JPH09312099A - 半導体記憶装置及びそのアクセス方法 - Google Patents

半導体記憶装置及びそのアクセス方法

Info

Publication number
JPH09312099A
JPH09312099A JP12574696A JP12574696A JPH09312099A JP H09312099 A JPH09312099 A JP H09312099A JP 12574696 A JP12574696 A JP 12574696A JP 12574696 A JP12574696 A JP 12574696A JP H09312099 A JPH09312099 A JP H09312099A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
memory cell
cell array
output
stored
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP12574696A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshio Mochizuki
義夫 望月
Yuichi Tatsumi
雄一 辰巳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Microelectronics Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP12574696A priority Critical patent/JPH09312099A/ja
Priority to US08/859,682 priority patent/US6014443A/en
Priority to KR1019970019757A priority patent/KR970076809A/ko
Priority to TW086106937A priority patent/TW384539B/zh
Publication of JPH09312099A publication Critical patent/JPH09312099A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/14Protection against unauthorised use of memory or access to memory
    • G06F12/1408Protection against unauthorised use of memory or access to memory by using cryptography

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Storage Device Security (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】記憶されているデータを違法な手段でコピーし
てもそのデータを利用することができない半導体記憶装
置を提供することを目的としている。 【解決手段】メモリセルアレイ11中に暗号キーデータ
とこの暗号キーデータを用いて演算されたデータを予め
記憶し、暗号キーデータを記憶したメモリセルをアクセ
スしてラッチ回路にラッチした後、ラッチしたデータと
センスアンプ18から出力されたデータとを演算回路2
0で演算してデコードし、演算結果を読み出しデータと
して出力することを特徴としている。メモリセルアレイ
中に予め記憶されているデータは演算処理したデータで
あるので、そのままコピーしても利用できない。データ
の読み出しに先だって、暗号キーデータを記憶したメモ
リセルをアクセスしないと、誤った演算処理が行われる
ので、読み出したデータは利用できない。よって、実質
的に記憶データを違法なコピーから保護できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、違法なコピーに
対するプロテクト機能を有する半導体記憶装置及びその
アクセス方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体記憶装置、例えば、マスクROM
(Read Only Memory)のメモリセルアレイは、MOSト
ランジスタからなるメモリセルをマトリックス状に配置
し、各メモリセルのゲートを行方向に延びる複数のワー
ド線に行毎に接続するとともに、ドレインを列方向に延
びる複数のビット線に列毎に接続し、ソースを接地して
構成されている。各メモリセルへのデータの書き込みに
は、(a)拡散層プログラム方式、(b)イオン注入プ
ログラム方式、(c)コンタクトプログラム方式等が知
られており、MOSトランジスタの有無、MOSトラン
ジスタがデプレッション型かエンハンスメント型か、及
びコンタクトホールの有無等を記憶情報の“0”,
“1”に対応させ、製造工程の途中でフォトマスクを用
いて書き込みを行っている。一方、記憶データの読み出
しは、ビット線を選択して充電し、ワード線を選択して
高レベルにすることにより、この選択したビット線とワ
ード線に接続されたMOSトランジスタ(メモリセル)
を介してビット線が放電されるか否かに応じて記憶情報
の“0”,“1”を判定し、読み出しを行っている。
【0003】図16は、上述したような従来のマスクR
OMの概略構成を示すブロック図である。図16におい
て、11はメモリセルアレイ、12はローアドレス信号
が入力され、/RAS(符号の前に付した“/”は反転
信号すなわちバーを意味する)信号で制御されるローア
ドレスバッファ、13はカラムアドレス信号が入力さ
れ、/CAS信号で制御されるカラムアドレスバッフ
ァ、14は上記ローアドレスバッファ12から出力され
るローアドレス信号をデコードして上記メモリセルアレ
イ11中のワード線を選択的に駆動することによりメモ
リセルのローを選択するローデコーダ、15は/CAS
信号で制御され、上記カラムアドレスバッファ12の出
力に応答してカラムアドレス信号を生成するカラムアド
レスカウンタ、16は上記メモリセルアレイ11中のビ
ット線を選択するためのカラム選択ゲート、17は上記
カラムアドレスカウンタ15から出力されるカラムアド
レス信号をデコードし、上記カラム選択ゲート16を制
御してメモリセルのカラムを選択するカラムデコーダ、
18は上記メモリセルアレイ11中の選択されたメモリ
セルから読み出されたデータを増幅するセンスアンプ、
19は/OE信号で制御され、上記センスアンプ18に
よる増幅信号をデータバスDBを介して出力するための
出力バッファである。
【0004】上記のような構成において、ローアドレス
信号がローアドレスバッファ12に、読み出しを開始す
るカラムを指定するカラムアドレス信号がカラムアドレ
スバッファ13にそれぞれ入力されると、/RAS信号
に応答してローアドレスバッファ12からローデコーダ
14にローアドレス信号が供給され、/CAS信号に応
答してカラムアドレスバッファ13からカラムアドレス
カウンタ15へ読み出し開始カラムアドレス信号が供給
される。これによって、ローデコーダ14でワード線が
選択されて駆動されるとともに、読み出し開始カラムア
ドレス信号がカラムデコーダ17でデコードされ、カラ
ム選択ゲート16が制御されてビット線が選択されて充
電される。選択されたワード線とビット線とに接続され
たメモリセルから読み出されたデータは、カラム選択ゲ
ート16を介してセンスアンプ18に供給されて増幅さ
れ、/OE信号に応答して出力バッファ19からデータ
バスDBに出力される。
【0005】上記カラムアドレスカウンタ15は、/C
AS信号に応答してインクリメントされることによりカ
ラムアドレス信号を順次生成し、カラムデコーダ17に
供給する。これによって、メモリセルアレイ11中の選
択されたワード線に接続されたメモリセルから記憶デー
タが順次読み出される。
【0006】その後、ワード線を順次選択し、同様な読
み出し動作を繰り返すことにより、メモリセルアレイ1
1中に記憶されたデータが読み出される。しかしなが
ら、上記のような構成では、ROMライタやパーソナル
コンピュータを用いてROMのアドレスを順次インクリ
メントすることにより、メモリセルアレイ中に記憶され
ているデータを容易に読み出すことができ、ハードディ
スクやフロッピーディスク等の記憶媒体に書き込むこと
で、記憶データが簡単にコピーされてしまうという問題
がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記のように従来の半
導体記憶装置及びそのアクセス方法は、メモリセルアレ
イ中に記憶されている情報が簡単にコピーされてしまう
という問題があった。この発明は上記のような事情に鑑
みてなされたもので、その目的とするところは、記憶さ
れているデータを違法な手段でコピーしてもそのデータ
を利用することができず、実質的に記憶データを違法な
コピーから保護できる半導体記憶装置及びそのアクセス
方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に記
載した半導体記憶装置は、メモリセルがマトリックス状
に配置されたメモリセルアレイと、前記メモリセルアレ
イ中のメモリセルの行を選択する行選択手段と、前記メ
モリセルアレイ中のメモリセルの列を指定する列指定手
段と、前記行選択手段と前記列指定手段とにより選択さ
れたメモリセルの記憶データを判定するためのセンスア
ンプ手段と、前記センスアンプ手段から出力されるデー
タを保持する保持手段と、前記保持手段に保持したデー
タと前記センスアンプ手段から出力されるデータとを演
算する演算手段とを具備し、前記行選択手段と前記列指
定手段で選択されたメモリセルから読み出したデータを
暗号キーデータとして前記保持手段に保持した後、前記
保持手段に保持したデータと前記センスアンプ手段から
出力されるデータとを演算手段で演算し、演算結果を読
み出しデータとして出力することを特徴としている。
【0009】請求項2に記載したように、前記メモリセ
ルには、前記演算手段による演算によってデコードされ
るように、前記保持手段に保持したデータでエンコード
されたデータが記憶されることを特徴とする。
【0010】請求項3に記載したように、前記メモリセ
ルアレイのメモリ空間は、複数の領域に分割され、各領
域に異なる暗号キーデータが記憶されるとともに、前記
演算手段による演算によってデコードされるように、対
応する暗号キーデータを用いてエンコードされたデータ
が記憶されることを特徴とする。
【0011】請求項4に記載したように、前記保持手段
へのデータの入力は、外部から与えられた制御信号に応
答して行われることを特徴とする。請求項5に記載した
ように、前記メモリセルからのデータの読み出しを制御
する信号が複数回連続して入力された時に制御信号を生
