KR910007498B1 - 브라운관의 열 드리프트 측정장치 및 그 방법 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

브라운관의 열 드리프트 측정장치 및 그 방법

제1도는 본 발명에 의한 열적 드리프트 측정장치를 도시한 개요도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 브라운관 20 : 카메라

30 : 프레임 그래버 40 : 오차검출수단

50 : 마이크로 프로세서 60 : 전압조정수단

70 : 모니터 80 : 기록수단

본 발명은 브라운관의 열드리프트 측정장치 및 그 방법에 관한 것으로, 특히 브라운관 내에 안착되어 있는 금속 부품의 열 팽창으로 인하여 발생하는 미스 랜딩(Miss Landing)을 정확히 측정하기 위한 열 드리프트 측정장치 및 그 방법에 관한 것이다.

일반적으로 브라운관의 열 드리프트는 이 브라운관의 특성을 판단할 수 있는 중요한 요소로서 브라운관내의 금속부품인 섀도우마스크(Shadow mask)와 프레임의 열적 팽창에 기인한다.

상기 브라운관의 전자총에서 방출된 다량의 전자중에 많은 양의 전자가 형광막에 도달하지 못하고 섀도우 마스크에 충돌하게 되어 이 섀도우마스크가 열을 받게 된다. 가열된 섀도우마스크는 열팽창으로 전자빔의 경로가 어긋나게 됨으로써 미스 랜딩(Miss Landing)을 하게 되어 정확한 형광점의 순도가 저하된다. 이와같은 현상은 섀도우 마스크와 프레임이 가열되기 시작해서 안정될때까지 오래동안 지속된다. 상기 브라운관 내에 안착되어 있는 섀도우마스크와 프레임의 열 팽창으로 인한 미스랜딩을 측정하기 위해서 종래에는 특수한 브라운관을 제작하여 현미경등을 통한 수동측정에 의존하고 있기 때문에 측정자가 많은 측정 오차를 발생시킴으로써 열 드리프트를 정확하게 측정할 수 없게 되는 문제점이 있었다.

따라서 본 발명의 목적은 상기 문제점을 해결하기 위하여 마이크로 프로세서를 이용하여 열 드리프트를 자동으로 측정할 수 있게 함으로써 보다 정확한 열적 변화량에 대한 데이터에 의해서 전자빔을 조정하는 브라운관의 열 드리프트 측정장치 및 그 측정방법을 제공하는 데 있다.

상기의 목적을 당성하기 위하여 본 발명에 의한 브라운관의 열 드리프트 측정장치는, 피측정 브라운관의 화상을 입사시켜 전기적 신호로 변환시키는 카메라와, 상기 카메라에서 출력되는 아날로그 신호를 디지털신호로 변환하여 내장되어 있는 메모리에 저장하는 프레임 그래버(frame graber)와, 상기 프레임 그래버에서 아날로그 신호가 디지털신호로 변환되기 전에 이 아날로그신호의 파형을 나타내는 오차검출수단과, 상기 프래임 그래버의 메모리에 저장된 데이터를 분석하는 마이크로 프로세서와, 상기 마이크로 프로세서에서 분석된 데이터로 형광면에 투사되는 전자빔의 특성을 판단하여 이에 상응하는 전압을 유기시키는 전압조정 수단과, 상기 마이크로 프로세서에서 분석된 데이타값을 디스플레이 하는 모니터와, 상기 마이크로 프로세서에서 분석되어 측정이 완료된 전자빔의 위치를 기록하는 기록수단으로 구비됨을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 의한 브라운관의 열 드리프트 측정방법은 브라운관의 "블랙 매트릭스"선을 검출하여 전자빔을 그 "블랙 매트릭스"선 기준으로 좌측으로 이동시켜 양쪽 전자빔의 크기를 산출하고 이에 상응하는 전자빔 이동에 필요한 전류량을 기억시키는 제1과정과, 상기 제1과정에서 전자빔을 다시 우측으로 이동시켜 이 전자빔을 이동시키는데 필요한 전류량을 상기 제1과정에서 기억된 전류량과 비교하여 이 전자빔의 위치를 계산하고 이를 마이크로 프로세서에 기억시키는 제2과정과, 측정하기 원하는 시간을 자동세팅하여 상기 제1, 2과정을 반복 실시함으로써 전자빔의 위치를 계산하고 시간에 따라 계산된 값을 메모리에 기억시켜 측정이 완료되면 기록할 수 있도록 프로그램을 작성하는 제3과정으로 이루어짐을 특징으로 한다.

이하 첨부된 도면을 통하여 본 발명을 보다 상세히 설명하기로 한다.

제1도는 본 발명에 의한 열 드리프트 측정장치의 구성을 도시한 개요도이다. 카메라(20)는 촬상렌즈(20a)를 통하여 피측정 브라운관(10)의 화상을 입사시켜 이 카메라(20)를 구성하고 있는 촬상관과 엔코더에 의해서 전기적 신호로 변환시킨다. 프레임 그래버(30)는 상기 카메라(20)에서 출력되는 아날로그신호를 디지털 신호로 변환하여 내장되어 있는 메모리에 저장한다. 이때, 상기 프레임 그래버(30)의 메모리에 저장된 데이터는 수시로 변하는 아날로그신호에 따라 변동된다. 오차검출수단(40)은 상기 프레임 그래버(30)에서 아날로그 신호가 디지털신호로 변환되기 전에 그 아날로그신호의 상태를 디스플레이한다. 마이크로 프로세서(50)는 상기 프레임 그래버(30)의 메모리에 저장된 데이터를 분석하여 256단계에 8비트 디지털 데이터를 전압조정수단(60)에 전송하여 현상태의 전자빔 특성을 판단한다. 조정수단(60)은 상기 마이크로프로세서(50)의 디지털 데이터값에 상응하는 전압을 유기시켜 이 전압을 상기 브라운관(10)의 자계변환 코일(10a)에 공급하여 전자빔을 적정위치로 이동시킴으로써 전자빔의 위치를 판단할 수 있게 한다. 모니터(70)는 상기 마이크로 프로세서(50)에서 분석된 디지털신호인 데이터 값을 디스플레이하고 기록수단(80)으로 상기 마이크로 프로세서(50)에서 분석되어 측정이 완료된 전자빔의 위치를 기록한다.

한편, 열 드리프트를 측정하는 방법은 다음과 같다.

브라운관(10)의 "블랙 매트릭스선"을 검출하여 전자빔을 좌측으로 이동시켜 "블랙 매트릭스"중심에서 양쪽의 전자빔의 크기를 계산하고 이 계산된 값이 같게 되면 브라운관(10) 형광막의 형광점과 형광점 사이의 전자빔 크기를 산출하고 이에 상응하는 전자빔 이동에 필요한 전류량을 기억시킨다. 또한, 전자빔을 우측으로 이동시켜 전자빔 전체를 이동시키는데 필요한 전류량을 상기에서 기억된 전류량과 비교하여 전자빔의 이동된 양을 계산하고 좌우측의 이동량을 비교하여 전자빔의 위치를 계산해서 이를 마이크로 프로세서(50)에 기억시킨다. 한편, 측정하기 전에 세팅된 시간을 자동 세팅하여 측정을 원하는 시간에 상기의 방법을 반복실시하여 전자빔의 위치를 계산하고 이 시간에 따라 계산된 값을 메모리에 기억시켜 측정이 완료되면 기록할 수 있게 마이크로 프로세서(50)내에 프로그램을 작성하여 저장한다.

상술한 바와같이 마이크로 프로세서를 이용하여 정해진 시간에 열변화량을 측정할 수 있기 때문에 현미경과 같은 장치로 장시간 수동 측정할 때보다 측정의 오차가 적게 되는 이점이 있다.

Claims (2)

1. 피측정 브라운관의 화상을 입사시켜 전기적 신호로 변환시키는 카메라; 상기 카메라에서 출력되는 아날로그신호를 디지털 신호로 변환하여 내장되어 있는 메모리에 저장하는 프레임 그래버; 상기 프레임 그래버에서 아날로그신호가 디지털 신호로 변환되기 전에 그 아날로그신호의 상태를 나타내는 오차검출수단; 상기 프레임 그래버의 메모리에 저장된 데이터를 분석하는 마이크로 프로세서; 상기 마이크로 프로세서에서 분석된 데이터로 형광면에 투사되는 전자빔의 특성을 판단하여 이에 상응하는 전압을 유기시키는 전압조정수단; 상기 마이크로 프로세서에서 분석된 데이타값을 디스플레이 하는 모니터; 상기 마이크로 프로세서에서 분석되어 측정이 완료된 전자빔의 위치를 기록하는 기록수단으로 구성됨을 특징으로 하는 브라운관의 열 드리프트 측정장치.
2. 브라운관의 "블랙 매트릭스"선을 검출하여 전자빔을 그 "블랙 매트릭스"선 기준으로 좌측으로 이동시켜 양쪽 전자빔의 크기를 산출하고 이에 상응하는 전자빔 이동에 필요한 전류량을 기억시키는 제1과정; 상기 제1과정에서 전자빔을 다시 우측으로 이동시켜 이 전자빔을 이동시키는데 필요한 전류량을 상기 제1과정에서 기억된 전류량과 비교하여 이 전자빔의 위치를 계산하고 이를 마이크로 프로세서에 기억시키는 제2과정; 측정하기 원하는 시간을 자동세팅하여 상기 제1, 2과정을 반복 실시함으로써 전자빔의 위치를 계산하고 시간에 따라 계산된 값을 메모리에 기억시켜 측정이 완료되면 기록할 수 있도록 프로그램을 작성하는 제3과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 브라운관의 열 드리프트 측정방법.

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