JPH093650A - 薄膜気相成長装置 - Google Patents

薄膜気相成長装置

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JPH093650A
JPH093650A JP17433995A JP17433995A JPH093650A JP H093650 A JPH093650 A JP H093650A JP 17433995 A JP17433995 A JP 17433995A JP 17433995 A JP17433995 A JP 17433995A JP H093650 A JPH093650 A JP H093650A
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JP
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substrate
heater
reaction chamber
thin film
temperature
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JP17433995A
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English (en)
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Hiroyuki Shinozaki
弘行 篠崎
Yukio Fukunaga
由紀夫 福永
Takeshi Murakami
武司 村上
Kiwamu Tsukamoto
究 塚本
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Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板の温度制御を迅速に行なうことができ、
高誘電体の薄膜気相成長を望ましい条件下で行うことが
できる薄膜気相成長装置を提供する。 【構成】 基板Sを外界と隔離した雰囲気内に収容する
反応室3と、反応室3内において基板を支持する基板支
持部材8と、成膜に必要な反応ガスを基板に向けて噴射
する反応ガス供給手段6と、前記反応室3内の気体を外
部に排出する排気手段4と、中空に形成されたロータ1
1を有し、前記基板を高速回転させる基板高速回転手段
9と、前記基板の裏面側昇降自在に配置されたヒータ3
0と、前記ヒータを前記ロータ11の中空部を介して支
持し、かつ昇降させるヒータ昇降機構とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は薄膜気相成長装置に係
り、特に、チタン酸バリウム/ストロンチウム等の高誘
電率薄膜を気相成長させるのに好適な反応ガス噴射ヘッ
ド及びこれを備えた薄膜気相成長装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体産業における集積回路の集
積度の向上はめざましく、現状のメガビットオーダか
ら、将来のギガビットオーダを睨んだDRAMの研究開
発が行われている。かかるDRAMの製造のために必要
な大容量素子の製造に用いる誘電体薄膜として、誘電率
が10以下であるシリコン酸化膜やシリコン窒化膜に替
えて、誘電率が20程度である五酸化タンタル(Ta2
5 )薄膜、あるいは誘電率が300程度であるチタン酸
バリウム(BaTiO3 )、チタン酸ストロンチウム(S
rTiO3 )又はこれらの混合物であるチタン酸バリウム
ストロンチウム等の金属酸化物薄膜材料が有望視されて
いる。
【0003】ところで、このような高誘電体を気相成長
させて形成する場合、従来の薄膜と比べて成膜速度が遅
いという製造上の問題点がある。このような問題点を解
決するものとして、特開平7−58036号公報記載の
技術がある。これは、外界と雰囲気を異にする反応室
と、該反応室に配置されて薄膜を形成する基材を載架し
て回転するサセプタとを具備する薄膜形成装置におい
て、サセプタを浮上させるための磁気軸受を有する浮上
機構と、該サセプタを高速で回転するためのヒータ昇降
機構を具備するものである。
【0004】これによって、薄膜を形成する基材を載架
するサセプタを磁気軸受を有する浮上機構で浮上支持す
る、つまり回転体の懸架、支持に接触式の軸受を用いて
いないので、回転体の遠心強度の許容する限度内でサセ
プタの回転速度を自由に増加させることができる。ここ
では、サセプタは、中実のロータを用いた磁気軸受兼用
モータにより回転自在に支持されている。サセプタに
は、その裏面にヒータが設けられており、これにスリッ
プリングを介して給電してサセプタを加熱し、間接的に
基材の温度を制御するようにしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、高誘電体の
気相成長においては、材料である原料ガスの気相の温度
範囲や、反応温度が他の原料と比べて非常に狭くかつ高
いという特徴があり、反応室内の雰囲気温度と基板の温
度を厳しく制御する必要がある。しかしながら、前記の
ような従来の技術においては、サセプタを介して基材を
加熱するため、基材自体の温度を迅速に変更することは
困難である。従って、基材の温度が適正値でないことを
検出したとしても、これを迅速に適正値に戻すような制
御ができず、結果として良好な反応状態が得られない場
合があった。本発明は上述した事情に鑑みて為されたも
ので、基板の温度制御を迅速に行なうことができ、高誘
電体の薄膜気相成長を望ましい条件下で行うことができ
る薄膜気相成長装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、基板を外界と隔離した雰囲気内に収容する反応室
と、反応室内において基板を支持する基板支持部材と、
成膜に必要な反応ガスを基板に向けて噴射する反応ガス
供給手段と、前記反応室内の気体を外部に排出する排気
手段と、中空に形成されたロータを有し、前記基板を高
速回転させる基板高速回転手段と、前記基板の裏面側に
昇降自在に配置されたヒータと、前記ヒータを前記ロー
タの中空部を介して支持し、かつ昇降させるヒータ昇降
機構と有するを特徴とする薄膜気相成長装置である。請
求項2に記載の発明は、前記基板支持部材が、基板の裏
面の少なくとも一部を露出させて基板を支持することを
特徴とする請求項1に記載の薄膜気相成長装置である。
【0007】請求項3に記載の発明は、前記ヒータ昇降
機構が、送りねじ機構を用いる構造であることを特徴と
する請求項1又は2に記載の薄膜気相成長装置である。
請求項4に記載の発明は、前記ヒータ昇降機構に、前記
ヒータの上下動に伴い伸縮して前記ロータの中空部を外
界と遮断する被覆部材が設けられていることを特徴とす
る請求項1ないし3のいずれかに記載の薄膜気相成長装
置である。請求項5に記載の発明は、前記反応室に、反
応室内壁の温度を調整する反応室温度調整手段が設けら
れていることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか
に記載の薄膜気相成長装置である。
【0008】
【作用】請求項1に記載の発明においては、外界と隔離
した雰囲気を持つ反応室内において、基板支持部材によ
り基板が支持され、中空に形成されたロータを有する基
板高速回転手段により高速回転させられた状態で、反応
ガス供給手段により反応ガスが基板に向けて噴射され、
成膜が行われ、反応の副生成物のガスは排気手段により
排気される。ここで適宜の方法で基板の温度条件を判断
して基板支持部材が昇降させられ、これによって迅速に
基板温度が調整される。
【0009】請求項2に記載の発明においては、基板の
裏面の少なくとも一部が露出した状態で支持され、裏面
側のヒータにより直接的に加熱され、温度の調整がより
迅速に行われる。請求項3に記載の発明においては、前
記ヒータが送りねじ機構を用いた昇降機構で昇降させら
れ、簡単な構成で円滑かつ確実な昇降動作がなされる。
請求項4に記載の発明においては、被覆部材がロータの
中空部を外界と遮断して反応室内の雰囲気を保つ。請求
項5に記載の発明においては、前記反応室には、反応室
温度調整手段が反応室内壁の温度を調整し、反応ガスの
析出を防止する。
【0010】
【実施例】図1及び図2は、本発明の一実施例の薄膜気
相成長装置Aを示す。この薄膜気相成長装置Aにおいて
は、釜状の容器1と支持台2で囲まれて反応室3が構成
されている。反応室3は気密に構成され、生成ガスを排
気する排気口4が設けられ、また、容器1の壁には熱媒
体流路5が形成されて、これに加熱流体や冷却流体が流
され、容器壁や反応室3内を所定温度に保つようにして
いる。そして、これらの熱媒体流路5には、所定位置に
熱電対や流量調整弁が設けられており、これらは制御手
段(図示略)に接続されて駆動制御され、容器1の内部
の温度が設定値になるように自動制御されるようになっ
ている。
【0011】容器1の頂部には、原料ガスと酸化ガスを
混合して反応室3内に噴射する反応ガス噴射ヘッド6が
装着されている。支持台2の中央開口部には、やはり熱
媒体流路5を有する筒状部7が上方に突出して設けら
れ、この中に基板Sを支持するサセプタ(基板支持部
材)8が設けられている。このサセプタ8は、基板と熱
伝導率の差が小さい素材から構成され、基板の縁部を収
容する段差が内側に形成された中空円板状部材であり、
支持台2の下側に設置した磁気軸受兼用モータ9によっ
て回転自在に支持されている。
【0012】この磁気軸受兼用モータ9は、支持台2の
下側に設置した筒状のケーシング10に組み込まれてお
り、中央の中空軸状のロータ11と、ケーシング10内
側に組み込まれたステータ12とから構成されている。
ロータ11には、磁性材料からなるディスクDが外方に
突出して形成され、ステータ12には前記ディスクDに
対応する位置に制御コイルCが設置され、これには制御
装置20から制御電流が供給されるようになっている。
磁気軸受兼用モータ9は、上側から順に、上ラジアル磁
気軸受13、モータ14、下ラジアル磁気軸受15、ア
キシャル磁気軸受16が構成されており、所定箇所に隙
間の寸法や傾斜角度を検出するセンサが設けられ、最下
端には回転を検出するエンコーダ17が設けられ、これ
らの出力は制御装置20に入力されている。ロータ11
は、支持台2の開口部を貫通して反応室3内に突出し、
その上部には底板18と筒状側壁19からなるサセプタ
支持部材21が設けられている。
【0013】ケーシング10の底板22の下側には、こ
れと間隔を置いてねじ固定板23が設けられ、このねじ
固定板23と底板22の間には複数本のねじ部材24が
軸受25により回転自在に支持されている。そして、底
板22とネジ固定板23の間には、それぞれのねじ部材
24と螺合するナット26を有する可動板27が設けら
れている。ねじ部材24とナットの間にはボールが介在
していわゆるボールねじとなっており、摩擦や遊びを軽
減させている。底板22の下側には駆動モータ28が設
けられており、その出力軸29は動力伝達機構30を介
してねじ部材24の一つに連結されており、駆動モータ
28の作動により可動板27が上下動するようになって
いる。
【0014】この可動板27には、底板22の開口部と
ロータ11の中空部を貫通して前記サセプタ支持部材2
1の内側に突出する支柱29が立設されている。この支
柱29の頂部には、基板Sの裏面側にヒータ30を支持
するヒータ支持部材31が設けられ、また、温度計測用
の熱電対32が設置され、ヒータ30と熱電対32は支
柱29の内部を通る電線によって基板温度調整器33に
接続されている。なお、可動板27と底板22の間の部
分には、支柱29を覆うようにベローズ35が設けられ
ており、ケーシング10内の空間を外気と遮蔽してい
る。
【0015】また、反応室3の所定位置には、図2に模
式的に示すように、ゲートバルブ36を介してロボット
チャンバ37が設けられ、さらにこれにはゲートバルブ
38を介して第2チャンバ39が設けられている。ロボ
ットチャンバ37には基板搬送用ロボット40が設けら
れており、これは例えば、ロボットチャンバ37内にお
いて走行自在、あるいは旋回自在とされ、基板を把持す
るアームを備えている。
【0016】次に、前記のように構成された本発明の薄
膜気相成長装置の作用を説明する。基板Sの温度は、温
度調整器33により、以下のようにして、例えば550
゜Cでプラスマイナス1%程度に制御される。まず、ヒ
ータ30への供給電力は、ヒータ表面温度が550゜C
より所定値だけ高い一定値になるようにする。これは、
熱電対32により計測されたヒータ30の温度に基づい
てフィードバック制御を行なうか、あるいは簡便な方法
として予めヒータ30の特性に応じた値を求めてこれに
設定しておく。
【0017】次に、熱電対32で基板Sの表面近傍の温
度を計測して、これが所定値であるかどうかを判断し、
温度が高すぎる場合は駆動モータ28を駆動してヒータ
30を下降させる。温度が低すぎる場合は上昇させる。
この場合に、基板Sとヒータ30の相対位置を勘案して
ヒータ30への入力電力量が過大であると判断したとき
は、電力量制御を並行して行ってもよい。ここでは、熱
電対32の計測温度をパラメータとしたが、他のパラメ
ータ、例えば反応の進行状況を観察しつつ制御する方法
を用いるあるいは併用するなどしてもよい。
【0018】反応室内の温度を制御するために、熱媒体
流路5に流れる熱媒体の温度と流量が調整される。これ
により、例えば、反応容器1内壁の温度が250〜26
0゜Cでプラスマイナス2%程度に制御される。
【0019】基板高速回転装置、つまり磁気軸受兼用モ
ータ9を駆動することにより、基板Sがサセプタ8とと
もに高速回転する。ここにおいて、センサの検出信号に
基づき、制御装置20より、磁気軸受やモータに制御信
号が発せられ、サセプタ8の回転数や姿勢が制御され
る。この実施例では、高速回転装置のロータ11が中空
軸として形成されているので、強度を維持しつつ軽量と
なっており、また振動の固有値も小さいので、軸の安定
な制御が容易である。
【0020】このようにして、反応室3と基板Sの温度
をそれぞれ個別に制御し、基板Sを円滑に高速回転させ
た状態で成膜処理が行われる。金属原料ガス及びオゾン
(O3 )等の酸素含有ガスは、ガス導入管41から導入
され、反応ガス噴射ヘッド6の内部の空間で混合され、
ノズルから反応室3内に噴射される。反応室3内で、金
属原料ガスと酸素含有ガスとが反応して、チタン酸バリ
ウムあるいはチタン酸ストロンチウム等の金属酸化物分
子が形成され、半導体等の基板S上に金属酸化物薄膜が
成長して堆積する。反応が終了したガスや余剰ガスは、
生成ガス排気口4を介して反応室から排出される。
【0021】上述したような制御においては、ヒータ3
0が、基板Sを裏面から輻射によって直接加熱してお
り、基板Sへ入熱量はヒータ30と基板Sの間隔によっ
て大きく変わるので、ヒータ30自体の温度制御だけに
よる場合より迅速な制御が行える。従って、基板の温度
制御が厳密に行えるので、反応温度域の狭い反応ガスを
用いる高誘電体の成膜においても、高品質の気相成長被
膜を歩留まり良く製造することができる。
【0022】
【発明の効果】請求項1に記載の発明によれば、ヒータ
の基板に対する相対位置を変えることにより基板への入
熱を制御でき、ヒータの温度を変えずに基板温度を迅速
に制御することができる。従って、基板の温度制御が厳
密に行えるので、反応温度域の狭い反応ガスを用いる高
誘電体の成膜においても、高品質の気相成長被膜を歩留
まり良く製造することができる。しかも、ロータの中空
部を介してヒータの位置を変えるようにしているので、
構造が複雑になることがなく、装置の製造コストや保守
コストも抑えることができる。
【0023】請求項2に記載の発明においては、基板が
ヒータにより直接的に加熱され、温度の調整がより迅速
に行われるので、上述した効果がさらに良好になる。請
求項3に記載の発明においては、前記ヒータが送りねじ
機構を用いた昇降機構で昇降させられ、装置コストを上
昇させることなく、確実な昇降動作がなされる。請求項
4に記載の発明においては、反応室内の雰囲気の維持が
簡単な構成で行われる。請求項5に記載の発明において
は、反応室温度調整手段が反応室内壁の温度を調整し、
反応ガスの析出を防止し、品質と歩留まりの良い成膜が
行われる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第一実施例の薄膜気相成長装置の実
体的構成を示す断面図である。
【図2】図1の実施例の薄膜気相成長装置の概略構成を
示すブロック図である。
【符号の説明】
1 反応容器 3 反応室 4 排気口 5 熱媒体流路 6 反応ガス噴射ヘッド(反応ガス供給手段) 8 サセプタ(基板支持部材) 9 磁気軸受兼用モータ(基板高速回転手段) 11 ロータ 26 ねじ部材 27 可動板 28 駆動モータ 29 支柱 30 ヒータ 33 基板温度制御手段 35 ベローズ(被覆部材) S 基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 塚本 究 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を外界と隔離した雰囲気内に収容す
    る反応室と、 反応室内において基板を支持する基板支持部材と、 成膜に必要な反応ガスを基板に向けて噴射する反応ガス
    供給手段と、 前記反応室内の気体を外部に排出する排気手段と、 中空に形成されたロータを有し、前記基板を高速回転さ
    せる基板高速回転手段と、 前記基板の裏面側に昇降自在に配置されたヒータと、 前記ヒータを前記ロータの中空部を介して支持し、かつ
    昇降させるヒータ昇降機構と有するを特徴とする薄膜気
    相成長装置。
  2. 【請求項2】 前記基板支持部材は、基板の裏面の少な
    くとも一部を露出させて基板を支持することを特徴とす
    る請求項1に記載の薄膜気相成長装置。
  3. 【請求項3】 前記ヒータ昇降機構は、送りねじ機構を
    用いる構造であることを特徴とする請求項1又は2に記
    載の薄膜気相成長装置。
  4. 【請求項4】 前記ヒータ昇降機構には、前記ヒータの
    上下動に伴い伸縮して前記ロータの中空部を外界と遮断
    する被覆部材が設けられていることを特徴とする請求項
    1ないし3のいずれかに記載の薄膜気相成長装置。
  5. 【請求項5】 前記反応室には、反応室内壁の温度を調
    整する反応室温度調整手段が設けられていることを特徴
    とする請求項1ないし4のいずれかに記載の薄膜気相成
    長装置。
JP17433995A 1995-06-16 1995-06-16 薄膜気相成長装置 Pending JPH093650A (ja)

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TW085107107A TW331652B (en) 1995-06-16 1996-06-13 Thin film vapor deposition apparatus
KR1019960021382A KR100427427B1 (ko) 1995-06-16 1996-06-14 박막기상증착장치
DE69611952T DE69611952T2 (de) 1995-06-16 1996-06-14 Vorrichtung zur Gasphasenabscheidung dünner Schichten
EP96109620A EP0748881B1 (en) 1995-06-16 1996-06-14 Thin-film vapor deposition apparatus
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6464825B1 (en) 1999-06-15 2002-10-15 Ebara Corporation Substrate processing apparatus including a magnetically levitated and rotated substrate holder
US6858085B1 (en) * 2002-08-06 2005-02-22 Tegal Corporation Two-compartment chamber for sequential processing
JP2009094232A (ja) * 2007-10-05 2009-04-30 Sumitomo Electric Ind Ltd サセプタおよび気相成長装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6464825B1 (en) 1999-06-15 2002-10-15 Ebara Corporation Substrate processing apparatus including a magnetically levitated and rotated substrate holder
US6858085B1 (en) * 2002-08-06 2005-02-22 Tegal Corporation Two-compartment chamber for sequential processing
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