JPH09288803A - 磁気ディスク記録装置の記録電流制御回路とその最適化方法 - Google Patents
磁気ディスク記録装置の記録電流制御回路とその最適化方法Info
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- JPH09288803A JPH09288803A JP8343102A JP34310296A JPH09288803A JP H09288803 A JPH09288803 A JP H09288803A JP 8343102 A JP8343102 A JP 8343102A JP 34310296 A JP34310296 A JP 34310296A JP H09288803 A JPH09288803 A JP H09288803A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ハードウェアを変更せず、それぞれのヘッド
やディスク特性に合うように記録電流を最適な状態に適
応的に設定及び制御して読出し／記録動作時の誤りが減
少させ得る記録電流制御回路及びその最適化方法を提供
する。 【解決手段】 本発明の回路は、予め設定された記録電
流制御値に対応するデューティを有するＰＷＭ信号によ
り記録電流を調整し、記録電流制御値をＰＷＭ信号によ
り一定な範囲内で段階的に増加させつつ、各段階ごとに
一定な回数だけ読出し試験を行い、それに従う誤りの発
生回数に基づいて最適の記録電流制御値を設定する。
やディスク特性に合うように記録電流を最適な状態に適
応的に設定及び制御して読出し／記録動作時の誤りが減
少させ得る記録電流制御回路及びその最適化方法を提供
する。 【解決手段】 本発明の回路は、予め設定された記録電
流制御値に対応するデューティを有するＰＷＭ信号によ
り記録電流を調整し、記録電流制御値をＰＷＭ信号によ
り一定な範囲内で段階的に増加させつつ、各段階ごとに
一定な回数だけ読出し試験を行い、それに従う誤りの発
生回数に基づいて最適の記録電流制御値を設定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク記録
(magnetic disk recording) 装置に関し、特に、磁気デ
ィスク上へのデータ記録(write) 時にヘッド（またはデ
ータトランスデューサ）に印加される記録電流(write c
urrent) を制御する記録電流制御回路及び方法に関す
る。
(magnetic disk recording) 装置に関し、特に、磁気デ
ィスク上へのデータ記録(write) 時にヘッド（またはデ
ータトランスデューサ）に印加される記録電流(write c
urrent) を制御する記録電流制御回路及び方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ハードディスクドライブ(Hard
Disk Drive：以下、「ＨＤＤ」と称する。）やフロッピ
ーディスクドライブ(Floppy Disk Drive：以下、「ＦＤ
Ｄ」と称する。）等の磁気ディスク記録装置は、コンピ
ュータシステムにおける補助記録装置として広く用いら
れている。特に、ＨＤＤは多量のデータを安定して保存
でき、且つ高速でアクセスできる長所がある。
Disk Drive：以下、「ＨＤＤ」と称する。）やフロッピ
ーディスクドライブ(Floppy Disk Drive：以下、「ＦＤ
Ｄ」と称する。）等の磁気ディスク記録装置は、コンピ
ュータシステムにおける補助記録装置として広く用いら
れている。特に、ＨＤＤは多量のデータを安定して保存
でき、且つ高速でアクセスできる長所がある。
【０００３】現在、ＨＤＤはディスクの記憶容量を増加
させるため、ディスク上の記録密度が段々高くなってお
り、それに沿い、ヘッドも高精密化することにより記録
電流に敏感に動作する。このような記録密度の増加及び
ヘッドの高精密化に伴い、ディスク上へのデータ記録時
ヘッドに印加する記録電流値がＨＤＤの性能面におい
て、より重要で敏感な変数として作用してきた。単純に
記録電流値を大きくすればするほど、ディスク上からの
データ読出し時にヘッドによってピックアップされる信
号の振幅が大きくなるので良いであろうと考えられるこ
ともあるが、実際にはＨＤＤ間だけでなく、一つのＨＤ
Ｄにおいてもヘッド及びディスクごとの特性により異な
るべきである。
させるため、ディスク上の記録密度が段々高くなってお
り、それに沿い、ヘッドも高精密化することにより記録
電流に敏感に動作する。このような記録密度の増加及び
ヘッドの高精密化に伴い、ディスク上へのデータ記録時
ヘッドに印加する記録電流値がＨＤＤの性能面におい
て、より重要で敏感な変数として作用してきた。単純に
記録電流値を大きくすればするほど、ディスク上からの
データ読出し時にヘッドによってピックアップされる信
号の振幅が大きくなるので良いであろうと考えられるこ
ともあるが、実際にはＨＤＤ間だけでなく、一つのＨＤ
Ｄにおいてもヘッド及びディスクごとの特性により異な
るべきである。
【０００４】まず、ヘッドについて説明する。ＨＤＤに
おいて、ディスクの記憶容量を増加させるために多数の
ディスクを一つのスピンドル(spindle) にスタック(sta
ck)形態で設置し、それに沿い、それぞれのディスク面
に一つずつ対応するヘッドを使用する場合、ＨＤＤごと
は勿論のこと、一つのＨＤＤ内でもヘッドの特性分布は
一定せずに相互異なる。
おいて、ディスクの記憶容量を増加させるために多数の
ディスクを一つのスピンドル(spindle) にスタック(sta
ck)形態で設置し、それに沿い、それぞれのディスク面
に一つずつ対応するヘッドを使用する場合、ＨＤＤごと
は勿論のこと、一つのＨＤＤ内でもヘッドの特性分布は
一定せずに相互異なる。
【０００５】図１は、記録電流に対するヘッドの飽和(s
aturation)特性の曲線図を示す。同図に示すように、記
録電流Ｉｗの値に対する各ヘッドごとのＴＡＡ(Track A
verage Amplitude) 特性を３つに大別できる。即ち、曲
線ＳＮが正規(normal)飽和特性を有するヘッドに該当す
る場合、曲線ＳＥは、早期(early) 飽和特性を有するヘ
ッドに該当し、曲線ＳＬは晩期(late)飽和特性を有する
ヘッドに該当する。このような場合、曲線ＳＥに該当す
るヘッドは、記録電流がＩｗ１の時最適の状態で記録／
読出し動作が行え、曲線ＳＮに該当するヘッドは、記録
電流がＩｗ２の時最適の状態で読出し／記録動作が行
え、曲線ＳＬに該当するヘッドは、記録電流がＩｗ３の
時に最適の状態で記録／読出し動作が行えるようにな
る。このようにヘッドごと飽和特性が異なるのは、組立
の誤差やヘッドの磁極幅(pole width)やヘッドの飛行高
度(flying height) が相互異なるためである。
aturation)特性の曲線図を示す。同図に示すように、記
録電流Ｉｗの値に対する各ヘッドごとのＴＡＡ(Track A
verage Amplitude) 特性を３つに大別できる。即ち、曲
線ＳＮが正規(normal)飽和特性を有するヘッドに該当す
る場合、曲線ＳＥは、早期(early) 飽和特性を有するヘ
ッドに該当し、曲線ＳＬは晩期(late)飽和特性を有する
ヘッドに該当する。このような場合、曲線ＳＥに該当す
るヘッドは、記録電流がＩｗ１の時最適の状態で記録／
読出し動作が行え、曲線ＳＮに該当するヘッドは、記録
電流がＩｗ２の時最適の状態で読出し／記録動作が行
え、曲線ＳＬに該当するヘッドは、記録電流がＩｗ３の
時に最適の状態で記録／読出し動作が行えるようにな
る。このようにヘッドごと飽和特性が異なるのは、組立
の誤差やヘッドの磁極幅(pole width)やヘッドの飛行高
度(flying height) が相互異なるためである。
【０００６】このようにヘッドごと飽和特性が異なるた
めに、記録電流値をいずれか一つに固定させる場合、読
出し／記録動作時に記録電流値が適しないヘッドではデ
ータ誤りが発生する。例えば、一つのヘッドは、記録電
流が１０ｍＡの時一番良い特性を有し、他のヘッドは、
記録電流が１５ｍＡの時一番良い特性を有すると仮定す
る場合、磁気ディスク記録装置の設計及び製造時の記録
電流を１０ｍＡに設定すれば、後者のヘッドが相対的に
不適な条件で用いられることを意味する。このため、後
者のヘッドによる読出し／記録動作時は、より多くのデ
ータ誤りが発生するようになる。
めに、記録電流値をいずれか一つに固定させる場合、読
出し／記録動作時に記録電流値が適しないヘッドではデ
ータ誤りが発生する。例えば、一つのヘッドは、記録電
流が１０ｍＡの時一番良い特性を有し、他のヘッドは、
記録電流が１５ｍＡの時一番良い特性を有すると仮定す
る場合、磁気ディスク記録装置の設計及び製造時の記録
電流を１０ｍＡに設定すれば、後者のヘッドが相対的に
不適な条件で用いられることを意味する。このため、後
者のヘッドによる読出し／記録動作時は、より多くのデ
ータ誤りが発生するようになる。
【０００７】次に、ディスクについて説明する。ＨＤＤ
に用いられるディスクごとに直径や記録周波数が同一で
ないので磁化の強さを異ならせなければならない。よっ
て、記録電流値も異ならせなければならない。
に用いられるディスクごとに直径や記録周波数が同一で
ないので磁化の強さを異ならせなければならない。よっ
て、記録電流値も異ならせなければならない。
【０００８】尚、ＨＤＤは大部分の場合、「コンスタン
ト−デンシティ記録(constant-density recording)」ま
たは「ゾーンビット記録(zone-bit recording)」形態の
記録方式を採用している。コンスタント−デンシティ記
録形態はディスクの記憶容量を改善するために、ディス
ク上の全てのトラックが実質的に同一の情報密度を有す
るようにしたもので、従来の「コンスタント−トラック
−容量記録(constant-track-capacity recording) 」形
態に比べて、ディスク上に単位トラック当たり多量の情
