JPH09510143A - ヒドロキシル遊離基を発生しそして水中に溶解した化学物質を酸化する電気化学的方法および装置 - Google Patents

ヒドロキシル遊離基を発生しそして水中に溶解した化学物質を酸化する電気化学的方法および装置

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Abstract

(57)【要約】 本発明はヒドロキシル遊離基を生成し水中に分散した化学物質を酸化して分解する電気化学的方法を提供する。これはヒドロキシル基を生成するに十分な正の陽極電位で操作できる新規な電極を利用する。水中に分散した化学物質を酸化する完全装置C54A,54B)が記載され、また上記方法に好適な操作条件が記載されている。酸化反応の例として除草剤、殺虫剤、トルエン、クレゾール及びフルオロアルキル界面活性剤の酸化が含まれる。

Description

【発明の詳細な説明】 ヒドロキシル遊離基を発生しそして水中に溶解した化学物質を酸化する電気化学 的方法および装置 発明の背景 背景 − 発明の分野 本発明は、ヒドロキシル遊離基を電気化学的に発生させる方法、水中に溶解ま たは分散した化学物質を酸化する方法、およびこれらの方法を利用する水の精製 装置を提供する。 背景 − 関係する特許出願 この方法において利用される電極および電気化学的槽および前記電極を製造す る方法は、同一本発明者らにより1994年2月10日に提出された、関係する 米国特許出願第08/194,727号、発明の名称「電極、電極の製造方法、 および電気化学的槽」に記載されている。これらの電極は、ニオブまたはタンタ ルでドープされた二酸化チタンから構成された酸化物コーティングを有する、チ タン金属の基質から成り、合計の金属に関する+4原子価状態のニオブまたはタ ンタルのモル分率は0.25%またはそれより大きい。 上に示した関係する特許出願第08/194,727号は、引用することによ って本明細書の一部とされる。 背景 − 先行技術の開示 電気化学的方法は、水中の化学的不純物を除去または分解するために時々使用 される。例えば、陰極還元は、銅、ニッケル、および銀を包含する重金属イオン を除去するために使用される(Kuhn 1971)。陽極酸化は、シアン化物 およびフェノール類(Ku hn 1971a)、アンモニア(MarincicおよびLeitz 197 8)、および有機染料(AbdoおよびAl−Ameeri 1987)を破壊 するために使用することができる。これらの出願のすべては、ヒドロキシルを発 生させるために要求される電位よりかなり低い、中程度の陽極電位において起こ る、非常に特異的な基質を含む、非常に特異的な陽極反応を包含する。標的基質 の部分的酸化のみが達成される。望ましくない副生物が形成することがある;例 えば、フェノールの電解酸化は、さらにいっそう不都合な水の汚染物質である、 ある量のクロロフェノールを生成することがある。上に引用した先行技術のいず れも、有機物質を完全に酸化することができず、水中に溶解した広範な種類の化 学物質を非特異的な方法において酸化することができない。 硝酸を含有する媒質中のNO3・ラジカルの発生を包含する電気化学的方法が 報告された(Gedye et al.、1987)。生成した遊離基は溶解し た有機化合物と反応し、そしてそれらを破壊する。この反応は高い濃度の硝酸を 必要とし、そして電解液は高度に腐食性である。したがって、それは実際には強 酸溶液中に溶解した有機化合物を破壊することに限定される。 ヒドロキシル遊離基は、ほとんどの有機分子を攻撃し、ならびに無機の分子お よびイオンを酸化する、非常に強力な、非特異的酸化種である(Buxton et al.、1988)。水中に分散した二酸化チタンの粒子を紫外線で照射 することによって、ヒドロキシル遊離基は生成し(Kormann et al .、1991)、こうして生成したヒドロキシルは溶液中の有機物質と反応し、 それらを分解する。光化学的反応により生成したヒドロキシル基はTiO2粒子 (S・OH)の表面に結合すると考えられ、そして基質の酸化は表面において起 こる(同一の参考文献)。太陽光線は小 さい比率のみの使用可能な紫外線エネルギーを有し、そして光化学的方法は小さ い量子収量を有するので、光化学的方法はほとんど実験室の好奇心に止まってい る。実験室において、ヒドロキシルは適度に酸性の溶液中に溶解した鉄塩と過酸 化水素とのフェントン反応(Fenton’s Reaction)と呼ばれる 反応により生成する。 陰極におけるいくつかの反応を包含するヒドロキシルを生成する間接的方法が 報告された(TomatおよびRigo、1984)。この方法は陰極における 酸素の還元により過酸化水素を生成すると同時に、溶液中の第二鉄を第一鉄に還 元することを包含する。次いで、過酸化水素は第一鉄と反応してヒドロキシル基 を生成する(Fenton’s Reaction)。他の多価金属イオン、例 えば、銀のイオンを鉄の代わりに使用することができる。この方法を使用して水 中に溶解したトルエンおよび他の有機化合物を酸化する能力が証明されたが、こ の方法は非効率的であり、一般にいくつかの理由で実際的ではない。第1に、理 論的に最大の電流収量は槽を通過する電荷の1ファラデー当たり1/3モルのヒ ドロキシルである。第2に、多価金属の可溶性塩を溶液に添加しなくてはならな い。鉄の場合において、第二鉄イオンが溶液の中に止まるようにするために、溶 液は酸性でなくてはならない。他のイオン、顕著には銀は、毒性または価格のた めに、望ましくない。最後に、反応速度は陰極の表面に向かう溶解酸素の拡散速 度(この拡散速度は空気飽和水中に溶解した酸素濃度に比例する)により制限さ れ、したがって、小さい。CHEZ、米国特許第4,676,878号は、種々 の半導体表面組成物を有する電極を利用するヒドロキシル遊離基の電気化学的生 成を記載している。Chezは少なくとも12.6ボルトを印加して電気化学的 槽に電力を与えなくてはならないことを 教示しており、彼はこの電気化学的槽が単一の電極、単一の陰極、およびそれら の間の水性電解液から成るとして記載している。彼の7つの実施例のうちの5つ の言及において、Chezは14.5ボルトを槽に印加し、彼の実施例のうちの 2つの言及において、彼は電流密度が平均0.0025アンペア/平方インチ= 0.4mA/cm2であると述べた。Chezは陽極電位を報告していないが、 この電流密度において、陰極電位は0〜−2ボルトの間であった;したがって、 Chezの実施例において、14.5Vの槽電圧はEanode=12.5〜14. 5Vvs.NHEに相当し、そしてヒドロキシル遊離基を生成するために必要で あるとChezが教示する12.6Vの槽電圧はEanode=10.6〜12.6 Vvs.NHEに相当する。Chezは、また、ヒドロキシル遊離基がその上に 発生する陽極の表面の部分はp型半導体でコーティングすべきであると教示して いる。 BIANCHI、米国特許第3,948,751号および米国特許第4,00 3,817号は、チタン金属の基材を、二酸化チタン、大割合の白金族金属、お よび、いくつかの実施例においてまた、ニオブまたはチタン、を含有する酸化物 コーティングで被覆した電極を記載した。Bianchiが記載する電極の製造 方法は、チタン金属の基質上に、酸化物コーティングにおいて所望の金属の化合 物を含有する溶液でハケ塗りし、次いで電極を空気中で加熱してコーティング溶 液を蒸発させ、熱分解し、所望の酸化物コーティングを生成することを包含する 。 Bianchiが記載する電極をChezと操作的に組み合わせてヒドロキシ ル遊離基を生成することができない。酸化物コーティング中の白金族金属は、ヒ ドロキシル遊離基を生成するために要求されるより非常に小さい陽極電位値にお いて、分子状酸素への水の 加水分解を触媒する。このような電極を、原理的に、ヒドロキシル遊離基を生成 するために十分に大きい電位に分極する場合、それは豊富な酸素の泡を生成する が、ヒドロキシル遊離基をほとんどあるいはまったく生成しないであろう。 Bianchiは、また、チタン金属の基部を白金族金属ではなく、ニオブま たはタンタルでドープした二酸化チタンから成る酸化物でカバーされた電極を製 造する可能性を言及している。Bianchiはこの可能性を明らかに実行しな かった。なぜなら、彼の実施例はこの記載に相当する電極を含まないからである 。この可能性がBianchiにより実行されなかった理由は、得られる電極が 生ずる酸化物コーティングの低い導電性のために操作不可能であろうということ である。 酸化物コーティング中のNbまたはTaの少なくとも一部分は+4原子価状態 であることが必須である。なぜなら、Nb+4またはTa+4の中に残留する1価の 電子は、酸化物コーティングに有用な導電性を付与するn型ドーピングを提供す るからである。引用することによって本明細書の一部とされる前述の関係する特 許出願に開示されている電極において、酸化物コーティング中のNbまたはTa は、少量の水蒸気を含有する水素下にコーティングされた電極をアニーリングす ることによって、+4原子価状態に変換され、そしてこのアニーリング法は電極 に有用な導電性を付与する。NbまたはTaを+4原子価状態に還元する効果は 第7図に例示されており、ここで水素下のアニーリングは電流密度を50〜10 0倍増加する。 NIDOLA、米国特許第4,110,180号は、二酸化チタンと、白金族 金属酸化物(Nidolaの実施例において二酸化ルテニウム)とを含む酸化物 コーティングを有するTi金属基質を含 んでなる電極を記載しており、ここでTi金属基質を10%までのNbまたはT aと合金する。白金族金属の存在は、Nidolaの電極をヒドロキシル遊離基 の生成について操作不能とし、そして電極中のNbまたはTaはTi金属基質中 に存在するが、酸化物コーティング中に存在しない。 OKAZAKI、米国特許第4,077,862号は、電解手段により水のp Hを変化する電気化学的装置を記載している。OKAZAKIは水が「異なる電 流密度においてヒドロキシル基を有する2つの成分に分離される」と言っている が、本発明の記載および実施例から、「水酸イオン」は「ヒドロキシル遊離基」 を意味しないことが完全に明らかである。目的および利点 上に示した関係する特許出願において、我々はヒドロキシル遊離基を生成し、 それらを水溶液中に解放するために十分に正である電位において作動することが できる電極を開示した。電極はチタンまたはチタン合金の基質から成り、+4原 子価状態のニオブまたはタンタルでドープされた結晶質二酸化チタンのコーティ ングを有する。添加剤金属のモル分率が0.25〜25%の範囲であり、添加剤 金属が主として+4原子価状態であり、そして好ましい組成の範囲が2〜6モル %であるとき、有用な導電性が電極に付与される。 我々は、ヒドロキシル遊離基を生成することができそして水中に溶解した有機 物質を4Vvs.NHEより低いEanodeにおいて酸化することができること、 すなわちChezの教示に照らして驚くべきでありかつ予期せざる発見、を証明 した。我々は、さらに、水中に溶解したいくつかの有機化合物を、2Vvs.N HEより低いEanodeにおいて、陽極の表面における表面結合したヒドロキシル 遊離基により酸化することかできることを証明した。我々は、Chezが開示す るより非常に高い電流密度において、これらの方法の作動可能性を証明した。我 々は、さらに、Chezにより教示される陽極電位の範囲において我々の陽極を 作動することはそれらを損傷することを発見した。我々の方法について特定され た陽極電位および電流密度の範囲は、我々の電極に対して特異的である、これら の我々の観察を反映する。したがって、この場合において、構造は方法の工程に 影響を与える。 陽極の表面において水または水酸イオンの酸化によりヒドロキシル遊離基を発 生する可能性は明らかではない。なぜなら、ほとんどの電極材料は、ヒドロキシ ルを発生するために要求されるよりかなり低い電極電位において、水を酸化しか つ酸素を発生するために十分に電気触媒的であるからである。例えば、普通のチ タン陽極を白金族金属でドープして酸素の発生を触媒し、これにより、室温にお いて1.19〜0.0592pHボルトに等しい、分子状酸素を発生するために 要求されるより非常には高くない電位において、陽極を作動可能とする。ニオブ またはタンタルを使用するドーピングはこのような効果をもたない。さらに、ほ とんどすべての金属組成物を包含する、大部分の電極材料は、ヒドロキシル遊離 基を発生させるために十分に大きい正の電位に暴露するとき、ひどく腐食するで あろう。それらの組成のために、我々の陽極はヒドロキシル遊離基のすぐれた収 率を提供し、そしてヒドロキシル遊離基を発生させるために十分な正電位におい て作動するとき、腐食しない。 芳香族環および炭素−炭素二重結合を含有する有機分子は、芳香族環または二 重結合を破壊する反応において、ヒドロキシル遊離基により優先的に攻撃される (Buxton et al.、1988)。これは、電解または燃焼により時 々形成される、高度に望ま しくない芳香族化合物、例えば、クロロフェノールまたはテトラクロロジベンゾ ジオキシン(「ジオキシン」)は、ヒドロキシルにより優先的に攻撃され、した がって、この方法により生成することができない。 我々は、除草剤および殺虫剤、トルエン、クレゾール、およびフルオロアルキ ル発泡剤を包含する、いくつかの有機化合物の電解的破壊を証明し、そしてこの 方法に対して有利な条件を定め、そしてこの方法を実施する実際の装置を記載し た。 我々は、水に重炭酸ナトリウムを添加することによって導電性とした水中で有 機化合物を酸化する方法を首尾よく操作し、二酸化炭素を含有する空気を電解液 を通して泡立てて通入することによって、電解液のpHをコントロールした。重 炭酸ナトリウムは完全に無害の化学物質であり、そして二酸化炭素は酸化反応の 無害の生成物である。他の電解方法は、これらの温和な条件下に多数の有機化合 物を非選択的に酸化することができない。 ヒドロキシル遊離基は、水性媒質の中に存在することができる最も強力な酸化 剤である;より強い酸化剤(例えば、酸素原子)のいかなるものも水を酸化して HO・(aq)をつくるであろう。したがって、我々は水中に溶解または分散し た有機汚染物質の破壊を可能とする、最も強力な酸化法を発明したと言うことが できる。 開示された方法は、水中に溶解または分散した少量の高度に毒性の有機化合物 を破壊するために適当である。農業に関係する重要な潜在的用途は、水、例えば 、滞留する噴霧溶液、または貯蔵容器または噴霧装置をすすぐために使用した水 、の中に溶解した殺虫剤または除草剤を破壊することである。石油の生産および 精製に関係する他の重要な用途は、水中に溶解した小濃度の芳香族炭化水素およ びフェノール類を破壊することである。これらの用途に利用可能な すべての他の方法は、いっそう複雑であり、いっそう費用がかかり、固体状廃棄 物を生成し、または空気の汚染を生成する。 この方法を使用して、また、水溶性の硫黄含有イオンおよび他の酸化可能な無 機種を破壊することができる。発明の説明 本発明は、ヒドロキシル基を電気化学的に発生する方法、水中に溶解または分 散した化学物質を酸化する方法、および上記の関係する出願に記載されているコ ーティングされた電極を利用する水精製装置を提供する。 発明の説明 − 定義 「添加剤金属」は、我々の電極の酸化物コーティングの中にNbO2またTa O2として存在するNbまたはTaまたはそれらのいくつかの組み合わせを意味 する。 「アニール」または「水素アニール」は、電極を製造する最終工程を意味し、 この工程においてTi金属基質の水素の脆化または水素化を防止するために十分 な量の水蒸気を含む水素の雰囲気の中で、電極を600〜1000℃の温度に加 熱する。 「陽極」は、正電圧を印加する電極である。 「陽極電位」は、陽極の電極電位である。 「水性ヒドロキシル遊離基」またはHO・(aq)は、水性媒質を通して拡散 しかつ電極表面に結合していないヒドロキシル遊離基である。 「重炭酸塩緩衝液」は、6%の二酸化炭素を含有する空気で飽和され、25℃ においてpH=8.0および90℃においてpH=8.9を有する、0.2Mの NaHCO3溶液を意味する。 「双極槽」は、電流が双極電極に対して垂直に槽を通して流れる ように、配列で組み立てられた多数の双極電極を含んでなる。電流源は配列のい ずれかの端における電極に接続されており、そして配列全体を通して流れる。こ の種類の電気化学的槽は、上記の関係する出願の第2図に描写されている。 「双極電極」は、一方の表面が陽極として働き、そして他方の表面が陰極とし て働く、平らな電極である。 「陰極」は、負電圧を印加する電極である。 「槽電圧」(Vcell)は、1つの陽極および陰極と、それらの間の電解液とか ら成る電気化学的槽に電力を与えるために印加された電圧である。これは「電気 化学的槽」および「槽電圧」の厳密な科学的定義である。 「クラスIの電極」は、EanodeがHO・(aq)を発生させるために要求さ れる最小ターンオン電位より小さいとき、非常にわずかの電流を流し、そしてEanode がこの値であるとき、iは急速に増加し、HO・(aq)の生成が主要な 電極反応であることを示す。 「クラスIIの電極」は、HO・(aq)を生成するための最小ターンオン電 位より0.5ボルトまで低くまで電流を流し始め、そしてEanodeがターンオン 電位を越えて増加するとき、iは円滑に増加し、HO・(aq)およびS・OH の双方が生成されていることを示す。 「電流密度」iは、アンペア/平方センチメートルで測定した、電極の部分を 通過する電流をその部分の表面積で割った値である。 「電流限定法」は、反応速度が電流密度により限定される状況を記載する。 「拡散限定法」は、陽極表面に向かう基質分子の拡散速度により反応速度が限 定される状況を記載する。 「EHO.aq」は、式(2)により与えられるHO・(aq)の生成のための平 衡半槽電位である。 「E0 HO.aq」は、式(1)、すなわち、pH=logh0=0であるときの、 HO・(aq)の生成のための標準半槽電位である。 「Emax」は、永久的損傷の恐れなしに電極を作動することができる最大陽極 電位である。 「EO2/H2O」は、式(9)により与えられる、酸素の還元のための半槽電位で ある。 「Emin」は、式(8)により与えられる、S・OHを発生させるために要求 される陽極電位の最小値である。 「ETO.bicard」は、式(5)により与えられる、重炭酸塩緩衝液中のターン オン電位の近似値である。 「導電性水性媒質」は、電気化学的槽における水溶液であり、この方法により 要求される導電性を提供するために適切な濃度で溶解した電解質を含有しそして 、また、溶解または分散した酸化可能な物質を含有することができる。 「電気化学的槽」または単に「槽」は、1または2以上の陽極、1または2以 上の陰極を含んでなり、そして水性電解液は隣接する陽極と陰極との間に存在す る。これは「電気化学的槽」の普通の技術用語法である。この用語法における「 電気化学的槽」は、実際に、直列の、厳密に定められたいくつかの「電気化学的 槽」から成ることができ、それゆえ全体の「槽電圧」は厳密に定められた多数の 「槽電圧」であろう。 「電極」は、「陽極」および「陰極」の双方を包含する用語である。交流を使 用する場合、同一電極は間で交互して陽極および陰極として働くことができる。 「電極電位」は標準水素電極(NHE)に関する電位である。 「h0」は陽極の表面に直ぐに隣接するHO・(aq)の濃度(モル/l)で ある。 「HO・(aq)」は「水性ヒドロキシル遊離基」である。 「半槽電位」は、還元反応または酸化反応のいずれが論じられていても、常に 還元電位を意味する。 「ヒドロキシル遊離基」は、「表面結合ヒドロキシル遊離基」ならびに「水性 ヒドロキシル遊離基」を包含する。 「i」は「電流密度」である。 「内部の部分」:「表面の部分」を参照のこと。 「添加剤金属のモル分率」または単に「モル分率」は、百分率として表した酸 化物コーティング中の金属の合計のモル数に関する(Nb+Ta)のモル分率で ある: モル分率=100%×(Nb+Ta)/(Ti+Nb+Ta+他の金属)酸化物 コーティング中の「合計の金属に関する+4原子価状態の添加剤金属のモル分率 」 =100%×(Nb+4+Ta+4)/(Ti+Nb+Ta+他の金属) 分子は+4原子価状態のみのNb+4Ta+4のモル数であるか、分母は、酸化状 態に無関係に、酸化物コーティング中のすべての金属のモル数を含む。 「有機物質」は、有機化合物、有機遊離基、および有機イオンを包含する。 「酸化」は、酸化反応、ならびに特別の化学的転位を実施することを意図する 酸化反応による、化学物質の分解および破壊を包含する。ヒドロキシル遊離基の 特別の反応は(a)水素原子の分離、(b)電子の抽出、および(c)ヒドロキ シルの二重結合または芳香 族環への付加を包含し、それらのすべては酸化反応であると適切に考えられる。 「pH」は、前記電気化学的槽における水中の水素イオン活性度の−log10 である。 「白金族金属」は、Ru、Rh、Pd、Os、Ir、およびptである。 「多孔質陽極」は、焼結または溶接され、または他の方法で接触点において融 合されて、多孔質および透過性であるが、物理的に合着性かつ導電性の構造物と されたTi金属の繊維または粒子から形成された金属基質から構成されており、 そして前記金属基質は適当な組成の酸化物コーティングでコーティングされてい る。他の態様において、多孔質陽極は圧縮され、焼結され、または他の方法で一 緒に融合されて導電性構造物とされた、適当な組成の混合金属酸化物材料の粒子 から成る。 「S」は、電極表面を表す。 「S−OH」は、電極表面に結合した水酸イオン、HO-を表す。 「S・OH」:「表面結合ヒドロキシル遊離基」を参照のこと。 「半導体」は、デゼネレートした半導体として挙動する、低濃度におよび非常 に高濃度にドープされた金属酸化物組成物の双方を記載するために使用される。 「半導体金属酸化物組成物」は陽極の酸化物コーティングの組成物を意味するか 、または陽極が均一な組成の固体の物体である場合、陽極の組成物を意味する。 「基質」は、ヒドロキシル遊離基との反応により酸化される水中に溶解した有 機または無機の化学種である。 「表面結合ヒドロキシル遊離基」またはS・OHは、陽極表面に結合したヒド ロキシル遊離基または陽極表面に結合した同様な遊離 基種、例えば、陽極表面に結合した酸化物遊離基イオン・O-、である。 「表面の部分」は、導電性水性媒質と接触する陽極の部分を意味する。陽極が 半導体金属酸化物のコーティングで部分的または完全にカバーされた金属基質か ら構成されている場合、酸化物コーティングは「表面の部分」を含んでなり、そ して金属基質は「内部の部分」を含んでなる。陽極が繊維状または粒状の金属基 質を含んでなり、繊維が半導体金属酸化物のコーティングでカバーされている場 合、同一の定義が適用される。陽極が均一な組成の固体の物体である場合、表面 の部分の組成は内部の部分の組成と同一であり、そしてそれらの間の差別は任意 となる。 「T」は、絶対温度(ケルビン)である。 「ターンオン電位」は、式(3)と一致して挙動する理想的ヒドロキシル電極 の電位であり、そしてh0の適切な値を推定し、それを式(3)に挿入すること によって計算することができる。h0およびターンオン電位は、T、i、および 導電性水性媒質の組成の双方の関数である。式(5)および(7)は、導電性水 性媒質の特定の組成についてのターンオン電位の値(ETO.bicarbおよびETO) の値およびiの値についての表現である。 「Vcell」は、「槽電圧」である。 発明の説明 − 電極反応 上記の関係する特許出願に記載されている陽極が十分に高い正電位に分極され ているとき、下記の電気化学的反応に従い、陽極表面における水分子は酸化され 、ヒドロキシル遊離基を生成するであろう: H2O(aq) → HO・(aq)+e-+H+ (1) ここでH2O(aq)およびHO・(aq)は水性相中の、すなわ ち、電極表面に非常に近い(多分1nm)が、それに物理的に結合していない、 水分子およびヒドロキシル遊離基を表す。ヒドロキシル遊離基を発生させるため に要求される陽極電位は、温度、溶液中のpH、および陽極表面におけるHO・ (aq)の濃度(h0)とともに変化するであろう。25℃における半槽反応( 1)を記載するネルンスト(Nernst)式は、下記の通りである: EHO.aq=2.74+0.0592(10g h0−pH) (2) ここで値E0 HO.aq=2.74はKlhning et al.(1985)から 引用される。(反応1が酸化反応として書かれているが、式2は還元電位として 対応する半槽電位を与える;すべての半槽電位はこの出願を通じて還元電位とし て与えられている。)E0 HO.aqの温度依存性を計算するためにSchwartz およびDodson(1984)が記載する方法を使用して、我々は温度依存性 表現式を誘導した: EHO.aq=3.06−0.00108T+0.0001984T (log h0−pH) (3) ここでTは絶対温度(ケルビン)であり、そしてこの式は0〜100℃について 適用できる。EHO.aqについてのこれらの表現式は、HO・(aq)を生成する 、反応(1)に対してのみ適用される。式(3)は理想的な可逆電極を記載し、 そしてそれが反応(1)に関して理想的な可逆電極として挙動するかぎり、電極 表面の組成にに依存しない。実際の電極は、過電圧効果のために多少より高い電 位において作動するであろう。したがって、式(3)はHO・(aq)を生成す るために要求される電位の理論的下限を記載し、これを我々は「ターンオン電位 」と呼ぶ。現実の電極と式(3)により記載される理想的電極との間の不一致は 小さい電流密度において小 さく、そして電流密度の増加とともに急速に増加するであろう。ほぼ理想的な電 極の挙動と適合性の最大の電流密度は、電極のドーピングレベルとともに増加す るであろう。 陽極表面付近のHO・(aq)濃度(h0)は、HO・(aq)の生成速度に 対してほぼ比例する電流密度の関数でありそして、また、水性媒質中に溶解した 基質との反応がHO・(aq)について主要なシンクを構成するので、水性媒質 の組成の関数である。h0の値は、Buxton et al.(1988)に より表された種々の物質とのHO・(aq)の反応についての速度定数とともに 、我々が開発した結合した拡散および化学反応の簡単なモデルを使用して、すぐ れた近似に計算することができる。例えば、25℃において6%のCO2を含有 する空気で飽和し、pH=8.0の0.2MのNaHCO3中で、HO・(aq )の大部分は重炭酸塩イオンと反応するであろう、そして log h0=−3+log i (4) ここでh0はモル/lであり、そしてiはアンペア/cm2であり、そして式(4 )およびpH=8.0を式(2)に代入することによって与えられる、ターンオ ン電位についての式は下記の通りである: ETO.bicarb=2.09+0.0592 log i (5) 第8図中の実線32は式(5)を使用してプロットされた。 電極表面に結合したヒドロキシル遊離基は、電極表面に吸着される水酸イオン または水分子の酸化により生成することができる: S−OH → S・OH+e- (6) ここでSは電極表面を表す。表面結合ヒドロキシル遊離基は表面に結合すること によって安定化されるので、反応(6)について要求される陽極電位は等しい電 流密度iにおける反応(1)について要 求される陽極電位より小さい。式(1)および(6)は、陽極表面において同時 に起こることができる、2つの明確な競合反応である。それらの間の比率は、陽 極の詳細な表面性質、および陽極電位に依存するであろう。Eanodeがターンオ ン電位を越えるときにのみ、反応(1)は起こることができる。(ターンオン電 位の正確な値は、もちろん、電解液の組成および温度とともに変化するであろう 。)ターンオン電位以上において、反応(1)に関連する電流は急速に増加する 。上記の関係する特許出願に記載されている電極の大部分は、式(5)により予 測されるそれに等しいか、またはそれよりわずかに大きいターンオン電位を重炭 酸塩緩衝液中で示す;例えば、第8図において28で示す3つの電極。3つの電 極を使用すると、Eanode<ETOにおける電流密度は非常に小さく、不定であり 、反応(6)が比較的重要でないことを示す。我々はこれらの電極を「クラスI の電極」と呼ぶ。 反応(6)に要求される最小陽極電位Eminは反応(1)についてのターンオ ン電位より少なくとも0.5ボルト小さいが、反応(6)に関連する電流密度は 、陽極電位が増加するとともに、いっそうゆっくり増加する。いくつかの電極は 、反応(6)と一致する、Eanode<ETOにおいて、有意な、安定な、再現性あ る電流密度を示す。Eanode<ETOにおいて、生成する遊離基のみはS・OHま たは同様な種、例えば、表面結合酸化物基イオンS-O・であり、そしてEanode >ETOにおいて、双方の反応(1)および(6)は起こり、S・OHと一緒にH O・(aq)を生成すると考えられる。我々はこれらの電極を「クラスIIの電 極」と呼ぶ;例えば、第8図において30と表示する曲線。 電極がクラスIIの挙動を示す程度は、それが製造された方法およびそれが製 造された後、その歴史に依存する。我々の電極のすベ てはクラスIに入り、上に引用した関係する特許出願の実施例1、2および3に 記載されている、有機コーティング溶液を使用して製造されたすべての電極を包 含する。 関係する特許出願の実施例8に記載されているような水性コーティングスラリ ーを使用して製造された電極の間で、クラスIIの挙動の程度(Eanode<ETO における有意な電流密度により示される)は、水素下にアニールされた後におけ る水素雰囲気中で電極を冷却させる実施と、および重炭酸塩緩衝液中で85℃以 上における操作の歴史と、相関関係づけられた。 クラスIIの挙動は、陽極表面の構造、特に水和の程度に関連するように思わ れる。アニーリング後に電極を水素下に維持し、次いでそれを熱い電解質溶液に 暴露することは、陽極表面上のS−OH基の形成を促進し、そしてS−OHの表 面密度の増加は反応(6)を明らかに促進する。 前述したように、S・OHは酸化剤としてHO・(aq)のように非常に強力 ではない。クラスIまたはクラスIIの挙動が望ましいかどうかは、特定の基質 がS・OHとの反応により効率よく酸化されうるか否かに依存する。もしそうで ある場合、クラスIIの電極はより低い陽極電位およびエネルギー費において豊 富な反応を与えるであろう。もしそうでない場合、クラスIの電極はS・OHの 発生に電流を消耗しないで最大の可能な量のHO・(aq)を生成するであろう 。 この節において提示する理論的説明は正しいと我々は信じるが、それらにより 拘束されたくない。 発明の説明 − 操作限界 顕著なクラスIIの挙動は第9図に例示されており、ここでデータは第8図に おいて30と表示したデータを得るために使用したの と同一の電極を使用して得た。第9図におけるデータは、0.1Mの酢酸+0. 1Mの酢酸ナトリウムを含有する酢酸塩緩衝液を使用して収集された。この電解 質組成およびi=0.25mA/cm2を仮定すると、log h0≒−7が得ら れ、そして式(3)は特別の形をとる: ETO=3.06−0.00247T−0.0001984pHT (7) 第9図における線13は式(7)においてpH=4.72を設定することによ ってプロットされ、このpH値は25〜90℃の間隔にわたって平均したこの溶 液のpH値に相当する。 式(7)は、また、i=1mA/cm2において0.05Mのギ酸ナトリウム を含有する溶液中のETOを記載する。式(7)により与えられるEanode>ETO において、我々のクラスIの電極はHO・(aq)を生成し、そして我々のクラ スIIの電極はHO・(aq)およびS・OHの双方を生成する。 酢酸塩緩衝液中でi=4mA/cm2において収集されたデータは第9図にお いて線13より下にプロットされ、反応(6)はこの電極を使用して少なくとも i=4mA/cm2まで優勢であることを示す。 反応(6)において生成した表面結合ヒドロキシル遊離基は、反応(1)にお いて生成したHO・(aq)より少ないエネルギーであり、S・OHの発生に要 求される、より低い陽極電位と一致する。S・OHがHO・(aq)のように非 常に反応性ではないが、実際には、それは多数の有機および無機の物質を酸化す る;水中に分散したTiO2粒子の紫外線照射を包含する光化学的酸化方法はS ・OHを利用する。我々は、第9図における線13より下の電位、およびi=0 .1mA/cm2まで低い電流密度の範囲において、 ギ酸イオンの酸化を証明した(第3図、実施例5、下記)。多分すべての基質が この範囲の電位において急速に分解するわけではないが、いくつかは確かに分解 するであろう。 第9図における線14は、pHを4.72に設定して下記式を使用して、i= 0.1mA/cm2において収集されたデータよりほぼ0.2ボルト下にプロッ トされる: Emin=2.06−0.00147T−0.0001984pHT (8) 線14は1気圧の圧力において酸素ガスについての還元電位より約0.4V上に 横たわり、これは第9図において線12により表され、そしてpH4.72にお いて下記式により与えられる: EO2H2O=1.48−0.001767T (9) 線14は、基質の有用な類別の基質を酸化するために十分なエネルギーを有す るS・OHを生成するために要求される最小陽極電位の我々の推定値を表す。 Eanodeとiとの間の関係は陽極の性質に強く依存し、そして特に陽極の半導 体金属酸化物の表面組成物のn−ドーピングの程度に依存する。事実、所定の電 位およびpHにおいて所定の電流を通す能力は、陽極の組成、ドーピングのレベ ル、および他の性質に依存する。 pH8および室温において、表面組成物が4モル%のNb+4でドープされたT iO2を含んでなる電極に3.45Vの陽極電位を印加すると、特定の電極の詳 細な製造および由来に依存して、15〜50mA/cm2の持続可能な電流密度 を生成する。対応する槽電圧は、導電性水性媒質のpHおよび導電性、および槽 の形状寸法に依存して、4〜8.5ボルトの範囲であろう。より低いドーピング レベルは、ほぼ比例して電流密度を減少させ、そしてiはまたより 高いドーピングレベルにおいて低下する。i/Vcellおよびi/Eanodeについ ての典型的な結果は第7図および第8図に表されている。我々の電極と対照的に 、Chezが使用した電極は、10.6ボルトを越える陽極電位、および典型的 には14.5ボルトに等しい槽電圧において、約0.45mA/cm2を流した 。 我々の研究において、我々は通常pH8においてEanode=3.45Vを越え ず、そして我々は経験から4%のNb+4ドープした電極は少なくともその電位ま でよく作動するであろうことを知っている。この値は下記式に対応する: Emax=4.0−0.0001984pH T (10a) 溶液中の基質の所定の濃度について、増加するiはある点までにのみ反応速度 を増加するであろう;iのある値以上において、反応速度は陽極表面への基質の 拡散速度により制限されるであろう。また、Eanodeのある値において、陽極は 損傷されることがある。4モル%のNb+4でドープした電極を使用して、損傷は pH8において約Eanode=4.2Vまで小さいが、10分間5.2Vに分極し た場合、電極はひどく損傷されることを我々は見出した。pH8においてEanod e =4.2Vは下記式に対応する: Emax=4.7−0.0001984pH T (10b) 陽極表面のちょうど内側の空間電荷領域内の電場の強さの理論的推定値、およ びドーピングレベルの関数としての誘電強さは、高度にドープしない陽極が、相 応して電流密度がより小さいにもかかわらず、損傷なしにより高い陽極電位に耐 えることができることを示す。電極の処理においてより低いドーピングレベルお よびそれ以上の改良を可能とするために、いくつかの電極が Emax=6.2−0.0001984pH T (10c) まで損傷なしに作動できることを我々は推定する。ヒドロキシル遊 離基は25℃においてpKa≒11.9をもつ弱酸である。pH>11.9にお いて、HO・はその複合塩基、酸化物ラジカルイオン・O-に変換され、これは HO・より非常に反応性に劣る。また、高いpHにおいて、NbおよびTaは陽 極表面から浸出し、それを損傷する。pH<2の強く酸性の溶液中で、TiO2 は酸により攻撃されることがあり、そして電極は損傷されるであろう。これらの 理由で、我々の方法のための最大の安全な操作範囲はpH2〜12であると我々 は考える。 導電性水性媒質中の炭酸塩イオンの存在は望ましくない。なぜなら、炭酸塩は ヒドロキシル遊離基のためのきわめてすぐれた基質であり、そして炭酸塩との反 応はいっそう有用な反応を妨害するからである。炭酸塩(pKa≒10.2)へ の重炭酸塩の変換を回避するために、pH<9において操作することが好ましい 。pH4以下において、特にフッ化物イオンが存在する場合、多少の小さい程度 の腐食が存在することがある。完全に安全であるために、pH4以上において操 作することが好ましい。 第11図は、操作電位についての限界(式7、8、10a、10bおよび10 cにより表される)および前述しそして請求の範囲の中に記載されている電解液 のpHについての限界を例示する。第11図は、請求の範囲の中に記載される式 においてT=298.15K(=25℃)を設定して、発生させた。 Noufi et al.(1978)は、Ti+3で約0.24モル%までド ープしたTiO2の大きい単結晶を含んでなる電極を記載した。これらの電極は 、陽極において分極したとき、0.5Mの硫酸溶液中で小さい電流、6.8Vの 陽極電位において0.1mA/cm2および8.2Vの陽極電位において1mA /cm2を流した。いくつかのHO・は生成された可能性があるが、Noufi et al.はこの可能性を述べなかった。同様な電極を含み、常に非常に高 い陽極電位および非常に小さい電流密度を含み、通常pH<2またはpH>11 .5における、わずかの他の同様な報告が文献の中に存在する。我々は、式(7 )および(10a)により拘束されるEanodeの範囲、およびpH2〜12にお いてi>1mA/cm2を可能とすると同時にHO・を生成する、よりすぐれた 陽極をこの方法において使用することによって、この先行技術を改良した。 電流密度を無視して、前節において特定した陽極電位およびpHの範囲内で電 気化学的に発生したHO・(aq)およびS・OHを使用して、水性媒質中に溶 解した有機化合物または硫黄化合物の酸化を教示する、我々が知る先行技術は存 在しない。 この節において提示された理論的説明は正しいと我々は信ずるが、我々はそれ らによって拘束されたくない。 発明の説明 − 陽極の必要な組成 適切な陽極表面の組成は、我々の方法を操作可能とするために要求される。陽 極表面の組成は方法の操作に要求されかつ好ましい陽極電位の範囲を決定するの で、陽極表面の組成は方法の工程に対して大きい影響を有する。 すべての金属はHO・を生成するために要求される高い陽極電位において酸化 され、そして金属の陽極は腐食されるか、またはそれはある厚さの保護金属酸化 物層によりカバーされるであろう。したがって、表面の組成の選択は金属酸化物 の組成に制限される。 Eanode>Eminに分極されるとき、大部分の陽極材料は水を酸化してヒドロキ シルの代わりに分子状酸素を生成する: 2H2O → O2+4H+- (11) 反応(11)は中程度の過電位で進行させるために適当に電気触 媒的な陽極を必要とする;例えば、Pt族金属酸化物でドープしたPtまたはT iO2。この場合において、電流の大部分はヒドロキシル遊離基の生成要求され るより低い電位においてO2を生成するために消費されるであろう。Pt族金属 は水の酸化のために最良の触媒であるが、いくつかの他の遷移金属は、また、こ の反応を促進し、FeおよびNiを包含する。我々の電極の表面の組成は反応( 1)を触媒しないように目的をもって選択された。したがって、Eanodeが十分 に大きいとき、反応(1)および(6)は優勢を占める。 電極それ自体は、原子価バンドにおけるS・OHまたはホールの可逆的形成以 外の、HO・を発生するために要求される電位の値において、酸化されてはなら ない。金属酸化物の組成物中の金属イオンは操作電位において酸化されてはなら ない。なぜなら、金属イオンの酸化は腐食プロセスの一部分であるか、または水 を酸素に酸化する反応サイクルの一部分を形成するであろうからである。この要 件は半導体金属酸化物により満足され、ここで1種または2種以上の金属イオン はそれらの最高の酸化状態にあり、そして充填された殻(不活性ガスの構造)ま たは充填された副殻(dまたはf)をもつ電子構造を有する。酸化物のバンドギ ャップが大き過ぎる場合、高度のn−ドーピングでさえ有用な導電性を付与でき ないであろう;この考慮はAl23およびSiO2(Chezはこれらを使用し た)を我々の陽極電位の好ましい範囲において実際の考慮から排除する。 電極として働くために必要な導電性を与えるために、半導体金属酸化物はドー プしなくてはならない。金属酸化物中の正孔の移動度が小さく、そして正孔はエ ネルギー的に不安定であるために、p−ドーピングはなされない。ある量の金属 イオンを+(nd−1)原 子価状態において添加することによってn−ドーピングは提供され、ここでnd は添加剤金属の最大原子価状態である。残りの電子は半導体金属酸化物の伝導帯 の中に入り、導電性を提供する。我々の電極において、TiO2をNb+4または Ta+4でn-ドープする。Nb+4によるドーピングは、基本的には固溶体の中に 数%のNbO2を含有するTiO2である組成物を生ずる。TiO2は事実上すべ ての形態の化学的攻撃(HFまたは濃鉱酸との反応以外)に対して極めて抵抗性 であるので、この酸化物中のNb+4はNb+5への酸化からよく保護される。