JPH0945683A - 配線修正方法 - Google Patents
配線修正方法Info
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- JPH0945683A JPH0945683A JP19143195A JP19143195A JPH0945683A JP H0945683 A JPH0945683 A JP H0945683A JP 19143195 A JP19143195 A JP 19143195A JP 19143195 A JP19143195 A JP 19143195A JP H0945683 A JPH0945683 A JP H0945683A
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- JP
- Japan
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- insulating film
- wiring
- disconnection
- forming
- interconnection
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- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】基板上に形成された下層配線16と上層配線1
7の間に層間絶縁膜18を有する配線交差部の上層配線
17に断線部19が生じた場合、絶縁膜を形成するため
のスピン オン グラス20を先端内径約1μmに絞り込
んだ硝子ピペット3に注入し、断線部19を有する配線
交差部に硝子ピペット3を接触させ、断線部19を含む
領域に微量塗布させる。この配線交差部にレーザ光をS
OG20の塗布領域と同程度もしくは広い領域に照射す
る。レーザ光を照射した領域は局所的な加熱による分解
を起こして絶縁膜21が析出する。更に、絶縁膜21上
にトリフロロ酢酸パラジウム等の金属錯体溶液22を配
線状に同様の方法で微量塗布し、同じくレーザ光を照射
することにより金属膜23を形成する。 【効果】複数層の配線交差部に発生した断線もしくは短
絡欠陥を安価に且つ他のパターンにダメージを与えるこ
となく修正することが出来る。
7の間に層間絶縁膜18を有する配線交差部の上層配線
17に断線部19が生じた場合、絶縁膜を形成するため
のスピン オン グラス20を先端内径約1μmに絞り込
んだ硝子ピペット3に注入し、断線部19を有する配線
交差部に硝子ピペット3を接触させ、断線部19を含む
領域に微量塗布させる。この配線交差部にレーザ光をS
OG20の塗布領域と同程度もしくは広い領域に照射す
る。レーザ光を照射した領域は局所的な加熱による分解
を起こして絶縁膜21が析出する。更に、絶縁膜21上
にトリフロロ酢酸パラジウム等の金属錯体溶液22を配
線状に同様の方法で微量塗布し、同じくレーザ光を照射
することにより金属膜23を形成する。 【効果】複数層の配線交差部に発生した断線もしくは短
絡欠陥を安価に且つ他のパターンにダメージを与えるこ
となく修正することが出来る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液晶表示装置や半導体集
積回路の基板上に設けられた配線交差部の断線または短
絡の生じた部分を修正する断線修正方法に関する。
積回路の基板上に設けられた配線交差部の断線または短
絡の生じた部分を修正する断線修正方法に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示装置や半導体集積回路の基板上
には、数多くの配線交差部がある。この配線交差部にお
ける配線自身の断線もしくは配線間の短絡が1ヶ所でも
生じた場合、その基板は不良となる。そのためこのよう
な断線または短絡を修正することが必要となる。基板上
で配線の欠陥を修正する方法は局所的に層間絶縁膜を形
成した後、層間絶縁膜上に金属膜を形成することで修正
が可能となる。その中で、局所的に層間絶縁膜を形成す
る方法として次の二つの方法が知られている。第一の方
法は第38回応用物理学関係連合講演会講演予稿集 P.5
50(1991)に記載されたもので、絶縁膜材料液を試料全面
にスピンコートする。その後、プリベークを行いAu配
線をレーザCVDにより形成した後、余分な絶縁膜をエ