報が記録できる。コンスタント−デンシティ記録形態で
ディスク上の貯蔵領域、即ち情報記録領域は、ディスク
上の円心から放射状に一定の記録密度を有する多数のゾ
ーンに分割される。 図２は、このようなコンスタント
−デンシティ記録形態におけるディスク上のゾーン割り
当てに対する例を示すもので、便宜上、一つのディスク
上の貯蔵領域が円心から放射状に分割されてｎ＋１個の
ゾーンＺ０〜Ｚｎに割り当てられる場合の配列を示して
いる。
ト−デンシティ記録(constant-density recording)」ま
たは「ゾーンビット記録(zone-bit recording)」形態の
記録方式を採用している。コンスタント−デンシティ記
録形態はディスクの記憶容量を改善するために、ディス
ク上の全てのトラックが実質的に同一の情報密度を有す
るようにしたもので、従来の「コンスタント−トラック
−容量記録(constant-track-capacity recording) 」形
態に比べて、ディスク上に単位トラック当たり多量の情
報が記録できる。コンスタント−デンシティ記録形態で
ディスク上の貯蔵領域、即ち情報記録領域は、ディスク
上の円心から放射状に一定の記録密度を有する多数のゾ
ーンに分割される。 図２は、このようなコンスタント
−デンシティ記録形態におけるディスク上のゾーン割り
当てに対する例を示すもので、便宜上、一つのディスク
上の貯蔵領域が円心から放射状に分割されてｎ＋１個の
ゾーンＺ０〜Ｚｎに割り当てられる場合の配列を示して
いる。
【０００９】最外周シリンダのＣＹＬ＿Ｍは保持管理領
域(maintenance cylinder)であって、一般使用者は使用
することができなく、磁気ディスク記録装置の保持管理
のための固有情報などが記録される領域である。このよ
うな固有情報としては、例えば、ディスク上のセクタに
対する欠陥リスト(defect list) 、予備セクタ情報、読
出し／記録チャンネルの変数等がある。通常、ＨＤＤに
おいて、主制御装置として備えられるマイクロコントロ
ーラ(micro controller)は、ＲＯＭ(Read OnlyMemory)
から読出し／記録チャンネルの変数を読み出してディス
ク上の保持管理領域ＣＹＬ＿Ｍに記録しておき、ディス
ク上から／へのデータ読出し／記録動作時に利用する。
域(maintenance cylinder)であって、一般使用者は使用
することができなく、磁気ディスク記録装置の保持管理
のための固有情報などが記録される領域である。このよ
うな固有情報としては、例えば、ディスク上のセクタに
対する欠陥リスト(defect list) 、予備セクタ情報、読
出し／記録チャンネルの変数等がある。通常、ＨＤＤに
おいて、主制御装置として備えられるマイクロコントロ
ーラ(micro controller)は、ＲＯＭ(Read OnlyMemory)
から読出し／記録チャンネルの変数を読み出してディス
ク上の保持管理領域ＣＹＬ＿Ｍに記録しておき、ディス
ク上から／へのデータ読出し／記録動作時に利用する。
【００１０】しかし、コンスタント−デンシティ記録形
態においても、実際ではディスク上の全ての領域の記録
密度が同一でなく、ディスク上の領域に従って、半径、
各速度の差異が生ずるので、ゾーンごとに記録密度が異
なるようになる。即ち、内周領域にあるゾーンの記録密
度は、外周領域にあるゾーンの記録密度より高くなる。
従って、一つのディスク上において、記録密度の高いゾ
ーンでは、相対的に記録密度の低いゾーンに比べて干渉
が激しくなる。これにより、記録電流値が大き過ぎる場
合、記録密度の高いゾーンではビット間の干渉によるデ
ータ誤りが発生する。これを防止するために記録電流値
を小さくすると、相対的に記録密度の低いゾーンでも読
出し動作時ヘッドによってピックアップされる信号の振
幅が不十分であるので、雑音によるデータ誤りが発生す
るようになる。
態においても、実際ではディスク上の全ての領域の記録
密度が同一でなく、ディスク上の領域に従って、半径、
各速度の差異が生ずるので、ゾーンごとに記録密度が異
なるようになる。即ち、内周領域にあるゾーンの記録密
度は、外周領域にあるゾーンの記録密度より高くなる。
従って、一つのディスク上において、記録密度の高いゾ
ーンでは、相対的に記録密度の低いゾーンに比べて干渉
が激しくなる。これにより、記録電流値が大き過ぎる場
合、記録密度の高いゾーンではビット間の干渉によるデ
ータ誤りが発生する。これを防止するために記録電流値
を小さくすると、相対的に記録密度の低いゾーンでも読
出し動作時ヘッドによってピックアップされる信号の振
幅が不十分であるので、雑音によるデータ誤りが発生す
るようになる。
【００１１】前記データの誤りを減少させるために、記
録電流値はＨＤＤ間のみならず、一つのＨＤＤでも、ヘ
ッド及びディスクごとの特性に従って異なるべきであ
る。これに反して、以前には一つのＨＤＤにおいては、
一つの記録電流値を固定的に設定した。これをより詳細
に説明すると、一般に、ＨＤＤは読出し／記録回路を備
える。読出し／記録回路はヘッドに連結され、読出し動
作時は、選択された一つのヘッドによりピックアップさ
れた信号を前置増幅してアナログ読出し信号を発生し、
記録動作時は、符号化された記録データに従う記録電流
を複数のヘッド中のいずれか一つのヘッドに印加するこ
とにより、記録データがディスク上に記録されるように
する。前記読出し／記録回路は、通常ワンチップＩＣ(o
ne chip Integrated Circuit) が用いられるが、例え
ば、米国のシリコンシステム(silicon systems) 社の読
出し／記録デバイスであるＳＳＩ ３２Ｒ２２１０Ｒ／
２２１１Ｒ／２２１２Ｒがある。このような読出し／記
録回路は、外部から記録電流を制御するために設けられ
た記録電流制御端子ＷＣを有するが、記録電流制御端子
ＷＣに連結される外部抵抗素子の抵抗値によって記録電
流値が決定される。例えば、記録電流をＩｗ、抵抗素子
の抵抗値をＲｗｃとすると、記録電流Ｉｗは下記式
（１）のように決定される。
録電流値はＨＤＤ間のみならず、一つのＨＤＤでも、ヘ
ッド及びディスクごとの特性に従って異なるべきであ
る。これに反して、以前には一つのＨＤＤにおいては、
一つの記録電流値を固定的に設定した。これをより詳細
に説明すると、一般に、ＨＤＤは読出し／記録回路を備
える。読出し／記録回路はヘッドに連結され、読出し動
作時は、選択された一つのヘッドによりピックアップさ
れた信号を前置増幅してアナログ読出し信号を発生し、
記録動作時は、符号化された記録データに従う記録電流
を複数のヘッド中のいずれか一つのヘッドに印加するこ
とにより、記録データがディスク上に記録されるように
する。前記読出し／記録回路は、通常ワンチップＩＣ(o
ne chip Integrated Circuit) が用いられるが、例え
ば、米国のシリコンシステム(silicon systems) 社の読
出し／記録デバイスであるＳＳＩ ３２Ｒ２２１０Ｒ／
２２１１Ｒ／２２１２Ｒがある。このような読出し／記
録回路は、外部から記録電流を制御するために設けられ
た記録電流制御端子ＷＣを有するが、記録電流制御端子
ＷＣに連結される外部抵抗素子の抵抗値によって記録電
流値が決定される。例えば、記録電流をＩｗ、抵抗素子
の抵抗値をＲｗｃとすると、記録電流Ｉｗは下記式
（１）のように決定される。
【００１２】
【数１】 式（１）において、Ａｖは、読出し／記録回路の内部に
備えられる電流ミラー(current mirror)回路の利得とし
ての定数であり、Ｖｗｃは、記録電流制御端子ＷＣと抵
抗素子との接続点の電圧である。従って、Ｖｗｃ／Ｒｗ
ｃは、記録電流制御端子ＷＣから抵抗素子を通じて流れ
る電流値になる。これにより、抵抗素子の抵抗値Ｒｗｃ
を変更すると、結果的に記録電流値Ｉｗが変わる。
備えられる電流ミラー(current mirror)回路の利得とし
ての定数であり、Ｖｗｃは、記録電流制御端子ＷＣと抵
抗素子との接続点の電圧である。従って、Ｖｗｃ／Ｒｗ
ｃは、記録電流制御端子ＷＣから抵抗素子を通じて流れ
る電流値になる。これにより、抵抗素子の抵抗値Ｒｗｃ
を変更すると、結果的に記録電流値Ｉｗが変わる。
【００１３】このような抵抗素子の抵抗値Ｒｗｃは、Ｈ
ＤＤの設計及び製造時固定的に選択されることにより、
一つのＨＤＤでは、一種類の記録電流値のみを有するこ
とになる。このような場合、ＨＤＤごとに記録電流値を
異にするためには、それぞれのＨＤＤごとに適合な抵抗
素子を選択して使用しなければならないので、ＨＤＤご
とにハードウェアを変更しなければならない不便さがあ
った。のみならず、このようにヘッド及びディスクごと
の特性に従ってハードウェハを変更させることは不能で
あるという短所があった。
ＤＤの設計及び製造時固定的に選択されることにより、
一つのＨＤＤでは、一種類の記録電流値のみを有するこ
とになる。このような場合、ＨＤＤごとに記録電流値を
異にするためには、それぞれのＨＤＤごとに適合な抵抗
素子を選択して使用しなければならないので、ＨＤＤご
とにハードウェアを変更しなければならない不便さがあ
った。のみならず、このようにヘッド及びディスクごと
の特性に従ってハードウェハを変更させることは不能で
あるという短所があった。
【００１４】これとは異なり、抵抗値が相互異なる幾つ
かの抵抗素子を記録電流制御端子ＷＣに選択的に連結し
得るようにした技術があった。しかし、これは、記録電
流値を幾種類のうち一つ選択し得るのに過ぎず、依然と
して、このようにヘッド及びディスクごとの特性に従っ
て多様かつ変更自在にできないという問題がある。
かの抵抗素子を記録電流制御端子ＷＣに選択的に連結し
得るようにした技術があった。しかし、これは、記録電
流値を幾種類のうち一つ選択し得るのに過ぎず、依然と
して、このようにヘッド及びディスクごとの特性に従っ
て多様かつ変更自在にできないという問題がある。
【００１５】このような問題点を解決するための技術の
一つとして、本願出願人と同一出願人によって１９９１
