JP4255818B2 - 超音波洗浄用ノズル及び超音波洗浄装置 - Google Patents

超音波洗浄用ノズル及び超音波洗浄装置 Download PDF

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Description

本発明は、半導体製造装置、液晶表示装置の基板製造装置等に用いられ、液晶表示装置用角形ガラス基板、カラーフィルタ用ガラス基板、フォトマスク用基板、サーマルヘッド用セラミック基板、プリント基板、半導体ウエハ、フィルム基板、金属フープ材及び電子部品等の基材表面を洗浄処理に用いられる超音波洗浄用ノズル及びこれを備えた超音波洗浄装置に関する。
洗浄装置の一種として、基材に現像、エッチング、剥離等を施す処理装置の適所に設けられ、基材処理で使用される処理液の除去や基材表面の清浄化を行うものがある。
このような洗浄装置として、底面に振動子を設けた槽タイプのものがある。槽タイプの洗浄装置は、約20kHz〜2MHzの広い範囲の周波数帯の超音波を用い、槽内で基材の洗浄処理がなされるものである。洗浄処理する基材の汚染物は、指紋やパーティクル等である。
他の洗浄装置としては、図16に示すようなものがある(例えば、特許文献1参照)。この洗浄装置は、超音波洗浄部本体101内に満たされた洗浄液に本体101内に設けられた振動子104により約800kHz〜3MHzの比較的高い周波数の超音波振動を付与し、スリット状の吐出口107から超音波振動が付与された洗浄液110を、吐出口107の下方を複数の搬送ローラ(図示略)によって水平に移動する基板(基材)100の幅方向にカーテン状に供給し、基板100に付着しているパーティクルを除去するものである。また、吐出口107は、1mm幅程度とされている。
さらに、他の洗浄装置として、図17に示すようなものがある(例えば、特許文献2参照)。
この洗浄装置では、広範囲の大きさのパーティクルの除去を目的として、スポット型の超音波ノズル部115から20kHz〜700kHzの低周波数帯の超音波振動が加えられた洗浄液120を基板(基材)200に向けて吐出して超音波洗浄処理を行うものである。なお、図17中、符号116は超音波ノズル部内に備えられた振動子である。
特開平10−209104号公報 特開平10−64868号公報
従来の槽タイプの洗浄装置を用いる洗浄では、広い周波数帯(20kHz〜2MHz)を用いることができ、極めて汚染がひどい加工後の素ガラス基板等を洗浄する場合には、適当な洗浄液と低周波数帯(28kHz、40kHzといった周波数)の超音波を付与させて洗浄している。また、回路を形成した液晶表示装置用角形ガラス基板の洗浄には、回路を形成している金属膜等が劣化しないように、洗浄力は弱いが均一に洗浄できる高周波帯(メガソニック)の超音波を付与している。
しかしながら従来の槽タイプの洗浄装置を用いる場合は、一旦落ちたパーティクルが槽内に拡散し、再付着しやすいため、高清浄な表面が得難い。また、低周波帯を用いた超音波洗浄では、洗浄むらが出やすくその対策として基板の揺動が必須となり、槽の大型化等につながり、結果として洗浄装置が大型なものになってしまう。また、従来の槽タイプの装置を用いる洗浄では、基板が大きくなると、槽の底(振動板に近い部分)と槽の最上部で、音圧差が発生し、均一な洗浄はできないという問題があった。
比較的付着力の小さいパーティクルを比較的均一に除去する場合は、高周波帯の超音波を付与する図16に示す洗浄装置が用いられるが、この洗浄装置は、基材と接触面積の大きいパーティクルの場合やサブミクロンのパーティクルや指紋等の比較的強固な汚れの除去はできないという問題があり、また、洗浄液は1リットル/分・cm(吐出口単位長さ当たり)程度使用しなければならなかった。
上記のような強固な汚れには、低周波帯(約20kHz〜200kHz)の超音波を付与する図17に示す洗浄装置が用いられるが、低周波帯の超音波を効率良く吐出口121の下流に伝えるためには、その洗浄液吐出口121の径を10mm以上と大きくしなければならず、従って洗浄液も7リットル/分以上となり、洗浄液使用量が図16のようにメガヘルツ帯の超音波が付与された洗浄液を吐出する吐出口107を有する装置の10倍以上になってしまう。
また、1m幅の基板に付着しているパーティクルを除去する場合に、図16に示すような1mm幅の吐出口107を備えた洗浄装置を適用すると、100リットル/分といった大量の洗浄液を使用せざるを得ず、現実の製造工程に組み込むのは、使用する洗浄液の重量も考慮に入れると困難であった。
従って、従来の洗浄装置では、吐出口の開口径が大きいために、洗浄液の使用量が多くなってしまい、逆に開口径を小さくすると、超音波が洗浄液に伝わらない。
特に、洗浄液に付与する超音波が低周波になる程、必要開口径が大きくなり、その結果、400kHz以下の超音波を洗浄液に付与する洗浄装置で実用的な水量範囲のものは実現されていなかった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、洗浄液に低周波帯(約20kHz〜200kHz)の超音波を付与することにより被処理物に付着した強固な汚染を除去することが可能であり、約20kHz〜10MHzの広範囲の周波数帯の超音波を洗浄液に付与することも可能で、しかも少ない洗浄液で均一に洗浄処理を施すことが可能な超音波洗浄装置の提供を目的とする。
