JPH09511831A - パッケージのテスト装置及びその方法 - Google Patents

パッケージのテスト装置及びその方法

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JPH09511831A
JPH09511831A JP7528084A JP52808495A JPH09511831A JP H09511831 A JPH09511831 A JP H09511831A JP 7528084 A JP7528084 A JP 7528084A JP 52808495 A JP52808495 A JP 52808495A JP H09511831 A JPH09511831 A JP H09511831A
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Abstract

(57)【要約】 パッケージが少なくとも1つ、好ましくは2つのテストステーションを通じて運ばれる。各テストステーションに、重力によって移送経路に押しつけられているのが好ましいテスト・ヘッドが設けられている。パッケージがテストステーションを通過して移送されると、それが前記ヘッドを前記移送経路から離れさせて、このずれがモニタされる。そのパッケージの漏れによる、その後の経路の方向へのずれについてもモニタされるのが好ましい。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の名称 パッケージのテスト装置及びその方法 本発明はパッケージ、例えば、ポテトチップスの袋などスナック食品のパッケ ージをテストするための装置、及びその方法に関するものである。 一般的にはパッケージにこれを圧縮する負荷を加え、その影響を観察すること によってパッケージをテストする方法が知られている。一定の時間的間隔を置い て、そのパッケージを再度テストする場合もある。良品のパッケージの場合、2 つのテストでまったく同じ負荷が用いられれば、その場合、パッケージは、圧縮 量などの点で、まったく同じ挙動を示すはずである。しかし、そのパッケージが 空気や他の流体を含んでいて、漏出があれば、最初のテストで一定の収縮が起き る。したがって、圧縮量は良品のパッケージの場合より大きくなるであろう。さ らに、このパッケージは2番目のテストの開始時には収縮された状態にあり、そ して、(完全に収縮されている場合を除けば)、さらに収縮を受けることになる 。こうした原理で作動するテスト機器は、例えば、WO93/17317に示されている ように、かなり高度化されている。しかしながら、我々はこうしたテスト作業を 改善する方法を発見した。 第1の側面で、本発明はテスト基体を移送するためのコンベア手段を有するテ スト装置、及び移送経路に沿って配置された1つまたは複数のテスト・ステーシ ョンを提供し、こう したテスト・ステーションの少なくとも1つは移送経路に近づいたり、それから 離れる方向に動けるように構成されたテスト・ヘッドを有している。上記ヘッド は通常、その経路に沿って移送されるパッケージがそのヘッドに接触して、それ を移送経路から離れる方向に圧迫するように、いつもは上記移送経路の方向に圧 力をかけており、そしてその結果としてヘッドのずれが観察されるようになって いることを特徴としている。 このテスト・ヘッドは重力だけを用いて移送経路の方向に圧迫されるのが望ま しい。その接触面は、移送経路に沿ってそのパッケージが継続的に動けるように 構成されているのが好ましく、また、一連の低背圧ローラが用いられるのが好ま しい。 テスト・ヘッドの動きを直接に引き起こすのはテスト基体の到着であるから、 テスト・ステーションの動作をパッケージの到着を同期させたり、複数のテスト ・ステーションの動作を同期させるために特別に複雑な装置は必要ではない。テ スト基体が到着してテスト・ヘッドが上昇した後、第1基体がまだそのヘッドに 存在している間に第2基体が到着した場合は、必要に応じてヘッドをさらに上昇 させるだけである。対照的に、動力ピストンを用いた従来のテストシステムの場 合、1つまたは複数のパッケージを突然動かしてしまう傾向があった。さらに、 テスト・ヘッドは重力で圧迫することができるから、そのメカニズムは非常に単 純にすることができ る。それは又一貫性を有していて、信頼性も高いのに対して、特に空気システム の場合は変動を受けやすい。これらのテストシステムは必然的に振動を持ち込ん でしまうのである。 この装置は、それぞれ移送経路に沿って移動している基体によって、持ち上げ られるようになっているテスト・ヘッドを有する2つのテスト・ステーションを 有していることが好ましい。また各テスト・ステーションは上記テスト・ヘッド のずれに関する信号を引き出す手段を含んでいることが好ましい。この装置はま た、上記ずれ検出装置からデータを受ける演算手段を含んでいてもよい。 テスト基体がテスト・ステーションに到着した場合、それによってテスト・ヘ ッドが持ち上げられる。そのテスト基体が漏れを含んでいる場合、テスト・ヘッ ドはある程度低下する。第1テスト・ステーションは付加的な出力信号を発生さ せるのに適合化されているか、又はデータがコンピュータによって付加的に処理 されるのが好ましい。つまり、テスト基体がヘッドをxだけ上昇させ、次にyだ け下降させると、その結果得られるデータは(x+y)に対応する。第2テスト ・ステーションは(x−y)に対応する差分データをもたらすのが好ましい。 2つ又はそれ以上のテスト・ステーションを有する従来の装置においては、テ スト・ヘッドの相対的な高さに対して慎重な機械的調整を行うことが必要である 。本発明においては、特に重力圧迫ヘッドを用いた場合は、こうした問題はかな り 軽減される。さらに、調整は機械的にではなく、電子的に行うことができる。し たがって、漏れのない良好なテスト基体がシステム内を通過すると、すべてのテ スト・ステーションで同じ値が提供される。もし同じ値が与えられない場合、1 つ、または複数のテスト・ステーションからのデータによってコンピュータによ り補正を行うことができる。 テスト・ヘッドによって加えられる負荷を変えることが望ましい場合は、重り を負荷したり、取り除いたりすることだけでそれを行うことが可能である。 本発明の別の側面においては、テスト基体をテストするための方法が提供され 、上記方法はテスト基体の通過がテスト・ヘッドのずれを起こすように構成され たテスト・ヘッドを有するテスト・ステーションを通じてテスト基体を移送させ る行程を含んでいる。ヘッドのずれがモニターされて、テスト基体に関する情報 が得られる。2つのテスト・ステーションが設けられ、テスト基体がそれらのテ スト・ステーションを連続的に通過するのが好ましい。 以下に、図面を参照して、本発明の実施例についてさらに詳細に説明するが、 この図面は本発明を具体化した装置を図式的に示したものである。 図面は移送部12を有するコンベア・ベルトを示している。移送部12は2つの第 1,2テスト・ステーション14,16を通過する。これらは基本的に同じである。 それぞれ垂直ステム20の相対的なずれを示す出力を行うエンコーダ22と取り外し 可能に係合されている垂直ステム20と組み合わされたテストヘッド18を有してい る。エンコーダ22からの出力はコンピュータ24に送られる。 各テストヘッド18はローラ・チェーン26の長さ方向のための移送部材である。 このローラ・チェーン26は1列の自由に作動するローラで構成されている。各ロ ーラ28はコンベアの移送部12の横方向に伸びている。それは実際的には、多重化 された同軸の、独立に回転することができるローラで構成されている。こうした ローラ・チェーン26は、例えば、Rexnordから入手することができる(その従来 の使用目的はコンベア・ベルト用で、ベルトが移動し続けている間は移送される 物品が静止されているような表面を提供することを目的としている。)。各テス トヘッド18の上流側端部にリード−イン構成30が設けられており、チェーンが一 定の角度で上方に延びている。 これらテストヘッド18は上方及び下方に自由にずらすことができる。それらは 通常移送部12と接触するように重力で圧迫されている(また、それらが下がり過 ぎないようにストップ手段を設けることも可能である。)。この力は、キャリア 42に重りを付加したり、又はそれを取り除くことによって変えることができる。 ポテトチップスのパケット(袋づめ)などのテスト基体7がコンベア10に沿って 通過すると、それは第1ヘッド18の第1リード−イン30に接触して、それを上昇 させる。上昇の量はエンコーダ22によって検出される。テス ト基体7がヘッド18とコンベア10との間を通過すると、主にヘッド18の平坦な長 さの部分32では、ヘッド18は動かないはずである。しかし、そのパケットに漏れ があると、ヘッド18は多少下降する。こうした下降はすべてエンコーダ22によっ て検出される。パッケージは第1テスト・ステーション14を離れ、同様の手順が 第2テスト・ステーション16でも繰り返される。 コンピュータ24は2つのエンコーダ22からデータを受け取る。このデータが分 析されて、そのパッケージの性質、特にその圧縮性と漏れのあるなしに関する情 報が提供される。 テスト基体7が1つのテスト・ステーションを通過すると、それは2個のデー タ:つまりテスト基体7の到着によってヘッド18が持ち上げられた量を示す上昇 値と、そのテスト基体7がその下に存在している場合にそのヘッド18が下降した 量に関する下降値(ゼロの場合もある)を提供する。好ましくは、第1ステーシ ョン14からのこれらのデータは加算的に組み合わされ、第2テスト・ステーショ ン16で減算的に組み合わされる。これによって、以下に説明するように、非常に 高度の感受性が得られる。 それぞれテスト基体上に押しつけられているプランジャを有する2つのテスト ・ステーションを有する従来の装置の場合、第1ステーションに到着する良好パ ッケージはエンコーダが150の値を数えられるように、第1ヘッドが一定の距離 だけ動けるようにする。第2テスト・ステーションでも同じ ことが起きる。第1テスト・ステーションで、一定の空気またはガスが排出され て、例えばヘッドが200カウントだけ下降する。第2ステーションで、同じだけ の漏れがさらに起きれば、ヘッドは250カウント下降する。このようにパッケー ジに漏れがあるという事実は、第1ステーションでのカウントと第2ステーショ ンでのカウントとの比率が1:1ではなく200:250であることによって示される 。 本発明を適用した装置の場合、同様の状況で、第1ステーションに到着するパ ッケージは第1ヘッドを150カウント持ち上げる可能性がある。そして、そのパ ッケージが良品であれば、第2ステーションでも同じことが起きる。しかしなが ら、パッケージに漏れがあって、そのパッケージの通過時に各ヘッドが50カウン ト下降すれば、その場合第1ヘッドを最初に150カウントの高さまで上昇させて 、次に50カウント下降させ、全部で200の(加算された)値が得られる。圧縮さ れたパッケージの場合は、100カウントの間第2ヘッドを上昇させる。再度、漏 れによる下降が50カウントだとすれば、減算的な合計値は50カウントである。つ まり、第1,2ヘッドから得られる値はそれぞれ200カウントと50カウントであ る。したがって、その漏れの程度が200:250で示されるのではなくて、200:50 で示される。あきらかにこの方が検出はずっと容易である。このことは、はるか に小さな漏れでも検出できることを意味している。一貫性と重力圧迫システムの 使用による振動の欠如とにより、この効果はさらに促進され る。 データはまた、キーボード/表示装置50からコンピュータ24にも送られる。例 えば、これらのデータはテスト基体の厚み及び漏れ度の許容限界値の設定に用い ることもできる。この装置は、コンベア10から不良基体を取り出す装置、例えば 、コンピュータで起動できるブロワ52を含むこともできる。このコンピュータは また、第1テスト・ステーション14のすぐ上流側に設置された基体検出装置60か らの入力を受け取るようにしてもよい。 このキーボードはまた、システム及びテスト・ステーション間の差の許容値を 較正するためにも用いられる。したがって、キーボードで較正モードに設定され 、標準的で漏れのない基体がシステムを通過させられるようになる。2つのヘッ ドの上昇値が同じでない場合、コンピュータはコンコーダによって与えられたデ ータに加算されたり、そのデータから減算されるための補償値を保存記憶する。
【手続補正書】特許法第184条の8 【提出日】1996年2月28日 【補正内容】 34条補正 特許請求の範囲 1.テスト基体(7)を移送するためのコンベア手段(1)と、移送経路(12)に沿っ て配置された単数又は複数のテスト・ステーション(14,16)を有しており、そう したテスト・ステーション(14,16)の少くとも1つが前記移送経路に近接したり 、又はそれから離れるように動くことができるように構成されたテスト・ヘッド (18)を有しており、前記ヘッドが、移送経路に沿って移送されているパッケージ がそのヘッドに接触して、それを移送経路から離れる方向に圧迫するように、通 常は移送経路に向けて圧迫されており、そして、テスト・ヘッドの接触面がパッ ケージが移送面に沿って継続的に移動できるようになっており、さらにその結果 として生じるヘッドのずれが、モニタリング手段(20,22)によってモニタされ、 そしてテスト基体としてのスナック食品のパッケージをテストするのに適してお り、前記接触面が低バック・ライン圧力ローラの列によって形成されており、モ ニタリング手段(20,22)が前記ヘッドのずれを測定するように作動し、該ヘッド のズレの量に関連する対応出力信号を提供することを特徴とするパッケージのテ スト装置。 2.テスト・ヘッド(18)が重力だけで移送経路に押しつけられることを特徴とす る請求項1によるパッケージのテ スト装置。 3.テスト・ステーションの作動がパッケージの通過によるテストヘッドの付勢 によって起動され、前記動作をテスト基体の到着と同期させための追加手段は存 在しないことを特徴とする請求項1又は2によるパッケージのテスト装置。 4.2つのテスト・ステーションを有していて、それぞれのテスト・ステーショ ンが移送経路に沿って通過中のテスト基体によって持ち上げられるようになって いることを特徴とする請求項1によるパッケージのテスト装置。 5.各テスト・ステーションがテスト・ヘッドのずれに関連した信号を引き出す ための手段を有し、テスト装置がずれ検出器からのデータを受け取るための演算 手段を有していることを特徴とする請求項4によるパッケージのテスト装置。 6.ヘッドがパッケージによって移送経路から離された距離に関する上昇値R及 びパッケージとの接触中に、移送経路の方向にヘッドが戻る距離に関する下降値 Fとを判定する手段、ならびに第1テスト・ステーションに関して(R+F)、 第2テスト・ステーションに関して(F−R)を判定するための手段を有するこ とを特徴とする請求項4又は5によるパッケージのテスト装置。 7.ヘッドによってかけられる荷重を変えることができるように、各テスト・ヘ ッドが重りを受入れられるように なっている請求項1ないし6のいずれかによるパッケージのテスト装置。 8.スナック食品からなるテスト基体をテストするテスト方法において、請求項 1ないし7のいずれかによるテスト装置のテスト・ステーションを通じてパッケ ージを移送して、テスト基体の通過が、このテスト基体に対して押しつけられる テスト・ヘッドのずれをおこさせるようにし、そのずれを測定してテスト基体に 関する情報を得る工程を有するパッケージのテスト方法。 9.テスト基体が2つのテスト・ステーションを連続的に通過することを特徴と する請求項8によるパッケージのテスト方法。 10.請求項1〜7のいずれかによるパッケージのテスト装置を用いた請求項8又 は請求項9によるパッケージのテスト方法。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.テスト基体(7)を移送するためのコンベア手段(1)と、移送経路(12)に沿っ て配置された単数又は複数のテスト・ステーション(14,16)を有しており、そう したテスト・ステーション(14,16)の少くとも1つが前記移送経路に近接したり 、又はそれから離れるように動くことができるように構成されたテスト・ヘッド (18)を有しており、前記ヘッドが、移送経路に沿って移送されているパッケージ がそのヘッドに接触して、それを移送経路から離れる方向に圧迫するように、通 常は移送経路に向けて圧迫されており、そして、テスト・ヘッドの接触面がパッ ケージが移送面に沿って継続的に移動できるようになっており、さらにその結果 として生じるヘッドのずれが、モニタリング手段(20,22)によってモニタされ、 そしてテスト基体としてのスナック食品のパッケージをテストするのに適してお り、前記接触面が低バッグ・ライン圧力ローラの列によって形成されており、モ ニタリング手段(20,22)が前記ヘッドのずれを測定するように作動し、該ヘッド のズレの量に関連する対応出力信号を提供することを特徴とするパッケージのテ スト装置。 2.テスト・ヘッド(18)が重力だけで移送経路に押しつけられることを特徴とす る請求項1によるパッケージのテスト装置。 3.テスト・ステーションの作動がパッケージの通過によ るテストヘッドの付勢によって起動され、前記動作をテスト基体の到着と同期さ せための追加手段は存在しないことを特徴とする請求項1又は2によるパッケー ジのテスト装置。 4.2つのテスト・ステーションを有していて、それぞれのテスト・ステーショ ンが移送経路に沿って通過中のテスト基体によって持ち上げられるようになって いることを特徴とする請求項1によるパッケージのテスト装置。 5.各テスト・ステーションがテスト・ヘッドのずれに関連した信号を引き出す ための手段を有し、テスト装置がずれ検出器からのデータを受け取るための演算 手段を有していることを特徴とする請求項4によるパッケージのテスト装置。 6.ヘッドがパッケージによって移送経路から離された距離に関する上昇値R及 びパッケージとの接触中に、移送経路の方向にヘッドが戻る距離に関する下降値 Fとを判定する手段、ならびに第1テスト・ステーションに関して(R+F)、 第2テスト・ステーションに関して(F−R)を判定するための手段を有するこ とを特徴とする請求項4又は5によるパッケージのテスト装置。 7.ヘッドによってかけられる荷重を変えることができるように、各テスト・ヘ ッドが重りを受入れられるようになっている請求項1ないし6のいずれかによる パッケージのテスト装置。 8.スナック食品からなるテスト基体をテストするテスト方法において、請求項 1ないし7のいずれかによるテスト装置のテスト・ステーションを通じてパッケ ージを移送して、テスト基体の通過が、このテスト基体に対して押しつけられる テスト・ヘッドのずれをおこさせるようにし、そのずれを測定してテスト基体に 関する情報を得る工程を有するパッケージのテスト方法。 9.テスト基体が2つのテスト・ステーションを連続的に通過することを特徴と する請求項8によるパッケージのテスト方法。 10.請求項1〜7のいずれかによるパッケージのテスト装置を用いた請求項8又 は請求項9によるパッケージのテスト方法。
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