年に大韓民国に出願された特許出願第９１−２８２０号
「磁気記録装置の記録電流制御回路」がある。前記特許
出願第９１−２８２０号は、ＤＡＣ(Digital to Analog
Converter) を用いて記録電流値をディスク上の領域に
従って相互異なるように制御する技術を開示している。
一つとして、本願出願人と同一出願人によって１９９１
年に大韓民国に出願された特許出願第９１−２８２０号
「磁気記録装置の記録電流制御回路」がある。前記特許
出願第９１−２８２０号は、ＤＡＣ(Digital to Analog
Converter) を用いて記録電流値をディスク上の領域に
従って相互異なるように制御する技術を開示している。
【００１６】記録電流値をより精密に制御するために
は、記録電流値の調整段階を増やさなければならない
が、前記特許出願第９１−２８２０号のようにＤＡＣを
使用する場合、ＤＡＣの分解能(resolution)を向上させ
なければならない。しかしながら、ＤＡＣの分解能の向
上が容易でなく且つ費用が大きく増加するようになる。
尚、各ヘッドの特性により記録電流値を変更させること
は考慮されていない。
は、記録電流値の調整段階を増やさなければならない
が、前記特許出願第９１−２８２０号のようにＤＡＣを
使用する場合、ＤＡＣの分解能(resolution)を向上させ
なければならない。しかしながら、ＤＡＣの分解能の向
上が容易でなく且つ費用が大きく増加するようになる。
尚、各ヘッドの特性により記録電流値を変更させること
は考慮されていない。
【００１７】一方、このように、各々のＨＤＤにおい
て、各ヘッド及びディスクの特性によって記録電流値を
変更させるためには、それぞれのヘッドとディスク上の
各領域に対する最適な記録電流値を試験して設定しなけ
ればならない。このために、従来ではＨＤＤの製造時に
すべて試験を行わなければならなく、ただ標本ＨＤＤに
よって試験を行うことにより不正確になる問題点があっ
た。
て、各ヘッド及びディスクの特性によって記録電流値を
変更させるためには、それぞれのヘッドとディスク上の
各領域に対する最適な記録電流値を試験して設定しなけ
ればならない。このために、従来ではＨＤＤの製造時に
すべて試験を行わなければならなく、ただ標本ＨＤＤに
よって試験を行うことにより不正確になる問題点があっ
た。
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、読出し／記録動作時の誤りが減少させられる記録電
流制御回路及びその最適化方法を提供することにある。
は、読出し／記録動作時の誤りが減少させられる記録電
流制御回路及びその最適化方法を提供することにある。
【００１９】本発明の他の目的は、各磁気ディスク記録
装置のハードウェアを変更しなくても、記録電流が適応
的に最適な状態に制御できる記録電流制御回路及びその
最適化方法を提供することにある。
装置のハードウェアを変更しなくても、記録電流が適応
的に最適な状態に制御できる記録電流制御回路及びその
最適化方法を提供することにある。
【００２０】本発明のまた他の目的は、磁気ディスク記
録装置の各ヘッドやディスクの特性に合うように記録電
流が最適な状態に自動設定できる記録電流最適化方法を
提供することにある。
録装置の各ヘッドやディスクの特性に合うように記録電
流が最適な状態に自動設定できる記録電流最適化方法を
提供することにある。
【００２１】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、磁気ディスク上へのデータ記録時
に記録電流制御端子の電流量に対応する記録電流値を記
録データに応じてヘッドに印加する読出し／記録素子を
備える磁気ディスク記録装置の記録電流制御回路におい
て、前記記録電流量を決定するために予め設定された記
録電流制御値に対応するデューティを有するパルス幅変
調信号(Pulse Width Modulation ：以下、「ＰＷＭ」と
称する。) を発生するマイクロコントローラと、読出し
／記録回路の記録電流制御端子と前記マイクロコントロ
ーラとの間に接続され、前記パルス幅変調信号のデュー
ティに対応するように前記記録電流制御端子の電流量を
調整する記録電流調整手段と、を備えてなることを特徴
とする。
るために、本発明は、磁気ディスク上へのデータ記録時
に記録電流制御端子の電流量に対応する記録電流値を記
録データに応じてヘッドに印加する読出し／記録素子を
備える磁気ディスク記録装置の記録電流制御回路におい
て、前記記録電流量を決定するために予め設定された記
録電流制御値に対応するデューティを有するパルス幅変
調信号(Pulse Width Modulation ：以下、「ＰＷＭ」と
称する。) を発生するマイクロコントローラと、読出し
／記録回路の記録電流制御端子と前記マイクロコントロ
ーラとの間に接続され、前記パルス幅変調信号のデュー
ティに対応するように前記記録電流制御端子の電流量を
調整する記録電流調整手段と、を備えてなることを特徴
とする。
【００２２】尚、本発明は、記録電流量を決定するため
の記録電流制御値をＰＷＭ信号により一定な範囲内で段
階的に増加させつつ各段階ごとに一定の回数だけ読出し
試験を行い、各段階の記録電流制御値ごと誤り発生回数
を検査する過程と、誤り発生回数に基づいて最適な記録
電流制御値を設定する過程とを備えてなることを特徴と
する。
の記録電流制御値をＰＷＭ信号により一定な範囲内で段
階的に増加させつつ各段階ごとに一定の回数だけ読出し
試験を行い、各段階の記録電流制御値ごと誤り発生回数
を検査する過程と、誤り発生回数に基づいて最適な記録
電流制御値を設定する過程とを備えてなることを特徴と
する。
【００２３】
【発明の実施の形態】以下、本発明に従う好適な実施例
を添付図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、図中、
同一な構成要素及び部分には、可能な限り同じ符号及び
番号を共通使用するものとする。
を添付図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、図中、
同一な構成要素及び部分には、可能な限り同じ符号及び
番号を共通使用するものとする。
【００２４】そして、具体的な回路構成、処理流れ、及
び各種値等の多くの特定詳細は、本発明のより全般的な
理解を助けるためのものである。これら特定詳細なくて
も、本発明が実施し得るのは、当技術分野における通常
の知識を有する者ならば明らかに分かるであろう。そし
て、本発明の要旨を不要にぼやかす虞のある公知の機能
及び構成に対する詳細な説明は省略する。
び各種値等の多くの特定詳細は、本発明のより全般的な
理解を助けるためのものである。これら特定詳細なくて
も、本発明が実施し得るのは、当技術分野における通常
の知識を有する者ならば明らかに分かるであろう。そし
て、本発明の要旨を不要にぼやかす虞のある公知の機能
及び構成に対する詳細な説明は省略する。
【００２５】図３は、一般なＨＤＤの構成を示すブロッ
ク図であって、２つのディスクとその各面に一つずつ対
応する４つのヘッドを備えた例を示す。同図を参照して
本発明に従うＨＤＤの構成及び動作について概略的に説
明する。 ディスク１０は、一つのスピンドルにスタッ
ク形態で設置され、スピンドルモータ３４によって回転
する。それぞれのヘッド１２は、ディスク１０中対応す
る一つのディスク面上に位置し、環状ボイスコイルアク
チュエータ(rotary voice coil actuator)３０と結合し
たＥ- ブロックアセンブリ(E-block assembly)１４から
ディスク１０側へ伸張されたサポートアーム(support a
rm) にそれぞれ対応するように設置される。
ク図であって、２つのディスクとその各面に一つずつ対
応する４つのヘッドを備えた例を示す。同図を参照して
本発明に従うＨＤＤの構成及び動作について概略的に説
明する。 ディスク１０は、一つのスピンドルにスタッ
ク形態で設置され、スピンドルモータ３４によって回転
する。それぞれのヘッド１２は、ディスク１０中対応す
る一つのディスク面上に位置し、環状ボイスコイルアク
チュエータ(rotary voice coil actuator)３０と結合し
たＥ- ブロックアセンブリ(E-block assembly)１４から
ディスク１０側へ伸張されたサポートアーム(support a
rm) にそれぞれ対応するように設置される。
【００２６】前記ヘッド１２に連結される読出し／記録
回路１６は、このように、読出し動作時には、ヘッド１
２によってピックアップされた信号を前置増幅してアナ
ログ読出し信号を読出し／記録チャンネル回路１８に印
加し、記録動作時には、読出し／記録チャンネル回路１
８から印加される符号化された記録データによる記録電
流をヘッド１２に印加することにより、記録データがデ
ィスク１０上に記録されるようにする。この時、読出し
／記録回路１６は、ヘッド１２中のいずれか一つを選択
するためのヘッドスイッチング回路を備え、このヘッド
スイッチング回路は、ディスク信号制御部３６から印加
される選択信号により一つのヘッドをスイッチングす
る。尚、読出し／記録回路１６は記録電流制御端子ＷＣ
を有する。（図示せず）。
回路１６は、このように、読出し動作時には、ヘッド１
２によってピックアップされた信号を前置増幅してアナ
ログ読出し信号を読出し／記録チャンネル回路１８に印
加し、記録動作時には、読出し／記録チャンネル回路１
８から印加される符号化された記録データによる記録電
流をヘッド１２に印加することにより、記録データがデ
ィスク１０上に記録されるようにする。この時、読出し
／記録回路１６は、ヘッド１２中のいずれか一つを選択
するためのヘッドスイッチング回路を備え、このヘッド
スイッチング回路は、ディスク信号制御部３６から印加
される選択信号により一つのヘッドをスイッチングす
る。尚、読出し／記録回路１６は記録電流制御端子ＷＣ
を有する。（図示せず）。
【００２７】そして、読出し／記録チャンネル回路１８