成する信号生成手段を更に備え、前記保持手段へのデー
タの入力は、前記信号生成手段で生成された制御信号に
応答して行われることを特徴とする。
【0012】請求項6に記載したように、前記保持手段
に保持されたデータは、外部から与えられた信号に応答
して増減し、前記メモリセルには、前記演算手段による
演算によってデコードされるように、前記保持手段に保
持された増減するデータでエンコードされたデータが記
憶されることを特徴とする。
【0013】請求項7に記載したように、前記保持手段
に保持されたデータは、直前に読み出したデータとの演
算により変化し、前記メモリセルには、前記演算手段に
よる演算によってデコードされるように、前記保持手段
に保持した変化するデータでエンコードされたデータが
記憶されることを特徴とする。
【0014】請求項8に記載したように、前記保持手段
に保持されたデータは、アドレスの遷移に応答して増減
し、前記メモリセルには、前記演算手段による演算によ
ってデコードされるように、前記保持手段に保持した増
減するデータでエンコードされたデータが記憶されるこ
とを特徴とする。
【0015】この発明の請求項9に記載した半導体記憶
装置は、メモリセルがマトリックス状に配置され、暗号
キーデータ及びこの暗号キーデータを用いて演算された
データが記憶されるメモリセルアレイと、前記メモリセ
ルアレイ中のメモリセルのゲートが行毎にそれぞれ接続
されるワード線と、前記メモリセルアレイ中のメモリセ
ルのドレインが列毎にそれぞれ接続されるビット線と、
前記ワード線を選択するワード線選択手段と、前記ビッ
ト線を選択するビット線選択手段と、前記ワード線選択
手段と前記ビット線選択手段とで選択されたメモリセル
から読み出されたデータを増幅するセンスアンプ手段
と、制御信号に応答して前記センスアンプ手段から出力
されたデータをラッチするラッチ手段と、前記制御信号
に応答して前記ラッチ手段にラッチされたデータと前記
センスアンプ手段から出力されたデータとを演算する演
算手段と、前記演算手段による演算結果を出力する出力
手段とを具備し、前記ワード線選択手段と前記ビット線
選択手段で、前記メモリセルアレイ中の前記暗号キーデ
ータが記憶されたメモリセルのアドレスを選択し、前記
センスアンプ手段から出力された暗号キーデータを前記
ラッチ手段にラッチし、その後、前記ワード線選択手段
と前記ビット線選択手段で、前記メモリセルアレイ中の
メモリセルのアドレスを選択し、前記演算手段によって
前記センスアンプ手段から出力されたデータと前記ラッ
チ手段にラッチされた暗号キーデータとを演算し、この
演算結果を前記出力手段から読み出しデータとして出力
することを特徴としている。
【0016】この発明の請求項10に記載した半導体記
憶装置は、メモリセルがマトリックス状に配置され、暗
号キーデータ及びこの暗号キーデータを順次インクリメ
ントまたは順次デクリメントしたデータを用いて演算さ
れたデータが記憶されるメモリセルアレイと、前記メモ
リセルアレイ中のメモリセルのゲートが行毎にそれぞれ
接続されるワード線と、前記メモリセルアレイ中のメモ
リセルのドレインが列毎にそれぞれ接続されるビット線
と、前記ワード線を選択するワード線選択手段と、前記
ビット線を選択するビット線選択手段と、前記ワード線
選択手段と前記ビット線選択手段とで選択されたメモリ
セルから読み出されたデータを増幅するセンスアンプ手
段と、制御信号に応答して前記センスアンプ手段から出
力されたデータがセットされ、この制御信号に応答して
順次インクリメントまたは順次デクリメントされるカウ
ンター手段と、前記制御信号に応答して前記カウンター
手段のカウント値と前記センスアンプ手段から出力され
たデータとを演算する演算手段と、前記演算手段による
演算結果を出力する出力手段とを具備し、前記ワード線
選択手段と前記ビット線選択手段で、前記メモリセルア
レイ中の前記暗号キーデータが記憶されたメモリセルの
アドレスを選択し、前記センスアンプ手段から出力され
た暗号キーデータを前記カウンター手段にセットし、そ
の後、前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段
で、前記メモリセルアレイ中のメモリセルのアドレスを
選択し、前記演算手段によって前記センスアンプ手段か
ら出力されたデータと前記カウンター手段のカウント値
とを演算し、この演算結果を前記出力手段から読み出し
データとして出力することを特徴としている。
【0017】この発明の請求項11に記載した半導体記
憶装置は、メモリセルがマトリックス状に配置され、暗
号キーデータ及びこの暗号キーデータと記憶されるデー
タとを用いて順次演算されたデータが記憶されるメモリ
セルアレイと、前記メモリセルアレイ中のメモリセルの
ゲートが行毎にそれぞれ接続されるワード線と、前記メ
モリセルアレイ中のメモリセルのドレインが列毎にそれ
ぞれ接続されるビット線と、前記ワード線を選択するワ
ード線選択手段と、前記ビット線を選択するビット線選
択手段と、前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手
段とで選択されたメモリセルから読み出されたデータを
増幅するセンスアンプ手段と、前記センスアンプ手段の
出力信号が供給される演算手段と、前記演算手段の演算
結果を出力する出力手段と、前記出力手段の出力データ
を一時記憶し、前記演算手段に供給するレジスター手段
とを具備し、前記ワード線選択手段と前記ビット線選択
手段で、前記メモリセルアレイ中の前記暗号キーデータ
が記憶されたメモリセルのアドレスを選択し、前記セン
スアンプ手段から出力された暗号キーデータを前記レジ
スター手段に一時記憶し、その後、前記ワード線選択手
段と前記ビット線選択手段で、前記メモリセルアレイ中
のメモリセルのアドレスを選択し、前記演算手段によっ
て前記センスアンプ手段から出力されたデータと前記レ
ジスター手段に一時記憶したデータとを演算し、この演
算結果を前記出力手段から読み出しデータとして出力す
るとともに、前記レジスター手段に一時記憶することを
特徴としている。
【0018】この発明の請求項12に記載した半導体記
憶装置は、メモリセルがマトリックス状に配置され、暗
号キーデータ及びこの暗号キーデータを順次インクリメ
ントまたは順次デクリメントしたデータを用いて演算さ
れたデータが記憶されるメモリセルアレイと、前記メモ
リセルアレイ中のメモリセルのゲートが行毎にそれぞれ
接続されるワード線と、前記メモリセルアレイ中のメモ
リセルのドレインが列毎にそれぞれ接続されるビット線
と、前記ワード線を選択するワード線選択手段と、前記
ビット線を選択するビット線選択手段と、前記ワード線
選択手段と前記ビット線選択手段とで選択されたメモリ
セルから読み出されたデータを増幅するセンスアンプ手
段と、前記センスアンプ手段の出力信号が供給される演
算手段と、前記演算手段の演算結果を出力する出力手段
と、アドレスの遷移を検出するアドレス遷移検出手段
と、前記アドレス遷移検出手段によってアドレスの遷移
が検出された時に順次インクリメントまたは順次デクリ
メントされ、カウント値を前記演算手段に供給するカウ
ンター手段とを具備し、前記ワード線選択手段と前記ビ
ット線選択手段で、前記メモリセルアレイ中の前記暗号
キーデータが記憶されたメモリセルのアドレスを選択
し、前記センスアンプ手段から出力された暗号キーデー
タを前記カウンター手段にセットし、その後、前記ワー
ド線選択手段と前記ビット線選択手段で、前記メモリセ
ルアレイ中のメモリセルのアドレスを選択し、前記演算
手段によって前記センスアンプ手段から出力されたデー
タと前記カウンター手段のカウント値とを演算し、この
演算結果を前記出力手段から読み出しデータとして出力
することを特徴としている。
【0019】この発明の請求項13に記載した半導体記
憶装置は、メモリセルがマトリックス状に配置され、暗
号キーデータ及びこの暗号キーデータを用いて演算され
たデータが記憶されるメモリセルアレイと、前記メモリ
セルアレイ中のメモリセルのゲートが行毎にそれぞれ接
続されるワード線と、前記メモリセルアレイ中のメモリ
セルのドレインが列毎にそれぞれ接続されるビット線
と、前記ワード線を選択するワード線選択手段と、前記
ビット線を選択するビット線選択手段と、前記ワード線
選択手段と前記ビット線選択手段とで選択されたメモリ
セルから読み出されたデータを増幅するセンスアンプ手
段と、前記センスアンプ手段の出力信号が供給される演
算手段と、前記演算手段の演算結果を出力する出力手段
と、アドレスの遷移を検出するアドレス遷移検出手段
と、前記アドレス遷移検出手段によってアドレスの遷移
が検出された時に前記出力手段の出力データを一時記憶
するレジスター手段とを具備し、前記ワード線選択手段
と前記ビット線選択手段で、前記メモリセルアレイ中の
前記暗号キーデータが記憶されたメモリセルのアドレス
を選択し、前記センスアンプ手段から出力された暗号キ
ーデータを前記レジスター手段に一時記憶し、その後、
前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段で、前記
メモリセルアレイ中のメモリセルのアドレスを選択し、
前記演算手段によって前記センスアンプ手段から出力さ
れたデータと前記レジスター手段に一時記憶したデータ
とを演算し、この演算結果を前記出力手段から読み出し
データとして出力するとともに、前記レジスター手段に
供給して一時記憶することを特徴としている。
【0020】請求項14に記載したように、前記メモリ
セルアレイのメモリ空間は、複数の領域に分割され、各
々の領域に異なる暗号キーデータが割り付けて記憶さ
れ、各々の領域に対応する暗号キーデータを用いて演算
されたデータが記憶されることを特徴とする。
【0021】請求項15に記載したように、前記暗号キ
ーデータとして、前記メモリセルアレイ中に記憶される
データを利用することを特徴とする。この発明の請求項
16に記載した半導体記憶装置のアクセス方法は、メモ
リセルアレイ中に暗号キーデータ及びこの暗号キーデー
タを用いて演算されたデータを記憶する第1のステップ
と、前記メモリセルアレイの暗号キーデータが記憶され
たアドレスをアクセスする第2のステップと、読み出さ
れた暗号キーデータを保持する第3のステップと、前記
メモリセルアレイをアクセスしてデータを読み出す第4
のステップと、前記第3のステップで保持した暗号キー
データと前記第4のステップで読み出したデータとを演
算する第5のステップと、前記第5のステップの演算結
果をメモリセルからの読み出しデータとして出力する第
6のステップとを具備することを特徴としている。
【0022】この発明の請求項17に記載した半導体記
憶装置のアクセス方法は、メモリセルアレイ中にエンコ
ードしたデータを記憶する第1のステップと、前記メモ
リセルアレイに記憶されたデータのアドレスを暗号キー
データとしてアクセスする第2のステップと、読み出さ
れたデータを保持する第3のステップと、前記メモリセ
ルアレイをアクセスしてデータを読み出す第4のステッ
プと、前記第3のステップで保持したデータと前記第4
のステップで読み出したデータとを演算する第5のステ
ップと、前記第5のステップの演算結果をメモリセルか
らの読み出しデータとして出力する第6のステップとを
具備することを特徴としている。
【0023】請求項18に記載したように、前記第3の
ステップで保持したデータは、外部から入力された制御
信号に応答して変化することを特徴とする特徴とする。
請求項19に記載したように、前記第3のステップで保
持したデータは、アドレスの遷移に応答して変化するこ
とを特徴とする。
【0024】請求項20に記載したように、前記第6の
ステップで出力されたデータを前記第3のステップで保
持したデータに入れ替える第7のステップを更に具備す
ることを特徴とする。
【0025】請求項1のような構成によれば、暗号キー
データとなるデータのアドレスを最初にアクセスし、保
持手段に保持した状態で読み出しを行わなければ、誤っ
たデータで演算された演算結果が演算手段から出力さ
れ、正しいデータを読み出すことができない。従って、
記憶されているデータを違法な手段でコピーしてもその
データを利用することができず、実質的に記憶データを
違法なコピーから保護できる。
【0026】請求項2に示すように、メモリセルアレイ
中には、暗号キーデータを用いて演算したデータを記憶
するので、メモリセルアレイ中の記憶データは演算処理
前のエンコードされたデータであり、単純にコピーした
だけでは利用できない。
【0027】請求項3に示すように、メモリ空間を複数
の領域に分割し、各領域に異なる暗号キーデータとこれ
ら暗号キーデータを用いてエンコードされたデータを記
憶すれば、全てのメモリ空間を正しくコピーするために
は全ての暗号キーデータをアクセスしなければならず、
よりプロテクト機能を高めることができる。
【0028】請求項4に示すように、上記保持手段への
データの入力は、外部から与えられた制御信号で制御す
れば良い。請求項5に示すように、制御信号を生成する
信号生成手段を設け、データの読み出しを制御する信号
を利用して保持手段へのデータの入力を制御する信号を
生成すれば、制御信号を入力するためのピンが不要とな
り、通常のピン数とピン配列を採用できるので、違法な
コピーを行うものにとって解析が困難になる。
【0029】請求項6に示すように、保持手段に保持さ
れたデータを外部から与えられた信号に応答して増減、
あるいは請求項7に示すように、直前に読み出したデー
タとの演算により変化させれば、暗号キーデータを特定
するための解析が困難となり、より高いプロテクト機能
が得られる。
【0030】請求項8に示すように、保持手段に保持し
たデータを、アドレスの遷移に応答して増減すれば、制
御信号を入力するためのピンが不要となり、通常のピン
数とピン配列を採用できるので、暗号キーデータを特定
するための解析もより困難となる。
【0031】請求項9に示したような構成によれば、暗
号キーデータとなるデータのアドレスを最初にアクセス
し、ラッチ手段にラッチした状態で読み出しを行わなけ
れば、誤ったデータで演算された演算結果が出力され、
正しいデータを読み出すことができない。また、メモリ
セルアレイ中には、暗号キーデータを用いて演算したデ
ータが記憶されるので、メモリセルアレイ中の記憶デー
タは演算処理前のエンコードされたデータであり、単純
にコピーしただけでは利用できない。従って、記憶され
ているデータを違法な手段でコピーしてもそのデータを
利用することができず、実質的に記憶データを違法なコ
ピーから保護できる。
【0032】請求項10に示したような構成によれば、
暗号キーデータとなるデータのアドレスを最初にアクセ
スし、カウンター手段にセットした状態で読み出しを行
わなければ、誤ったデータで演算された演算結果が出力
され、正しいデータを読み出すことができない。しか
も、カウンター手段のカウント値は、制御信号に応答し
て順次インクリメントまたは順次デクリメントするの
で、上記暗号キーデータの特定が困難になる。また、メ
モリセルアレイ中には、暗号キーデータを順次インクリ
メントまたは順次デクリメントしたデータを用いて演算
されたデータが記憶されるので、メモリセルアレイ中の
記憶データは演算処理前のエンコードされたデータであ
り、単純にコピーしただけでは利用できない。従って、
記憶されているデータを違法な手段でコピーしてもその
データを利用することができず、実質的に記憶データを
違法なコピーから保護できる。
【0033】請求項11に示したような構成によれば、
暗号キーデータとなるデータのアドレスを最初にアクセ
スし、レジスター手段に一時記憶した状態で読み出しを
行わなければ、誤ったデータで演算された演算結果が出
力され、正しいデータを読み出すことができない。しか
も、レジスター手段は、データの読み出しを行う度に出
力データで更新されるので、上記暗号キーデータの特定
がより困難になる。また、メモリセルアレイ中には、暗
号キーデータと記憶されるデータとを用いて順次演算さ
れたデータが記憶されるので、メモリセルアレイ中の記
憶データは演算処理前のエンコードされたデータであ
り、単純にコピーしただけでは利用できない。従って、
記憶されているデータを違法な手段でコピーしてもその
データを利用することができず、実質的に記憶データを
違法なコピーから保護できる。
【0034】請求項12に示したような構成によれば、
暗号キーデータとなるデータのアドレスを最初にアクセ
スし、カウンター手段にセットした状態で読み出しを行
わなければ、誤ったデータで演算された演算結果が出力
され、正しいデータを読み出すことができない。しか
も、カウンター手段のカウント値は、アドレス遷移検出
手段によってアドレスの遷移が検出された時に順次イン
クリメントまたは順次デクリメントするので暗号キーデ
ータを特定するための解析が困難である。しかも、制御
信号を入力するためのピンが不要であり、通常のピン数
とピン配列を採用できるので、この点からも解析が困難
である。また、メモリセルアレイ中には、暗号キーデー
タを順次インクリメントまたは順次デクリメントしたデ
ータを用いて演算されたデータが記憶されるので、メモ
リセルアレイ中の記憶データは演算処理前のエンコード
されたデータであり、単純にコピーしただけでは利用で
きない。従って、記憶されているデータを違法な手段で
コピーしてもそのデータを利用することができず、実質
的に記憶データを違法なコピーから保護できる。
【0035】請求項13に示したような構成によれば、
暗号キーデータとなるデータのアドレスを最初にアクセ
スし、レジスター手段に一時記憶した状態で読み出しを
行わなければ、誤ったデータで演算された演算結果が出
力され、正しいデータを読み出すことができない。しか
も、レジスター手段の一時記憶値は、アドレス遷移検出
手段によってアドレスの遷移が検出された時に読み出し
データで更新されるので、暗号キーデータを特定するた
めの解析が困難である。しかも、制御信号を入力するた
めのピンが不要となり、通常のピン数とピン配列を採用
できるので、この点からも解析が困難である。また、メ
モリセルアレイ中には、暗号キーデータをレジスター手
段に一時記憶したデータを用いて順次演算されたデータ
が記憶されるので、メモリセルアレイ中の記憶データは
演算処理前のエンコードされたデータであり、単純にコ
ピーしただけでは利用できない。従って、記憶されてい
るデータを違法な手段でコピーしてもそのデータを利用
することができず、実質的に記憶データを違法なコピー
から保護できる。
【0036】請求項14に示すように、メモリ空間を複
数の領域に分割し、各領域に異なる暗号キーデータとこ
れら暗号キーデータを用いてエンコードされたデータを
記憶すれば、全てのメモリ空間を正しくコピーするため
には全ての暗号キーデータをアクセスしなければなら
ず、よりプロテクト機能を高めることができる。
【0037】請求項15に示すように、暗号キーデータ
として、メモリセルアレイ中に記憶されるデータを利用
すれば、暗号キーデータを記憶することによる記憶容量
の低下を防止でき、且つ違法なコピーを行うものにとっ
て、記憶データの配列からは暗号キーデータの存在が予
測できないので、暗号キーデータの特定がより困難にな
る。
【0038】請求項16のような方法によれば、暗号キ
ーデータが記憶されたメモリセルをアクセスした後、こ
の暗号キーデータを保持した状態で読み出しを行わなけ
れば、誤ったデータで演算された演算結果が読み出しデ
ータとして出力され、正しいデータを読み出すことがで
きない。従って、記憶されているデータを違法な手段で
コピーしてもそのデータを利用することができず、実質
的に記憶データを違法なコピーから保護できる。
【0039】請求項17のような方法によれば、メモリ
セルアレイに記憶されたデータを暗号キーデータとして
アクセスした後、このデータを保持した状態で読み出し
を行わなければ、誤ったデータで演算された演算結果が
読み出しデータとして出力され、正しいデータを読み出
すことができない。また、暗号キーデータを記憶するこ
とによる記憶容量の低下を防止でき、且つ違法なコピー
を行うものにとって、記憶されているデータの配列から
は暗号キーデータの存在が予測できないので、暗号キー
データの特定がより困難になる。従って、記憶されてい
るデータを違法な手段でコピーしてもそのデータを利用
することができず、実質的に記憶データを違法なコピー
から保護できる。
【0040】請求項18に示すように、暗号キーデータ
として保持したデータを外部から入力された制御信号に
応答して増減すれば、暗号キーデータを特定するための
解析が困難となり、より高いプロテクト機能が得られ
る。
【0041】請求項19に示すように、暗号キーデータ
として保持したデータをアドレスの遷移に応答して増減
すれば、暗号キーデータを特定するための解析が困難と
なる。しかも、制御信号を入力するためのピンが不要と
なり、通常のピン数とピン配列を採用できるので、この
点からも解析が困難である。
【0042】請求項20に示すように、出力されたデー
タを保持したデータに入れ替えれば、暗号キーデータを
特定するための解析がより困難となり、高いプロテクト
機能が得られる。
【0043】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。図1は、この発明の第1
の実施の形態に係る半導体記憶装置の概略構成を示すブ
ロック図であり、記憶データがシリアルに読み出される
シリアルアクセスのROMを例に取って示している。図
1において、11はメモリセルアレイで、このメモリセ
ルアレイ11中にはメモリセルがマトリックス状に配置
され、各メモリセルのゲートは行毎にワード線に接続さ
れ、各メモリセルのドレインは列毎にビット線に接続さ
れ、各メモリセルのソースは接地(フローティングの場
合もある)されている。このメモリセルアレイ11に
は、任意のアドレスに暗号キーデータが書き込まれてい
る。また、上記メモリセルアレイ11中には上記暗号キ
ーデータ(ここでは8ビットデータ)によりデコードさ
れるように、予めエンコードされたデータがフォトマス
クを用いて書き込まれている。これらのデータの書き込
みには、拡散層プログラム方式、イオン注入プログラム
方式、及びコンタクトプログラム方式等、いずれの方式
でも適用できる。12はローアドレス信号が入力され、
/RAS信号で制御されるローアドレスバッファ、13
はカラムアドレス信号が入力され、/CAS信号で制御
されるカラムアドレスバッファ、14は上記ローアドレ
スバッファ12から出力されるローアドレス信号をデコ
ードして上記メモリセルアレイ11中のワード線を選択
的に駆動することによりメモリセルのローを選択するロ
ーデコーダ、15は/CAS信号で制御され、上記カラ
ムアドレスバッファ12の出力に応答してカラムアドレ
ス信号を生成するカラムアドレスカウンタ、16は上記
メモリセルアレイ11中のビット線を選択するためのカ
ラム選択ゲート、17は上記カラムアドレスカウンタ1
5から出力されるカラムアドレス信号をデコードし、上
記カラム選択ゲート16を制御してメモリセルのカラム
を選択するカラムデコーダ、18は上記メモリセルアレ
イ11中のメモリセルから読み出されたデータを増幅す
るセンスアンプ、19は/OE信号で制御され、上記セ
ンスアンプ18による増幅信号をデータバスDBを介し
て出力する出力バッファ、20は上記センスアンプ18
の出力信号に対して所定の演算を行い、上記出力バッフ
ァ19に供給する演算回路である。この演算回路20内
にはラッチ回路が設けられており、信号GETKEYが
“H”レベルの時に上記センスアンプ18の出力信号を
このラッチ回路にラッチし、“L”レベルの時には上記
ラッチ回路にラッチされたデータとセンスアンプ20の
出力信号とを演算し、出力バッファ19に供給するよう
になっている。
【0044】次に、上記のような構成において図2のタ
イミングチャートを参照しつつデータの読み出し動作を
説明する。まず、演算回路20に供給される信号GET
KEYを“H”レベルに設定する。次に、/RAS信号
の立ち下がりに応答してローアドレスバッファ12に暗
号キーデータが記憶されているメモリセルアレイ11の
ローアドレスに対応するローアドレス信号をラッチす
る。次に、/CAS信号の立ち上がりに応答してカラム
アドレスバッファ13に暗号キーデータが記憶されてい
るメモリセルアレイ11のカラムアドレスに対応するカ
ラムアドレス信号をラッチする。これによりメモリセル
アレイ11の暗号キーデータが記憶されているアドレス
が選択され、読み出された暗号キーデータが、カラム選
択ゲート16及びセンスアンプ18を介して演算回路2
0中のラッチ回路に供給されてラッチされる。
【0045】次に、信号GETKEYを“L”レベルに
し、今度は本体データの読み出しを開始するローアドレ
スとカラムアドレスを上記と同様に/RAS信号と/C
AS信号の立ち下がりに応答してローアドレスバッファ
12とカラムアドレスバッファ13にそれぞれラッチす
る。そして、ローデコーダ14によってローアドレスを
デコードすることによってワード線を選択して駆動し、
カラムアドレスカウンタ15から出力されるカラムアド
レスをカラムデコーダ17でデコードしてカラム選択ゲ
ート16を制御することによりビット線を選択して充電
する。これによって、メモリセルアレイ11中のメモリ
セルが選択される。
【0046】本体データの読み出しが開始されると、選
択されたメモリセルに記憶されたデータはセンスアンプ
18で増幅され、演算回路20に入力される。この演算
回路20では、入力されたデータと予めラッチされてい
たデータ(暗号キーデータ)との演算を行い、この演算
結果を/OE信号に応答して出力バッファ19からデー
タバスDBに出力する。
【0047】引き続き、/CAS信号の立ち下がりに応
答してカラムアドレスカウンタ15のカウント値を順次
インクリメントすることによりカラムアドレス信号を生
成し、ローデコーダ14で選択されたワード線に接続さ
れているメモリセルから順次記憶データを読み出す。こ
の際にも上記と同様にしてセンスアンプ18の出力信号
にラッチ回路にラッチされているデータを演算し、/O
E信号に応答して演算結果を出力バッファ19からデー
タバスDBに出力する。
【0048】以下、/RAS信号の立ち下がりに応答し
て、読み出しを行う次のローに対応するローアドレス信
号をローアドレスバッファ12に取り込み、上述した動
作と同様な動作を繰り返すことにより、メモリセルアレ
イ11に記憶されているデータを読み出す。
【0049】このような読み出し動作を行うことによ
り、メモリセルアレイ11中に記憶されているデータ
は、暗号キーデータを用いてデコードされ、正常なデー
タとして外部に出力される。
【0050】図3は、上記図1に示した演算回路20の
構成例を示すもので、1ビットを抽出して示している。
この回路は、Pチャネル型MOSトランジスタQ1〜Q
6、Nチャネル型MOSトランジスタQ7〜Q12、及
びインバータINV1〜INV4から構成されている。
センスアンプ18の出力信号は、MOSトランジスタQ
1,Q7からなるトランスファゲートTR1の一端、及
びMOSトランジスタQ2,Q8からなるトランスファ
ゲートTR2の一端にそれぞれ供給される。上記MOS
トランジスタQ1,Q8のゲートには信号GETKEY
が供給され、上記MOSトランジスタQ7,Q2のゲー
トには信号GETKEYをインバータINV1で反転し
た信号が供給される。上記MOSトランジスタQ3,Q
4,Q9,Q10の電流通路は電源Vccと接地点Vss間
に直列接続され、上記MOSトランジスタQ5,Q6,
Q11,Q12の電流通路は電源Vccと接地点Vss間に
直列接続される。上記トランスファゲートTR1の他端
には、インバータINV2の入力端、及びMOSトラン
ジスタQ6,Q11のゲートがそれぞれ接続され、上記
インバータINV2の出力端にはMOSトランジスタQ
4,Q9のゲートが接続されている。また、上記トラン
スファゲートTR2の他端には、MOSトランジスタQ
10,Q5のゲート、インバータINV3の入力端、及
びインバータINV4の出力端がそれぞれ接続されてい
る。上記インバータINV3の出力端と上記インバータ
INV4の入力端は共通接続され、この共通接続点には
MOSトランジスタQ3,Q12のゲートが接続され
る。そして、上記MOSトランジスタQ4,Q9の接続
点とMOSトランジスタQ6,Q11の接続点とが共通
接続され、出力バッファ19の入力端に接続される。
【0051】上記構成において、信号GETKEYが
“H”レベルの時には、トランスファゲートTR2がオ
ンし、トランスファゲートTR1がオフする。これによ
って、センスアンプ18の出力信号は、トランスファゲ
ートTR2を介してインバータINV3,INV4から
なるラッチ回路LAに入力されてラッチされる。一方、
信号GETKEYが“L”レベルの時には、トランスフ
ァゲートTR1がオンし、トランスファゲートTR2が
オフする。よって、センスアンプ18の出力信号は、ト
ランスファゲートTR1及びインバータINV2を介し
てMOSトランジスタQ4,Q9のゲートに供給される
とともに、トランスファゲートTR1を介してMOSト
ランジスタQ6,Q11のゲートに供給される。このと
き、ラッチ回路LAにラッチされていたデータが“1”
の場合、すなわちインバータINV4の出力が“H”レ
ベル、インバータINV3の出力が“L”レベルの場合
には、MOSトランジスタQ3,Q10がオン状態、M
OSトランジスタQ5,Q12がオフ状態となるので、
センスアンプ18の出力信号は、トランスファゲートT
R1、インバータINV2、及びMOSトランジスタQ
4,Q9からなるインバータを介して出力バッファ19
に供給される。これに対し、ラッチ回路LAにラッチさ
れていたデータが“0”の場合、すなわちインバータI
NV3の出力が“H”レベル、インバータINV4の出
力が“L”レベルの場合には、MOSトランジスタQ
3,Q10がオフ状態、MOSトランジスタQ5,Q1
2がオン状態となるので、センスアンプ18の出力信号
は、トランスファゲートTR1及びMOSトランジスタ
Q6,Q11からなるインバータを介して出力バッファ
19に供給される。
【0052】従って、この演算回路20は、ラッチされ
ていたデータが“1”であればそのまま出力し、“0”
であればデータを反転して出力する演算処理を行うこと
になる。
【0053】例えば、図4(a)に示すように、暗号キ
ーデータが“A8h”(hは16進数であることを示
す)である場合、“29h”をプログラムするには、図
4(b)に示すようにメモリセルに暗号キーデータ“A
8h”で逆演算処理したデータである“7Eh”を書き
込めば良いことがわかる。同様に、“A9h”、“5F
h”をプログラムするには、メモリセルに“FEh”、
“28h”をそれぞれ書き込めば良い。
【0054】従来のマスクROMでは、特定のアドレス
からデータを読み出した場合には、必ず記憶したデータ
が出力される。しかし、この発明のマスクROMでは、
メモリセルアレイ11中にはエンコードされたデータが
記憶されているので、単純にコピーを行うとこのデータ
がコピーされるので、コピーしたデータは利用できな
い。また、暗号キーデータを誤って入力した場合(図4
(a)では暗号キーデータとして“82h”を入力した
場合を示す)には、この誤った暗号キーデータとメモリ
セルアレイ11から読み出されたデータとが演算され、
その演算結果が出力されるので、コピーしたデータを利
用することはできない。
【0055】このように、上述した第1の実施の形態の
半導体記憶装置では、まず、メモリセルアレイ11の暗
号キーデータを記憶したアドレスをアクセスし、この暗
号キーデータを演算回路20にラッチしてからデータを
読み出さないと正確なデータが得られない。従って、記
憶されているデータを違法な手段でコピーしてもそのデ
ータを利用することができず、実質的に記憶データを違
法なコピーから保護できる。
【0056】なお、上記第1の実施の形態では、メモリ
セルアレイ11の特定のアドレスに暗号キーデータを書
き込む場合を例にとって説明したが、メモリセルアレイ
11中に記憶されている通常の文字列データや数値列デ
ータを暗号キーデータとして利用しても良い。この場合
には、暗号キーデータを記憶する領域が不要になるので
記憶容量の低下を防止できるとともに、違法なコピーを
行うものにとっては、記憶データの配列から暗号キーデ
ータの存在が予測できないので、暗号キーデータの特定
がより困難になり、プロテクト機能を高めることができ
る。
【0057】図5は、この発明の第2の実施の形態に係
る半導体記憶装置について説明するためのもので、メモ
