JP2900391B2 - 輝線歪み測定装置 - Google Patents
輝線歪み測定装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、輝線の経時的な歪み変化や輝線の各位置に
おける相対的な歪み（画歪み）を測定する輝線歪み測定
装置に関する。
おける相対的な歪み（画歪み）を測定する輝線歪み測定
装置に関する。
［発明の概要］ 第一の発明は、縦方向及び／又は横方向の輝線が映し
出される輝線パターンの映像信号をCRTに出力するパタ
ーンジェネレータと、前記CRTの管面の対向位置に配置
し、単峰特性の指向特性を有する光センサと、この光セ
ンサの検出出力である光強度データを記憶するメモリ
と、所定時間を計時する計時手段と、前記計時手段によ
り前記所定時間の計時が行われた時に再度前記光センサ
により検出された光強度データと、前記メモリに記憶さ
れた光強度データとの差を算出する経時歪み量算出手段
とを備えることにより、 電気的に高精度で簡単に輝線の経時的な変化を測定す
ることができるものである。
出される輝線パターンの映像信号をCRTに出力するパタ
ーンジェネレータと、前記CRTの管面の対向位置に配置
し、単峰特性の指向特性を有する光センサと、この光セ
ンサの検出出力である光強度データを記憶するメモリ
と、所定時間を計時する計時手段と、前記計時手段によ
り前記所定時間の計時が行われた時に再度前記光センサ
により検出された光強度データと、前記メモリに記憶さ
れた光強度データとの差を算出する経時歪み量算出手段
とを備えることにより、 電気的に高精度で簡単に輝線の経時的な変化を測定す
ることができるものである。
第二の発明は、縦方向及び／又は横方向の輝線が映し
出される輝線パターンの映像信号をCRTに出力するパタ
ーンジェネレータと、前記CRTの管面の対向位置に配置
し、且つ、管面の縦方向及び／又は横方向の正確な直線
上に間隔を置いて配置した単峰特性の指向特性を有する
複数の光センサと、光センサから輝線までの距離データ
を光強度データを用いて算出するための換算データを記
憶したメモリと、前記光センサによって検出された光強
度に対応する換算データを読み出し、該換算データに基
づいて前記距離データを算出する輝線位置算出手段とを
備えることにより、 電気的に高精度で簡単に輝線の各位置における相対的
な歪み（画歪み）を測定することができるものである。
出される輝線パターンの映像信号をCRTに出力するパタ
ーンジェネレータと、前記CRTの管面の対向位置に配置
し、且つ、管面の縦方向及び／又は横方向の正確な直線
上に間隔を置いて配置した単峰特性の指向特性を有する
複数の光センサと、光センサから輝線までの距離データ
を光強度データを用いて算出するための換算データを記
憶したメモリと、前記光センサによって検出された光強
度に対応する換算データを読み出し、該換算データに基
づいて前記距離データを算出する輝線位置算出手段とを
備えることにより、 電気的に高精度で簡単に輝線の各位置における相対的
な歪み（画歪み）を測定することができるものである。
［従来の技術］ CRT（陰極線管）は電子ビームを管面の蛍光面に照射
すると、照射点が発光することによって映像を映し出
す。従って、電子ビームの照射点が所望の位置より経時
的変化でずれたり、又、照射位置によって所望の位置よ
りずれると、適性な映像が得られない。そのため、CRT
の管面に縦方向又は横方向の輝線を発生し、この輝線の
経時的な歪み変化や各位置における相対的な歪み（画歪
み）を測定し、この測定結果に基づいて歪みが生じない
よう調整される。
すると、照射点が発光することによって映像を映し出
す。従って、電子ビームの照射点が所望の位置より経時
的変化でずれたり、又、照射位置によって所望の位置よ
りずれると、適性な映像が得られない。そのため、CRT
の管面に縦方向又は横方向の輝線を発生し、この輝線の
経時的な歪み変化や各位置における相対的な歪み（画歪
み）を測定し、この測定結果に基づいて歪みが生じない
よう調整される。
従来は、上記輝線歪みの測定を管面上にスケールを配
して輝線位置を測定するか、又、QCスコープにより測定
するかしていた。
して輝線位置を測定するか、又、QCスコープにより測定
するかしていた。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、スケール及びQCスコープによる測定は
測定者が目盛りを読むことによって行うため輝線歪みを
高精度で計測することができない。特に、近年において
はCRTの高精度化が要求されているが、その要求に応え
ることができない。また、測定者が目盛りを読まなけれ
ばならないため測定者の負担が大きく簡単に計測できる
装置が望まれている。
測定者が目盛りを読むことによって行うため輝線歪みを
高精度で計測することができない。特に、近年において
はCRTの高精度化が要求されているが、その要求に応え
ることができない。また、測定者が目盛りを読まなけれ
ばならないため測定者の負担が大きく簡単に計測できる
装置が望まれている。
そこで、本発明は輝線の経時的な歪み変化を電気的に
高精度で簡単に測定できる輝線歪み測定装置を提供する
ことを目的とする。また、輝線の各位置における相対的
な歪み（画歪み）を電気的に高精度で簡単に測定できる
輝線歪み測定装置を提供することを目的とする。
高精度で簡単に測定できる輝線歪み測定装置を提供する
ことを目的とする。また、輝線の各位置における相対的
な歪み（画歪み）を電気的に高精度で簡単に測定できる
輝線歪み測定装置を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 上記目的を達成するための第一の発明に係る輝線歪み
測定装置は、縦方向及び／又は横方向の輝線が映し出さ
れる輝線パターンの映像信号をCRTに出力するパターン
ジェネレータと、 前記CRTの管面の対向位置に配置し、単峰特性の指向
感度特性を有する光センサと、 この光センサの検出出力である光強度データを記憶す
るメモリと、 所定時間を計時する計時手段と、 前記計時手段により前記所定時間の計時が行われた時
に再度前記光センサにより検出された光強度データと、
前記メモリに記憶された光強度データとの差を算出する
経時歪み量算出手段と、 を備えたものである。
測定装置は、縦方向及び／又は横方向の輝線が映し出さ
れる輝線パターンの映像信号をCRTに出力するパターン
ジェネレータと、 前記CRTの管面の対向位置に配置し、単峰特性の指向
感度特性を有する光センサと、 この光センサの検出出力である光強度データを記憶す
るメモリと、 所定時間を計時する計時手段と、 前記計時手段により前記所定時間の計時が行われた時
に再度前記光センサにより検出された光強度データと、
前記メモリに記憶された光強度データとの差を算出する
経時歪み量算出手段と、 を備えたものである。
また、第二の発明に係る輝線歪み測定装置は、縦方向
及び／又は横方向の輝線が映し出される輝線パターンの
映像信号をCRTに出力するパターンジェネレータと、 前記CRTの管面の対向位置に配置し、且つ、この管面
の縦方向及び／又は横方向の正確な直線上に間隔を置い
て配置した単峰特性の指向感度特性を有する複数の光セ
ンサと、 光センサから輝線までの距離データを光強度データを
用いて算出するための換算データを記憶したメモリと、 前記光センサによって検出された光強度に対応する換
算データを読み出し、該換算データに基づいて前記距離
データを算出する輝線位置算出手段と、 を備えたものである。
及び／又は横方向の輝線が映し出される輝線パターンの
映像信号をCRTに出力するパターンジェネレータと、 前記CRTの管面の対向位置に配置し、且つ、この管面
の縦方向及び／又は横方向の正確な直線上に間隔を置い
て配置した単峰特性の指向感度特性を有する複数の光セ
ンサと、 光センサから輝線までの距離データを光強度データを
用いて算出するための換算データを記憶したメモリと、 前記光センサによって検出された光強度に対応する換
算データを読み出し、該換算データに基づいて前記距離
データを算出する輝線位置算出手段と、 を備えたものである。
［作用］ 第一の発明によれば、パターンジェネレータが映像信
号を出力すると、CRTの管面に縦方向及び／又は横方向
の輝線が映し出され、この輝線が発する光を光センサが
検出する。この光センサの検出出力である光強度データ
がメモリに記憶され、計時手段により所定時間の計時が
行われた時再度光センサにより光強度が検出される。経
時歪み量算出手段はこの再度検出した光センサの検出出
力の光強度データと上記メモリに記憶されている所定時
間前の光強度データとの差を算出する。光強度データは
光センサに対する輝線位置に応じて変化するため、上記
所定時間に変化した光強度データの差から経時的な輝線
の歪みが測定される。
号を出力すると、CRTの管面に縦方向及び／又は横方向
の輝線が映し出され、この輝線が発する光を光センサが
検出する。この光センサの検出出力である光強度データ
がメモリに記憶され、計時手段により所定時間の計時が
行われた時再度光センサにより光強度が検出される。経
時歪み量算出手段はこの再度検出した光センサの検出出
力の光強度データと上記メモリに記憶されている所定時
間前の光強度データとの差を算出する。光強度データは
光センサに対する輝線位置に応じて変化するため、上記
所定時間に変化した光強度データの差から経時的な輝線
の歪みが測定される。
第二の発明によれば、パターンジェネレータが映像信
号を出力すると、CRTの管面に縦方向及び／又は横方向
の輝線が映し出され、この輝線が発する光を複数の光セ
ンサがそれぞれ検出する。メモリに光センサから輝線ま
での距離データを光センサの検出出力の光強度データを
用いて算出するための換算データが記憶される。輝線位
置検出手段は上記光強度データに対応する換算データを
読み出し、その換算データに基づいて上記メモリから距
離データを読み出す。画歪が生じていれば各センサの検
出出力の光強度データにより読み出される各距離データ
は変化するので、その距離データの変化から輝線の各位
置における相対的な歪み（画歪み）が測定される。
号を出力すると、CRTの管面に縦方向及び／又は横方向
の輝線が映し出され、この輝線が発する光を複数の光セ
ンサがそれぞれ検出する。メモリに光センサから輝線ま
での距離データを光センサの検出出力の光強度データを
用いて算出するための換算データが記憶される。輝線位
置検出手段は上記光強度データに対応する換算データを
読み出し、その換算データに基づいて上記メモリから距
離データを読み出す。画歪が生じていれば各センサの検
出出力の光強度データにより読み出される各距離データ
は変化するので、その距離データの変化から輝線の各位
置における相対的な歪み（画歪み）が測定される。
［実施例］ 以下、本発明の実施例を図面を用いて説明する。第１
図乃至第６図には本発明の一実施例が示されている。
図乃至第６図には本発明の一実施例が示されている。
第１図には輝線歪み測定装置の概略構成図が示されて
いる。第１図において、パターンジェネレータ１は、CP
U11より輝線間隔データが入力されると、このデータに
基づいて輝線が縦方向及び横方向に一定間隔δ毎に配置
される輝線パターン（第４図参照）の映像信号を生成
し、この映像信号をCRT（陰極線管）２に出力する。テ
レビジョン受像機には測定対象となるCRT2が内蔵され、
このCRT2の管面３に光検出部４が取り付けられている。
光検出部４は管面３と同一外径寸法で田字状の枠体５を
有し、この枠体５には一定間隔毎に光センサS1〜S21が
固定されている。即ち、光センサS1〜S21は管面３の縦
方向及び横方向の正確な直線上に間隔を置いて配置され
ている。又、各光センサS1〜S21は管面３の接触位置で
管面３の対向位置に配置されており（第２図参照）、こ
の各光センサS1〜S21の検出出力（光強度データ）はマ
ルチアンプ７を介してマルチA/D変換器８に導かれてい
る。マルチアンプ７及びマルチA/D変換器８は各光セン
サ６の検出出力をそれぞれ増幅及びディジタル化し、デ
ィジタル化された各光強度データはセレクタ９に供給さ
れる。セレクタ９はCPU11から出力制御信号が送られて
くると、入力される各光強度データを一定順序で選択
し、この各光強度データをシリアルにメモリ10及びCPU1
1に送る。メモリ10はCPU11の書き込み・読み出し制御信
号に基づいて書き込み・読み出しが制御される。又、他
のメモリ12もCPU11にて書き込み・読み出しが制御さ
れ、このメモリ12には各種のデータを演算処理する場合
に必要な演算データ、経時歪み測定プログラム及び画歪
み測定プログラムを実行するためのプログラムデータ等
が格納されている。この各プログラムの内容については
下記の作用と共に説明する。CPU11は上記した機能を行
う手段を有する他に経時歪み量算出手段と輝線位置算出
手段を有する。経時歪み量算出手段はメモリ10に記憶さ
れた光強度データを基準データとし、この基準データの
検出時以後に送られてくる各光強度データを比較データ
とし、基準データと比較データとの差を算出する。そし
て、この差データを管面３上の位置データと共に表示回
路13に送る。
いる。第１図において、パターンジェネレータ１は、CP
U11より輝線間隔データが入力されると、このデータに
基づいて輝線が縦方向及び横方向に一定間隔δ毎に配置
される輝線パターン（第４図参照）の映像信号を生成
し、この映像信号をCRT（陰極線管）２に出力する。テ
レビジョン受像機には測定対象となるCRT2が内蔵され、
このCRT2の管面３に光検出部４が取り付けられている。
光検出部４は管面３と同一外径寸法で田字状の枠体５を
有し、この枠体５には一定間隔毎に光センサS1〜S21が
固定されている。即ち、光センサS1〜S21は管面３の縦
方向及び横方向の正確な直線上に間隔を置いて配置され
ている。又、各光センサS1〜S21は管面３の接触位置で
管面３の対向位置に配置されており（第２図参照）、こ
の各光センサS1〜S21の検出出力（光強度データ）はマ
ルチアンプ７を介してマルチA/D変換器８に導かれてい
る。マルチアンプ７及びマルチA/D変換器８は各光セン
サ６の検出出力をそれぞれ増幅及びディジタル化し、デ
ィジタル化された各光強度データはセレクタ９に供給さ
れる。セレクタ９はCPU11から出力制御信号が送られて
くると、入力される各光強度データを一定順序で選択
し、この各光強度データをシリアルにメモリ10及びCPU1
1に送る。メモリ10はCPU11の書き込み・読み出し制御信
号に基づいて書き込み・読み出しが制御される。又、他
のメモリ12もCPU11にて書き込み・読み出しが制御さ
れ、このメモリ12には各種のデータを演算処理する場合
に必要な演算データ、経時歪み測定プログラム及び画歪
み測定プログラムを実行するためのプログラムデータ等
が格納されている。この各プログラムの内容については
下記の作用と共に説明する。CPU11は上記した機能を行
う手段を有する他に経時歪み量算出手段と輝線位置算出
手段を有する。経時歪み量算出手段はメモリ10に記憶さ
れた光強度データを基準データとし、この基準データの
検出時以後に送られてくる各光強度データを比較データ
とし、基準データと比較データとの差を算出する。そし
て、この差データを管面３上の位置データと共に表示回
路13に送る。
輝線位置算出手段はメモリ10に取り込まれた光強度デ
ータ（測定データ）より各光センサS1〜S21に対する輝
線位置を算出するもので、具体的にはメモリ12に格納さ
れた換算データ（光強度と光センサから輝線までの距離
との対応データ）より距離データを算出する。そして、
この距離データを管面３上の位置データと共に表示回路
13に送る。又、輝線位置算出手段は直線上に配置の光セ
ンサS1〜S21の一つの光強度データを基準データとし、
この基準データに対する差データを算出して差データと
位置データとを表示回路13に送るよう構成してもよい。
表示回路13は送られてくる位置データと差データ又は距
離データを数字又は図形でモニタ14に表示するべく映像
信号を生成する。又、CPU11にはキーボード15の信号が
入力され、キーボード15より測定開始・終了を指令した
り、経時歪み測定プログラムや画歪み測定プログラムの
選択を指令したりする。第２図には管面３と光センサ６
の位置関係を示す断面図が示されている。第２図におい
て、管面３はパネルガラス3aの内面に蛍光部3bが設けら
れて成り、この蛍光部3bに第２図の矢印方向の電子ビー
ムが照射されると発光する。
ータ（測定データ）より各光センサS1〜S21に対する輝
線位置を算出するもので、具体的にはメモリ12に格納さ
れた換算データ（光強度と光センサから輝線までの距離
との対応データ）より距離データを算出する。そして、
この距離データを管面３上の位置データと共に表示回路
13に送る。又、輝線位置算出手段は直線上に配置の光セ
ンサS1〜S21の一つの光強度データを基準データとし、
この基準データに対する差データを算出して差データと
位置データとを表示回路13に送るよう構成してもよい。
表示回路13は送られてくる位置データと差データ又は距
離データを数字又は図形でモニタ14に表示するべく映像
信号を生成する。又、CPU11にはキーボード15の信号が
入力され、キーボード15より測定開始・終了を指令した
り、経時歪み測定プログラムや画歪み測定プログラムの
選択を指令したりする。第２図には管面３と光センサ６
の位置関係を示す断面図が示されている。第２図におい
て、管面３はパネルガラス3aの内面に蛍光部3bが設けら
れて成り、この蛍光部3bに第２図の矢印方向の電子ビー
ムが照射されると発光する。
第３図には光センサ６の指向感度特性線図が示されて
いる。第４図において、横軸は管面３から光センサ６に
入射する光の入射角度（度）を示し、縦軸は各入射角度
における光センサ６への入射光の強度（入射角度が０°
のときの光強度を100％としたときの相対光強度）を示
す。入射角度が０°の位置とは光センサ６の中心対向位
置（第２図のａ点）であり、光センサ６の指向感度特性
は入射角度が０°のときが最大で、入射角度の絶対値が
大きくなるに従って光強度が急激に小さくなり入射角度
の絶対値がほぼ20°程度で０％となるいわゆる単峰特性
を呈する。
いる。第４図において、横軸は管面３から光センサ６に
入射する光の入射角度（度）を示し、縦軸は各入射角度
における光センサ６への入射光の強度（入射角度が０°
のときの光強度を100％としたときの相対光強度）を示
す。入射角度が０°の位置とは光センサ６の中心対向位
置（第２図のａ点）であり、光センサ６の指向感度特性
は入射角度が０°のときが最大で、入射角度の絶対値が
大きくなるに従って光強度が急激に小さくなり入射角度
の絶対値がほぼ20°程度で０％となるいわゆる単峰特性
を呈する。
以下、上記構成の作用について説明する。
第５図に示すように、経時歪み測定プログラムをキー
ボード15で選択すると、CPU11が輝線間隔データをパタ
ーンジェネレータ１に送り、CRT2の管面３には輝線が映
し出される（第４図参照）。各光センサS1〜S21は近傍
の輝線（１本）が発する光を検出し、この各検出出力
（光強度データ）がマルチアンプ７及びマルチA/D変換
器８を介してセレクタ９に導かれる。次に、CPU11が出
力制御信号をセレクタ９に出力すると、セレクタ９が光
強度データを一定順序（例えば、光センサS1→S2→S3…
の光強度データの順序）でメモリ10及びCPU11に出力す
る。又、CPU11は光強度データを自ら取り込むことなく
出力制御信号に同期させて書き込み制御信号をメモリ10
に出力し、メモリ10には各光センサS1〜S21の光強度デ
ータが書き込まれる。この基準測定から一定時間ｔ経過
すると、CPU11は再び出力制御信号をセレクタ９に出力
して、セレクタ９が光強度データを前記と同一順序でメ
モリ10及びCPU11に出力する。この光強度データは前記
基準測定から一定時間ｔ経過後のものであり、このデー
タはメモリ10には取り込まれずCPU11にのみ取り込まれ
る。この光強度データの取り込みが終了すると、CPU11
がメモリ10に読み出し制御信号を出力して、CPU11内に
光強度データを取り込む。経時歪み量算出手段はメモリ
10からの光強度データを基準データとし、セレクタ９か
らの光強度データを比較データとし、同一の光センサS1
〜S21同士の基準データと比較データとの差を算出す
る。この差データと管面３上の位置データ（光センサS1
〜S21の位置）を表示回路13に出力する。前回の測定時
より一定時間ｔ経過、即ち、基準測定時より2t経過する
と再びCPU11が出力制御信号をセレクタ９に出力し、上
記と同様にして差データを算出する。以上の作用を繰り
返すことによって一定時間ｔ置きの輝線位置変化がリア
ルタイムでモニタ14に表示される。ここで、経時歪みが
ない場合には差データがゼロの値を示す。又、地磁気や
回路素子の温度ドリフトなどにより経時歪みが生じた場
合には差データがゼロ以外の値を示し、歪み量が大きく
なるに従ってその値の絶対値が大きな値を示し、差デー
タの変化をみることによって経時歪み変化がわかる。
ボード15で選択すると、CPU11が輝線間隔データをパタ
ーンジェネレータ１に送り、CRT2の管面３には輝線が映
し出される（第４図参照）。各光センサS1〜S21は近傍
の輝線（１本）が発する光を検出し、この各検出出力
（光強度データ）がマルチアンプ７及びマルチA/D変換
器８を介してセレクタ９に導かれる。次に、CPU11が出
力制御信号をセレクタ９に出力すると、セレクタ９が光
強度データを一定順序（例えば、光センサS1→S2→S3…
の光強度データの順序）でメモリ10及びCPU11に出力す
る。又、CPU11は光強度データを自ら取り込むことなく
出力制御信号に同期させて書き込み制御信号をメモリ10
に出力し、メモリ10には各光センサS1〜S21の光強度デ
ータが書き込まれる。この基準測定から一定時間ｔ経過
すると、CPU11は再び出力制御信号をセレクタ９に出力
して、セレクタ９が光強度データを前記と同一順序でメ
モリ10及びCPU11に出力する。この光強度データは前記
基準測定から一定時間ｔ経過後のものであり、このデー
タはメモリ10には取り込まれずCPU11にのみ取り込まれ
る。この光強度データの取り込みが終了すると、CPU11
がメモリ10に読み出し制御信号を出力して、CPU11内に
光強度データを取り込む。経時歪み量算出手段はメモリ
10からの光強度データを基準データとし、セレクタ９か
らの光強度データを比較データとし、同一の光センサS1
〜S21同士の基準データと比較データとの差を算出す
る。この差データと管面３上の位置データ（光センサS1
〜S21の位置）を表示回路13に出力する。前回の測定時
より一定時間ｔ経過、即ち、基準測定時より2t経過する
と再びCPU11が出力制御信号をセレクタ９に出力し、上
記と同様にして差データを算出する。以上の作用を繰り
返すことによって一定時間ｔ置きの輝線位置変化がリア
ルタイムでモニタ14に表示される。ここで、経時歪みが
ない場合には差データがゼロの値を示す。又、地磁気や
回路素子の温度ドリフトなどにより経時歪みが生じた場
合には差データがゼロ以外の値を示し、歪み量が大きく
なるに従ってその値の絶対値が大きな値を示し、差デー
タの変化をみることによって経時歪み変化がわかる。
第６図に示すように、画歪み測定プログラムをキーボ
ード15で選択すると、CPU11が輝線間隔データをパター
ンジェネレータ１に送り、CRT2の管面３には輝線が映し
出される（第４図参照）。各光センサS1〜S21は近傍の
輝線（１本）が発する光を検出し、この各検出出力（光
強度データ）がマルチアンプ７及びマルチA/D変換器８
を介してセレクタ９に導かれる。次に、CPU11が出力制
御信号をセレクタ９に出力すると、セレクタ９が光強度
データを一定順序（例えば光センサS1→S2→S3…の光強
度データの順序）でメモリ10及びCPU11に出力される。C
PU11は光強度データを自ら取り込むことなく出力制御信
号に同期させて書き込み制御信号をメモリ10に出力し、
メモリ10には各光センサS1〜S21の光強度データが書き
込まれる。全ての書き込みが終了すると、CPU11はメモ
リ10に読み出し制御信号を出力して一個の光強度データ
（例えば、光センサS1の光強度データ）を読み出すと共
に他のメモリ12から換算データを読み出す。輝線位置算
出手段は光強度データ（測定データ）について換算デー
タより距離データを算出する。この距離データと管面３
上の位置データ（光センサS1の位置）を表示回路13に出
力する。これを終了すると、CPU11は次の光強度データ
（例えば、光センサS2の光強度データ）を読み出し、同
様の作用によって距離データを算出し、これを全ての光
強度データについて行う。モニタ14には各光センサS1〜
S21の近傍の輝線位置が表示される。ここで、画歪みが
生じていなければ輝線は一直線に映るため、一直線上に
位置する光センサのグループ（例えば、S1，S2，S3，
S4，S5のグループやS1，S6，S9，S14，S17のグループ）
の距離データは一定値を示す。又、FBT等シャーシ内の
パーツ漏洩磁界によって画歪みが生じていれば輝線は曲
がって映るため、一直線上に位置する光センサのグルー
プの距離データは一定値を示さない。距離データの変化
によって画歪みの状態がわかる。
ード15で選択すると、CPU11が輝線間隔データをパター
ンジェネレータ１に送り、CRT2の管面３には輝線が映し
出される（第４図参照）。各光センサS1〜S21は近傍の
輝線（１本）が発する光を検出し、この各検出出力（光
強度データ）がマルチアンプ７及びマルチA/D変換器８
を介してセレクタ９に導かれる。次に、CPU11が出力制
御信号をセレクタ９に出力すると、セレクタ９が光強度
データを一定順序（例えば光センサS1→S2→S3…の光強
度データの順序）でメモリ10及びCPU11に出力される。C
PU11は光強度データを自ら取り込むことなく出力制御信
号に同期させて書き込み制御信号をメモリ10に出力し、
メモリ10には各光センサS1〜S21の光強度データが書き
込まれる。全ての書き込みが終了すると、CPU11はメモ
リ10に読み出し制御信号を出力して一個の光強度データ
（例えば、光センサS1の光強度データ）を読み出すと共
に他のメモリ12から換算データを読み出す。輝線位置算
出手段は光強度データ（測定データ）について換算デー
タより距離データを算出する。この距離データと管面３
上の位置データ（光センサS1の位置）を表示回路13に出
力する。これを終了すると、CPU11は次の光強度データ
（例えば、光センサS2の光強度データ）を読み出し、同
様の作用によって距離データを算出し、これを全ての光
強度データについて行う。モニタ14には各光センサS1〜
S21の近傍の輝線位置が表示される。ここで、画歪みが
生じていなければ輝線は一直線に映るため、一直線上に
位置する光センサのグループ（例えば、S1，S2，S3，
S4，S5のグループやS1，S6，S9，S14，S17のグループ）
の距離データは一定値を示す。又、FBT等シャーシ内の
パーツ漏洩磁界によって画歪みが生じていれば輝線は曲
がって映るため、一直線上に位置する光センサのグルー
プの距離データは一定値を示さない。距離データの変化
によって画歪みの状態がわかる。
尚、この実施例においては、光センサS1〜S21を縦方
向及び横方向の一直線上に複数配置したが、経時歪み測
定をする場合には任意の位置に配置してもよく、又、経
時歪みを測定したい一箇所に配置してもよい。また、縦
方向及び横方向の輝線が同時に生じるよう構成されてい
るが、別々に生じるよう構成しその度測定するように構
成してもよい。さらに、一定間隔毎に輝線が生じるよう
構成されているが、光センサS1〜S21の略対向位置にの
み輝線が生じるよう構成してもよい。
向及び横方向の一直線上に複数配置したが、経時歪み測
定をする場合には任意の位置に配置してもよく、又、経
時歪みを測定したい一箇所に配置してもよい。また、縦
方向及び横方向の輝線が同時に生じるよう構成されてい
るが、別々に生じるよう構成しその度測定するように構
成してもよい。さらに、一定間隔毎に輝線が生じるよう
構成されているが、光センサS1〜S21の略対向位置にの
み輝線が生じるよう構成してもよい。
尚、また、一定間隔毎の輝線を徐々にシフトする如く
映し、このシフト毎の光強度データをサンプリングし、
この光強度データのエンベロープ曲線を作成してこのエ
ンベロープ曲線のピーク値の位置を出し、このピーク値
の位置を比較することによって経時歪みや画歪みを求め
るよう構成してもよい。
映し、このシフト毎の光強度データをサンプリングし、
この光強度データのエンベロープ曲線を作成してこのエ
ンベロープ曲線のピーク値の位置を出し、このピーク値
の位置を比較することによって経時歪みや画歪みを求め
るよう構成してもよい。
［発明の効果］ 以上述べたように第一の発明によれば、縦方向及び／
又は横方向の輝線が映し出される輝線パターンの映像信
号をCRTに出力するパターンジェネレータと、前記CRTの
管面の対向位置に配置する光センサと、この光センサの
検出出力である光強度データを記憶するメモリと、所定
時間を計時する計時手段と、前記計時手段により前記所
定時間の計時が行われた時に再度前記光センサにより検
出された光強度データと、前記メモリに記憶された光強
度データとの差を算出する経時歪み量算出手段とを設け
たので、電気的に高精度で簡単に輝線の経時的な変化を
測定することができるという効果を奏する。
又は横方向の輝線が映し出される輝線パターンの映像信
号をCRTに出力するパターンジェネレータと、前記CRTの
管面の対向位置に配置する光センサと、この光センサの
検出出力である光強度データを記憶するメモリと、所定
時間を計時する計時手段と、前記計時手段により前記所
定時間の計時が行われた時に再度前記光センサにより検
出された光強度データと、前記メモリに記憶された光強
度データとの差を算出する経時歪み量算出手段とを設け
たので、電気的に高精度で簡単に輝線の経時的な変化を
測定することができるという効果を奏する。
また、第二の発明によれば、縦方向及び／又は横方向
の輝線が映し出される輝線パターンの映像信号をCRTに
出力するパターンジェネレータと、前記CRTの管面の対
向位置に配置し、且つ、管面の縦方向及び／又は横方向
の正確な直線上に間隔を置いて配置した単峰特性の指向
特性を有する複数の光センサと、光センサから輝線まで
の距離データを光強度データを用いて算出するための換
算データを記憶したメモリと、前記光センサによって検
出された光強度に対応する換算データを読み出し、該換
算データに基づいて前記距離データを算出する輝線位置
算出手段とを設けたので、電気的に高精度で簡単に輝線
の各位置における相対的な歪み（画歪み）を測定するこ
とができるという効果を奏する。
の輝線が映し出される輝線パターンの映像信号をCRTに
出力するパターンジェネレータと、前記CRTの管面の対
向位置に配置し、且つ、管面の縦方向及び／又は横方向
の正確な直線上に間隔を置いて配置した単峰特性の指向
特性を有する複数の光センサと、光センサから輝線まで
の距離データを光強度データを用いて算出するための換
算データを記憶したメモリと、前記光センサによって検
出された光強度に対応する換算データを読み出し、該換
算データに基づいて前記距離データを算出する輝線位置
算出手段とを設けたので、電気的に高精度で簡単に輝線
の各位置における相対的な歪み（画歪み）を測定するこ
とができるという効果を奏する。
第１図乃至第６図は本発明の実施例を示し、第１図は輝
線歪み測定装置の概略構成図、第２図は管面と光センサ
の位置関係を示す断面図、第３図は光センサの指向感度
特性線図、第４図はテレビジョン受像機の正面図、第５
図は経時歪み測定プログラムのフローチャート図、第６
図は画歪み測定プログラムのフローチャート図である。 １…パターンジェネレータ、２…CRT、３…管面、10,12
…メモリ、11…CPU（経時歪み量算出手段、輝線位置算
出手段）、S1〜S21…光センサ。
線歪み測定装置の概略構成図、第２図は管面と光センサ
の位置関係を示す断面図、第３図は光センサの指向感度
特性線図、第４図はテレビジョン受像機の正面図、第５
図は経時歪み測定プログラムのフローチャート図、第６
図は画歪み測定プログラムのフローチャート図である。 １…パターンジェネレータ、２…CRT、３…管面、10,12
…メモリ、11…CPU（経時歪み量算出手段、輝線位置算
出手段）、S1〜S21…光センサ。
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H04N 17/04
Claims (2)
- 【請求項１】縦方向及び／又は横方向の輝線が映し出さ
れる輝線パターンの映像信号をCRTに出力するパターン
ジェネレータと、 前記CRTの管面の対向位置に配置し、単峰特性の指向感
度特性を有する光センサと、 この光センサの検出出力である光強度データを記憶する
メモリと、 所定時間を計時する計時手段と、 前記計時手段により前記所定時間の計時が行われた時に
再度前記光センサにより検出された光強度データと、前
記メモリに記憶された光強度データとの差を算出する経
時歪み量算出手段と、 を備えたことを特徴とする輝線歪み測定装置。 - 【請求項２】縦方向及び／又は横方向の輝線が映し出さ
れる輝線パターンの映像信号をCRTに出力するパターン
ジェネレータと、 前記CRTの管面の対向位置に配置し、且つ、この管面の
縦方向及び／又は横方向の正確な直線上に間隔を置いて
配置した単峰特性の指向感度特性を有する複数の光セン
サと、 光センサから輝線までの距離データを光強度データを用
いて算出するための換算データを記憶したメモリと、 前記光センサによって検出された光強度に対応する換算
データを読み出し、該換算データに基づいて前記距離デ
ータを算出する輝線位置算出手段と、 を備えたことを特徴とする輝線歪み測定装置。
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3803989A JP2900391B2 (ja) | 1989-02-17 | 1989-02-17 | 輝線歪み測定装置 |
| MYPI90000129A MY105189A (en) | 1989-01-31 | 1990-01-25 | Adjusting apparatus for cathode ray tube equipment. |
| AU48804/90A AU632305B2 (en) | 1989-01-31 | 1990-01-25 | Apparatus for testing and adjusting color cathode ray tube equipment |
| US07/472,615 US4989072A (en) | 1989-01-31 | 1990-01-29 | Apparatus for testing and adjusting color cathode ray tube equipment |
| DE69026403T DE69026403T2 (de) | 1989-01-31 | 1990-01-30 | Einstellungsvorrichtung für Kathodenstrahlröhrenausrüstung |
| ES90300917T ES2085327T3 (es) | 1989-01-31 | 1990-01-30 | Aparato de ajuste para equipo de tubo de rayos catodicos. |
| EP90300917A EP0381421B1 (en) | 1989-01-31 | 1990-01-30 | Adjusting apparatus for cathode ray tube equipment |
| KR1019900001058A KR0153258B1 (ko) | 1989-01-31 | 1990-01-31 | 칼라음극선관장비의 시험조정장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3803989A JP2900391B2 (ja) | 1989-02-17 | 1989-02-17 | 輝線歪み測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02217096A JPH02217096A (ja) | 1990-08-29 |
| JP2900391B2 true JP2900391B2 (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=12514393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3803989A Expired - Fee Related JP2900391B2 (ja) | 1989-01-31 | 1989-02-17 | 輝線歪み測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2900391B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05280029A (ja) * | 1992-03-30 | 1993-10-26 | Sekisui Plastics Co Ltd | 植栽用土壌排水構造 |
-
1989
- 1989-02-17 JP JP3803989A patent/JP2900391B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02217096A (ja) | 1990-08-29 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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