JPH0964000A - ドライ洗浄装置 - Google Patents

ドライ洗浄装置

Info

Publication number
JPH0964000A
JPH0964000A JP21070095A JP21070095A JPH0964000A JP H0964000 A JPH0964000 A JP H0964000A JP 21070095 A JP21070095 A JP 21070095A JP 21070095 A JP21070095 A JP 21070095A JP H0964000 A JPH0964000 A JP H0964000A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clean gas
cleaned
substrate
plate
nozzle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP21070095A
Other languages
English (en)
Inventor
Mikio Takebayashi
幹男 竹林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP21070095A priority Critical patent/JPH0964000A/ja
Publication of JPH0964000A publication Critical patent/JPH0964000A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 板状被洗浄体表面の数μm以下のダストを除
去することができるドライ洗浄装置の提供。 【構成】 板状被洗浄体6を保持し、かつ超音波振動す
るステージ1と、板状被洗浄体6の表面にクリーン気体
を吹きつけ、かつ板状被洗浄体6に対して相対的に可動
であるノズル4とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は製造工程において微細な
ダストをきらう液晶パネル、光ディスク、半導体基板な
どの洗浄装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図5は従来の洗浄装置の概略図である。
図5の装置によって、基板41が洗浄されるが、先ず基
板41の表面をブラシ42で水洗を加えたブラシ洗浄を
行った後、水ノズル43の水流を利用してさらに水洗
し、水シャワー44で水リンスを行った後、エアーノズ
ル45からのクリーンエアを吹出し基板41を乾燥し
て、洗浄を完了している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の洗
浄装置は水を使うため、装置の構造が複雑となり、設備
コストも高くなると共に、乾燥のための時間と設備コス
トが大となる、という問題がある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のドライ洗浄装置
は、上記課題を解決するため、板状被洗浄体を保持し、
かつ超音波振動するステージと、板状被洗浄体の表面に
クリーン気体を吹きつけ、かつ板状被洗浄体に対して相
対的に可動であるノズルとを備えたことを特徴とする。
【0005】本発明において、板状被洗浄体を保持する
手段が真空吸着手段であることが好適である。
【0006】又本発明において、ノズルの先端面と板状
被洗浄体の表面との間のギャップに形成されるクリーン
気体の流路の断面積がノズル中のクリーン気体の流路の
断面積より小さくなるように、前記ギャップを設定した
構成とすることが好適である。
【0007】更に本発明において、板状被洗浄体の全面
にノズルのクリーン気体に比較し低圧のクリーン気体を
供給すると共に、板状被洗浄体の全面を覆うようにカッ
プ状に形成されたクリーン気体供給手段を備えた構成と
することが好適である。
【0008】
【作用】本発明によれば、ステージを超音波振動させる
ことによって、ステージに真空吸着手段等で保持された
板状被洗浄体のごく表面の空気の層を板状被洗浄体から
離脱させやすくでき、従ってクリーン気体の板状被洗浄
体表面への到達を容易にすることができる。クリーン気
体が板状被洗浄体の表面に達することで、数μm以下の
寸法のダストをクリーン気体の風圧で吹き飛ばすことが
できる。そしてノズルが板状被洗浄体上を相対移動する
ことによって、板状被洗浄体の全面を洗浄でき、薄膜工
程における基板などのように比較的汚れが軽微なものを
被洗浄体とするものに対しては、完全ドライ方式で、必
要十分な洗浄を行うことができる。
【0009】又上記発明に加えて、請求項3に記載する
ように、ノズルの先端面と板状被洗浄体との間のギャッ
プを小さくすることで、板状被洗浄体の表面上でのクリ
ーン気体の流れを前記表面に対して平行に近づけること
ができ、ダストを吹き飛ばす効率を高めることができ
る。
【0010】更に上記発明に加えて、請求項4に記載す
るカップ状のクリーン気体供給手段によって、板状被洗
浄体を含む空間全体に低圧のクリーン気体を供給するこ
とにより、ノズルによって吹き飛ばされたダストの再付
着を防止して、より一層の洗浄効果を高めることができ
る。
【0011】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照して説明する。
【0012】図1及び図2は本発明の第1実施例を示し
ている。図1及び図2において、1は基板(板状被洗浄
体)6を真空吸着し、かつ超音波振動するステージであ
る。
【0013】2はステージ1を超音波振動させる超音波
振動子である。3は基板6をステージ1に真空吸着させ
る基板吸着用真空ホースであり、真空ポンプ(図示省
略)に接続されている。4は基板6上にクリーン気体を
吹きかける高圧ノズルで、配管31を介してコンプレッ
サ32に接続されている。このノズル4は基板6上を一
定間隔を保ってXY方向に移動し、基板6の全面にクリ
ーン気体を吹き付けるように構成されている。5は高圧
ノズル4に供給されるクリーン気体のダストを除去する
ためのフィルターであって、前記配管31上に配設され
ている。7はステージ1の上に凹設された基板6を真空
吸着するための吸着用真空溝であって、図2に示すよう
に田字状に形成され、かつ前記真空ホース3に接続され
ている。
【0014】図1に示すように、基板6をステージ1上
に配置したのち基板吸着用真空ホース3より真空排気し
て、吸着用真空溝7を真空にすることで基板6をステー