Nb O2それ自体非常に不活性な化合物であり、TiO2に似て非常に低い溶解度をも ち、そして、酸化反応が熱力学的に促進されるにもかかわらず、酸化が困難であ ることに注意すべきである。 TiO2は、また、Noufi et al.が報告するように、Ti+3でド ープすることができ、そして純粋なTiO2でコーティングしそして水素下にア ニールした電極は、Ti+3のために0.25%のNb+4によるドーピングに匹敵 する導電性を有しそして、適当な電位に分極したとき、同様にヒドロキシル遊離 基を発生することを我々は観察した。しかしながら、Ti+3は酸素原子により容 易に充填されるアニオン空格子点を伴い、Ti+3のTi+3への酸化を生じ、結局 導電性を失なう。この理由で、Ti+3でドープした電極はNb+4でドープした電 極より劣る。 最後に、金属酸化物はある有用なpH範囲にわたって水中に実際に不溶性でな くてはならないか、そうでないと電極表面は溶解するであろう。 上に概説した基準を満足する単一の金属酸化物は、下記の通りである:TiO2 、ZrO2、HfO2、Nb25、Ta25、ZnO、Ga23、In23、G eO2、SnO2、PbO2 、CeO2およびThO2。このリストに、SrTiO3および第IIA族の金属 のチタン酸塩、KTaO3および第IA族金属の他のニオブ酸塩およびタンタル 酸塩を加えることができる。しかしながら、これらの酸化物の大部分のために利 用可能であり、酸化電位、水中の不溶性に関して適合性であり、そして水の酸化 に関して触媒活性をもたない、適当なドーピング元素は存在しない。Nb+4また はTa+4でドープしたTiO2および第IIA族のチタン酸塩は、これに関して きわめてすぐれた組み合わせとして卓越する。 伝導性、圧縮性および堅固さを考慮すると、電極は酸化物層でコーティングさ れた金属基質を含んでなると言える。Nb+4またはTa+4でドープされたTiO2 でコーティングされたTi金属は、すべての他の可能性より明らかにすぐれる 。この組み合わせの利点は、Tiの極端な耐食性、適度な原価およびTiの容易 な入手可能性、TiO2の非常に低い原価、およびNbO2およびTaO2の極端 な不溶性を包含する。 この節において提示された理論的説明は正しいと我々は信ずるが、我々はそれ らによって拘束されたくない。 発明の説明 − 実際的考察 HO・(aq)の濃度は、通常、溶液の中に存在する潜在的基質との速い反応 により制限されるであろう;よりすぐれた基質が存在しない場合、重炭酸塩でさ えHO・(aq)と反応するであろう。溶液は例外的に不活性である(例えば、 有機物質が存在しない希薄硫酸ナトリウム)場合、h0は過酸化水素、次いで酸 素を与えるヒドロキシル基と互いとの反応により制限されるであろう: 2HO・ → H22 (12a) 2HO・+H22 → O2+2H2O (12b) この理由で、溶液中に存在するHO・(aq)の濃度は決して大 きくなく、そして陽極表面から離れたところで非常に急速に減少する。理論的推 定値は、HO・(aq)の濃度が実際に陽極表面の1μm以内でゼロに低下する であろうことを示す。したがって、溶質分子は、HO・(aq)と反応し、破壊 されるためには、陽極の1μm以内に来なくてはならない。陽極表面においてS ・OHとの反応により酸化された有機分子は、もちろん、陽極表面へ拡散しなく てはならない。いずれの場合においても、溶液中の基質分子が小さいとき、質量 移動速度は反応速度を制限する。この環境は以前において「拡散制限法」と呼ん だ。 溶液中の基質の濃度および質量移動速度が電流に関して大きい場合、「電流制 限法」を達成することができ、ここで陽極を通る電流は全体の反応速度を決定し 、そして陽極表面において生成するヒドロキシルのすべてと反応するために十分 な基質分子は電極表面に到達する。 電気化学的槽の2つの立体配置がすぐれた質量移動を約束するために特に有利 であるとして識別された;これらは前述の関係する特許出願の第2図および第6 図に描写されている双極電気化学的槽および多孔質陽極槽である。双極槽は、槽 内に水性媒質を再循環させかつ流れる水の中に乱流を誘導する手段を有する。多 孔質陽極槽は極めて大きい陽極面積を有し、そして基質分子は陽極表面に到達す るために非常に短い距離のみを拡散することが必要である。 電解水精製法は、精製すべき水が過剰のオーム損失なしに必要な電流を伝導す るために十分な導電性を有することを必要とする。無害の電解質を水に添加して その伝導性を増加することが必要であることがある。基質が元素状の塩素、硫黄 、窒素または燐を含有する場合、反応は強酸(それぞれ、塩酸、硫酸、硝酸また はリン酸)を生成することがあり、そして電解液を緩衝化しそして塩基を添加し て生成した酸を中性することが必要であることがある。 電解液への炭酸ナトリウムの添力は、前節において概説した目的のために有利 である。炭酸塩イオンと酸化反応により生成した二酸化炭素との反応は、炭酸塩 イオンを重炭酸塩に変換するであろう。炭酸ナトリウムは非常に安価であり、そ してそれに関連する職業的および環境的危険は小さい。処理された水中に残留す る低い濃度の重炭酸ナトリウムは、特別の処理または費用のかかる廃棄を必要と しない。 12の絶対最大pHおよび9の好ましい最大pHについての議論は上記におい て提示された。水中に溶解した有機化合物の酸化は二酸化炭素を生成するであろ う。溶液中の重炭酸塩と過剰の二酸化炭素との組み合わせは、電解液を7.5〜 9のpH値において緩衝化するであろう。 有機酸は有機化合物の酸化において中間反応生成物として生成され、そしてこ れらの酸の多くは4〜5のpKaを有するであろう。適当量の炭酸ナトリウムを 水に添加することによって、反応により生成した二酸化炭素を再循環させる必要 なしに、かつ炭酸塩または重炭酸塩からの妨害を完全になくして、溶液のpHを この範囲内に緩衝化することは容易なことである。より低いpHにおける操作は 陰極(これは大きい電流密度値において水素を発生する)における過電圧を減少 し、これにより槽電圧およびエネルギー費を減少する。 プロセスにおける水を大気酸素で飽和して維持して、陰極において過酸化水素 を生成し、かつO2との反応が基質分子の分解を促進できるようにすることが望 ましい。プロセス内の1または2以上の点において水を通して空気を泡立てて通 入することによって、空気による飽和は最も容易に達成される。空気を添加する という必要性 は、水中に溶解した二酸化炭素の適切な濃度を保持するという必要性とバランス させなくてはならない。これは水を通して泡立てて通入される空気の体積を制限 し、そして系内で空気を再使用して、空気中の二酸化炭素が水へ部分的に戻され るようにすることによって達成される。 このプロセスは電気エネルギーを消費し、このエネルギーは究極的に水中で感 知し得る熱に変換されるであろう。酸化すべき酸化物質の濃度が大きい場合、温 度増加は比例して大きいであろう。高温において、水蒸気は空気の泡の中の酸素 および二酸化炭素を希釈し、そして溶液中のこれらの気体の濃度を減少するであ ろう。十分な酸素および二酸化炭素が水の中に残留することを保証するために、 水温はほぼ90℃以上に上昇しないことが好ましい。 農薬廃棄物に対する適用において、農薬の溶解度は重要なコントロール因子で あることがある。これらの化合物の多くは水中において低い溶解度を有し、そし て水中の液体粒子または固体粒子の分散液の形態で適用される。水中に溶解した 基質の濃度は、基質が破壊される陽極に向かう基質の拡散速度を制限する。水温 の増加は通常農薬の溶解度を増加し、この理由で、上に概説した90℃の限界に 従う、最大の可能な温度において、このプロセスを操作することが好ましいであ ろう。基質の濃度が小さい場合、水中の温度上昇は相応して小さいであろう。こ の場合において、再生熱交換器を使用してプロセスを出る処理された水から熱を 回収し、それをプロセスに入る水に移送することは有利であろう。この技術の成 功は、熱交換プロセスを推進するために十分に大きい温度増加を必要とする。適 当な設計を使用すると、10℃より低い温度増加は十分であろう。30mg/リ ットルより大きい室温の溶解度をもつ農薬は、90℃において操作するプロセス により効率よく破壊されると、我々は推 定する。 発明の説明 − 図面 1例として、本発明の操作および態様をここで添付図面を参照して説明する。 第1図は、前記方法を利用する商用フェノキシ除草剤製品の破壊を描写する。 第2図は、前記方法を利用する殺虫剤ジメトエート(Dimethoate) の破壊を描写する。 第3図は、90℃および種々の電流密度におけるギ酸塩イオンの酸化を描写す る。 第4図は、水性フィルム形成泡、0.2NのNaHCO3中の0.3v/v% の3M製品FC−203CE、の発泡能力の破壊を描写する。 第5図は、トルエンの酸化を描写する。 第6図は、p−クレゾールの酸化を描写する。 第7図は、低い濃度の水蒸気を含む水素の雰囲気中の電極のアニーリングの導 電性への有益な効果を図解する。 第8図は、上記の関係する特許出願の実施例1〜3に記載されているような有 機コーティング溶液を使用して製造した1系列の電極についての、電流密度/陽 極電位の関係を図解する。 第9図は、HO・(aq)およびS・OHを発生させるために要求される陽極 電位の実際の下限を図解し、そしてS・OHのみが生成する電位の範囲における クラスIIの電極の操作を図解する。 第10図は、本明細書において開示する方法を利用する完全な水精製装置を描 写する。 第11図は、特別の場合T=298.15Kについてプロットされた、請求の 範囲に記載するEanodeおよびpHの限界を図解する 。 発明の説明 − 参照数字のリスト 第5図: 20 i=20mA/cm2に対応する合計の電流=152mAで収集されたデ ータ。トルエンの損失は酸化+大気への損失のためである。 22 電流をオフにして(対照)収集したデータは、実験の間の大気への損失に よるトルエンの損失を例示する。 第6図: 24 278nmにおける光学密度は、p−クレゾールの濃度+多少の紫外線吸 収反応生成物を反映する。 26 ほとんど反応生成物のための300nmにおける光学密度。 第7図: 16 4モル%のNbでドープされ、少量の水蒸気を含有するH2下にアニール された陽極についての10g i/Vcell 18 4モル%のNbでドープされたが、H2下にアニールされなかった陽極に ついてのlog i/Vcell 第8図: 28 上に引用された関係する特許出願の実施例1、2および3に記載されてい るような有機コーティング溶液を使用して製造された、典型的なクラスIの電極 電極についてのボリューメトトック試験データ。 30 クラスIIの電極電極についてのボリューメトトック試験データ。 32 式(5)を使用して計算したETO.bicarb/Eanode 第9図: 12 式(9)を使用して計算した、pH4.72における水への 酸素の還元についての平衡陽極電位(EO2/H2O)。 13 式(7)を使用して計算した、酢酸塩緩衝液中のi=0.25mA/cm2 においてHO・(aq)を生成するための最小電位(ETO)。 14 式(8)を使用して計算した、有用な種類の基質を酸化するために十分な エネルギーのS・OHを生成するための推定された最小電位(Emin)。 第10図: 第10図において、実線の矢印は水の流れを表し、白抜きの矢印は電気エネル ギーの流れを表し、そして破線はデータおよびコントロール信号を表す。 48 水処理装置に入る処理すべき水 50 主水ポンプ 52 熱交換器 54A 主処理モジュールの第1区画 54B 主処理モジュールの第2区画 56 仕上(polishing)モジュール 58 電力供給モジュール 60 化学物質供給モジュール 62 温度コントロール弁 64 熱い処理された水 66 温かい処理された水 68 コントロールモジュール 70 水処理装置に供給されるAC電力 72 電気化学的処理モジュールに供給されるDC電力 74 水のpHをコントロールするために必要なとき処理モジュールに提供され る炭酸ナトリウム溶液 発明の説明 − 好ましい態様 第10図は、完全な水処理装置を概略的形態で示す。上記の関係する特許出願 の第2図および第6図に描写されている双極槽または多孔質陽極槽を、この処理 モジュールにおいて使用できる。多孔質陽極槽は非常に大きい活性陽極面積を有 し、そしてきわめてすぐれた質量移動性能を提供する。しかしながら、水の導電 性は使用できる最大電流密度を双極槽を使用する場合におけるよりいっそうきび しく制限する。したがって、多孔質陽極槽は低い基質濃度に対する適用において 好ましい。 主要な水ポンプ50は、装置を通る水48の流れに動力を与えかつそれをコン トロールする。熱交換器52において、装置に入る水を装置を去る処理された水 66から熱を獲得して、主処理モジュール内の温度を増加し、この温度は、制限 された水溶性を有する基質、例えば、多数の普通の農薬が酸化されている場合、 理想的にはほぼ90℃である。主処理モジュールは、1または2以上の段階また は区画から成る;例えば、区画54Aおよび54Bが第10図に示されている。 各区画は双極型または多孔質陽極型の1または2以上の電気化学的槽から成る。 水は各双極槽内を再循環して、電極表面を過ぎる水の速度を増加し、これにより 質量移動を改良する。 主処理モジュール内の各区画は電流制限法において操作される。実際には、こ れは、所定の区画における水中に存在する基質の濃度が与えられたとき、エネル ギーの効率よい利用と一致する最大の電流密度におけるその区画の操作を意味す る。したがって、第2区画における電流密度は第1区画におけるより小さく、基 質濃度に比例する。主処理モジュールはエネルギー効率的方法において基質の大 部分を破壊する。基質の濃度が大きい場合、双極槽は多孔質陽極槽より好ましい 。双極槽は、第2区画のための多孔質陽極槽と一緒に 、第1区画のために使用することができる。 研磨モジュール56は、また、1または2以上の電気化学的槽から成る。仕上 モジュールは少なくとも部分的に拡散制限法において作動し、そして水が主処理 モジュールを通過した後、水中に残留する基質の大部分を急速に破壊する。仕上 モジュールは水処理装置を去る水中の基質濃度を十分に小さくして、水を安全に 環境に排出できるように作動する。仕上モジュールにおいて破壊すべき基質の量 は小さいので、仕上モジュールは、プロセスの合計のエネルギー消費を大きく増 加しないで、比較的エネルギー非効率的な拡散制限法において操作することがで きる。 基質濃度は仕上モジュール内で小さいので、多孔質陽極槽はこの適用において 好ましいが、水を再循環し、これにより質量移動を改良する手段を有する場合、 双極槽を使用することもできる。双極槽を使用する場合、それは拡散制限法にお いて操作されるであろう。多孔質陽極槽を使用する場合、それは入口において電 流制限法で操作し、そして出口において拡散制限法で操作することができる。多 孔質陽極槽は水を再循環しないで多数の多孔質陽極を直列に含むので、それは当 然1系列の小さい処理段階をまねる。 基質の濃度が小さい場合、主処理モジュールおよび仕上モジュールを単一の多 孔質陽極槽により置換することができ、ここで水入口付近の部分は電流制限法に おいて主処理モジュールとして機能するが、出口付近の部分は拡散制限法におい て仕上モジュールとして機能する。 電力供給モジュール58は装置に供給される電力、最も普通には220VAC または480VACを、電気化学的槽により要求される形に変換し、この形は通 常DC電力であり、その電圧は個々の槽内の直列の双極電極の数、および所望の 電流密度により決定される 。多孔質陽極槽はより低い電圧においてより大きい電流を必要とするであろう。 化学物質供給モジュール60は、貯蔵容器、ポンプ、および他の装置から成り 、ここで他の装置は、処理すべき水の導電性を増加しそしてそのpHをコントロ ールすることが必要であるとき、装置に炭酸ナトリウムまたは他の化学物質を供 給するために要求される。pHをコントロールすることが必要であるとき、炭酸 ナトリウム溶液74を水に添加する。 温度コントロール弁62は、熱交換器52に供給される熱い処理された水の量 をコントロールし、これにより装置に入る水の温度増加を決定する。熱交換器6 4を通して送られない処理された水は、最高温度において装置から排出される。 熱交換器52を通過する処理された水66は、より低い温度において装置から排 出される。 全装置の操作はコントロールモジュール68により監視されかつコントロール される。コントロールモジュールは装置の中の水の温度およびpH、装置を去る 水中の基質および/または反応生成物の濃度を監視する。それは主ポンプ50、 化学物質供給モジュール60、温度コントロール弁62、および電力供給モジュ ール58をコントロールして所望の処理レベルを達成すると同時に、水の温度お よびpHをコントロールし、処理された水の流速を最大にし、そしてエネルギー 使用を最適化する。コントロールモジュールはこの使用のために設計された特殊 化されたユニットであることができるか、または適当なセンサーおよびアクチュ エーターに接続された専用の(dedicated)パーソナル・コンピュータ から成ることができる。 基質の濃度が小さい場合、処理された水の温度上昇は比例して小さく、熱交換 器および温度コントロール機能は不必要であろう。発明の操作 − 実施例 実施例1 1つの側がコーティングされ、背面対背面で設置された、2つの長方形の陽極 を利用して、電解槽を構築した。これらの陽極の製造は、上記の関係する特許出 願の実施例1に記載されている。電解液の中に浸漬された合計の陽極表面積はほ ぼ20cm2であった。等しい面積を有する厚さ3.2mmのグラファイトの板 から2つの陰極を切断し、2つの陽極の各側に、ほぼ6mmの距離で離れて面す るように、設置した。電解液は0.2Mの重炭酸塩であり、そして6%の二酸化 炭素を含有する空気をそれを通して泡立てて通入した。磁気撹拌棒により電解液 に適度の乱流を与えた。十分な量の商用除草剤調製物、オルト・ウィード−B− ゴン(Ortho Weed−B−Gon)を電解液に添加して、ほぼ1860 mg/リットルの活性成分2,4−ジクロロフェノキシ酢酸(また、2,4−D と呼ばれる)、および2−(2−メチル−4−クロロフェノキシ)−プロピオン 酸の合計濃度にした。これらの2つの化合物は、ほぼ等しい量でジメチルアミン の対応する塩の形態で調製物の中に存在する。これらの化合物の双方は275n m付近の最大吸収で紫外線を吸収し、そして電解液の試料を周期的に取り出し、 そして275nmにおける紫外線吸収を測定することによって、反応の進行を監 視した。500mAの合計の電流を槽に供給し(i=25mA/cm2に相当す る)、そして陽極電位はほぼ3.5Vであった。 結果を第1図に示す。基質濃度の一定した減少が明らかである。反応が進行し ている間、溶液は褐色を示し、この色は実験の終わりに向かってコーヒーの色に 到達し、多少のポリマーの反応生成物の形成を示した。 実施例2 回転陽極を有する電解槽を構築した。陽極はTi−Gr.の2本の棒の素材か ら機械加工した。活性陽極は直径1.95cm×高さ4.45cmの円筒形表面 であり、26.6cm2の表面積を有し、上記の関係する特許出願の実施例1に 記載されている手順に従いNbドープされたTiO2でコーティングされそして 水素下に加熱されていた。陰極としてかつ槽の本体として働くグラファイトのブ ロックの中に機械加工した内径2.22cmの同心の円筒形キャビティの内側に おいて、陽極を3000rpmで回転させた。蠕動ポンプを使用して電解液を槽 に供給した。電解液は回転する陽極のレベルより下の口を通して槽に入り、陽極 を過ぎて上に流れ、そして陽極の上部へりより上に位置するオーバーフロー口を 通して槽を出た。6%の二酸化炭素を含有する空気を電解液を通して泡立てて通 入し、この空気は陽極のレベルより下において槽に入った。槽に入る電解液を空 気と二酸化炭素との混合物で前もって飽和させた後、槽の中にポンプ輸送した。 電解液は10mMの2,4−Dのナトリウム塩と90mMの重炭酸ナトリウム を含有した。槽を去る電解液を脱イオン水で10倍に希釈した後、電解液の27 5nmの紫外線吸収を測定することによ って、電解液を残留する2,4−Dについて分析した。結果を表1に要約する。 第1行は分光光度計を目盛り定めするために使用した未反応溶液である。この実 験の条件下に、反応は電流制限された。2,4−Dの各分子が陽極表面における 反応ゾーンにいったん到達したとき、それは完全に酸化されると仮定することに よって、この方法の電流効率を計算することが可能であった。この電流効率は実 施例5においてギ酸ナトリウムを使用して得られた値とかなり一致する。520 mAの合計の電流(i=20mA/cm2に相当する)において、Eanode=3. 5VおよびVcell=5.5V。 実施例3 実施例2におけるのと同一の装置、電極、および操作条件を使用した。槽に入 る電解液は0.2mMの2,4−Dナトリウム塩と10mMのNaHCO3を含 有した。2,4−Dの濃度は実施例2におけるより非常に小さく、そして反応条 件は拡散制限法に相当した。結果を表2に表す。電流効率は低いが、破壊された 2,4−Dの百分率は大きく、最高の電流において90%である。200mAに おいて、Vcell=6.4Vであり、そして400mAにおいて、Vcell=8.2 Vであり、この場合において電解液の10倍小さい伝導性のためである。 実施例4 実施例1におけるのと同一の装置、電極、および実験条件を使用したが、ただ し合計の電流は400mAに等しく、これはこの電解液を有するこの装置におい てVcell=8.0〜8.3VおよびEanode≒3.5Vに相当する。殺虫剤ジメ トエートを除草剤の代わりに添加し、初期濃度は約2500ppmである。試料 を周期的にガスクロマトグラフィーによる分析のために取り出し、炎光測光検出 器を使用する(ジクロロメタン中にジメトエートを抽出した後)。結果を第2図 に示す。ジメトエートの濃度は経時的に減少した。データ点の周期的鋸歯状波の パターンは分析に由来するものであり、これは高度に揮発性の溶媒をピペットで 移すことに関連する困難にたどりついた。 実施例5 実施例5〜9において使用した試験槽はグラファイトのブロック(陰極)から 成り、このブロックは直経0.75”の円筒形孔を有し、陽極は前記孔と同心の 直径0.25”のロッドの形態であり、そして400〜600rpmで回転した 。ブロックの中に埋め込まれた電気的カートリッジ・ヒーターは、増加する温度 、または90 ℃付近の安定な温度における操作を可能とした。溶液の体積は16mlであり、 そして活性陽極の面積は7.6cm2であった。種々の試験における電流は0. 76、7.6、30.4、76または152mAであり、電流密度i=0.1、 1、4、10または20mA/cm2に相当した。 下記の物質を含有する電解液を使用することによって、見掛けの電流収率ε( 生成したヒドロキシルのモル数/槽を通過した電子のファラデー)を決定した: 0.05M ギ酸ナトリウム 0.05M 重炭酸ナトリウム 0.125M 硫酸ナトリウム 6%のCO2を含有する空気を槽を通して泡立てて通入することによって、電 解液を緩衝化した。 試料を5分毎に採り、反応の進行のインジケーターとしてギ酸塩および硫酸塩 のピークの高さの比を使用して、イオンクロマトグラフィーにより分析した。ギ 酸塩:硫酸塩の比/時間の勾配から、εの値を推定した。i=0 1mA/cm2 の最低の値において、被験溶液を1:50に希釈し、これを使用して、容易に 測定できる勾配を得た。εについて得られた値は不明確であった。なぜなら、2 つの酸化メカニズムがギ酸塩について可能であり、1モルのギ酸塩イオン当たり 1モルのHO・を必要とし(表3において「電流収率#1」)、そして他方は1 モルのギ酸塩イオン当たり2モルのHO・を必要とする(「電流収率#2」)か らである。 2系列の実験を実施し、一方は約25℃において、他方は85〜90℃におい て実施した。結果を表3に要約し、そしてより高い温度において収集したデータ を第3図に表す。「電流収率#2」は25℃において正しく、そして「電流収率 #1」は85〜90℃において正しいと考えられる;酸化メカニズムにおける変 化は温度と同時のεの大きい見掛けの増加についての最も簡単な説明でありそし て、もちろん、εは100%を超えてはならない。 より高い温度において、εはむしろ大きく、そしてVcellは非常に小さかった 。第9図および同一装置において同一電極を使用して収集された他のデータとの 比較は、i=0.1〜4mA/cm2について、式(7)を使用してEanode<ETO が計算されたことを示す;したがって、これらのデータはS・OHとの反応に よるギ酸塩イオンの迅速な酸化を証明する。 第3図および第9図におけるデータ、および第8図における曲線30を発生さ せるために使用した電極は、非常に顕著なクラスIIの挙動を示した。その製造 および歴史は、下記の実施例10において要約されている。 実施例6 アルキルフルオロカーボン界面活性剤を含有する水性フィルム形成泡(AFF F)は消火において、および現実的消火活動の訓練において広く使用されている 。3M社製品FC203CEが代表的である。これらの訓練は大きい体積のAF FF生成物を含有する水を生成し、この水は普通の廃水処理設備に排出される場 合、重大な発泡を引き起こすことがある。 第4図は、0.2Mの重炭酸塩緩衝液中のFC−203CEの0.3v/v% 溶液の発泡能力の破壊を示す。実施例5におけるのと同一の装置を使用した。合 計の濃度=152mAおよびVcell=5〜6V。 溶液を100mlのメスシリンダーに移し、そして粗大ガスのディフューザー ・ストーンを使用して50ml/分の空気を溶液を通して2.5分間泡立てて通 入した後、「発泡体積」を測定した。示した時間の間実施した別々の試験におい て、各データ点を得た。30分を超えると、小さい体積のみの粗大泡が生成し、 この泡は、ディフューザー・ストーンを除去した後、急速につぶれた。 実施例7 第5図は、実施例6におけるのと同一の条件下に同一の装置におけるトルエン の酸化に示す。初期の濃度は重炭酸塩緩衝液中において58ppm=0.63m Mであり、そしてパージおよびトラップ・ユニットおよびFID検出器を装備し たガスクロマトグラフを使用して、残留トルエンを決定した。トルエンは揮発性 であるので、 多少のトルエンは試験槽から空気に逃げる。各データ点は別々の試験に対応する 。「対照」系列の試験(プロット22)はゼロ電流で実施したが、そうでなけれ ば同一の条件を使用して大気へのトルエンの損失速度を決定した。プロット20 は、大気への損失を伴う酸化のための、I=152mAを使用するトルエン濃度 の減少に示す。2つの曲線の間の差は酸化されたトルエンの量に対応する。 実施例8 第6図は、実施例6におけるのと同一の装置における同一の条件下の重炭酸塩 緩衝液中のp−クレゾールの酸化を示す。残留クレゾールは278nmにおける 紫外線吸収を監視することによって推定した(プロット24)。O.D.の初期 の急速な傾斜は、紫外線をより少ない程度に同様に吸収する反応性が低い反応生 成物の蓄積により妨害される。300nmにおいてクレゾールの吸収はわずかで あり(プロット26)、そして300nmにおける吸収は大部分反応生成物のた めのものであり、まず反応生成物が蓄積し、次いで傾斜することが確証される。 実施例9 第7図は上に引用した関係する特許出願からの再現であり、ここでそれはその 中の実施例1と関連して論じられた。それは、電極を水素下にアニールして酸化 物コーティング中のNb+5をNb+4に還元したとき、得られた電流密度の大きい 増加を図解する。実施例5におけるのと同一の装置を使用して室温において電解 液として重炭酸塩緩衝液を使用して、電極をボリューメトトック法で試験した。 実施例10 第8図はクラスIの挙動およびクラスIIの挙動を示す。28と表示するデー タは、上に引用した関係する特許出願における第8図 からの再現された。これらの3つの非常に類似する電極は、上に引用した関係す る特許出願における実施例1〜3に記載されているような3つの明確な有機コー ティング溶液を使用して製造された。これらの3つの電極は、ターンオン電位を 超えるときのみ、感知しうる程度に伝導し始める。ターンオン電位以下において 、3つの各々についてi<0.1mA/cm2であり、そしてデータはEanode< ETO.bicarbにおいて集めなかった。なぜなら、iは小さくかつ変動性であるか 、またはiは我々の装置で測定するためには小さ過ぎたからである。 第3図および第9図におけるデータ、および第8図におけるプロット30を発 生するために使用した電極は、非常に顕著なクラスIIの挙動を示した。酸化物 コーティングを4モル%のNbでドープし、そして上記の関係する特許出願の実 施例8に記載されているように水性コーティングスラリーを使用して電極を製造 した。最初に試験したとき、それは中程度のクラスIIの挙動を示した、ETO= 1.91Vにおいてi≒0.5mA/cm2。それを重炭酸塩緩衝液および酢酸 塩緩衝液中で85〜90℃において数回操作した場合、クラスIIの挙動は非常 にいっそう顕著となった(第8図における曲線30)。 クラスIの挙動とクラスIIの挙動との間の差は陽極表面の水和状態に関する と考えられる;高温における操作は表面を水和する傾向があり、クラスIIの挙 動を促進する。クラスIIの挙動は、また、電極を水素下にアニーリングした後 、電極を水素下に冷却することによって促進される。 実施例11 第9図におけるデータは、実施例5におけるのと同一の装置、および0.1M の酢酸ナトリウム+0.1Mの酢酸を含有する酢酸塩 緩衝液を使用して収集した。実験はガルバノスタット的に実施し、電流(I)を 一定に保持すると同時に温度を増加し、そしてI、Eanode、Vcell、およびT を記録した。i=0.1〜4mA/cm2において、すべてのデータ点は式(7 )を使用して計算したターンオン電位より下に存在し、そして第9図において線 13により表され、S・OHの生成を示す。結論、追加、および範囲 我々の説明は多くは特殊性を含有するが、これらの本発明の範囲を限定すると 解釈すべきでなく、むしろその1つの好ましい態様の例示として解釈すべきであ る。下記の節に記載するように、多くの他の変化が可能である。 水中に溶解した有機物質を非特異的方法で温和な条件下に酸化することができ ることにおいて、この方法は独特的である。ギ酸塩イオン、除草剤2,4−D、 殺虫剤ジメトエート、水性フィルム形成泡、トルエン、およびクレゾールの酸化 が証明された。水中に可溶性の酸化可能な一般に硫黄種(例えば、亜硫酸塩、チ オ硫酸塩、テトラチオネート、硫化水素)を、また、この方法を使用して破壊す ることができる。 陰極表面における直接の電気化学的還元によるか、または、陰極電位が十分に 負でありかつ陰極表面が分子状水素の発生のために電気触媒的でない場合、水素 原子を発生し、それを溶液に解放することによって、陰極における反応は、また 、基質分子の分解に寄与する。陰極表面の組成をこの目的に選択し、最適化する ことができる。 この方法を使用して水中に溶解した有機化合物を酸化しかつ分解することがで きるか、またはそれを使用してある異なる目的のため に、例えば、原子炉の1次冷却水中の放射線分解の化学を刺激するために、ヒド ロキシル基を生成することができる。この方法において分解される有機化合物は 水溶性の芳香族炭化水素であるか、または農薬、除草剤、または他の農学的化学 物質、または他の有機化合物であることができる。酸化可能な無機物質を、また 、酸化することができる。 本明細書において開示する主要な用途は水の精製および水性の危険な廃棄物の 無毒化に関係することが期待されるが、電気化学的に発生したヒドロキシル遊離 基は、また、ある種の化学合成を実施するために使用することができ、ここでヒ ドロキシル遊離基の反応の低い選択性は問題を提示せず、そしてそれらの大きい 酸化能力は有利である。表面結合ヒドロキシル遊離基のみが生成する電位の範囲 におけるクラスIIの電極の操作は、S・OHの反応がHO・(aq)の反応よ りもいっそう選択的であることが期待されるので、これらの用途において有利で あろう。 電解質を精製される水に添加して、その伝導性を増加するか、またはそのpH をコントロールすることができる。アルカリ性物質を精製されている水に添加し て、pHを所望の範囲内に維持することができる。炭酸ナトリウムおよび重炭酸 ナトリウムは高価ではなくかつこの目的に最も好適なアルカリであるが、他のア ルカリ、例えば、水酸化ナトリウム、炭酸カリウム、重炭酸カリウム、水酸化カ リウム、水酸化カルシウム、およびアンモニアを、また、使用することができる 。 この方法を溶解度を増加するために高温において操作する場合、限定された溶 解度の化合物でさえ効率よく酸化することができる。 水処理装置はいくつかの電気化学的槽およびこのプロセスに必要でありかつ有 益な他の部品および構成成分から構成することができ る。小さい基質濃度の場合において、この装置は多孔質陽極槽およびより少ない 多孔質陽極槽(多分1つだけ)を使用し、そして熱交換器および温度調整手段を 排除することによって、簡素化することができる。 双極電気化学的槽および多孔質陽極槽は実際の水精製装置において使用するた めに最良に適すると我々は信ずるが、他の種類の槽を使用することもできる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ホフマン,マイケル アール. アメリカ合衆国,カリフォルニア 91030, サウス パサデナ,ローレル ストリート 1625

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.工程: (a)表面を有しかつ表面部分と内部部分とを含む陽極を準備し、前記表面部分 は半導体金属酸化物組成物を有し、 前記陽極をヒドロキシル遊離基を生成する方法において利用するとき、 前記陽極は適切な腐食抵抗を有し、そして 前記半導体金属酸化物組成物は添加剤金属を含み、 前記添加剤金属の少なくとも一部分は前記半導体金属酸化物 組成物をn−ドープする酸化状態にあり、そして 前記半導体金属酸化物組成物中の合計の金属に関する前記酸 化状態の前記添加剤金属のモル分率は、前記方法の操作のために適切な導電性を 前記半導体金属酸化物組成物に付与するために十分であり、 前記陽極を前記方法において利用するとき、前記半導体金属酸化物組成 物は前記陽極の前記表面における酸素の発生を促進せず、そして (b)あるpH値を有する導電性水性媒質と前記陽極を接触させ、 前記pH値は2以上であり、そして 前記pH値は11.5以下であり、そして (c)前記陽極をある陽極電位に分極し、 前記陽極電位は標準水素電極に関して3.06−0.00247T−0 .0001984pHT以上であり、そして 前記陽極電位は標準水素電極に関して6.2−0.0001984pH T以下であり、 これにより有用な電流密度が前記陽極の前記表面において誘導され、そしてヒド ロキシル遊離基が生成される、 を含んでなる、ヒドロキシル遊離基を生成する方法。 2.前記半導体金属酸化物組成物が主としてTiO2から構成されており、そ して 前記添加剤金属がNbおよびTaから成る群より選択され、そして 前記半導体金属酸化物組成物中の白金族金属の濃度がゼロであるか、または酸 素の発生を促進する有意な電気触媒作用を発揮するためには小さ過ぎる、 請求項1に記載の方法。 3.前記半導体金属酸化物組成物を有しかつ前記導電性水性媒質と接触する前 記表面部分上の平均電流密度が少なくとも1ミリアンペア/平方センチメートル である、請求項2に記載の方法。 4.+4原子価状態の前記添加剤金属のモル分率が前記半導体金属酸化物組成 物中の合計の金属に関して0.25%以上ないし25%以下である、請求項3に 記載の方法。 5.前記陽極電位が標準水素電極に関して4.7−0.0001984TpH 以下である、請求項4に記載の方法。 6.前記陽極の前記内部部分が金属基質を含んでなり、前記組成物がチタンお よびチタン合金から成る群より選択される、請求項5に記載の方法。 7.+4原子価状態の前記添加剤金属のモル分率が前記半導体金属酸化物組成 物中の合計の金属に関して2%以上ないし6%以下である、請求項6に記載の方 法。 8.前記pH値が4以上ないし9以下である、請求項7に記載の方法。 9.前記陽極電位が標準水素電極に関して4.0−0.0001984TpH 以下である、請求項8に記載の方法。 10.あるpH値を有する導電性水性媒質の中に溶解または分散した化学物質 を酸化する方法であって、工程: (a)表面を有しかつ表面部分と内部部分とを含む陽極を準備し、前記表面部分 は半導体金属酸化物組成物を有し、 前記陽極を前記方法に利用するとき、前記半導体金属酸化物組成物は適 切な腐食抵抗を有し、そして 前記半導体金属酸化物組成物は添加剤金属を含み、 前記添加剤金属の少なくとも一部分は前記半導体金属酸化物 組成物をn−ドープする酸化状態にあり、そして 前記半導体金属酸化物組成物中の合計の金属に関する前記酸 化状態の前記添加剤金属のモル分率は、前記方法の操作のために適切な導電性を 前記半導体金属酸化物組成物に付与するために十分であり、 前記陽極を前記方法において利用するとき、前記半導体金属酸化物組成 物は前記陽極の前記表面における酸素の発生を促進せず、そして (b)前記導電性水性媒質と前記陽極を接触させ、 前記pH値は2以上であり、そして 前記pH値は11.5以下であり、そして (c)前記陽極をある陽極電位に分極し、 前記陽極電位は標準水素電極に関して2.06−0.00147T−0 .0001984pHT以上であり、そして 前記陽極電位は標準水素電極に関して6.2−0.0001984pH T以下であり、そして これにより有用な量のヒドロキシル遊離基が前記陽極の前記表面において生成し 、前記ヒドロキシル遊離基は有用な状態において前記導電性水性媒質の中に溶解 または分散した前記化学物質を酸化し、そして前記酸化反応は前記化学物質を分 解するか、または有用な化学転位を引き起こす、 を含んでなる、あるpH値を有する導電性水性媒質の中に溶解または分散した化 学物質を酸化する方法。 11.前記半導体金属酸化物組成物が主としてTiO2から構成されており、 そして前記添加剤金属がNbおよびTaから成る群より選択される、請求項10 に記載の方法。 12.+4原子価状態の前記添加剤金属のモル分率が前記半導体金属酸化物組 成物中の合計の金属に関して0.25%以上ないし25%以下であり、そして 前記半導体金属酸化物組成物中の白金族金属の濃度がゼロであるか、または酸 素の発生を促進する有意な電気触媒作用を発揮するためには小さ過ぎる、 請求項11に記載の方法。 13.陽極電位が標準水素電極に関して4.7−0.0001984TpH以 下である、請求項12に記載の方法。 14.前記化学物質が有機物質である、請求項13に記載の方法。 15.前記半導体金属酸化物組成物を有しかつ前記導電性水性媒質と接触する 前記表面の部分上の電流密度が少なくとも1ミリアンペア/平方センチメートル である、請求項14に記載の方法。 16.前記陽極電位が標準水素電極に関して3.06−0.00 247T−0.0001984pHT以上である、請求項15に記載の方法。 17.前記pH値が4以上ないし9以下である、請求項16に記載の方法。 18.前記陽極の前記内部の部分が金属基質を含んでなり、前記組成物がチタ ンおよびチタン合金から成る群より選択される、請求項17に記載の方法。 19.+4原子価状態の前記添加剤金属のモル分率が前記半導体金属酸化物組 成物中の合計の金属に関して2%以上ないし6%以下である、請求項18に記載 の方法。 20.前記陽極電位が標準水素電極に関して4.0−0.0001984Tp H以下である、請求項19に記載の方法。 21.(a)各槽が多数の陽極を含む多数の電気化学的槽、 (i)前記陽極は表面を有する金属基質と前記表面の少なくと も一部分をカバーする半導体金属酸化物のコーティングとから構成されており、 そして (ii)前記金属基質の組成物はチタンおよびチタン合金から 成る群より選択され、そして (iii)前記半導体金属酸化物のコーティングは主として二 酸化チタンから構成されておりそして、また、ニオブおよびタンタルから成る群 より選択される添加剤金属を含み、そして (iv)前記半導体金属酸化物のコーティング中の+4原子価 状態の前記添加剤金属のモル分率が前記半導体金属酸化物のコーティング中の合 計の金属に関して0.25〜25%の範囲である、そ して (b)前記電気化学的槽のための電力源、 を含んでなる、導電性水性媒質の中に溶解または分散した化学物質を分解する装 置。 22.前記電気化学的槽を通して前記導電性水性媒質をポンプ輸送する手段を さらに有する、請求項21に記載の装置。 23.前記槽が双極槽および多孔質陽極槽から成る群より選択される、請求項 22に記載の装置。 24.前記電気化学的槽を多処理段階にグループ化し、これにより各処理段階 内の前記槽中の前記陽極の前記表面における電流密度を、前記装置のエネルギー 効率を最適化するように調節することができる、請求項23に記載の装置。 25.前記半導体金属酸化物のコーティング中の+4原子価状態の前記添加剤 金属のモル分率が前記半導体金属酸化物のコーティング中の合計の金属に関して 2〜6%の範囲である、請求項24に記載の装置。 26.前記電気化学的槽および前記ポンプ輸送手段を操作する調整手段をさら に有する、請求項25に記載の装置。 27.前記導電性水性媒質に化学試薬を添加する手段をさらにを有し、これに より前記導電性水性媒質のpHおよび導電性を前記装置の操作に有益な範囲内に 信頼性をもって維持することができる、請求項26に記載の装置。 28.前記装置内の前記導電性水性媒質の温度をコントロールする調整手段を さらに有し、これにより前記温度を前記装置の操作に有益な範囲内に維持するこ とができ、そしてこの方法により発生した熱を装置を出る導電性水性媒質から回 収することができる、請求項27に記載の装置。
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