JPH07177538A - 画質検査調整方法及びその装置 - Google Patents
画質検査調整方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH07177538A JPH07177538A JP34439993A JP34439993A JPH07177538A JP H07177538 A JPH07177538 A JP H07177538A JP 34439993 A JP34439993 A JP 34439993A JP 34439993 A JP34439993 A JP 34439993A JP H07177538 A JPH07177538 A JP H07177538A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement pattern
- display means
- inspected
- displayed
- display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】所定の測定用パターンを被検査表示手段上に映
示し、被検査表示手段を観測してなる画像から測定用パ
ターンの映示位置を測定し、当該映示位置の基準位置に
対する誤差を検査する画質検査調整装置において、多様
なＣＲＴ製品に対応し得ると共に一段と正確に画質の検
査及び調整を行う。 【構成】被検査表示手段における測定用パターンの映示
位置を変化し得るようにすることにより、種々の規格で
なる被検査表示手段にそれぞれ対応することができる。
また調整済の基準表示手段に測定用パターンを映示した
際の映示位置の実測値を記憶しておき、被検査表示手段
に測定用パターンを映示した際の映示位置の実測値と基
準表示手段の映示位置との差を算出するようにしたこと
により、一段と正確に映示位置誤差を検査及び調整する
ことができる。
示し、被検査表示手段を観測してなる画像から測定用パ
ターンの映示位置を測定し、当該映示位置の基準位置に
対する誤差を検査する画質検査調整装置において、多様
なＣＲＴ製品に対応し得ると共に一段と正確に画質の検
査及び調整を行う。 【構成】被検査表示手段における測定用パターンの映示
位置を変化し得るようにすることにより、種々の規格で
なる被検査表示手段にそれぞれ対応することができる。
また調整済の基準表示手段に測定用パターンを映示した
際の映示位置の実測値を記憶しておき、被検査表示手段
に測定用パターンを映示した際の映示位置の実測値と基
準表示手段の映示位置との差を算出するようにしたこと
により、一段と正確に映示位置誤差を検査及び調整する
ことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は画質検査調整方法及びそ
の装置に関し、例えば陰極線管（ＣＲＴ）の画質を検査
及び調整する画質検査調整方法及びその装置に適用して
好適なものである。
の装置に関し、例えば陰極線管（ＣＲＴ）の画質を検査
及び調整する画質検査調整方法及びその装置に適用して
好適なものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、ＣＲＴの画質検査及び調整を行う
場合、当該ＣＲＴ上に位置測定用のパターンを映示し、
これを例えば撮像位置が固定された撮像カメラによつて
撮像し、この結果得られる画像に基づいて被検査ＣＲＴ
の映示パターン位置を測定し、当該測定結果と基準位置
のずれ量によつて当該ＣＲＴの画質を検査及び調整する
ようになされている。
場合、当該ＣＲＴ上に位置測定用のパターンを映示し、
これを例えば撮像位置が固定された撮像カメラによつて
撮像し、この結果得られる画像に基づいて被検査ＣＲＴ
の映示パターン位置を測定し、当該測定結果と基準位置
のずれ量によつて当該ＣＲＴの画質を検査及び調整する
ようになされている。
【０００３】このような検査及び調整方法を用いる場
合、被検査ＣＲＴへの映示位置及びその測定位置基準が
固定であるが、被検査ＣＲＴは画枠に対するオーバスキ
ヤン量等の規格が製造機種ごとに異なり、同一パターン
を異なる規格のＣＲＴに表示しても同一位置に表示され
るとは限らず、この場合測定値を作業者が読み替えた
り、測定位置基準を計算により作成し、これを補正デー
タとして使用する等の方法が用いられていた。
合、被検査ＣＲＴへの映示位置及びその測定位置基準が
固定であるが、被検査ＣＲＴは画枠に対するオーバスキ
ヤン量等の規格が製造機種ごとに異なり、同一パターン
を異なる規格のＣＲＴに表示しても同一位置に表示され
るとは限らず、この場合測定値を作業者が読み替えた
り、測定位置基準を計算により作成し、これを補正デー
タとして使用する等の方法が用いられていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところがかかる方法に
よつて画質の検査及び調整を行う場合、位置測定用パタ
ーンの映示位置が固定であるため、例えばアスペクト比
