JPH09287922A - 帯状材料計測装置 - Google Patents
帯状材料計測装置Info
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- JPH09287922A JPH09287922A JP9827796A JP9827796A JPH09287922A JP H09287922 A JPH09287922 A JP H09287922A JP 9827796 A JP9827796 A JP 9827796A JP 9827796 A JP9827796 A JP 9827796A JP H09287922 A JPH09287922 A JP H09287922A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 帯状材料の素材や表面の色、周囲の環境に影
響されることなく、正確で安定した計測が可能な帯状材
料計測装置を提供すること。 【解決手段】 一定の方向イに搬送される帯状材料1に
対し、搬送方向に沿う一対の辺2,3の上部に、前面に
赤外線透過フィルタを有するCCDラインセンサ21
A,21Bをそれぞれ設けるとともに、上部外側に赤外
光源22A,22Bをそれぞれ設け、赤外光源22A,
22Bから出射され帯状材料1で反射される赤外光をC
CDラインセンサ21A,21Bでとらえ、その走査光
電変換信号と該CCDラインセンサ21A,21B間の
間隔(既知)とに基づいて帯状材料1の搬送方向と直交
する方向の長さを計測する。
響されることなく、正確で安定した計測が可能な帯状材
料計測装置を提供すること。 【解決手段】 一定の方向イに搬送される帯状材料1に
対し、搬送方向に沿う一対の辺2,3の上部に、前面に
赤外線透過フィルタを有するCCDラインセンサ21
A,21Bをそれぞれ設けるとともに、上部外側に赤外
光源22A,22Bをそれぞれ設け、赤外光源22A,
22Bから出射され帯状材料1で反射される赤外光をC
CDラインセンサ21A,21Bでとらえ、その走査光
電変換信号と該CCDラインセンサ21A,21B間の
間隔(既知)とに基づいて帯状材料1の搬送方向と直交
する方向の長さを計測する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、帯状材料の搬送方
向と直交する方向の長さ(幅)を計測する装置の改良に
関するものである。
向と直交する方向の長さ(幅)を計測する装置の改良に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】図2は従来のこの種の帯状材料計測装置
の一例を示すもので、図示しないコンベア等の搬送手段
により矢印イで示す一定の方向に搬送される帯状材料1
に対し、その搬送方向に沿う一対の辺2,3の上部にイ
メージセンサ11,12をそれぞれ設けるとともに下部
に光源13,14をそれぞれ設け、光源13,14から
出射され帯状材料1で遮られる光の影をイメージセンサ
11,12でとらえ、その出力信号と該イメージセンサ
11,12間の間隔(既知)に基づいて帯状材料1の搬
送方向と直交する方向の長さLを計測する如くなしてい
た。
の一例を示すもので、図示しないコンベア等の搬送手段
により矢印イで示す一定の方向に搬送される帯状材料1
に対し、その搬送方向に沿う一対の辺2,3の上部にイ
メージセンサ11,12をそれぞれ設けるとともに下部
に光源13,14をそれぞれ設け、光源13,14から
出射され帯状材料1で遮られる光の影をイメージセンサ
11,12でとらえ、その出力信号と該イメージセンサ
11,12間の間隔(既知)に基づいて帯状材料1の搬
送方向と直交する方向の長さLを計測する如くなしてい
た。
【0003】また、図3は従来のこの種の帯状材料計測
装置の他の例を示すもので、前記同様な帯状材料1の上
部にCCDカメラ15,16,17,18を設け、該C
CDカメラ15〜18がとらえた画像を処理し、該画像
内の帯状材料1の位置と各カメラの設置位置に基づいて
前記長さLを計測する如くなしていた。
装置の他の例を示すもので、前記同様な帯状材料1の上
部にCCDカメラ15,16,17,18を設け、該C
CDカメラ15〜18がとらえた画像を処理し、該画像
内の帯状材料1の位置と各カメラの設置位置に基づいて
前記長さLを計測する如くなしていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た図2の装置では、帯状材料の上下に装置構成部品を配
置する透過式にしなければならないため、専用の設置空
間が必要となり、また、搬送手段の幅を帯状材料より狭
くしなければならないので、タイヤを構成するゴムのよ
うな可撓性を有する素材からなる帯状材料の場合には変
形して正確な計測ができないという問題があった。ま
た、図3の装置では、帯状材料の表面の色、例えばタイ
ヤを構成するゴムのように黒色の場合には映像としてと
らえ難く、精度を確保しながら広範囲の計測を行うため
には、多数のカメラが必要となって高価となり、また、
搬送手段の汚れや周囲光に左右され易く、安定した計測
が困難であるという問題があった。
た図2の装置では、帯状材料の上下に装置構成部品を配
置する透過式にしなければならないため、専用の設置空
間が必要となり、また、搬送手段の幅を帯状材料より狭
くしなければならないので、タイヤを構成するゴムのよ
うな可撓性を有する素材からなる帯状材料の場合には変
形して正確な計測ができないという問題があった。ま
た、図3の装置では、帯状材料の表面の色、例えばタイ
ヤを構成するゴムのように黒色の場合には映像としてと
らえ難く、精度を確保しながら広範囲の計測を行うため
には、多数のカメラが必要となって高価となり、また、
搬送手段の汚れや周囲光に左右され易く、安定した計測
が困難であるという問題があった。
【0005】本発明の目的は、帯状材料の素材や表面の
色、周囲の環境に影響されることなく、正確で安定した
計測が可能な帯状材料計測装置を提供することにある。
色、周囲の環境に影響されることなく、正確で安定した
計測が可能な帯状材料計測装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明では、コンベア等により一定の方向に搬送さ
れる帯状材料の搬送方向と直交する方向の長さを計測す
る帯状材料計測装置において、前面に赤外線透過フィル
タを有し、帯状材料の搬送方向に沿う一対の辺をそれぞ
れ含む一対の所定の範囲を搬送方向と直交する方向にそ
れぞれ走査するように設置された一対のCCDラインセ
ンサと、該一対のCCDラインセンサの走査範囲をそれ
ぞれ照射する一対の赤外光源と、前記一対のCCDライ
ンセンサから帯状材料の搬送方向と直交する方向の1ラ
イン分の走査光電変換信号を読み取るデータ入力手段
と、該1ライン分の走査光電変換信号と予め計測された
前記一対のCCDラインセンサ間の間隔とに基づいて帯
状材料の搬送方向と直交する方向の長さを算出する演算
処理手段とを備えた。
め、本発明では、コンベア等により一定の方向に搬送さ
れる帯状材料の搬送方向と直交する方向の長さを計測す
る帯状材料計測装置において、前面に赤外線透過フィル
タを有し、帯状材料の搬送方向に沿う一対の辺をそれぞ
れ含む一対の所定の範囲を搬送方向と直交する方向にそ
れぞれ走査するように設置された一対のCCDラインセ
ンサと、該一対のCCDラインセンサの走査範囲をそれ
ぞれ照射する一対の赤外光源と、前記一対のCCDライ
ンセンサから帯状材料の搬送方向と直交する方向の1ラ
イン分の走査光電変換信号を読み取るデータ入力手段
と、該1ライン分の走査光電変換信号と予め計測された
前記一対のCCDラインセンサ間の間隔とに基づいて帯
状材料の搬送方向と直交する方向の長さを算出する演算
処理手段とを備えた。
【0007】前記構成によれば、CCDラインセンサの
前面に赤外線透過フィルタを設けるとともに赤外光源を
設けたことにより、計測対象となる帯状材料の赤外光
(熱)に対する反射率が周囲と異なれば、該帯状材料の
素材や色に拘りなく、また、搬送手段の汚れや周囲光の
影響を受けることなく、搬送方向に沿う辺の部分を検出
でき、また、透過式にする必要がなく、設置が容易とな
り、さらにまた、データ入力手段によりCCDラインセ
ンサから帯状材料の搬送方向と直交する方向の1ライン
分の走査光電変換信号を読み取り、演算処理手段により
1ライン分の走査光電変換信号と予め計測されたCCD
ラインセンサ間の間隔とに基づいて演算することによ
り、帯状材料の搬送方向と直交する方向の長さを安定し
て計測することが可能となる。
前面に赤外線透過フィルタを設けるとともに赤外光源を
設けたことにより、計測対象となる帯状材料の赤外光
(熱)に対する反射率が周囲と異なれば、該帯状材料の
素材や色に拘りなく、また、搬送手段の汚れや周囲光の
影響を受けることなく、搬送方向に沿う辺の部分を検出
でき、また、透過式にする必要がなく、設置が容易とな
り、さらにまた、データ入力手段によりCCDラインセ
ンサから帯状材料の搬送方向と直交する方向の1ライン
分の走査光電変換信号を読み取り、演算処理手段により
1ライン分の走査光電変換信号と予め計測されたCCD
ラインセンサ間の間隔とに基づいて演算することによ
り、帯状材料の搬送方向と直交する方向の長さを安定し
て計測することが可能となる。
【0008】また、一対のCCDラインセンサの近傍に
それぞれ設置され、一対の赤外光源から照射され帯状材
料で反射される光を受光する一対の受光素子と、該一対
の受光素子での受光量が予め設定した範囲内となるよう
前記一対の赤外光源の発光量を制御する光量制御手段と
を備えたものによれば、赤外光源の発光量を常に最適に
保持することができ、より正確で安定した計測を行うこ
とができ、また、赤外光源の発光量を必要最小限に抑え
ることができ、省電力化が図れるとともに赤外光源の寿
命を延ばすことが可能となる。
それぞれ設置され、一対の赤外光源から照射され帯状材
料で反射される光を受光する一対の受光素子と、該一対
の受光素子での受光量が予め設定した範囲内となるよう
前記一対の赤外光源の発光量を制御する光量制御手段と
を備えたものによれば、赤外光源の発光量を常に最適に
保持することができ、より正確で安定した計測を行うこ
とができ、また、赤外光源の発光量を必要最小限に抑え
ることができ、省電力化が図れるとともに赤外光源の寿
命を延ばすことが可能となる。
【0009】また、一対のCCDラインセンサからの走
査光電変換信号が適切な波形となるよう一対の赤外光源
の発光量を制御する第2の光量制御手段を備えたものに
よれば、赤外光源の発光量をさらに最適に保持すること
ができ、さらに正確で安定した計測が可能となる。
査光電変換信号が適切な波形となるよう一対の赤外光源
の発光量を制御する第2の光量制御手段を備えたものに
