KR0176143B1

KR0176143B1 - 자기디스크 기록장치의 헤드스택 성능 측정장치 및 그에 따른 운용방법

Info

Publication number: KR0176143B1
Application number: KR1019960013878A
Authority: KR
Inventors: 이성노
Original assignee: 김광호; 삼성전자주식회사
Priority date: 1996-04-30
Filing date: 1996-04-30
Publication date: 1999-04-15
Also published as: KR970071687A

Abstract

1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야

자기디스크 기록장치의 테스트(test)하는 장치 및 방법에 있어서, 특히 헤드 스택 테스트(head stack test)를 외부 테스트 장비를 통하지 않고 내부적으로 테스트 장비를 구비하여 간단한 테스트 실행을 하는 테스트 장치 및 방법에 관한 것이다.

2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제

현재 상기 헤드 스택을 테스트하는 장비가 너무 비싸기 때문에 모든 헤드를 검사할 만큼의 장비를 구입한다는 것은 비용이 너무 많이 드는 문제점이 있었고, 헤드에 대한 모든 특성을 일일이 테스트한다는 것도 시간이 너무 많이 걸리므로 몇개의 헤드를 샘플링하여 테스트하였기 때문에 신뢰성이 떨어지는 문제점이 발생하였다. 그러므로, 상기와 같은 문제점을 해결한다.

3. 발명의 해결방법의 요지

자기디스크 기록장치의 헤드 스택 테스트(head stack test)를 외부 테스트 장비를 통하지 않고 내부적으로 테스트 장비를 구비하여 간단한 테스트 실행을 하는 테스트 장치 및 방법을 제공한다.

4. 발명의 중요한 용도

자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능 측정 장치 및 그에 따른 운용 방법.

Description

자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능 측정 장치 및 그에 따른 운용 방법

제1도는 본 발명의 실시예에 따른 헤드 스택 성능을 측정하는 블럭 구성도.

제2도는 본 발명의 실시예에 따라 외부에 표시하는 표시부의 구성도.

제3도는 본 발명의 실시예에 따른 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능 측정을 운용하는 제어 흐름도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

100 : 디스크(disk) 102 : 헤드 스택(head stack)

104 : 헤드 스택 모터 106 : 스핀들 모터

108 : 주회로부 122 : 외부 표시부

본 발명은 자기디스크 기록장치의 테스트(test)하는 장치 및 방법에 있어서, 특히 헤드 스택 테스트(head stack test)를 외부 테스트 장비를 통하지 않고 내부적으로 테스트 장비를 구비하여 간단한 테스트 실행을 하는 테스트 장치 및 방법에 관한 것이다.

통상적으로 지난 수 십년 동안 컴퓨터 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive) 기술의 발전은 VLSI와 소프트웨어 기술의 비약적인 발전과 더불어 현대 정보산업 발전의 중요한 견인차 역활을 해왔다. 그리고, 디스크 드라이브의 기술의 추세는 소형화, 대용량화라고 말할 수 있으며, 데이타의 기록밀도로 볼 때 십년마다 거의 열배씩 증가해왔다. 이러한 상기 컴퓨터 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive)에 있어서 헤드가 차지하는 중요도는 상당한 것이다. 그러므로, 디스크와의 조립에 들어가기 전에 헤드나 헤드 스택을 테스트하는 것은 필수적인 과정이다.

일반적으로 헤드를 테스트하는 방법은 일정 주파수의 신호를 고정된 테스트 디스크에 기록하고 이를 독출하여 진폭특성 측정, 낮은 주파수의 높은 주파수에 대한 진폭의 비를 측정, 오버라이트(overwrite)측정, 헤드의 플라잉 높이(flying height)측정, 기록한 신호에 대한 쉬프트(shift)정도 측정, 펄스에 대한 반응측정, 에러의 비(error rate)측정등을 테스트하여 상기 헤드의 불량품을 가려 내었다.

하지만, 현재 상기 헤드 스택을 테스트하는 장비가 너무 비싸기 때문에 모든 헤드를 검사할 만큼의 장비를 구입한다는 것은 비용이 너무 많이드는 문제점이 있었다. 또한, 헤드에 대한 모든 특성을 일일이 테스트 한다는 것도 시간이 너무 많이 걸리므로 몇개의 헤드를 샘플링하여 테스트 하였기 때문에 신뢰성이 떨어지는 문제점이 발생하였다.

따라서, 본 발명의 목적은 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 테스트(heak stack test)를 외부 테스트 장비를 통하지 않고 내부적으로 테스트 장비를 구비하여 간단한 테스트 실행을 하는 테스트 장치 및 방법을 제공함에 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능을 측정하여 외부에 표시하는 장치에 있어서,

상기 헤드 스택의 성능을 측정하여 외부에 표시하도록 제어하는 제어부와,

상기 제어부의 제어에 의해 제어되어 상기 헤드 스택의 성능을 외부에 표시하는 표시부를 가짐을 특징으로 하는 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능 측정 장치.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 디스크를 정속도로 회전시키는 스핀들 모터와, 테스트할 헤드 스택과, 상기 테스트할 헤드 스택을 디스크상에 위치시키기 위한 헤드 스택 모터와, 테스트 결과를 외부에 표시하는 표시부와, 상기 각 해당부를 제어하여 상기 헤드 스택을 테스트하는 제어부를 가진 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능 측정을 운용하는 방법에 있어서,

디스크를 정속도로 회전하게 하기 위한 스핀들 모터를 구동하고, 테스트할 헤드 스택의 헤드 스택 모터를 구동하여 헤드 스택을 디스크 상에 위치시키는 과정과,

상기 디스크상에 헤드 스택을 위치시켜 기준 저주파를 기록하고, 상기 기록된 저주파를 독출하는 과정과,

상기 독출된 저주파를 미리 선택된 기준값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과,

상기 디스크 상에 헤드 스택을 위치시켜 기준 고주파를 기록하고, 상기 기록된 고주파를 독출하는 과정과,

상기 독출된 고주파를 미리 선택된 기준값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과,

상기 정상 처리되어 검출된 저주파와 고주파의 비로서 진폭을 측정하여 미리 선택된 기준 진폭값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과,

상기 정상적인 진폭을 측정하여 저주파를 기록한 후 고주파를 덮어기록하고 상기 고주파를 잘라내어 저주파만을 포함시키도록 컷-오프 주파수를 조정하여 오버라이트 특성값을 검출하는 과정과,

상기 측정된 오버라이트 특성값이 미리 선택된 기준 오버라이트 특성값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과,

상기 오버라이트 테스트를 실시한 후 디스크 상의 한 트랙을 포멧/라이트 동작하는 과정과,

상기 포멧/라이트된 한 트랙을 소정의 횟수만큼 독출한 후 미리 선택된 에러 발생 기준값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능 측정을 운용하는 방법.

이하 본 발명에 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

제1도는 본 발명의 실시예에 따른 헤드 스택 성능을 측정하는 블럭 구성도로서,

상기 헤드 스택의 성능을 테스트하는 장치는 크게 4개의 부분으로 나뉘는데 디스크를 정속도로 회전시키는 디스크 구동부(124)와, 헤드 스택 구동부(126)와, 시스템을 제어하는 주회로부(108)와, 헤드 스택 성능 표시부(122)로 구성된다.

상기 디스크 구동부(124)는 디스크(100)와 상기 디스크를 정속도로 회전시키는 스핀들 모터(106)으로 구성되어 있다.

상기 헤드 스택 구동부(126)는 헤드 스택(102)과 상기 헤드 스택을 상기 디스크(100)상게 위치시키는 헤드 스택 모터로 구성되어 있다.

상기 주회로부(108)는 상기 헤드 스택의 성능을 테스트하기 위해 시스템을 전반적으로 제어 처리하는 마이크로 프로세서(micro processor)(110)와, 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)로부터 디스크(100)상이 데이타를 기록/독출하라는 제어명령을 받아 상기 헤드를 통해 데이타를 기록/독출하는 기록/독출칩(read/write chip)(114)과, 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)로부터 디스크(100)를 정속도로 회전시키라는 제어명령을 받아 상기 스핀들 모터(106)를 회전시키는 스핀들 드라이버(118)와, 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)와 상기 기록/독출칩(read/write chip)(114)과의 인터페이스를 담당하는 디스크 데이타 콘트롤러(disk data controller ; 이하 DDC라 함)와, 기준 테스트값들과 프로그램을 저장하는 PROM(112)로 구성된다.

그리고, 마지막으로 표시장치(122)는 상기 헤드 스택(102)의 테스트 상태를 외부에 표시한다.

제2도는 본 발명의 실시예에 따라 외부에 표시하는 표시부의 구성도로서,

첫번째 라인의 두개의 LED 램프(210)는 각 해당 헤드 스택(102)의 테스트 상태가 불량인지 정상인지를 알려준다. 두번째 라인의 첫번째 세그먼트(220)은 각 헤드 스택(102) 상태를 문자로 표시한다. 두번째 라인의 세개의 세그먼트(230)는 숫자를 디스플레이 한다.

제3도는 본 발명의 실시예에 따른 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능 측정을 운용하는 제어 흐름도로서,

디스크를 정속도로 회전하게 하기 위한 스핀들 모터를 구동하고, 테스트할 헤드 스택의 헤드 스택 모터를 구동하여 헤드 스택을 디스크 상에 위치시키는 과정과, 상기 디스크 상에 헤드 스택을 위치시켜 기준 저주파를 기록하고, 상기 기록된 저주파를 독출하는 과정과, 상기 독출된 저주파를 미리 선택된 기준값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과. 상기 디스크 상에 헤드 스택을 위치시켜 기준 고주파를 기록하고, 상기 기록된 고주파를 독출하는 과정과, 상기 독출된 고주파를 미리 선택된 기준값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과, 상기 정상처리되어 검출된 저주파와 고주파의 비로서 진폭을 측정하여 미리 선택된 기준 진폭값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과, 상기 정상적인 진폭을 측정하여 저주파를 기록한 후 고주파를 덮어기록하고 상기 고주파를 잘라내어 저주파만을 포함시키도록 컷-오프 주파수를 조정하여 오버라이트 특성값을 검출하는 과정과, 상기 측정된 오버라이트 특성값이 미리 선택된 기준 오버라이트 특성값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과, 상기 오버라이트 테스트를 실시한 후 디스크 상의 한 트랙을 포멧/라이트 동작하는 과정과, 상기 포멧/라이트된 한 트랙을 소정의 횟수만큼 독출한 후 미리 선택된 에러 발생 기준값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정으로 이루어진다.

이하 본 발명에 첨부되는 제1-제2도의 구성도를 참보하여 제3도의 흐름도를 상세히 설명한다.

먼저 300 단계에서 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 스핀들 드라이브(110)에 제어신호를 발생하여 스핀들 모터(106)을 정속도로 회전시킨다. 그런 후, 302 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)은 상기 헤드 스택 모터(104)로 제어신호를 발생하여 헤드 스택(102)의 위치를 디스크(100)상에 위치시킨다. 그런 후, 304 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 첫번째 헤드로 헤드 스위칭한다. 그런 후, 304 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 PROM(112) 저장된 기준 저주파를 읽어내어 기록/독출칩(114)을 통해 상기 첫번째 헤드가 디스크(100) 상의 한 트랙에 상기 기준 저주파를 기록하도록 한다. 이때, 상기 기록은 디스크 한 트랙상의 ID나 DATA 구간 앞에 기록/독출칩(114)이 동기를 맞추기 위해 사용하는 동기 패턴을 쓰는 것과 동일한 방법을 사용한다.

그런 후, 306 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 상기 디스크(100) 상의 한 트랙에 기록된 저주파를 상기 첫번째 헤드를 통해 독출하고, 리드/라이트 칩(114)에서 헤드(102)를 통해 나온 신호를 여과기를 통해 필터링하여 A/D 변환기의 입력으로 인가된다. 이때, 상기 여과기의 차단 주파수(Cut-off frequency)는 저주파만 포함하도록 조정한다. 그런 후, 308 단계에서 진폭값을 측정한다. 이때, 상기 진폭 측정은 헤드의 위치제어를 위해 사용되는 서보 섹터내의 버스트 신호를 독출하여 A/D 변환(analog to digital conversion)하는 방법과 동일한 방법을 사용한다. 이것은 즉, 서보 게이트(servo gate) 신호가 진폭을 측정하고자 하는 위치에 뜨도록 서보 게이트 타이밍(servo gate timing)을 조절하고 이와 함께 기록/독출칩(114)에서 버스트 신호를 선택하는 스트로브(strobe)신호도 서보 게이트(servo gate) 신호의 동기를 맞추어 뜨도록 한다. 이렇게 띄운 서보 게이트(servo gate) 신호는 실제 서보 정보를 독출하기 위한 것이 아니므로 가상 서보 게이트(pseudo servo gate ; 이하 PSG라 함)라 명명한다. 그리고, 서보 인터럽트(servo interupt) 신호는 서보 게이트(servo gate)가 뜰 때 발생하도록 되있는데, 여기서는 상기 PSG와 같이 발생하게 된다. 이 때, 상기 발생된 PSG 인터럽트 세비스 루틴(interrupt service routine)에서는 상기 스트로브 신호가 뜬 시점에서 A/D 변환(analog to dightal conversion)을 하고 이 값을 저장하는 일을 수행한다. 만약, 상기 PSG를 한 트랙에서 동일한 간격으로 N개가 뜨도록 프로그램했다면 각각에서 A/D 변환(analog to dightal conversion)된 진폭값들의 합을 구해 N으로 나누어 산술평균을 구하여 그 값을 주파수에 대한 진폭값으로 한다.

그런 후, 310 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 상기 측정한 저주파 진폭값과 상기 초기에 기록한 저주파수의 기준 진폭값과 비교하여 상기 측정한 저주파 진폭값보다 작은가를 검출한다. 이때, 상기 측정한 저주파 진폭값보다 작을 시 312 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 외부표시부(122) 표시램프(210)의 불량표시램프를 온 시킨 후 316 단계에서 문자표시 세그먼트(220)에 L을 표시하고, 헤드번호 세그먼트(240)에 헤드 번호를 표시하고, 숫자표시 세그먼트(230)에 헤드의 넘버와 진폭값을 표시한다. 하지만, 상기 310 단계에서 상기 측정한 저주파 진폭값보다 클 시 314 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 외부표시부(122) 표시램프(210)의 정상표시램프를 온 시킨 후 316 단계에서 문자표시 세그먼트(220)에 L을 표시하고, 헤드 번호 세그먼트(24)와 숫자표시 세그먼트(230)에 헤드의 넘버와 진폭값을 표시한다. 그런 후, 318 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 상기 디스크(100) 상의 한 트랙에 저주파를 기록하는 방법으로 고주파를 상기 저주파가 기록된 영역에 덮어 기록하고, 상기 기록된 고주파를 상기 첫번째 헤드를 통해 독출한다. 그런 후, 320 단계에서 진폭값을 측정한다. 이때, 상기 진폭값을 측정하는 방법은 앞서 설명한 저주파의 진폭값을 측정하는 방법과 동일하고, 여과기의 차단 주파수(cut-off frequency)느 고주파가 포함되도록 설정한다.

그런 후, 324 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 상기 측정한 고주파 진폭값과 상기 초기에 기록한 고주파수의 기준 진폭값과 비교하여 상기 측정한 고주파 진폭값보다 작은가를 검출한다. 이때, 상기 측정한 고주파 진폭값보다 작을 시 326 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 외부표시부(122) 표시램프(210)의 불량표시램프를 온 시킨 후 330 단계에서 문자표시 세그먼트(220)에 H을 표시하고, 헤드번호 세그먼트(240)와, 숫자표시 세그먼트(230)에 헤드의 넘버와 진폭값을 표시한다. 하지만, 상기 324 단계에서 상기 측정한 고주파 진폭값보다 클 시 314 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 외부표시부(122) 표시램프(210)의 정상표시램프를 온시킨 후 316 단계에서 문자표시 세그먼트(220)에 H을 표시하고, 헤드번호 세그먼트(240) 숫자표시 세그먼트(230)에 헤드의 넘버와 진폭값을 표시한다.

그런 후, 332 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 상기 측정된 정상상태의 저주파 진폭(A)과 고주파 진폭(B)의 분석치(resolution)값을 하기의 식과 같이 산출한다

그런 후, 334 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 상기 산출한 분석치(resolution)값이 초기에 저장된 기준분석치(resolution)값고 비교하여 상기 기준분석치(resolution)값보다 작은가를 검출한다. 이때, 상기 기준분석치(resolution)값보다 작을 시 336 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 외부표시부(122) 표시램프(210)의 불량표시램프를 온시킨 후 340 단계에서 문자표시 세그먼트(220)에 R을 표시하고, 헤드번호 세그먼트(240)와, 숫자표시 세그먼트(230)에 헤드의 넘버와 산출한 분석치(resolution)값을 표시한다. 하지만, 상기 324 단계에서 상기 기준분석치(resolution)값보다 클 시 338 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 외부표시부(122) 표시램프(210)의 정상표시램프를 온시킨 후 340 단계에서 문자표시 세그먼트(220)에 R을 표시하고, 헤드번호 세그먼트(240)와, 숫자표시 세그먼트(230)에 헤드의 넘버와 산출한 분석치(resolution)값을 표시한다.

이때, 상기 306 단계에서 저주파르 기록하고, 318 단계에서 상기 기록된 저주파에 고주파를 덮어 기록하였으므로, 342 단계에서 상기 디스크(100)에 남아 있는 저주파 성분의 진폭을 측정하여 오버라이트를 측정한다. 그런 후, 상기 고주파를 잘라내고 저주파만 포함하도록 여과기의 차단주파수 조정하여 저주파의 진폭을 측정하여 그 값을 D라 하면 오버라이트(overwrite) 특성값의 계산은 상기 308 단계에서 구한 A값을 이용하여 ()로 한다. 이때, 상기와 같은 측정을 오버라이트(overwrite)라 한다. 그런 후, 344 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 상기 측정한 오버라이트(overwrite) 특성값이 초기에 저장된 기준 오버라이트(overwrite) 특성값과 비교하여 상기 기준 오버라이트(overwrite) 특성값보다 작은가를 검출한다. 이때, 상기 기준오버라이트(overwrite) 특성값보다 클 시 346 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 외부표시부(122) 표시램프(210)의 불량표시램프를 온 시킨 후 350 단계에서 문자표시 세그먼트(220)에 0을 표시하고, 숫자표시 세그먼트(230)에 헤드의 넘버와 측정한 오버라이트(overwrite) 특성값을 표시한다. 하지만, 상기 344 단계에서 상기 기준 오버라이트(overwrite) 특성값보다 작을 시 348 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 외부표시부(122) 표시램프(210)의 정상표시램프를 온 시킨 후 350 단계에서 문자표시 세그먼트(220)에 '0을 표시하고, 숫자표시 세그먼트(230)에 헤드의 넘버와 측정한 오버라이트(overwrite) 특성값을 표시한다.

그런 후, 352 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 상기 테스트중인 헤드가 마지막 헤드인가를 검출한다. 이때, 상기 테스트중인 헤드가 마지막 헤드가 아닐 시 354 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 상기 테스트중인 헤드를 다음 헤드로 바꾸고 306 단계로 되돌아가서 다시 저주파의 진폭을 테스트한다. 하지만, 상기 352 단계에서 상기 테스트중인 헤드가 마지막 헤드일 시 356 단계에서 다시 첫번째 헤드로 바꾼다. 그런 후, 358 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 해당부를 제어하여 해당 트랙을 포멧하고 기록한 후 상기 기록된 데이타를 일정 횟수동안 독출한다. 그런 후, 360 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 상기 일정 횟수동안 발생한 에러률이 미리 선택된 기준에러 발생 횟수 보다 큰가를 검출한다. 이때, 상기 기준에러 발생 횟수값보다 클 시 362 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 외부표시부(122) 표시램프(210)의 불량표시램프를 온 시킨 후 366 단계에서 문자표시 세그먼트(220)에 E을 표시하고, 숫자표시 세그먼트(230)에 헤드의 넘버와 측정한 에러 발생 횟수값을 표시한다. 하지만, 상기 360 단계에서 상기 기준에러 발생 횟수값보다 작을 시 364 단계에서 상기 마이크로 프로세서(micro processor)(110)는 외부표시부(122) 표시램프(210)의 정상표시램프를 온 시킨 후 366 단계에서 문자표시 세그먼트(220)에 E을 표시하고, 숫자표시 세그먼트(230)에 헤드의 넘버와 측정한 에러 발생 횟수값을 표시한다.

상술한 바와 같은 본 발명은 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 테스트(head stack test)를 외부 테스트 장비를 통하지 않고 내부적으로 테스트 장비를 구비하여 간단한 테스트 실행을 하는 테스트 장치 및 방법을 제공함으로서, 고가의 테스트 장비를 사용하지 않아도 되므로 상당한 비용절감의 잇점이 있다.

Claims

자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능을 측정하여 외부에 표시하는 장치에 있어서, 상기 헤드 스택의 성능을 측정하여 외부에 표시하도록 제어하는 제어부와, 상기 제어부의 제어에 의해 제어되어 상기 헤드 스택의 성능을 외부에 표시하는 표시부를 가짐을 특징으로 하는 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능 측정 장치.
제1항에 있어서, 상기 표시부는, 헤드 스택에 대한 테스트의 불량여부를 외부에 알려주기 위한 두개의 발광 다이오드와, 헤드 스택에 대한 테스트 항목을 외부에 알려주기 위한 한개의 문자표시 세그먼트와, 헤드 스택에 대한 테스트량을 외부에 알려주기 위한 세개의 숫자표시 세그먼트로 이루어짐을 특징으로 하는 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능을 측정하여 외부에 표시하는 장치.
디스크를 정속도로 회전시키는 스핀들 모터와, 테스트할 헤드 스택과, 상기 테스트할 헤드 스택을 디스크상에 위치시키기 위한 헤드 스택 모터와, 테스트 결과를 외부에 표시하는 표시부와, 상기 각 해당부를 제어하여 상기 헤드 스택을 테스트하는 제어부를 가진 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능 측정을 운용하는 방법에 있어서, 디스크를 정속도로 회전하게 하기 위한 스핀들 모터를 구동하고, 테스트할 헤드 스택의 헤드 스택 모터를 구동하여 헤드 스택을 디스크 상에 위치시키는 과정과, 상기 디스크상에 헤드 스택을 위치시켜 기준 저주파를 기록하고, 상기 기록된 저주파를 독출하는 과정과, 상기 독출된 저주파를 미리 선택된 기준값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과, 상기 디스크 상에 헤드 스택을 위치시켜 기준 고주파를 기록하고, 상기 기록된 고주파를 독출하는 과정과, 상기 독출된 고주파를 미리 선택된 기준값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과, 상기 정상 처리되어 검출된 저주파와 고주파의 비로서 진폭을 측정하여 미리 선택된 기준 진폭값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과, 상기 정상적인 진폭을 측정하여 저주파를 기록한 후 고주파를 덮어 기록하고 상기 고주파를 잘라내어 저주파만을 포함시키도록 컷-오프 주파수를 조정하여 오버라이트 특성값을 검출하는 과정과, 상기 측정된 오버라이트 특성값이 미리 선택된 기준 오버라이트 특성값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정과, 상기 오버라이트 테스트를 실시한 후 디스크 상의 한 트랙을 포멧/라이트 동작하는 과정과, 상기 포멧/라이트된 한 트랙을 소정의 횟수만큼 독출한 후 미리 선택된 에러 발생 기준값과 비교하여 상기 비교 결과 상태를 상기 표시부에 표시하는 과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 자기디스크 기록장치의 헤드 스택 성능 측정을 운용하는 방법.