リセルアレイ11のメモリ空間を示している。この第2
の実施の形態の半導体記憶装置の基本構成は、図1に示
した回路と同様であが、メモリセルアレイ11のメモリ
空間を複数の領域に分割し、これら複数の領域にそれぞ
れ異なる暗号キーデータを割り付けている。すなわち、
アドレス“0000h”から“3FFFh”の領域11
aに暗号キーデータとして“A8h”、アドレス“3F
FFh”から“7FFFh”の領域11bに暗号キーデ
ータとして“82h”、アドレス“7FFFh”から
“AFFFh”の領域11cに暗号キーデータとして
“7Eh”、及びアドレス“AFFFh”から“FFF
Fh”の領域11dに暗号キーデータとして“F0h”
をそれぞれプログラムし、各アドレス領域11a,11
b,11c,11dにそれぞれ対応する暗号キーデータ
によりデコードされるようにエンコードされたデータが
書き込まれている。
【0058】このような構成では、各アドレス領域から
データを読み出す場合には、それぞれ対応した暗号キー
データを入力する必要があり、全てのメモリ空間をコピ
ーするためには全ての暗号キーデータを解析しなければ
ならず、暗号キーデータの解析はより困難になる。
【0059】なお、この第2の実施の形態のようにメモ
リ空間を複数の領域に分割する場合でも、上述した第1
の実施の形態で説明したように暗号キーデータとしてメ
モリセルアレイ中に記憶されている通常の文字列データ
や数値列データを利用できるのは勿論である。
【0060】図6は、この発明の第3の実施の形態に係
る半導体記憶装置について説明するためのもので、記憶
データの読み出し動作を示すタイミングチャートであ
る。上記第1,第2の実施の形態では、演算回路20の
動作を制御するための信号GETKEYを外部から入力
したのに対し、この第3の実施の形態では、信号GET
KEYをチップの内部の信号を利用して生成するように
している。すなわち、この例では、/RAS信号を連続
して2回入力(“L”レベルに設定)したときに、暗号
キーアドレスの入力と定義している。
【0061】このように、データの読み出しを制御する
ための信号(ここでは/RAS信号)を利用して演算回
路20内に設けたラッチ回路への暗号キーデータのラッ
チと演算を制御すれば、信号GETKEYを入力するた
めのピンが不要となり、通常のピン数とピン配列を採用
できるので、違法なコピーを行うものにとって解析が困
難になる。
【0062】図7は、上記図6のタイミングチャートに
示したような読み出し動作を実現するための信号GET
KEYの生成回路の構成例を示している。図7におい
て、21,22はD型フリップフロップ回路、23はパ
ルス信号生成回路で、このパルス信号生成回路23は、
遅延回路24、ナンドゲート25及びインバータ26−
1,26−2から構成され、/CAS信号に応答して上
記フリップフロップ回路21,22をリセットするよう
になっている。上記フリップフロップ回路21のクロッ
ク入力端CLKには/RAS信号が供給され、データ入
力端Dには当該フリップフロップ回路21の出力端/Q
が接続される。また、フリップフロップ回路21の出力
端Qにはフリップフロップ回路22のクロック入力端C
LKが接続されている。フリップフロップ回路22のデ
ータ入力端Dには当該フリップフロップ回路22の出力
端/Qが接続され、このフリップフロップ回路22のデ
ータ出力端Qから信号GETKEYを出力するようにな
っている。
【0063】一方、/CAS信号は、遅延回路24の入
力端及びナンドゲート25の一方の入力端に供給され
る。上記ナンドゲート25の他方の入力端には、上記遅
延回路24の出力信号がインバータ26−1を介して供
給され、このナンドゲート25の出力信号がインバータ
26−2を介して各フリップフロップ回路21,22の
リセット入力端Rに供給される。
【0064】図8は、上記図7に示した回路におけるフ
リップフロップ回路21,22の構成例を示している。
このフリップフロップ回路は、インバータ27〜32、
トランスファゲート33〜36、及びノアゲート37,
38等から構成されている。クロック入力端CLKに
は、インバータ27の入力端が接続され、このインバー
タ27の出力端はインバータ28の入力端、トランスフ
ァゲート33,36を構成するPチャネル型MOSトラ
ンジスタのゲート、及びトランスファゲート34,35
を構成するNチャネル型MOSトランジスタのゲートに
それぞれ接続される。また、上記インバータ28の出力
端は、トランスファゲート33,36を構成するNチャ
ネル型MOSトランジスタのゲート、及びトランスファ
ゲート34,35を構成するPチャネル型MOSトラン
ジスタのゲートにそれぞれ接続される。上記トランスフ
ァゲート33〜36は直列接続され、トランスファゲー
ト33の一端にデータ入力端Dが接続される。トランス
ファゲート36の一端はインバータ29の入力端に接続
され、このインバータ29の出力端は出力端/Q、及び
インバータ30の入力端にそれぞれ接続される。このイ
ンバータ30の出力端は出力端Qに接続されている。
【0065】また、インバータ31の入力端は、トラン
スファゲート33,34の接続点に接続され、出力端は
ノアゲート37の一方の入力端に接続される。上記ノア
ゲート37の他方の入力端はリセット入力端Rに接続さ
れ、出力端はトランスファゲート34,35の接続点に
接続される。インバータ32の入力端は、トランスファ
ゲート35,36の接続点に接続され、出力端はノアゲ
ート38の一方の入力端に接続される。上記ノアゲート
38の他方の入力端はリセット入力端Rに接続され、出
力端は上記インバータ29の入力端に接続される。
【0066】上記のような構成において、図9のタイミ
ングチャートに示すように、/RAS信号が“L”レベ
ルに立ち下がると、フリップフロップ回路21がセット
され、このフリップフロップ回路21の出力信号QAが
“H”レベルとなり、フリップフロップ回路22のクロ
ック入力端CLKに供給される。所定時間後、/RAS
信号が“H”レベルに立上がり、再び/RAS信号が
“L”レベルに立ち下がると、フリップフロップ回路2
1の出力信号QAが“L”レベルとなり、フリップフロ
ップ回路22がセットされて信号GETKEYが“H”
レベルとなる。
【0067】これによって、演算回路20のラッチ回路
に暗号キーデータがラッチ可能となるので、この暗号キ
ーデータが記憶されたメモリセルアレイ11のアドレス
に対応するローアドレス信号及びカラムアドレス信号を
入力して暗号キーデータをラッチする。
【0068】その後、/CAS信号が“L”レベルに立
ち下がると、パルス信号生成回路23からパルス信号が
出力され、フリップフロップ回路21,22がリセット
され、信号GETKEYが“L”レベルとなる。この状
態で本体データの読み出しの準備が整い、メモリセルア
レイ11をアクセスしてデータを読み出す。
【0069】このような構成によれば、信号GETKE
Yを入力するための外部パッドが不要となるので、従来
の半導体記憶装置とパッド数やパッドの配置が同じにで
き、違法なコピーを行う者にとってより解析が困難にな
る。
【0070】図10は、この発明の第4の実施の形態に
係る半導体記憶装置を示すブロック図である。この回路
は、上記図1に示した回路における演算回路20に代え
て演算回路20´を設けるとともにカウンター39を設
けたものである。演算回路20´内にはラッチ回路が設
けられておらず、ラッチ回路に代えてカウンター39が
同様な作用を行うようになっている。すなわち、上記カ
ウンター39には、本体データの読み出しに先だって、
上述した各実施の形態と同様な動作で暗号キーデータが
予めセットされ、このカウンター39のカウント値とセ
ンスアンプ18の出力とが演算回路20´で演算され、
演算結果が出力バッファ19からデータバスDBに出力
されるようになっている。また、このカウンター39
は、読み出しのための制御信号(図10では/CAS信
号)により、順次インクリメントあるいは順次デクリメ
ントされる。
【0071】上記メモリセルアレイ11中には、暗号キ
ーデータ(本体データの一部を利用しても良い)及びこ
の暗号キーデータを順次インクリメントまたは順次デク
リメントしたデータを用いて演算されたエンコードされ
たデータが記憶されており、演算回路20´で演算する
ことによってデコードされるようになっている。
【0072】このような構成によれば、カウンター39
のカウント値が/CAS信号に応答して順次インクリメ
ントまたは順次デクリメントされ、暗号キーデータが/
CAS信号に応答して変化することになるので、暗号キ
ーデータを特定する解析はより困難になる。
【0073】図11は、この発明の第5の実施の形態に
係る半導体記憶装置を示すブロック図である。この回路
は、上記図1に示した回路における演算回路20に代え
て演算回路20´を設けるとともに、レジスター40を
設けたものである。演算回路20´にはラッチ回路が設
けられておらず、ラッチ回路に代えてレジスター40が
同様な作用を行うようになっている。上記レジスター4
0には、データの読み出しに先だって、上述した各実施
の形態と同様な動作で暗号キーデータが一時記憶され、
このレジスター40の一時記憶値とセンスアンプ18の
出力信号とが演算回路20´で演算され、演算結果が出
力バッファ19からデータバスDBに出力されるととも
に、レジスター40に再び一時記憶されるようになって
いる。
【0074】上記メモリセルアレイ11中には、暗号キ
ーデータ(本体データの一部を利用しても良い)及びこ
の暗号キーデータと記憶されるデータとを用いて順次演
算されたエンコードデータが記憶されており、演算回路
20´によってデコードされるようになっている。
【0075】このような構成では、データの読み出しを
行う度にレジスター40に一時記憶された暗号キーデー
タが更新されて変化するので、暗号キーデータを特定す
る解析はより困難になる。
【0076】図12は、この発明の第6の実施の形態に
係る半導体記憶装置について説明するためのもので、こ
の発明をランダムにアクセスされるROMに適用したも
のである。図12において、前記図1に対応する部分に
は同一の符号を付している。ランダムアクセスのROM
では、カラムアドレス信号がアドレスバスABを介して
外部から入力されるので、カラムアドレスカウンタ15
は不要となる。
【0077】図13のタイミングチャートに示すよう
に、まず信号GETKEYを“H”レベルに設定し、/
CE信号を“L”レベルに設定して、暗号キーデータが
記憶されたアドレスをアクセスし、演算回路20内に設
けたラッチ回路にこの暗号キーデータをラッチする。そ
の後、本体メモリセルの読み出し動作を開始し、/CE
信号の立ち下がりに応答してローアドレスとカラムアド
レスを入力し、メモリセルアレイ11中の選択されたメ
モリセルからセンスアンプ18にデータを読み出す。そ
して、センスアンプ18の出力信号とラッチした暗号キ
