JPH0964571A - 電子機器 - Google Patents
電子機器Info
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- JPH0964571A JPH0964571A JP22127195A JP22127195A JPH0964571A JP H0964571 A JPH0964571 A JP H0964571A JP 22127195 A JP22127195 A JP 22127195A JP 22127195 A JP22127195 A JP 22127195A JP H0964571 A JPH0964571 A JP H0964571A
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- JP
- Japan
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- opening
- substrate
- maintenance
- inspection
- cooling air
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 サービスメンテナンス作業時に保守点検用の
開口部を開けても冷却効果の低下により作業に支障を来
さないようにした。 【解決手段】 光磁気ディスクドライブ装置１の装置本
体２内に３枚のスロット式基板１０をそれぞれ配置して
ある。この各スロット式基板１０に対向する装置本体２
の上面及び背面には保守点検用の開口部３Ｂ及び冷却風
供給用の開口部３Ｃを設けてある。この保守点検用の開
口部３Ｂは天板により開閉され、また、冷却風供給用の
開口部３Ｃ側には基板冷却用のファンモータ６を取付け
てある。各スロット式基板１０の上部には各基板１０間
の保守点検用の開口部３Ｂ側を開閉する基板カバー１７
をそれぞれ設けてある。これにより、サービスメンテナ
ンス時に、天板を外しても、基板カバー１７があるた
め、天板の取付け時と同様のファンモータ６による冷却
風の流れがあり、冷却効果が低下しない。
開口部を開けても冷却効果の低下により作業に支障を来
さないようにした。 【解決手段】 光磁気ディスクドライブ装置１の装置本
体２内に３枚のスロット式基板１０をそれぞれ配置して
ある。この各スロット式基板１０に対向する装置本体２
の上面及び背面には保守点検用の開口部３Ｂ及び冷却風
供給用の開口部３Ｃを設けてある。この保守点検用の開
口部３Ｂは天板により開閉され、また、冷却風供給用の
開口部３Ｃ側には基板冷却用のファンモータ６を取付け
てある。各スロット式基板１０の上部には各基板１０間
の保守点検用の開口部３Ｂ側を開閉する基板カバー１７
をそれぞれ設けてある。これにより、サービスメンテナ
ンス時に、天板を外しても、基板カバー１７があるた
め、天板の取付け時と同様のファンモータ６による冷却
風の流れがあり、冷却効果が低下しない。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、保守点検中等で
あっても、内蔵した高熱を発するプリント配線基板を効
率良く冷却できるようにした光磁気ディスクドライブ装
置等の電子機器に関するものである。
あっても、内蔵した高熱を発するプリント配線基板を効
率良く冷却できるようにした光磁気ディスクドライブ装
置等の電子機器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば、業務用のビデオテープレコーダ
（ＶＴＲ）では、高熱を発するプリント配線基板にファ
ンモータ等で集中的に冷却風を流して冷却している。こ
のビデオテープレコーダでは、筐型のレコーダ本体の一
側面に設けられた保守点検用の開口部を蓋体により開閉
自在にして、保守点検等ができるようになっている。ま
た、蓋体等の外装を取り外して使用しても大丈夫なよう
に、ファンモータ仕様の風量と静圧に余裕を持たせてい
る。即ち、ファンモータの羽根を高速回転させたり、フ
ァンモータの羽根形状を大きくしたり、或は、ファンモ
ータの数を増やしたりして使うことができるようになっ
ている。さらに、レコーダ本体に内蔵された複数枚のプ
リント配線基板の全体をポリ塩化ビニル製のシート等で
覆って、上記蓋体を外したときの冷却効果が低下する影
響を少なくしている。
（ＶＴＲ）では、高熱を発するプリント配線基板にファ
ンモータ等で集中的に冷却風を流して冷却している。こ
のビデオテープレコーダでは、筐型のレコーダ本体の一
側面に設けられた保守点検用の開口部を蓋体により開閉
自在にして、保守点検等ができるようになっている。ま
た、蓋体等の外装を取り外して使用しても大丈夫なよう
に、ファンモータ仕様の風量と静圧に余裕を持たせてい
る。即ち、ファンモータの羽根を高速回転させたり、フ
ァンモータの羽根形状を大きくしたり、或は、ファンモ
ータの数を増やしたりして使うことができるようになっ
ている。さらに、レコーダ本体に内蔵された複数枚のプ
リント配線基板の全体をポリ塩化ビニル製のシート等で
覆って、上記蓋体を外したときの冷却効果が低下する影
響を少なくしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のビデオテープレコーダでは、プリント配線基板を効
率良く冷却するために大型のファンモータを使ったり、
ファンモータの数を増やすと、レコーダ本体内における
設置スペースの制約や、コスト的な制約が生じる不利点
があった。また、各プリント配線基板の全体をポリ塩化
ビニル製のシート等で覆って蓋体を外したときの冷却効
果の低下を防ぐようにすると、プリント配線基板の保守
点検等のために上記ポリ塩化ビニル製のシート等を取り
外さなければならないため、サービスメンテナンス作業
が煩雑になると共に、プリント配線基板の電気的な調整
や他の駆動部の動作確認等を行う保守点検中において該
プリント配線基板の冷却効果が著しく低下してサービス
メンテナンス作業に支障を来す不具合があった。
来のビデオテープレコーダでは、プリント配線基板を効
率良く冷却するために大型のファンモータを使ったり、
ファンモータの数を増やすと、レコーダ本体内における
設置スペースの制約や、コスト的な制約が生じる不利点
があった。また、各プリント配線基板の全体をポリ塩化
ビニル製のシート等で覆って蓋体を外したときの冷却効
果の低下を防ぐようにすると、プリント配線基板の保守
点検等のために上記ポリ塩化ビニル製のシート等を取り
外さなければならないため、サービスメンテナンス作業
が煩雑になると共に、プリント配線基板の電気的な調整
や他の駆動部の動作確認等を行う保守点検中において該
プリント配線基板の冷却効果が著しく低下してサービス
メンテナンス作業に支障を来す不具合があった。
【０００４】そこで、この発明は、保守点検時等に蓋体
を開けても、基板の冷却効果の著しい低下を防いで該基
板を効率良く冷却することができる電子機器を提供する
ものである。
を開けても、基板の冷却効果の著しい低下を防いで該基
板を効率良く冷却することができる電子機器を提供する
ものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】機器本体内に基板を配置
し、この基板に対向する該機器本体の所定位置に冷却風
供給用の開口部及び保守点検用の開口部をそれぞれ設
け、上記冷却風供給用の開口部に上記基板を強制的に冷
却させる冷却風発生手段を設ける一方、上記保守点検用
の開口部に蓋体を開閉自在に設けた電子機器において、
上記基板の上記保守点検用の開口部側に該保守点検用の
開口部を開閉する基板カバーを開閉動自在に設けてあ
る。
し、この基板に対向する該機器本体の所定位置に冷却風
供給用の開口部及び保守点検用の開口部をそれぞれ設
け、上記冷却風供給用の開口部に上記基板を強制的に冷
却させる冷却風発生手段を設ける一方、上記保守点検用
の開口部に蓋体を開閉自在に設けた電子機器において、
上記基板の上記保守点検用の開口部側に該保守点検用の
開口部を開閉する基板カバーを開閉動自在に設けてあ
る。
【０００６】保守点検時等において蓋体を外して保守点
検用の開口部を開けても、基板カバーを閉状態にしてお
けば、冷却風発生手段により発生する冷却風が漏れるこ
となく基板に集中的に流れ、冷却効果が低下しない。こ
の状態から基板カバーを開状態にするだけの簡単な作業
により基板の保守点検等が行われ、サービスメンテナン
ス性が向上する。
検用の開口部を開けても、基板カバーを閉状態にしてお
けば、冷却風発生手段により発生する冷却風が漏れるこ
となく基板に集中的に流れ、冷却効果が低下しない。こ
の状態から基板カバーを開状態にするだけの簡単な作業
により基板の保守点検等が行われ、サービスメンテナン
ス性が向上する。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、この発明の具体的な実施の
形態例について図面を参照して説明する。
形態例について図面を参照して説明する。
【０００８】図１〜図８は、この発明の一実施形態例の
光磁気ディスクドライブ装置（電子機器）１を示す。こ
の光磁気ディスクドライブ装置１は、偏平筐型のカート
リッジ本体内に例えば両面使用可能な光磁気ディスク
（記録媒体）Ｄを回転自在に収納したディスクカートリ
ッジＫを用いるものである。この光磁気ディスクドライ
ブ装置１の装置本体（機器本体）２は、金属製の筐型で
前面及び上面側の全面が開口した外筐３と、この外筐３
の前面開口部３Ａを被うようにして該外筐３に取付けら
れた合成樹脂製のフロントパネル４とで構成されてい
る。
光磁気ディスクドライブ装置（電子機器）１を示す。こ
の光磁気ディスクドライブ装置１は、偏平筐型のカート
リッジ本体内に例えば両面使用可能な光磁気ディスク
（記録媒体）Ｄを回転自在に収納したディスクカートリ
ッジＫを用いるものである。この光磁気ディスクドライ
ブ装置１の装置本体（機器本体）２は、金属製の筐型で
前面及び上面側の全面が開口した外筐３と、この外筐３
の前面開口部３Ａを被うようにして該外筐３に取付けら
れた合成樹脂製のフロントパネル４とで構成されてい
る。
【０００９】この外筐３の上面側の開口部が保守点検用
の開口部３Ｂになっていると共に、該外筐３の背面の一
端部側には冷却風供給用の開口部３Ｃを設けてある。こ
の保守点検用の開口部３Ｂには金属製で矩形板状の天板
（蓋体）５を着脱自在に取付けてある。また、上記冷却
風供給用の開口部３Ｃに対向する外筐３の背面の内側に
は軸流ファンモータ（冷却風発生手段）６を取付けてあ
り、該外筐３内の左側壁３ａ側に配置された３枚のスロ
ット式基板１０がそれぞれ強制的に冷却されるようにな
っている。また、フロントパネル４の略中央部には、上
記ディスクカートリッジＫが挿入される横長で矩形のデ
ィスクカートリッジ挿入口４ａを形成してある。このデ
ィスクカートリッジ挿入口４ａは、図２，５に示すよう
に、合成樹脂製のフロントドア７により開閉されるよう
になっている。
の開口部３Ｂになっていると共に、該外筐３の背面の一
端部側には冷却風供給用の開口部３Ｃを設けてある。こ
の保守点検用の開口部３Ｂには金属製で矩形板状の天板
（蓋体）５を着脱自在に取付けてある。また、上記冷却
風供給用の開口部３Ｃに対向する外筐３の背面の内側に
は軸流ファンモータ（冷却風発生手段）６を取付けてあ
り、該外筐３内の左側壁３ａ側に配置された３枚のスロ
ット式基板１０がそれぞれ強制的に冷却されるようにな
っている。また、フロントパネル４の略中央部には、上
記ディスクカートリッジＫが挿入される横長で矩形のデ
ィスクカートリッジ挿入口４ａを形成してある。このデ
ィスクカートリッジ挿入口４ａは、図２，５に示すよう
に、合成樹脂製のフロントドア７により開閉されるよう
になっている。
【００１０】図１，２に示すように、フロントパネル４
の裏面のディスクカートリッジ挿入口４ａに対向する位
置には、光磁気ディスクＤに情報を記録或は再生する記
録・再生部の外筐を構成するシャーシ８を配置してあ
る。このシャーシ８は前面が開口した金属製で筐型にな
っており、該前面の開口部をフロントパネル４のディス
クカートリッジ挿入口４ａに密閉状態で連結してある。
これにより、前記冷却風供給用の開口部３Ｂからの冷却
風（空気の流れ）は、シャーシ８の外側を流れるように
なっている。
の裏面のディスクカートリッジ挿入口４ａに対向する位
置には、光磁気ディスクＤに情報を記録或は再生する記
録・再生部の外筐を構成するシャーシ８を配置してあ
る。このシャーシ８は前面が開口した金属製で筐型にな
っており、該前面の開口部をフロントパネル４のディス
クカートリッジ挿入口４ａに密閉状態で連結してある。
これにより、前記冷却風供給用の開口部３Ｂからの冷却
風（空気の流れ）は、シャーシ８の外側を流れるように
なっている。
【００１１】また、筐型のシャーシ８内には、上記ディ
スクカートリッジＫをスピンドルにより回転するターン
テーブル（ディスク装着部）上にローディングさせるカ
ートリッジホルダ等から成るローディング機構と、この
ターンテーブル上に載置されるディスクカートリッジの
光磁気ディスクＤにレーザー光を照射してその反射光か
ら映像，音声データ等の記録情報を読み取って再生する
光学ピックアップと、この光学ピックアップの対物レン
ズ等を介して光磁気ディスクＤにレーザービームスポッ
トを集光させ、光磁気効果を利用して映像，音声データ
等の情報を光磁気ディスクＤに記録，消去させる外部磁
界ヘッド（いずれも図示しない）等とを、それぞれ配設
してある。各スロット式基板１０は、ネジ止めが必要な
く前後一対のレバー１０ａ，１０ａのみで基板筐体１１
の前，後壁部１１ａ，１１ａ間内に抜き差しができるプ
リント配線基板である。即ち、図６に示すように、各ス
ロット式基板１０は、前後端中央を基板筐体１１の前，
後壁部１１ａ，１１ａ内に設けられた各レール１２に嵌
み込まれ、該各スロット式基板１０の表面の下側の一対
のコネクタ１０ｂ，１０ｂが基板筐体１１の底部１１ｂ
に固定されたマザーボード１３上の一対のコネクタ１
４，１４に嵌合されるようになっている。そして、この
各スロット式基板１０の各コネクタ１０ｂとマザーボー
ド１３の各コネクタ１４との嵌合状態を解除する際に上
記各スロット式基板１０の上側の両コーナ部にピン枢支
された上記一対のレバー１０ａ，１０ａを用いるように
なっている。尚、各スロット式基板１０の表面側には、
高熱を発生するフラットパッケージＩＣ（ＤＳＰ）やパ
ワートランジスタ（ＥＣＬ）等の電子部品がマウントさ
れている。
スクカートリッジＫをスピンドルにより回転するターン
テーブル（ディスク装着部）上にローディングさせるカ
ートリッジホルダ等から成るローディング機構と、この
ターンテーブル上に載置されるディスクカートリッジの
光磁気ディスクＤにレーザー光を照射してその反射光か
ら映像，音声データ等の記録情報を読み取って再生する
光学ピックアップと、この光学ピックアップの対物レン
ズ等を介して光磁気ディスクＤにレーザービームスポッ
トを集光させ、光磁気効果を利用して映像，音声データ
等の情報を光磁気ディスクＤに記録，消去させる外部磁
界ヘッド（いずれも図示しない）等とを、それぞれ配設
してある。各スロット式基板１０は、ネジ止めが必要な
く前後一対のレバー１０ａ，１０ａのみで基板筐体１１
の前，後壁部１１ａ，１１ａ間内に抜き差しができるプ
リント配線基板である。即ち、図６に示すように、各ス
ロット式基板１０は、前後端中央を基板筐体１１の前，
後壁部１１ａ，１１ａ内に設けられた各レール１２に嵌
み込まれ、該各スロット式基板１０の表面の下側の一対
のコネクタ１０ｂ，１０ｂが基板筐体１１の底部１１ｂ
に固定されたマザーボード１３上の一対のコネクタ１
４，１４に嵌合されるようになっている。そして、この
各スロット式基板１０の各コネクタ１０ｂとマザーボー
ド１３の各コネクタ１４との嵌合状態を解除する際に上
記各スロット式基板１０の上側の両コーナ部にピン枢支
された上記一対のレバー１０ａ，１０ａを用いるように
なっている。尚、各スロット式基板１０の表面側には、
高熱を発生するフラットパッケージＩＣ（ＤＳＰ）やパ
ワートランジスタ（ＥＣＬ）等の電子部品がマウントさ
れている。
【００１２】また、図９に示すように、上記各スロット
式基板１０の背面側には電磁波等を遮蔽するシールドカ
バー１５をネジ１６により締結固定してある。この各シ
ールドカバー１５はブリキ板等の金属板により略矩形に
形成してあり、その四方の端部はスロット式基板１０側
にそれぞれ折り曲げ形成してある。また、図１０，図１
１に示すように、各シールドカバー１５の上縁側の前後
には、矩形の孔部（係合部）１５ａ，１５ａを形成して
ある。この一対の孔部１５ａ，１５ａに、各スロット式
基板１０間及び左側壁３ａの上端間を略隙間なく被う基
板カバー１７を開閉動自在に設けてある。
式基板１０の背面側には電磁波等を遮蔽するシールドカ
バー１５をネジ１６により締結固定してある。この各シ
ールドカバー１５はブリキ板等の金属板により略矩形に
形成してあり、その四方の端部はスロット式基板１０側
にそれぞれ折り曲げ形成してある。また、図１０，図１
１に示すように、各シールドカバー１５の上縁側の前後
には、矩形の孔部（係合部）１５ａ，１５ａを形成して
ある。この一対の孔部１５ａ，１５ａに、各スロット式
基板１０間及び左側壁３ａの上端間を略隙間なく被う基
板カバー１７を開閉動自在に設けてある。
【００１３】図９〜１１に示すように、基板カバー１７
はポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）により矩形板状に形成して
あり、その下縁の上記シールドカバー１５の一対の孔部
１５ａ，１５ａに対向する位置に一対の係止片（係止
部）１７ａ，１７ａを所定角度内側に折り曲げ形成して
ある。この各係止片１７ａの中央には三角形状の切欠部
１７ｂを形成してあると共に、その両側には一対の爪部
１７ｃ，１７ｃを一体突出形成してある。この一対の爪
部１７ｃ，１７ｃは上記シールドカバー１５の一対の孔
部１５ａ，１５ａに挿入されて裏側に掛止されることに
より基板カバー１７は抜け止めされてシールドカバー１
５に対して開閉動自在になっている。図１０及び図１２
は、基板カバー１７の閉時の状態、即ち、該基板カバー
１７がスロット式基板１０の上端面に当たって水平状態
を維持している各スロット式基板１０間等を閉じた状態
（保守点検用の開口部３Ｂ側を閉じた状態）を示してい
る。また、図１１及び図１３は、基板カバー１７の開時
の状態、即ち、スロット式基板１０間等を開いた状態
（保守点検用の開口部３Ｂ側を開いた状態）を示してい
る。
はポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）により矩形板状に形成して
あり、その下縁の上記シールドカバー１５の一対の孔部
１５ａ，１５ａに対向する位置に一対の係止片（係止
部）１７ａ，１７ａを所定角度内側に折り曲げ形成して
ある。この各係止片１７ａの中央には三角形状の切欠部
１７ｂを形成してあると共に、その両側には一対の爪部
１７ｃ，１７ｃを一体突出形成してある。この一対の爪
部１７ｃ，１７ｃは上記シールドカバー１５の一対の孔
部１５ａ，１５ａに挿入されて裏側に掛止されることに
より基板カバー１７は抜け止めされてシールドカバー１
５に対して開閉動自在になっている。図１０及び図１２
は、基板カバー１７の閉時の状態、即ち、該基板カバー
１７がスロット式基板１０の上端面に当たって水平状態
を維持している各スロット式基板１０間等を閉じた状態
（保守点検用の開口部３Ｂ側を閉じた状態）を示してい
る。また、図１１及び図１３は、基板カバー１７の開時
の状態、即ち、スロット式基板１０間等を開いた状態
（保守点検用の開口部３Ｂ側を開いた状態）を示してい
る。
【００１４】さらに、図７及び図８に示すように、基板
筐体１１の底部１１ｂに固定されたマザーボード１３の
一対のコネクタ１４，１４には、製造や保守点検用の基
板である延長基板２０を着脱自在にしてある。即ち、延
長基板２０の下縁の前後に取付けられた一対のコネクタ
２１，２１には、マザーボード１３の一対のコネクタ１
４，１４が着脱自在に嵌合されるようになっていると共
に、該延長基板２０の上縁の前後に取付けられた一対の
コネクタ２２，２２には、スロット式基板１０の一対の
コネクタ１０ｂ，１０ｂが着脱自在に嵌合されるように
なっている。これにより、図７，８に示すように、スロ
ット式基板１０を装置本体２の外部まで出して該スロッ
ト式基板１０と延長基板２０とが通電でき、装置本体２
を稼動させた状態で電気的な調整や駆動部の動作確認等
の保守点検ができるようになっている。この際に、図８
に示すように、スロット式基板１０の基板カバー１７を
外すことなく、延長基板２０と接続することができるよ
うになっている。
筐体１１の底部１１ｂに固定されたマザーボード１３の
一対のコネクタ１４，１４には、製造や保守点検用の基
板である延長基板２０を着脱自在にしてある。即ち、延
長基板２０の下縁の前後に取付けられた一対のコネクタ
２１，２１には、マザーボード１３の一対のコネクタ１
４，１４が着脱自在に嵌合されるようになっていると共
に、該延長基板２０の上縁の前後に取付けられた一対の
コネクタ２２，２２には、スロット式基板１０の一対の
コネクタ１０ｂ，１０ｂが着脱自在に嵌合されるように
なっている。これにより、図７，８に示すように、スロ
ット式基板１０を装置本体２の外部まで出して該スロッ
ト式基板１０と延長基板２０とが通電でき、装置本体２
を稼動させた状態で電気的な調整や駆動部の動作確認等
の保守点検ができるようになっている。この際に、図８
に示すように、スロット式基板１０の基板カバー１７を
外すことなく、延長基板２０と接続することができるよ
うになっている。
【００１５】尚、図５に示すように、フロントパネル４
の正面左側には、光磁気ディスクＤを収納したディスク
カートリッジＫを自動的にディスクカートリッジ挿入口
４ａ側に排出するイジェクト釦４Ａと、電源スイッチ４
Ｂを配置してある。また、ディスクカートリッジ挿入口
４ａから空気と共に塵，埃等を吸い込まないように、該
ディスクカートリッジ挿入口４ａ内にはディスクカート
リッジのローディング動作に連動して開閉する図示しな
い前蓋を取付けてある。
の正面左側には、光磁気ディスクＤを収納したディスク
カートリッジＫを自動的にディスクカートリッジ挿入口
４ａ側に排出するイジェクト釦４Ａと、電源スイッチ４
Ｂを配置してある。また、ディスクカートリッジ挿入口
４ａから空気と共に塵，埃等を吸い込まないように、該
ディスクカートリッジ挿入口４ａ内にはディスクカート
リッジのローディング動作に連動して開閉する図示しな
い前蓋を取付けてある。
【００１６】以上の一実施形態例の光磁気ディスクドラ
イブ装置１によれば、装置本体２の冷却風供給用の開口
部３Ｃに取付けられた軸流ファンモータ６により各スロ
ット式基板１０に冷却風を集中して流すことにより、高
熱を発生する該各スロット式基板１０は確実に冷却され
る。その際、光磁気ディスクＤの記録・再生部と成るシ
ャーシ８は密閉構造をとっており、上記冷却風の流れに
対して完全に離隔してあるので、該シャーシ８内に塵，
埃等のゴミが侵入することはなく、非接触型によりデー
タを読み書きする部分の光学ピックアップの対物レンズ
及びデータを保管する光磁気ディスクＤ上に塵，埃等が
付着することはない。
イブ装置１によれば、装置本体２の冷却風供給用の開口
部３Ｃに取付けられた軸流ファンモータ６により各スロ
ット式基板１０に冷却風を集中して流すことにより、高
熱を発生する該各スロット式基板１０は確実に冷却され
る。その際、光磁気ディスクＤの記録・再生部と成るシ
ャーシ８は密閉構造をとっており、上記冷却風の流れに
対して完全に離隔してあるので、該シャーシ８内に塵，
埃等のゴミが侵入することはなく、非接触型によりデー
タを読み書きする部分の光学ピックアップの対物レンズ
及びデータを保管する光磁気ディスクＤ上に塵，埃等が
付着することはない。
【００１７】この軸流ファンモータ６により各スロット
式基板１０を強制空冷する光磁気ディスクドライブ装置
１において、特に装置本体２内を効率良く冷却する場合
において、サービスメンテナンス作業等で図１に示すよ
うに天板５を外して保守点検用の開口部３Ｂを開ける
と、冷却効果が著しく低下する。各スロット式基板１０
に集中して風を流している場合でもサービスメンテナン
ス作業に支障を来すが、各スロット式基板１０の上側に
は図２に示すように各スロット式基板１０間等を遮蔽す
る基板カバー１７が取付けられているので、各スロット
式基板１０に対する冷却効果は低下しない。即ち、サー
ビスメンテナンス作業時に天板５を外して保守点検用の
開口部３Ｂを開けても、閉状態の各基板カバー１７によ
り各スロット式基板１０間等の隙間が閉じられた状態
（各スロット式基板１０に対向する保守点検用の開口部
３Ｂ側が各基板カバー１７により閉じられた天板５を取
付けていると略同じ遮蔽状態）になるので、天板５の取
付時と同様の風の流れが各スロット式基板１０間内には
あり、軸流ファンモータ６による各スロット式基板１０
の冷却効果は低下しない。これにより、天板５を開けた
状態でも各スロット式基板１０の温度上昇が防げ、信頼
性が保たれる。
式基板１０を強制空冷する光磁気ディスクドライブ装置
１において、特に装置本体２内を効率良く冷却する場合
において、サービスメンテナンス作業等で図１に示すよ
うに天板５を外して保守点検用の開口部３Ｂを開ける
と、冷却効果が著しく低下する。各スロット式基板１０
に集中して風を流している場合でもサービスメンテナン
ス作業に支障を来すが、各スロット式基板１０の上側に
は図２に示すように各スロット式基板１０間等を遮蔽す
る基板カバー１７が取付けられているので、各スロット
式基板１０に対する冷却効果は低下しない。即ち、サー
ビスメンテナンス作業時に天板５を外して保守点検用の
開口部３Ｂを開けても、閉状態の各基板カバー１７によ
り各スロット式基板１０間等の隙間が閉じられた状態
（各スロット式基板１０に対向する保守点検用の開口部
３Ｂ側が各基板カバー１７により閉じられた天板５を取
付けていると略同じ遮蔽状態）になるので、天板５の取
付時と同様の風の流れが各スロット式基板１０間内には
あり、軸流ファンモータ６による各スロット式基板１０
の冷却効果は低下しない。これにより、天板５を開けた
状態でも各スロット式基板１０の温度上昇が防げ、信頼
性が保たれる。
【００１８】また、図２に示す状態から、各スロット式
基板１０を保守点検する場合には、保守点検の対象とな
るスロット式基板１０の基板カバー１７だけを図１１に
示すように開動させて該基板カバー１７を開状態にする
だけの簡単な作業により、該スロット式基板１０にテス
トピン等を当ててヘッドからの出力信号（ＲＦ）やサー
ボ信号の調整（ＶＲ調整）等の電気的な調整を簡単に行
うことができる。この際に、他のスロット式基板１０の
基板カバー１７は閉状態であるので、他のスロット式基
板１０の冷却効果への影響はほとんどない。
基板１０を保守点検する場合には、保守点検の対象とな
るスロット式基板１０の基板カバー１７だけを図１１に
示すように開動させて該基板カバー１７を開状態にする
だけの簡単な作業により、該スロット式基板１０にテス
トピン等を当ててヘッドからの出力信号（ＲＦ）やサー
ボ信号の調整（ＶＲ調整）等の電気的な調整を簡単に行
うことができる。この際に、他のスロット式基板１０の
基板カバー１７は閉状態であるので、他のスロット式基
板１０の冷却効果への影響はほとんどない。
【００１９】さらに、図７，８に示すように、延長基板
２０を使って電気的な調整や駆動部の動作確認等の調整
を行う場合には、対象となるスロット式基板１０とマザ
ーボード１３との間に延長基板２０を介在させ、対象と
なるスロット式基板１０の基板カバー１７を外すことな
く延長基板２０を使うことができる。この延長基板２０
を使う場合も、対象となるスロット式基板１０以外のス
ロット式基板１０の基板カバー１７は閉状態であるの
で、対象となるスロット式基板１０以外のスロット式基
板１０の冷却効果への影響はほとんどない。このよう
に、スロット式基板１０の１枚につき、１枚の基板カバ
ー１７を取付けることにより、自己完結した遮蔽が可能
となり、従来のような複数枚の基板全体を覆うシートの
方式に比べ、該シートを取り外す必要がなくなり、サー
ビスメンテナンス作業性の簡易化及び低コスト化をより
一層図ることができる。
２０を使って電気的な調整や駆動部の動作確認等の調整
を行う場合には、対象となるスロット式基板１０とマザ
ーボード１３との間に延長基板２０を介在させ、対象と
なるスロット式基板１０の基板カバー１７を外すことな
く延長基板２０を使うことができる。この延長基板２０
を使う場合も、対象となるスロット式基板１０以外のス
ロット式基板１０の基板カバー１７は閉状態であるの
で、対象となるスロット式基板１０以外のスロット式基
板１０の冷却効果への影響はほとんどない。このよう
に、スロット式基板１０の１枚につき、１枚の基板カバ
ー１７を取付けることにより、自己完結した遮蔽が可能
となり、従来のような複数枚の基板全体を覆うシートの
方式に比べ、該シートを取り外す必要がなくなり、サー
ビスメンテナンス作業性の簡易化及び低コスト化をより
一層図ることができる。
【００２０】尚、前記一実施形態例によれば、電子機器
として光磁気ディスクを用いる光磁気ディスクドライブ
装置について説明したが、電子機器は光磁気ディスクド
ライブ装置に限らず、記録媒体として光ディスク或は磁
気ディスクを用いる他のディスクドライブ装置や、記録
媒体として磁気テープを用いる各種のビデオテープレコ
ーダ（ＶＴＲ）や、ＯＡ機器等の他の電子機器に前記実
施形態例を適用できることは勿論である。
として光磁気ディスクを用いる光磁気ディスクドライブ
装置について説明したが、電子機器は光磁気ディスクド
ライブ装置に限らず、記録媒体として光ディスク或は磁
気ディスクを用いる他のディスクドライブ装置や、記録
媒体として磁気テープを用いる各種のビデオテープレコ
ーダ（ＶＴＲ）や、ＯＡ機器等の他の電子機器に前記実
施形態例を適用できることは勿論である。
【００２１】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、機器
本体内に基板を配置し、この基板に対向する該機器本体
の所定位置に冷却風供給用の開口部及び保守点検用の開
口部をそれぞれ設け、上記冷却風供給用の開口部に上記
基板を強制的に冷却させる冷却風発生手段を設ける一
方、上記保守点検用の開口部に蓋体を開閉自在に設けた
電子機器において、上記基板の上記保守点検用の開口部
側に該保守点検用の開口部を開閉する基板カバーを開閉
動自在に設けたことにより、保守点検時等において蓋体
を外して保守点検用の開口部を開けても、基板カバーを
閉状態にすることにより冷却風発生手段の冷却風を基板
に集中的に送風できて冷却効果が著しく低下することが
ない。また、この基板カバーの閉状態から該基板カバー
を開状態にするだけの簡単な作業により基板の保守点検
作業等を簡単に行うことができ、信頼性の高い電子機器
を低コストで提供することができる。
本体内に基板を配置し、この基板に対向する該機器本体
の所定位置に冷却風供給用の開口部及び保守点検用の開
口部をそれぞれ設け、上記冷却風供給用の開口部に上記
基板を強制的に冷却させる冷却風発生手段を設ける一
方、上記保守点検用の開口部に蓋体を開閉自在に設けた
電子機器において、上記基板の上記保守点検用の開口部
側に該保守点検用の開口部を開閉する基板カバーを開閉
動自在に設けたことにより、保守点検時等において蓋体
を外して保守点検用の開口部を開けても、基板カバーを
閉状態にすることにより冷却風発生手段の冷却風を基板
に集中的に送風できて冷却効果が著しく低下することが
ない。また、この基板カバーの閉状態から該基板カバー
を開状態にするだけの簡単な作業により基板の保守点検
作業等を簡単に行うことができ、信頼性の高い電子機器
を低コストで提供することができる。
【図１】この発明の一実施形態例を示す光磁気ディスク
ドライブ装置の天板を開けた状態を示す平面図。
ドライブ装置の天板を開けた状態を示す平面図。
【図２】上記光磁気ディスクドライブ装置の内部（基板
を内蔵してある部分）が部分的に見れるようにした状態
の正面図。
を内蔵してある部分）が部分的に見れるようにした状態
の正面図。
【図３】上記光磁気ディスクドライブ装置の内部（基板
を内蔵してある部分）が部分的に見れるようにした状態
の側面図。
を内蔵してある部分）が部分的に見れるようにした状態
の側面図。
【図４】上記光磁気ディスクドライブ装置の背面図。
【図５】上記光磁気ディスクドライブ装置のフロントド
アが開いた状態を示す正面図。
アが開いた状態を示す正面図。
【図６】上記光磁気ディスクドライブ装置に用いられる
スロット式基板等の側面図。
スロット式基板等の側面図。
【図７】上記スロット式基板と延長基板との連結状態を
示す側面図。
示す側面図。
【図８】上記スロット式基板と延長基板との連結状態を
示す正面図。
示す正面図。
【図９】上記スロット式基板とシールドカバーとを分解
した状態を示す斜視図。
した状態を示す斜視図。
【図１０】（ａ）は、上記シールドカバーと基板カバー
の閉時の状態を示す部分正面図、（ｂ）は同状態の部分
側面図。
の閉時の状態を示す部分正面図、（ｂ）は同状態の部分
側面図。
【図１１】（ａ）は、上記シールドカバーと基板カバー
の開時の状態を示す部分正面図、（ｂ）は同状態の部分
側面図。
の開時の状態を示す部分正面図、（ｂ）は同状態の部分
側面図。
【図１２】上記光磁気ディスクドライブ装置に内蔵され
た複数枚の基板の各基板カバーを閉じた状態を示す斜視
図。
た複数枚の基板の各基板カバーを閉じた状態を示す斜視
図。
【図１３】上記光磁気ディスクドライブ装置に内蔵され
た複数枚の基板の各基板カバーを開いた状態を示す斜視
図。
た複数枚の基板の各基板カバーを開いた状態を示す斜視
図。
１…光磁気ディスクドライブ装置（電子機器） ２…装置本体（機器本体） ３Ｂ…保守点検用の開口部 ３Ｃ…冷却風供給用の開口部 ５…天板（蓋体） ６…ファンモータ（冷却風発生手段） １０…基板 １７…基板カバー
Claims (2)
- 【請求項１】 機器本体内に基板を配置し、 この基板に対向する該機器本体の所定位置に冷却風供給
用の開口部及び保守点検用の開口部をそれぞれ設け、 上記冷却風供給用の開口部に上記基板を強制的に冷却さ
せる冷却風発生手段を設ける一方、 上記保守点検用の開口部に蓋体を開閉自在に設けた電子
機器において、 上記基板の上記保守点検用の開口部側に該保守点検用の
開口部を開閉する基板カバーを開閉動自在に設けたこと
を特徴とする電子機器。 - 【請求項２】 請求項１記載の電子機器において、 上記機器本体内の上記冷却風供給用の開口部に対向する
位置に複数枚の基板をそれぞれ配置し、 この各基板に該各基板間の上記保守点検用の開口部側を
開閉する基板カバーをそれぞれ開閉動自在に設けたこと
を特徴とする電子機器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22127195A JPH0964571A (ja) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | 電子機器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22127195A JPH0964571A (ja) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | 電子機器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0964571A true JPH0964571A (ja) | 1997-03-07 |
Family
ID=16764167
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22127195A Pending JPH0964571A (ja) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | 電子機器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0964571A (ja) |
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009129381A3 (en) * | 2008-04-17 | 2010-01-14 | Teradyne, Inc. | Storage device emulator and method of use thereof |
| US8964361B2 (en) | 2010-07-21 | 2015-02-24 | Teradyne, Inc. | Bulk transfer of storage devices using manual loading |
| US9001456B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Teradyne, Inc. | Engaging test slots |
| US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
| US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
| US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
-
1995
- 1995-08-30 JP JP22127195A patent/JPH0964571A/ja active Pending
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009129381A3 (en) * | 2008-04-17 | 2010-01-14 | Teradyne, Inc. | Storage device emulator and method of use thereof |
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US8964361B2 (en) | 2010-07-21 | 2015-02-24 | Teradyne, Inc. | Bulk transfer of storage devices using manual loading |
| US9001456B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Teradyne, Inc. | Engaging test slots |
| US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
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| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
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