JPH0961313A - 非破壊検査用標準試験体およびその製造方法 - Google Patents

非破壊検査用標準試験体およびその製造方法

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JPH0961313A
JPH0961313A JP7217539A JP21753995A JPH0961313A JP H0961313 A JPH0961313 A JP H0961313A JP 7217539 A JP7217539 A JP 7217539A JP 21753995 A JP21753995 A JP 21753995A JP H0961313 A JPH0961313 A JP H0961313A
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Satoshi Takahashi
聰 高橋
Yukiya Nakagawa
幸也 中川
Moritaka Kishigami
守孝 岸上
Atsunori Yamaguchi
篤憲 山口
Hirobumi Shima
博文 島
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HATSUDEN SETSUBI GIJUTSU KENSA
HATSUDEN SETSUBI GIJUTSU KENSA KYOKAI
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HATSUDEN SETSUBI GIJUTSU KENSA
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 隙間の非常に狭いクラックの検出には都合が
悪く、しかも複雑な形状のものを製作するのは難しいば
かりか内在させた欠陥が、その後の盛金やプレス作業中
に割れてしまうなどの恐れがあり、それらを改めて確認
する必要がある。 【解決手段】 金属製標準試験体を構成する部材の接合
面に、内在する欠陥の広さに相当する広さに水や有機溶
剤で混練したセラミックスの粉末を塗布するとともに、
接合面の周囲を電子ビーム溶接によってシールし、この
シールした標準試験体を熱間水圧プレスにより拡散接合
し、セラミックスの粉末を塗布した部分に人工欠陥を内
在させるようにしたもの。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、非破壊検査用標準
試験体およびその製造方法に係るもので、特に非破壊検
査で欠陥寸法を推定するにあたって比較対象となる標準
欠陥を内在させた非破壊検査用標準試験体およびその製
造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】機械やプラント装置などの製造中に生じ
る溶接部の欠陥および装置の使用に伴い発生する割れな
どの検出は、工業的に非常に重要であり、その検出方法
として、超音波,渦電流およびX線透過などいろいろな
探傷方法が使用されている。しかしながら、これらの探
傷方法も、例えば検査装置や検査員の技能あるいは検査
方法によっては、技術的に必ずしも満足いくものではな
く、いろいろな改良が行われている。
【0003】このような探傷検査をより良くするため
に、近年、あらかじめ欠陥の大きさと位置が分かってい
る金属製試験体によって、欠陥の検出能力を客観的に判
定するための標準試験体がしばしば使用されている。し
かも、欠陥を検出する技能の向上に伴い、この標準試験
体に対し、より自然に近い欠陥を含むことが要求される
ようになり、したがって、その標準試験体の製造方法に
ついても必然的に改良が要求されるようになってきてい
る。
【0004】上記従来の標準試験体およびその製造方法
としては、例えば特開昭61−215959や1990
年発行の雑誌「軽金属溶接」(第28巻第10号の第4
31頁〜第438頁)により提案されている。
【0005】前記特開昭61−215959の例は、溶
接したときその溶接部に発生するブローホールなどの欠
陥を検査するための非破壊試験結果の評価のための試験
片およびその製造方法に係わるもので、図3に示すよう
に試験片a,a1の溶接継ぎ手部eにアルミナや炭化物
などの固体物質b,c,dを配置して溶接で盛金し、人
工欠陥を内在するようにした試験片でありその製造方法
である。
【0006】また、1990年発行の雑誌「軽金属溶
接」(第28巻第10号の第431頁〜第438頁)の
例は、超音波探傷試験のための模擬欠陥試験体の製作に
係わるもので、図4に示すようにその試験体a,a1に
機械加工や放電加工で溝fを設けた後、その溝fを拡散
接合や電子ビーム溶接gで封じ込めて欠陥を内在させる
ようにする方法である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
第1の例の試験片では、スラグの巻き込みやブローホー
ルなどの溶接欠陥を模擬したものには好都合であって
も、隙間の非常に狭いクラックの検出には都合が悪く、
しかも複雑な形状のものを製作するのは難しいばかりか
内在させた欠陥が、その後の盛金やプレス作業中に割れ
てしまうなどの恐れがあり、それらを改めて確認する必
要がある。
【0008】また、従来の第2の例の試験片では、機械
加工や放電加工で溝を設けた接合面を、熱間静水圧プレ
スやホットプレスにより拡散接合すると、その溝の大き
さ、特に、深さがプレス圧で減少して形状制御が困難で
あり、しかも、溝の深さが10μm以下の場合には、そ
の部分が接合してしまい試験体の中に欠陥が無くなって
しまうので隙間の非常に狭い欠陥を内在させた試験体を
製作することができない。
【0009】本発明は、上記課題に鑑み案出されたもの
で、欠陥の厚さが非常に薄い人工欠陥を確実に内在させ
るようにした非破壊検査用標準試験体およびその製造方
法を提供することを目的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の非破壊検査用標準試験体は、非破壊検査で
欠陥寸法を推定するにあたって比較対象となる標準欠陥
を内在させた非破壊検査用標準試験体であって、金属製
標準試験体を構成する各部材の接合面のいずれか一方
に、内在する欠陥の広さに相当する広さに水や有機溶剤
で混練したセラミックスの粉末を塗布するとともに、接
合面の周囲を電子ビーム溶接によってシールし、かつ、
このシールした標準試験体を熱間静水圧プレスまたはホ
ットプレスにより拡散接合し、前記セラミックスの粉末
を塗布した部分に人工欠陥を内在させるようにしたもの
である。
【0011】また、本発明の非破壊検査用標準試験体の
製造方法は、金属製標準試験体を構成する各部材の接合
面のいずれか一方に、内在する欠陥の広さに相当する広
さに水や有機溶剤で混練したセラミックスの粉末を塗布
する工程と、接合面の周囲を電子ビーム溶接によってシ
ールする工程と、このシールした標準試験体を熱間静水
圧プレスまたはホットプレスにより拡散接合する工程
と、を有するものである。
【0012】上述した標準試験体およびその製造方法に
よれば、標準試験体を構成する部材の接合面に、内在す
る欠陥の広さに相当する広さに水や有機溶剤で混練した
セラミックスの粉末を塗布するとともに、接合面の周囲
を電子ビーム溶接によってシールし、かつ、このシール
した標準試験体を熱間静水圧プレスなどにより拡散接合
し、前記セラミックスの粉末を塗布した部分に人工欠陥
を内在させるようにしたので欠陥の厚さが非常に薄い非
破壊検査用標準試験体を製作することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態につい
て、図面を参照しつつ説明する。図1は、本発明の実施
例に係る標準試験体の斜視図であり、図2は本発明の実
施例に係る標準試験体を構成する一方の部材の斜視図で
ある。図中1はその金属製の標準試験体であって、部材
2,3から構成されている。4は分割された部材2の接
合面、4aは他の部材3の接合面で、部材2,3を改め
て接合する際の接合面となる。5は部材2の接合面4に
塗布した水や有機溶剤(以下「水」という。)で混練し
たシリカ系セラミックスの粉末(シリカゾル)で、その
塗布量(厚み)は適宜選択可能である。6は部材2,3
の接合面4,4aの周囲を電子ビーム溶接によってシー
ルしたシール部である。そして、このシールした標準試
験体を熱間静水圧プレスまたはホットプレス(図示せ
ず)などにより拡散接合し、前記シリカゾルを塗布した
部分に人工欠陥を内在させている。なお、シリカゾルの
塗布面(場所)は適宜選択可能である。
【0014】この実施形態では、部材2の接合面4にシ
リカゾル5を塗布したが、部材3の接合面4aであって
もよく、また、その接合面4,4aに塗布する材料は、
例えば、フレーク状の物質としてもよい。
【0015】次に実施形態の作用を具体的に詳述する。
金属製の標準試験体1は、部材2,3から構成されてい
るが、もとは一体であったものをワイヤー放電加工など
により2つに分割したものである。この2つの部材2,
3のいずれか一方の部材の接合面にシリカゾル5を塗布
する。その塗布した後、部材2,3の接合面4,4aの
周囲を、スポット溶接などにより、一旦、仮止めした
後、電子ビーム溶接によって完全にシールする。そし
て、その標準試験体1を、さらに熱間静水圧プレスまた
はホットプレスにより、例えば、温度が1000°C,
気圧が1200気圧,時間が約2時間という条件のもと
で高温加圧して拡散接合させ、シリカゾル5を塗布した
部分に人工欠陥を内在させるようにするものである。な
お、溶接したシール部は、例えば、0.2mm〜0.5
mmのグラインダーなどで表面を仕上げて、外観上、分
割した跡などが目立たないようする。
【0016】
【発明の効果】本発明は、以上述べたように、金属製標
準試験体を構成する各部材の接合面に、水や有機溶剤で
混練したセラミックスの粉末を塗布するとともに、その
接合面の周囲を電子ビーム溶接によってシールした後、
熱間静水圧プレスまたはホットプレスにより拡散接合
し、前記セラミックスの粉末を塗布した部分に人工欠陥
を内在させるようにしたので、プレス圧による厚さの減
少が少なく、したがって、厚さが非常に薄く所望の広さ
および形状の人工欠陥を内在させることができるなど優
れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る標準試験体の斜視図で
ある。
【図2】本発明の実施形態に係る標準試験体を構成する
一方の部材の斜視図である。
【図3】従来の試験体の一部を切り欠いた側面図であ
る。
【図4】従来の他の試験体の斜視図である。
【符号の説明】
1 標準試験体 2 標準試験体の部材 3 標準試験体の部材 4,4a 接合面 5 粉末 6 シール部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 聰 東京都江東区豊洲3丁目1番15号 石川島 播磨重工業株式会社技術研究所内 (72)発明者 中川 幸也 東京都江東区豊洲3丁目1番15号 石川島 播磨重工業株式会社技術研究所内 (72)発明者 岸上 守孝 神奈川県横浜市鶴見区弁天町14番1号 財 団法人発電設備技術検査協会 鶴見試験研 究センター内 (72)発明者 山口 篤憲 神奈川県横浜市鶴見区弁天町14番1号 財 団法人発電設備技術検査協会 鶴見試験研 究センター内 (72)発明者 島 博文 神奈川県横浜市鶴見区弁天町14番1号 財 団法人発電設備技術検査協会 鶴見試験研 究センター内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 非破壊検査で欠陥寸法を推定するにあた
    って比較対象となる標準欠陥を内在させた非破壊検査用
    標準試験体であって、金属製標準試験体を構成する各部
    材の接合面のいずれか一方に、内在する欠陥の広さに相
    当する広さに水や有機溶剤で混練したセラミックスの粉
    末を塗布するとともに、接合面の周囲を電子ビーム溶接
    によってシールし、かつ、このシールした標準試験体を
    熱間静水圧プレスまたはホットプレスにより拡散接合
    し、前記セラミックスの粉末を塗布した部分に人工欠陥
    を内在させるようにしたことを特徴とする非破壊検査用
    標準試験体。
  2. 【請求項2】 非破壊検査で欠陥寸法を推定するにあた
    って比較対象となる標準欠陥を内在させた非破壊検査用
    標準試験体の製造方法であって、 金属製標準試験体を構成する各部材の接合面のいずれか
    一方に、内在する欠陥の広さに相当する広さに水や有機
    溶剤で混練したセラミックスの粉末を塗布する工程と、 接合面の周囲を電子ビーム溶接によってシールする工程
    と、 このシールした標準試験体を熱間静水圧プレスまたはホ
    ットプレスにより拡散接合する工程と、を有することを
    特徴とする非破壊検査用標準試験体の製造方法。
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