本発明の超音波洗浄用ノズルは、振動板と、該振動板に固着された超音波振動子と、前記振動板の振動子固着面と反対側面に空間を隔てて対向する底板と、前記空間に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、前記底板に形成された開口部に設けられた多数の孔を形成した整流板とからなり、前記整流板の板厚は5μm以上、λ/10以下の範囲(前記λは前記超音波振動子から発振される超音波振動の整流板構成物質内の波長)とされ、前記整流板は外側に凸状であって、多数の孔が形成された孔形成領域と、該孔形成領域の外側に孔を形成していない領域を有しており、前記孔形成領域は前記超音波振動子の幅より小さい径を有する円形状または前記超音波振動子の幅より小さい幅の短辺を有する矩形状であり、前記空間に供給された洗浄液に前記超音波振動子から発振した超音波振動を付与した超音波洗浄液が、前記開口部から漏斗状の連続した流れとして流出するように制御できる制御手段が設けられたことを特徴とする。
本発明の超音波洗浄用ノズルでは、振動板と、該振動板に固着された超音波振動子と、前記振動板の振動子固着面と反対側面に空間を隔てて対向する底板と、前記空間に洗浄液を供給する洗浄液供給手段が備えられたことにより、上記空間部に供給された洗浄液に低周波帯から高周波帯に亘る広範囲の周波数帯(約20kHz〜200kHz)の超音波振動を付与することができる。
また、外側に凸状であって、多数の孔が形成された孔形成領域と、該孔形成領域の外側に孔を形成していない領域を有してなる整流板が設けられたことにより、上記開口部の面積に対して洗浄液が流出する部分の面積を狭くすることができるので、充分な洗浄力が得られ、しかも洗浄液の使用量を抑えることができる。また、洗浄液に付与する超音波が400kHz以下になっても、上記開口部の幅や孔径を大きくしなくても済むので、実用的な液量範囲の超音波洗浄用ノズルを実現できる。
また、整流板の孔形成領域として前記超音波振動子の幅より小さい径を有する円形状または超音波振動子の幅より小さい幅の短辺を有する矩形状とし、
上記底板の開口部に設けられた整流板の孔径、整流板の開口率や厚さ、洗浄液供給手段から上記空間に供給する洗浄液の流量等を制御することにより、上記空間に供給された洗浄液を上記開口部から連続した流れとして流出させることができ、また、上記開口部から流出する洗浄液の液型を漏斗状の所望の液形にすることができる。
また、上記底板の開口部に上記整流板が設けられたことにより、洗浄液が流出する部分が狭くなるが、上記整流板の板厚がλ/10以下の範囲にされたことにより、超音波振動を伝播させ、上記開口部から連続した流れとして流出する洗浄液に超音波振動を付与することができる。
つまり、本発明の超音波洗浄用ノズルでは、上記整流板の直下に洗浄液が連続した流れとして流出するようにして、かつ、整流板の厚みを薄くすることにより、整流板の直下に存在する洗浄液に超音波振動が整流板で反射されることなく、透過して超音波振動が付与されるようにしている。
本発明の超音波洗浄用ノズルにおいて、前記整流板外側に凸状である構成とすることで、上記整流板が平板である場合よりも洗浄液を整流板中央付近に集め易くなり、上記開口部から流出する洗浄液の液型を漏斗状等の先窄まり状になって連続した流れを保ち易く、上記開口部から流出する洗浄液に超音波振動を付与し易くなる。
本発明の超音波洗浄用ノズルにおいて、前記空間のガス抜き機構を有することで、空間に洗浄液が満たされた場合のガスを抜き、洗浄液に気泡が巻き込まれるのを防止できる。
また、本発明の超音波洗浄用ノズルにおいて、前記底板に形成された開口部が矩形状である場合、前記整流板の多数の孔を形成する領域(孔形成領域)の短辺方向の幅が5mm以上、前記超音波振動子の幅と同じ大きさ以下の範囲とされていることが好ましく、あるいは前記底板に形成された開口部が円形である場合、前記整流板の多数の孔を形成する領域(孔形成領域)の径が5mm以上、前記超音波振動子の幅と同じ大きさ以下の範囲とされていることが好ましい。
かかる構成とすることで、洗浄液量をその流路抵抗により制御して、使用液量を抑えながら洗浄領域を広くとることができ、また、洗浄液に効率良く超音波振動を付与できる。
また、本発明の超音波洗浄用ノズルにおいて、上記整流板に形成された各孔の径は、0.001mm以上1mm以下の範囲とされ、整流板面積に対する開口率が20%以上90%以下の範囲であることが好ましい。かかる構成とすることで、超音波振動が伝わり易く、上記開口部から連続した流れとして流出する洗浄液に超音波振動を付与し易い。
また、本発明の超音波洗浄用ノズルにおいて、前記整流板に形成された多数の孔の分布は、整流板の中心部で粗とされていることが好ましい。かかる構成とすることで、上記開口部から流出する洗浄液の液型を漏斗状に更に制御し易い。
また、本発明の超音波洗浄用ノズルにおいて、上記整流板の少なくとも表面は、親液性を有する材料から形成されていることが好ましい。かかる構成とすることで、上記開口部から流出する洗浄液の液型を漏斗状に制御するのが更に容易になる。