は、読出し／記録回路１６から印加される読出し信号か
らデータパルスを検出し、デコードしてＤＤＣ(Disk Da
ta Controller)２０に印加し、ＤＤＣ２０から印加され
る記録データをコード化して読出し／記録回路１６に印
加する。
は、読出し／記録回路１６から印加される読出し信号か
らデータパルスを検出し、デコードしてＤＤＣ(Disk Da
ta Controller)２０に印加し、ＤＤＣ２０から印加され
る記録データをコード化して読出し／記録回路１６に印
加する。
【００２８】前記ＤＤＣ２０は、マイクロコントローラ
２４によって制御され、ＰＣ(Personal Computer) のよ
うなホストコンピュータ(host computer) から受信され
るデータを読出し／記録チャンネル回路１８と読出し／
記録回路１６とを通じてディスク１０上に記録したり、
あるいは、ディスク１０上からデータを読み出してホス
トコンピュータへ送信したりする。尚、ＤＤＣ２０は、
ホストコンピュータとマイクロコントローラ２４間の通
信をインタフェースする。バッファラム( ＲＡＭ：Rand
om Access Memory) ２２は、ホストコンピュータと、マ
イクロコントローラ２４と、読出し／記録チャンネル回
路１８との間に伝送されるデータを一時貯蔵する。
２４によって制御され、ＰＣ(Personal Computer) のよ
うなホストコンピュータ(host computer) から受信され
るデータを読出し／記録チャンネル回路１８と読出し／
記録回路１６とを通じてディスク１０上に記録したり、
あるいは、ディスク１０上からデータを読み出してホス
トコンピュータへ送信したりする。尚、ＤＤＣ２０は、
ホストコンピュータとマイクロコントローラ２４間の通
信をインタフェースする。バッファラム( ＲＡＭ：Rand
om Access Memory) ２２は、ホストコンピュータと、マ
イクロコントローラ２４と、読出し／記録チャンネル回
路１８との間に伝送されるデータを一時貯蔵する。
【００２９】前記マイクロコントローラ２４は、ホスト
コンピュータから受信される読出しまたは書込み命令に
応じてＤＤＣ２０を制御し、トラック探索及びトラック
追従を制御する。ＲＯＭ２６は、マイクロコントローラ
２４の遂行プログラム及び各種設定値を貯蔵する。
コンピュータから受信される読出しまたは書込み命令に
応じてＤＤＣ２０を制御し、トラック探索及びトラック
追従を制御する。ＲＯＭ２６は、マイクロコントローラ
２４の遂行プログラム及び各種設定値を貯蔵する。
【００３０】サーボ(servo) 駆動部２８は、マイクロコ
ントローラ２４から発生するヘッド１２の位置制御のた
めの信号によってアクチュエータ３０を駆動するための
駆動電流を発生してアクチュエータ３０に印加する。ア
クチュエータ３０は、サーボ駆動部２８から印加される
駆動電流の方向及びレベルに対応してヘッド１２をディ
スク１０上に移動させる。スピンドルモータ駆動部３２
は、マイクロコントローラ２４から発生するディスク１
０の回転制御のための制御値に応じてスピンドルモータ
３４を駆動させてディスク１０を回転させる。ディスク
信号制御部３６は、読出し／記録チャンネル回路１８か
ら出力される読出データでサーボ情報をデコードしてマ
イクロコントローラ２４に印加し、読出／書込に必要な
各種の制御信号をＤＤＣ２０から印加される信号とマイ
クロコントローラ２４の制御によって発生して読出し／
記録回路１６、読出し／記録チャンネル回路１８、ＤＤ
Ｃ２０に印加する。このようなディスク信号制御部３６
は、通常それぞれのＨＤＤに適するように設計されたＡ
ＳＩＣ(Application Specific Integrated Circuit) が
用いられる。
ントローラ２４から発生するヘッド１２の位置制御のた
めの信号によってアクチュエータ３０を駆動するための
駆動電流を発生してアクチュエータ３０に印加する。ア
クチュエータ３０は、サーボ駆動部２８から印加される
駆動電流の方向及びレベルに対応してヘッド１２をディ
スク１０上に移動させる。スピンドルモータ駆動部３２
は、マイクロコントローラ２４から発生するディスク１
０の回転制御のための制御値に応じてスピンドルモータ
３４を駆動させてディスク１０を回転させる。ディスク
信号制御部３６は、読出し／記録チャンネル回路１８か
ら出力される読出データでサーボ情報をデコードしてマ
イクロコントローラ２４に印加し、読出／書込に必要な
各種の制御信号をＤＤＣ２０から印加される信号とマイ
クロコントローラ２４の制御によって発生して読出し／
記録回路１６、読出し／記録チャンネル回路１８、ＤＤ
Ｃ２０に印加する。このようなディスク信号制御部３６
は、通常それぞれのＨＤＤに適するように設計されたＡ
ＳＩＣ(Application Specific Integrated Circuit) が
用いられる。
【００３１】図４は、このようなＨＤＤに適用される本
発明に従う記録電流制御回路図を示す。図６は、図４に
示した回路を図３のＨＤＤに適用した例を示す構成を示
すブロック図である。図４及び図６に示した読出し／記
録回路１６は、図３のものと同様であり、それに従い参
照符号も同一に付す。
発明に従う記録電流制御回路図を示す。図６は、図４に
示した回路を図３のＨＤＤに適用した例を示す構成を示
すブロック図である。図４及び図６に示した読出し／記
録回路１６は、図３のものと同様であり、それに従い参
照符号も同一に付す。
【００３２】マイクロコントローラ３８は、記録電流量
を決定するために予め設定された記録電流制御値に対応
するデューティを有するＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭを発生
する。マイクロコントローラ３８は、図１に示したマイ
クロコントローラ２４とは異なり、ＰＷＭ信号が発生し
得るマイクロコントローラを使用する。このようなマイ
クロコントローラとしては、例えば、米国ＩＮＴＥＬ社
のマイクロコントローラＮ８０Ｃ１９８- １６ＭＨｚが
あり、これは、３２μｓの周期をデューティによって調
整することができる。従って、図６のＨＤＤは図３のよ
うな一般的なＨＤＤとは異なり、本発明に従う記録電流
調整回路４０を追加し、マイクロコントローラ２４の代
わりにマイクロコントローラ３８を使用し、その他の構
成は図３のものと同一である。
を決定するために予め設定された記録電流制御値に対応
するデューティを有するＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭを発生
する。マイクロコントローラ３８は、図１に示したマイ
クロコントローラ２４とは異なり、ＰＷＭ信号が発生し
得るマイクロコントローラを使用する。このようなマイ
クロコントローラとしては、例えば、米国ＩＮＴＥＬ社
のマイクロコントローラＮ８０Ｃ１９８- １６ＭＨｚが
あり、これは、３２μｓの周期をデューティによって調
整することができる。従って、図６のＨＤＤは図３のよ
うな一般的なＨＤＤとは異なり、本発明に従う記録電流
調整回路４０を追加し、マイクロコントローラ２４の代
わりにマイクロコントローラ３８を使用し、その他の構
成は図３のものと同一である。
【００３３】記録電流制御値は、それぞれのヘッド１２
とそれに対応するディスク１０上の各領域の特性に応じ
て最適の記録電流制御値を試験して設定するようにな
る。このような最適の記録電流制御値は、図２に示した
ようなディスク１０上の保持管理領域ＣＹＬ＿Ｍに記録
されている。
とそれに対応するディスク１０上の各領域の特性に応じ
て最適の記録電流制御値を試験して設定するようにな
る。このような最適の記録電流制御値は、図２に示した
ようなディスク１０上の保持管理領域ＣＹＬ＿Ｍに記録
されている。
【００３４】これにより、マイクロコントローラ３８
は、ディスク１０上の保持管理領域ＣＹＬ＿Ｍに記録さ
れた最適の記録電流制御値を読み出し、ディスク１０上
へのデータ記録時、データを記録するヘッド１２の位置
したディスク１０面のゾーンに対応する最適な記録電流
制御値に従うデューティにてＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭを
発生する。従って、マイクロコントローラ３８から発生
するＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭは、各ヘッド１２ごとにデ
ューティが変わり、のみならずディスク１０上のゾーン
に応じてデューティが変わるようになる。
は、ディスク１０上の保持管理領域ＣＹＬ＿Ｍに記録さ
れた最適の記録電流制御値を読み出し、ディスク１０上
へのデータ記録時、データを記録するヘッド１２の位置
したディスク１０面のゾーンに対応する最適な記録電流
制御値に従うデューティにてＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭを
発生する。従って、マイクロコントローラ３８から発生
するＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭは、各ヘッド１２ごとにデ
ューティが変わり、のみならずディスク１０上のゾーン
に応じてデューティが変わるようになる。
【００３５】記録電流調整回路４０は、読出し／記録回
路１６の記録電流制御端子ＷＣとマイクロコントローラ
３８のＰＷＭ出力端との間に接続され、ＰＷＭ信号ＷＣ
＿ＰＷＭのデューティに対応するように読出し／記録回
路１６の記録電流制御端子ＷＣの電流量を調整する。前
記記録電流調整回路４０は、読出し／記録回路１６の記
録電流制御端子ＷＣと接地との間に接続される抵抗Ｒ１
と、前記抵抗Ｒ１に並列接続される抵抗Ｒ２及びキャパ
シタＣ１と、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭをゲート端子に入
力し、ドレイン端子が抵抗Ｒ３を通じて抵抗Ｒ２とキャ
パシタＣ１との間の接続点に接続され、ソース端子が接
