JPH0936480A - 連続波長可変半導体レーザ - Google Patents

連続波長可変半導体レーザ

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JPH0936480A
JPH0936480A JP18544595A JP18544595A JPH0936480A JP H0936480 A JPH0936480 A JP H0936480A JP 18544595 A JP18544595 A JP 18544595A JP 18544595 A JP18544595 A JP 18544595A JP H0936480 A JPH0936480 A JP H0936480A
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electrode
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Hiromasa Tanobe
博正 田野辺
Hiroyuki Ishii
啓之 石井
Yuzo Yoshikuni
裕三 吉國
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 一つの電極への注入電流制御により連続的に
4〜7nm程度発振波長を変化させることができ、なお
かつ活性導波路層、および非活性導波路層への電流注入
も効率良く行える連続波長可変半導体レーザを提供す
る。 【解決手段】 光の増幅作用を有する活性導波路、屈折
率を変化させることにより光の位相を調節する非活性導
波路及び分布反射導波路が光の進行方向に直列に接続さ
れた分布反射型半導体レーザにおいて、上記分布反射領
域に第1の櫛形電極12−1と第2の櫛形電極12−2
が対向するように形成され、上記第1の櫛形電極の歯の
長さL1 と該第2の櫛形電極の歯の長さL2 の比
(L1 :L2 )が、上記活性導波路の導波路領域の長さ
a と上記非活性導波路の導波路領域の長さLp との比
(La :Lp )に等しい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信における光
波長(周波数)多重システム用光源、及び広帯域波長帯
をカバーする光計測用光源として重要な波長可変半導体
レーザに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、通信情報量の増大に対して、
光波長(周波数)多重通信システムの研究が盛んに行わ
れているが、送信用光源および同期検波用可同調光源と
して広範囲な波長調整機能が要求されている。また、広
域波長帯をカバーする波長可変光源は、光計測の分野に
おいても重要である。
【0003】これまでに、種々の波長可変光源が研究さ
れてきたが、電気的制御により連続的に発振波長を変化
させることができる半導体レーザとしては、分布反射型
レーザ(DBRレーザ)や二重導波路レーザ(TTGレ
ーザ)などが研究されており、連続波長可変幅としてD
BRレーザでは4.4nm、TTGレーザでは7nmと
いう値が報告されている。
【0004】図19及び図20にTTGレーザの一例を
示す。ここで、図19は光軸に平行に切断した断面図
を、また、図20は光軸に垂直に切断した断面図を示
す。これらの図面において、符号01は活性層駆動電
極、02は波長制御電極、03は共通電極、04は活性
導波路層、05は非活性導波路層、06は回折格子、0
7はp型光閉じ込め層、08はn型スペーサ層、09は
p型光閉じ込め層、010はp型コンタクト層、011
はn型埋込み層である。
【0005】図21〜図23にDBRレーザの一例を示
す。ここで、図21は上部から見た平面図、図22は図
21中XXII-XXII 矢視断面図を、また、図24は図21
中XXIII-XXIII 矢視断面図を示す。これらの図面ににお
いて、符号021は活性層駆動電極、022は波長制御
電極、023は位相制御電極、024はp型コンタクト
層、025はp型光閉じ込め層、026は活性導波路
層、027は非活性導波路層、028は回折格子、02
9はn型光閉じ込め層、030はn側共通電極、031
はn型電流阻止層、032はp型電流阻止層である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
技術においては次のような問題があった。図19及び図
20に示すTTGレーザでは、光の増幅作用を行う活性
導波路層04に電流注入してレーザ発振動作を生じさ
せ、該活性導波路層04のすぐ近くに形成される波長制
御用非活性導波路層05に独立に電流注入することによ
り、発振波長を変化させる。ここで、回折格子の周期を
Λ、導波路の等価屈折率をnとすれば、ブラッグ波長λ
b は、
【数1】 λb =2nΛ (1) と表される。
【0007】レーザはこのブラッグ波長近傍の1つの共
振縦モードで発振動作する。非活性導波路層に電流注入
を行うと、導波路の等価屈折率が変化し、式(1)よ
り、ブラッグ波長もそれに比例して変化する。ここで、
ブラッグ波長の変化の割合Δλb /λb は、
【数2】 となり、等価屈折率の変化の割合Δn/nと等しくな
る。また、電流注入による等価屈折率の変化にともな
い、共振縦モード波長も変化する。
【0008】TTGレーザの場合、共振器全体の等価屈
折率が一様に変化するので、共振縦モード波長の変化の
割合Δλr /λr は等価屈折率の変化の割合Δn/nに
等しくなる。すなわち、
【数3】 となる。
【0009】上記式(2)、式(3)より、TTGレー
ザでは、ブラッグ波長の変化と共振縦モードの変化が等
しくなるので、最初に発振したモードが保たれたまま連
続的に発振波長が変化するという大きな特長を有する。
【0010】しかしながら、単一横モード発振動作をさ
せるためには二重導波路の幅は1〜2μmにする必要が
あり、さらに活性層と波長制御層との間に形成されるn
型スペーサ層の厚さを1μm以下まで薄くする必要があ
るため、通常の半導体レーザで用いられている埋め込み
構造にすることができず、それぞれの導波路層に効率良
く電流を注入するための構造にすることが、製作上非常
に困難であるという問題があった。
【0011】それに対して図21〜図23に示すDBR
レーザでは、光の増幅作用を行う活性導波路層026と
非活性導波路層027とが直列に接続されている構造な
ので、通常の半導体レーザと同様に電流狭窄を行うため
の埋め込みストライプ構造を用いることができ、さらに
各々の導波路層に独立に電流注入を行うことは、各々の
導波路層の上方に形成される電極を分離することにより
容易に実現される。
【0012】上記非活性導波路層027への電流注入に
より、等価屈折率を変えてブラッグ波長を変化させる機
構はTTGレーザと同様であるが、等価屈折率の変化す
る領域が共振器の一部に限られているために、ブラッグ
波長の変化量と共振縦モード波長の変化量とは一致しな
【0013】共振縦モード波長の変化の割合Δλr /λ
r は、全共振器長Lt に対する分布反射器の実効長Le
の割合分だけ等価屈折率の変化の割合Δn/nよりも少
なくなり、
【数4】 となる。
【0014】したがって、式(2)、式(4)より、D
BRレーザでは波長制御電流を注入するにつれてブラッ
グ波長と共振縦モード波長とが相対的に離れていくた
め、モード跳びを生じてしまうという欠点を持ってい
た。モード跳びを生じさせないためには、回折格子が形
成されていない位相調整領域を設けて、そこへの電流注
入により共振縦モードの変化量とブラッグ波長の変化量
とを一致させる必要がある。しかし、この方法では位相
調整領域と回折格子上の2電極への波長制御電流を制御
するための外部回路が必要になり、装置構成、および制
御が複雑になるという問題があった。
【0015】本発明の目的は、上記問題を解決し、一つ
の電極への注入電流制御により連続的に4〜7nm程度
発振波長を変化させることができ、なおかつ活性導波路
層、および非活性導波路層への電流注入も効率良く行え
る連続波長可変半導体レーザを得ることである。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の連続波長可変半
導体レーザの第1の構成は、光の増幅作用を有する活性
導波路、屈折率を変化させることにより光の位相を調節
する非活性導波路及び分布反射導波路が光の進行方向に
直列に接続された分布反射型半導体レーザにおいて、上
記分布反射領域に第1の櫛形電極と第2の櫛形電極が対
向するように形成され、上記第1の櫛形電極の歯の長さ
と該第2の櫛形電極の歯の長さの比が、上記活性導波路
の導波路領域の長さと上記非活性導波路の導波路領域の
長さとの比に等しいことを特徴とする。
【0017】上記第1の発明において、上記第2の櫛形
電極の下方に形成された回折格子の周期が、上記第1の
櫛形電極の下方に形成された回析格子の周期より長いこ
とを特徴とする。
【0018】本発明の第2の構成は、光の増幅作用を有
する活性導波路、屈折率を変化させることにより光の位
相を調節する非活性導波路及び分布反射導波路が光の進
行方向に直列に接続された分布反射型半導体レーザにお
いて、上記分布反射領域に第1の電極と第2の電極が光
の進行方向に対して直列に配置され、該第1の電極の長
さと該第2の電極の長さの比が、上記活性導波路の活性
領域の長さと上記非活性導波路の活性領域の長さの比に
等しいことを特徴とする。
【0019】また、上記第1乃至第2の半導体レーザに
おいて、上記第2の櫛形電極が上記非活性導波路の導波
領域に形成された電極に電気的に接続されていることを
特徴とする。
【0020】
【発明の実施の形態】図1〜図3に本発明の第1の発明
による半導体レーザの一例を示す。図1は上部から見た
平面図、図2は図1中II-II 矢視断面図を、また、図3
は図1中III-III 矢視断面図を示す。本発明の第1の発
明による半導体レーザは、これらの図面に示すように、
分布反射導波路領域上に、2つの独立な櫛形の位置制御
電極(以下、「櫛形電極」という)12−1,12−2
が形成され、それぞれの櫛形電極12−1,12−2の
導波路方向に対する長さの比(L1 :L2 )が、活性導
波路領域の長さLa と非活性導波路領域の長さLp との
比(La :Lp )に等しくなる様に形成されている。そ
して、上記櫛形電極の一方の電極12−2と非活性導波
層16の上方に設けられた非活性導波領域の電極12と
が外部において短絡されるように設計されている。この
半導体レーザは、レーザ発振時において、非活性導波路
と、分布反射導波路に波長掃引のために電流が注入され
る。ただし、上記両者の電極12と上記櫛形電極の一方
の電極12−2とは上方において短絡されているため
に、お互いに電流密度が等しい条件が自動的に与えられ
る。従って、波長掃引のために電流注入されている領域
の等価屈折率変化量は非活性導波路領域、長さL2 の櫛
形電極のすべての領域でΔn/nとなるので、共振縦モ
ード波長の変化の割合Δλr /λr は、実効共振器長L
a +Lp +m・L1+m・L2 、電流注入領域長がLp
+m・L2 であるから、
【数5】 となる。ただし、mは櫛形に分割された分布反射導波路
上の電極数であり、整数である。
【0021】一方、分布反射鏡反射率のピークであるブ
ラッグ波長も電流注入による等価屈折率の変化の結果、
短波長側にシフトするが変化する。このときの変化の割
合Δλb /λb は、分布反射鏡領域長がm・L1 +m・
2 、分布反射鏡領域での電流注入領域長がm・L2
あるから、
【数6】 となる。
【0022】連続波長掃引する為には、電流注入時にお
いて、共振縦モード波長の変化の割合Δλr /λr とブ
ラッグ波長の変化の割合Δλb /λb が一致しなければ
ならない。つまり、以下の条件が必要となる。
【数7】 従って、式(5),(6)より、以下の式が得られる。
【数8】 この式(8)を整理すると、次の式が得られる。
【数9】
【0023】したがって、本発明による半導体レーザの
連続波長掃引には、櫛形電極の導波路方向に対する長さ
の比(L1 :L2 )が、前記活性導波領域の長さLa
前記非活性導波領域の長さLp との比(La :Lp )に
等しくなる様に形成されることで、重要となる。
【0024】この様に、本発明による半導体レーザで
は、まず始めに、波長掃引のための電流注入による屈折
率変化を各領域において等しいように櫛形電極の一方で
ある、たとえばL2 の長さの電極12−2と非活性導波
領域の電極12が上方において短絡し、次に櫛形電極1
2−1,12−2の長さの比(L1 :L2 )が、前記活
性導波領域の長さLa と前記非活性導波領域の長さLp
との比(La :Lp )に等しくなる様に形成し、波長掃
引のための電流注入時において共振縦モード波長の変化
の割合とブラッグ波長の変化の割合を一致させることを
基本原理としている。これによって、このレーザでは最
初に発振したモードを保ったまま波長掃引用電極に電流
を注入することにより、連続的に波長掃引可能となる。
【0025】また、本発明による連続波長可変半導体レ
ーザは活性導波路領域、非活性導波路領域及び分布反射
導波路領域が、基板に対して水平に直列に接続された構
造なので通常の半導体レーザと同様に電流狭窄のための
埋め込みストライプ構造を用いることができる。
【0026】以上に示した櫛形電極装荷DBRレーザに
は、波長掃引時に、光出力が低下するという現象がみら
れる。
【0027】これは以下のように説明できる。図6
(A),(B)に示すように、波長掃引用電極に電流を
流すと、屈折率が低い方向に変化する長さL2 の電流注
入領域と、屈折率が変化しない長さL1 の非注入領域が
形成され、DBR領域の光軸に沿って屈折率が空間的に
変調される。
【0028】この屈折率空間変調によってDBR領域の
反射率スペクトルは無注入時におけるブラック波長λb
でのピーク反射率特性図7から、櫛形電極の1周期から
決定されるλm により、図8に示すようにスーパーモー
ドが注入時でのブラック波長λb ′の両脇(λb ′±λ
m )に現れ、ブラック波長での反射率ピーク値は減少す
る。また、波長掃引電極に更に電流を注入すると、変調
が更に深くかけられたことに対応するため、図9に示す
ようにブラック波長での反射率ピーク値は一層減少し、
別のスーパーモードの反射率が高くなる逆転現象が生じ
る。このように、波長掃引のために櫛形電極に電流を流
すとブラック波長のピーク反射率は減少する傾向にあ
る。
【0029】また一方で、電流を注入したことによる価
電子帯間吸収によって、DBR領域での光吸収は増加す
る。以上の電流注入による2つの効果により、図10に
示すようにDBR領域の活性層から見た実効的な反射率
は減少し光出力は低下することになる。
【0030】そこで、電流注入することによりブラック
波長での反射率ピークが増加するような素子が実現され
れば、上記現象を相殺することにより結果的に光出力低
下が抑制されることになる。
【0031】本発明では以下の第2の発明によりこれを
実現したので、その構成を次に説明する。
【0032】本願第2の発明による半導体レーザの構造
を図11に示す。櫛形電極12−1,12−2におい
て、格子間隔をL1 と比較して長めに回折格子17を長
さL2 の波長掃引電極領域に選択的に導入する。電流を
注入するとその領域の屈折率が低下するがために、長さ
2 の領域の回折格子の格子間隔は光学的に短くなり、
1 の領域に導入された回折格子の格子間隔へと近づい
ていく。
【0033】つまり、あらかじめ電流無注入時において
空間的に回折格子の格子間隔を変調した構造を導入する
ことにより、図8と等価な反射率スペクトルを持たせ、
電流注入に連れてL1 とL2 の領域の回折格子の光学的
な格子間隔が一様になり、図7の反射率スペクトルと変
化していく、つまり先の様相とは逆の道をたどるような
現象が現れるように、この構造で実現している。この様
子を図10にグラフで示した。
【0034】従って、図10の実効反射率の低下と、図
11で示した回折格子間隔を変調したことによってもた
らされた反射率の増大がお互いに相殺し、DBR領域で
の活性層から見た実効反射率特性が全ての電流注入時に
おいて図12に示すように、平坦となる。よって、本発
明による半導体レーザでは、波長掃引を一つの電極で制
御できるのみでなく、同時にその光出力が低下する現象
を無効とした。
【0035】この様に、本発明による半導体レーザで
は、まず始めに、波長掃引のための電流注入による屈折
率変化を各領域において等しいように櫛形電極の一方で
ある、たとえばL2 の長さの電極12−2と非活性導波
領域の電極12とが上方において短絡し、次に櫛型電極
の長さの比(L1 :L2 )が、前記活性導波路の長さL
a と前記非活性導波路の長さLp との比(La :Lp
に等しくなる様に形成し、波長掃引のための電流注入時
において共振縦モード波長の変化の割合とブラック波長
の変化の割合を一致させ、最初に発振したモードを保っ
たまま波長掃引用電極に電流を注入することにより、連
続的に波長掃引可能となる。さらに、波長掃引用の櫛形
電極L2 の領域にあらかじめL1 の領域の周期Λ1の回
折格子と比べて回折格子17の格子間隔が長い回折格子
(周期Λ2の回折格子)を導入することにより、波長掃
引時での光出力の低下を無効にするようにしている。
【0036】
【実施例】次に本発明の実施例を図面と共に説明する。
【0037】[実施例1]図1は本発明の実施例を示す
図で、図1は本発明による半導体レーザを上部からみた
図、図2は図1のII−II矢視断面構造図、図3は図1の
III−III 矢視断面構造図である。これらの図面におい
て、符号11は活性層駆動電極、12は位相制御電極、
13はp型InGaAsPコンタクト層、14はp型I
nP光閉じ込め層、15はバンドギャップ波長1.55
μmのInGaAsP活性導波路層、16はバンドギャ
ップ波長1.3μmのInGaAsP非活性導波路層、
17は回析格子、18はn型InP光閉じ込め層、19
はn側共通電極、20はn型InP電流阻止層、21は
p型InP電流阻止層を各々図示する。
【0038】活性導波路層15と非活性導波路層16と
に対応する活性領域の長さL1 と非活性領域の長さL2
とはそれぞれ200μm、100μmとしている。ま
た、分布反射鏡導波路領域に設けられた電極12−1,
12−2は上記(9)式を満たすように、櫛形の長さL
1 ,L2 をそれぞれ100μm,50μmの長さとし
て、周期的に設置されている。
【0039】上記回析格子17が形成される部分の長さ
は約600μmで、該回析格子17の凸凹の周期は23
8nmとなっている。
【0040】分布反射鏡導波路層上の設けられた電極
は、上述したように、L1 ,L2 の一組の電極が周期的
に繰り返す構造を持つため、図1に示すように櫛形電極
が導入され、本発明によるレーザの外観上での特徴とな
っている。また、活性導波路領域、それ以外の導波路層
の上部に設けられる電極11,12は互いに分離されて
おり、図2に示すように、活性導波路層15上の電極1
1のみは独立に電源に接続される。
【0041】さらに、連続波長掃引のため、上述したよ
うに、非活性導波路領域の電極12と、分布反射鏡導波
路層の全ての長さL2 の櫛形電極12−2同志は素子の
上方で短絡されている。従って、本発明による半導体レ
ーザは、外観上二電極構造となっており、前述した従来
例の図19乃至図22に示すような三電極構造を持つこ
れまでのTTGレーザ,DBRレーザと比較して、電極
数の削減を実現している。
【0042】次に、上記半導体レーザの作製方法を簡単
に説明する。図1,図2及び図3に示すように、最初に
有機金属気相エピタキシャル成長法を用いて、n型In
P18上に活性導波路層15と非活性導波路層16とを
作製する。その後、上記非活性導波路層16の表面の一
部に塗布したレジストに、電子ビーム露光法を用いて回
折格子のパタンを転写し、転写パタンをマスクとしてエ
ッチングを行い回折格子17を形成する。次に、p型I
nP光閉じ込め層14およびp型InGaAsPコンタ
クト層13を成長した後、横モードを制御するために、
幅1.2μmのストライブ状に導波路を加工し、その両
側にp型InP電流阻止層21、n型InP電流阻止層
20を順次成長する。そして、各電極11,12,12
−1,12−2,19を形成した後、活性層駆動電極1
1と波長制御電極12,12−1,12−2とを電気的
に分離するために、それらの電極間のp型InGaAs
Pコンタクト層13を除去する。
【0043】図4及び図5は、活性層駆動電極に一定の
電流を流してレーザ発振させた後、波長調整電極に流す
電流を変えたときの発振波長の変化の様子を示したもの
である。図4から明らかなように、通常のDBRレーザ
では波長掃引のために注入電流量を増加させていくと縦
モードの飛びが起こり、連続波長掃引が出来ない。しか
し、本発明による半導体レーザでは、図5に示されるよ
うに、最初に発振したモードを保ったまま波長層引用電
極に電流を注入することにより、連続波長掃引を実現し
ている。
【0044】本半導体レーザは、上述した原理にしたが
って動作し、波長調整電極への注入電流を変化させるこ
とにより、約6nmの範囲で連続的に発振波長が変化し
ている。
【0045】上記のように本発明による半導体レーザで
は、活性導波路領域と、非活性導波路領域上に設けられ
る電極11,12の長さの比に等しい、一組の電極12
−1,12−2を、分布反射鏡領域上に周期的に配置す
る点が異なるだけで、通常の半導体レーザの作製法を用
いて容易に作製することができる。
【0046】なお、本実施例では、pn逆接合で電流阻
止による埋め込み型レーザの例を示したが、半絶縁性F
eドープInP埋め込み型レーザでもよい。また、Ga
Asを基板とした、より短波長で発振するレーザに対し
ても本発明が適用できることはいうまでもない。
【0047】[実施例2]次に、本発明の第2の本発明
の一実施例を図面とともに説明する。図13乃至図15
は本発明の実施例を示す図で、図13は本発明による半
導体レーザを上部からみた図、図14は図13のXIV-XI
V 矢視断面構造図、図15は図13のXV-XV 矢視断面構
造図である。これらの図面ににおいて、符号11は活性
層駆動電極、12は波長制御電極、13はp型InGa
AsPコンタクト層、14はp型InP光閉じ込め層、
15はバンドギャップ波長1.55μmのInGaAs
P活性導波路層、16はバンドギャップ波長1.3μm
のInGaAsP非活性導波路層、41は周期Λ1 の回
折格子、42は周期Λ2 の回折格子、18はn型InP
光閉じ込め層、19はn側共通電極、20はn型InP
電流阻止層、21はp型InP電流阻止層を各々図示す
る。なお、活性導波路層15と非活性導波路層16はそ
れぞれ200μm、100μmとしている。
【0048】また、分布反射鏡導波路領域に設けられた
電極11,12は(9)式を満たすように、L1 ,L2
をそれぞれ100μm、50μmの長さとして、周期的
に設置されている。回折格子が形成される部分の長さは
約600μmで、本発明による半導体レーザの特徴であ
る回折格子の凸凹の周期は、周期Λ1 の回折格子41で
はL1 の領域で240nm、周期Λ2 の回折格子42で
はL2 の領域で242nmと変調されている。分布反射
鏡導波路層上に設けられた電極は、上述したように、L
1 ,L2 の一組の電極が周期的に繰り返す構造を持つた
め、図13に示すように櫛形電極12−1,12−2が
導入され、本発明によるレーザの外観上での特徴となっ
ている。また、活性導波路領域、それ以外の導波路層の
上部に設けられる電極は互いに分離されており、図14
に示すように、活性導波路層15上の電極11のみに独
立に電源に接続される。さらに、連続波長掃引のため、
上述したように、非活性導波路層、分布反射鏡導波路層
の全てのL2 電極12−2同志は素子の上方で短絡され
ている。従って、本発明による半導体レーザは外観上二
電極構造となっており、図19乃至図23に示すような
三電極構造を持つこれまでのTTGレーザ、DBRレー
ザと比較して電極数の削減を実現している。
【0049】上記半導体レーザの作製方法を簡単に説明
する。最初に有機金属気相エピタキシャル成長法を用い
て、n型InP18上に活性導波路層15と非活性導波
路層16とを作製する。その後、上記非活性導波路層1
6の表面の一部に塗布したレジストに、電子ビーム露光
法を用いて回折格子のパタンを転写し、転写パタンをマ
スクとしてエッチングを行い回折格子41,42を形成
する。p型InP光閉じ込め層14およびp型InGa
AsPコンタクト層13を成長した後、横モードを制御
するために、幅1.2μmのストライプ状に導波路を加
工し、その両側にp型InP電流阻止層21、n型In
P電流阻止層20を順次成長する。そして、各電極1
1,12,12−1,12−2,19を形成した後、活
性層駆動電極11と波長制御電極12とを電気的に分離
するために、それらの電極間のp型InGaAsPコン
タクト層13を除去する。
【0050】活性層駆動電極に一定の電流を流してレー
ザ発振させた後、波長調整電極に流す電流を変えたとき
の発振波長の変化の様子(図16)と、レーザ出力(図
17)を示したものである。図16から明らかなよう
に、本発明による半導体レーザは最初に発振したモード
を保ったまま波長層引用電極に電流を注入することによ
り、約6nmの範囲で連続波長掃引を実現している。さ
らに図17から明らかなように、波長掃引時において、
ほぼ最初のレーザ出力を保ったままレーザ発振すること
を実現している。
【0051】上記のように本発明による半導体レーザで
は、活性導波路領域と、非活性導波路領域上に設けられ
る電極の長さの比に等しい、一組の電極を分布反射領域
上に周期的に配置し、それぞれの領域での回折格子の格
子間隔で変調して導入した点が異なるだけで、通常の半
導体レーザの作製法を用いて容易に作製することができ
る。なお、本実施例では、pn逆接合で電流阻による埋
め込み型レーザの例を示したが、半絶縁性FeドープI
nP埋め込み型レーザでもよい。また、GaAsを基板
とした、より短波長で発振するレーザに対しても本発明
が適用できることはいうまでもない。
【0052】また、図18に示すように、上述したよう
な櫛形電極12−1,12−2でなく単に2つの電極1
01及び電極102を分布反射領域に設け、その長さの
比を活性導波路103と位相調節用の非活性導波路10
4の長さの比に等しくし、非活性導波路104に対応す
る電極101を非活性導波路の電極に接続しても、櫛形
電極を用いた場合と同じ効果が得られる。
【0053】
【発明の効果】上記実施例で示したように、本発明によ
る半導体レーザにより、一つの電極の電流制御で連続的
に波長調整が可能なレーザを従来の作製法を用いて容易
に得ることができる。また、二電極の制御で10nmを
越える広い範囲の波長調整が可能なレーザを得ることが
できる。なおかつ、活性導波路及び非活性導波路への電
流流入も効率よく行なえる。更に、波長を掃引しても光
出力は低下しない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例による半導体レーザの上部から
みた平面図である。
【図2】図1のII-II 矢視断面図である。
【図3】図1のIII-III 矢視断面図である。
【図4】半導体レーザ(DBRレーザによる)波長変化
特性図である。
【図5】半導体レーザ(本発明の実施例による)波長変
化特性図である。
【図6】(A)はDBR反射鏡領域の電流無注入時の屈
折率特性を示す図、(B)はDBR反射鏡領域の電流注
入時の屈折率特性を示す図である。
【図7】電流無注入時のDBR反射鏡反射率スペクトル
を示す図である。
【図8】電流注入により、屈折率が0.5%減少したと
きのスペクトル特性図である。
【図9】電流注入により、屈折率が1.0%減少したと
きのスペクトル特性図である。
【図10】波長掃引用電極に電流を注入したときの、活
性層から見た実効反射率特性である。
【図11】本発明による第2の構成の半導体レーザを示
す断面図である。
【図12】本発明による第2の構成の半導体レーザによ
る構造を有するDBR反射鏡ピーク反射率、活性率から
見た実効反射率の注入電流に対する反射率特性である。
【図13】本発明の実施例による半導体レーザの上部か
らみた平面図である。
【図14】図13のXIV-XIV 矢視断面図である。
【図15】図13のXV-XV 矢視断面図である。
【図16】本発明の実施例による半導体レーザの連続波
長掃引特性示す図である。
【図17】本発明の第2の構成の実施例による半導体レ
ーザの出力特性示す図である。
【図18】本発明の実施例による他の半導体レーザを示
す図である。
【図19】TTGレーザを示す図で、光軸に平行に切断
した断面図である。
【図20】TTGレーザを示す図で、光軸に垂直に切断
した断面図である。
【図21】DBRレーザの上部からみた平面図である。
【図22】図21のXXII-XXII 矢視断面図である。
【図23】図21のXXIII-XXIII 矢視断面図である。
【符号の説明】
11 活性層駆動電極 12 位相制御電極 12−1,12−2 櫛形電極 13,30 p型InGaAsPコンタクト層 14,23,29 p型InP光閉じ込め層 15,24 活性導波路層、活性層 16,25 非活性導波路層、波長制御層 17,26 回折格子 18 n型InP光閉じ込め層、n型InP基板 19,28 n側共通電極 20 n型InP電流阻止層 21 p型InP電流阻止層 22 波長制御電極 41 周期Λ1 の回折格子 42 周期Λ2 の回折格子 L1 :L2 櫛形電極12−1,12−2の導波路方向
に対する長さの比 La :Lp 活性導波領域の長さLa と非活性導波領域
の長さLp との比 101,102 電極 103活性導波路 104非活性導波路

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光の増幅作用を有する活性導波路、屈折
    率を変化させることにより光の位相を調節する非活性導
    波路及び分布反射導波路が光の進行方向に直列に接続さ
    れた分布反射型半導体レーザにおいて、 上記分布反射領域に第1の櫛形電極と第2の櫛形電極が
    対向するように形成され、上記第1の櫛形電極の歯の長
    さと該第2の櫛形電極の歯の長さの比が、上記活性導波
    路の導波路領域の長さと上記非活性導波路の導波路領域
    の長さとの比に等しいことを特徴とする半導体レーザ。
  2. 【請求項2】 請求項1の半導体レーザにおいて、 上記第2の櫛形電極の下方に形成された回折格子の周期
    が、上記第1の櫛形電極の下方に形成された回析格子の
    周期より長いことを特徴とする半導体レーザ。
  3. 【請求項3】 光の増幅作用を有する活性導波路、屈折
    率を変化させることにより光の位相を調節する非活性導
    波路及び分布反射導波路が光の進行方向に直列に接続さ
    れた分布反射型半導体レーザにおいて、 上記分布反射領域に第1の電極と第2の電極が光の進行
    方向に対して直列に配置され、該第1の電極の長さと該
    第2の電極の長さの比が、上記活性導波路の活性領域の
    長さと上記非活性導波路の活性領域の長さの比に等しい
    ことを特徴とする半導体レーザ。
  4. 【請求項4】 請求項1及び請求項2の半導体レーザに
    おいて、 上記第2の櫛形電極が上記非活性導波路の導波領域に形
    成された電極に電気的に接続されていることを特徴とす
    る半導体レーザ。
  5. 【請求項5】 請求項3の半導体レーザにおいて、 上記第2の電極が上記非活性導波路の導波領域に形成さ
    れた電極に電気的に接続されていることを特徴とする半
    導体レーザ。
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