また、本発明の超音波洗浄用ノズルにおいて、上記開口部に設けられた整流板と上記振動板との間に第2の整流板が前記空間を仕切るように配置されて上記空間に形成される洗浄液流路の向きが変更され、上記洗浄液流路の一端部は前記洗浄液供給手段に接続され、他端部はガス抜き機構に接続され、上記洗浄液流路の途中に前記底板の開口部が連通し、上記第2の整流板の板厚は5μm以上、λ/10以下の範囲(上記λは前記超音波振動子から発振される超音波振動の第2の整流板構成物質内の波長)とされていることが好ましい。かかる構成とすることで、気泡の溜まりを防止することができる。
本発明の超音波洗浄装置は、上記のいずれかの構成の本発明の超音波洗浄用ノズルと、該超音波洗浄用ノズルの整流板を設けた開口部が被処理物の表面上を隙間を隔てて移動可能な搬送手段が設けられ、前記整流板と被処理物表面との隙間に前記超音波洗浄用ノズルから超音波洗浄液を吐出して被処理物表面を洗浄できる構成とされたことを特徴とする。
本発明の超音波洗浄装置によれば、洗浄液に低周波帯(約20kHz〜200kHz)の超音波を付与することにより被処理物に付着した強固な汚染を除去することができ、約20kHz〜10MHzの広範囲の周波数帯の超音波を洗浄液に付与することもでき、しかも少ない洗浄液で均一に洗浄処理を施すことができる。
また、整流板を外側に凸状に形成することで整流板が平板である場合よりも洗浄液を整流板中央付近に集め易くなり、整流板の多数の孔から流出する洗浄液の液型を漏斗状の先窄まり状にすることで連続した流れを保ち易く、整流板の多数の孔から流出する洗浄液に超音波振動を付与し易くなる。
更に、本発明の超音波洗浄装置によれば、整流板の多数の孔から流出する洗浄液の液型を漏斗状の先窄まり状にすることができるので、被処理基板と整流板との距離を変えることで、被処理基板を洗浄できる範囲を変えることができる。
本発明の超音波洗浄用ノズルにおいて、空間のガス抜き機構を有するならば、空間に洗浄液が満たされた場合のガスを抜き、洗浄液に気泡が巻き込まれるのを防止できる。

次に図面を用いて本発明の実施の形態を詳細に説明する。
なお、本発明は以下に説明する実施の形態に限定されるものではないことは勿論であるとともに、以下の図面においては各構成部分の縮尺について図面に表記することが容易となるように構成部分毎に縮尺を変えて記載している。
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態の超音波洗浄装置の概略構成を示す斜視図であり、図2は図1の超音波洗浄装置に備えられた超音波洗浄用ノズルを示す概略縦断面図であり、図3は図2の超音波洗浄用ノズルを整流板が設けられた底板側から視たときの拡大平面図である。
本実施形態の超音波洗浄装置は、本発明の実施形態の超音波洗浄用ノズル1と、この超音波洗浄用ノズル1の後述の整流板10を設けた開口部9aが被処理基板(被処理物)20の表面上を隙間を隔て移動可能な搬送手段30と、被処理基板20を載置するターンテーブル25が設けられ、整流板10と被処理基板表面との隙間に超音波洗浄用ノズル1から超音波洗浄液11aを吐出して被処理基板表面を洗浄できる構成とされたものである。
超音波洗浄用ノズル1は、長尺箱状の超音波振動子収容部(筐体)3と、この超音波振動子収容部3内に収容されたボルト締めランジュバン振動子(超音波振動子)5と、超音波振動子収容部3の振動板を兼ねる下板3aの外面に空間7を隔てて対向配置された底板9と、空間7に洗浄液11を供給する洗浄液供給手段と、底板9に形成された平面視長尺矩形状の開口部9aに設けられた整流板10とを主体として構成されている。
振動板3aの材質は、空間部7に供給される洗浄液11の種類にもよるが、例えば、洗浄液が水の場合はステンレス鋼、表面処理したステンレス鋼が用いられ、洗浄液が酸やアルカリの場合はサファイヤ、高純度アルミナ又はPTFE(四ふっ化エチレン樹脂)でコートした金属材料、セラミックス、石英ガラス等が用いられる。
振動板3aの厚みtは、用いる超音波振動子によって異なるが、例えば、厚みtが0.03mm以上3mm以下の範囲で、20kHz〜10MHzの超音波振動子に対して適する厚さを選択し、使用することができる。
この振動板3aの内面にボルト締めランジュバン振動子(BLT)5が固着されている。従って、本実施形態では振動板3aの内面が振動子固着面となり、外面が振動子固着面と反対側面となる。
ボルト締めランジュバン振動子5は、略円柱状、略角柱状などの略柱状のもので、図2に示すように金属ブロック5a、5b間に2枚の圧電磁器5c、5dが配置され、ボルト6によりこれら圧電磁器5c、5dに圧縮力のバイアスがかけられており、また、圧電磁器5c、5d間に銅板5eが介在されている。
圧電磁器5c、5dは極性を逆にして組み合わされており、電気的には並列に駆動するようになっている。圧電磁器5c、5dには、電源が接続される。
なお、上記圧電磁器は2枚に限らず、複数であってもよい。