地されるトランジスタＱ１とから構成される。
路１６の記録電流制御端子ＷＣとマイクロコントローラ
３８のＰＷＭ出力端との間に接続され、ＰＷＭ信号ＷＣ
＿ＰＷＭのデューティに対応するように読出し／記録回
路１６の記録電流制御端子ＷＣの電流量を調整する。前
記記録電流調整回路４０は、読出し／記録回路１６の記
録電流制御端子ＷＣと接地との間に接続される抵抗Ｒ１
と、前記抵抗Ｒ１に並列接続される抵抗Ｒ２及びキャパ
シタＣ１と、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭをゲート端子に入
力し、ドレイン端子が抵抗Ｒ３を通じて抵抗Ｒ２とキャ
パシタＣ１との間の接続点に接続され、ソース端子が接
地されるトランジスタＱ１とから構成される。
【００３６】この時、ＮチャンネルＦＥＴ(Field Effec
t Transistor) を使用したスイッチング素子のトランジ
スタＱ１は、抵抗Ｒ３と接地との間をＰＷＭ信号ＷＣ＿
ＰＷＭによってスイッチングする。即ち、トランジスタ
Ｑ１は、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭが論理「ハイ」の区間
では「ターンオン」となって抵抗Ｒ３を接地に連結し、
ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭが論理「ロー」の区間では「タ
ーンオフ」となって抵抗Ｒ３と接地との間を開放(open)
させる。
t Transistor) を使用したスイッチング素子のトランジ
スタＱ１は、抵抗Ｒ３と接地との間をＰＷＭ信号ＷＣ＿
ＰＷＭによってスイッチングする。即ち、トランジスタ
Ｑ１は、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭが論理「ハイ」の区間
では「ターンオン」となって抵抗Ｒ３を接地に連結し、
ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭが論理「ロー」の区間では「タ
ーンオフ」となって抵抗Ｒ３と接地との間を開放(open)
させる。
【００３７】次に、本発明に従う図４の記録電流制御回
路の動作例を図４の各部分の動作波形図を示す図５を参
照して詳細に説明する。以下、読出し／記録回路１６の
記録電流制御端子ＷＣに流れる電流をＩｒ、抵抗Ｒ２に
流れる電流をＩａ、抵抗Ｒ１に流れる電流をＩｂとする
とき、読出し／記録回路１６の記録電流制御端子ＷＣ及
び抵抗Ｒ１間の接続点の電圧をＶｒ、抵抗Ｒ２とキャパ
シタＣ１との間の接続点の電圧をＶａ、トランジスタＱ
１のドレイン端子電圧をＶｄとする。この時、電圧Ｖｒ
は、読出し／記録回路１６の内部から供給される電圧で
あって、定数値を有する。
路の動作例を図４の各部分の動作波形図を示す図５を参
照して詳細に説明する。以下、読出し／記録回路１６の
記録電流制御端子ＷＣに流れる電流をＩｒ、抵抗Ｒ２に
流れる電流をＩａ、抵抗Ｒ１に流れる電流をＩｂとする
とき、読出し／記録回路１６の記録電流制御端子ＷＣ及
び抵抗Ｒ１間の接続点の電圧をＶｒ、抵抗Ｒ２とキャパ
シタＣ１との間の接続点の電圧をＶａ、トランジスタＱ
１のドレイン端子電圧をＶｄとする。この時、電圧Ｖｒ
は、読出し／記録回路１６の内部から供給される電圧で
あって、定数値を有する。
【００３８】図５は、マイクロコントローラ３８から発
生するＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭのデューティが変化する
例を示す。同図は、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭのデューテ
ィ変換段階中、例えば、３種類の場合のみを示すもので
ある。
生するＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭのデューティが変化する
例を示す。同図は、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭのデューテ
ィ変換段階中、例えば、３種類の場合のみを示すもので
ある。
【００３９】参照符号Ｔは、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭの
１周期を示すもので、前記マイクロコントローラ３８と
してＮ８０Ｃ１９８−１６ＭＨｚを使用する場合、３２
μｓになる。そして、Ｄ１〜Ｄ３はＰＷＭ信号ＷＣ＿Ｐ
ＷＭのデューティを示すもので、その大きさはＤ１＜Ｄ
２＜Ｄ３になる。
１周期を示すもので、前記マイクロコントローラ３８と
してＮ８０Ｃ１９８−１６ＭＨｚを使用する場合、３２
μｓになる。そして、Ｄ１〜Ｄ３はＰＷＭ信号ＷＣ＿Ｐ
ＷＭのデューティを示すもので、その大きさはＤ１＜Ｄ
２＜Ｄ３になる。
【００４０】前記ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭが発生して記
録電流調整回路４０のトランジスタＱ１に印加される
と、トランジスタＱ１は、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭが論
理「ハイ」の区間では「ターンオン」となって抵抗Ｒ３
を接地に連結し、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭが論理「ロ
ー」の区間では「ターンオフ」となって抵抗Ｒ３と接地
との間を開放させる。これにより、トランジスタＱ１の
ドレイン端子の電圧Ｖｄは図５のようになる。従って、
抵抗Ｒ２とキャパシタＣ１との間の接続点の電圧Ｖａ
は、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭのデューティに応じてレベ
ルが反比例して変化する直流電圧であり、ＰＷＭ信号Ｗ
Ｃ＿ＰＷＭの平滑なレベルに対応する。
録電流調整回路４０のトランジスタＱ１に印加される
と、トランジスタＱ１は、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭが論
理「ハイ」の区間では「ターンオン」となって抵抗Ｒ３
を接地に連結し、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭが論理「ロ
ー」の区間では「ターンオフ」となって抵抗Ｒ３と接地
との間を開放させる。これにより、トランジスタＱ１の
ドレイン端子の電圧Ｖｄは図５のようになる。従って、
抵抗Ｒ２とキャパシタＣ１との間の接続点の電圧Ｖａ
は、ＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭのデューティに応じてレベ
ルが反比例して変化する直流電圧であり、ＰＷＭ信号Ｗ
Ｃ＿ＰＷＭの平滑なレベルに対応する。
【００４１】この時、電流Ｉｒは下記式（２）のように
なる。
なる。
【００４２】
【数２】 式（２）において、Ｒ１，Ｒ２はそれぞれ抵抗（Ｒ１，
Ｒ２）の抵抗値であり、Ｖｒは式（１）におけるＶｗｃ
と同一であり、それにより、Ｉｒは式（１）におけるＶ
ｗｃ／Ｒｗｃと同一である。
Ｒ２）の抵抗値であり、Ｖｒは式（１）におけるＶｗｃ
と同一であり、それにより、Ｉｒは式（１）におけるＶ
ｗｃ／Ｒｗｃと同一である。
【００４３】従って、式（２）を式（１）に代入する
と、記録電流Ｉｗは下記式（３）のようになる。
と、記録電流Ｉｗは下記式（３）のようになる。
【００４４】
【数３】 式（３）から分かるように、電圧Ｖａの変化は、ヘッド
１２に印加される記録電流Ｉｗの変化につなぐ。
１２に印加される記録電流Ｉｗの変化につなぐ。
【００４５】従って、マイクロコントローラ３８は、デ
ィスク１０上へのデータ記録時にデータを記録するヘッ
ド１２の位置したディスク１０面のゾーンに対応する最
適の記録電流制御値に従うデューティにてＰＷＭ信号Ｗ
Ｃ＿ＰＷＭを発生させることにより記録電流値が調整で
きる。
ィスク１０上へのデータ記録時にデータを記録するヘッ
ド１２の位置したディスク１０面のゾーンに対応する最
適の記録電流制御値に従うデューティにてＰＷＭ信号Ｗ
Ｃ＿ＰＷＭを発生させることにより記録電流値が調整で
きる。
【００４６】一方、マイクロコントローラ３８における
ＰＷＭデューティの調整は、内部のＰＷＭレジスタ値を
異ならせることにより行われる。例えば、電圧Ｖｒが２
Ｖ、利得Ａｖが２５であるとき、抵抗Ｒ２の抵抗値を
１. ２ＫΩ、抵抗Ｒ１の抵抗値を１２. ７ＫΩに設定し
た状態で、ＰＷＭレジスタ値を９段階にて変更しつつ試
験した結果、記録電流Ｉｗの値が下記表（１）のように
変化する。この時、下記表（１）の結果はＨＤＤごとに
異なる。
ＰＷＭデューティの調整は、内部のＰＷＭレジスタ値を
異ならせることにより行われる。例えば、電圧Ｖｒが２
Ｖ、利得Ａｖが２５であるとき、抵抗Ｒ２の抵抗値を
１. ２ＫΩ、抵抗Ｒ１の抵抗値を１２. ７ＫΩに設定し
た状態で、ＰＷＭレジスタ値を９段階にて変更しつつ試
験した結果、記録電流Ｉｗの値が下記表（１）のように
変化する。この時、下記表（１）の結果はＨＤＤごとに
異なる。
【００４７】
【表１】 このようにＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭにより記録電流Ｉｗ
の値を調整することにより、従来のＤＡＣを別途に使用
する場合に比べて調整が容易であり、且つ調整段階もよ
り精密に制御し得る。
の値を調整することにより、従来のＤＡＣを別途に使用
する場合に比べて調整が容易であり、且つ調整段階もよ
り精密に制御し得る。
【００４８】図４に示した回路を適用した図６のような
ＨＤＤにおいて、各ＨＤＤごとにそれぞれのヘッドとそ
れに対応するディスク上の各領域の特性に応じて最適の
記録電流制御値を試験して設定する例を、本発明に従う
記録電流最適化の流れ図を示す図７を参照して詳細に説
明する。
ＨＤＤにおいて、各ＨＤＤごとにそれぞれのヘッドとそ
れに対応するディスク上の各領域の特性に応じて最適の
記録電流制御値を試験して設定する例を、本発明に従う