よれば、赤外光源の発光量をさらに最適に保持すること
ができ、さらに正確で安定した計測が可能となる。
【0010】また、搬送中の帯状材料が一対のCCDラ
インセンサの走査可能領域内に存在するか否かを検出す
る材料検出センサと、帯状材料が一対のCCDラインセ
ンサの走査可能領域内に存在している間、該一対のCC
Dラインセンサから帯状材料の搬送方向と直交する方向
の複数個の1ライン分の走査光電変換信号を読み取るデ
ータ入力手段と、該複数個の1ライン分の走査光電変換
信号と予め計測された一対のCCDラインセンサ間の距
離とに基づいて帯状材料の搬送方向と直交する方向の複
数個の長さを算出する演算処理手段とを備えたものによ
れば、帯状材料の搬送方向と直交する方向の長さを多点
に亘って計測することができ、該帯状材料の詳細な形状
(搬送方向と直交する方向の最大・最小、平均の長さ
等)を計測することができる。
インセンサの走査可能領域内に存在するか否かを検出す
る材料検出センサと、帯状材料が一対のCCDラインセ
ンサの走査可能領域内に存在している間、該一対のCC
Dラインセンサから帯状材料の搬送方向と直交する方向
の複数個の1ライン分の走査光電変換信号を読み取るデ
ータ入力手段と、該複数個の1ライン分の走査光電変換
信号と予め計測された一対のCCDラインセンサ間の距
離とに基づいて帯状材料の搬送方向と直交する方向の複
数個の長さを算出する演算処理手段とを備えたものによ
れば、帯状材料の搬送方向と直交する方向の長さを多点
に亘って計測することができ、該帯状材料の詳細な形状
(搬送方向と直交する方向の最大・最小、平均の長さ
等)を計測することができる。
【0011】また、CCDラインセンサの走査方向と一
致する面内でかつ帯状材料の搬送方向に沿う辺の上部外
側に赤外光源を配置したものによれば、帯状材料の搬送
方向に沿う辺を効率良くかつ識別性良く照明できる。
致する面内でかつ帯状材料の搬送方向に沿う辺の上部外
側に赤外光源を配置したものによれば、帯状材料の搬送
方向に沿う辺を効率良くかつ識別性良く照明できる。
【0012】また、CCDラインセンサと、赤外光源
と、受光素子とを一体化したユニットを用いたものによ
れば、これらの部品を簡単に設置でき、既存の装置への
適用が容易となる。
と、受光素子とを一体化したユニットを用いたものによ
れば、これらの部品を簡単に設置でき、既存の装置への
適用が容易となる。
【0013】
【発明の実施の形態】図1は本発明の帯状材料計測装置
の概要を示すもので、図示しないコンベア等の搬送手段
により矢印イで示す一定の方向に搬送される帯状材料1
に対し、その搬送方向に沿う一対の辺2,3の上部に、
前面に赤外線透過フィルタを有するCCDラインセンサ
21A,21Bをそれぞれ設けるとともに、該一対の辺
2,3の上部外側に赤外光源22A,22Bをそれぞれ
設け、赤外光源22A,22Bから出射され帯状材料1
で反射される赤外光をCCDラインセンサ21A,21
Bでとらえ、その1ライン分の走査光電変換信号と該C
CDラインセンサ21A,21B間の間隔S(既知)と
に基づいて帯状材料1の搬送方向と直交する方向の長さ
Lを計測する。
の概要を示すもので、図示しないコンベア等の搬送手段
により矢印イで示す一定の方向に搬送される帯状材料1
に対し、その搬送方向に沿う一対の辺2,3の上部に、
前面に赤外線透過フィルタを有するCCDラインセンサ
21A,21Bをそれぞれ設けるとともに、該一対の辺
2,3の上部外側に赤外光源22A,22Bをそれぞれ
設け、赤外光源22A,22Bから出射され帯状材料1
で反射される赤外光をCCDラインセンサ21A,21
Bでとらえ、その1ライン分の走査光電変換信号と該C
CDラインセンサ21A,21B間の間隔S(既知)と
に基づいて帯状材料1の搬送方向と直交する方向の長さ
Lを計測する。
【0014】図4は本発明の計測装置の実施の形態の一
例を示すもので、1は帯状材料、20A,20Bはセン
サユニット、30は材料検出センサ、31はセンサアン
プ、32,33はアナログ−ディジタル変換器(A/
D)、34,35はメモリ、36は演算処理部、37は
光量制御部、38はディジタル−アナログ変換器(D/
A)、39は調光器、40は中央制御部である。
例を示すもので、1は帯状材料、20A,20Bはセン
サユニット、30は材料検出センサ、31はセンサアン
プ、32,33はアナログ−ディジタル変換器(A/
D)、34,35はメモリ、36は演算処理部、37は
光量制御部、38はディジタル−アナログ変換器(D/
A)、39は調光器、40は中央制御部である。
【0015】センサユニット20Aは、前述したCCD
ラインセンサ21A及び赤外光源22Aとともに赤外光
源22Aから照射され帯状材料1で反射される光を受光
する受光素子23Aを、それぞれの位置関係を最適に設
定した状態で一体化したものである。また、センサユニ
ット20Bは、前述したCCDラインセンサ21B及び
赤外光源22Bとともに前記同様な受光素子23Bを、
それぞれの位置関係を最適に設定した状態で一体化した
もの(内容的にはセンサユニット20Aと同一)であ
る。
ラインセンサ21A及び赤外光源22Aとともに赤外光
源22Aから照射され帯状材料1で反射される光を受光
する受光素子23Aを、それぞれの位置関係を最適に設
定した状態で一体化したものである。また、センサユニ
ット20Bは、前述したCCDラインセンサ21B及び
赤外光源22Bとともに前記同様な受光素子23Bを、
それぞれの位置関係を最適に設定した状態で一体化した
もの(内容的にはセンサユニット20Aと同一)であ
る。
【0016】前記センサユニット20A,20Bは帯状
材料1の搬送方向に沿う一対の辺2,3の上部にそれぞ
れ設置される。なお、図中に示されたCCDラインセン
サの走査幅やユニットの設置高さの数値は一例であっ
て、これに限定されないことはいうまでもない。また、
各ユニットには必要に応じて、赤外光源から発生する熱
を放出するための冷却ファンを設けたり、光源からの光
がCCDラインセンサや受光素子に直接入射しないよう
にするための隔壁を設けても良い。
材料1の搬送方向に沿う一対の辺2,3の上部にそれぞ
れ設置される。なお、図中に示されたCCDラインセン
サの走査幅やユニットの設置高さの数値は一例であっ
て、これに限定されないことはいうまでもない。また、
各ユニットには必要に応じて、赤外光源から発生する熱
を放出するための冷却ファンを設けたり、光源からの光
がCCDラインセンサや受光素子に直接入射しないよう
にするための隔壁を設けても良い。
【0017】材料検出センサ30は、投光部と受光部と
を備えた光センサ等からなり、帯状材料1上のセンサユ
ニット20A,20B間に設けられ、搬送中の帯状材料
1が一対のCCDラインセンサ21A,21Bの走査可
能領域内に存在するか否かを検出する。
を備えた光センサ等からなり、帯状材料1上のセンサユ
ニット20A,20B間に設けられ、搬送中の帯状材料
1が一対のCCDラインセンサ21A,21Bの走査可
能領域内に存在するか否かを検出する。
【0018】センサアンプ31はCCDラインセンサ2
1A,21Bから出力される走査光電変換信号を増幅す
る。A/D32は増幅後の走査光電変換信号(アナログ
信号)をディジタル信号に順次変換する。メモリ34は
変換されたディジタル信号を一旦、蓄える。演算処理部
36はメモリ34から1ライン分の走査光電変換信号を
読み出し、これと予め計測されたCCDラインセンサ2
1A,21B間の間隔Sとに基づいて帯状材料1の搬送
方向と直交する方向の長さLを算出する。
1A,21Bから出力される走査光電変換信号を増幅す
る。A/D32は増幅後の走査光電変換信号(アナログ
信号)をディジタル信号に順次変換する。メモリ34は
変換されたディジタル信号を一旦、蓄える。演算処理部
36はメモリ34から1ライン分の走査光電変換信号を
読み出し、これと予め計測されたCCDラインセンサ2
1A,21B間の間隔Sとに基づいて帯状材料1の搬送
方向と直交する方向の長さLを算出する。
【0019】A/D33は受光素子23A,23Bの出
力信号(アナログ信号)をディジタル信号に変換する。
メモリ35は変換されたディジタル信号を一旦、蓄え
る。光量制御部37はメモリ35から受光素子23A,
23Bでの受光量を示す信号を読み出し、該受光量が予
め設定した範囲内となるよう赤外光源22A,22Bの
発光量を制御する(光量制御I)データを出力するとと
もに、演算処理部36よりCCDラインセンサ21A,
21Bからの走査光電変換信号が適切な波形でないこと
を示す通知を受けると、これが適切な波形となるよう赤
外光源22A,22Bの発光量を制御する(光量制御I
I)データを出力する。
力信号(アナログ信号)をディジタル信号に変換する。
メモリ35は変換されたディジタル信号を一旦、蓄え
る。光量制御部37はメモリ35から受光素子23A,
23Bでの受光量を示す信号を読み出し、該受光量が予
め設定した範囲内となるよう赤外光源22A,22Bの
発光量を制御する(光量制御I)データを出力するとと
もに、演算処理部36よりCCDラインセンサ21A,
21Bからの走査光電変換信号が適切な波形でないこと
を示す通知を受けると、これが適切な波形となるよう赤
外光源22A,22Bの発光量を制御する(光量制御I
I)データを出力する。
【0020】D/A38は光量制御部37からのデータ
をアナログ信号に変換する。調光器39はD/A38の
出力信号に従って赤外光源22A,22Bの発光量を調
節する。
をアナログ信号に変換する。調光器39はD/A38の
出力信号に従って赤外光源22A,22Bの発光量を調
節する。
【0021】中央制御部40は、装置全体の電源が投入
され、外部から計測開始指令が入力されると、演算処理
部36及び光量制御部37を動作させる(但し、光量制
御部37における光量制御Iは電源が投入されている
間、一定周期毎に行われる。)。
され、外部から計測開始指令が入力されると、演算処理
部36及び光量制御部37を動作させる(但し、光量制
御部37における光量制御Iは電源が投入されている
間、一定周期毎に行われる。)。
【0022】前記演算処理部36、光量制御部37及び
中央制御部40は、実際にはマイクロプロセッサ及びそ
のプログラム等で構成される。図5は演算処理部36に
対応する長さ計測処理の流れ図、図6は光量制御部37
に対応する図5中の光量制御処理IIの流れ図、図7は光
量制御部37に対応する光量制御処理Iの流れ図であ
る。
中央制御部40は、実際にはマイクロプロセッサ及びそ
のプログラム等で構成される。図5は演算処理部36に
対応する長さ計測処理の流れ図、図6は光量制御部37
に対応する図5中の光量制御処理IIの流れ図、図7は光
量制御部37に対応する光量制御処理Iの流れ図であ
る。
【0023】以下、動作を詳細に説明する。
【0024】電源が投入され、外部から計測開始の指令
が入力されると、中央制御部40は計測イベント発生
(計測発生)フラグをセットする(s1)が、当初、帯
状材料1がCCDラインセンサ21A,21Bの走査可
能領域内になく材料検出センサ30で検出されず(s
2)、データサンプリング開始(サンプル開始)フラグ
もセットされていない(s3)ので、演算処理部36は
何もしない。
が入力されると、中央制御部40は計測イベント発生
(計測発生)フラグをセットする(s1)が、当初、帯
状材料1がCCDラインセンサ21A,21Bの走査可
能領域内になく材料検出センサ30で検出されず(s
2)、データサンプリング開始(サンプル開始)フラグ
もセットされていない(s3)ので、演算処理部36は
何もしない。
【0025】ここで、図示しないコンベア等の搬送手段
により帯状材料1が矢印イで示す一定の方向に搬送さ
れ、CCDラインセンサ21A,21Bの走査可能領域
内に到達すると、材料検出センサ30で帯状材料1が検
出され、サンプル開始フラグがセットされ(s4,s
5)、測定ライン数が0に初期化されるとともに1ライ
ンサンプリングイベント発生(1ラインサンプル発生)
フラグがセットされる(s6)。
により帯状材料1が矢印イで示す一定の方向に搬送さ
れ、CCDラインセンサ21A,21Bの走査可能領域
内に到達すると、材料検出センサ30で帯状材料1が検
出され、サンプル開始フラグがセットされ(s4,s
5)、測定ライン数が0に初期化されるとともに1ライ
ンサンプリングイベント発生(1ラインサンプル発生)
フラグがセットされる(s6)。
【0026】これによって、演算処理部36はメモリ3
4からデータのサンプリングを開始し(s7)、1ライ
ン分のサンプリングが終了する(s8)と、1ラインサ
ンプリング終了(1ラインサンプル終了)フラグをセッ
トする(s9)。
4からデータのサンプリングを開始し(s7)、1ライ
ン分のサンプリングが終了する(s8)と、1ラインサ
ンプリング終了(1ラインサンプル終了)フラグをセッ
トする(s9)。
【0027】1ライン分のデータサンプリングが終了す
る(s10)と、該1ライン分のデータに含まれるエッ
ジ(帯状材料1の辺2,3に対応してデータが急変する
点)を検出し(s11)、その数が適切でなければ(s
12)、後述する光量制御IIを行わせ(s13)、適切
であればエッジアドレスを保存し(s14)、測定ライ
ン数を1加算するとともに1ラインサンプル終了フラグ
をリセットする(s15)。
る(s10)と、該1ライン分のデータに含まれるエッ
ジ(帯状材料1の辺2,3に対応してデータが急変する
点)を検出し(s11)、その数が適切でなければ(s
12)、後述する光量制御IIを行わせ(s13)、適切
であればエッジアドレスを保存し(s14)、測定ライ
ン数を1加算するとともに1ラインサンプル終了フラグ
をリセットする(s15)。
【0028】演算処理部36は前記動作を材料検出セン
サ30で帯状材料1が検出されなくなるまで繰り返し、
得られたエッジアドレス及び前述した間隔Sに基づいて
帯状材料1の搬送方向と直交する方向の長さLを演算し
(s16)、サンプル開始フラグをリセットする(s1
7)。
サ30で帯状材料1が検出されなくなるまで繰り返し、
得られたエッジアドレス及び前述した間隔Sに基づいて
帯状材料1の搬送方向と直交する方向の長さLを演算し
(s16)、サンプル開始フラグをリセットする(s1
7)。
【0029】以後、計測発生フラグがセットされている
間、帯状材料1が搬送されてくる度に前記同様な動作が
行われる。
間、帯状材料1が搬送されてくる度に前記同様な動作が
行われる。
【0030】図8は光量不足の際の走査光電変換信号の
一例を示すもので、同図(a) は信号がスライスレベルに
達せず、エッジが検出できない場合、同図(b) はエッジ
が2カ所以上検出される場合を示している。また、図9
は光量過多の際の走査光電変換信号の一例を示すもの
で、同図(a) は光がハンチングしてエッジが2カ所以上
検出される場合、同図(b) は光がハレーションを起こ
し、スライスレベルを遥かに上回ってエッジが検出でき
ない場合を示している。
一例を示すもので、同図(a) は信号がスライスレベルに
達せず、エッジが検出できない場合、同図(b) はエッジ
が2カ所以上検出される場合を示している。また、図9
は光量過多の際の走査光電変換信号の一例を示すもの
で、同図(a) は光がハンチングしてエッジが2カ所以上
検出される場合、同図(b) は光がハレーションを起こ
し、スライスレベルを遥かに上回ってエッジが検出でき
ない場合を示している。
【0031】前述したように、1ライン分のデータに含
まれるエッジの数が適切でない場合、それが光量不足に
よるものか光量過多によるものかを判定する(s12
1)。
まれるエッジの数が適切でない場合、それが光量不足に
よるものか光量過多によるものかを判定する(s12
1)。
【0032】この際、波形の直流成分(平均値)がスラ
イスレベルより大きい場合は光量過多による異常波形で
あると判断し、その時の出力電圧が設定可能な下限電圧
以上であるかを調べ(s122)、そうであれば光量を
1段下げるように出力電圧を下げ(s123)、D/A
38及び調光器39を介して赤外光源22A,22Bの
光量を下げ、また、そうでない場合、即ち出力電圧が設
定可能な下限電圧を下回ってしまう場合はそれ以上光量
を下げることはできないため、何もしない。
イスレベルより大きい場合は光量過多による異常波形で
あると判断し、その時の出力電圧が設定可能な下限電圧
以上であるかを調べ(s122)、そうであれば光量を
1段下げるように出力電圧を下げ(s123)、D/A
38及び調光器39を介して赤外光源22A,22Bの
光量を下げ、また、そうでない場合、即ち出力電圧が設
定可能な下限電圧を下回ってしまう場合はそれ以上光量
を下げることはできないため、何もしない。
【0033】また、波形の直流成分(平均値)がスライ
スレベルより小さい場合は光量不足による異常波形であ
ると判断し、その時の出力電圧が設定可能な上限電圧以
下であるかを調べ(s124)、そうであれば光量を1
段上げるように出力電圧を上げ(s125)、D/A3
8及び調光器39を介して赤外光源22A,22Bの光
量を上げ、また、そうでない場合、即ち出力電圧が設定
可能な上限電圧を越えてしまう場合はそれ以上光量を上
げることはできないため、何もしない。
スレベルより小さい場合は光量不足による異常波形であ
ると判断し、その時の出力電圧が設定可能な上限電圧以
下であるかを調べ(s124)、そうであれば光量を1
段上げるように出力電圧を上げ(s125)、D/A3
8及び調光器39を介して赤外光源22A,22Bの光
量を上げ、また、そうでない場合、即ち出力電圧が設定
可能な上限電圧を越えてしまう場合はそれ以上光量を上
げることはできないため、何もしない。
【0034】一方、光量制御部37では電源が投入され
ている間、一定の周期でメモリ35からデータのサンプ
リングを行い(sp1)、受光量が予め設定した安定受
光量の上限以下かつ下限以上であれば(sp2,sp
3)何もしない。
ている間、一定の周期でメモリ35からデータのサンプ
リングを行い(sp1)、受光量が予め設定した安定受
光量の上限以下かつ下限以上であれば(sp2,sp
3)何もしない。
【0035】ここで、受光量が安定受光量の上限を越え
ていれば、その時の出力電圧が設定可能な下限電圧以上
であるかを調べ(sp4)、そうであれば光量を1段下
げるように出力電圧を下げ(sp5)、D/A38及び
調光器39を介して赤外光源22A,22Bの光量を下
げ、また、そうでない場合、即ち出力電圧が設定可能な
下限電圧を下回ってしまう場合はそれ以上光量を下げる
ことはできないため、何もしない。
ていれば、その時の出力電圧が設定可能な下限電圧以上
であるかを調べ(sp4)、そうであれば光量を1段下
げるように出力電圧を下げ(sp5)、D/A38及び
調光器39を介して赤外光源22A,22Bの光量を下
げ、また、そうでない場合、即ち出力電圧が設定可能な
下限電圧を下回ってしまう場合はそれ以上光量を下げる
ことはできないため、何もしない。
【0036】また、受光量が安定受光量の下限を下回っ
ていれば、その時の出力電圧が設定可能な上限電圧以下
であるかを調べ(sp6)、そうであれば光量を1段上
げるように出力電圧を上げ(sp7)、D/A38及び
調光器39を介して赤外光源22A,22Bの光量を上
げ、また、そうでない場合、即ち出力電圧が設定可能な
上限電圧を越えてしまう場合はそれ以上光量を上げるこ
とはできないため、何もしない。
ていれば、その時の出力電圧が設定可能な上限電圧以下
であるかを調べ(sp6)、そうであれば光量を1段上
げるように出力電圧を上げ(sp7)、D/A38及び
調光器39を介して赤外光源22A,22Bの光量を上
げ、また、そうでない場合、即ち出力電圧が設定可能な
上限電圧を越えてしまう場合はそれ以上光量を上げるこ
とはできないため、何もしない。
【0037】図10は最適光量の際の走査光電変換信号
の一例を示すもので、帯状材料1の搬送方向に沿う1つ
の辺の部分に対応してエッジが1つのみ得られる。ま
た、図11はCCDラインセンサ21A,21Bによっ
て得られる1ライン分の走査光電変換信号の一例(但
し、実際には連続的な信号で得られるわけではなく、途
中の抜けた信号)を示すものである。各CCDラインセ
ンサにおける走査開始点をO,O´で表し、帯状材料1
の辺2,3にそれぞれ対応して得られるエッジアドレス
をP1,P2で表しているが、走査開始点O,O´間の
長さは前述した間隔Sによって決定され不変であるか
ら、エッジアドレスP1,P2の差から帯状材料1の搬
送方向と直交する方向の長さLを求めることができる。
の一例を示すもので、帯状材料1の搬送方向に沿う1つ
の辺の部分に対応してエッジが1つのみ得られる。ま
た、図11はCCDラインセンサ21A,21Bによっ
て得られる1ライン分の走査光電変換信号の一例(但
し、実際には連続的な信号で得られるわけではなく、途
中の抜けた信号)を示すものである。各CCDラインセ
ンサにおける走査開始点をO,O´で表し、帯状材料1
の辺2,3にそれぞれ対応して得られるエッジアドレス
をP1,P2で表しているが、走査開始点O,O´間の
長さは前述した間隔Sによって決定され不変であるか
ら、エッジアドレスP1,P2の差から帯状材料1の搬
送方向と直交する方向の長さLを求めることができる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
よれば、CCDラインセンサの前面に赤外線透過フィル
タを設けるとともに赤外光源を設けたことにより、計測
対象となる帯状材料の赤外光(熱)に対する反射率が周
囲と異なれば、該帯状材料の素材や色に拘りなく、ま
た、搬送手段の汚れや周囲光の影響を受けることなく、
搬送方向に沿う辺の部分を検出でき、また、透過式にす
る必要がなく、設置が容易となり、さらにまた、データ
入力手段によりCCDラインセンサから帯状材料の搬送
方向と直交する方向の1ライン分の走査光電変換信号を
読み取り、演算処理手段により1ライン分の走査光電変
換信号と予め計測されたCCDラインセンサ間の間隔と
に基づいて演算することにより、帯状材料の搬送方向と
直交する方向の長さを安定して計測することが可能とな
る。
よれば、CCDラインセンサの前面に赤外線透過フィル
タを設けるとともに赤外光源を設けたことにより、計測
対象となる帯状材料の赤外光(熱)に対する反射率が周
囲と異なれば、該帯状材料の素材や色に拘りなく、ま
た、搬送手段の汚れや周囲光の影響を受けることなく、
搬送方向に沿う辺の部分を検出でき、また、透過式にす
る必要がなく、設置が容易となり、さらにまた、データ
入力手段によりCCDラインセンサから帯状材料の搬送
方向と直交する方向の1ライン分の走査光電変換信号を
読み取り、演算処理手段により1ライン分の走査光電変
換信号と予め計測されたCCDラインセンサ間の間隔と
に基づいて演算することにより、帯状材料の搬送方向と
直交する方向の長さを安定して計測することが可能とな
る。
【0039】また、請求項2の発明によれば、赤外光源
の発光量を常に最適に保持することができ、より正確で
安定した計測を行うことができ、また、赤外光源の発光
量を必要最小限に抑えることができ、省電力化が図れる
とともに赤外光源の寿命を延ばすことが可能となる。
の発光量を常に最適に保持することができ、より正確で
安定した計測を行うことができ、また、赤外光源の発光
量を必要最小限に抑えることができ、省電力化が図れる
とともに赤外光源の寿命を延ばすことが可能となる。
【0040】また、請求項3の発明によれば、赤外光源
の発光量をさらに最適に保持することができ、さらに正
確で安定した計測が可能となる。
の発光量をさらに最適に保持することができ、さらに正
確で安定した計測が可能となる。
【0041】また、請求項4の発明によれば、帯状材料
の搬送方向と直交する方向の長さを多点に亘って計測す
ることができ、該帯状材料の詳細な形状(搬送方向と直
交する方向の最大・最小、平均の長さ、欠損等)を計測
することができる。
の搬送方向と直交する方向の長さを多点に亘って計測す
ることができ、該帯状材料の詳細な形状(搬送方向と直
交する方向の最大・最小、平均の長さ、欠損等)を計測
することができる。
【0042】また、請求項5の発明によれば、帯状材料
の搬送方向に沿う辺を効率良くかつ識別性良く照明でき
る。
の搬送方向に沿う辺を効率良くかつ識別性良く照明でき
る。
【0043】また、請求項6の発明によれば、これらの
部品を簡単に設置でき、既存の装置への適用が容易とな
る。
部品を簡単に設置でき、既存の装置への適用が容易とな
る。
【図1】本発明の帯状材料計測装置の概要を示す構成図
【図2】従来の帯状材料計測装置の一例を示す構成図
【図3】従来の帯状材料計測装置の他の例を示す構成図
【図4】本発明の帯状材料計測装置の実施の形態の一例
を示す構成図
を示す構成図
【図5】長さ計測処理の流れ図
【図6】図5中の光量制御処理IIの流れ図
【図7】光量制御処理Iの流れ図
【図8】光量不足の際の走査光電変換信号の一例を示す
波形図
波形図
【図9】光量過多の際の走査光電変換信号の一例を示す
波形図
波形図
【図10】最適光量の際の走査光電変換信号の一例を示
す波形図
す波形図
【図11】1ライン分の走査光電変換信号の一例を示す
波形図
波形図
1…帯状材料、20A,20B…センサユニット、21
A,21B…CCDラインセンサ、22A,22B…赤
外光源、23A,23B…受光素子、30…材料検出セ
ンサ、31…センサアンプ、32,33…アナログ−デ
ィジタル変換器(A/D)、34,35…メモリ、36
…演算処理部、37…光量制御部、38…ディジタル−
アナログ変換器(D/A)、39…調光器、40……中
央制御部。
A,21B…CCDラインセンサ、22A,22B…赤
外光源、23A,23B…受光素子、30…材料検出セ
ンサ、31…センサアンプ、32,33…アナログ−デ
ィジタル変換器(A/D)、34,35…メモリ、36
…演算処理部、37…光量制御部、38…ディジタル−
アナログ変換器(D/A)、39…調光器、40……中
央制御部。
Claims (6)
- 【請求項1】 コンベア等により一定の方向に搬送され
る帯状材料の搬送方向と直交する方向の長さを計測する
帯状材料計測装置において、 前面に赤外線透過フィルタを有し、帯状材料の搬送方向
に沿う一対の辺をそれぞれ含む一対の所定の範囲を搬送
方向と直交する方向にそれぞれ走査するように設置され
た一対のCCDラインセンサと、 該一対のCCDラインセンサの走査範囲をそれぞれ照射
する一対の赤外光源と、 前記一対のCCDラインセンサから帯状材料の搬送方向
と直交する方向の1ライン分の走査光電変換信号を読み
取るデータ入力手段と、 該1ライン分の走査光電変換信号と予め計測された前記
一対のCCDラインセンサ間の間隔とに基づいて帯状材
料の搬送方向と直交する方向の長さを算出する演算処理
手段とを備えたことを特徴とする帯状材料計測装置。 - 【請求項2】 一対のCCDラインセンサの近傍にそれ
ぞれ設置され、一対の赤外光源から照射され帯状材料で