ッチングにより除去する。第二の方法は、1993年度精密
工学会春季大会学術講演会講演論文集 P.953(1993)に記
載されたもので、真空チャンバ内にCVDガスであるT
EOSを導入し、予めレーザCVDで形成した金属膜上
に同じくレーザCVDによりSiO2膜を形成した後、更
にレーザCVDにより下層の配線と短絡することなく交
差配線を作る方法である。
には、数多くの配線交差部がある。この配線交差部にお
ける配線自身の断線もしくは配線間の短絡が1ヶ所でも
生じた場合、その基板は不良となる。そのためこのよう
な断線または短絡を修正することが必要となる。基板上
で配線の欠陥を修正する方法は局所的に層間絶縁膜を形
成した後、層間絶縁膜上に金属膜を形成することで修正
が可能となる。その中で、局所的に層間絶縁膜を形成す
る方法として次の二つの方法が知られている。第一の方
法は第38回応用物理学関係連合講演会講演予稿集 P.5
50(1991)に記載されたもので、絶縁膜材料液を試料全面
にスピンコートする。その後、プリベークを行いAu配
線をレーザCVDにより形成した後、余分な絶縁膜をエ
ッチングにより除去する。第二の方法は、1993年度精密
工学会春季大会学術講演会講演論文集 P.953(1993)に記
載されたもので、真空チャンバ内にCVDガスであるT
EOSを導入し、予めレーザCVDで形成した金属膜上
に同じくレーザCVDによりSiO2膜を形成した後、更
にレーザCVDにより下層の配線と短絡することなく交
差配線を作る方法である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来方法では
それぞれに問題点がある。第一の方法による問題点は、
絶縁膜を必要としない部分にも絶縁膜材料液を塗布して
しまうことである。このため、不要な絶縁膜を完全に除
去する為の専用のエッチング装置を設けるので大きな費
用が必要となる。また、不要な絶縁膜を完全に除去する
際に本来の試料表面がエッチャントにさらされるため、
液晶表示装置や半導体集積回路等の微細なパターンにダ
メージが生じる恐れがあり、この方法を用いることはで
きない。また、第二の方法による問題点は専用の真空チ
ャンバを必要とし、非常に高価な装置を使用せざる得な
い点である。
それぞれに問題点がある。第一の方法による問題点は、
絶縁膜を必要としない部分にも絶縁膜材料液を塗布して
しまうことである。このため、不要な絶縁膜を完全に除
去する為の専用のエッチング装置を設けるので大きな費
用が必要となる。また、不要な絶縁膜を完全に除去する
際に本来の試料表面がエッチャントにさらされるため、
液晶表示装置や半導体集積回路等の微細なパターンにダ
メージが生じる恐れがあり、この方法を用いることはで
きない。また、第二の方法による問題点は専用の真空チ
ャンバを必要とし、非常に高価な装置を使用せざる得な
い点である。
【0004】本発明の目的は、液晶表示装置や半導体集
積回路の基板上に設けられた配線交差部における断線ま
たは短絡欠陥を安価な装置で更に他のパターンにダメー
ジを与えること無く修正する配線修正方法を提供するこ
とにある。
積回路の基板上に設けられた配線交差部における断線ま
たは短絡欠陥を安価な装置で更に他のパターンにダメー
ジを与えること無く修正する配線修正方法を提供するこ
とにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに断線欠陥については断線部周辺に、また短絡欠陥に
ついてはレーザ加工により短絡部を切離した後この切離
した周辺に絶縁膜を形成するための材料液を局所的に微
量塗布し、その後、レーザ光もしくはUV光を照射する
ことにより絶縁膜を析出させる。更に、その上層に金属
膜を形成するための材料液を微量塗布して同様にレーザ
光を照射することにより金属膜を析出させて配線交差部
を修正する。この一連の工程を大気中で行う。
めに断線欠陥については断線部周辺に、また短絡欠陥に
ついてはレーザ加工により短絡部を切離した後この切離
した周辺に絶縁膜を形成するための材料液を局所的に微
量塗布し、その後、レーザ光もしくはUV光を照射する
ことにより絶縁膜を析出させる。更に、その上層に金属
膜を形成するための材料液を微量塗布して同様にレーザ
光を照射することにより金属膜を析出させて配線交差部
を修正する。この一連の工程を大気中で行う。
【0006】
【作用】短絡欠陥については一方向の配線をレーザ加工
等により切離した後、絶縁膜を形成するための材料、例
えば、SOG(スピン オン グラス)、ポリイミドをNM
P(エヌ メチル ピロリドン)等の溶媒に溶かし込んだ溶
液、もしくはエポキシ等を主成分とし感光基を加えたU
V硬化樹脂の液体材料を先端内径約1μmに絞り込んだ
硝子ピペットに注入し、断線もしくは短絡欠陥を有する
配線交差部に硝子ピペットを接触させ、絶縁膜を形成す
るための材料液を欠陥部を含む周辺に微量塗布させる。
次に、この配線交差部にレーザ光もしくはUV光を絶縁
膜を形成するための材料液の塗布領域と同程度もしくは
広い領域に照射する。レーザ光もしくはUV光を照射し
た領域は局所的に加熱による分解もしくは光硬化を起こ
して絶縁膜が析出する。更に、絶縁膜上にトリフロロ酢
酸パラジウム等の金属錯体を溶媒に溶かした液体材料を
配線状に同様の方法で微量塗布し、同じくレーザ光を照
射することにより金属膜を形成する。
等により切離した後、絶縁膜を形成するための材料、例
えば、SOG(スピン オン グラス)、ポリイミドをNM
P(エヌ メチル ピロリドン)等の溶媒に溶かし込んだ溶
液、もしくはエポキシ等を主成分とし感光基を加えたU
V硬化樹脂の液体材料を先端内径約1μmに絞り込んだ
硝子ピペットに注入し、断線もしくは短絡欠陥を有する
配線交差部に硝子ピペットを接触させ、絶縁膜を形成す
るための材料液を欠陥部を含む周辺に微量塗布させる。
次に、この配線交差部にレーザ光もしくはUV光を絶縁
膜を形成するための材料液の塗布領域と同程度もしくは
広い領域に照射する。レーザ光もしくはUV光を照射し
た領域は局所的に加熱による分解もしくは光硬化を起こ
して絶縁膜が析出する。更に、絶縁膜上にトリフロロ酢
酸パラジウム等の金属錯体を溶媒に溶かした液体材料を
配線状に同様の方法で微量塗布し、同じくレーザ光を照
射することにより金属膜を形成する。
【0007】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。図
1は本発明を実施するに好適な配線修正装置の説明図で
ある。図で、制御装置100は液晶表示装置1を搭載し
たステージ2、硝子ピペット3を固定治具4を介して液
晶表示装置1に接触させるためのマニュピレータ5、硝
子ピペット3に注入された絶縁膜を形成するための材料
液もしくは金属膜を形成するための材料液を液晶表示装
置1上に塗布するための圧力印加装置6を自動もしくは
手動により動作をさせる制御装置である。ステージ2
は、XYZの三軸の構成で成り立っており、修正を施す
べき配線交差部に位置決めを行う。また、マニピュレー
タ5は微調整を可能とする為にピエゾ素子により動作を
するXYZの三軸の構成で成り立っており、液晶表示装
置1上への硝子ピペット3の接触または回避を行う。ま
た、圧力印加装置6は硝子ピペット3に注入された絶縁
膜を形成するための材料液もしくは金属膜を形成するた
めの材料液を液晶表示装置1上に塗布するためにテフロ
ンチューブ7を介して硝子ピペット3内に窒素圧を印加
する。この圧力印加装置6は、印加する窒素の圧力及び
印加時間を任意に変更できるように構成されており、こ
れらを変えることにより液晶表示装置1基板上に所定の
塗布量を有する絶縁膜を形成するための材料液もしくは
金属膜を形成するための材料液を塗布することができ
る。
1は本発明を実施するに好適な配線修正装置の説明図で
ある。図で、制御装置100は液晶表示装置1を搭載し
たステージ2、硝子ピペット3を固定治具4を介して液
晶表示装置1に接触させるためのマニュピレータ5、硝
子ピペット3に注入された絶縁膜を形成するための材料
液もしくは金属膜を形成するための材料液を液晶表示装
置1上に塗布するための圧力印加装置6を自動もしくは
手動により動作をさせる制御装置である。ステージ2
は、XYZの三軸の構成で成り立っており、修正を施す
べき配線交差部に位置決めを行う。また、マニピュレー
タ5は微調整を可能とする為にピエゾ素子により動作を
するXYZの三軸の構成で成り立っており、液晶表示装
置1上への硝子ピペット3の接触または回避を行う。ま
た、圧力印加装置6は硝子ピペット3に注入された絶縁
膜を形成するための材料液もしくは金属膜を形成するた
めの材料液を液晶表示装置1上に塗布するためにテフロ
ンチューブ7を介して硝子ピペット3内に窒素圧を印加