図2に示すように振動板3aの振動子固着面と反対側面とこれに対向して配置された底板9との間に空間7が設けられており、この空間7に洗浄液供給手段により洗浄液11が供給されるようになっている。上記洗浄液供給手段は、空間7に接続された洗浄液供給管12aと、該供給管12aに接続された洗浄液供給源(図示略)から構成されている。また、この洗浄液供給手段には、洗浄液の流量調整機構(図示略)が設けられており、空間7に供給する洗浄液の流量を制御できるようになっている。
上記空間7のギャップ(振動板3aと整流板10間の距離)は、1mm以上7.5mm程度とされる。
洗浄液11としては、被処理基板20やこれに付着している汚れの種類に応じて適宜選択して用いられ、例えば、被処理基板20がガラス基板で、汚染物がAl研磨粉の場合、アンモニア水溶液、水素水、アンモニア添加水素水、脱気したアンモニア水溶液等が用いられ、被処理基板20がシリコン基板で、汚染物が有機物の場合、オゾン水、酸添加オゾン水、NaOH水溶液等が用いられる。
空間7への洗浄液11の供給量は、ノズルの長さ(開口部の長手方向)10mm当たり、1リットル/分程度以下とすることが望ましい。
なお、洗浄液11は、被処理基板20に付着した汚れに応じてpHが制御されたものを用いることが、少ない液量で、効率良く洗浄できる点で好ましい。
また、空間7には、ガス抜き機構が設けられている。上記ガス抜き機構は、図2に示すように空間7に接続された排出管12bと該排出管12bに設けられたバルブ12cから構成されている。このガス抜き機構は、洗浄液供給時にはバルブ12cを開にして空間7のガスを抜き、空間7に洗浄液11が満たされたらバルブ12cを閉にすることにより、洗浄液11に気泡が巻き込まれるのを防止できるようになっている。
底板9には、図3に示すような長尺矩形状の開口部9aが形成され、この開口部9aに多数の孔10aを有する整流板10が設けられている。
この超音波洗浄用ノズル1は、整流板10の孔径、開口率、板厚Tや、上記洗浄液供給手段から空間7に供給する洗浄液11の流量等を制御することにより、空間7で超音波振動が付与された洗浄液11を開口部9aから連続した流れとして流出するように制御できるようになっている。超音波洗浄液を開口部9aから連続した流れとして流出するように制御する手段が上記制御手段である。従って、上記洗浄液供給手段に設けられた流量調整機構も制御手段である。
整流板10は、ステンレス鋼板等の金属板に多数の孔を形成したパンチングメタルが用いられる。この整流板10の少なくとも表面は、親液性を有する材料から形成されていることが先に述べた理由により好ましい。
上記親液性材料としては、使用する洗浄液の種類によって異なるが、例えば、洗浄液が水溶液の場合には、親水処理したステンレススチール等の金属、表面に親水基を持たせる親水処理を行ったプラスティック、TiOのような金属酸化物、アルミナ、シリコン酸化物等のセラミックスが用いられる。
整流板10の板厚Tは、5μm以上、λ/10以下の範囲(上記λは振動子5から発振される超音波振動の整流板構成物質内の波長)とされている。上記板厚Tが5μm未満であると、板の強度が低下し、孔の加工がコストパフォーマンス良く行えないなど不具合が生ずることとなり好ましくない。上記板厚Tがλ/10を超えると、振動子5から発振された超音波振動は整流板で反射が大きくなり、洗浄液の流れに効率良く伝搬できないため好ましくない。つまり、空間7内では超音波洗浄液となっていても、洗浄液は孔10aから外部に出るが超音波が減衰したものになってしまう。
また、整流板10の板厚Tが0.03mm以上、0.5mm以下の範囲では、20kHz〜10MHzの超音波を発振する振動子に適する厚さを選択し、使用することができる。
整流板10は、先に述べた理由により、図2に示すように外側に凸状(被処理基板側に凸状)となるように設けられている。
また、整流板10の孔形成領域10bの幅Wは、5mm以上、振動子5の幅WBLTと同じ大きさ以下の範囲とされていることが好ましく、5mm以上17mm以下の範囲とされていることがさらに好ましい。幅Wを変更することで、底板の開口部から外部に連続した流れとして吐出される超音波洗浄液の水流の形状、特に、幅などを変更することができる。
幅Wが5mm未満であると、超音波振動を効率良く洗浄液に付与できない。幅Wを振動子5の幅WBLTよりも大きくしても超音波の有効照射範囲は幅WBLTであることから、WBLTの幅で十分である。
また、整流板10の孔形成領域10bの長さLは、被処理基板(被処理物)の長さに合わせて決定される。
整流板10に形成された各孔10aの径は、0.001mm以上17mm以下の範囲とされていることが好ましく、0.001mm以上1mm以下の範囲とされていることがさらに好ましい。孔10aの径が、0.001mm未満であると液体が出にくくなり、高圧力で押し出す形となり、液体が線状となってしまう。また、孔10aの径が17mmを超えると液体は孔から自然落下してしまい、液量制御ができなくなってしまう。
また、整流板10の開口率(整流板面積に対する開口率)が20%以上90%以下の範囲であることが好ましい。整流板10の開口率が20%未満であると 液の吐出圧力が高くなり、制御性が悪くなってしまい、90%を超えると孔加工精度の問題から液量の制御性が悪くなってしまう。また、整流板の機械的強度が低下することも生じてくる。
また、1個の孔10aの面積は、λ/100以下とされることが、洗浄液量をその流路抵抗により制御して使用液量を低減できる点で好ましい。
多数の孔10aは、図3には孔形成領域10bに略に均一に分布するように形成されている場合について示したが、整流板10の孔形成領域10bの中心部で粗となるような分布とされていることが先に述べた理由により好ましい。
振動板3aと整流板10の最も離れているところの距離(ギャップ)は、7.5mm程度以下とすることが、ノズル1から吐出される超音波洗浄液11aに気泡が巻き込まれるのを防止できる点で好ましい。
被処理基板20は、液晶表示装置用角形ガラス基板、カラーフィルタ用ガラス基板、フォトマスク用基板、サーマルヘッド用セラミック基板、プリント基板、半導体ウエハ、フィルム基板、金属フープ材及び電子部品等の基材等を挙げることができる。
ターンテーブル25は、上面に被処理基板20を載置した状態で回転及び昇降可能な構成とされたものである。
搬送手段30は、超音波振動子収容部3の長手方向両端面に取り付けられており、超音波洗浄用ノズル1の開口部9aがターンテーブル25に載置された被処理基板20の表面上を隙間を隔て移動可能な構成とされたものである。
本実施形態の超音波洗浄用ノズル1は、振動子5に電圧が印加されて超音波振動が発振されると、振動板3aが振動し、空間7に供給された洗浄液11に超音波振動が付与され超音波洗浄液11aとされ、さらにこの超音波洗浄液11aは整流板10に形成された各孔10aを通過し、超音波振動が付与されたまま合流し、しかも漏斗状等の連続した流れとして流出する。それは、整流板10の孔形成領域10bの下側(外側)が洗浄液が漏斗状等の連続した流れとなっているので、空間7に伝播された超音波振動は孔10aを通過中及び通過後の洗浄液11に付与され続ける。整流板10の孔形成領域10b以外部分(孔形成領域外)の下側(外側)は空気が存在するため、空間7に伝播された超音波振動は整流板の孔形成領域外の内面や底板9の内面で反射してしまう。従って、底板9の開口部から外部に吐出される洗浄液をガスの巻き込みのない連続した流れとすることで、効率良く超音波を付与できる。
振動子5からは、約20kHz〜10MHzの広範囲で、特定の領域の周波数帯の超音波が発振可能であり、発振される超音波の周波数は、被処理基板20に付着した汚れの種類や付着力の大小によって適宜変更される。
なお、空間7に洗浄液11を始めに供給するときは、少なくとも孔形成領域10bを板材等で一旦塞いで空間7内に洗浄液11を満たしておいてから超音波洗浄液を吐出するようにするか、あるいは収容部3の開口部9a側を上に向け、空間7内に洗浄液11を満たした後で、収容部3の開口部9aを下に向け、超音波洗浄液を吐出するようにすることが無駄になる洗浄液11が少なくて済むため好ましく、特に、孔10aが1mm〜17mm程度と大きい場合に有効である。
本実施形態の超音波洗浄装置を用いて被処理基板20に付着した汚れを除去するには、被処理基板20をターンテーブル25の上面に載置し、ついで、搬送手段30により超音波洗浄用ノズル1の整流板側を被処理基板20の表面上を隙間を隔てて移動させるとともに整流板10の孔形成領域10bから被処理基板表面と整流板10との隙間に超音波洗浄液を連続した流れとして吐出して被処理基板表面を洗浄する。図4〜図5に示すようにノズル1の整流板10と被処理基板表面との距離を変えると、被処理基板を洗浄できる範囲を変更できる。なお、整流板10と被処理基板表面との距離は、ターンテーブル25の昇降あるいは搬送機構30の昇降させることにより変更することができる。
本実施形態の超音波洗浄装置によれば、洗浄液11に低周波帯(約20kHz〜200kHz)の超音波を付与することにより被処理基板20に付着した強固な汚染を除去することができ、また、約20kHz〜10MHzの広範囲の周波数帯の超音波を洗浄液11に付与することもできるので、強固な汚染から比較的付着力の小さなパーティクルを少ない洗浄液で均一に洗浄処理を施すことができる。また、超音波洗浄用ノズル1は、孔形成領域Wを広くすることで、超音波洗浄液11aが出る領域を広くすることができ、被処理基板を一度に洗浄できる範囲を広くとることができる。
なお、上記実施形態においては、超音波振動子収容部3が長尺の箱状である場合について説明したが、中空円柱状のものであってもよい。
また、超音波洗浄用ノズル1の開口部9aに図3に示すようなパンチングメタルからなる整流板10を設けた場合について説明したが、図6に示すように網目40aが形成された整流板40を設けてもよい。
整流板40の板厚は、整流板10と同様に5μm以上、λ/10以下の範囲とされる。
また、整流板40の網目形成領域40bの幅Wは、整流板10の孔形成領域10bと同様に5mm以上、振動子5の幅と同じ大きさ以下の範囲とされていることが好ましい。
また、上記実施形態においては、超音波洗浄用ノズル1の開口部9aに整流板10が外側に凸状になるように設けられた場合について説明したが、図7に示すようにフラットな整流板10が設けられていてもよい。
また、上記実施形態においては、ガス抜き機構が、空間7に接続された排出管12bと該排出管12bに設けられたバルブ12cから構成されている場合について説明したが、図8に示すように、超音波振動子収容部3の側面まで立ち上がる排出管42bの一端が空間7に接続され、他端が開口したものであってもよい。このガス抜き機構は、空間7に洗浄液が供給されると、空間7のガスは排出管42bを通って上記他端から外部に排出されるので、洗浄液11に気泡が巻き込まれるのを防止できる。
また、上記実施形態においては、ガス抜き機構として、図2や図7に示すようなバルブ12c付き排出管12bや、図8に示すような収容部3の側面まで立ち上がる排出管42bを設ける場合について説明したが、図9に示すように振動板3aと整流板10との間に第2の整流板50が設けられたものであってもよい。この第2の整流板50は、孔が形成されていない板状のものであり、空間7を上下に仕切るように配置されることにより、振動板3aの下側に⊃状洗浄液流路が形成されており(空間7に形成される洗浄液流路の向きが変更されており)、
この流路の上側(振動板側)の端部は洗浄液供給管12aに接続され、下側(整流板10側)の端部は排出管(ガス抜き機構)52bに接続されている。この排出管52bには、バルブが設けられていてもよいし、一端部が開口したものであってもよい。上記⊃状洗浄液流路の途中に底板9の開口部が連通している。
第2の整流板50の板厚は、整流板10と同様の理由から5μm以上、λ/10以下の範囲(上記λは振動子5から発振される超音波振動の第2の整流板構成物質内の波長)とされている。
図9のノズル1では、洗浄液供給管12aから空間7に洗浄液11が供給されると、空間7のガスは⊃状洗浄液流路を通り、さらに排出管52bを通って外部に排出されるので、洗浄液11に気泡が巻き込まれるのを防止できる。なお、空間7のガス抜き時には、底板9の開口部又は第1の整流板の孔形成領域は閉塞されていてもよい。
また、洗浄液11は振動板3aの直下を通過して超音波洗浄液11aとされた後、整流板10に向かって流れ、各孔10aを通過し、超音波振動が付与されたまま合流し、しかも漏斗状等の連続した流れとして流出する。
(第2の実施形態)
次に第2の実施形態の超音波洗浄装置について説明する。
第2の実施形態の超音波洗浄装置が第1の実施形態の超音波洗浄装置と異なるところは、超音波洗浄用ノズルの構成が異なる点である。
図10は、本実施形態に係わる超音波洗浄用ノズルを示す概略縦断面図である。 超音波洗浄用ノズル61は、長尺箱状の超音波振動子収容部(筐体)63と、この超音波振動子収容部63内に収容された超音波振動子65と、超音波振動子収容部63の振動板を兼ねる下板63aの外面に空間67を隔てて対向配置された底板69と、空間67に洗浄液11を供給する洗浄液供給手段と、底板69に形成された平面視長尺矩形状の開口部に設けられたフラットな整流板70とを主体として構成されている。
超音波振動子65は、チタン酸ジルコン酸塩(PZT)素子、チタン酸バリウム系素子、水晶、フェライト系素子等からなり、約20〜10MHzの範囲の周波数の超音波振動を出力可能なものが用いられる。この超音波振動子65は、電源に接続されている。
上記洗浄液供給手段は、空間67に接続された洗浄液供給管72aと、該供給管72aに接続された洗浄液供給源(図示略)から構成されている。
また、空間67には、ガス抜き機構が設けられている。上記ガス抜き機構は、図2に示すように空間67に接続された排出管72bと該排出管72bに設けられたバルブ72cから構成されている。排出管72bは超音波振動子収容部63の側面まで立ち上がるように設けられている。
整流板70は、多数の孔70aを形成した孔形成領域が設けられている。
また、整流板70の孔形成領域の幅Wは、5mm以上、振動子65の幅Wと同じ大きさ以下の範囲とされていることが好ましく、5mm以上17mm以下の範囲とされていることがさらに好ましい。
本実施形態の超音波洗浄用ノズル61は、振動子65に電圧が印加されて超音波振動が発振されると、振動板63aが振動し、空間67に供給された洗浄液11に超音波振動が付与され超音波洗浄液11aとされ、さらにこの超音波洗浄液11aは整流板70に形成された各孔70aを通過し、超音波振動が付与されたまま合流し、しかも漏斗状等の連続した流れとして流出する。
本実施形態の超音波洗浄装置によれば、本発明の効果が得られる。
なお、上記実施形態においては、長尺箱状の超音波振動子収容部(筐体)63が長尺の箱状である場合について説明したが、中空円柱状のものであってもよい。
また、超音波洗浄用ノズル61の底板に形成された開口部に整流板70がフラットになるように設けられた場合について説明したが、図11や図12に示すように整流板70が外側に凸状になるように設けられていてもよい。また、図10乃至図12に示すように整流板70の孔形成領域の幅Wを変更することで、ノズル61の開口部から連続した流れとして流出する超音波洗浄液11aの水流形状を変更でき、結果として被処理基板を一度に洗浄できる範囲を変更できる。
また、上記実施形態においては、排出管72bにバルブ72cを設けた場合について説明したが、図11に示すように超音波振動子収容部63の側面まで立ち上がる排出管72bの一端が空間67に接続され、他端が開口したものであってもよく、あるいは図12に示すように空間67とほぼ同じ高さに配置された排出管82bの一端が空間67に接続され、排出管82bにバルブ(図示略)が設けられたものであってもよい。