ジ1に密着保持することができる。次に超音波振動子2
を駆動させて、ステージ1を超音波振動させるとステー
ジ1に密着している基板6も同様に超音波振動する。
【0015】すると基板6の表面付近の空気も超音波振
動の影響を受けて基板6の表面から剥離しやすい状態と
なる。超音波振動子2の駆動と同時に高圧ノズル4より
約5kg/cm2 (ゲージ圧)の圧力の窒素をフィルター
5を介して供給すると、窒素は基板6表面に達して基板
6表面に付着している数μm以下のダストを吹き飛ばす
ものである。
【0016】なお、本実施例ではクリーン気体として圧
力5kg/cm2 の窒素を用いたが、高圧であればあるほ
どダスト除去能力は高くなる。またダストが混入してい
なければ窒素でなくとも良く、ろ過した空気を用いても
同様の効果がある。
【0017】この状態で基板6上を高圧ノズル4が移動
していくことで基板6上の全てのダストが除去できる。
【0018】次に本発明の第2実施例を図3を参照して
説明する。この第2実施例は、ノズル4の先端面4aを
基板6に平行に広い面積となるように形成すると共に、
ノズル4の先端面4aと基板6の表面との間のギャップ
Gに形成されるクリーン気体の流路断面積がノズル4中
のクリーン気体の流路31aの断面積より小さくなるよ
うに、ノズル4の先端面4aを基板6に近付けて配設し
た点に特徴があり、その他の構成は第1実施例と同様で
ある。従って第1実施例と共通する構成は、図3に共通
符号を付して、その説明を省略する。
【0019】第2実施例によれば、クリーン気体が基板
6の表面に対して平行に流れることになりダストを外側
方に吹き飛ばすことになり、ダスト除去能力が一層向上
する。
【0020】本実施例の場合、ノズル4の中のクリーン
気体の流路31aの断面積はおよそ27mm2 であり、
ノズル4と基板6との間に形成されるギャップGは、
1.2mmであり、ギャップGに形成されるクリーン気
体の流路の断面積はおよそ22mm2 である。ギャップ
Gは1.5mm以下であると好適である。
【0021】次に本発明の第3実施例を図4を参照して
説明する。この第3実施例は基板6の全面にノズル4の
クリーン気体に比較し低圧のクリーン気体を供給すると
共に、基板6の全面を覆うようにカップ状に形成された
クリーン気体供給手段8を備えた点に特徴があり、その
他の構成は第2実施例と同様である。従って第2実施例
と共通する構成は、図4に共通符号を付して、その説明
を省略する。
【0022】図4において、9は低圧クリーン気体をク
リーン気体供給手段8に送るホース、10は整流板であ
る。
【0023】第3実施例によれば、クリーン気体供給手
段8にクリーン気体を供給して、内部の整流板10を介
して基板6を含む空間全体に約0.3m/s〜0.5m
/sの流速のクリーン気体(窒素や空気)の流れを作り
出すことができる。
【0024】前記ノズル4には5kg/cm2 程度のクリ
ーン気体が供給されているので、クリーン気体によって
除去されたダストが周辺の乱気流の中を浮遊している
が、これらダストをクリーン気体供給手段8からのクリ
ーン気体の流れによって外側方に導くことができる。又
ノズル4からのクリーン気体の吹き出しを停止したと
き、ダストが空間に浮遊しているが、クリーン気体供給
手段8の作動を続行することにより、クリーン気体供給
手段8からのクリーン気体の流れによって前記ダストを
外側方に持ち去ることができ、基板6上へのダストの再
付着を防止できる。
【0025】
【発明の効果】本発明によれば、板状被洗浄体を超音波
振動させておいてクリーン気体を吹きつけることで、板
状被洗浄体表面の数μm以下のダストを除去することが
でき、低コストの設備で乾燥工程が不要な完全ドライ方
式の洗浄を効果的に行うことができる。
【0026】又本発明において請求項3に記載するよう
に構成すれば、ダスト除去性を一層向上させることがで
きる。
【0027】更に本発明において請求項4に記載するよ
うに構成すれば、上記効果に加えて、除去したダストの
板状被洗浄体への再付着を一層確実に防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を示す概略一部切断正面
図。
【図2】そのステージを示す概略平面図。
【図3】本発明の第2実施例を示す概略一部切断正面
図。
【図4】本発明の第3実施例を示す概略一部切断正面
図。
【図5】従来例の概略図。
【符号の説明】
1 ステージ 2 超音波振動子 4 ノズル 4a ノズルの先端面 6 基板(板状被洗浄体) 8 クリーン気体供給手段 G ギャップ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 板状被洗浄体を保持し、かつ超音波振動
    するステージと、板状被洗浄体の表面にクリーン気体を
    吹きつけ、かつ板状被洗浄体に対して相対的に可動であ
    るノズルとを備えたことを特徴とするドライ洗浄装置。
  2. 【請求項2】 板状被洗浄体を保持する手段が真空吸着
    手段である請求項1記載のドライ洗浄装置。
  3. 【請求項3】 ノズルの先端面と板状被洗浄体の表面と
    の間のギャップに形成されるクリーン気体の流路の断面
    積がノズル中のクリーン気体の流路の断面積より小さく
    なるように、前記ギャップを設定したことを特徴とする
    請求項1又は2記載のドライ洗浄装置。
  4. 【請求項4】 板状被洗浄体の全面にノズルのクリーン
    気体に比較し低圧のクリーン気体を供給すると共に、板
    状被洗浄体の全面を覆うようにカップ状に形成されたク
    リーン気体供給手段を備えたことを特徴とする請求項
    1、2又は3記載のドライ洗浄装置。
JP21070095A 1995-08-18 1995-08-18 ドライ洗浄装置 Pending JPH0964000A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21070095A JPH0964000A (ja) 1995-08-18 1995-08-18 ドライ洗浄装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21070095A JPH0964000A (ja) 1995-08-18 1995-08-18 ドライ洗浄装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0964000A true JPH0964000A (ja) 1997-03-07

Family

ID=16593654

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21070095A Pending JPH0964000A (ja) 1995-08-18 1995-08-18 ドライ洗浄装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0964000A (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6565669B1 (en) * 2000-10-31 2003-05-20 Intel Corporation Vibrating wafer particle cleaner
KR100440380B1 (ko) * 2001-01-16 2004-07-14 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 드라이 세정장치
KR100669865B1 (ko) * 2000-07-25 2007-01-16 삼성전자주식회사 이물질 세척장치를 구비한 반도체 제조 장치
US20100037820A1 (en) * 2008-08-13 2010-02-18 Synos Technology, Inc. Vapor Deposition Reactor
US8691669B2 (en) 2008-08-13 2014-04-08 Veeco Ald Inc. Vapor deposition reactor for forming thin film
US8840958B2 (en) 2011-02-14 2014-09-23 Veeco Ald Inc. Combined injection module for sequentially injecting source precursor and reactant precursor
US8851012B2 (en) 2008-09-17 2014-10-07 Veeco Ald Inc. Vapor deposition reactor using plasma and method for forming thin film using the same
US8871628B2 (en) 2009-01-21 2014-10-28 Veeco Ald Inc. Electrode structure, device comprising the same and method for forming electrode structure
US8877300B2 (en) 2011-02-16 2014-11-04 Veeco Ald Inc. Atomic layer deposition using radicals of gas mixture
US8895108B2 (en) 2009-02-23 2014-11-25 Veeco Ald Inc. Method for forming thin film using radicals generated by plasma
US9163310B2 (en) 2011-02-18 2015-10-20 Veeco Ald Inc. Enhanced deposition of layer on substrate using radicals
CN105170575A (zh) * 2015-09-22 2015-12-23 桂林市鑫隆机电工程有限责任公司 一种设备干燥洁净装置

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100669865B1 (ko) * 2000-07-25 2007-01-16 삼성전자주식회사 이물질 세척장치를 구비한 반도체 제조 장치
US6565669B1 (en) * 2000-10-31 2003-05-20 Intel Corporation Vibrating wafer particle cleaner
KR100440380B1 (ko) * 2001-01-16 2004-07-14 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 드라이 세정장치
US20100037820A1 (en) * 2008-08-13 2010-02-18 Synos Technology, Inc. Vapor Deposition Reactor
US8691669B2 (en) 2008-08-13 2014-04-08 Veeco Ald Inc. Vapor deposition reactor for forming thin film
US8851012B2 (en) 2008-09-17 2014-10-07 Veeco Ald Inc. Vapor deposition reactor using plasma and method for forming thin film using the same
US8871628B2 (en) 2009-01-21 2014-10-28 Veeco Ald Inc. Electrode structure, device comprising the same and method for forming electrode structure
US8895108B2 (en) 2009-02-23 2014-11-25 Veeco Ald Inc. Method for forming thin film using radicals generated by plasma
US8840958B2 (en) 2011-02-14 2014-09-23 Veeco Ald Inc. Combined injection module for sequentially injecting source precursor and reactant precursor
US8877300B2 (en) 2011-02-16 2014-11-04 Veeco Ald Inc. Atomic layer deposition using radicals of gas mixture
US9163310B2 (en) 2011-02-18 2015-10-20 Veeco Ald Inc. Enhanced deposition of layer on substrate using radicals
CN105170575A (zh) * 2015-09-22 2015-12-23 桂林市鑫隆机电工程有限责任公司 一种设备干燥洁净装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20050044653A1 (en) Cleaning apparatus and cleaning method
KR100392243B1 (ko) 웨이퍼 세정 방법
WO2005059984A1 (ja) 基板付着物除去方法および基板乾燥方法並びにそれら方法を用いた基板付着物除去装置および基板乾燥装置
US5927308A (en) Megasonic cleaning system
JPH0964000A (ja) ドライ洗浄装置
WO2006040993A1 (ja) 超音波洗浄装置
JP5726769B2 (ja) パーティクル汚染物質除去の方法
JPS6210014B2 (ja)
JP2008288541A (ja) 枚葉式洗浄装置
KR100883280B1 (ko) 평판 디스플레이 글라스의 표면에 부착된 이물질을제거하기 위한 공진을 이용한 초음파 세정장치 및 세정방법
JP4255818B2 (ja) 超音波洗浄用ノズル及び超音波洗浄装置
JP2002045807A (ja) 基板洗浄方法およびその装置
JPH08141529A (ja) パーティクル除去方法及びその装置
JP2009170709A (ja) 基板の処理装置及び処理方法
JPH1064868A (ja) 基板洗浄装置および基板洗浄方法
JP2002166239A (ja) 基板洗浄方法
JP3655994B2 (ja) 除塵装置
JP2850887B2 (ja) ウエーハの洗浄方法及びその装置
JPS59150584A (ja) 半導体ウエハの超音波洗浄方法
JPH03169012A (ja) 半導体基板異物除去装置
JP2001079505A (ja) 吸引ノズル装置
JP2004167377A (ja) 超音波洗浄機
JPH076991A (ja) 被洗浄基板の洗浄方法およびその装置
JPH11143054A (ja) ペリクル膜の洗浄方法
JPH03258381A (ja) 超音波洗浄機