する。この圧力印加装置6は、印加する窒素の圧力及び
印加時間を任意に変更できるように構成されており、こ
れらを変えることにより液晶表示装置1基板上に所定の
塗布量を有する絶縁膜を形成するための材料液もしくは
金属膜を形成するための材料液を塗布することができ
る。
【0008】次に液晶表示装置1上には光学系8を設置
しており、配線切断用にQスイッチYAGレーザ発振器
9、配線交差部の画像データ出力するためのCCDカメ
ラ10及び50倍の対物レンズ11が搭載されている。
また、光学系8を介して液晶表示装置1上に塗布された
絶縁膜を形成するための材料液もしくは金属膜を形成す
るための材料液を加熱するためのArレーザ発振器12
が設置されている。また、光学系8に搭載してあるCC
Dカメラ10は対物レンズ11を介して液晶表示装置1
の表面の画像データをモニタ13により出力するもので
あり、オートフォーカスユニット及び硝子ピペット3の
終点検出を行う画像処理装置14を介して画像データが
転送される。そして、画像処理装置14内蔵のオートフ
ォーカスユニットは液晶表示装置1の表面に縞パターン
を投影し、この縞パターンを検出することにより液晶表
示装置1の表面にピントが合うようにすると共に、硝子
ピペット3が液晶表示装置1に接触し過ぎないようにそ
れぞれステージ2、マニピュレータ5を駆動するための
駆動信号を制御装置100に転送する。このシステムを
用いることにより、絶縁膜を形成するための材料液もし
くは金属膜を形成するための材料液を液晶表示装置1上
に塗付する工程を自動化することができる。
しており、配線切断用にQスイッチYAGレーザ発振器
9、配線交差部の画像データ出力するためのCCDカメ
ラ10及び50倍の対物レンズ11が搭載されている。
また、光学系8を介して液晶表示装置1上に塗布された
絶縁膜を形成するための材料液もしくは金属膜を形成す
るための材料液を加熱するためのArレーザ発振器12
が設置されている。また、光学系8に搭載してあるCC
Dカメラ10は対物レンズ11を介して液晶表示装置1
の表面の画像データをモニタ13により出力するもので
あり、オートフォーカスユニット及び硝子ピペット3の
終点検出を行う画像処理装置14を介して画像データが
転送される。そして、画像処理装置14内蔵のオートフ
ォーカスユニットは液晶表示装置1の表面に縞パターン
を投影し、この縞パターンを検出することにより液晶表
示装置1の表面にピントが合うようにすると共に、硝子
ピペット3が液晶表示装置1に接触し過ぎないようにそ
れぞれステージ2、マニピュレータ5を駆動するための
駆動信号を制御装置100に転送する。このシステムを
用いることにより、絶縁膜を形成するための材料液もし
くは金属膜を形成するための材料液を液晶表示装置1上
に塗付する工程を自動化することができる。
【0009】液晶表示装置1上に絶縁膜もしくは金属膜
を形成する工程は、先ずモニタ13のピントが液晶表示
装置1の表面に合うようにステージ2がZ方向に移動
し、次に任意の場所に対してXY方向に移動する。次
に、硝子ピペット3が任意の場所の真上にくるようにマ
ニピュレータ5のXY方向に移動した後、硝子ピペット
3の先端が液晶表示装置1の表面に接触するまでZ方向
に移動する。次に、印加圧力及び時間を設定した圧力印
加装置6により窒素を印加し、硝子ピペット3内の絶縁
膜を形成するための材料液もしくは金属膜を形成するた
めの材料液を液晶表示装置1上に塗布する。次に、硝子
ピペット3を液晶表示装置1から回避させ、Arレーザ
制御装置15により所定パワーに設定されたレーザが、
Arレーザ発振器12から光学系8の対物レンズ11を
介し、液晶表示装置1上に集光・照射される。Arレー
ザに照射された絶縁膜を形成するための材料液もしくは
金属膜を形成するための材料液は、熱分解を起こして絶
縁膜もしくは金属膜をそれぞれ形成する。
を形成する工程は、先ずモニタ13のピントが液晶表示
装置1の表面に合うようにステージ2がZ方向に移動
し、次に任意の場所に対してXY方向に移動する。次
に、硝子ピペット3が任意の場所の真上にくるようにマ
ニピュレータ5のXY方向に移動した後、硝子ピペット
3の先端が液晶表示装置1の表面に接触するまでZ方向
に移動する。次に、印加圧力及び時間を設定した圧力印
加装置6により窒素を印加し、硝子ピペット3内の絶縁
膜を形成するための材料液もしくは金属膜を形成するた
