JPH093649A - 薄膜気相成長装置 - Google Patents
薄膜気相成長装置Info
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- JPH093649A JPH093649A JP17433895A JP17433895A JPH093649A JP H093649 A JPH093649 A JP H093649A JP 17433895 A JP17433895 A JP 17433895A JP 17433895 A JP17433895 A JP 17433895A JP H093649 A JPH093649 A JP H093649A
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- thin film
- reaction chamber
- film vapor
- vapor deposition
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高誘電体の薄膜気相成長を安定した条件下で
行うとともに、基板の出し入れが容易で成膜作業を能率
良く行うことができる薄膜気相成長装置を提供する。 【構成】 基板Sを外界と隔離した雰囲気内に収容する
反応室3と、反応室3内において基板Sを支持する基板
支持部材8と、成膜に必要な反応ガスを基板Sに向けて
噴射する反応ガス供給手段6と、反応室3内の気体を外
部に排出する排気手段4と、中空に形成されたロータ1
1を有する基板高速回転手段9と、基板3の裏面側に設
けられ、基板3を押し上げて基板3と基板支持手8段の
間に隙間を形成する基板突き出し部材34,42とを有
する。
行うとともに、基板の出し入れが容易で成膜作業を能率
良く行うことができる薄膜気相成長装置を提供する。 【構成】 基板Sを外界と隔離した雰囲気内に収容する
反応室3と、反応室3内において基板Sを支持する基板
支持部材8と、成膜に必要な反応ガスを基板Sに向けて
噴射する反応ガス供給手段6と、反応室3内の気体を外
部に排出する排気手段4と、中空に形成されたロータ1
1を有する基板高速回転手段9と、基板3の裏面側に設
けられ、基板3を押し上げて基板3と基板支持手8段の
間に隙間を形成する基板突き出し部材34,42とを有
する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は薄膜気相成長装置に係
り、特に、チタン酸バリウム/ストロンチウム等の高誘
電率薄膜を気相成長させるのに好適な反応ガス噴射ヘッ
ド及びこれを備えた薄膜気相成長装置に関する。
り、特に、チタン酸バリウム/ストロンチウム等の高誘
電率薄膜を気相成長させるのに好適な反応ガス噴射ヘッ
ド及びこれを備えた薄膜気相成長装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体産業における集積回路の集
積度の向上はめざましく、現状のメガビットオーダか
ら、将来のギガビットオーダを睨んだDRAMの研究開
発が行われている。かかるDRAMの製造のために必要
な大容量素子の製造に用いる誘電体薄膜として、誘電率
が10以下であるシリコン酸化膜やシリコン窒化膜に替
えて、誘電率が20程度である五酸化タンタル(Ta2O
5 )薄膜、あるいは誘電率が300程度であるチタン酸
バリウム(BaTiO3 )、チタン酸ストロンチウム(S
rTiO3 )又はこれらの混合物であるチタン酸バリウム
ストロンチウム等の金属酸化物薄膜材料が有望視されて
いる。
積度の向上はめざましく、現状のメガビットオーダか
ら、将来のギガビットオーダを睨んだDRAMの研究開
発が行われている。かかるDRAMの製造のために必要
な大容量素子の製造に用いる誘電体薄膜として、誘電率
が10以下であるシリコン酸化膜やシリコン窒化膜に替
えて、誘電率が20程度である五酸化タンタル(Ta2O
5 )薄膜、あるいは誘電率が300程度であるチタン酸
バリウム(BaTiO3 )、チタン酸ストロンチウム(S
rTiO3 )又はこれらの混合物であるチタン酸バリウム
ストロンチウム等の金属酸化物薄膜材料が有望視されて
いる。
【0003】ところで、このような高誘電体を気相成長
させて形成する場合、従来の薄膜と比べて成膜速度が遅
いという製造上の問題点がある。このような問題点を解
決するものとして、特開平7−58036号公報記載の
技術がある。これは、外界と雰囲気を異にする反応室
と、該反応室に配置されて薄膜を形成する基材を載架し
て回転するサセプタとを具備する薄膜形成装置におい
て、サセプタを浮上させるための磁気軸受を有する浮上
機構と、該サセプタを高速で回転するための駆動機構を
具備するものである。
させて形成する場合、従来の薄膜と比べて成膜速度が遅