記録電流最適化の流れ図を示す図７を参照して詳細に説
明する。
【００４９】図７の流れ図に従う機能はＲＯＭ２６にプ
ログラムされ、ＨＤＤの組立時に通常「バーンイン(bur
n-in) 」と呼ばれる工程でセルフ試験(self test) 過程
中の一つに挿入して実行させるのが好ましい。バーンイ
ン工程は、主にディスク上の欠陥スキャン(scan)のため
の工程である。
ログラムされ、ＨＤＤの組立時に通常「バーンイン(bur
n-in) 」と呼ばれる工程でセルフ試験(self test) 過程
中の一つに挿入して実行させるのが好ましい。バーンイ
ン工程は、主にディスク上の欠陥スキャン(scan)のため
の工程である。
【００５０】まず、マイクロコントローラ３８は、（７
００）段階でヘッド番号ＨＮＯを０にセットし、（７０
２）段階でゾーン番号ＺＮＯもセットする。これは、最
適な記録電流値をそれぞれのヘッド１２に対応する図２
のようなディスク面１０のゾーンに対して一つずつ順次
試験及び設定するためのもので、このような過程によっ
て一番目のヘッドに対応するディスク面の一番目のゾー
ンが選択される。この時、読出し／記録回路１６は、マ
イクロコントローラ３８により制御されるディスク信号
制御部３６から印加される信号によってヘッド番号ＨＮ
Ｏに該当するヘッドを選択する。
００）段階でヘッド番号ＨＮＯを０にセットし、（７０
２）段階でゾーン番号ＺＮＯもセットする。これは、最
適な記録電流値をそれぞれのヘッド１２に対応する図２
のようなディスク面１０のゾーンに対して一つずつ順次
試験及び設定するためのもので、このような過程によっ
て一番目のヘッドに対応するディスク面の一番目のゾー
ンが選択される。この時、読出し／記録回路１６は、マ
イクロコントローラ３８により制御されるディスク信号
制御部３６から印加される信号によってヘッド番号ＨＮ
Ｏに該当するヘッドを選択する。
【００５１】このような状態で、マイクロコントローラ
３８は、（７４０）段階で該当ゾーンのシリンダ中試験
するシリンダを選択する。この時、試験シリンダは該当
ゾーンで一番条件の悪いシリンダ、即ち記録密度の一番
高いシリンダを選択して設定することが好ましい。この
ようなシリンダは、該当ゾーンで一番内周領域にあるシ
リンダであろう。勿論、試験シリンダとしては欠陥ない
シリンダを選択しなければならない。
３８は、（７４０）段階で該当ゾーンのシリンダ中試験
するシリンダを選択する。この時、試験シリンダは該当
ゾーンで一番条件の悪いシリンダ、即ち記録密度の一番
高いシリンダを選択して設定することが好ましい。この
ようなシリンダは、該当ゾーンで一番内周領域にあるシ
リンダであろう。勿論、試験シリンダとしては欠陥ない
シリンダを選択しなければならない。
【００５２】次に、マイクロコントローラ３８は、（７
０６）〜（７１４）段階で、記録電流値Ｉｗｃを予め一
定の範囲内で段階的に設定された記録電流制御値のうち
の最小段階の記録電流制御値ＭＩＮ＿Ｉｗｃから最大段
階の記録電流制御値ＭＡＸ＿Ｉｗｃまで段階的に増加さ
せながら読出し試験を行い、各段階の記録電流制御値ご
とに誤りの発生回数を比較テーブルに登録する。この
時、マイクロコントローラ３８では、最小段階の記録電
流制御値ＭＩＮ＿Ｉｗｃから最大段階の記録電流制御値
ＭＡＸ＿Ｉｗｃまでの段階的な増加に対応してデューテ
ィが大きくなるＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭが発生すること
により、読出し／記録回路１６における記録電流が変わ
る。まず、（７０６）段階では、最小段階の記録電流制
御値ＭＩＮ＿Ｉｗｃを記録電流制御値Ｉｗｃとして前記
ＰＷＭレジスタにセットする。（７０８）段階では、試
験シリンダに試験データをオン−トラック状態で記録す
る。（７１０）段階では、試験シリンダに対してデータ
を読み出して誤り発生の可否を確認する読出し試験を設
定回数だけ行うが、この時、オフ−トラック状態で読出
し試験を行なう。このようなオフ−トラックの付加は試
験条件にストレスを加えることにより読出し試験を容易
にし、データ誤りに対する敏感度を高くするためのもの
である。（７１２）段階では、前記誤りの発生回数を比
較テーブルに登録する。前記比較テーブルは、各段階の
記録電流制御値に対する誤りの発生回数からなり、マイ
クロコントローラ３９内のレジスタまたはＲＡＭを用い
て構成する。以後、（７１４）段階で、記録電流制御値
Ｉｗｃが最大段階の記録電流制御値ＭＡＸ＿Ｉｗｃにな
ったか否かを検査し、そうでなければ、（７１６）段階
で、記録電流制御値Ｉｗｃを次の段階に増加させた後前
記（７０８）段階から再実行する。これにより、一つの
ゾーンに対する試験動作が完了する。
０６）〜（７１４）段階で、記録電流値Ｉｗｃを予め一
定の範囲内で段階的に設定された記録電流制御値のうち
の最小段階の記録電流制御値ＭＩＮ＿Ｉｗｃから最大段
階の記録電流制御値ＭＡＸ＿Ｉｗｃまで段階的に増加さ
せながら読出し試験を行い、各段階の記録電流制御値ご
とに誤りの発生回数を比較テーブルに登録する。この
時、マイクロコントローラ３８では、最小段階の記録電
流制御値ＭＩＮ＿Ｉｗｃから最大段階の記録電流制御値
ＭＡＸ＿Ｉｗｃまでの段階的な増加に対応してデューテ
ィが大きくなるＰＷＭ信号ＷＣ＿ＰＷＭが発生すること
により、読出し／記録回路１６における記録電流が変わ
る。まず、（７０６）段階では、最小段階の記録電流制
御値ＭＩＮ＿Ｉｗｃを記録電流制御値Ｉｗｃとして前記
ＰＷＭレジスタにセットする。（７０８）段階では、試
験シリンダに試験データをオン−トラック状態で記録す
る。（７１０）段階では、試験シリンダに対してデータ
を読み出して誤り発生の可否を確認する読出し試験を設
定回数だけ行うが、この時、オフ−トラック状態で読出
し試験を行なう。このようなオフ−トラックの付加は試
験条件にストレスを加えることにより読出し試験を容易
にし、データ誤りに対する敏感度を高くするためのもの
である。（７１２）段階では、前記誤りの発生回数を比
較テーブルに登録する。前記比較テーブルは、各段階の
記録電流制御値に対する誤りの発生回数からなり、マイ
クロコントローラ３９内のレジスタまたはＲＡＭを用い
て構成する。以後、（７１４）段階で、記録電流制御値
Ｉｗｃが最大段階の記録電流制御値ＭＡＸ＿Ｉｗｃにな
ったか否かを検査し、そうでなければ、（７１６）段階
で、記録電流制御値Ｉｗｃを次の段階に増加させた後前
記（７０８）段階から再実行する。これにより、一つの
ゾーンに対する試験動作が完了する。
【００５３】以後、（７１８）段階では、このように得
られた各段階の記録電流制御値に対する誤りの発生回数
に基づいて該当ゾーンに対する最適の記録電流制御値を
設定する。 この時、最適の記録電流制御値の設定方法
は多様にあるが、その中の幾種類の実施例について説明
する。
られた各段階の記録電流制御値に対する誤りの発生回数
に基づいて該当ゾーンに対する最適の記録電流制御値を
設定する。 この時、最適の記録電流制御値の設定方法
は多様にあるが、その中の幾種類の実施例について説明
する。
【００５４】第１に、本発明に従う第１実施例の最適な
記録電流制御値を設定する流れ図を示す図８を参照する
と、（８００）段階では、比較テーブルに登録された誤
りの発生回数の一番少ない段階の記録電流制御値Ｉｗｃ
を最適の記録電流制御値として設定する。これは、図９
に示すように、誤り発生回数の一番少ない値が一つであ
る場合、その値を最適の記録電流制御値として設定する
もので、ＯＰＴ＿Ｉｗｃは最適な記録電流制御値を示
す。このように設定された最適な記録電流制御値は、
（８０２）段階で、この保持管理領域ＣＹＬ＿Ｍにデフ
ォールト(default)値として記録することにより、以後
のデータ記録時に用いられるようにする。
記録電流制御値を設定する流れ図を示す図８を参照する
と、（８００）段階では、比較テーブルに登録された誤
りの発生回数の一番少ない段階の記録電流制御値Ｉｗｃ
を最適の記録電流制御値として設定する。これは、図９
に示すように、誤り発生回数の一番少ない値が一つであ
る場合、その値を最適の記録電流制御値として設定する
もので、ＯＰＴ＿Ｉｗｃは最適な記録電流制御値を示
す。このように設定された最適な記録電流制御値は、
（８０２）段階で、この保持管理領域ＣＹＬ＿Ｍにデフ
ォールト(default)値として記録することにより、以後
のデータ記録時に用いられるようにする。
【００５５】第２に、本発明に従う第２実施例の最適な
記録電流制御値を設定する流れ図を示す図１０を参照す
ると、（１０００）段階では、比較テーブルに登録され
た誤りの発生回数の一番少ない段階の記録電流制御値の
最小値と最大値との平均値を求めて最適な記録電流制御
値として設定する。これは、図１１に示すように、最小
の誤り発生回数が各段階の記録電流制御値の間の平衡を
成すとき、最小値Ｉｗｃｍｉｎと最大値Ｉｗｃｍａｘと
の平均値を求め、その値を最適な記録電流制御値ＯＰＴ
＿Ｉｗｃとして設定する。この場合にも、設定された最
適な記録電流制御値を（１００２）段階で前記保持管理
領域ＣＹＬ＿Ｍにデフォールト値として記録する。
記録電流制御値を設定する流れ図を示す図１０を参照す
ると、（１０００）段階では、比較テーブルに登録され
た誤りの発生回数の一番少ない段階の記録電流制御値の
最小値と最大値との平均値を求めて最適な記録電流制御
値として設定する。これは、図１１に示すように、最小
の誤り発生回数が各段階の記録電流制御値の間の平衡を
成すとき、最小値Ｉｗｃｍｉｎと最大値Ｉｗｃｍａｘと
の平均値を求め、その値を最適な記録電流制御値ＯＰＴ
＿Ｉｗｃとして設定する。この場合にも、設定された最
適な記録電流制御値を（１００２）段階で前記保持管理
領域ＣＹＬ＿Ｍにデフォールト値として記録する。
【００５６】第３に、本発明に従う第３実施例の最適な
記録電流制御値を設定する流れ図を示す図１２を参照す
ると、（１２００）段階では、比較テーブルに登録され
た誤りの発生回数が急激に増加する最小段階の記録電流
制御値と最大段階の記録電流制御値との平均値を求め、
最適な記録電流制御値として設定する。これは、図１３
に示すように、最小の誤り発生回数が不明である時、誤
りの発生回数が急激に増加する最小段階の記録電流制御
値Ｉｗｃｍｉｎと最大段階の記録電流制御値Ｉｗｃｍａ
ｘとの平均値を求めて、最適な記録電流制御値ＯＰＴ＿
Ｉｗｃとして設定する。この場合にも、（１２０２）段
階で設定された最適な記録電流制御値を前記保持管理領
域ＣＹＮ＿Ｍにデフォールト値として記録する。
記録電流制御値を設定する流れ図を示す図１２を参照す
ると、（１２００）段階では、比較テーブルに登録され
た誤りの発生回数が急激に増加する最小段階の記録電流
制御値と最大段階の記録電流制御値との平均値を求め、
最適な記録電流制御値として設定する。これは、図１３
に示すように、最小の誤り発生回数が不明である時、誤
りの発生回数が急激に増加する最小段階の記録電流制御
値Ｉｗｃｍｉｎと最大段階の記録電流制御値Ｉｗｃｍａ
ｘとの平均値を求めて、最適な記録電流制御値ＯＰＴ＿
Ｉｗｃとして設定する。この場合にも、（１２０２）段
階で設定された最適な記録電流制御値を前記保持管理領
域ＣＹＮ＿Ｍにデフォールト値として記録する。
【００５７】このような三つの実施例は、それぞれの状
態に応じて適応的に実行されるように選択することもで
き、いずれか一つのみに固定して使用することもでき
る。このような過程を通じて一番目のヘッドに対応する
ディスク面の一番目のゾーンに対する試験及び最適な記
録電流制御値の設定動作が完了する。
態に応じて適応的に実行されるように選択することもで
き、いずれか一つのみに固定して使用することもでき
る。このような過程を通じて一番目のヘッドに対応する
ディスク面の一番目のゾーンに対する試験及び最適な記
録電流制御値の設定動作が完了する。
【００５８】以後、（７２０）段階で、ゾーン番号ＺＮ
Ｏが最大ゾーン番号ＭＡＸ＿ＺＮＯになったか否かを検
査し、そうでなければ、（７２２）段階で、ゾーン番号
ＺＮＯを増加させて次のゾーンを選択した後前記（７０
４）段階から再実行する。これにより、一つのヘッドに
対応する一面のディスクに対する試験及び最適な記録電
流制御値の設定動作が完了する。（７２０）段階で、ゾ
ーン番号ＺＮＯが最大ゾーン番号ＭＡＸ＿ＺＮＯになれ
ば、（７２６）段階でヘッド番号ＨＮＯを増加させて次
のヘッドを選択した後、前記（７０２）段階から再実行
する。これにより、該当ＨＤＤの全てのヘッドとそれぞ
れのヘッドに対応するディスク上の領域に対する試験及
び最適な記録電流制御値の設定動作が完了する。
Ｏが最大ゾーン番号ＭＡＸ＿ＺＮＯになったか否かを検
査し、そうでなければ、（７２２）段階で、ゾーン番号
ＺＮＯを増加させて次のゾーンを選択した後前記（７０
４）段階から再実行する。これにより、一つのヘッドに
対応する一面のディスクに対する試験及び最適な記録電
流制御値の設定動作が完了する。（７２０）段階で、ゾ
ーン番号ＺＮＯが最大ゾーン番号ＭＡＸ＿ＺＮＯになれ
ば、（７２６）段階でヘッド番号ＨＮＯを増加させて次
のヘッドを選択した後、前記（７０２）段階から再実行
する。これにより、該当ＨＤＤの全てのヘッドとそれぞ
れのヘッドに対応するディスク上の領域に対する試験及
び最適な記録電流制御値の設定動作が完了する。
【００５９】一方、前記試験データは、記録電流に対す
る応答特性を容易に調べるためのパターンを有するデー
タで予め設定されるが、これは、標本ＨＤＤによって予
め決定されることができる。尚、オフ−トラック値も適
当なストレス値を予め決定しておくか、或いは標本ＨＤ
Ｄによって求めることができる。これを用いて読出し／
記録回路１６の予め設定された記録電流値の範囲内で標
本ＨＤＤによって記録電流制御値Ｉｗｃの範囲を十分に
広く設定できる。
る応答特性を容易に調べるためのパターンを有するデー
タで予め設定されるが、これは、標本ＨＤＤによって予
め決定されることができる。尚、オフ−トラック値も適
当なストレス値を予め決定しておくか、或いは標本ＨＤ
Ｄによって求めることができる。これを用いて読出し／
記録回路１６の予め設定された記録電流値の範囲内で標
本ＨＤＤによって記録電流制御値Ｉｗｃの範囲を十分に
広く設定できる。
【００６０】以後、マイクロコントローラ３８は、ディ
スク１０上へのデータ記録時データを記録するヘッド１
２の位置したディスク面１０のゾーンに対応する最適な
記録電流制御値に従うデューティにてＰＷＭ信号ＷＣ＿
ＰＷＭを発生することにより、記録電流値を適応的に調
整することができる。
スク１０上へのデータ記録時データを記録するヘッド１
２の位置したディスク面１０のゾーンに対応する最適な
記録電流制御値に従うデューティにてＰＷＭ信号ＷＣ＿
ＰＷＭを発生することにより、記録電流値を適応的に調
整することができる。
【００６１】一方、上述した本発明では、具体的な実施
例について説明してきたが、本発明における技術的な思
想を外れない範囲内では、多様な変形及び変化が可能で
ある。特に、本発明の説明ではＨＤＤの例を挙げて説明
したが、ＨＤＤだけでなくＦＤＤなどのような磁気ディ
スク記録装置に特別な変形無く全て適用することができ
る。尚、個々のＨＤＤごとでそれぞれのヘッドとそれに
対応するディスク上の領域ごとの特性に応じて最適の記
録電流制御値を試験して設定することを例示したが、必
要に応じて、単純にＰＷＭ信号によって記録電流値を調
整する回路んみに対して選択的に使用されるか、或いは
ヘッドまたはゾーンのみに対して選択的に使用されるこ
ともできる。従って、本発明の範囲は説明された実施例
によって決められず、特許請求の範囲及びこの特許請求
の範囲と均等なものによって決められるべきである。
例について説明してきたが、本発明における技術的な思
想を外れない範囲内では、多様な変形及び変化が可能で
ある。特に、本発明の説明ではＨＤＤの例を挙げて説明
したが、ＨＤＤだけでなくＦＤＤなどのような磁気ディ
スク記録装置に特別な変形無く全て適用することができ
る。尚、個々のＨＤＤごとでそれぞれのヘッドとそれに
対応するディスク上の領域ごとの特性に応じて最適の記
録電流制御値を試験して設定することを例示したが、必
要に応じて、単純にＰＷＭ信号によって記録電流値を調
整する回路んみに対して選択的に使用されるか、或いは
ヘッドまたはゾーンのみに対して選択的に使用されるこ
ともできる。従って、本発明の範囲は説明された実施例
によって決められず、特許請求の範囲及びこの特許請求
の範囲と均等なものによって決められるべきである。
【００６２】
【発明の効果】以上から述べてきたように、本発明は、
磁気ディスク記録装置ごとにハードウェアを変更しなく
ても、それぞれのヘッド及びディスク特性に合うように
記録電流を最適状態に適応的に設定及び制御することに
より、読出し／記録動作時の誤りを減少させることがで
きる。尚、ＰＷＭ信号によって記録電流値を調整するこ
とにより、ＤＡＣを別途に使用する従来の場合に比べて
調整が容易であり、且つ調整段階もより精密に制御し得
るという利点がある。
磁気ディスク記録装置ごとにハードウェアを変更しなく
ても、それぞれのヘッド及びディスク特性に合うように
記録電流を最適状態に適応的に設定及び制御することに
より、読出し／記録動作時の誤りを減少させることがで
きる。尚、ＰＷＭ信号によって記録電流値を調整するこ
とにより、ＤＡＣを別途に使用する従来の場合に比べて
調整が容易であり、且つ調整段階もより精密に制御し得
るという利点がある。
【図１】記録電流に対するヘッドの飽和特性を示す曲線
図。
図。
【図２】コンスタント−デンシティ記録形態を採用した
ＨＤＤにおけるディスク上の領域割り当て例を示す図。
ＨＤＤにおけるディスク上の領域割り当て例を示す図。
【図３】一般的なＨＤＤの構成を示すブロック図。
【図４】本発明に従う記録電流制御回路図。
【図５】図４に示した各部分の動作波形図。
【図６】本発明に従う図４の回路を図３のＨＤＤに適用
した例を示すブロック構成図。
した例を示すブロック構成図。
【図７】本発明に従う記録電流最適化の流れ図。
【図８】本発明に従う第１実施例の最適な記録電流値を
設定するための流れ図。
設定するための流れ図。
【図９】図８に示した最適な記録電流制御値を設定する
例示図。
例示図。
【図１０】本発明に従う第２実施例の最適な記録電流制
御値を設定するための流れ図。
御値を設定するための流れ図。
【図１１】図１０に示した最適な記録電流制御値を設定
するための例示図。
するための例示図。
【図１２】本発明に従う第３実施例の最適な記録電流制
御値を設定するための流れ図。
御値を設定するための流れ図。
【図１３】図１２に示した最適な記録電流値を設定する
例示図。
例示図。
１０ ディスク １２ ヘッド １６ 読出し／記録回路 １８ 読出し／記録チャンネル回路 ２０ ＤＤＣ(Disk Data Controller) ２２ バッファラム ２４ マイクロコントローラ ２６ ＲＯＭ ２８ サーボ駆動部 ３０ アクチュエータ ３２ スピンドルモータ駆動部 ３４ スピンドルモータ ３６ ディスク信号制御部 ３８ マイクロコントローラ ４０ 記録電流調整回路
Claims (18)
- 【請求項１】 磁気ディスク上へのデータ記録時に記録
電流制御端子の電流量に対応する記録電流値を記録デー
タに応じてヘッドに印加する読出し／記録素子を備える
磁気ディスク記録装置の記録電流制御回路において、 前記記録電流量を決定するために予め設定された記録電
流制御値に対応するデューティを有するパルス幅変調信
号を発生する制御手段と、 前記記録電流制御端子と前記制御手段との間に接続さ
れ、前記パルス幅変調信号のデューティに対応するよう
に前記記録電流制御端子の電流量を調整する記録電流調
整手段と、から備えることを特徴とする記録電流制御回
路。 - 【請求項２】 前記記録電流調整手段は、前記パルス幅
変調信号を平滑してその直流電圧レベルに対応するよう
に前記記録電流制御端子の電流量を調整する請求項１記
載の記録電流制御回路。 - 【請求項３】 前記記録電流調整手段は、 前記記録電流制御端子と接地との間に接続される第１抵
抗素子と、 前記第１抵抗素子に並列接続される第２抵抗素子及びキ
ャパシタと、 前記パルス幅変調信号を入力する制御端子を有し、前記
第２抵抗素子及びキャパシタ間の接続点に接続される第
３抵抗素子と接地との間を前記パルス幅変調信号に応じ
てスイッチングするスイッチング素子と、から構成され
る請求項２記載の記録電流制御回路。 - 【請求項４】 前記記録電流制御値は、前記磁気ディス
ク記録装置に備えられた全てのヘッドのそれぞれに対応
するように設定された最適な記録電流制御値である請求
項１または請求項２記載の記録電流制御回路。 - 【請求項５】 前記最適な記録電流制御値は、前記磁気
ディスク記録装置の全てのヘッドのそれぞれに対応する
ディスク面の全てのゾーンのそれぞれに対応するように
設定された値である請求項４記載の記録電流制御回路。 - 【請求項６】 前記制御手段は、前記ディスク上にデー
タを記録するために選択されるヘッドの位置したディス
ク面のゾーンに対応する前記最適な記録電流制御値によ
るデューティで前記パルス幅変調信号を発生する請求項
５記載の記録電流制御回路。 - 【請求項７】 前記制御手段は、前記パルス幅変調信号
の出力端子を有するマイクロコントローラである請求項
６記載の記録電流制御回路。 - 【請求項８】 磁気ディスク上へのデータ記録時に記録
電流制御端子の電流量に対応する記録電流を記録データ
に応じてヘッドに印加する読出し／記録素子と、所定の
記録電流制御値に対応するデューティを有するパルス幅
変調信号によって前記記録電流制御端子の電流量を調整
する記録電流調整手段とを備える磁気ディスク記録装置
の記録電流最適化方法において、 前記記録電流制御値を一定の範囲内で段階的に増加させ
ながら各段階ごとに一定の回数だけ読出し試験を行っ
て、各段階の記録電流制御値ごとに誤り発生回数を検査
する試験過程と、 前記誤り発生回数の一番少ない段階の記録電流制御値を
最適な記録電流制御値として設定する設定過程と、を備
えてなることを特徴とする記録電流最適化方法。 - 【請求項９】 前記設定過程は、前記誤り発生回数の一
番少ない段階の記録電流制御値の最小値と最大値との平
均値を求め、最適な記録電流制御値として設定する請求
項８記載の記録電流最適化方法。 - 【請求項１０】 前記設定過程は、前記最適な記録電流
制御値を前記ディスク上の保持管理領域にデフォールト
値として記録して、以後のデータ記録時に用いられるよ
うにする請求項９記載の記録電流最適化方法。 - 【請求項１１】 前記試験過程の読出試験は、オフ−ト
ラック状態で行われる請求項１０記載の記録電流最適化
方法。 - 【請求項１２】 前記方法は、前記磁気ディスク記録装
置に備えられた全てのヘッドに対してそれぞれ前記過程
を行って、それぞれのヘッドごとに対応するように前記
最適な記録電流制御値を設定する過程をさらに備える請
求項９または請求項１０記載の記録電流最適化方法。 - 【請求項１３】 前記方法は、前記磁気ディスク記録装
置に備えられた全てのヘッドのそれぞれに対応するディ
スク面の全てのゾーンに対してそれぞれ前記過程を行っ
て、各ヘッドに対応するゾーンごとに前記最適な記録電
流制御値を設定する過程をさらに備える請求項１２記載
の記録電流最適化方法。 - 【請求項１４】 磁気ディスク上へのデータ記録時に記
録電流制御端子の電流量に対応する記録電流を記録デー
タに応じてヘッドに印加する読出し／記録素子と、所定
の記録電流制御値に対応するデューティを有するパルス
幅変調信号により前記記録電流制御端子の電流量を調整
する記録電流調整手段と、を備える磁気ディスク記録装
置の記録電流最適化方法において、 前記記録電流制御値を一定の範囲内で段階的に増加させ
つつ各段階ごとに一定の回数だけ読出し試験を行うこと
により、各段階の記録電流制御値ごとに誤り発生回数を
検査する試験過程と、 前記誤り発生回数が急激に増加する最小段階の記録電流
制御値と最大段階の記録電流制御値との平均を求め、最
適な記録電流制御値として設定する設定過程とを備えて
なることを特徴とする記録電流最適化方法。 - 【請求項１５】 前記設定過程は、前記最適な記録電流
制御値を前記ディスク上の保持管理領域にデフォールト
値として記録して以後のデータ記録時に用いられるよう
にする請求項１４記載の記録電流最適化方法。 - 【請求項１６】 前記試験過程の読出し試験は、オフ−
トラック状態で行なわれる請求項１５記載の記録電流最
適化方法。 - 【請求項１７】 前記方法は、前記磁気ディスク記録装
置に備えられた全てのヘッドに対してそれぞれ前記過程
を行い、それぞれのヘッドごとに対応するように前記最
適な記録電流制御値を設定する過程を更に備える請求項
１４または請求項１５記載の記録電流最適化方法。 - 【請求項１８】 前記方法は、前記磁気ディスク記録装
置に備えられた全てのヘッドのそれぞれに対応するディ
スク面の全てのゾーンに対してそれぞれ前記過程を行
い、各ヘッドに対応するゾーンごとに前記最適な記録電
流制御値を設定する過程を更に備える請求項１７記載の
記録電流最適化方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1995P53518 | 1995-12-21 | ||
| KR1019950053518A KR0182952B1 (ko) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | 자기 디스크 기록장치의 기록전류 제어회로와 그 최적화방법 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09288803A true JPH09288803A (ja) | 1997-11-04 |
Family
ID=19442417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8343102A Pending JPH09288803A (ja) | 1995-12-21 | 1996-12-24 | 磁気ディスク記録装置の記録電流制御回路とその最適化方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US6175456B1 (ja) |
| JP (1) | JPH09288803A (ja) |
| KR (1) | KR0182952B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010114970A (ja) * | 2008-11-05 | 2010-05-20 | Meidensha Corp | 蓄電装置の充放電試験システムおよび充放電試験方法 |
Families Citing this family (30)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| KR100518549B1 (ko) * | 2003-01-16 | 2005-10-04 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브를 위한 최적 언래치 프로파일 작성및 갱신방법 |
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| US7085089B2 (en) * | 2003-04-01 | 2006-08-01 | Agere Systems Inc. | System and method for reducing circumferential transition incoherence in servowriting operations and magnetic disk drive incorporating the same |
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| KR100524989B1 (ko) * | 2003-10-04 | 2005-10-31 | 삼성전자주식회사 | 데이터 저장 시스템에서의 리트라이 개선 방법 및 이를이용한 디스크 드라이브 |
| KR100594250B1 (ko) * | 2004-02-16 | 2006-06-30 | 삼성전자주식회사 | 인접 트랙 지움에 대비한 데이터 기록 방법 및 이제 적합한 프로그램이 기록된 기록 매체 |
| KR100594260B1 (ko) * | 2004-02-27 | 2006-06-30 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 드라이브용 프리앰프의 셋업 방법 |
| JP2005267778A (ja) * | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Fujitsu Ltd | データ記録再生装置、記録媒体、データ記録再生方法およびデータ記録再生プログラム |
| JP4227931B2 (ja) * | 2004-04-15 | 2009-02-18 | 株式会社日立製作所 | 情報記憶装置、情報格納方法及び情報記憶処理プログラム |
| KR100712510B1 (ko) * | 2005-05-09 | 2007-04-27 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브의 기록강도 제어 방법 및 이에 적합한프로그램을 기록한 기록 매체 |
| KR100699878B1 (ko) | 2005-11-18 | 2007-03-28 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브의 기록 전류 최적화 방법, 이에적합한 기록 매체 그리고 이에 적합한 장치 |
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