ーデータを演算回路で演算し、/OE信号の立ち下がり
に応答して出力バッファ19からデータDoutを出力
する。
【0078】こような構成によれば、暗号キーデータと
なるデータのアドレスを最初にアクセスし、ラッチ回路
にラッチした状態で読み出しを行わなければ、誤ったデ
ータで演算された演算結果が出力され、正しいデータを
読み出すことができない。また、メモリセルアレイ11
中には、暗号キーデータを用いて演算したデータが記憶
されているので、メモリセルアレイ11中の記憶データ
は演算処理前のエンコードされたデータであり、単純に
コピーしただけでは利用できない。
【0079】従って、ランダムアクセスのROMであっ
ても、上述した第1ないし第5の実施の形態で説明した
シリアルアクセスのROMと同様な高いプロテクト機能
が得られる。
【0080】図14は、この発明の第7の実施の形態に
係る半導体記憶装置を示すブロック図である。この回路
はランダムにアクセスされるROMであり、上記図12
に示した回路にカウンター39とATDパルス発生器4
1を設けている。カウンター39には、通常のデータの
読み出しに先だって、メモリセルアレイ11中に記憶さ
れている暗号キーデータがセットされる。上記ATDパ
ルス発生器41は、アドレスの遷移を検出してパルス信
号を出力するもので、カラムアドレスバッファ13の出
力信号を受け、上記カウンター39にセットされたカウ
ント値を順次インクリメントあるいは順次デクリメント
させるようになっている。
【0081】このような構成によれば、ATDパルス発
生器41によってアドレスの遷移が検出される度にカウ
ンター39にセットされた暗号キーデータが増減するこ
とになるので、暗号キーデータを特定する解析はより困
難になる。しかも、制御信号を入力するためのピンが不
要であり、通常のピン数とピン配列を採用できるので、
この点からも解析を困難にできる。
【0082】図15は、この発明の第8の実施の形態に
係る半導体記憶装置を示すブロック図である。この回路
はランダムにアクセスされるROMであり、上記図12
に示した回路にレジスター40とATDパルス発生器4
1を設けている。上記レジスター40には、データの読
み出しに先だって、上述した各実施の形態と同様な動作
で暗号キーデータが一時記憶され、このレジスター40
の一時記憶値とセンスアンプ18の出力信号とが演算回
路20´で演算され、演算結果が出力バッファ19から
出力されるとともに、ATDパルス発生器41によって
アドレスの遷移が検出された時に、上記出力バッファ1
9の出力信号がレジスター40に再び一時記憶されるよ
うになっている。
【0083】このような構成によれば、アドレスの遷移
が検出される度にレジスター40に一時記憶された暗号
キーデータが更新されて変化するので、暗号キーデータ
を特定する解析は困難である。しかも、制御信号を入力
するためのピンが不要であり、通常のピン数とピン配列
を採用できるので、この点からも解析を困難にできる。
【0084】なお、この発明は上述した各実施の形態に
限定されるものではなく、要旨を逸脱しない範囲で種々
変形して実施することが可能である。例えば、第2の実
施の形態で説明したようにメモリ空間を複数に分割し、
それぞれに異なる暗号キーデータを付与する構成は、第
3ないし第8の実施の形態の構成にも適用可能である。
また、上記各実施の形態ではマスクROMを例にとって
説明したが、他のROMやSRAM、DRAM等にも同
様にして応用できる。
【0085】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、記憶されているデータを違法な手段でコピーしても
そのデータを利用することができず、実質的に記憶デー
タを違法なコピーから保護できる半導体記憶装置及びそ
のアクセス方法が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の形態に係る半導体記憶装置の
概略構成を示すブロック図。
【図2】図1に示した半導体記憶装置のデータ読み出し
動作について説明するためのタイミングチャート。
【図3】図1に示した回路における演算回路の構成例に
ついて説明するためのもので、1ビットを抽出して示す
回路図。
【図4】図3に示した演算回路による演算の一例、及び
プログラムデータの生成方法について説明するための
図。
【図5】この発明の第2の実施の形態に係る半導体記憶
装置について説明するためのもので、メモリセルアレイ
のアドレス空間を示す図。
【図6】この発明の第3の実施の形態に係る半導体記憶
装置について説明するためのもので、データの読み出し
動作について説明するためのタイミングチャート。
【図7】図6に示したデータの読み出し動作を実現する
ための信号生成回路の構成例を示す回路図。
【図8】図7に示した回路におけるフリップフロップ回
路の構成例を示す回路図。
【図9】図7及び図8に示した回路の動作について説明
するためのタイミングチャート。
【図10】この発明の第4の実施の形態に係る半導体記
憶装置を示すブロック図。
【図11】この発明の第5の実施の形態に係る半導体記
憶装置を示すブロック図。
【図12】この発明の第6の実施の形態に係る半導体記
憶装置について説明するためのもので、この発明をラン
ダムアクセスのROMに適用する場合のブロック図。
【図13】図12に示した回路の動作を説明するための
タイミングチャート。
【図14】この発明の第7の実施の形態に係る半導体記
憶装置を示すブロック図。
【図15】この発明の第8の実施の形態に係る半導体記
憶装置を示すブロック図。
【図16】従来の半導体記憶装置について説明するため
のもので、マスクROMの概略構成を示すブロック図。
【符号の説明】
11…メモリセルアレイ、12…ローアドレスバッフ
ァ、13…カラムアドレスバッファ、14…ローデコー
ダ、15…カラムアドレスカウンタ、16…カラム選択
ゲート、17…カラムデコーダ、18…センスアンプ、
19…出力バッファ、20,20´…演算回路、39…
カウンター、40…レジスター、41…ATDパルス発
生器、LA…ラッチ回路。

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メモリセルがマトリックス状に配置され
    たメモリセルアレイと、前記メモリセルアレイ中のメモ
    リセルの行を選択する行選択手段と、前記メモリセルア
    レイ中のメモリセルの列を指定する列指定手段と、前記
    行選択手段と前記列指定手段とにより選択されたメモリ
    セルの記憶データを判定するためのセンスアンプ手段
    と、前記センスアンプ手段から出力されるデータを保持
    する保持手段と、前記保持手段に保持したデータと前記
    センスアンプ手段から出力されるデータとを演算する演
    算手段とを具備し、前記行選択手段と前記列指定手段で
    選択されたメモリセルから読み出したデータを暗号キー
    データとして前記保持手段に保持した後、前記保持手段
    に保持したデータと前記センスアンプ手段から出力され
    るデータとを演算手段で演算し、演算結果を読み出しデ
    ータとして出力することを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 前記メモリセルには、前記演算手段によ
    る演算によってデコードされるように、前記保持手段に
    保持したデータでエンコードされたデータが記憶される
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 前記メモリセルアレイのメモリ空間は、
    複数の領域に分割され、各領域に異なる暗号キーデータ
    が記憶されるとともに、前記演算手段による演算によっ
    てデコードされるように、対応する暗号キーデータを用
    いてエンコードされたデータが記憶されることを特徴と
    する請求項1に記載の半導体記憶装置。
  4. 【請求項4】 前記保持手段へのデータの入力は、外部
    から与えられた制御信号に応答して行われることを特徴
    とする請求項1ないし3いずれか1つの項に記載の半導
    体記憶装置。
  5. 【請求項5】 前記メモリセルからのデータの読み出し
    を制御する信号が複数回連続して入力された時に制御信
    号を生成する信号生成手段を更に備え、前記保持手段へ
    のデータの入力は、前記信号生成手段で生成された制御
    信号に応答して行われることを特徴とする請求項1ない
    し3いずれか1つの項に記載の半導体記憶装置。
  6. 【請求項6】 前記保持手段に保持されたデータは、外
    部から与えられた信号に応答して増減し、前記メモリセ
    ルには、前記演算手段による演算によってデコードされ
    るように、前記保持手段に保持された増減するデータで
    エンコードされたデータが記憶されることを特徴とする
    請求項1に記載の半導体記憶装置。
  7. 【請求項7】 前記保持手段に保持されたデータは、直
    前に読み出したデータとの演算により変化し、前記メモ
    リセルには、前記演算手段による演算によってデコード
    されるように、前記保持手段に保持した変化するデータ
    でエンコードされたデータが記憶されることを特徴とす
    る請求項1に記載の半導体記憶装置。
  8. 【請求項8】 前記保持手段に保持されたデータは、ア
    ドレスの遷移に応答して増減し、前記メモリセルには、
    前記演算手段による演算によってデコードされるよう
    に、前記保持手段に保持した増減するデータでエンコー
    ドされたデータが記憶されることを特徴とする請求項1
    に記載の半導体記憶装置。
  9. 【請求項9】 メモリセルがマトリックス状に配置さ
    れ、暗号キーデータ及びこの暗号キーデータを用いて演
    算されたデータが記憶されるメモリセルアレイと、前記
    メモリセルアレイ中のメモリセルのゲートが行毎にそれ
    ぞれ接続されるワード線と、前記メモリセルアレイ中の
    メモリセルのドレインが列毎にそれぞれ接続されるビッ
    ト線と、前記ワード線を選択するワード線選択手段と、
    前記ビット線を選択するビット線選択手段と、前記ワー
    ド線選択手段と前記ビット線選択手段とで選択されたメ
    モリセルから読み出されたデータを増幅するセンスアン
    プ手段と、制御信号に応答して前記センスアンプ手段か
    ら出力されたデータをラッチするラッチ手段と、前記制
    御信号に応答して前記ラッチ手段にラッチされたデータ
    と前記センスアンプ手段から出力されたデータとを演算
    する演算手段と、前記演算手段による演算結果を出力す
    る出力手段とを具備し、 前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段で、前記
    メモリセルアレイ中の前記暗号キーデータが記憶された
    メモリセルのアドレスを選択し、前記センスアンプ手段
    から出力された暗号キーデータを前記ラッチ手段にラッ
    チし、 その後、前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段
    で、前記メモリセルアレイ中のメモリセルのアドレスを
    選択し、前記演算手段によって前記センスアンプ手段か
    ら出力されたデータと前記ラッチ手段にラッチされた暗
    号キーデータとを演算し、この演算結果を前記出力手段
    から読み出しデータとして出力することを特徴とする半
    導体記憶装置。
  10. 【請求項10】 メモリセルがマトリックス状に配置さ
    れ、暗号キーデータ及びこの暗号キーデータを順次イン
    クリメントまたは順次デクリメントしたデータを用いて
    演算されたデータが記憶されるメモリセルアレイと、前
    記メモリセルアレイ中のメモリセルのゲートが行毎にそ
    れぞれ接続されるワード線と、前記メモリセルアレイ中
    のメモリセルのドレインが列毎にそれぞれ接続されるビ
    ット線と、前記ワード線を選択するワード線選択手段
    と、前記ビット線を選択するビット線選択手段と、前記
    ワード線選択手段と前記ビット線選択手段とで選択され
    たメモリセルから読み出されたデータを増幅するセンス
    アンプ手段と、制御信号に応答して前記センスアンプ手
    段から出力されたデータがセットされ、この制御信号に
    応答して順次インクリメントまたは順次デクリメントさ
    れるカウンター手段と、前記制御信号に応答して前記カ
    ウンター手段のカウント値と前記センスアンプ手段から
    出力されたデータとを演算する演算手段と、前記演算手
    段による演算結果を出力する出力手段とを具備し、 前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段で、前記
    メモリセルアレイ中の前記暗号キーデータが記憶された
    メモリセルのアドレスを選択し、前記センスアンプ手段
    から出力された暗号キーデータを前記カウンター手段に
    セットし、 その後、前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段
    で、前記メモリセルアレイ中のメモリセルのアドレスを
    選択し、前記演算手段によって前記センスアンプ手段か
    ら出力されたデータと前記カウンター手段のカウント値
    とを演算し、この演算結果を前記出力手段から読み出し
    データとして出力することを特徴とする半導体記憶装
    置。
  11. 【請求項11】 メモリセルがマトリックス状に配置さ
    れ、暗号キーデータ及びこの暗号キーデータと記憶され
    るデータとを用いて順次演算されたデータが記憶される
    メモリセルアレイと、前記メモリセルアレイ中のメモリ
    セルのゲートが行毎にそれぞれ接続されるワード線と、
    前記メモリセルアレイ中のメモリセルのドレインが列毎
    にそれぞれ接続されるビット線と、前記ワード線を選択
    するワード線選択手段と、前記ビット線を選択するビッ
    ト線選択手段と、前記ワード線選択手段と前記ビット線
    選択手段とで選択されたメモリセルから読み出されたデ
    ータを増幅するセンスアンプ手段と、前記センスアンプ
    手段の出力信号が供給される演算手段と、前記演算手段
    の演算結果を出力する出力手段と、前記出力手段の出力
    データを一時記憶し、前記演算手段に供給するレジスタ
    ー手段とを具備し、 前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段で、前記
    メモリセルアレイ中の前記暗号キーデータが記憶された
    メモリセルのアドレスを選択し、前記センスアンプ手段
    から出力された暗号キーデータを前記レジスター手段に
    一時記憶し、 その後、前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段
    で、前記メモリセルアレイ中のメモリセルのアドレスを
    選択し、前記演算手段によって前記センスアンプ手段か
    ら出力されたデータと前記レジスター手段に一時記憶し
    たデータとを演算し、この演算結果を前記出力手段から
    読み出しデータとして出力するとともに、前記レジスタ
    ー手段に一時記憶することを特徴とする半導体記憶装
    置。
  12. 【請求項12】 メモリセルがマトリックス状に配置さ
    れ、暗号キーデータ及びこの暗号キーデータを順次イン
    クリメントまたは順次デクリメントしたデータを用いて
    演算されたデータが記憶されるメモリセルアレイと、前
    記メモリセルアレイ中のメモリセルのゲートが行毎にそ
    れぞれ接続されるワード線と、前記メモリセルアレイ中
    のメモリセルのドレインが列毎にそれぞれ接続されるビ
    ット線と、前記ワード線を選択するワード線選択手段
    と、前記ビット線を選択するビット線選択手段と、前記
    ワード線選択手段と前記ビット線選択手段とで選択され
    たメモリセルから読み出されたデータを増幅するセンス
    アンプ手段と、前記センスアンプ手段の出力信号が供給
    される演算手段と、前記演算手段の演算結果を出力する
    出力手段と、アドレスの遷移を検出するアドレス遷移検
    出手段と、前記アドレス遷移検出手段によってアドレス
    の遷移が検出された時に順次インクリメントまたは順次
    デクリメントされ、カウント値を前記演算手段に供給す
    るカウンター手段とを具備し、 前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段で、前記
    メモリセルアレイ中の前記暗号キーデータが記憶された
    メモリセルのアドレスを選択し、前記センスアンプ手段
    から出力された暗号キーデータを前記カウンター手段に
    セットし、 その後、前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段
    で、前記メモリセルアレイ中のメモリセルのアドレスを
    選択し、前記演算手段によって前記センスアンプ手段か
    ら出力されたデータと前記カウンター手段のカウント値
    とを演算し、この演算結果を前記出力手段から読み出し
    データとして出力することを特徴とする半導体記憶装
    置。
  13. 【請求項13】 メモリセルがマトリックス状に配置さ
    れ、暗号キーデータ及びこの暗号キーデータを用いて演
    算されたデータが記憶されるメモリセルアレイと、前記
    メモリセルアレイ中のメモリセルのゲートが行毎にそれ
    ぞれ接続されるワード線と、前記メモリセルアレイ中の
    メモリセルのドレインが列毎にそれぞれ接続されるビッ
    ト線と、前記ワード線を選択するワード線選択手段と、
    前記ビット線を選択するビット線選択手段と、前記ワー
    ド線選択手段と前記ビット線選択手段とで選択されたメ
    モリセルから読み出されたデータを増幅するセンスアン
    プ手段と、前記センスアンプ手段の出力信号が供給され
    る演算手段と、前記演算手段の演算結果を出力する出力
    手段と、アドレスの遷移を検出するアドレス遷移検出手
    段と、前記アドレス遷移検出手段によってアドレスの遷
    移が検出された時に前記出力手段の出力データを一時記
    憶するレジスター手段とを具備し、 前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段で、前記
    メモリセルアレイ中の前記暗号キーデータが記憶された
    メモリセルのアドレスを選択し、前記センスアンプ手段
    から出力された暗号キーデータを前記レジスター手段に
    一時記憶し、 その後、前記ワード線選択手段と前記ビット線選択手段
    で、前記メモリセルアレイ中のメモリセルのアドレスを
    選択し、前記演算手段によって前記センスアンプ手段か
    ら出力されたデータと前記レジスター手段に一時記憶し
    たデータとを演算し、この演算結果を前記出力手段から
    読み出しデータとして出力するとともに、前記レジスタ
    ー手段に供給して一時記憶することを特徴とする半導体
    記憶装置。
  14. 【請求項14】 前記メモリセルアレイのメモリ空間
    は、複数の領域に分割され、各々の領域に異なる暗号キ
    ーデータが割り付けて記憶され、各々の領域に対応する
    暗号キーデータを用いて演算されたデータが記憶される
    ことを特徴とする請求項9ないし13いずれか1つの項
    に記載の半導体記憶装置。
  15. 【請求項15】 前記暗号キーデータとして、前記メモ
    リセルアレイ中に記憶されるデータを利用することを特
    徴とする請求項1ないし14いずれか1つの項に記載の
    半導体記憶装置。
  16. 【請求項16】 メモリセルアレイ中に暗号キーデータ
    及びこの暗号キーデータを用いて演算されたデータを記
    憶する第1のステップと、前記メモリセルアレイの暗号
    キーデータが記憶されたアドレスをアクセスする第2の
    ステップと、読み出された暗号キーデータを保持する第
    3のステップと、前記メモリセルアレイをアクセスして
    データを読み出す第4のステップと、前記第3のステッ
    プで保持した暗号キーデータと前記第4のステップで読
    み出したデータとを演算する第5のステップと、前記第
    5のステップの演算結果をメモリセルからの読み出しデ
    ータとして出力する第6のステップとを具備することを
    特徴とする半導体記憶装置のアクセス方法。
  17. 【請求項17】 メモリセルアレイ中にエンコードした
    データを記憶する第1のステップと、前記メモリセルア
    レイに記憶されたデータのアドレスを暗号キーデータと
    してアクセスする第2のステップと、読み出されたデー
    タを保持する第3のステップと、前記メモリセルアレイ
    をアクセスしてデータを読み出す第4のステップと、前
    記第3のステップで保持したデータと前記第4のステッ
    プで読み出したデータとを演算する第5のステップと、
    前記第5のステップの演算結果をメモリセルからの読み
    出しデータとして出力する第6のステップとを具備する
    ことを特徴とする半導体記憶装置のアクセス方法。
  18. 【請求項18】 前記第3のステップで保持したデータ
    は、外部から入力された制御信号に応答して変化するこ
    とを特徴とする請求項16または17に記載の半導体記
    憶装置のアクセス方法。
  19. 【請求項19】 前記第3のステップで保持したデータ
    は、アドレスの遷移に応答して変化することを特徴とす
    る請求項16または17に記載の半導体記憶装置のアク
    セス方法。
  20. 【請求項20】 前記第6のステップで出力されたデー
    タを前記第3のステップで保持したデータに入れ替える
    第7のステップを更に具備することを特徴とする請求項
    16ないし19いずれか1つの項に記載の半導体記憶装
    置のアクセス方法。
JP12574696A 1996-05-21 1996-05-21 半導体記憶装置及びそのアクセス方法 Withdrawn JPH09312099A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12574696A JPH09312099A (ja) 1996-05-21 1996-05-21 半導体記憶装置及びそのアクセス方法
US08/859,682 US6014443A (en) 1996-05-21 1997-05-20 Semiconductor memory device having copy protect function and method for accessing the same
KR1019970019757A KR970076809A (ko) 1996-05-21 1997-05-21 반도체기억장치 및 그 억세스방법
TW086106937A TW384539B (en) 1996-05-21 1997-05-21 Semiconductor memory device having copy dsta protect function and method for accessing the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12574696A JPH09312099A (ja) 1996-05-21 1996-05-21 半導体記憶装置及びそのアクセス方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09312099A true JPH09312099A (ja) 1997-12-02

Family

ID=14917786

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12574696A Withdrawn JPH09312099A (ja) 1996-05-21 1996-05-21 半導体記憶装置及びそのアクセス方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6014443A (ja)
JP (1) JPH09312099A (ja)
KR (1) KR970076809A (ja)
TW (1) TW384539B (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999030250A1 (fr) * 1997-12-10 1999-06-17 Seiko Epson Corporation Systeme informatique, systeme cryptographique, circuit systeme lsi, et appareil electronique
EP0924600B1 (fr) * 1997-12-15 2003-03-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. Appareil électronique comportant un dispositif de protection pour une mémoire et procédé pour protéger des données dans une mémoire
JP2002132585A (ja) * 2000-10-20 2002-05-10 Sony Corp 情報記録装置、情報再生装置、情報記録媒体、および情報記録方法、情報再生方法、並びにプログラム提供媒体
DE10124139A1 (de) * 2001-05-17 2002-11-21 Philips Corp Intellectual Pty Verfahren und Vorrichtung zur Sicherung der Datenübertragung zwischen einem Zentralprozessor und einem Speicher
US6686595B2 (en) 2002-06-26 2004-02-03 Semequip Inc. Electron impact ion source
US7822993B2 (en) * 2004-08-27 2010-10-26 Microsoft Corporation System and method for using address bits to affect encryption
US7734926B2 (en) * 2004-08-27 2010-06-08 Microsoft Corporation System and method for applying security to memory reads and writes
KR101194838B1 (ko) * 2006-01-20 2012-10-25 삼성전자주식회사 하이 시큐리티 마스크 롬 및 이의 마스크 롬 데이터스크램블/디스크램블 방법
US7590600B2 (en) * 2006-03-28 2009-09-15 Microsoft Corporation Self-contained rights management for non-volatile memory
JP5076539B2 (ja) * 2007-02-16 2012-11-21 富士通株式会社 符号化装置および符号化方法
US20090067625A1 (en) * 2007-09-07 2009-03-12 Aceurity, Inc. Method for protection of digital rights at points of vulnerability in real time
GB2487723A (en) * 2011-01-26 2012-08-08 Nds Ltd Protection device for stored data values comprising a switching circuit
KR20140020057A (ko) * 2012-08-07 2014-02-18 삼성전자주식회사 키 제어 로직을 포함하는 플래시 메모리 장치 및 그것의 암호화 키 저장 방법
CN105632543B (zh) * 2014-11-21 2018-03-30 松下知识产权经营株式会社 具有防篡改性的非易失性存储装置及集成电路卡
KR20220111591A (ko) 2021-02-02 2022-08-09 에스케이하이닉스 주식회사 메모리장치

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60177498A (ja) * 1984-02-23 1985-09-11 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
SG52302A1 (en) * 1993-03-20 1998-09-28 Mot0Rola Inc Data storage device
US5890199A (en) * 1996-10-21 1999-03-30 Ramtron International Corporation Data processor incorporating a ferroelectric memory array selectably configurable as read/write and read only memory

Also Published As

Publication number Publication date
KR970076809A (ko) 1997-12-12
US6014443A (en) 2000-01-11
TW384539B (en) 2000-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0283238B1 (en) Non-volatile memory
JP4188645B2 (ja) 不揮発性半導体メモリ装置
TW381267B (en) Non-volatile semiconductor memory elements having single-bit and multi-bit memory cells
JP5291001B2 (ja) ページ消去機能におけるアドレス変化検出によるデコーディング制御
JPH09312099A (ja) 半導体記憶装置及びそのアクセス方法
JP4079552B2 (ja) 不正コピーを防止した不揮発性半導体メモリ
JP3606408B2 (ja) 不揮発性半導体メモリのセンスアンプ
US7251186B1 (en) Multi-port memory utilizing an array of single-port memory cells
KR101799905B1 (ko) 메모리를 이용한 물리적 복제 불가능 함수 보안 칩
JP3153155B2 (ja) 半導体メモリ
KR100482998B1 (ko) 불휘발성 강유전체 메모리 제어 장치
JPH03204053A (ja) 読出し専用メモリ
JP3071435B2 (ja) 多ビット一致回路
JP3838401B2 (ja) 不揮発性メモリ及びシステム
JPS6325748A (ja) 電子回路の制御方法およびこの制御方法を実施するための回路
JPH06215590A (ja) フラッシュ消去型不揮発性メモリ
JPH0474240A (ja) 半導体メモリ
JP3810378B2 (ja) 不揮発性半導体記憶装置及びその機密保護方法
US6845040B2 (en) Nonvolatile memory
EP0268288A2 (en) Semiconductor memory device
TWI721770B (zh) 記憶體裝置及復位記憶體裝置的方法
JPS62236054A (ja) 半導体記憶装置
JPH0877076A (ja) 不揮発性メモリ
JP3105872B2 (ja) ベリファイ装置およびベリファイ方法
JPH0729384A (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20030805