JP3946186B2 - チャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法及びその装置 - Google Patents
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Description
まず,図1に基づいて,第1の実施の形態にかかるHDD10の構成を説明する。なお,図1は,本実施形態にかかるHDD10の構成を示す平面図である。
Stack Assembly)22に結合されている。HSA22は,ボイスコイル26を有するアクチュエータアーム24に付着されている。ボイスコイル26は,ボイスコイルモータ(VCM:Voice
Coil Motor)30を特定するマグネチックアセンブリ28に隣接して位置している。ボイスコイル26に供給される電流は,弁アセンブリ32に対してアクチュエータアーム24を回転させるトルクを発生させる。アクチュエータアーム24の回転は,ディスク表面18を横切って変換機を移動させる。
Sector Gap)領域が存在する。識別フィールドは,セクター及びトラック(シリンダー)を識別するグレーコードを含む。変換機は,他のトラックにある情報を再生または記録するためにディスク表面18を横切って移動される。
Signal Processor),マイクロプロセッサ,ソフトウェアを利用して制御するマイクロコントローラの何れかを含む。しかし,コントローラ42は,実際に回路及び機械的な手段よりなることもある。コントローラ42は,ディスク12から/に情報を再生/記録するためにR/Wチャンネル44に制御信号を供給する。情報は,通常,R/Wチャンネルからホストインタフェース回路47に伝送される。ホストインタフェース回路47は,PC(パーソナルコンピュータ)などのシステムにインタフェースするためにディスクドライブを許すバッファメモリ及び制御回路を含む。
12 磁気ディスク
14 スピンドルモータ
18 ディスク表面
20 ヘッド
22 HSA
24 アクチュエータアーム
26 ボイスコイル
28 マグネチックアセンブリ
30 VCM
32 弁アセンブリ
34 トラック
Claims (26)
- データ保存システムの制御方法において,
(a)チャンネル毎に各々性能に関連した所定の特性値を測定する段階と,
(b)前記段階(a)で測定されたチャンネル毎に各々の特性値に相応して各チャンネルのデータ処理特性を決定するチャンネル別パラメータ値を決定する段階と,
(c)前記段階(b)で決定されたチャンネル別パラメータを当該チャンネルデータ処理プロセスに適用して,ディフェクトスキャン処理を実行する段階と,を含む,
ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。 - 前記所定の特性値は,BER値を含む,ことを特徴とする請求項1に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- 前記パラメータは,ECC長を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項1に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- 前記パラメータは,記録電流の値を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項1に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- 前記パラメータは,リードバイアス電流を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項1に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- 前記パラメータは,信号処理に使われるフィルターの特性を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項1に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- 前記パラメータは,各々のチャンネル毎に別々に設定される,ことを特徴とする請求項1に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- データ保存システムの制御方法において,
(a)所定の基準ECC長を適用して各チャンネル毎に所定領域にテストデータを記録する段階と,
(b)各チャンネル毎に各前記テストデータが記録された領域をリードして,チャンネル毎にBER値を測定する段階と,
(c)前記段階(b)で測定された各チャンネル別BER値と基準BER値とを比較する段階と,
(d)前記段階(c)の比較結果によってECC長の値を決定する段階と,
(e)前記段階(d)で各チャンネル毎に各々決定されたECC長の値を適用してディフェクトスキャン処理を実行する段階と,を含む,ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。 - 前記基準BER値は,エラー訂正コードの長さ変更によって決定される,ことを特徴とする請求項8に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- データ保存システム制御装置において,
データ保存システムの性能に関連した所定の特性値に対応する所定のパラメータ値が設定されたテーブルを保存するメモリと,
各チャンネル毎に性能に関連した所定の特性値を測定し,各チャンネル毎に測定された特性値に対応するパラメータ値を前記メモリに保存されたテーブルからリードし,各チャンネル毎にリードされたパラメータ値を当該チャンネルデータ処理プロセスに適用して,ディフェクトスキャン処理を実行するように制御するコントローラとを含む,ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。 - 前記所定の特性値は,BER値を含む,ことを特徴とする請求項10に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
- 前記所定のパラメータは,ECC長を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項10に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
- 前記所定のパラメータは,記録電流の値を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項10に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
- 前記所定のパラメータは,リードバイアス電流を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項10に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
- 前記所定のパラメータは,信号処理に使われるフィルターの特性を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項10に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
- データ保存システムの制御方法において,
(a)第1チャンネルに対する第1特性値を得るために第1チャンネル特性を測定する段階と,
(b)第2チャンネルに対する第2特性値を得るために第2チャンネル特性を測定する段階と,
(c)データ保存システムの前記第1及び第2チャンネル各々の性能に関連した所定のチャンネル値に相応するパラメータが設定されたテーブルを利用して前記第1チャンネル値に対応する第1パラメータと前記第2チャンネル値に対応する第2パラメータとを決定する段階と,
(d)前記段階(c)で決定された第1及び第2パラメータを各々第1及び第2チャンネルデータ処理プロセスに適用してディフェクトスキャン処理を実行する段階と,を含む,ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。 - 前記第1及び第2特性値は,BER値を含む,ことを特徴とする請求項16に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- 前記第1及び第2パラメータは,ECC長を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項16に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- 前記第1及び第2パラメータは,記録電流の値を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項16に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- 前記第1及び第2パラメータは,リードバイアス電流を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項16に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- 前記第1及び第2パラメータは,信号処理に使われるフィルターの特性を決定するパラメータを含む,ことを特徴とする請求項16に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
- 前記段階(d)は,
(d1)ディフェクトスキャンを行うためのリトライ回数を決定する段階と,
(d2)ディフェクトの位置を決定するために各チャンネル毎にテストデータをライトする段階と,
(d3)前記各チャンネル毎にテストデータをリードする段階と,
(d4)エラー訂正コードを利用してテストデータでエラーを検出する段階と,
(d5)前記段階(d4)で検出されたエラーを訂正する段階と,
(d6)前記段階(d5)でのエラー訂正処理が失敗してエラーが発生するかの如否を判断する段階と,を含む,ことを特徴とする請求項16に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。 - 複数のチャンネルを有するデータ保存システム制御装置において,
ディスクの性能に関連した所定の特性値に対応する所定のパラメータ値が設定されたテーブルを保存するメモリと,
第1チャンネルの性能に関連した第1特性値及び第2チャンネルの性能に関連した第2特性値を各々測定し,測定された第1及び第2特性値に各々対応する第1及び第2パラメータ値を前記メモリに保存されたテーブルからリードし,リードされた前記第1及び第2パラメータ値を各々第1及び第2チャンネルデータ処理プロセスに適用して,ディフェクトスキャン処理を実行するように制御するコントローラと,を含む,ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。 - 前記コントローラは,デジタル信号プロセッサ,マイクロプロセッサ,マイクロコントローラのうち何れか一つを含む,ことを特徴とする請求項23に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
- 前記コントローラは,ディスクに対して情報をリード/ライトするためのリード/ライトチャンネル回路に制御信号を供給する,ことを特徴とする請求項23に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
- 前記コントローラは,ディスクのディフェクトスキャン処理を実行し,ヘッドを利用してディスクから/にデータをリード/ライトするように制御する,ことを特徴とする請求項23に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
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