いという製造上の問題点がある。このような問題点を解
決するものとして、特開平7−58036号公報記載の
技術がある。これは、外界と雰囲気を異にする反応室
と、該反応室に配置されて薄膜を形成する基材を載架し
て回転するサセプタとを具備する薄膜形成装置におい
て、サセプタを浮上させるための磁気軸受を有する浮上
機構と、該サセプタを高速で回転するための駆動機構を
具備するものである。
【0004】これによって、薄膜を形成する基材を載架
するサセプタを磁気軸受を有する浮上機構で浮上支持す
る、つまり回転体の懸架、支持に接触式の軸受を用いて
いないので、回転体の遠心強度の許容する限度内でサセ
プタの回転速度を自由に増加させることができる。ここ
では、サセプタは、中実のロータを用いた磁気軸受兼用
モータにより回転自在に支持されている。サセプタには
ヒータやチャック機構が設けられており、これに電力を
供給するためのスリップリングが設けられている。
するサセプタを磁気軸受を有する浮上機構で浮上支持す
る、つまり回転体の懸架、支持に接触式の軸受を用いて
いないので、回転体の遠心強度の許容する限度内でサセ
プタの回転速度を自由に増加させることができる。ここ
では、サセプタは、中実のロータを用いた磁気軸受兼用
モータにより回転自在に支持されている。サセプタには
ヒータやチャック機構が設けられており、これに電力を
供給するためのスリップリングが設けられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、高誘電体の
気相成長においては、材料である原料ガスの気相の温度
範囲や、反応温度が他の原料と比べて非常に狭く、かつ
その温度が高いという特徴があるので、反応室内の雰囲
気温度、基板の温度を別々にしかも厳しく制御する必要
がある。従って、そのような温度制御手段を設けるため
に反応室の構造が複雑になる傾向があり、そのため、基
板を出し入れするための搬送路や、それを通って基板を
サセプタに着脱するロボットアームなどの設計の自由度
があまり残されていない。
気相成長においては、材料である原料ガスの気相の温度
範囲や、反応温度が他の原料と比べて非常に狭く、かつ
その温度が高いという特徴があるので、反応室内の雰囲
気温度、基板の温度を別々にしかも厳しく制御する必要
がある。従って、そのような温度制御手段を設けるため
に反応室の構造が複雑になる傾向があり、そのため、基
板を出し入れするための搬送路や、それを通って基板を
サセプタに着脱するロボットアームなどの設計の自由度
があまり残されていない。
【0006】本発明は上述した事情に鑑みて為されたも
ので、高誘電体の薄膜気相成長を安定した条件下で行う
とともに、基板の出し入れが容易で成膜作業を能率良く
行うことができる薄膜気相成長装置を提供することを目
的とする。
ので、高誘電体の薄膜気相成長を安定した条件下で行う
とともに、基板の出し入れが容易で成膜作業を能率良く
行うことができる薄膜気相成長装置を提供することを目
的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、基板を外界と隔離した雰囲気内に収容する反応室
と、反応室内において基板を支持する基板支持部材と、
成膜に必要な反応ガスを基板に向けて噴射する反応ガス
供給手段と、前記反応室内の気体を外部に排出する排気
手段と、中空に形成されたロータを有する基板高速回転
手段と、基板の裏面側に設けられ、基板を押し上げるこ
とによって基板と基板支持手段の間に隙間を形成する基
板突き出し部材とを有することを特徴とする請求項1に
記載の薄膜気相成長装置である。
は、基板を外界と隔離した雰囲気内に収容する反応室
と、反応室内において基板を支持する基板支持部材と、
成膜に必要な反応ガスを基板に向けて噴射する反応ガス
供給手段と、前記反応室内の気体を外部に排出する排気
手段と、中空に形成されたロータを有する基板高速回転
手段と、基板の裏面側に設けられ、基板を押し上げるこ
とによって基板と基板支持手段の間に隙間を形成する基
板突き出し部材とを有することを特徴とする請求項1に
記載の薄膜気相成長装置である。
【0008】請求項2に記載の発明は、前記基板突き出
し部材が前記ロータの中空部を挿通する連結部材に支持
され、前記中空部の外端側には、この連結部材を昇降さ
せる昇降駆動機構が設けられていることを特徴とする請
求項1に記載の薄膜気相成長装置である。請求項3に記
載の発明は、上記基板の裏面側位置に、該基板を加熱す
るヒータが取り付けられていることを特徴とする請求項
1又は2に記載の薄膜気相成長装置である。
し部材が前記ロータの中空部を挿通する連結部材に支持
され、前記中空部の外端側には、この連結部材を昇降さ
せる昇降駆動機構が設けられていることを特徴とする請
求項1に記載の薄膜気相成長装置である。請求項3に記
載の発明は、上記基板の裏面側位置に、該基板を加熱す
るヒータが取り付けられていることを特徴とする請求項
1又は2に記載の薄膜気相成長装置である。
【0009】請求項4に記載の発明は、前記ヒータが前
記突き出し部材と一体に昇降するようになっていること
を特徴とする請求項3に記載の薄膜気相成長装置であ
る。請求項5に記載の発明は、前記昇降駆動機構が、送
りねじ機構を用いる機構であることを特徴とする請求項
1ないし4のいずれかに記載の薄膜気相成長装置であ
る。請求項6に記載の発明は、前記昇降駆動機構に、前
記連結部材の上下動に伴い伸縮して該連結部材を覆い、
上記反応室に通じる空間を外気と遮蔽する被覆部材が設
けられていることを特徴とする請求項1ないし5のいず
れかに記載の薄膜気相成長装置である。
記突き出し部材と一体に昇降するようになっていること
を特徴とする請求項3に記載の薄膜気相成長装置であ
る。請求項5に記載の発明は、前記昇降駆動機構が、送
りねじ機構を用いる機構であることを特徴とする請求項
1ないし4のいずれかに記載の薄膜気相成長装置であ
る。請求項6に記載の発明は、前記昇降駆動機構に、前
記連結部材の上下動に伴い伸縮して該連結部材を覆い、
上記反応室に通じる空間を外気と遮蔽する被覆部材が設
けられていることを特徴とする請求項1ないし5のいず
れかに記載の薄膜気相成長装置である。
【0010】
【作用】請求項1に記載の発明においては、外界と隔離
した雰囲気を持つ反応室内において、基板支持部材によ
り基板が支持され、中空に形成されたロータを有する基
板高速回転手段により高速回転させられた状態で、反応
ガス供給手段により反応ガスが基板に向けて噴射され、
成膜が行われる。反応の副生成物のガスは排気手段によ
り排気される。反応の終了後、基板突き出し部材が基板
を裏側から押し上げ、基板と基板支持手段の間に隙間を
形成し、この隙間に例えばロボットアームの先端が挿入
され、基板が持ち上げられて搬出される。なお、新たな
基板を挿入する際に、ロボットアームが基板を把持した
状態でサセプタ上の所定位置まで進入し、そこで突き出
し部材を上昇させて基板を突き出し部材に移送し、降下
させてサセプタ上に載せるようにしてもよい。
した雰囲気を持つ反応室内において、基板支持部材によ
り基板が支持され、中空に形成されたロータを有する基
板高速回転手段により高速回転させられた状態で、反応
ガス供給手段により反応ガスが基板に向けて噴射され、
成膜が行われる。反応の副生成物のガスは排気手段によ
り排気される。反応の終了後、基板突き出し部材が基板
を裏側から押し上げ、基板と基板支持手段の間に隙間を
形成し、この隙間に例えばロボットアームの先端が挿入
され、基板が持ち上げられて搬出される。なお、新たな
基板を挿入する際に、ロボットアームが基板を把持した
状態でサセプタ上の所定位置まで進入し、そこで突き出
し部材を上昇させて基板を突き出し部材に移送し、降下
させてサセプタ上に載せるようにしてもよい。
【0011】請求項2に記載の発明においては、突き出
し部材が中空部を通して外部の昇降駆動装置に接続さ
れ、駆動される。請求項3に記載の発明においては、基
板の裏面側位置に設置したヒータが基板を加熱し、基板
を直接的に加熱する。ヒータは基板の裏側にあるので、
基板の表面で起きる反応の影響を受けにくい。
し部材が中空部を通して外部の昇降駆動装置に接続さ
れ、駆動される。請求項3に記載の発明においては、基
板の裏面側位置に設置したヒータが基板を加熱し、基板
を直接的に加熱する。ヒータは基板の裏側にあるので、
基板の表面で起きる反応の影響を受けにくい。
【0012】請求項4に記載の発明においては、前記ヒ
ータが突き出し部材と一体に昇降するように設けられて
いるので、構造が省略でき、機構が簡単となる。請求項
5に記載の発明においては、昇降駆動機構において送り
ねじ機構が用いられており、比較的小さい駆動源で円滑
かつ確実な昇降が行われる。なお、送りねじの間にボー
ルを介在させたボールねじを用いてもよい。請求項6に
記載の発明においては、被覆部材が連結部材の上下動に
伴い伸縮して連結部材を覆い、上記反応室に通じる空間
を外気と遮蔽する。いわゆるベローズ及びそれと同効の
ものが用いられる。
ータが突き出し部材と一体に昇降するように設けられて
いるので、構造が省略でき、機構が簡単となる。請求項
5に記載の発明においては、昇降駆動機構において送り
ねじ機構が用いられており、比較的小さい駆動源で円滑
かつ確実な昇降が行われる。なお、送りねじの間にボー
ルを介在させたボールねじを用いてもよい。請求項6に
記載の発明においては、被覆部材が連結部材の上下動に
伴い伸縮して連結部材を覆い、上記反応室に通じる空間
を外気と遮蔽する。いわゆるベローズ及びそれと同効の
ものが用いられる。
【0013】
【実施例】図1及び図2は、本発明の薄膜気相成長装置
Aを示す。この薄膜気相成長装置Aにおいては、釜状の
容器1と支持台2で囲まれて反応室3が構成されてい
る。反応室3は気密に構成され、生成ガスを排気する排
気口4が設けられ、また、容器1の壁には熱媒体流路5
が形成されて、これに加熱流体や冷却流体が流され、容
器壁や反応室3内を所定温度に保つようにしている。そ
して、これらの熱媒体流路5には、所定位置に熱電対や
流量調整弁が設けられており、これらは制御手段(図示
略)に接続されて駆動制御され、容器1の内部の温度が
設定値になるように自動制御されるようになっている。
Aを示す。この薄膜気相成長装置Aにおいては、釜状の
容器1と支持台2で囲まれて反応室3が構成されてい
る。反応室3は気密に構成され、生成ガスを排気する排
気口4が設けられ、また、容器1の壁には熱媒体流路5
が形成されて、これに加熱流体や冷却流体が流され、容
器壁や反応室3内を所定温度に保つようにしている。そ
して、これらの熱媒体流路5には、所定位置に熱電対や
流量調整弁が設けられており、これらは制御手段(図示
略)に接続されて駆動制御され、容器1の内部の温度が
設定値になるように自動制御されるようになっている。
【0014】容器1の頂部には、原料ガスと酸化ガスを
混合して反応室3内に噴射する反応ガス噴射ヘッド6が
装着されている。支持台2の中央開口部には、やはり熱
媒体流路5を有する筒状部7が上方に突出して設けら
れ、この中に基板Sを支持するサセプタ(基板支持部
材)8が設けられている。このサセプタ8は、基板と熱
伝導率の差が小さい素材から構成され、基板の縁部を収
容する段差が内側に形成された中空円板状部材であり、
支持台2の下側に設置した磁気軸受兼用モータ9によっ
て回転自在に支持されている。
混合して反応室3内に噴射する反応ガス噴射ヘッド6が
装着されている。支持台2の中央開口部には、やはり熱
媒体流路5を有する筒状部7が上方に突出して設けら
れ、この中に基板Sを支持するサセプタ(基板支持部
材)8が設けられている。このサセプタ8は、基板と熱
伝導率の差が小さい素材から構成され、基板の縁部を収
容する段差が内側に形成された中空円板状部材であり、
支持台2の下側に設置した磁気軸受兼用モータ9によっ
て回転自在に支持されている。
【0015】この磁気軸受兼用モータ9は、支持台2の
下側に設置した筒状のケーシング10に組み込まれてお
り、中央の中空軸状のロータ11と、ケーシング10内
側に組み込まれたステータ12とから構成されている。
ロータ11には、磁性材料からなるディスクDが外方に
突出して形成され、ステータ12には上記ディスクDに
対応する位置に制御コイルCが設置され、これには制御
装置20から制御電流が供給されるようになっている。
磁気軸受兼用モータ9は、上側から順に、上ラジアル磁
気軸受13、モータ14、下ラジアル磁気軸受15、ア
キシャル磁気軸受16が構成されており、所定箇所に隙
間の寸法や傾斜角度を検出するセンサが設けられ、最下
端には回転を検出するエンコーダ17が設けられ、これ
らの出力は制御装置20に入力されている。ロータ11
は、支持台2の開口部を貫通して反応室3内に突出し、
その上部には底板18と筒状側壁19からなるサセプタ
支持部材21が設けられている。
下側に設置した筒状のケーシング10に組み込まれてお
り、中央の中空軸状のロータ11と、ケーシング10内
側に組み込まれたステータ12とから構成されている。
ロータ11には、磁性材料からなるディスクDが外方に
突出して形成され、ステータ12には上記ディスクDに
対応する位置に制御コイルCが設置され、これには制御
装置20から制御電流が供給されるようになっている。
磁気軸受兼用モータ9は、上側から順に、上ラジアル磁
気軸受13、モータ14、下ラジアル磁気軸受15、ア
キシャル磁気軸受16が構成されており、所定箇所に隙
間の寸法や傾斜角度を検出するセンサが設けられ、最下
端には回転を検出するエンコーダ17が設けられ、これ
らの出力は制御装置20に入力されている。ロータ11
は、支持台2の開口部を貫通して反応室3内に突出し、
その上部には底板18と筒状側壁19からなるサセプタ
支持部材21が設けられている。
【0016】ケーシング10の底板22の下側には、こ
れと間隔を置いてねじ固定板23が設けられ、このねじ
固定板23と底板22の間には複数本のねじ部材24が
軸受25により回転自在に支持されている。そして、底
板22とネジ固定板23の間には、それぞれのねじ部材
24と螺合するナット26を有する可動板27が設けら
れている。ねじ部材24とナットの間にはボールが介在
していわゆるボールねじとなっており、摩擦や遊びを軽
減させている。底板22の下側には駆動モータ28が設
けられており、その出力軸29は動力伝達機構30を介
してねじ部材24の一つに連結されており、駆動モータ
28の作動により可動板27が上下動するようになって
いる。
れと間隔を置いてねじ固定板23が設けられ、このねじ
固定板23と底板22の間には複数本のねじ部材24が
軸受25により回転自在に支持されている。そして、底
板22とネジ固定板23の間には、それぞれのねじ部材
24と螺合するナット26を有する可動板27が設けら
れている。ねじ部材24とナットの間にはボールが介在
していわゆるボールねじとなっており、摩擦や遊びを軽
減させている。底板22の下側には駆動モータ28が設
けられており、その出力軸29は動力伝達機構30を介
してねじ部材24の一つに連結されており、駆動モータ
28の作動により可動板27が上下動するようになって
いる。
【0017】この可動板27には、底板22の開口部と
ロータ11の中空部を貫通して上記サセプタ支持部材2
1の内側に突出する支柱29が立設されている。この支
柱29の頂部には、基板Sの裏面側にヒータ30を支持
するヒータ支持部材31が設けられ、また、温度計測用
の熱電対32が設置され、ヒータ30と熱電対32は支
柱29の内部を通る電線によって基板温度調整器33に
接続されている。このヒータ支持部材31には、上方に
向けて4つの突き出しピン34が形成されている。な
お、可動板27と底板22の間の部分には、支柱29を
覆うようにベローズ35が設けられており、ケーシング
10内の空間を外気と遮蔽している。
ロータ11の中空部を貫通して上記サセプタ支持部材2
1の内側に突出する支柱29が立設されている。この支
柱29の頂部には、基板Sの裏面側にヒータ30を支持
するヒータ支持部材31が設けられ、また、温度計測用
の熱電対32が設置され、ヒータ30と熱電対32は支
柱29の内部を通る電線によって基板温度調整器33に
接続されている。このヒータ支持部材31には、上方に
向けて4つの突き出しピン34が形成されている。な
お、可動板27と底板22の間の部分には、支柱29を
覆うようにベローズ35が設けられており、ケーシング
10内の空間を外気と遮蔽している。
【0018】また、反応室3の所定位置には、図2に模
式的に示すように、ゲートバルブ36を介してロボット
チャンバ37が設けられ、さらにこれにはゲートバルブ
38を介して第2チャンバ39が設けられている。ロボ
ットチャンバ37には基板搬送用ロボット40が設けら
れており、これは例えば、ロボットチャンバ37内にお
いて走行自在、あるいは旋回自在とされ、基板を把持す
るアームを備えている。
式的に示すように、ゲートバルブ36を介してロボット
チャンバ37が設けられ、さらにこれにはゲートバルブ
38を介して第2チャンバ39が設けられている。ロボ
ットチャンバ37には基板搬送用ロボット40が設けら
れており、これは例えば、ロボットチャンバ37内にお
いて走行自在、あるいは旋回自在とされ、基板を把持す
るアームを備えている。
【0019】次に、上記のように構成された本発明の薄
膜気相成長装置の作用を説明する。熱電対32により計
測された基板S又はヒータ30の温度に基づいて、温度
調整器33により、基板温度が、例えば550゜Cでプ
ラスマイナス1%程度に制御されている。ヒータ30
は、基板Sを裏面から輻射によって加熱する。また、反
応ガスの温度を制御するために、熱媒体流路5に流れる
熱媒体の温度と流量が調整される。これにより、例え
ば、反応容器1内壁の温度が250〜260゜Cでプラ
スマイナス2%程度に制御される。
膜気相成長装置の作用を説明する。熱電対32により計
測された基板S又はヒータ30の温度に基づいて、温度
調整器33により、基板温度が、例えば550゜Cでプ
ラスマイナス1%程度に制御されている。ヒータ30
は、基板Sを裏面から輻射によって加熱する。また、反
応ガスの温度を制御するために、熱媒体流路5に流れる
熱媒体の温度と流量が調整される。これにより、例え
ば、反応容器1内壁の温度が250〜260゜Cでプラ
スマイナス2%程度に制御される。
【0020】基板高速回転装置、つまり磁気軸受兼用モ
ータ9を駆動することにより、基板Sがサセプタ8とと
もに高速回転する。ここにおいて、センサの検出信号に
基づき、制御装置20より、磁気軸受やモータに制御信
号が発せられ、サセプタ8の回転数や姿勢が制御され
る。この実施例では、高速回転装置のロータ11が中空
軸として形成されているので、強度を維持しつつ軽量と
なっており、また振動の固有値も小さいので、軸の安定
な制御が容易である。
ータ9を駆動することにより、基板Sがサセプタ8とと
もに高速回転する。ここにおいて、センサの検出信号に
基づき、制御装置20より、磁気軸受やモータに制御信
号が発せられ、サセプタ8の回転数や姿勢が制御され
る。この実施例では、高速回転装置のロータ11が中空
軸として形成されているので、強度を維持しつつ軽量と
なっており、また振動の固有値も小さいので、軸の安定
な制御が容易である。
【0021】このようにして、反応室3と基板Sの温度
をそれぞれ個別に制御し、基板Sを円滑に高速回転させ
た状態で成膜処理が行われる。金属原料ガス及びオゾン
(O3 )等の酸素含有ガスは、ガス導入管41から導入
され、反応ガス噴射ヘッド6の内部の空間で混合され、
ノズルから反応室3内に噴射される。反応室3内で、金
属原料ガスと酸素含有ガスとが反応して、チタン酸バリ
ウムあるいはチタン酸ストロンチウム等の金属酸化物分
子が形成され、半導体等の基板S上に金属酸化物薄膜が
成長して堆積する。反応が終了したガスや余剰ガスは、
生成ガス排気口4を介して反応室から排出される。
をそれぞれ個別に制御し、基板Sを円滑に高速回転させ
た状態で成膜処理が行われる。金属原料ガス及びオゾン
(O3 )等の酸素含有ガスは、ガス導入管41から導入
され、反応ガス噴射ヘッド6の内部の空間で混合され、
ノズルから反応室3内に噴射される。反応室3内で、金
属原料ガスと酸素含有ガスとが反応して、チタン酸バリ
ウムあるいはチタン酸ストロンチウム等の金属酸化物分
子が形成され、半導体等の基板S上に金属酸化物薄膜が
成長して堆積する。反応が終了したガスや余剰ガスは、
生成ガス排気口4を介して反応室から排出される。
【0022】1つの基板の処理が終了すると、駆動モー
タ28が作動して可動板27及びヒータ支持部材31を
上昇させる。これに伴い、突き出しピン34が上昇し
て、基板Sをサセプタ8との間に隙間ができるまで持ち
上げる。次に、ゲートバルブ36が開となって、搬送ロ
ボット40のアームがサセプタ8と基板Sの間の隙間に
進入し、そこで、再度駆動モータ28が作動して可動板
27を下降させると、基板Sはアームの上に残る。そし
て搬送ロボット40がロボットチャンバ37に後退し、
ゲートバルブ36が閉じられる。この工程が第2のチャ
ンバ39との間で行われて、基板Sが外部に排出され、
新たな基板Sに対してこの一連の工程が逆に行われて基
板Sが反応室3内のサセプタ8に載せられる。
タ28が作動して可動板27及びヒータ支持部材31を
上昇させる。これに伴い、突き出しピン34が上昇し
て、基板Sをサセプタ8との間に隙間ができるまで持ち
上げる。次に、ゲートバルブ36が開となって、搬送ロ
ボット40のアームがサセプタ8と基板Sの間の隙間に
進入し、そこで、再度駆動モータ28が作動して可動板
27を下降させると、基板Sはアームの上に残る。そし
て搬送ロボット40がロボットチャンバ37に後退し、
ゲートバルブ36が閉じられる。この工程が第2のチャ
ンバ39との間で行われて、基板Sが外部に排出され、
新たな基板Sに対してこの一連の工程が逆に行われて基
板Sが反応室3内のサセプタ8に載せられる。
【0023】図3及び図4は、この発明の他の実施例を
示すもので、突き出しピン42がヒータ30とは別体に
昇降するようになっている。すなわち、ケーシング10
の底部には固定板43が取り付けられ、これにロータ1
1の中空部を挿通する支柱44が立設され、これの上端
にヒータ支持部材31が設けられている。ケーシング1
0の底板22の下側には、先の実施例と同様に送りねじ
機構を介して可動板27が上下動可能に設けられ、この
可動板27には、筒状の連結部材45が取り付けられて
いる。この連結部材45は、支柱44の外側にこれを囲
むように配置され、その先端には4本の屈曲する突き出
しピン42が取り付けられている。この連結部材45と
上記固定板43が交差する部分では、それぞれの一部が
切り欠かれており、その切欠部を互いに挿通して干渉を
排除している。
示すもので、突き出しピン42がヒータ30とは別体に
昇降するようになっている。すなわち、ケーシング10
の底部には固定板43が取り付けられ、これにロータ1
1の中空部を挿通する支柱44が立設され、これの上端
にヒータ支持部材31が設けられている。ケーシング1
0の底板22の下側には、先の実施例と同様に送りねじ
機構を介して可動板27が上下動可能に設けられ、この
可動板27には、筒状の連結部材45が取り付けられて
いる。この連結部材45は、支柱44の外側にこれを囲
むように配置され、その先端には4本の屈曲する突き出
しピン42が取り付けられている。この連結部材45と
上記固定板43が交差する部分では、それぞれの一部が
切り欠かれており、その切欠部を互いに挿通して干渉を
排除している。
【0024】このように構成された第2の実施例の薄膜
気相成長装置において、基板Sが持ち上げられる工程
は、第1の実施例の場合と同様である。この実施例にお
いては、ヒータ30が上昇することなく、突き出しピン
42だけが上昇する。成膜処理が終了すればヒータ30
の電源は切られるが、ヒータ30自体の温度は急には下
がらないので、第1の実施例の場合には搬送ロボット4
0のアーム40aがヒータ30からの加熱を受ける。し
かし、この実施例では、ヒータ30は下がったままなの
で、アーム40aが加熱を受けることがない。
気相成長装置において、基板Sが持ち上げられる工程
は、第1の実施例の場合と同様である。この実施例にお
いては、ヒータ30が上昇することなく、突き出しピン
42だけが上昇する。成膜処理が終了すればヒータ30
の電源は切られるが、ヒータ30自体の温度は急には下
がらないので、第1の実施例の場合には搬送ロボット4
0のアーム40aがヒータ30からの加熱を受ける。し
かし、この実施例では、ヒータ30は下がったままなの
で、アーム40aが加熱を受けることがない。
【0025】
【発明の効果】請求項1に記載の発明においては、基板
突き出し部材が基板を裏側から押し上げ、基板と基板支
持手段の間に隙間を形成するので、搬送路が狭かった
り、ロボットアームの動作が不自由である場合にも、基
板の出し入れが容易となり、作業能率の向上が図れる。
請求項2に記載の発明においては、突き出し部材を高速
回転装置の一部である中空部を通して形成でき、簡単な
構造で突き出し部材を設置することができる。請求項3
に記載の発明においては、ヒータが基板の裏側にあり、
基板の表面で起きる反応の影響を受けにくく、耐用性が
高い。
突き出し部材が基板を裏側から押し上げ、基板と基板支
持手段の間に隙間を形成するので、搬送路が狭かった
り、ロボットアームの動作が不自由である場合にも、基
板の出し入れが容易となり、作業能率の向上が図れる。
請求項2に記載の発明においては、突き出し部材を高速
回転装置の一部である中空部を通して形成でき、簡単な
構造で突き出し部材を設置することができる。請求項3
に記載の発明においては、ヒータが基板の裏側にあり、
基板の表面で起きる反応の影響を受けにくく、耐用性が
高い。
【0026】請求項4に記載の発明においては、ヒータ
が突き出し部材と一体に昇降するように設けられている
ので、機構が簡単となり、設備コストを低減できる。請
求項5に記載の発明においては、昇降駆動機構において
送りねじ機構が用いられており、比較的小さい駆動源で
円滑かつ確実な昇降が行われる。請求項6に記載の発明
においては、被覆部材によって反応室に影響を与えずに
突き出し部材を外部から遠隔駆動することができ、装置
の実用性を高めることができる。
が突き出し部材と一体に昇降するように設けられている
ので、機構が簡単となり、設備コストを低減できる。請
求項5に記載の発明においては、昇降駆動機構において
送りねじ機構が用いられており、比較的小さい駆動源で
円滑かつ確実な昇降が行われる。請求項6に記載の発明
においては、被覆部材によって反応室に影響を与えずに
突き出し部材を外部から遠隔駆動することができ、装置
の実用性を高めることができる。
【図1】この発明の第1実施例の薄膜気相成長装置の実
体的構成を示す断面図である。
体的構成を示す断面図である。
【図2】図1の実施例の薄膜気相成長装置の概略構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図3】この発明の第2実施例の薄膜気相成長装置の実
体的構成を示す断面図である。
体的構成を示す断面図である。
【図4】図3の実施例の薄膜気相成長装置の要部を拡大
して示す図面である。
して示す図面である。
1 反応容器 3 反応室 4 排気口 6 反応ガス噴射ヘッド(反応ガス供給手段) 8 サセプタ(基板支持部材) 9 磁気軸受兼用モータ(基板高速回転手段) 11 ロータ 26 ねじ部材 27 可動板 28 駆動モータ 30 ヒータ 34,42 突き出し部材 35 ベローズ(被覆部材) 45 連結部材 S 基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 塚本 究 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内
Claims (6)
- 【請求項1】 基板を外界と隔離した雰囲気内に収容す
る反応室と、 反応室内において基板を支持する基板支持部材と、 成膜に必要な反応ガスを基板に向けて噴射する反応ガス
供給手段と、 前記反応室内の気体を外部に排出する排気手段と、 中空に形成されたロータを有する基板高速回転手段と、 基板の裏面側に設けられ、基板を押し上げて基板と基板
支持手段の間に隙間を形成する基板突き出し部材とを有
することを特徴とする請求項1に記載の薄膜気相成長装
置。 - 【請求項2】 前記基板突き出し部材は前記ロータの中
空部を挿通する連結部材に支持され、前記中空部の外端
側には、この連結部材を昇降させる昇降駆動機構が設け
られていることを特徴とする請求項1に記載の薄膜気相
成長装置。 - 【請求項3】 上記基板の裏面側位置に、該基板を加熱
するヒータが取り付けられていることを特徴とする請求
項1又は2に記載の薄膜気相成長装置。 - 【請求項4】 前記ヒータは、前記突き出し部材と一体
に昇降するようになっていることを特徴とする請求項3
に記載の薄膜気相成長装置。 - 【請求項5】 前記昇降駆動機構は、送りねじ機構を用
いる機構であることを特徴とする請求項1ないし4のい
ずれかに記載の薄膜気相成長装置。 - 【請求項6】 前記駆動機構には、前記連結部材の上下
動に伴い伸縮して該連結部材を覆い、上記反応室に通じ
る空間を外気と遮蔽する被覆部材が設けられていること
を特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の薄膜
気相成長装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17433895A JPH093649A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 薄膜気相成長装置 |
TW085107107A TW331652B (en) | 1995-06-16 | 1996-06-13 | Thin film vapor deposition apparatus |
DE69611952T DE69611952T2 (de) | 1995-06-16 | 1996-06-14 | Vorrichtung zur Gasphasenabscheidung dünner Schichten |
EP96109620A EP0748881B1 (en) | 1995-06-16 | 1996-06-14 | Thin-film vapor deposition apparatus |
KR1019960021382A KR100427427B1 (ko) | 1995-06-16 | 1996-06-14 | 박막기상증착장치 |
US08/664,544 US6022413A (en) | 1995-06-16 | 1996-06-17 | Thin-film vapor deposition apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17433895A JPH093649A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 薄膜気相成長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH093649A true JPH093649A (ja) | 1997-01-07 |
Family
ID=15976898
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17433895A Pending JPH093649A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 薄膜気相成長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH093649A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6464825B1 (en) | 1999-06-15 | 2002-10-15 | Ebara Corporation | Substrate processing apparatus including a magnetically levitated and rotated substrate holder |
CN113957416A (zh) * | 2021-10-22 | 2022-01-21 | 仲恺农业工程学院 | 一种半导体结型ZnO薄膜沉积设备 |
-
1995
- 1995-06-16 JP JP17433895A patent/JPH093649A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6464825B1 (en) | 1999-06-15 | 2002-10-15 | Ebara Corporation | Substrate processing apparatus including a magnetically levitated and rotated substrate holder |
CN113957416A (zh) * | 2021-10-22 | 2022-01-21 | 仲恺农业工程学院 | 一种半导体结型ZnO薄膜沉积设备 |
CN113957416B (zh) * | 2021-10-22 | 2024-01-23 | 仲恺农业工程学院 | 一种半导体结型ZnO薄膜沉积设备 |
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