(第3の実施形態)
図13は、第3の実施形態の超音波洗浄装置の概略構成を示す斜視図であり、図14は図13の超音波洗浄装置に備えられた超音波洗浄用ノズルを示す概略縦断面図であり、図15は図14の超音波洗浄用ノズルを整流板が設けられた底板側から視たときの拡大平面図である。
本実施形態の超音波洗浄装置は、本発明の実施形態の超音波洗浄用ノズル81と、この超音波洗浄用ノズル81の後述の整流板90を設けた開口部90aが被処理基板(被処理物)20の表面上を隙間を隔て移動可能なアーム(搬送手段)35と、被処理基板20を載置するターンテーブル25が設けられ、整流板90と被処理基板表面との隙間に超音波洗浄用ノズル81から超音波洗浄液11aを吐出して被処理基板表面を洗浄できる構成とされたものである。
超音波洗浄用ノズル81は、円筒状の超音波振動子収容部(筐体)83と、この超音波振動子収容部83内に収容された円柱状超音波振動子85と、超音波振動子収容部83の振動板を兼ねる下板83aの外面に空間87を隔てて対向配置された底板89と、空間87に洗浄液11を供給する洗浄液供給手段と、底板89に形成された平面視円形状の開口部89aに設けられた整流板90とを主体として構成されている。
整流板90は、多数の孔90a(網目)が形成されている。この整流板90は、外側に凸状(被処理基板側に凸状)となるように設けられている。
整流板90の孔形成領域の径Dは、5mm以上、超音波振動子85の幅とW同じ大きさ以下の範囲とされていることが先に述べた理由により好ましい。
上記洗浄液供給手段は、空間87に接続された洗浄液供給管92aと、該供給管92aに接続された洗浄液供給源(図示略)から構成されている。また、空間87には、ガス抜き機構が設けられている。このガス抜き機構は、図14乃至図15に示すように空間87に接続された排出管92bと該排出管92bに設けられたバルブ92cから構成されている。
本実施形態の超音波洗浄装置を用いて被処理基板20に付着した汚れを除去するには、被処理基板20をターンテーブル25の上面に載置し、ついで、アーム35により超音波洗浄用ノズル81の整流板側を被処理基板20の表面上を隙間を隔てて移動させるとともに整流板90の孔形成領域(網目形成領域)から被処理基板表面と整流板90との隙間に超音波洗浄液11aを連続した流れとして吐出して被処理基板表面を洗浄する。
本実施形態の超音波洗浄装置によれば、本発明の効果が得られる。
(実験例1)
下記表1に示す構造のサンプルNo.1〜5の超音波洗浄装置を作製した。
作製した超音波洗浄装置の超音波洗浄用ノズルに洗浄液を供給し、超音波を付与した洗浄液を整流板の孔形成領域から吐出して超音波をガラス基板に付着したパーティクルの除去したときの除去効率について調べた。ここで除去するパーティクルは、粒径0.5μm以上のAl研磨粉であった。その結果を下記表1に合わせて示す。
Figure 0004255818
表1中の注1:除去率99.7%とは、約19000個のパーティクルを約40個まできることに相当。
表1に示した結果から本発明の実施例であるサンプルNo.1〜5の超音波洗浄装置によれば、基板に付着したパーティクルを少ない洗浄液で効率良く洗浄できることがわかる。
(実験例2)
下記表2〜表5に示す構造のサンプルNo.6〜20の超音波洗浄装置を作製した。
作製した超音波洗浄装置の超音波洗浄用ノズルに洗浄液としてpH10の水素水を供給し、超音波を付与した洗浄液を整流板の孔形成領域から吐出して超音波重畳した洗浄液でガラス基板に付着したパーティクルを除去したときの洗浄液の使用量と上記孔形成領域と基板間の洗浄液にかかる音圧を測定した。なお、上記孔形成領域と基板間の洗浄液にかかる音圧は、整流板が設けられていない場合の音圧を100(規格化)とし、これに対する値である。結果を表2〜表5に合わせて示す。
Figure 0004255818
Figure 0004255818
Figure 0004255818
表4中の注2:図11に示した超音波洗浄用ノズル61の空間67に図9に示したような第2の整流板50を配置したもの。
表2〜表4に示した結果から整流板の厚みが0.6mmであるサンプルNo.19の超音波洗浄装置(比較例)は、整流板の孔形成領域から吐出された洗浄液の音圧が10であり、超音波が殆ど付与されいないため洗浄効果が小さいと考えられる。
サンプルNo.6〜18、20の超音波洗浄装置(実施例)は、整流板の孔形成領域から吐出された洗浄液の音圧が90以上であり、充分超音波が付与されており、洗浄効果を期待できることがわかる。
本発明の第1の実施形態の超音波洗浄装置の概略構成を示す斜視図。 図1の超音波洗浄装置に備えられた超音波洗浄用ノズルを示す概略縦断面図。 図2の超音波洗浄用ノズルを底板側から視たときの拡大平面図。 第1の超音波洗浄装置を用いて被処理基板を洗浄する方法の説明図。 第1の超音波洗浄装置を用いて被処理基板を洗浄する方法の説明図。 図2の超音波洗浄用ノズルの開口部に備えられた整流板の他の例を示す拡大平面図。 図1の超音波洗浄装置に備えられた超音波洗浄用ノズルの他の例を示す概略縦断面図。 図1の超音波洗浄装置に備えられた超音波洗浄用ノズルの他の例を示す概略縦断面図。 図1の超音波洗浄装置に備えられた超音波洗浄用ノズルの他の例を示す概略縦断面図。 本発明の第2の実施形態の超音波洗浄装置に備えられた超音波洗浄用ノズルを示す概略縦断面図。 本発明の第2の実施形態の超音波洗浄装置に備えられた超音波洗浄用ノズルの他の例を示す概略縦断面図。 本発明の第2の実施形態の超音波洗浄装置に備えられた超音波洗浄用ノズルの他の例を示す概略縦断面図。 本発明の第2の実施形態の超音波洗浄装置の概略構成を示す斜視図。 図13の超音波洗浄装置に備えられた超音波洗浄用ノズルを示す概略縦断面図。 図14の超音波洗浄用ノズルを底板側から視たときの拡大平面図。 従来の洗浄装置の例を示す概略構成図。 従来の洗浄装置の他の例の一部分を示す断面図。
符号の説明
1,61,81・・・超音波洗浄用ノズル、3,63,83・・・超音波振動子収容部、3a,63a,83a・・・下板(振動板)、5,65,85・・・超音波振動子、7,67,87・・・空間、9,69,89・・・底板、9a,69a,89a・・・開口部、10,40,70、90・・・整流板、10a,70a・・・・・・孔、10b・・・孔形成領域、11・・・洗浄液、11a・・・超音波洗浄液、40a、90a・・・網目、50・・・第2の整流板、12a,72a,92a・・・洗浄液供給管、12b,42b,52b,72b・・・排出管、12c,72c・・・バルブ、20・・・被処理基板(被処理物)、25・・・ターンテーブル、30・・・搬送手段、35・・・アーム(搬送手段)、t・・・振動板の厚み、T・・・整流板の板厚、W・・・孔形成領域(又は網目形成領域)の幅、WBLT,W・・・超音波振動子の幅。

Claims (9)

  1. 振動板と、該振動板に固着された超音波振動子と、前記振動板の振動子固着面と反対側面に空間を隔てて対向する底板と、前記空間に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、前記底板に形成された開口部に設けられた多数の孔を形成した整流板とからなり、
    前記整流板の板厚は5μm以上、λ/10以下の範囲(前記λは前記超音波振動子から発振される超音波振動の整流板構成物質内の波長)とされ、
    前記整流板は外側に凸状であって、多数の孔が形成された孔形成領域と、該孔形成領域の外側に孔を形成していない領域を有しており、
    前記孔形成領域は前記超音波振動子の幅より小さい径を有する円形状または前記超音波振動子の幅より小さい幅の短辺を有する矩形状であり、
    前記空間に供給された洗浄液に前記超音波振動子から発振した超音波振動を付与した超音波洗浄液が、前記開口部から漏斗状の連続した流れとして流出するように制御できる制御手段が設けられたことを特徴とする超音波洗浄用ノズル。
  2. 前記空間のガスを抜くガス抜き機構をさらに有することを特徴とする請求項1記載の超音波洗浄用ノズル。
  3. 前記底板に形成された開口部は矩形状であり、前記孔形成領域の短辺方向の幅が5mm以上とされたことを特徴とする請求項1又は2に記載の超音波洗浄用ノズル。
  4. 前記底板に形成された開口部は円形であり、前記孔形成領域の径が5mm以上とされたことを特徴とする請求項1又は2に記載の超音波洗浄用ノズル。
  5. 前記整流板に形成された各孔の径は、0.001mm以上1mm以下の範囲とされ、整流板面積に対する開口率が20%以上90%の以下の範囲であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の超音波洗浄用ノズル。
  6. 前記整流板に形成された多数の孔の分布は、整流板の中心部で粗とされたことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の超音波洗浄用ノズル。
  7. 前記整流板の少なくとも表面は、親液性を有する材料から形成されていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の超音波洗浄用ノズル。
  8. 前記開口部に設けられた整流板と前記振動板との間に第2の整流板が前記空間を仕切るように配置されて前記空間に形成される洗浄液流路の向きが変更され、前記洗浄液流路の一端部は前記洗浄液供給手段に接続され、他端部はガス抜き機構に接続され、前記洗浄液流路の途中に前記底板の開口部が連通し、前記第2の整流板の板厚は5μm以上、λ/10以下の範囲(前記λは前記超音波振動子から発振される超音波振動の第2の整流板構成物質内の波長)とされたことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の超音波洗浄用ノズル。
  9. 請求項1乃至8のいずれか一項に記載の超音波洗浄用ノズルと、該超音波洗浄用ノズルの整流板を設けた開口部が被処理物の表面上を隙間を隔てて移動可能な搬送手段が設けられ、前記整流板と被処理物表面との隙間に前記超音波洗浄用ノズルから超音波洗浄液を吐出して被処理物表面を洗浄できる構成とされたことを特徴とする超音波洗浄装置。
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