度ドリフトによるビーム移
動軌跡図
動軌跡図
【図６】同実施例における調整用モニター画面図
【図７】同実施例におけるシミュレーションの流れを示
すフローチャート
すフローチャート
【図８】電子ビームの照射状態を示すＣＲＴの一部拡大
断面図
断面図
１ シャドーマスク ２ 蛍光体面 ３ 電子ビーム ４ 時間計測部 ５ 時間発生器 ６，１０ コントローラ ７，９ 通信ターミナル ８ 時間メモリーカード １１ コンピュータ １２ 時間計測回路 １３ 特性記憶部 １４ フロッピー １５ 膨張特性データ １６ 時間軸特性演算回路 １７ 温度計測部 １８ 放射型温度計 １９ 輝度センサー ２０ アナログ／デジタル変換器 ２１ 温度補正値演算回路 ２２ 輝度補正値演算回路 ２３ 演算部 ２４ 比較演算回路 ２５ 狙い目表示部 ２６ 最適狙い目演算回路 ２７ 表示用モニター ２８ テレビジョン受像機 ２９ ＣＲＴの表面 ３０ 管面温度測定センサー ３１，３２ ビーム位置／輝度測定センサー ３３ モニター画面 ３４ 狙い目位置 ３５ 調整用マーカ ３６ 最適狙い目位置 ３７ 電源ＯＮ ３８ ＯＮ時間の書き込み ３９ メモリーカード ４０ ＣＲＴの通電 ４１ ＯＮ時間の読み出し ４２ 基本ドリフト算出 ４３ 温度ドリフト算出 ４４ 輝度ドリフト算出 ４５ 最適狙い目算出
Claims (1)
- 【請求項１】 カラー陰極線管への通電開始から電子ビ
ーム照射位置の調整開始するまで通電時間を管理する時
間計測部と、カラー陰極線管内部のシャドーマスクに電
子ビームが通過する際に発生する熱によるシャドーマス
クの膨張による電子ビーム照射位置ズレ量を時間軸から
測定したデータを管理する特性記憶部と、その熱による
カラー陰極線管本体の熱量を管理する温度計測部と、電
子ビームの対応する色の蛍光体への照射位置を演算する
演算部と、それらの結果から現在の最適な電子ビームの
照射位置を演算する狙い目表示部を備えた事を特徴とす
るカラー陰極線管のビーム位置シミュレーション調整装
置。
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