めの材料液を液晶表示装置1上に塗布する。次に、硝子
ピペット3を液晶表示装置1から回避させ、Arレーザ
制御装置15により所定パワーに設定されたレーザが、
Arレーザ発振器12から光学系8の対物レンズ11を
介し、液晶表示装置1上に集光・照射される。Arレー
ザに照射された絶縁膜を形成するための材料液もしくは
金属膜を形成するための材料液は、熱分解を起こして絶
縁膜もしくは金属膜をそれぞれ形成する。
【0010】次に、配線交差部に生じた断線欠陥の修正
方法について述べる。
方法について述べる。
【0011】図2は、液晶表示装置1上に形成されてい
る配線交差部の説明図を示す。下層配線16と上層配線
17の間には、上下配線の絶縁をとるための層間絶縁膜
18が形成されており、このような層間絶縁膜18は液
晶表示装置1基板上に多数存在している。
る配線交差部の説明図を示す。下層配線16と上層配線
17の間には、上下配線の絶縁をとるための層間絶縁膜
18が形成されており、このような層間絶縁膜18は液
晶表示装置1基板上に多数存在している。
【0012】次に、図3ないし図6に従って断線欠陥の
修正方法を説明する。図3(a)は上層配線17に断線部
19が存在している様子を示している。このような断線
19の生じた配線交差部への絶縁物から成る材料液の塗
布方法は、SOG(スピン オン グラス)20を先端内径
約1μmに絞り込んだ硝子ピペット3に注入し、液晶表
示装置1上に硝子ピペット3を接触させる。この硝子ピ
ペット3内に圧力印加装置6により一定圧力を持った窒
素を印加することにより、SOG20が硝子ピペット3
の外へ押し出されて液晶表示装置1上の配線交差部へ1
回の圧力印加で縦方向に対して約3〜5μmの幅の塗布
膜が得られる。そして、硝子ピペット3を図3(b)のよ
うに走査することにより配線上の断線部19を含む領域
にSOG20が形成される。この走査を複数回行うこと
により図4(a)のような配線交差部を完全に覆う範囲に
SOG20を塗布した後、硝子ピペット3を回避させ
る。次に、配線交差部に対してSOG20と同程度もし
くはそれよりも大きくなるようにArレーザ光を対物レ
ンズ11を介してSOG20上に集光・照射する。レー
ザ光の照射されたSOG20は、熱分解を起こしてSi
O2から成る絶縁膜21を図4(b)のように形成する。
次に、硝子ピペット3をトリフロロ酢酸パラジウムをア
セトニトリルとNMP(エヌ メチル ピロリドン)の溶媒
に溶かし込んだ金属錯体溶液22を注入した物に交換し
た後、図5(a)に示すように断線19した上層配線17
の方向に沿って金属錯体溶液22を絶縁膜21上に塗布
する。尚、配線交差部に形成された絶縁膜21は金属錯
体溶液22が下層配線16と接続せぬよう広範囲で形成
されているため、絶縁膜21をはみ出さない程度に上層
配線17よりも配線幅を太くすることができる。その
後、絶縁膜21を析出させるのと同様にArレーザ光を
照射することにより金属錯体溶液22が熱分解を起こし
て絶縁膜21上に図5(b)に示すような上層配線17を
接続するための金属膜23が形成される。
修正方法を説明する。図3(a)は上層配線17に断線部
19が存在している様子を示している。このような断線
19の生じた配線交差部への絶縁物から成る材料液の塗
布方法は、SOG(スピン オン グラス)20を先端内径
約1μmに絞り込んだ硝子ピペット3に注入し、液晶表
示装置1上に硝子ピペット3を接触させる。この硝子ピ
ペット3内に圧力印加装置6により一定圧力を持った窒
素を印加することにより、SOG20が硝子ピペット3
の外へ押し出されて液晶表示装置1上の配線交差部へ1
回の圧力印加で縦方向に対して約3〜5μmの幅の塗布
膜が得られる。そして、硝子ピペット3を図3(b)のよ
うに走査することにより配線上の断線部19を含む領域
にSOG20が形成される。この走査を複数回行うこと
により図4(a)のような配線交差部を完全に覆う範囲に
SOG20を塗布した後、硝子ピペット3を回避させ
る。次に、配線交差部に対してSOG20と同程度もし
くはそれよりも大きくなるようにArレーザ光を対物レ
ンズ11を介してSOG20上に集光・照射する。レー
ザ光の照射されたSOG20は、熱分解を起こしてSi
O2から成る絶縁膜21を図4(b)のように形成する。
次に、硝子ピペット3をトリフロロ酢酸パラジウムをア
セトニトリルとNMP(エヌ メチル ピロリドン)の溶媒
に溶かし込んだ金属錯体溶液22を注入した物に交換し
た後、図5(a)に示すように断線19した上層配線17
の方向に沿って金属錯体溶液22を絶縁膜21上に塗布
する。尚、配線交差部に形成された絶縁膜21は金属錯
体溶液22が下層配線16と接続せぬよう広範囲で形成
されているため、絶縁膜21をはみ出さない程度に上層
配線17よりも配線幅を太くすることができる。その
後、絶縁膜21を析出させるのと同様にArレーザ光を
照射することにより金属錯体溶液22が熱分解を起こし
て絶縁膜21上に図5(b)に示すような上層配線17を
接続するための金属膜23が形成される。
【0013】この方法を用いることにより、断線を生じ
た配線交差部のみでの修正が行えるため他のパターンに
ダメージを与えることはない。尚、本実施例では配線交
差部の上層配線17に断線が生じた場合の修正方法を記
載しているが、下層配線18に断線が生じていた場合で
も同様に絶縁膜形成及び金属膜形成を行うことにより配
線修正は可能である。
た配線交差部のみでの修正が行えるため他のパターンに
ダメージを与えることはない。尚、本実施例では配線交
差部の上層配線17に断線が生じた場合の修正方法を記
載しているが、下層配線18に断線が生じていた場合で
も同様に絶縁膜形成及び金属膜形成を行うことにより配
線修正は可能である。
【0014】次に、図6(a)に示すような層間絶縁膜1
8が欠落24を生じ、下層配線16と上層配線17が短
絡している場合の配線修正方法について述べる。先ず、
下層配線16と上層配線17の短絡を切るため光学系8
に搭載されたQスイッチYAGレーザ9を用いて、所定
パワーに設定されたYAGレーザ光を光学系8を介して
対物レンズ11により、図6(b)に示すように下層配線
16の配線交差部の両端に集光・照射して配線の切断2
5を行う。次に、SOG20を注入した硝子ピペット3
を切断した配線交差部に接触させ、SOG20を短絡部
及びレーザによる切断部25を覆う図7(a)に示すよう
に塗布する。次に、配線交差部に対してSOG20と同
程度もしくはそれよりも大きくなるようにArレーザ光
を対物レンズ11を介して集光・照射することによりレ
ーザによる熱分解を起こしてSiO2から成る絶縁膜21
を図7(b)に示すように形成する。次に、トリフロロ酢
酸パラジウムをアセトニトリルとNMPの溶媒に溶かし
込んだ金属錯体溶液22を注入した硝子ピペット3を用
いて図8に示すように切断した下層配線16の方向に沿
って金属錯体溶液22を絶縁膜21上に塗布する。尚、
配線交差部に形成された絶縁膜21は広範囲であるた
め、絶縁膜21をはみ出さなければ切断した配線よりも
配線幅は太くてもよい。その後、絶縁膜21を析出させ
るのと同様にArレーザ光を照射することにより絶縁膜
21上に下層配線16を接続させるための金属膜23が
形成される。
8が欠落24を生じ、下層配線16と上層配線17が短
絡している場合の配線修正方法について述べる。先ず、
下層配線16と上層配線17の短絡を切るため光学系8
に搭載されたQスイッチYAGレーザ9を用いて、所定
パワーに設定されたYAGレーザ光を光学系8を介して
対物レンズ11により、図6(b)に示すように下層配線
16の配線交差部の両端に集光・照射して配線の切断2
5を行う。次に、SOG20を注入した硝子ピペット3
を切断した配線交差部に接触させ、SOG20を短絡部
及びレーザによる切断部25を覆う図7(a)に示すよう
に塗布する。次に、配線交差部に対してSOG20と同
程度もしくはそれよりも大きくなるようにArレーザ光
を対物レンズ11を介して集光・照射することによりレ
ーザによる熱分解を起こしてSiO2から成る絶縁膜21
を図7(b)に示すように形成する。次に、トリフロロ酢
酸パラジウムをアセトニトリルとNMPの溶媒に溶かし
込んだ金属錯体溶液22を注入した硝子ピペット3を用
いて図8に示すように切断した下層配線16の方向に沿
って金属錯体溶液22を絶縁膜21上に塗布する。尚、
配線交差部に形成された絶縁膜21は広範囲であるた
め、絶縁膜21をはみ出さなければ切断した配線よりも
配線幅は太くてもよい。その後、絶縁膜21を析出させ
るのと同様にArレーザ光を照射することにより絶縁膜
21上に下層配線16を接続させるための金属膜23が
形成される。
【0015】この方法を用いることにより、層間絶縁膜
18の欠落を生じた配線交差部のみでの修正が行えるた
め他のパターンにダメージを与える影響はない。尚、本
実施例では配線交差部の下層配線16をYAGレーザ光
により切断加工を施しているが、上層配線17をYAG
レーザ光により切断し同様に絶縁膜形成及び上層配線1
7を接続する方向に金属膜形成を行うことにより配線修
正は可能である。
18の欠落を生じた配線交差部のみでの修正が行えるた
め他のパターンにダメージを与える影響はない。尚、本
実施例では配線交差部の下層配線16をYAGレーザ光
により切断加工を施しているが、上層配線17をYAG
レーザ光により切断し同様に絶縁膜形成及び上層配線1
7を接続する方向に金属膜形成を行うことにより配線修
正は可能である。
【0016】尚、本実施例における絶縁膜を形成するた
めの材料液はSOGとして説明してきたが、ポリイミド
等の絶縁物をアセトニトリル、NMP等の溶媒に溶かし
込んだ材料液でも良い。また、エポキシ等の絶縁膜を形
成するための材料液を主成分とし、UV光を照射するこ
とにより光硬化を生じて絶縁膜を形成するUV硬化樹脂
でも良い。
めの材料液はSOGとして説明してきたが、ポリイミド
等の絶縁物をアセトニトリル、NMP等の溶媒に溶かし
込んだ材料液でも良い。また、エポキシ等の絶縁膜を形
成するための材料液を主成分とし、UV光を照射するこ
とにより光硬化を生じて絶縁膜を形成するUV硬化樹脂
でも良い。
【0017】また、本実施例における金属膜を形成する
ための材料液はトリフロロ酢酸パラジウムをアセトニト
リルとNMP(エヌ メチル ピロリドン)の溶媒に溶かし
込んだ金属材料を含む溶液としているが、金、銀等の金
属材料を含む材料液でも良い。
ための材料液はトリフロロ酢酸パラジウムをアセトニト
リルとNMP(エヌ メチル ピロリドン)の溶媒に溶かし
込んだ金属材料を含む溶液としているが、金、銀等の金
属材料を含む材料液でも良い。
【0018】
【発明の効果】本発明によれば液晶表示装置や半導体集
積回路の基板上に設けられた配線交差部における断線ま
たは短絡を修正することが可能である。この方法を用い
ることにより、他のパターンにダメージをを与えること
無く配線修正を行うことができる。
積回路の基板上に設けられた配線交差部における断線ま
たは短絡を修正することが可能である。この方法を用い
ることにより、他のパターンにダメージをを与えること
無く配線修正を行うことができる。
【0019】また、この一連の工程が大気中で行えるこ
とにより真空容器を必要とすることが無いため、安価な
装置で修正することが出来る。
とにより真空容器を必要とすることが無いため、安価な
装置で修正することが出来る。
【図1】本発明を実施する配線修正装置のブロック図。
【図2】液晶表示装置上に形成されている配線交差部の
説明図。
説明図。
【図3】図2における上層配線に断線の生じた配線交差
部の説明図。
部の説明図。
【図4】SOG塗布時の配線交差部の説明図。
【図5】金属錯体溶液塗布時の配線交差部の説明図。
【図6】図2における層間絶縁膜に欠落を生じた配線交
差部の説明図。
差部の説明図。
【図7】SOG塗布後の配線交差部の説明図。
【図8】金属錯体溶液へのArレーザ照射後の配線交差
部の説明図。
部の説明図。
3…硝子ピペット、 16…下層配線、 17…上層配線、 18…層間絶縁膜、 19…断線部、 20…SOG。
Claims (2)
- 【請求項1】基板上に形成された複数層の配線の交差部
に発生した断線欠陥に対して、断線欠陥部を含む配線交
差部に絶縁膜を形成するための材料液を局所的に微量塗
布し、レーザ光もしくはUV光を照射することにより絶
縁膜を析出させ、その上層に金属膜を形成するための材
料液を微量塗布して同様にレーザ光を照射することによ
り金属膜を析出させて断線欠陥を修正することを特徴と
する配線修正方法。 - 【請求項2】基板上に形成された複数層の配線の交差部
に発生した短絡欠陥に対して、レーザ加工により一方の
配線から短絡部を切離し、短絡欠陥部及びレーザ加工に
より形成した断線部を含む領域に絶縁膜を形成するため
の材料液を局所的に微量塗布し、レーザ光もしくはUV
光を照射することにより絶縁膜を析出させ、その上層に
金属膜を形成するための材料液を微量塗布して同様にレ
ーザ光を照射することにより金属膜を析出させて短絡欠
陥を修正することを特徴とする配線修正方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19143195A JPH0945683A (ja) | 1995-07-27 | 1995-07-27 | 配線修正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19143195A JPH0945683A (ja) | 1995-07-27 | 1995-07-27 | 配線修正方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0945683A true JPH0945683A (ja) | 1997-02-14 |
Family
ID=16274507
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19143195A Pending JPH0945683A (ja) | 1995-07-27 | 1995-07-27 | 配線修正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0945683A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006051687A1 (ja) * | 2004-11-15 | 2006-05-18 | V Technology Co., Ltd. | 液体材料供給装置 |
US20140151903A1 (en) * | 2012-12-04 | 2014-06-05 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd | Repairing method, repairing structure, and repairing system for disconnected defect |
JP2019521502A (ja) * | 2016-03-24 | 2019-07-25 | コーウィン ディーエスティー カンパニー リミテッドCowindst Co., Ltd. | 金属配線のリペア方法 |
-
1995
- 1995-07-27 JP JP19143195A patent/JPH0945683A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006051687A1 (ja) * | 2004-11-15 | 2006-05-18 | V Technology Co., Ltd. | 液体材料供給装置 |
JP2006136864A (ja) * | 2004-11-15 | 2006-06-01 | V Technology Co Ltd | 液体材料供給装置 |
JP4675611B2 (ja) * | 2004-11-15 | 2011-04-27 | 株式会社ブイ・テクノロジー | 液体材料供給装置 |
US20140151903A1 (en) * | 2012-12-04 | 2014-06-05 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd | Repairing method, repairing structure, and repairing system for disconnected defect |
WO2014086050A1 (zh) * | 2012-12-04 | 2014-06-12 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 断线修补方法、断线修补结构和断线修补系统 |
US9111940B2 (en) | 2012-12-04 | 2015-08-18 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Repairing method, repairing structure, and repairing system for disconnected defect |
JP2019521502A (ja) * | 2016-03-24 | 2019-07-25 | コーウィン ディーエスティー カンパニー リミテッドCowindst Co., Ltd. | 金属配線のリペア方法 |
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