反射される光を受光する一対の受光素子と、該一対の受
光素子での受光量が予め設定した範囲内となるよう前記
一対の赤外光源の発光量を制御する光量制御手段とを備
えたことを特徴とする請求項1記載の帯状材料計測装
置。 - 【請求項3】 一対のCCDラインセンサからの走査光
電変換信号が適切な波形となるよう一対の赤外光源の発
光量を制御する第2の光量制御手段を備えたことを特徴
とする請求項1または2記載の帯状材料計測装置。 - 【請求項4】 搬送中の帯状材料が一対のCCDライン
センサの走査可能領域内に存在するか否かを検出する材
料検出センサと、帯状材料が一対のCCDラインセンサ
の走査可能領域内に存在している間、該一対のCCDラ
インセンサから帯状材料の搬送方向と直交する方向の複
数個の1ライン分の走査光電変換信号を読み取るデータ
入力手段と、該複数個の1ライン分の走査光電変換信号
と予め計測された一対のCCDラインセンサ間の距離と
に基づいて帯状材料の搬送方向と直交する方向の複数個
の長さを算出する演算処理手段とを備えたことを特徴と
する請求項1乃至3いずれか記載の帯状材料計測装置。 - 【請求項5】 CCDラインセンサの走査方向と一致す
る面内でかつ帯状材料の搬送方向に沿う辺の上部外側に
赤外光源を配置したことを特徴とする請求項1乃至4い
ずれか記載の帯状材料計測装置。 - 【請求項6】 CCDラインセンサと、赤外光源と、受
光素子とを一体化したユニットを用いたことを特徴とす
る請求項2乃至5いずれか記載の帯状材料計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9827796A JPH09287922A (ja) | 1996-04-19 | 1996-04-19 | 帯状材料計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9827796A JPH09287922A (ja) | 1996-04-19 | 1996-04-19 | 帯状材料計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09287922A true JPH09287922A (ja) | 1997-11-04 |
Family
ID=14215454
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9827796A Pending JPH09287922A (ja) | 1996-04-19 | 1996-04-19 | 帯状材料計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09287922A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002286419A (ja) * | 2001-03-28 | 2002-10-03 | Kawasaki Steel Corp | 被搬送材料の端部位置検出方法および装置 |
KR100405506B1 (ko) * | 1998-12-30 | 2004-03-22 | 주식회사 포스코 | 슬리브의브리드검사장치 |
JP2010112825A (ja) * | 2008-11-06 | 2010-05-20 | Takenaka Electronic Industrial Co Ltd | 空間フィルタを用いた走行被検物測定装置 |
CN103434277A (zh) * | 2013-08-22 | 2013-12-11 | 重庆品胜科技有限公司 | 一种手持式标签打印机标签宽度测量方法 |
-
1996
- 1996-04-19 JP JP9827796A patent/JPH09287922A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100405506B1 (ko) * | 1998-12-30 | 2004-03-22 | 주식회사 포스코 | 슬리브의브리드검사장치 |
JP2002286419A (ja) * | 2001-03-28 | 2002-10-03 | Kawasaki Steel Corp | 被搬送材料の端部位置検出方法および装置 |
JP4595226B2 (ja) * | 2001-03-28 | 2010-12-08 | Jfeスチール株式会社 | 被搬送材料の端部位置検出方法 |
JP2010112825A (ja) * | 2008-11-06 | 2010-05-20 | Takenaka Electronic Industrial Co Ltd | 空間フィルタを用いた走行被検物測定装置 |
CN103434277A (zh) * | 2013-08-22 | 2013-12-11 | 重庆品胜科技有限公司 | 一种手持式标签打印机标签宽度测量方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040420 |
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A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20040907 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |