JPH09512641A - コリメータユニットを備えたx線検査装置 - Google Patents
コリメータユニットを備えたx線検査装置Info
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 47
- 229920002994 synthetic fiber Polymers 0.000 claims description 7
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000002431 foraging effect Effects 0.000 description 1
- UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N gadolinium atom Chemical compound [Gd] UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/06—Diaphragms
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
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- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/04—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers
Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1. 対象物(3)のX線画像を形成するためX線ビーム(2)を放出するX線 源(1)と、 上記X線画像をピックアップするX線検出器(5)と、 上記X線源(1)と上記X線検出器(5)の間に設けられ、調整可能なアパー チャ(31)を有し、X線を通さず、上記アパーチャ(31)の境界を定め、ダ イアフラム(8)の中心軸と実質的に垂直な方向に移動可能なブレード(9)に より構成され、上記X線ビームを制限するダイアフラム(8)とからなるX線検 査装置であって、 上記アパーチャ(31)の第1の設定に対し、上記ブレード(9)は、第1の 径の実質的に円形のアパーチャの境界を定め、 上記アパーチャ(31)の第2の設定に対し、上記ブレード(9)は、第2の 径の実質的に円形のアパーチャの境界を定めることを特徴とするX線検査装置。 2. 上記アパーチャ(31)の境界を定めることを意図された各ブレード(9 )のエッジ(32,33,34)は、 第1の曲率半径を有する第1のエッジ部(32)と、 第2の曲率半径を有する第2のエッジ部(33)とからなることを特徴とする 請求項1記載のX線検査装置。 3. 上記アパーチャ(31)の境界を定めることを意図する各ブレード(9) の上記エッジは、 該第1及び第2のエッジ部(32,33)の間にある第3の実質的に直線状の エッジ部(34)からなることを特徴とする請求項2記載のX線検査装置。 4. 上記各ブレード(9)は、同一の形状及び寸法を有することを特徴とする 請求項1乃至3のうちいずれか1項記載のX線検査装置。 5. 各ブレードは、上記ダイアフラム(8)の中心軸に垂直な方向で互いの上 を動き得るように、上記X線ビーム(2)の方向に連続的に配置され、 各ブレード(9)の位置は、該ブレード(9)が上記X線源(1)から遠い方 にあるとき、上記アパーチャ(31)の境界を定める該ブレード(9)の上記エ ッジ(32,33,34)が該アパーチャ(31)の中心から遠い方にあるよう に調整されることを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項記載のX線検 査装置。 6. 上記X線検出器(5)はカメラ(7)に光学的に結合されたX線画像増倍 器(6)よりなり、 上記第1及び第2の径の該アパーチャ(31)は、断面が上記X線増倍器(6 )の入口面(10)の第1の部分(11)及び第2の部分(12)に夫々正確に 対応し、上記X線増倍器(6)のフォーマット設定値に従って上記X線増倍器( 6)の出口ウィンドウ(14)に電子光学的に画像化される制限されたX線ビー ムを形成することを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれか1項記載のX線検 査装置。 7. 上記X線源(1)と上記X線検出器(5)の間に設けられ、上記X線ビー ム(2)の中及び外に個別に動き得る異なるX線吸収性のフィルタ素子(21) からなるX線フィルタ(20)を更に有し、 上記フィルタ素子(21)は取外しできるように上記X線フィルタ(20)に 取付けられることを特徴とする請求項1記載のX線検 査装置。 8. 対象物(3)のX線画像を形成するようX線ビーム(2)を放出するX線 源(1)と、 上記X線画像をピックアップするX線検出器(5)と、 上記X線源(1)と上記X線検出器(5)の間に設けられ、上記X線ビーム( 2)の中及び外に個別に動き得る異なるX線吸収性のフィルタ素子(21)から なるX線フィルタ(20)とにより構成されるX線検査装置であって、 上記フィルタ素子(21)は取外しできるように上記X線フィルタ(20)に 取付けられることを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。 9. 上記X線フィルタ(20)は、上記フィルタ素子(21)がクランプされ た合成材料製のホルダー(24)からなることを特徴とする請求項7又は8記載 のX線検査装置。 10. 合成材料製の上記ホルダー(24)は、上記フィルタ素子(21)を上 記ホルダー(24)にクランプするスナップ連結部(23)が設けられているこ とを特徴とする請求項9記載のX線検査装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL95200482.8 | 1995-02-27 | ||
EP95200482 | 1995-02-27 | ||
PCT/IB1996/000107 WO1996027196A1 (en) | 1995-02-27 | 1996-02-12 | X-ray examination apparatus comprising a collimator unit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09512641A true JPH09512641A (ja) | 1997-12-16 |
JP3583141B2 JP3583141B2 (ja) | 2004-10-27 |
Family
ID=8220050
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52611696A Expired - Fee Related JP3583141B2 (ja) | 1995-02-27 | 1996-02-12 | コリメータユニットを備えたx線検査装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5680434A (ja) |
EP (1) | EP0757839B1 (ja) |
JP (1) | JP3583141B2 (ja) |
CN (1) | CN1120503C (ja) |
DE (1) | DE69605730T2 (ja) |
WO (1) | WO1996027196A1 (ja) |
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EP1720173A1 (de) * | 2005-05-06 | 2006-11-08 | Deutsches Krebsforschungszentrum Stiftung des öffentlichen Rechts | Kollimator zum Begrenzen eines Bündels energiereicher Strahlen |
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-
1996
- 1996-02-12 CN CN96190300A patent/CN1120503C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1996-02-12 JP JP52611696A patent/JP3583141B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-02-12 WO PCT/IB1996/000107 patent/WO1996027196A1/en active IP Right Grant
- 1996-02-12 EP EP96901091A patent/EP0757839B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-02-12 DE DE69605730T patent/DE69605730T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-02-26 US US08/607,029 patent/US5680434A/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
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---|---|
DE69605730D1 (de) | 2000-01-27 |
DE69605730T2 (de) | 2000-07-20 |
US5680434A (en) | 1997-10-21 |
EP0757839B1 (en) | 1999-12-22 |
CN1149927A (zh) | 1997-05-14 |
EP0757839A1 (en) | 1997-02-12 |
WO1996027196A1 (en) | 1996-09-06 |
CN1120503C (zh) | 2003-09-03 |
JP3583141B2 (ja) | 2004-10-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040224 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040520 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040728 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080806 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090806 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100806 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100806 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110806 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |