JPH09321116A - 表面処理装置及び表面処理方法 - Google Patents

表面処理装置及び表面処理方法

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JPH09321116A
JPH09321116A JP13152996A JP13152996A JPH09321116A JP H09321116 A JPH09321116 A JP H09321116A JP 13152996 A JP13152996 A JP 13152996A JP 13152996 A JP13152996 A JP 13152996A JP H09321116 A JPH09321116 A JP H09321116A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing chamber
work
chamber
sub
surface treatment
Prior art date
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Pending
Application number
JP13152996A
Other languages
English (en)
Inventor
Isamu Morisako
勇 森迫
Kanji Yahiro
寛司 八尋
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP13152996A priority Critical patent/JPH09321116A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 タクトタイムを短縮できる表面処理装置を提
供とすることを目的とする。 【解決手段】 ワークWの表面処理手段を備えた主処理
室16と、主処理室に連続し主処理室を大気に連通させ
うるように開口部が形成された副処理室17と、主処理
室と副処理室とを遮断又は連通させるゲート18と、ワ
ークを保持して副処理室内へワークを位置させ開口部を
封鎖可能に形成された担体5,6とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、表面処理装置及び
表面処理方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ワークに対してエッチング等の表面処理
を行う表面処理装置は、開口部を有するチャンバーにイ
オン銃や平行平板電極などの表面処理手段を備えて構成
される。そして、この開口部をゲートで開閉するように
なっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】したがって、ワークが
供給されると、ゲートを開いて開口部からチャンバー内
に入れ、ゲートを閉じ、次いでチャンバー内を減圧した
後、ワークの表面処理が行われる。
【0004】しかしながら、ゲートを閉じた時点でチャ
ンバー内はほぼ大気圧となっており、チャンバー内を十
分に減圧するまで長い時間を要し、表面処理プロセスの
タクトタイムが大きくなるという問題点があった。
【0005】そこで本発明は、タクトタイムを短縮でき
る表面処理装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の表面処理装置
は、ワークの表面処理手段を備えた主処理室と、主処理
室に連続し主処理室を大気に連通させうるように形成さ
れた副処理室と、主処理室と副処理室とを遮断又は連通
させるゲートと、ワークを保持して副処理室内へワーク
を位置させ開口部を封鎖可能に形成された担体とを備え
る。
【0007】
【発明の実施の形態】請求項1記載の表面処理装置は、
ワークの表面処理手段を備えた主処理室と、主処理室に
連続し主処理室を大気に連通させうるように開口部が形
成された副処理室と、主処理室と副処理室とを遮断又は
連通させるゲートと、ワークを保持して副処理室内へワ
ークを位置させ開口部を封鎖可能に形成された担体とを
備えるので、ワークを副処理室内に供給する前に、ゲー
トにより主処理室を副処理室から遮断することができ、
これによりゲートで遮断された主処理室をワークの表面
処理を行う直前まで減圧雰囲気にしたままにしておくこ
とができる。したがって、ワークを保持する担体で副処
理室の開口部を封鎖し、ゲートを開いて副処理室を主処
理室に連通させると、ワークが位置する副処理室はただ
ちに減圧雰囲気となり、その直後に表面処理を開始する
ことができる。このため、主処理室をワークの供給のた
びに大気圧から減圧する必要がなく、それだけタクトタ
イムを短縮することができる。
【0008】次に図面を参照しながら本発明の実施の形
態を説明する。図1は、本発明の一実施の形態における
表面処理装置の断面図である。図1において、1は中心
Aの回りにシャフト2が回転することにより水平面内を
矢印θ方向に回転するターンテーブルであり、ターンテ
ーブル1の端部にはワークWを保持する保持部3,4が
設けられている。
【0009】保持部3,4のうち、5,6は水平な上面
上にワークWを保持する担体、7,8は担体5,6の下
部に連結され、ターンテーブル1に対して昇降自在に支
持されるロッド、9,10はロッド7,8の下部に設け
られたフランジである。
【0010】またターンテーブル1の下面とフランジ
9,10との間には、フランジ9,10を下方へ押し下
げる弾性力を備えたスプリング11,12が介装されて
いる。そして、図示した状態では、保持部3は処理ステ
ーションS1にあって担体5上のワークWはこれから表
面処理を受けようとする状態にあり、保持部4は出入ス
テーションS2に位置している。出入ステーションS2
では、移載ヘッド13が矢印N1,N2方向に移動し
て、新たな処理前のワークWを担体6上へ載置したり、
処理済のワークWを次工程へ搬出するようになってい
る。
【0011】さて、処理ステーションS1のターンテー
ブル1よりも上方の位置には、ワークWに表面処理を施
す表面処理部14が配設されている。表面処理部14の
うち、15は減圧雰囲気を形成するためのチャンバーで
ある。チャンバー15の内部空間のほとんどは外部から
遮断された主処理室16となっている。
【0012】またチャンバー15の底面部(壁面の一
部)15aの中央付近には、主処理室16に連続する副
処理室17が形成されている。そして、主処理室16と
副処理室17とは、通常ゲート18によって遮断されて
いる。19はゲート18を実線位置と破線位置との間に
おいて作動させるゲートシリンダである。
【0013】また処理ステーションS1の下部には、処
理ステーションS1にある保持部3のフランジ9を上方
へ押上げる押上機構20が設けられる。押上機構20を
作動させると、ロッド7が上昇し、破線で示すように担
体5上のワークWを副処理室17内に位置させることが
でき、また担体5の上面を底面部15aに密着させるこ
とにより、副処理室17の開口部(下端部)を外気に対
して封鎖できるようになっている。なお押上機構20と
ターンテーブル1は出入手段に相当する。
【0014】また21は副処理室17内に位置するワー
クWに矢印N3方向にイオンビームを照射する表面処理
手段としてのイオン銃、22はワークWからエッチング
された物質(矢印N4)を吸着してチャンバー15内の
汚染を抑制する防着板、23は主処理室16内を減圧す
る真空ポンプ、24は減圧雰囲気になった副処理室17
を大気に開放する大気開放弁である。
【0015】本形態の表面処理装置は、以上のような構
成よりなり、次にその動作を説明する。まず、ゲートシ
リンダ19を作動して主処理室16を副処理室17から
遮断し密閉すると共に、真空ポンプ23を作動して主処
理室16内を減圧雰囲気とする。
【0016】次に、出入ステーションS2にてワークW
を供給し、ターンテーブル1を回転させ供給されたワー
クWを処理ステーションS1へ移動させる。
【0017】次に押上機構20でフランジ9を押上げ、
ワークWを副処理室17内へ位置させ担体5で副処理室
17を封鎖する。なおこのとき、大気開放弁24は閉じ
ておく。
【0018】次にゲートシリンダ19を作動させ、ゲー
ト18を破線位置とし、主処理室16を副処理室17と
連通させ、直ちにイオン銃21による表面処理を開始す
る。ここで、図示しているように、副処理室17の体積
を主処理室16の体積よりもずっと小さくしておくこと
が望ましい。なぜなら、ゲート18を開いた際に副処理
室17内の大気が主処理室16内に拡散し主処理室16
内の圧力がわずかに上昇するが、副処理室17の体積を
小さくしておくと、この圧力上昇を事実上無視できる程
度に抑制できるからである。
【0019】このように、主処理室16が一旦減圧雰囲
気になっていると、ゲート18を開いた直後に表面処理
を開始することができ、ロスタイムを減らすことができ
る。
【0020】ところで、処理ステーションS1にて表面
処理を行う際には、他の保持部4は出入ステーションS
2にあり、移載ヘッド13によるワークWの出入が可能
である。即ち、処理ステーションS1における処理と、
出入ステーションS2における出入(処理済のワークW
を次工程に搬出し、また処理前のワークWを担体6上へ
移載する)とを同時並行して行うことができ、一層タク
トタイムを短縮できる。
【0021】そして表面処理が済んだら、ゲート18を
閉じて大気開放弁24を開き、押上機構20の押上げ動
作を解除する。その結果、担体5は、処理ステーション
S1の実線位置に戻る。
【0022】次に、ターンテーブル1を回転させ、出入
ステーションS2に供給されたワークWと処理ステーシ
ョンS1にある処理済のワークWとを入れ替える。そし
て、次に新たに処理ステーションS1に至ったワークW
については、主処理室16を大気圧からほとんど真空ま
で減圧するという時間のかかるプロセスを経ることな
く、単にゲート18を開くのみで上述したように表面処
理を行えるのである。
【0023】ここで、図示した例では、出入手段として
回転するターンテーブル1を用いたが、勿論ワークWを
往復移動させ得るものであれば、任意に変更できる。
【0024】
【発明の効果】本発明の表面処理装置は、ワークの表面
処理手段を備えた主処理室と、主処理室に連続し主処理
室を大気に連通させうるように形成された副処理室と、
主処理室と副処理室とを遮断又は連通させるゲートと、
ワークを保持して副処理室内へワークを位置させ開口部
を封鎖可能に形成された担体とを備えるので、処理室の
減圧に要する時間を節約でき、それだけタクトタイムを
短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における表面処理装置の
断面図
【符号の説明】
1 ターンテーブル 5,6 担体 16 主処理室 17 副処理室 18 ゲート 20 押上機構 21 イオン銃 W ワーク

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ワークの表面処理手段を備えた主処理室
    と、前記主処理室に連続し前記主処理室を大気に連通さ
    せうるように開口部が形成された副処理室と、前記主処
    理室と前記副処理室とを遮断又は連通させるゲートと、
    ワークを保持して前記副処理室内へワークを位置させ前
    記開口部を封鎖可能に形成された担体とを備えることを
    特徴とする表面処理装置。
  2. 【請求項2】前記担体に保持されたワークを前記副処理
    室へ出入れする出入手段を備えることを特徴とする請求
    項1記載の表面処理装置。
  3. 【請求項3】ワークを担体に保持させ、ワークを副処理
    室に位置させると共に前記副処理室を前記担体で封鎖す
    るステップと、減圧された雰囲気となっている主処理室
    と前記副処理室とを遮断するゲートを作動させ、前記副
    処理室と前記主処理室とを連通させるステップと、前記
    主処理室に設けられた表面処理手段で前記副処理室内の
    ワークを表面処理するステップとを含むことを特徴とす
    る表面処理方法。
  4. 【請求項4】ワークの表面処理後に前記ゲートを作動さ
    せ前記主処理室と前記副処理室とを遮断して前記主処理
    室の減圧雰囲気を保持するステップと、前記担体による
    前記副処理室の封鎖を解除して表面処理後のワークを取
    り出すステップとを含むことを特徴とする請求項3記載
    の表面処理方法。
JP13152996A 1996-05-27 1996-05-27 表面処理装置及び表面処理方法 Pending JPH09321116A (ja)

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