が大きなワイドテレビジヨン受像機又はコンピユータデ
イスプレイ等のように従来のＣＲＴ製品に対して大きく
オーバスキヤン量（又はアンダスキヤン量）の異なるＣ
ＲＴ製品の画質を検査及び調整する場合には、専用の装
置又は専用のプログラムが必要であつた。
よつて画質の検査及び調整を行う場合、位置測定用パタ
ーンの映示位置が固定であるため、例えばアスペクト比
が大きなワイドテレビジヨン受像機又はコンピユータデ
イスプレイ等のように従来のＣＲＴ製品に対して大きく
オーバスキヤン量（又はアンダスキヤン量）の異なるＣ
ＲＴ製品の画質を検査及び調整する場合には、専用の装
置又は専用のプログラムが必要であつた。
【０００５】また検査及び調整用として工場ごとに用意
されている基準信号発生装置と、画質検査及び調整装置
に付属の信号発生装置との微妙な周波数及び位相の違い
等から生じる信号映示位置のずれを吸収し得ない問題が
あつた。
されている基準信号発生装置と、画質検査及び調整装置
に付属の信号発生装置との微妙な周波数及び位相の違い
等から生じる信号映示位置のずれを吸収し得ない問題が
あつた。
【０００６】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、多様なＣＲＴ製品に対応し得ると共に一段と正確に
画質の検査及び調整を行うことができる画質検査方法及
びその装置を提案しようとするものである。
で、多様なＣＲＴ製品に対応し得ると共に一段と正確に
画質の検査及び調整を行うことができる画質検査方法及
びその装置を提案しようとするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、所定の測定用パターンを被検査表
示手段２１上に映示し、被検査表示手段２１を観測して
なる画像から測定用パターンの映示位置を測定し、当該
映示位置の基準位置に対する誤差を検査及び調整する画
質検査調整方法において、基準となる調整済の基準表示
手段に測定用パターンを映示し、映示された測定用パタ
ーンを測定することにより基準となる測定用パターン映
示位置Ｓ３及び測定用パターンの映示信号位置Ｓ２を記
録し、記録された測定用パターンの映示信号位置に基づ
いて被検査表示手段２１に測定用パターンを映示し、被
検査表示手段２１に映示された測定用パターンを測定し
て得られる測定結果Ｓ５と記録された基準となる測定用
パターン映示位置Ｓ３とを比較することによつて補正量
Ｓ６を算出し、補正量に基づいて被検査表示手段２１を
補正するようにする。
め本発明においては、所定の測定用パターンを被検査表
示手段２１上に映示し、被検査表示手段２１を観測して
なる画像から測定用パターンの映示位置を測定し、当該
映示位置の基準位置に対する誤差を検査及び調整する画
質検査調整方法において、基準となる調整済の基準表示
手段に測定用パターンを映示し、映示された測定用パタ
ーンを測定することにより基準となる測定用パターン映
示位置Ｓ３及び測定用パターンの映示信号位置Ｓ２を記
録し、記録された測定用パターンの映示信号位置に基づ
いて被検査表示手段２１に測定用パターンを映示し、被
検査表示手段２１に映示された測定用パターンを測定し
て得られる測定結果Ｓ５と記録された基準となる測定用
パターン映示位置Ｓ３とを比較することによつて補正量
Ｓ６を算出し、補正量に基づいて被検査表示手段２１を
補正するようにする。
【０００８】また本発明においては、所定の測定用パタ
ーンを被検査表示手段２１上に映示し、被検査表示手段
２１を観測してなる画像から測定用パターンの映示位置
を測定し、当該映示位置の基準位置に対する誤差を検査
する画質検査調整装置１０において、測定用パターン信
号映示位置を変更する変更手段１３、１２、１１と、被
検査表示手段２１に映示された映示位置を較正する較正
手段１４、１７とを備えるようにする。
ーンを被検査表示手段２１上に映示し、被検査表示手段
２１を観測してなる画像から測定用パターンの映示位置
を測定し、当該映示位置の基準位置に対する誤差を検査
する画質検査調整装置１０において、測定用パターン信
号映示位置を変更する変更手段１３、１２、１１と、被
検査表示手段２１に映示された映示位置を較正する較正
手段１４、１７とを備えるようにする。
【０００９】
【作用】被検査表示手段２１に実際に映示された状態に
基づいて当該被検査表示手段２１を検査することによ
り、被検査表示手段２１の製品誤差によらず正確に映示
位置を検査することができる。
基づいて当該被検査表示手段２１を検査することによ
り、被検査表示手段２１の製品誤差によらず正確に映示
位置を検査することができる。
【００１０】また基準表示手段の映示信号位置データＳ
２及び測定位置データＳ３に基づいて被検査表示手段２
１の映示位置を検査及び調整することにより、常に一定
基準の検査及び調整を行うことができる。
２及び測定位置データＳ３に基づいて被検査表示手段２
１の映示位置を検査及び調整することにより、常に一定
基準の検査及び調整を行うことができる。
【００１１】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【００１２】図１において１０は全体として画質検査調
整装置を示し、コントロールデバイス１３はオペレータ
によつて入力指定された測定用パターンの映示位置指定
データＳ１を較正回路１２に送出する。較正回路１２は
オペレータによつて指定された位置に測定用パターンを
映示する映示位置データＳ３を信号発生器１１に送出す
ることにより、信号発生器１１は被検査ＣＲＴ２１の指
定位置に測定用パターンを表示する。
整装置を示し、コントロールデバイス１３はオペレータ
によつて入力指定された測定用パターンの映示位置指定
データＳ１を較正回路１２に送出する。較正回路１２は
オペレータによつて指定された位置に測定用パターンを
映示する映示位置データＳ３を信号発生器１１に送出す
ることにより、信号発生器１１は被検査ＣＲＴ２１の指
定位置に測定用パターンを表示する。
【００１３】またこれと同時に較正回路１２は、操作モ
ニタ２０に対して測定用パターンの信号上の位置又は実
際に映示した測定パターン等を表示するようになされて
いる。
ニタ２０に対して測定用パターンの信号上の位置又は実
際に映示した測定パターン等を表示するようになされて
いる。
【００１４】さらに較正回路１２はオペレータによつて
指定された測定用パターンの映示信号の位置を表す映示
信号位置データＳ２を記憶装置１４に送出し、これを記
憶させる。また被検査ＣＲＴ２１において映示された測
定用パターンは撮像位置が固定された撮像カメラ２２に
よつて撮像され、撮像データＳ４を記憶装置１４に送出
すると共に画像処理部１６に送出し、当該画像処理部１
６において画像データに変換されると共に、撮像された
当該画像データから測定用パターンの位置を測定し、こ
れを測定データＳ５として補正計算機１７に送出する。
指定された測定用パターンの映示信号の位置を表す映示
信号位置データＳ２を記憶装置１４に送出し、これを記
憶させる。また被検査ＣＲＴ２１において映示された測
定用パターンは撮像位置が固定された撮像カメラ２２に
よつて撮像され、撮像データＳ４を記憶装置１４に送出
すると共に画像処理部１６に送出し、当該画像処理部１
６において画像データに変換されると共に、撮像された
当該画像データから測定用パターンの位置を測定し、こ
れを測定データＳ５として補正計算機１７に送出する。
【００１５】従つて補正計算機１７は記憶装置１４から
送出された映示信号位置データＳ２及び撮像カメラ２２
から得られる撮像データＳ４に基づいて得られる測定用
パターンの測定位置データＳ３とを画像処理部１６から
送出された測定データＳ５と比較することにより、較正
回路１２によつて指定された映示位置と実際に被検査Ｃ
ＲＴ２１に映示された測定用パターンの映示位置とを比
較し、補正量を計算する。
送出された映示信号位置データＳ２及び撮像カメラ２２
から得られる撮像データＳ４に基づいて得られる測定用
パターンの測定位置データＳ３とを画像処理部１６から
送出された測定データＳ５と比較することにより、較正
回路１２によつて指定された映示位置と実際に被検査Ｃ
ＲＴ２１に映示された測定用パターンの映示位置とを比
較し、補正量を計算する。
【００１６】このようにして得られた補正量データＳ６
は表示・検査判定調整部１８に送出され、当該表示・検
査判定調整部１８において補正量が所定の表示手段に表
示される。この表示をオペレータが観ることによつて被
検査ＣＲＴ２１の偏向波形を調整したり、又は当該補正
データＳ６に基づいて補正量を補正するような調整デー
タを被検査ＣＲＴ２１に直接送出しこれを自動調整す
る。
は表示・検査判定調整部１８に送出され、当該表示・検
査判定調整部１８において補正量が所定の表示手段に表
示される。この表示をオペレータが観ることによつて被
検査ＣＲＴ２１の偏向波形を調整したり、又は当該補正
データＳ６に基づいて補正量を補正するような調整デー
タを被検査ＣＲＴ２１に直接送出しこれを自動調整す
る。
【００１７】因に撮像カメラ２２から出力される撮像デ
ータＳ４は記憶装置１４に入力され、当該記憶装置１４
において撮像データＳ４に基づいて被検査ＣＲＴ２１に
表示された測定用パターン像の輝度情報を抽出し、これ
を信号位置制御部１５を介して信号発生器１１に送出す
ることにより、信号発生器１１は信号輝度制御部１９に
よつて輝度条件を制御し、常に被検査ＣＲＴ２１上に映
示される測定用パターンの輝度条件を一定にすることが
できる。
ータＳ４は記憶装置１４に入力され、当該記憶装置１４
において撮像データＳ４に基づいて被検査ＣＲＴ２１に
表示された測定用パターン像の輝度情報を抽出し、これ
を信号位置制御部１５を介して信号発生器１１に送出す
ることにより、信号発生器１１は信号輝度制御部１９に
よつて輝度条件を制御し、常に被検査ＣＲＴ２１上に映
示される測定用パターンの輝度条件を一定にすることが
できる。
【００１８】また表示・検査判定調整部１８は、補正計
算機１７から出力される補正データＳ６に基づいて映示
位置の補正量を判定したとき、当該判定結果として所定
量以上の大きな補正が必要であるような場合、当該補正
情報データＳ８を信号位置制御部１５に送出することに
より、信号位置制御部１５は被検査ＣＲＴ２１に対する
測定用パターンの映示位置を大きく替えるような位置補
正データＳ９を信号発生器１１に送出することにより、
被検査ＣＲＴ２１の映示位置を補正する。
算機１７から出力される補正データＳ６に基づいて映示
位置の補正量を判定したとき、当該判定結果として所定
量以上の大きな補正が必要であるような場合、当該補正
情報データＳ８を信号位置制御部１５に送出することに
より、信号位置制御部１５は被検査ＣＲＴ２１に対する
測定用パターンの映示位置を大きく替えるような位置補
正データＳ９を信号発生器１１に送出することにより、
被検査ＣＲＴ２１の映示位置を補正する。
【００１９】さらに記憶装置１４は較正回路１２から入
力される映示位置データＳ３に基づいて当該測定用パタ
ーンの映示位置を包含するようなマスキングデータＳ１
０を画像処理部１６に送出することにより、画像処理部
１６は測定用パターンが映示される領域だけの画像デー
タを処理することができる。
力される映示位置データＳ３に基づいて当該測定用パタ
ーンの映示位置を包含するようなマスキングデータＳ１
０を画像処理部１６に送出することにより、画像処理部
１６は測定用パターンが映示される領域だけの画像デー
タを処理することができる。
【００２０】以上の構成において、被検査ＣＲＴ２１と
して予め調整された基準ＣＲＴに対してオペレータが測
定用パターンの映示位置を指定し、これを基準ＣＲＴ上
に映示すると共にこのときの映示信号位置データＳ２及
び撮像カメラ２２によつて得られる測定位置データＳ３
を記憶装置１４に記憶させる。
して予め調整された基準ＣＲＴに対してオペレータが測
定用パターンの映示位置を指定し、これを基準ＣＲＴ上
に映示すると共にこのときの映示信号位置データＳ２及
び撮像カメラ２２によつて得られる測定位置データＳ３
を記憶装置１４に記憶させる。
【００２１】この状態において被検査ＣＲＴ２１をセツ
トし、記憶装置１４に記憶されている映示信号位置デー
タＳ２に基づいて当該被検査ＣＲＴ２１に測定用パター
ンを映示する。このときの映示位置を撮像カメラ２２に
よつて撮像し、測定用パターンの映示位置を画像処理部
１６を介して補正計算機１７に入力する。
トし、記憶装置１４に記憶されている映示信号位置デー
タＳ２に基づいて当該被検査ＣＲＴ２１に測定用パター
ンを映示する。このときの映示位置を撮像カメラ２２に
よつて撮像し、測定用パターンの映示位置を画像処理部
１６を介して補正計算機１７に入力する。
【００２２】補正計算機１７は記憶装置１４に記憶され
ている映示信号位置データＳ２及び測定位置データＳ３
に基づいて被検査ＣＲＴ２１の測定結果を補正するよう
な補正データを算出する。ここで測定位置データＳ３は
基準ＣＲＴにおいて正確な位置に映示された測定用パタ
ーンの位置データであり、このデータに対する補正量は
基準ＣＲＴの映示位置に対する被検査ＣＲＴ２１の映示
位置の差となる。
ている映示信号位置データＳ２及び測定位置データＳ３
に基づいて被検査ＣＲＴ２１の測定結果を補正するよう
な補正データを算出する。ここで測定位置データＳ３は
基準ＣＲＴにおいて正確な位置に映示された測定用パタ
ーンの位置データであり、このデータに対する補正量は
基準ＣＲＴの映示位置に対する被検査ＣＲＴ２１の映示
位置の差となる。
【００２３】従つて当該補正量に基づいて被検査ＣＲＴ
２１の映示位置を補正することにより、例えば各工場に
おいて基準信号に誤差があるような場合においても、常
に基準ＣＲＴと同一位置に測定用パターンを映示するよ
うな補正を行うことができる。
２１の映示位置を補正することにより、例えば各工場に
おいて基準信号に誤差があるような場合においても、常
に基準ＣＲＴと同一位置に測定用パターンを映示するよ
うな補正を行うことができる。
【００２４】またオーバスキヤン量又はアンダスキヤン
量等が異なる製品機種ごとに基準ＣＲＴの映示信号位置
データＳ２及び測定位置データＳ３を記憶装置１４に予
め記憶しておくことにより、各機種ごとに設定された基
準データを用いて被検査ＣＲＴ２１の検査及び調整を行
うことができる。
量等が異なる製品機種ごとに基準ＣＲＴの映示信号位置
データＳ２及び測定位置データＳ３を記憶装置１４に予
め記憶しておくことにより、各機種ごとに設定された基
準データを用いて被検査ＣＲＴ２１の検査及び調整を行
うことができる。
【００２５】かくして以上の構成によれば、被検査ＣＲ
Ｔ２１に実際に映示された状態に基づいて当該被検査Ｃ
ＲＴ２１を検査することにより、被検査ＣＲＴ２１の製
品誤差によらず正確に映示位置を検査することができ
る。
Ｔ２１に実際に映示された状態に基づいて当該被検査Ｃ
ＲＴ２１を検査することにより、被検査ＣＲＴ２１の製
品誤差によらず正確に映示位置を検査することができ
る。
【００２６】また基準ＣＲＴの映示信号位置データＳ２
及び測定位置データＳ３に基づいて被検査ＣＲＴ２１の
映示位置を検査及び調整することにより、常に一定基準
の検査及び調整を行うことができる。
及び測定位置データＳ３に基づいて被検査ＣＲＴ２１の
映示位置を検査及び調整することにより、常に一定基準
の検査及び調整を行うことができる。
【００２７】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、被検査表
示手段における測定用パターンの映示位置を変化し得る
ようにすることにより、種々の規格でなる被検査表示手
段にそれぞれ対応することができる。
示手段における測定用パターンの映示位置を変化し得る
ようにすることにより、種々の規格でなる被検査表示手
段にそれぞれ対応することができる。
【００２８】また調整済の基準表示手段に測定用パター
ンを映示した際の映示位置の実測値を記憶しておき、被
検査表示手段に測定用パターンを映示した際の映示位置
の実測値と基準表示手段の映示位置との差を算出するよ
うにしたことにより、一段と正確に映示位置誤差を検査
及び調整することができる。
ンを映示した際の映示位置の実測値を記憶しておき、被
検査表示手段に測定用パターンを映示した際の映示位置
の実測値と基準表示手段の映示位置との差を算出するよ
うにしたことにより、一段と正確に映示位置誤差を検査
及び調整することができる。
【図１】本発明による画質検査調整装置の一実施例を示
すブロツク図である。
すブロツク図である。
１０……画質検査調整装置、１１……信号発生器、１２
……較正回路、１３……コントロールデバイス、１４…
…記憶装置、１７……補正計算機、１８……表示・検査
判定調整部、２１……被検査ＣＲＴ、２２……撮像カメ
ラ。
……較正回路、１３……コントロールデバイス、１４…
…記憶装置、１７……補正計算機、１８……表示・検査
判定調整部、２１……被検査ＣＲＴ、２２……撮像カメ
ラ。
Claims (2)
- 【請求項１】所定の測定用パターンを被検査表示手段上
に映示し、上記被検査表示手段を観測してなる画像から
上記測定用パターンの映示位置を測定し、当該映示位置
の基準位置に対する誤差を検査及び調整する画質検査調
整方法において、 基準となる調整済の基準表示手段に測定用パターンを映
示し、 上記映示された測定用パターンを測定することにより基
準となる測定用パターン映示位置及び上記測定用パター
ンの映示信号位置を記録し、 上記記録された測定用パターンの映示信号位置に基づい
て被検査表示手段に上記測定用パターンを映示し、 上記被検査表示手段に映示された上記測定用パターンを
測定して得られる測定結果と上記記録された基準となる
測定用パターン映示位置とを比較することによつて補正
量を算出し、 上記補正量に基づいて上記被検査表示手段を補正するよ
うにしたことを特徴とする画質検査調整方法。 - 【請求項２】所定の測定用パターンを被検査表示手段上
に映示し、上記被検査表示手段を観測してなる画像から
上記測定用パターンの映示位置を測定し、当該映示位置
の基準位置に対する誤差を検査する画質検査調整装置に
おいて、 測定用パターン信号映示位置を変更する変更手段と、 上記被検査表示手段に映示された映示位置を較正する較
正手段とを具えることを特徴とする画質検査調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34439993A JP3501298B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 画質検査調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34439993A JP3501298B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 画質検査調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07177538A true JPH07177538A (ja) | 1995-07-14 |
| JP3501298B2 JP3501298B2 (ja) | 2004-03-02 |
Family
ID=18368955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34439993A Expired - Fee Related JP3501298B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 画質検査調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3501298B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100806431B1 (ko) * | 2000-04-18 | 2008-02-21 | 소니 가부시끼 가이샤 | 화상 표시 장치 및 화상 표시 장치의 지자기에 의한화상의 기울기 보정 방법 |
-
1993
- 1993-12-17 JP JP34439993A patent/JP3501298B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100806431B1 (ko) * | 2000-04-18 | 2008-02-21 | 소니 가부시끼 가이샤 | 화상 표시 장치 및 화상 표시 장치의 지자기에 의한화상의 기울기 보정 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3501298B2 (ja) | 2004-03-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100783666B1 (ko) | 컬러 디스플레이 패널을 캘리브레이션하는 보정 방법, 이를 이용한 디스플레이 장치 및 이와 관련된 제조 방법 | |
| KR880010457A (ko) | 콘버젼스 측정 및 보정 판정 방법과 장치 | |
| US5311294A (en) | Method and apparatus for setting the color balance of a color display device | |
| JP2002267574A (ja) | カラー表示装置の測色装置、測色方法、画質調整・検査装置、画質調整・検査方法 | |
| JP3501298B2 (ja) | 画質検査調整方法 | |
| US5077600A (en) | Self-inspecting convergence measuring apparatus | |
| EP1397001B1 (en) | Automatic measurement of video parameters | |
| US4707739A (en) | Automatic calibration circuit for monitoring device | |
| US6124884A (en) | Apparatus for and method of measuring image qualities of color display unit | |
| KR0182515B1 (ko) | 음극선관의 휘도조정장치 및 휘도조정방법 | |
| JPH07229736A (ja) | 三次元計測器校正装置 | |
| KR100188667B1 (ko) | 칼라음극선관의컨버젼스측정및조정방법과그_장치 | |
| JPS586426B2 (ja) | テレビジョン画面自動計測装置 | |
| KR100200831B1 (ko) | 화상 신호용 인쇄 회로 기판의 화상 신호 출력의 검사 조정기 및 이에 의한 검사 조정 방법 | |
| JP3341341B2 (ja) | 偏向ヨーク調整装置 | |
| JP3158617B2 (ja) | 陰極線管のランディング調整装置及び方法 | |
| KR0160609B1 (ko) | 자동 디지탈 콘버젼스 보정방법 | |
| JPS63127691A (ja) | コンバ−ゼンス測定装置 | |
| JPH03119892A (ja) | コンバーゼンス測定装置 | |
| KR100467259B1 (ko) | 텔레비전 수상기의 균일성 보상방법 | |
| JPS61194993A (ja) | 受像管の表示位置調整装置 | |
| JPH1155696A (ja) | 階調特性測定装置 | |
| JPH10136410A (ja) | Ｃｒｔコンバージェンス測定方法 | |
| JPH01102832A (ja) | コンバーゼンス調整装置 | |
| JPS62207081A (ja) | Ｃｒｔ表示画像撮影方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Effective date: 20031127 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 4 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071212 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 5 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081212 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091212 Year of fee payment: 6 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |