JP3501298B2 - 画質検査調整方法 - Google Patents
画質検査調整方法Info
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は画質検査調整方法及びそ
の装置に関し、例えば陰極線管（ＣＲＴ）の画質を検査
及び調整する画質検査調整方法及びその装置に適用して
好適なものである。 【０００２】 【従来の技術】従来、ＣＲＴの画質検査及び調整を行う
場合、当該ＣＲＴ上に位置測定用のパターンを映示し、
これを例えば撮像位置が固定された撮像カメラによつて
撮像し、この結果得られる画像に基づいて被検査ＣＲＴ
の映示パターン位置を測定し、当該測定結果と基準位置
のずれ量によつて当該ＣＲＴの画質を検査及び調整する
ようになされている。 【０００３】このような検査及び調整方法を用いる場
合、被検査ＣＲＴへの映示位置及びその測定位置基準が
固定であるが、被検査ＣＲＴは画枠に対するオーバスキ
ヤン量等の規格が製造機種ごとに異なり、同一パターン
を異なる規格のＣＲＴに表示しても同一位置に表示され
るとは限らず、この場合測定値を作業者が読み替えた
り、測定位置基準を計算により作成し、これを補正デー
タとして使用する等の方法が用いられていた。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】ところがかかる方法に
よつて画質の検査及び調整を行う場合、位置測定用パタ
ーンの映示位置が固定であるため、例えばアスペクト比
が大きなワイドテレビジヨン受像機又はコンピユータデ
イスプレイ等のように従来のＣＲＴ製品に対して大きく
オーバスキヤン量（又はアンダスキヤン量）の異なるＣ
ＲＴ製品の画質を検査及び調整する場合には、専用の装
置又は専用のプログラムが必要であつた。 【０００５】また検査及び調整用として工場ごとに用意
されている基準信号発生装置と、画質検査及び調整装置
に付属の信号発生装置との微妙な周波数及び位相の違い
等から生じる信号映示位置のずれを吸収し得ない問題が
あつた。 【０００６】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、多様なＣＲＴ製品に対応し得ると共に一段と正確に
画質の検査及び調整を行うことができる画質検査方法及
びその装置を提案しようとするものである。 【０００７】 【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、所定の測定用パターンを被検査表
示手段上に映示し、被検査表示手段を観測してなる画像
から測定用パターンの映示位置を測定し、当該映示位置
の基準位置に対する誤差を検査及び調整する画質検査調
整方法において、基準となる調整済の測定用パターンを
較正回路から操作モニタに映示すると共に、映示された
測定用パターンを基準となる測定用パターン映示位置及
び測定用パターンの映示信号位置として記憶装置に記憶
し、入力指定された測定用パターンの映示信号位置に基
づいて信号発生器を制御して被検査表示手段に測定用パ
ターンを映示し、被検査表示手段に映示された測定用パ
ターンを測定して得られる測定結果と記憶装置に記憶さ
れた基準となる測定用パターン映示位置とを比較するこ
とによって補正量を算出し、補正量に基づいて被検査表
示手段の測定用パターンの映示位置を信号発生器により
補正するようにした。 【０００８】 【０００９】 【作用】入力指定された基準となる測定用パターンの映
示信号位置に基づいて被検査表示手段に映示した測定用
パターンを実際に測定して得られる測定結果と、記憶装
置に記憶された基準となる測定用パターン映示位置とを
比較することによって被検査表示手段に対して実際に測
定用パターンが映示された状態に基づく補正量を算出
し、その補正量に基づいて被検査表示手段の測定用パタ
ーンの映示位置を信号発生器により補正することによ
り、被検査表示手段に表示する測定用パターンの映示位
置を補正量に応じて変化させることができるので、種々
の規格でなる被検査表示手段や当該被検査表示手段の製
品誤差に関わらず、常に一定基準でかつ一段と正確な映
示位置の検査及び調整を行うことができる。 【００１０】 【００１１】 【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。 【００１２】 図１において１０は全体として画質検査
調整装置を示し、コントロールデバイス１３はオペレー
タによつて入力指定された測定用パターンの映示位置指
定データＳ１を較正回路１２に送出する。較正回路１２
はオペレータによつて指定された位置に測定用パターン
を映示する映示信号位置データＳ２を信号発生器１１に
送出することにより、信号発生器１１は被検査ＣＲＴ２
１の指定位置に測定用パターンを表示する。 【００１３】またこれと同時に較正回路１２は、操作モ
ニタ２０に対して測定用パターンの信号上の位置又は実
際に映示した測定パターン等を表示するようになされて
いる。 【００１４】さらに較正回路１２はオペレータによつて
指定された測定用パターンの映示信号の位置を表す映示
信号位置データＳ２を記憶装置１４に送出し、これを記
憶させる。また被検査ＣＲＴ２１において映示された測
定用パターンは撮像位置が固定された撮像カメラ２２に
よつて撮像され、撮像データＳ４を記憶装置１４に送出
すると共に画像処理部１６に送出し、当該画像処理部１
６において画像データに変換されると共に、撮像された
当該画像データから測定用パターンの位置を測定し、こ
れを測定データＳ５として補正計算機１７に送出する。 【００１５】従つて補正計算機１７は記憶装置１４から
送出された映示信号位置データＳ２及び撮像カメラ２２
から得られる撮像データＳ４に基づいて得られる測定用
パターンの測定位置データＳ３とを画像処理部１６から
送出された測定データＳ５と比較することにより、較正
回路１２によつて指定された映示位置と実際に被検査Ｃ
ＲＴ２１に映示された測定用パターンの映示位置とを比
較し、補正量を計算する。 【００１６】このようにして得られた補正量データＳ６
は表示・検査判定調整部１８に送出され、当該表示・検
査判定調整部１８において補正量が所定の表示手段に表
示される。この表示をオペレータが観ることによつて被
検査ＣＲＴ２１の偏向波形を調整したり、又は当該補正
データＳ６に基づいて補正量を補正するような調整デー
タを被検査ＣＲＴ２１に直接送出しこれを自動調整す
る。 【００１７】因に撮像カメラ２２から出力される撮像デ
ータＳ４は記憶装置１４に入力され、当該記憶装置１４
において撮像データＳ４に基づいて被検査ＣＲＴ２１に
表示された測定用パターン像の輝度情報を抽出し、これ
を信号位置制御部１５を介して信号発生器１１に送出す
ることにより、信号発生器１１は信号輝度制御部１９に
よつて輝度条件を制御し、常に被検査ＣＲＴ２１上に映
示される測定用パターンの輝度条件を一定にすることが
できる。 【００１８】また表示・検査判定調整部１８は、補正計
算機１７から出力される補正データＳ６に基づいて映示
位置の補正量を判定したとき、当該判定結果として所定
量以上の大きな補正が必要であるような場合、当該補正
情報データＳ８を信号位置制御部１５に送出することに
より、信号位置制御部１５は被検査ＣＲＴ２１に対する
測定用パターンの映示位置を大きく替えるような位置補
正データＳ９を信号発生器１１に送出することにより、
被検査ＣＲＴ２１の映示位置を補正する。 【００１９】 さらに記憶装置１４は較正回路１２から
入力される映示信号位置データＳ２に基づいて当該測定
用パターンの映示位置を包含するようなマスキングデー
タＳ１０を画像処理部１６に送出することにより、画像
処理部１６は測定用パターンが映示される領域だけの画
像データを処理することができる。 【００２０】以上の構成において、被検査ＣＲＴ２１と
して予め調整された基準ＣＲＴに対してオペレータが測
定用パターンの映示位置を指定し、これを基準ＣＲＴ上
に映示すると共にこのときの映示信号位置データＳ２及
び撮像カメラ２２によつて得られる測定位置データＳ３
を記憶装置１４に記憶させる。 【００２１】この状態において被検査ＣＲＴ２１をセツ
トし、記憶装置１４に記憶されている映示信号位置デー
タＳ２に基づいて当該被検査ＣＲＴ２１に測定用パター
ンを映示する。このときの映示位置を撮像カメラ２２に
よつて撮像し、測定用パターンの映示位置を画像処理部
１６を介して補正計算機１７に入力する。 【００２２】補正計算機１７は記憶装置１４に記憶され
ている映示信号位置データＳ２及び測定位置データＳ３
に基づいて被検査ＣＲＴ２１の測定結果を補正するよう
な補正データを算出する。ここで測定位置データＳ３は
基準ＣＲＴにおいて正確な位置に映示された測定用パタ
ーンの位置データであり、このデータに対する補正量は
基準ＣＲＴの映示位置に対する被検査ＣＲＴ２１の映示
位置の差となる。 【００２３】従つて当該補正量に基づいて被検査ＣＲＴ
２１の映示位置を補正することにより、例えば各工場に
おいて基準信号に誤差があるような場合においても、常
に基準ＣＲＴと同一位置に測定用パターンを映示するよ
うな補正を行うことができる。 【００２４】またオーバスキヤン量又はアンダスキヤン
量等が異なる製品機種ごとに基準ＣＲＴの映示信号位置
データＳ２及び測定位置データＳ３を記憶装置１４に予
め記憶しておくことにより、各機種ごとに設定された基
準データを用いて被検査ＣＲＴ２１の検査及び調整を行
うことができる。 【００２５】かくして以上の構成によれば、被検査ＣＲ
Ｔ２１に実際に映示された状態に基づいて当該被検査Ｃ
ＲＴ２１を検査することにより、被検査ＣＲＴ２１の製
品誤差によらず正確に映示位置を検査することができ
る。 【００２６】また基準ＣＲＴの映示信号位置データＳ２
及び測定位置データＳ３に基づいて被検査ＣＲＴ２１の
映示位置を検査及び調整することにより、常に一定基準
の検査及び調整を行うことができる。 【００２７】 【発明の効果】上述のように本発明によれば、被検査表
示手段に表示する測定用パターンの映示位置を補正量に
応じて変化させることができるので、種々の規格でなる
被検査表示手段や当該被検査表示手段の製品誤差に関わ
らず、常に一定基準でかつ一段と正確な映示位置の検査
及び調整を行うことができる。 【００２８】
の装置に関し、例えば陰極線管（ＣＲＴ）の画質を検査
及び調整する画質検査調整方法及びその装置に適用して
好適なものである。 【０００２】 【従来の技術】従来、ＣＲＴの画質検査及び調整を行う
場合、当該ＣＲＴ上に位置測定用のパターンを映示し、
これを例えば撮像位置が固定された撮像カメラによつて
撮像し、この結果得られる画像に基づいて被検査ＣＲＴ
の映示パターン位置を測定し、当該測定結果と基準位置
のずれ量によつて当該ＣＲＴの画質を検査及び調整する
ようになされている。 【０００３】このような検査及び調整方法を用いる場
合、被検査ＣＲＴへの映示位置及びその測定位置基準が
固定であるが、被検査ＣＲＴは画枠に対するオーバスキ
ヤン量等の規格が製造機種ごとに異なり、同一パターン
を異なる規格のＣＲＴに表示しても同一位置に表示され
るとは限らず、この場合測定値を作業者が読み替えた
り、測定位置基準を計算により作成し、これを補正デー
タとして使用する等の方法が用いられていた。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】ところがかかる方法に
よつて画質の検査及び調整を行う場合、位置測定用パタ
ーンの映示位置が固定であるため、例えばアスペクト比
が大きなワイドテレビジヨン受像機又はコンピユータデ
イスプレイ等のように従来のＣＲＴ製品に対して大きく
オーバスキヤン量（又はアンダスキヤン量）の異なるＣ
ＲＴ製品の画質を検査及び調整する場合には、専用の装
置又は専用のプログラムが必要であつた。 【０００５】また検査及び調整用として工場ごとに用意
されている基準信号発生装置と、画質検査及び調整装置
に付属の信号発生装置との微妙な周波数及び位相の違い
等から生じる信号映示位置のずれを吸収し得ない問題が
あつた。 【０００６】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、多様なＣＲＴ製品に対応し得ると共に一段と正確に
画質の検査及び調整を行うことができる画質検査方法及
びその装置を提案しようとするものである。 【０００７】 【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、所定の測定用パターンを被検査表
示手段上に映示し、被検査表示手段を観測してなる画像
から測定用パターンの映示位置を測定し、当該映示位置
の基準位置に対する誤差を検査及び調整する画質検査調
整方法において、基準となる調整済の測定用パターンを
較正回路から操作モニタに映示すると共に、映示された
測定用パターンを基準となる測定用パターン映示位置及
び測定用パターンの映示信号位置として記憶装置に記憶
し、入力指定された測定用パターンの映示信号位置に基
づいて信号発生器を制御して被検査表示手段に測定用パ
ターンを映示し、被検査表示手段に映示された測定用パ
ターンを測定して得られる測定結果と記憶装置に記憶さ
れた基準となる測定用パターン映示位置とを比較するこ
とによって補正量を算出し、補正量に基づいて被検査表
示手段の測定用パターンの映示位置を信号発生器により
補正するようにした。 【０００８】 【０００９】 【作用】入力指定された基準となる測定用パターンの映
示信号位置に基づいて被検査表示手段に映示した測定用
パターンを実際に測定して得られる測定結果と、記憶装
置に記憶された基準となる測定用パターン映示位置とを
比較することによって被検査表示手段に対して実際に測
定用パターンが映示された状態に基づく補正量を算出
し、その補正量に基づいて被検査表示手段の測定用パタ
ーンの映示位置を信号発生器により補正することによ
り、被検査表示手段に表示する測定用パターンの映示位
置を補正量に応じて変化させることができるので、種々
の規格でなる被検査表示手段や当該被検査表示手段の製
品誤差に関わらず、常に一定基準でかつ一段と正確な映
示位置の検査及び調整を行うことができる。 【００１０】 【００１１】 【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。 【００１２】 図１において１０は全体として画質検査
調整装置を示し、コントロールデバイス１３はオペレー
タによつて入力指定された測定用パターンの映示位置指
定データＳ１を較正回路１２に送出する。較正回路１２
はオペレータによつて指定された位置に測定用パターン
を映示する映示信号位置データＳ２を信号発生器１１に
送出することにより、信号発生器１１は被検査ＣＲＴ２
１の指定位置に測定用パターンを表示する。 【００１３】またこれと同時に較正回路１２は、操作モ
ニタ２０に対して測定用パターンの信号上の位置又は実
際に映示した測定パターン等を表示するようになされて
いる。 【００１４】さらに較正回路１２はオペレータによつて
指定された測定用パターンの映示信号の位置を表す映示
信号位置データＳ２を記憶装置１４に送出し、これを記
憶させる。また被検査ＣＲＴ２１において映示された測
定用パターンは撮像位置が固定された撮像カメラ２２に
よつて撮像され、撮像データＳ４を記憶装置１４に送出
すると共に画像処理部１６に送出し、当該画像処理部１
６において画像データに変換されると共に、撮像された
当該画像データから測定用パターンの位置を測定し、こ
れを測定データＳ５として補正計算機１７に送出する。 【００１５】従つて補正計算機１７は記憶装置１４から
送出された映示信号位置データＳ２及び撮像カメラ２２
から得られる撮像データＳ４に基づいて得られる測定用
パターンの測定位置データＳ３とを画像処理部１６から
送出された測定データＳ５と比較することにより、較正
回路１２によつて指定された映示位置と実際に被検査Ｃ
ＲＴ２１に映示された測定用パターンの映示位置とを比
較し、補正量を計算する。 【００１６】このようにして得られた補正量データＳ６
は表示・検査判定調整部１８に送出され、当該表示・検
査判定調整部１８において補正量が所定の表示手段に表
示される。この表示をオペレータが観ることによつて被
検査ＣＲＴ２１の偏向波形を調整したり、又は当該補正
データＳ６に基づいて補正量を補正するような調整デー
タを被検査ＣＲＴ２１に直接送出しこれを自動調整す
る。 【００１７】因に撮像カメラ２２から出力される撮像デ
ータＳ４は記憶装置１４に入力され、当該記憶装置１４
において撮像データＳ４に基づいて被検査ＣＲＴ２１に
表示された測定用パターン像の輝度情報を抽出し、これ
を信号位置制御部１５を介して信号発生器１１に送出す
ることにより、信号発生器１１は信号輝度制御部１９に
よつて輝度条件を制御し、常に被検査ＣＲＴ２１上に映
示される測定用パターンの輝度条件を一定にすることが
できる。 【００１８】また表示・検査判定調整部１８は、補正計
算機１７から出力される補正データＳ６に基づいて映示
位置の補正量を判定したとき、当該判定結果として所定
量以上の大きな補正が必要であるような場合、当該補正
情報データＳ８を信号位置制御部１５に送出することに
より、信号位置制御部１５は被検査ＣＲＴ２１に対する
測定用パターンの映示位置を大きく替えるような位置補
正データＳ９を信号発生器１１に送出することにより、
被検査ＣＲＴ２１の映示位置を補正する。 【００１９】 さらに記憶装置１４は較正回路１２から
入力される映示信号位置データＳ２に基づいて当該測定
用パターンの映示位置を包含するようなマスキングデー
タＳ１０を画像処理部１６に送出することにより、画像
処理部１６は測定用パターンが映示される領域だけの画
像データを処理することができる。 【００２０】以上の構成において、被検査ＣＲＴ２１と
して予め調整された基準ＣＲＴに対してオペレータが測
定用パターンの映示位置を指定し、これを基準ＣＲＴ上
に映示すると共にこのときの映示信号位置データＳ２及
び撮像カメラ２２によつて得られる測定位置データＳ３
を記憶装置１４に記憶させる。 【００２１】この状態において被検査ＣＲＴ２１をセツ
トし、記憶装置１４に記憶されている映示信号位置デー
タＳ２に基づいて当該被検査ＣＲＴ２１に測定用パター
ンを映示する。このときの映示位置を撮像カメラ２２に
よつて撮像し、測定用パターンの映示位置を画像処理部
１６を介して補正計算機１７に入力する。 【００２２】補正計算機１７は記憶装置１４に記憶され
ている映示信号位置データＳ２及び測定位置データＳ３
に基づいて被検査ＣＲＴ２１の測定結果を補正するよう
な補正データを算出する。ここで測定位置データＳ３は
基準ＣＲＴにおいて正確な位置に映示された測定用パタ
ーンの位置データであり、このデータに対する補正量は
基準ＣＲＴの映示位置に対する被検査ＣＲＴ２１の映示
位置の差となる。 【００２３】従つて当該補正量に基づいて被検査ＣＲＴ
２１の映示位置を補正することにより、例えば各工場に
おいて基準信号に誤差があるような場合においても、常
に基準ＣＲＴと同一位置に測定用パターンを映示するよ
うな補正を行うことができる。 【００２４】またオーバスキヤン量又はアンダスキヤン
量等が異なる製品機種ごとに基準ＣＲＴの映示信号位置
データＳ２及び測定位置データＳ３を記憶装置１４に予
め記憶しておくことにより、各機種ごとに設定された基
準データを用いて被検査ＣＲＴ２１の検査及び調整を行
うことができる。 【００２５】かくして以上の構成によれば、被検査ＣＲ
Ｔ２１に実際に映示された状態に基づいて当該被検査Ｃ
ＲＴ２１を検査することにより、被検査ＣＲＴ２１の製
品誤差によらず正確に映示位置を検査することができ
る。 【００２６】また基準ＣＲＴの映示信号位置データＳ２
及び測定位置データＳ３に基づいて被検査ＣＲＴ２１の
映示位置を検査及び調整することにより、常に一定基準
の検査及び調整を行うことができる。 【００２７】 【発明の効果】上述のように本発明によれば、被検査表
示手段に表示する測定用パターンの映示位置を補正量に
応じて変化させることができるので、種々の規格でなる
被検査表示手段や当該被検査表示手段の製品誤差に関わ
らず、常に一定基準でかつ一段と正確な映示位置の検査
及び調整を行うことができる。 【００２８】
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による画質検査調整装置の一実施例を示
すブロツク図である。 【符号の説明】 １０……画質検査調整装置、１１……信号発生器、１２
……較正回路、１３……コントロールデバイス、１４…
…記憶装置、１７……補正計算機、１８……表示・検査
判定調整部、２１……被検査ＣＲＴ、２２……撮像カメ
ラ。
すブロツク図である。 【符号の説明】 １０……画質検査調整装置、１１……信号発生器、１２
……較正回路、１３……コントロールデバイス、１４…
…記憶装置、１７……補正計算機、１８……表示・検査
判定調整部、２１……被検査ＣＲＴ、２２……撮像カメ
ラ。
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】所定の測定用パターンを被検査表示手段上
に映示し、上記被検査表示手段を観測してなる画像から
上記測定用パターンの映示位置を測定し、当該映示位置
の基準位置に対する誤差を検査及び調整する画質検査調
整方法において、 基準となる調整済の測定用パターンを較正回路から操作
モニタに映示すると共に、上記映示された測定用パター
ンを基準となる測定用パターン映示位置及び上記測定用
パターンの映示信号位置として記憶装置に記憶し、入力指定された 測定用パターンの映示信号位置に基づい
て信号発生器を制御して被検査表示手段に上記測定用パ
ターンを映示し、 上記被検査表示手段に映示された上記測定用パターンを
測定して得られる測定結果と上記記憶装置に記憶された
上記基準となる測定用パターン映示位置とを比較するこ
とによって補正量を算出し、 上記補正量に基づいて上記被検査表示手段の上記測定用
パターンの映示位置を上記信号発生器により補正するよ
うにしたことを特徴とする画質検査調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34439993A JP3501298B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 画質検査調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34439993A JP3501298B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 画質検査調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07177538A JPH07177538A (ja) | 1995-07-14 |
| JP3501298B2 true JP3501298B2 (ja) | 2004-03-02 |
Family
ID=18368955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34439993A Expired - Fee Related JP3501298B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 画質検査調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3501298B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001309398A (ja) * | 2000-04-18 | 2001-11-02 | Sony Corp | 画像表示装置及び画像表示装置の地磁気による画像の傾き補正方法 |
-
1993
- 1993-12-17 JP JP34439993A patent/JP3501298B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07177538A (ja) | 1995-07-14 |
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