JPH0961489A - 自動切り換え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステム - Google Patents
自動切り換え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステムInfo
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- JPH0961489A JPH0961489A JP7216365A JP21636595A JPH0961489A JP H0961489 A JPH0961489 A JP H0961489A JP 7216365 A JP7216365 A JP 7216365A JP 21636595 A JP21636595 A JP 21636595A JP H0961489 A JPH0961489 A JP H0961489A
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Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 単純作業による測定ミス、観測見逃しを防止
し、測定観測が熟練を必要とせず、ＬＳＩなどの多ピン
電気部品の電気特性を自動的に測定観測し、良／否判定
を確実に行うことができるカーブトレーサシステムを提
供する。 【構成】 自動切り換え・自動良／否判定方式のカーブ
トレーサシステムであって、専用ソフトウェアによるコ
ンピュータ１と、自動良／否判定方式カーブトレース機
能を実現する回路２と、回路２などを含むピンセレクタ
ー３と、ピンセレクター３に結合されて一対のソケット
を持つソケット板４と、ソケット板４に装着される電気
部品としての標準サンプル５および試験サンプル６と、
半導体製品の２端子間の電気特性を測定する専用カーブ
トレーサ７とから構成され、電気部品の端子が切り換え
られて専用カーブトレーサ７またはコンピュータ１上で
のカーブトレーサ機能によって特性測定が行われる。
し、測定観測が熟練を必要とせず、ＬＳＩなどの多ピン
電気部品の電気特性を自動的に測定観測し、良／否判定
を確実に行うことができるカーブトレーサシステムを提
供する。 【構成】 自動切り換え・自動良／否判定方式のカーブ
トレーサシステムであって、専用ソフトウェアによるコ
ンピュータ１と、自動良／否判定方式カーブトレース機
能を実現する回路２と、回路２などを含むピンセレクタ
ー３と、ピンセレクター３に結合されて一対のソケット
を持つソケット板４と、ソケット板４に装着される電気
部品としての標準サンプル５および試験サンプル６と、
半導体製品の２端子間の電気特性を測定する専用カーブ
トレーサ７とから構成され、電気部品の端子が切り換え
られて専用カーブトレーサ７またはコンピュータ１上で
のカーブトレーサ機能によって特性測定が行われる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電気部品の特性を測定
して良／否判定を行うカーブトレーサ技術に関し、特に
ＬＳＩなどの多ピンの電気部品の特性試験に好適な自動
切り換え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステム
に適用して有効な技術に関する。
して良／否判定を行うカーブトレーサ技術に関し、特に
ＬＳＩなどの多ピンの電気部品の特性試験に好適な自動
切り換え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステム
に適用して有効な技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】たとえば、発明者が検討した技術とし
て、ＬＳＩなどの電気特性を簡便に測定する手段の１つ
にカーブトレーサを利用する方法がある。このカーブト
レーサにおいては、ＬＳＩなどの多ピン端子を有する電
気部品を測定する場合、シャーシに多数のスイッチを並
べ、これにＬＳＩが装着される専用ソケットを接続し
て、多数のスイッチを手で順次切り換えてＬＳＩの電気
特性を測定している。
て、ＬＳＩなどの電気特性を簡便に測定する手段の１つ
にカーブトレーサを利用する方法がある。このカーブト
レーサにおいては、ＬＳＩなどの多ピン端子を有する電
気部品を測定する場合、シャーシに多数のスイッチを並
べ、これにＬＳＩが装着される専用ソケットを接続し
て、多数のスイッチを手で順次切り換えてＬＳＩの電気
特性を測定している。
【０００３】なお、このような電気特性の測定に関する
技術については、たとえば昭和５９年１１月３０日、株
式会社オーム社発行、社団法人電子通信学会編の「ＬＳ
Ｉハンドブック」Ｐ６４９〜Ｐ６６９などの文献に記載
されている。
技術については、たとえば昭和５９年１１月３０日、株
式会社オーム社発行、社団法人電子通信学会編の「ＬＳ
Ｉハンドブック」Ｐ６４９〜Ｐ６６９などの文献に記載
されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記のよう
なカーブトレーサにおいては、ＬＳＩの電気特性を測定
する場合に多数のスイッチを手で順次切り換える必要が
あり、また切り換えのみを自動で行わせるピンセレクタ
ーを用いることも可能であるが、手動方式の場合には測
定ミスを犯す可能性が高く、また単純な自動切り換え方
式の場合には良／否判定に熟練が必要となる。
なカーブトレーサにおいては、ＬＳＩの電気特性を測定
する場合に多数のスイッチを手で順次切り換える必要が
あり、また切り換えのみを自動で行わせるピンセレクタ
ーを用いることも可能であるが、手動方式の場合には測
定ミスを犯す可能性が高く、また単純な自動切り換え方
式の場合には良／否判定に熟練が必要となる。
【０００５】そこで、本発明の目的は、単純作業による
測定ミス、観測見逃しを防止し、測定観測が熟練を必要
とせず、ＬＳＩなどの多ピン電気部品の電気特性を合理
的手段によって自動的に測定観測し、良／否判定を確実
に行うことができる自動切り換え・自動良／否判定方式
カーブトレーサシステムを提供することにある。
測定ミス、観測見逃しを防止し、測定観測が熟練を必要
とせず、ＬＳＩなどの多ピン電気部品の電気特性を合理
的手段によって自動的に測定観測し、良／否判定を確実
に行うことができる自動切り換え・自動良／否判定方式
カーブトレーサシステムを提供することにある。
【０００６】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【０００８】すなわち、本発明の自動切り換え・自動良
／否判定方式カーブトレーサシステムは、電気部品の特
性を自動切り換えにより測定して自動的に良／否判定を
行うシステムに適用されるものであり、半導体製品の２
端子間の電気特性を測定するカーブトレーサと、コンピ
ュータおよび専用ソフトウェアによって切り換え制御さ
れるピンセレクターと、一対の標準用と試験用の電気部
品ソケットが搭載されているソケット板とを備えるもの
である。
／否判定方式カーブトレーサシステムは、電気部品の特
性を自動切り換えにより測定して自動的に良／否判定を
行うシステムに適用されるものであり、半導体製品の２
端子間の電気特性を測定するカーブトレーサと、コンピ
ュータおよび専用ソフトウェアによって切り換え制御さ
れるピンセレクターと、一対の標準用と試験用の電気部
品ソケットが搭載されているソケット板とを備えるもの
である。
【０００９】また、他の自動切り換え・自動良／否判定
方式カーブトレーサシステムは、コンピュータおよび専
用ソフトウェアによって切り換え制御されるピンセレク
ターと、一対の標準用と試験用の電気部品ソケットが搭
載されているソケット板とのみを備え、コンピュータ上
でカーブトレーサ機能を実現させるものである。
方式カーブトレーサシステムは、コンピュータおよび専
用ソフトウェアによって切り換え制御されるピンセレク
ターと、一対の標準用と試験用の電気部品ソケットが搭
載されているソケット板とのみを備え、コンピュータ上
でカーブトレーサ機能を実現させるものである。
【００１０】この場合に、前記コンピュータの専用ソフ
トウェアにてプログラミングすると、ＬＳＩなどの多ピ
ンの電気部品の任意の端子間で順次切り換えたり、電気
部品の測定対象以外の端子を全て接地電位に落とし、こ
の接地電位と測定端子間で順次切り換えたり、電気部品
のうち複数の端子に電源電圧を任意に印加できるように
したものである。
トウェアにてプログラミングすると、ＬＳＩなどの多ピ
ンの電気部品の任意の端子間で順次切り換えたり、電気
部品の測定対象以外の端子を全て接地電位に落とし、こ
の接地電位と測定端子間で順次切り換えたり、電気部品
のうち複数の端子に電源電圧を任意に印加できるように
したものである。
【００１１】さらに、前記コンピュータ側でカーブトレ
ーサ機能を実現させてディスプレイ上で測定を行う場合
には、標準用電気部品の特性データを基準に電圧・電流
の許容誤差範囲の設定値を決め、この特性データと設定
値をコンピュータに格納しておき、試験用電気部品の特
性データと比較することにより良／否判定を可能とする
ようにしたものである。
ーサ機能を実現させてディスプレイ上で測定を行う場合
には、標準用電気部品の特性データを基準に電圧・電流
の許容誤差範囲の設定値を決め、この特性データと設定
値をコンピュータに格納しておき、試験用電気部品の特
性データと比較することにより良／否判定を可能とする
ようにしたものである。
【００１２】
【作用】前記した自動切り換え・自動良／否判定方式カ
ーブトレーサシステムによれば、カーブトレーサ、ピン
セレクターおよびソケット板が備えられることにより、
ソケット板の標準用電気部品ソケットに装着された標準
用電気部品の端子、および試験用電気部品ソケットに装
着された試験用電気部品の端子をピンセレクターにより
切り換え、標準用電気部品の測定情報と、試験用電気部
品の測定情報とをカーブトレーサにより観測して良／否
判定を行うことができる。
ーブトレーサシステムによれば、カーブトレーサ、ピン
セレクターおよびソケット板が備えられることにより、
ソケット板の標準用電気部品ソケットに装着された標準
用電気部品の端子、および試験用電気部品ソケットに装
着された試験用電気部品の端子をピンセレクターにより
切り換え、標準用電気部品の測定情報と、試験用電気部
品の測定情報とをカーブトレーサにより観測して良／否
判定を行うことができる。
【００１３】また、他のカーブトレーサシステムにおい
ても、標準用電気部品の測定情報と、試験用電気部品の
測定情報とをディジタル変換した後にコンピュータ側に
送り、専用ソフトウェアによりコンピュータ上でカーブ
トレーサ機能を実現させて良／否判定を行うことができ
る。
ても、標準用電気部品の測定情報と、試験用電気部品の
測定情報とをディジタル変換した後にコンピュータ側に
送り、専用ソフトウェアによりコンピュータ上でカーブ
トレーサ機能を実現させて良／否判定を行うことができ
る。
【００１４】すなわち、コンピュータと専用ソフトウェ
アによって切り換え制御されるピンセレクターと、これ
に標準用と試験用として一対の電気部品ソケットが搭載
されたソケット板を結合した構成として用いるか、また
はこれにダイオードなどを測定する専用カーブトレーサ
を追加した構成として用いることにより、本発明の目的
を達成することができる。
アによって切り換え制御されるピンセレクターと、これ
に標準用と試験用として一対の電気部品ソケットが搭載
されたソケット板を結合した構成として用いるか、また
はこれにダイオードなどを測定する専用カーブトレーサ
を追加した構成として用いることにより、本発明の目的
を達成することができる。
【００１５】たとえば、専用ソフトウェアによってＬＳ
Ｉなどの多ピン電気部品の端子間を順次切り換え、接地
電位と測定端子間、複数の端子に電源電圧を印加できる
ようにして、ソケット板のソケットに装着された電気部
品に電気信号を加えた結果の応答信号を専用カーブトレ
ーサで観測し、人為によって良／否判定を行うことがで
きる。
Ｉなどの多ピン電気部品の端子間を順次切り換え、接地
電位と測定端子間、複数の端子に電源電圧を印加できる
ようにして、ソケット板のソケットに装着された電気部
品に電気信号を加えた結果の応答信号を専用カーブトレ
ーサで観測し、人為によって良／否判定を行うことがで
きる。
【００１６】あるいは、電気部品に電気信号を加えた結
果の応答信号をＡ／Ｄコンバータによりディジタル変換
した後、インターフェイスを介し、ソフトウェアにより
カーブトレーサ機能を実現させる手段を講じたコンピュ
ータ側に送ることによって、試験サンプルとしての電気
部品の測定情報と、標準サンプルのデータに許容範囲を
設定した情報とを比較させることにより、自動的に良／
否判定を可能とすることができる。
果の応答信号をＡ／Ｄコンバータによりディジタル変換
した後、インターフェイスを介し、ソフトウェアにより
カーブトレーサ機能を実現させる手段を講じたコンピュ
ータ側に送ることによって、試験サンプルとしての電気
部品の測定情報と、標準サンプルのデータに許容範囲を
設定した情報とを比較させることにより、自動的に良／
否判定を可能とすることができる。
【００１７】これにより、ＬＳＩなどの多ピン電気部品
の特性測定において、単純作業による測定ミス、観測見
逃しを防止し、測定観測が熟練を必要とせず、ＬＳＩな
どの多ピン電気部品の電気特性を合理的に測定観測し、
良／否判定を自動的に確実に下すことができる。
の特性測定において、単純作業による測定ミス、観測見
逃しを防止し、測定観測が熟練を必要とせず、ＬＳＩな
どの多ピン電気部品の電気特性を合理的に測定観測し、
良／否判定を自動的に確実に下すことができる。
【００１８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
【００１９】図１は本発明の一実施例である自動切り換
え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステムを示す
構成図、図２は本実施例において、切り換え回路を詳細
に示し、サンプルとの接続を具体的に示す説明図、図３
はコンピュータのディスプレイ上に表示される観測波形
と、許容範囲としての電圧・電流の上下限設定概念を示
す説明図である。
え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステムを示す
構成図、図２は本実施例において、切り換え回路を詳細
に示し、サンプルとの接続を具体的に示す説明図、図３
はコンピュータのディスプレイ上に表示される観測波形
と、許容範囲としての電圧・電流の上下限設定概念を示
す説明図である。
【００２０】まず、図１により本実施例の自動切り換え
・自動良／否判定方式カーブトレーサシステムの構成を
説明する。
・自動良／否判定方式カーブトレーサシステムの構成を
説明する。
【００２１】本実施例のカーブトレーサシステムは、た
とえば電気部品の特性を自動切り換えにより測定して自
動的に良／否判定を行うシステムとされ、専用ソフトウ
ェアによるコンピュータ１と、自動良／否判定方式カー
ブトレース機能を実現する回路２と、この回路２などを
含むピンセレクター３と、このピンセレクター３に結合
されて着脱可能な同じ型式の２つのソケットを一対とし
て持つソケット板４と、このソケット板４に装着される
電気部品としての標準サンプル５および試験サンプル６
と、ダイオードなどの半導体製品の２端子間の電気特性
を測定する専用カーブトレーサ７とから構成されてい
る。
とえば電気部品の特性を自動切り換えにより測定して自
動的に良／否判定を行うシステムとされ、専用ソフトウ
ェアによるコンピュータ１と、自動良／否判定方式カー
ブトレース機能を実現する回路２と、この回路２などを
含むピンセレクター３と、このピンセレクター３に結合
されて着脱可能な同じ型式の２つのソケットを一対とし
て持つソケット板４と、このソケット板４に装着される
電気部品としての標準サンプル５および試験サンプル６
と、ダイオードなどの半導体製品の２端子間の電気特性
を測定する専用カーブトレーサ７とから構成されてい
る。
【００２２】次に、本実施例の作用について、始めに図
１と図２によりカーブトレーサシステムの動作原理を説
明する。
１と図２によりカーブトレーサシステムの動作原理を説
明する。
【００２３】まず、ピンセレクター３に搭載されたソケ
ット板４の標準サンプルソケットと試験サンプルソケッ
トに、それぞれＬＳＩなどの標準サンプル５および試験
サンプル６を装着する。たとえば、標準サンプル５およ
び試験サンプル６が１５０ピンの場合には、回路２中の
切り換え回路ＣＮＶS , ＣＮＶD のボードは図１に示す
ように、以下の理由によりそれぞれ３枚ずつ用意すれば
よい。なお、この２つの切り換え回路ＣＮＶS ，ＣＮＶ
D は、ＣＮＶS が標準サンプル用であり、ＣＮＶD が試
験サンプル用である。
ット板４の標準サンプルソケットと試験サンプルソケッ
トに、それぞれＬＳＩなどの標準サンプル５および試験
サンプル６を装着する。たとえば、標準サンプル５およ
び試験サンプル６が１５０ピンの場合には、回路２中の
切り換え回路ＣＮＶS , ＣＮＶD のボードは図１に示す
ように、以下の理由によりそれぞれ３枚ずつ用意すれば
よい。なお、この２つの切り換え回路ＣＮＶS ，ＣＮＶ
D は、ＣＮＶS が標準サンプル用であり、ＣＮＶD が試
験サンプル用である。
【００２４】この切り換え回路ＣＮＶS ，ＣＮＶD はマ
トリックス回路のように見えるが、図２を見れば分かる
通り単なる複数の切り換え回路（Ｘラインは実際にはボ
ード１毎当たり６４本（Ｘ0-7,Ｘ8-15，Ｘ16-23,・・
・，Ｘ56-63)あるのに、Ｘ8-15，Ｘ16-23,・・・，Ｘ
56-63 については１本ずつの計７本だけで表してい
る。）を簡略化してこのように表現している。
トリックス回路のように見えるが、図２を見れば分かる
通り単なる複数の切り換え回路（Ｘラインは実際にはボ
ード１毎当たり６４本（Ｘ0-7,Ｘ8-15，Ｘ16-23,・・
・，Ｘ56-63)あるのに、Ｘ8-15，Ｘ16-23,・・・，Ｘ
56-63 については１本ずつの計７本だけで表してい
る。）を簡略化してこのように表現している。
【００２５】図２に示すリレースイッチＲＬＳＷS0〜Ｒ
ＬＳＷS191と、リレースイッチＲＬＳＷD0〜ＲＬＳＷ
D191は、ＹラインＹ0 〜Ｙ7 方向に繰り返し、Ｘライン
が切り換わることによってＸ0 〜Ｘ191 と切り換わって
行くためのものであり、リレーコントローラによりリレ
ーコイルであるリレー０〜１９１によって、リレースイ
ッチＲＬＳＷS , ＲＬＳＷD の双方のスイッチが制御さ
れる。なお、図１のリレースイッチＲＬＳＷはリレーコ
ントローラによりリレーコイルで制御されるが、これは
回路２を簡素化して表現する都合上省略してある。
ＬＳＷS191と、リレースイッチＲＬＳＷD0〜ＲＬＳＷ
D191は、ＹラインＹ0 〜Ｙ7 方向に繰り返し、Ｘライン
が切り換わることによってＸ0 〜Ｘ191 と切り換わって
行くためのものであり、リレーコントローラによりリレ
ーコイルであるリレー０〜１９１によって、リレースイ
ッチＲＬＳＷS , ＲＬＳＷD の双方のスイッチが制御さ
れる。なお、図１のリレースイッチＲＬＳＷはリレーコ
ントローラによりリレーコイルで制御されるが、これは
回路２を簡素化して表現する都合上省略してある。
【００２６】１５０ピンのサンプルを測定する場合は、
１５０／６４＝2.３４→３枚（１９２ピンまで測定可能
となるが、残りの４２コンタクト分は使用しない。）の
切り換え回路ＣＮＶS ，ＣＮＶD のボードが必要とな
る。また、１９２ピン以上の多ピンＬＳＩを測定する場
合は、切り換え回路ＣＮＶS ，ＣＮＶD の回路ボードを
それぞれ、４，５，６，７，８，・・・と増設すれば、
最大２５６，３２０，３８４，４４８，５１２，・・・
ピンが測定可能となる。
１５０／６４＝2.３４→３枚（１９２ピンまで測定可能
となるが、残りの４２コンタクト分は使用しない。）の
切り換え回路ＣＮＶS ，ＣＮＶD のボードが必要とな
る。また、１９２ピン以上の多ピンＬＳＩを測定する場
合は、切り換え回路ＣＮＶS ，ＣＮＶD の回路ボードを
それぞれ、４，５，６，７，８，・・・と増設すれば、
最大２５６，３２０，３８４，４４８，５１２，・・・
ピンが測定可能となる。
【００２７】このように準備された切り換え回路ＣＮＶ
S ，ＣＮＶD のＸラインＸ0 〜Ｘ15 0 が、ソケット板４
の標準サンプルソケットと試験サンプルソケットに接続
されていて、回路２中のリレーコントローラによって、
切り換え回路ＣＮＶS ，ＣＮＶD のボード内のリレース
イッチＲＬＳＷS0〜ＲＬＳＷS191，ＲＬＳＷD0〜ＲＬＳ
ＷD191が制御されて、標準サンプル５と試験サンプル６
がＬＳＩであれば、ピンに直結したそれぞれの半導体の
パッケージ内回路が、回路２内でＧＮＤ（電気的電位が
０Ｖのラインで通常は筐体などに接続される。ただし、
回路２を簡素化して表現するために、このラインの表示
は慣例により省略してある。）に接続された抵抗器Ｒの
他方端と共に、正弦波交流ＳＧが加えられ、１〜１５０
ピンの各ピンを順次切り換えて測定が可能となる。
S ，ＣＮＶD のＸラインＸ0 〜Ｘ15 0 が、ソケット板４
の標準サンプルソケットと試験サンプルソケットに接続
されていて、回路２中のリレーコントローラによって、
切り換え回路ＣＮＶS ，ＣＮＶD のボード内のリレース
イッチＲＬＳＷS0〜ＲＬＳＷS191，ＲＬＳＷD0〜ＲＬＳ
ＷD191が制御されて、標準サンプル５と試験サンプル６
がＬＳＩであれば、ピンに直結したそれぞれの半導体の
パッケージ内回路が、回路２内でＧＮＤ（電気的電位が
０Ｖのラインで通常は筐体などに接続される。ただし、
回路２を簡素化して表現するために、このラインの表示
は慣例により省略してある。）に接続された抵抗器Ｒの
他方端と共に、正弦波交流ＳＧが加えられ、１〜１５０
ピンの各ピンを順次切り換えて測定が可能となる。
【００２８】そして、半導体側の正弦波交流ＳＧに対す
る応答信号を水平軸に、抵抗器Ｒ側の正弦波交流ＳＧに
対する応答信号を垂直軸に加えれば、半導体特性として
の静止波形の観測が得られる。このことは従来の周知技
術によって可能となる。
る応答信号を水平軸に、抵抗器Ｒ側の正弦波交流ＳＧに
対する応答信号を垂直軸に加えれば、半導体特性として
の静止波形の観測が得られる。このことは従来の周知技
術によって可能となる。
【００２９】なお、ＬＳＩの測定ピン以外のピンは、リ
レースイッチＲＬＳＷS0〜ＲＬＳＷS191，ＲＬＳＷD0〜
ＲＬＳＷD191の３の位置で一時固定され、これを通して
任意に回路２のＧＮＤに落ちるような設定も可能であ
り、通常はこのようにすることによって安定な測定が実
現できる。
レースイッチＲＬＳＷS0〜ＲＬＳＷS191，ＲＬＳＷD0〜
ＲＬＳＷD191の３の位置で一時固定され、これを通して
任意に回路２のＧＮＤに落ちるような設定も可能であ
り、通常はこのようにすることによって安定な測定が実
現できる。
【００３０】測定ピン以外のピンをＧＮＤに落とさない
ときは、リレースイッチＲＬＳＷS0〜ＲＬＳＷS191，Ｒ
ＬＳＷD0〜ＲＬＳＷD191の２の位置で一時固定されてフ
ローティング状態となり、ＶDDまたはＶCCとＬＳＩ回路
内のＧＮＤラインピンを回路２のＧＮＤに落とすか、Ｖ
DDまたはＶCCにバイアス電圧を与えた方式で測定する。
これらはプログラミングによって任意に選べ、また任意
の組み合わせで選べる。
ときは、リレースイッチＲＬＳＷS0〜ＲＬＳＷS191，Ｒ
ＬＳＷD0〜ＲＬＳＷD191の２の位置で一時固定されてフ
ローティング状態となり、ＶDDまたはＶCCとＬＳＩ回路
内のＧＮＤラインピンを回路２のＧＮＤに落とすか、Ｖ
DDまたはＶCCにバイアス電圧を与えた方式で測定する。
これらはプログラミングによって任意に選べ、また任意
の組み合わせで選べる。
【００３１】リレースイッチＲＬＳＷは、標準サンプル
特性と試験サンプル特性を同時測定して、双方を比較確
認したいときに数回〜１０数回／秒程度の速さで切り換
える役目を担っていて、自動を選択することによってこ
の機能を実現することができる。そして、この機能を用
いることによって良／否判定が人為によって可能とな
る。同時測定が不要であれば、どちらか測定したい任意
の側に切り換えて固定しておけばよい。
特性と試験サンプル特性を同時測定して、双方を比較確
認したいときに数回〜１０数回／秒程度の速さで切り換
える役目を担っていて、自動を選択することによってこ
の機能を実現することができる。そして、この機能を用
いることによって良／否判定が人為によって可能とな
る。同時測定が不要であれば、どちらか測定したい任意
の側に切り換えて固定しておけばよい。
【００３２】スイッチＳＷ１，ＳＷ２は連動し、１側に
固定すればコンピュータ１のディスプレイ上で特性波形
の測定が可能となり、２側に固定すれば専用カーブトレ
ーサ７のブラウン管上で特性波形の観測が可能となる。
固定すればコンピュータ１のディスプレイ上で特性波形
の測定が可能となり、２側に固定すれば専用カーブトレ
ーサ７のブラウン管上で特性波形の観測が可能となる。
【００３３】コンピュータ１のディスプレイ上で特性波
形の測定を行う場合は、スイッチＳＷ１，ＳＷ２を１側
に固定すれば、各リレースイッチＲＬＳＷ，ＲＬＳＷS0
〜ＲＬＳＷS191，ＲＬＳＷD0〜ＲＬＳＷD191によって選
ばれた標準サンプル側ソケットと試験サンプル側ソケッ
トに装着されたＬＳＩの標準サンプル５と試験サンプル
６の特定ピン情報に、正弦波交流ＳＧを印加した応答信
号としてアンプ（特定の複数の利得が得られるプログラ
ム・ゲイン・アンプ）に加えられる。また、抵抗器Ｒに
加えられた正弦波交流ＳＧも同様に処理される。
形の測定を行う場合は、スイッチＳＷ１，ＳＷ２を１側
に固定すれば、各リレースイッチＲＬＳＷ，ＲＬＳＷS0
〜ＲＬＳＷS191，ＲＬＳＷD0〜ＲＬＳＷD191によって選
ばれた標準サンプル側ソケットと試験サンプル側ソケッ
トに装着されたＬＳＩの標準サンプル５と試験サンプル
６の特定ピン情報に、正弦波交流ＳＧを印加した応答信
号としてアンプ（特定の複数の利得が得られるプログラ
ム・ゲイン・アンプ）に加えられる。また、抵抗器Ｒに
加えられた正弦波交流ＳＧも同様に処理される。
【００３４】そして、コンピュータ１上のソフトウェア
で必要な利得を指定することにより、一定の倍率に増幅
されたアナログ信号がＡ／Ｄコンバータに加えられる。
ここでアナログ信号はディジタル信号に変換されて、Ｍ
ｅａｓｕｒｅ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ（測定のための制
御回路）を経て、コンピュータ１のシリアル・コミュニ
ケーション・インターフェイスであるＲＳ−２３２Ｃコ
ネクターに加えられ、特性波形の測定が実現される。
で必要な利得を指定することにより、一定の倍率に増幅
されたアナログ信号がＡ／Ｄコンバータに加えられる。
ここでアナログ信号はディジタル信号に変換されて、Ｍ
ｅａｓｕｒｅ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ（測定のための制
御回路）を経て、コンピュータ１のシリアル・コミュニ
ケーション・インターフェイスであるＲＳ−２３２Ｃコ
ネクターに加えられ、特性波形の測定が実現される。
【００３５】専用カーブトレーサ７のブラウン管上で特
性波形の観測を行う場合は、スイッチＳＷ１，ＳＷ２を
２側に固定すれば、各リレースイッチＲＬＳＷ，ＲＬＳ
ＷS0〜ＲＬＳＷS191，ＲＬＳＷD0〜ＲＬＳＷD191によっ
て選ばれた標準サンプル側ソケットと試験サンプル側ソ
ケットに装着されたＬＳＩの標準サンプル５と試験サン
プル６の特定ピン情報が、専用カーブトレーサ７の入力
に加えられ、特性波形の観測が実現される。
性波形の観測を行う場合は、スイッチＳＷ１，ＳＷ２を
２側に固定すれば、各リレースイッチＲＬＳＷ，ＲＬＳ
ＷS0〜ＲＬＳＷS191，ＲＬＳＷD0〜ＲＬＳＷD191によっ
て選ばれた標準サンプル側ソケットと試験サンプル側ソ
ケットに装着されたＬＳＩの標準サンプル５と試験サン
プル６の特定ピン情報が、専用カーブトレーサ７の入力
に加えられ、特性波形の観測が実現される。
【００３６】なお、専用カーブトレーサ７にも正弦波交
流発生器および抵抗器が内蔵されているので、この場合
は正弦波交流ＳＧは遮断されるように工夫され、抵抗器
ＲはスイッチＳＷ２によって無効となる。
流発生器および抵抗器が内蔵されているので、この場合
は正弦波交流ＳＧは遮断されるように工夫され、抵抗器
ＲはスイッチＳＷ２によって無効となる。
【００３７】コンピュータ１での測定の利点は、専用カ
ーブトレーサ７を用いた観測が、単に標準サンプル特性
と試験サンプル特性を比較して良／否判定を人為によっ
て行うのみであるが、これらの機能の他、標準サンプル
５の特性をソケットよりコンピュータ１に吸い上げて、
これに電圧と電流の上下限を設定して試験サンプル６と
比較させれば、電気的に自動判定が可能となり、設定範
囲外であれば不良の判定が下せる。
ーブトレーサ７を用いた観測が、単に標準サンプル特性
と試験サンプル特性を比較して良／否判定を人為によっ
て行うのみであるが、これらの機能の他、標準サンプル
５の特性をソケットよりコンピュータ１に吸い上げて、
これに電圧と電流の上下限を設定して試験サンプル６と
比較させれば、電気的に自動判定が可能となり、設定範
囲外であれば不良の判定が下せる。
【００３８】任意により、不良の判定が出たピンで測定
進行を停止させることも可能であり、不具合個所の見逃
し防止が図れる。これは、手動カウントアップ／ダウン
の場合でも、自動カウントアップ／ダウンの場合でも実
現できる。これをＦａｉｌＳｔｏｐ機能と呼ぶ。Ｆａｉ
ｌ Ｓｔｏｐ機能を用いない測定の場合は、不具合個所
が発生したときは、これをディスプレイ上で知らせるこ
とが可能となっている。
進行を停止させることも可能であり、不具合個所の見逃
し防止が図れる。これは、手動カウントアップ／ダウン
の場合でも、自動カウントアップ／ダウンの場合でも実
現できる。これをＦａｉｌＳｔｏｐ機能と呼ぶ。Ｆａｉ
ｌ Ｓｔｏｐ機能を用いない測定の場合は、不具合個所
が発生したときは、これをディスプレイ上で知らせるこ
とが可能となっている。
【００３９】測定は１〜１５０ピンの順でも行えるし、
１５０〜１ピンの順でも行える。前者をカウントアッ
プ、後者をカウントダウン操作と呼ぶ。また、任意に指
定したピン番号よりの測定も可能である。さらに、ディ
スプレイ上に特性波形を表示させずに、コンピュータ１
に任せたままでの測定も可能となる。
１５０〜１ピンの順でも行える。前者をカウントアッ
プ、後者をカウントダウン操作と呼ぶ。また、任意に指
定したピン番号よりの測定も可能である。さらに、ディ
スプレイ上に特性波形を表示させずに、コンピュータ１
に任せたままでの測定も可能となる。
【００４０】次に、図３により観測波形と許容範囲内と
しての電圧・電流の上下限設定の概念を説明する。
しての電圧・電流の上下限設定の概念を説明する。
【００４１】図３は、コンピュータ１のディスプレイ上
に特性波形を表示させた画面８であり、標準サンプル特
性を基に電圧・電流の上下限設定を行って、それも表示
させた状態を示している。なお、試験サンプル特性も表
示させている。都合上、ここではディスプレイのＸ方向
の１目盛りを0.２Ｖ、Ｙ方向の１目盛りを１０μＡとし
て説明する。
に特性波形を表示させた画面８であり、標準サンプル特
性を基に電圧・電流の上下限設定を行って、それも表示
させた状態を示している。なお、試験サンプル特性も表
示させている。都合上、ここではディスプレイのＸ方向
の１目盛りを0.２Ｖ、Ｙ方向の１目盛りを１０μＡとし
て説明する。
【００４２】ゆえに、この図より正負両方向電圧の許容
範囲は、標準サンプル特性に対して±0.０８Ｖ、正負両
方向電流の許容範囲は、標準サンプルに対して±2.５μ
Ａが設定されていることが確認できる。これらの設定値
は任意に行える。
範囲は、標準サンプル特性に対して±0.０８Ｖ、正負両
方向電流の許容範囲は、標準サンプルに対して±2.５μ
Ａが設定されていることが確認できる。これらの設定値
は任意に行える。
【００４３】図示されている試験サンプル特性は、領域
３で負電圧の方向が許容設定値をオーバーしていること
を示していて、この場合（ある特定ピンのとき）の判定
はＦａｉｌとなる。
３で負電圧の方向が許容設定値をオーバーしていること
を示していて、この場合（ある特定ピンのとき）の判定
はＦａｉｌとなる。
【００４４】従って、本実施例のカーブトレーサシステ
ムによれば、専用ソフトウェアによってＬＳＩなどの多
ピン電気部品の端子間を順次切り換え、ＧＮＤと測定端
子間、複数の端子に電源電圧を印加できるようにして、
ソケット板４に装着されたＬＳＩなどの電気部品の標準
サンプル５と試験サンプル６に正弦波交流ＳＧを加えた
結果の応答信号を専用カーブトレーサ７で観測し、人為
によって良／否判定を行うことができる。
ムによれば、専用ソフトウェアによってＬＳＩなどの多
ピン電気部品の端子間を順次切り換え、ＧＮＤと測定端
子間、複数の端子に電源電圧を印加できるようにして、
ソケット板４に装着されたＬＳＩなどの電気部品の標準
サンプル５と試験サンプル６に正弦波交流ＳＧを加えた
結果の応答信号を専用カーブトレーサ７で観測し、人為
によって良／否判定を行うことができる。
【００４５】または、コンピュータ１のディスプレイ上
に専用ソフトウェアによりカーブトレーサ機能を実現さ
せることにより、試験サンプル６としてのＬＳＩの応答
信号と、標準サンプル５の応答信号に許容範囲を設定し
た情報とを比較することにより、単純作業による測定ミ
ス、観測見逃しを防止し、電気部品の電気特性を合理的
に測定観測して自動的に良／否判定を行うことができ
る。
に専用ソフトウェアによりカーブトレーサ機能を実現さ
せることにより、試験サンプル６としてのＬＳＩの応答
信号と、標準サンプル５の応答信号に許容範囲を設定し
た情報とを比較することにより、単純作業による測定ミ
ス、観測見逃しを防止し、電気部品の電気特性を合理的
に測定観測して自動的に良／否判定を行うことができ
る。
【００４６】本実施例のような場合には、数千万円以上
の高価なテストシステムを必要とすることなく、小規模
のシステムでＰ−Ｎ接合特性などと他の電気特性を効率
良く測定することが可能となる。
の高価なテストシステムを必要とすることなく、小規模
のシステムでＰ−Ｎ接合特性などと他の電気特性を効率
良く測定することが可能となる。
【００４７】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることはいうまでもない。
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることはいうまでもない。
【００４８】たとえば、本実施例のカーブトレーサシス
テムについては、図１および図２に示すような自動良／
否判定方式カーブトレース機能を実現する回路構成に限
定されるものではなく、少なくともコンピュータおよび
専用ソフトウェアによって切り換え制御されるピンセレ
クト機能が備えられる場合に広く適用可能である。
テムについては、図１および図２に示すような自動良／
否判定方式カーブトレース機能を実現する回路構成に限
定されるものではなく、少なくともコンピュータおよび
専用ソフトウェアによって切り換え制御されるピンセレ
クト機能が備えられる場合に広く適用可能である。
【００４９】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【００５０】(1).電気特性を測定するカーブトレーサ、
コンピュータおよび専用ソフトウェアによって切り換え
制御されるピンセレクター、一対の電気部品ソケットが
搭載されているソケット板とを備えることにより、ソケ
ット板の標準用電気部品ソケットに装着された標準用電
気部品の端子、および試験用電気部品ソケットに装着さ
れた試験用電気部品の端子を切り換え、標準用電気部品
の測定情報と、試験用電気部品の測定情報とを観測する
ことができるので、試験用電気部品の良／否判定を行う
ことが可能となる。
コンピュータおよび専用ソフトウェアによって切り換え
制御されるピンセレクター、一対の電気部品ソケットが
搭載されているソケット板とを備えることにより、ソケ
ット板の標準用電気部品ソケットに装着された標準用電
気部品の端子、および試験用電気部品ソケットに装着さ
れた試験用電気部品の端子を切り換え、標準用電気部品
の測定情報と、試験用電気部品の測定情報とを観測する
ことができるので、試験用電気部品の良／否判定を行う
ことが可能となる。
【００５１】(2).コンピュータおよび専用ソフトウェア
によって切り換え制御されるピンセレクターと、一対の
電気部品ソケットが搭載されているソケット板とのみを
備え、コンピュータ上でカーブトレーサ機能を実現させ
ることにより、標準用電気部品の測定情報と、試験用電
気部品の測定情報とをディジタル変換した後にコンピュ
ータ側に送り、標準用電気部品の許容範囲設定値情報と
比較することによって良／否判定を自動的に行うことが
可能となる。
によって切り換え制御されるピンセレクターと、一対の
電気部品ソケットが搭載されているソケット板とのみを
備え、コンピュータ上でカーブトレーサ機能を実現させ
ることにより、標準用電気部品の測定情報と、試験用電
気部品の測定情報とをディジタル変換した後にコンピュ
ータ側に送り、標準用電気部品の許容範囲設定値情報と
比較することによって良／否判定を自動的に行うことが
可能となる。
【００５２】(3).前記(1) または(2) により、ＬＳＩな
どの多ピン電気部品の特性測定において、単純作業によ
る測定ミス、観測見逃しを防止し、また測定観測に熟練
を必要とすることなく、電気部品の電気特性を合理的に
測定観測して良／否判定を確実に行うことが可能とな
る。
どの多ピン電気部品の特性測定において、単純作業によ
る測定ミス、観測見逃しを防止し、また測定観測に熟練
を必要とすることなく、電気部品の電気特性を合理的に
測定観測して良／否判定を確実に行うことが可能とな
る。
【００５３】(4).前記(1) 〜(3) により、高価なテスト
システムを必要とすることなく、小規模のシステムで電
気特性を効率良く測定することが可能となる。
システムを必要とすることなく、小規模のシステムで電
気特性を効率良く測定することが可能となる。
【図１】本発明の一実施例である自動切り換え・自動良
／否判定方式カーブトレーサシステムを示す構成図であ
る。
／否判定方式カーブトレーサシステムを示す構成図であ
る。
【図２】本実施例において、切り換え回路を詳細に示
し、サンプルとの接続を具体的に示す説明図である。
し、サンプルとの接続を具体的に示す説明図である。
【図３】本実施例において、コンピュータのディスプレ
イ上に表示される観測波形と、許容範囲としての電圧・
電流の上下限設定概念を示す説明図である。
イ上に表示される観測波形と、許容範囲としての電圧・
電流の上下限設定概念を示す説明図である。
１ コンピュータ ２ 回路 ３ ピンセレクター ４ ソケット板 ５ 標準サンプル ６ 試験サンプル ７ 専用カーブトレーサ ８ 画面 ＣＮＶS ，ＣＮＶD 切り換え回路 ＲＬＳＷS0〜ＲＬＳＷS191，ＲＬＳＷD0〜ＲＬＳＷD191
リレースイッチ ＲＬＳＷ リレースイッチ ＳＷ１，ＳＷ２ スイッチ ＳＧ 正弦波交流 Ｒ 抵抗器
リレースイッチ ＲＬＳＷ リレースイッチ ＳＷ１，ＳＷ２ スイッチ ＳＧ 正弦波交流 Ｒ 抵抗器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹下 英一 和歌山県和歌山市大垣内689−３ 阪和電 子工業株式会社内 (72)発明者 根来 研 和歌山県和歌山市大垣内689−３ 阪和電 子工業株式会社内 (72)発明者 福本 健治 和歌山県和歌山市大垣内689−３ 阪和電 子工業株式会社内
Claims (6)
- 【請求項１】 電気部品の特性を自動切り換えにより測
定して自動的に良／否判定を行うカーブトレーサシステ
ムであって、半導体製品の２端子間の電気特性を測定す
るカーブトレーサと、コンピュータおよび専用ソフトウ
ェアによって切り換え制御されるピンセレクターと、一
対の標準用と試験用の電気部品ソケットが搭載されてい
るソケット板とが備えられ、前記ソケット板の標準用電
気部品ソケットに装着された標準用電気部品の端子、お
よび前記試験用電気部品ソケットに装着された試験用電
気部品の端子を前記ピンセレクターにより切り換え、前
記標準用電気部品の測定情報と、前記試験用電気部品の
測定情報とを前記カーブトレーサにより観測して良／否
判定を行うことを特徴とする自動切り換え・自動良／否
判定方式カーブトレーサシステム。 - 【請求項２】 電気部品の特性を自動切り換えにより測
定して自動的に良／否判定を行うカーブトレーサシステ
ムであって、コンピュータおよび専用ソフトウェアによ
って切り換え制御されるピンセレクターと、一対の標準
用と試験用の電気部品ソケットが搭載されているソケッ
ト板とが備えられ、前記ソケット板の標準用電気部品ソ
ケットに装着された標準用電気部品の端子、および前記
試験用電気部品ソケットに装着された試験用電気部品の
端子を前記ピンセレクターにより切り換え、前記標準用
電気部品の測定情報と、前記試験用電気部品の測定情報
とをディジタル変換した後に前記コンピュータ側に送
り、前記専用ソフトウェアにより前記コンピュータ上で
カーブトレーサ機能を実現させて良／否判定を行うこと
を特徴とする自動切り換え・自動良／否判定方式カーブ
トレーサシステム。 - 【請求項３】 請求項１または２記載の自動切り換え・
自動良／否判定方式カーブトレーサシステムであって、
前記コンピュータの専用ソフトウェアによりプログラミ
ングし、ＬＳＩなどの多ピンの前記電気部品の任意の端
子間で順次切り換えて前記コンピュータ側でカーブトレ
ーサ機能を実現させ、このコンピュータのディスプレイ
上または前記カーブトレーサのブラウン管上で電気特性
の測定または観測を連続して可能とすることを特徴とす
る自動切り換え・自動良／否判定方式カーブトレーサシ
ステム。 - 【請求項４】 請求項１、２または３記載の自動切り換
え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステムであっ
て、前記コンピュータの専用ソフトウェアによりプログ
ラミングし、前記電気部品の測定対象以外の端子を全て
接地電位に落とし、この接地電位と測定端子間で順次切
り換えて前記コンピュータ側でカーブトレーサ機能を実
現させ、このコンピュータのディスプレイ上または前記
カーブトレーサのブラウン管上で安定した状態で電気特
性の測定または観測を連続して可能とすることを特徴と
する自動切り換え・自動良／否判定方式カーブトレーサ
システム。 - 【請求項５】 請求項１、２、３または４記載の自動切
り換え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステムで
あって、前記電気部品のうち複数の端子に電源電圧を任
意に印加可能とすることを特徴とする自動切り換え・自
動良／否判定方式カーブトレーサシステム。 - 【請求項６】 請求項１、２、３、４または５記載の自
動切り換え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステ
ムであって、前記コンピュータ側でカーブトレーサ機能
を実現させてディスプレイ上で測定を行う場合には、前
記標準用電気部品の特性データを基準に電圧・電流の許
容誤差範囲の設定値を決め、この特性データと設定値を
前記コンピュータに格納しておき、前記試験用電気部品
の特性データと比較することにより良／否判定を可能と
することを特徴とする自動切り換え・自動良／否判定方
式カーブトレーサシステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7216365A JPH0961489A (ja) | 1995-08-24 | 1995-08-24 | 自動切り換え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7216365A JPH0961489A (ja) | 1995-08-24 | 1995-08-24 | 自動切り換え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0961489A true JPH0961489A (ja) | 1997-03-07 |
Family
ID=16687438
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7216365A Pending JPH0961489A (ja) | 1995-08-24 | 1995-08-24 | 自動切り換え・自動良／否判定方式カーブトレーサシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0961489A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100353524C (zh) * | 2003-08-18 | 2007-12-05 | 索尼株式会社 | 逻辑处理设备、半导体器件和逻辑电路 |
| JP2008196979A (ja) * | 2007-02-13 | 2008-08-28 | Yokogawa Electric Corp | 半導体試験装置 |
| US10078111B2 (en) | 2014-09-18 | 2018-09-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Handler and management method thereof |
-
1995
- 1995-08-24 JP JP7216365A patent/JPH0961489A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100353524C (zh) * | 2003-08-18 | 2007-12-05 | 索尼株式会社 | 逻辑处理设备、半导体器件和逻辑电路 |
| JP2008196979A (ja) * | 2007-02-13 | 2008-08-28 | Yokogawa Electric Corp | 半導体試験装置 |
| US10078111B2 (en) | 2014-09-18 | 2018-09-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Handler and management method thereof |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040123 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040413 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040810 |