JPH07208933A - 寸法測定装置 - Google Patents
寸法測定装置Info
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- JPH07208933A JPH07208933A JP6023208A JP2320894A JPH07208933A JP H07208933 A JPH07208933 A JP H07208933A JP 6023208 A JP6023208 A JP 6023208A JP 2320894 A JP2320894 A JP 2320894A JP H07208933 A JPH07208933 A JP H07208933A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 一次元イメージセンサを用いた寸法測定装置
において、検出器を別途設ける必要をなくして、取付工
数を削減するとともに、コストダウンを図る。 【構成】 対象物１０２に光Ｌ１を照射し、その透過光
または反射光を一次元イメージセンサ１に受光させて、
一次元イメージセンサ１からの出力に基づいてエッジＥ
1 ，Ｅ2 の位置を検出し、所定のエッジを基準とした寸
法Ｄを測定する寸法測定装置に関する。設定値記憶部２
１は、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬送されたか否
かを判別する基準となる設定値を記憶する。測定タイミ
ング検知手段１２は、上記一次元イメージセンサ１を構
成する受光素子１1 〜１m のうちエッジＥ1 ，Ｅ2 を検
出した受光素子１i のアドレスと上記設定値とを比較す
ることにより、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬送さ
れたことを検知する。
において、検出器を別途設ける必要をなくして、取付工
数を削減するとともに、コストダウンを図る。 【構成】 対象物１０２に光Ｌ１を照射し、その透過光
または反射光を一次元イメージセンサ１に受光させて、
一次元イメージセンサ１からの出力に基づいてエッジＥ
1 ，Ｅ2 の位置を検出し、所定のエッジを基準とした寸
法Ｄを測定する寸法測定装置に関する。設定値記憶部２
１は、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬送されたか否
かを判別する基準となる設定値を記憶する。測定タイミ
ング検知手段１２は、上記一次元イメージセンサ１を構
成する受光素子１1 〜１m のうちエッジＥ1 ，Ｅ2 を検
出した受光素子１i のアドレスと上記設定値とを比較す
ることにより、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬送さ
れたことを検知する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、寸法測定装置の特に測
定タイミングの検知に関するものである。
定タイミングの検知に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、一次元イメージセンサを用い
ることで、物体の寸法や物体間の間隔，位置などを測定
することができる寸法測定装置がある。この種の測定装
置の一例を図８に示す。
ることで、物体の寸法や物体間の間隔，位置などを測定
することができる寸法測定装置がある。この種の測定装
置の一例を図８に示す。
【０００３】図８において、光源１００は、近似的に点
光源とみなせるもので、たとえば可視レーザ光のような
レーザ光Ｌを出射する。レーザ光Ｌは、コリメータレン
ズ１０１を通過することで平行光Ｌ１となって、矢印Ｂ
方向に移動している対象物１０２に照射され、平行光Ｌ
１の一部が、一次元イメージセンサ１に照射される。一
次元イメージセンサ１は、たとえばＣＣＤのような受光
素子１1 〜１n を多数リニアに並べたもので、光のエネ
ルギを電気信号に変換するものである。図示しない信号
処理回路およびマイクロコンピュータ（以下、「マイコ
ン」という）は、各受光素子１1 〜１n からの出力に基
づいて、対象物１０２のエッジＥ1 ，Ｅ2 の位置を検出
し、たとえば対象物１０２の寸法Ｄ、つまり、所定の２
つのエッジＥ1 ，Ｅ2 を基準とした寸法を測定する。
光源とみなせるもので、たとえば可視レーザ光のような
レーザ光Ｌを出射する。レーザ光Ｌは、コリメータレン
ズ１０１を通過することで平行光Ｌ１となって、矢印Ｂ
方向に移動している対象物１０２に照射され、平行光Ｌ
１の一部が、一次元イメージセンサ１に照射される。一
次元イメージセンサ１は、たとえばＣＣＤのような受光
素子１1 〜１n を多数リニアに並べたもので、光のエネ
ルギを電気信号に変換するものである。図示しない信号
処理回路およびマイクロコンピュータ（以下、「マイコ
ン」という）は、各受光素子１1 〜１n からの出力に基
づいて、対象物１０２のエッジＥ1 ，Ｅ2 の位置を検出
し、たとえば対象物１０２の寸法Ｄ、つまり、所定の２
つのエッジＥ1 ，Ｅ2 を基準とした寸法を測定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ここで、対象物１０２
が測定エリアＡの中央あたりの測定位置（破線で示す位
置）Ｐ１まで搬送されてきた時に、寸法測定を行うこと
で、精度の良い測定を行うことができるのであるが、測
定位置Ｐ１まで搬送されたことを知るために、従来は、
たとえばリミットスイッチのような検出器１０３を設け
ている。そのため、検出器１０３が必要になるばかりで
なく、検出器１０３を取り付ける必要がある。したがっ
て、取付工数が増加するうえ、コストアップを招く。
が測定エリアＡの中央あたりの測定位置（破線で示す位
置）Ｐ１まで搬送されてきた時に、寸法測定を行うこと
で、精度の良い測定を行うことができるのであるが、測
定位置Ｐ１まで搬送されたことを知るために、従来は、
たとえばリミットスイッチのような検出器１０３を設け
ている。そのため、検出器１０３が必要になるばかりで
なく、検出器１０３を取り付ける必要がある。したがっ
て、取付工数が増加するうえ、コストアップを招く。
【０００５】本発明は上記従来の問題に鑑みてなされた
もので、その主な目的は、寸法測定装置において、検出
器を別途設ける必要をなくして、取付工数を削減すると
ともに、コストダウンを図ることである。
もので、その主な目的は、寸法測定装置において、検出
器を別途設ける必要をなくして、取付工数を削減すると
ともに、コストダウンを図ることである。
【０００６】また、段取り替えの際には検出位置を変え
る場合があり、その際に、検出器１０３の取付位置など
を変更する必要がある。したがって、段取り替えの設定
変更が面倒である。
る場合があり、その際に、検出器１０３の取付位置など
を変更する必要がある。したがって、段取り替えの設定
変更が面倒である。
【０００７】したがって、本発明の他の目的は段取り替
え時の設定変更を容易にすることである。
え時の設定変更を容易にすることである。
【０００８】
【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するために、請求項１の発明は、寸法測定装置を構成
する、つまり、寸法を測定するための受光素子の出力に
基づいて、上記対象物が測定位置まで搬送されたことを
検知して検知信号を出力する測定タイミング検知手段
と、上記検知信号が出力された検知タイミングにおける
寸法を算出する寸法算出手段とを備えている。
成するために、請求項１の発明は、寸法測定装置を構成
する、つまり、寸法を測定するための受光素子の出力に
基づいて、上記対象物が測定位置まで搬送されたことを
検知して検知信号を出力する測定タイミング検知手段
と、上記検知信号が出力された検知タイミングにおける
寸法を算出する寸法算出手段とを備えている。
【０００９】請求項１の発明によれば、寸法測定装置を
構成する受光素子の出力に基づいて、対象物が測定位置
まで搬送されたことを検知するので、タイミング検出用
の検出器を別途設ける必要がない。
構成する受光素子の出力に基づいて、対象物が測定位置
まで搬送されたことを検知するので、タイミング検出用
の検出器を別途設ける必要がない。
【００１０】この場合、寸法測定装置は、対象物が測定
位置まで搬送されたか否かを判別する基準となる設定値
を記憶する設定値記憶部を有し、上記測定タイミング検
知手段が上記受光素子からの出力および上記設定値に基
づいて対象物が測定位置まで搬送されたことを検知する
のが好ましい。
位置まで搬送されたか否かを判別する基準となる設定値
を記憶する設定値記憶部を有し、上記測定タイミング検
知手段が上記受光素子からの出力および上記設定値に基
づいて対象物が測定位置まで搬送されたことを検知する
のが好ましい。
【００１１】このように、検知基準となる設定値を記憶
する設定値記憶部を設ければ、上記設定値を書き換える
ことで、段取り替えを行うことができる。
する設定値記憶部を設ければ、上記設定値を書き換える
ことで、段取り替えを行うことができる。
【００１２】請求項３の発明は、対象物が測定位置まで
搬送されたか否かを判別する基準となる設定値を記憶す
る設定値記憶部を設け、一次元イメージセンサを構成す
る受光素子のうちエッジを検出した受光素子のアドレス
と上記設定値とを比較することにより、対象物が測定位
置まで搬送されたことを検知する測定タイミング検知手
段を設けている。
搬送されたか否かを判別する基準となる設定値を記憶す
る設定値記憶部を設け、一次元イメージセンサを構成す
る受光素子のうちエッジを検出した受光素子のアドレス
と上記設定値とを比較することにより、対象物が測定位
置まで搬送されたことを検知する測定タイミング検知手
段を設けている。
【００１３】請求項３の発明によれば、エッジを検出し
た受光素子のアドレスと設定値とを比較して、対象物が
測定位置まで搬送されたことを検知するから、やはり、
タイミング検出用の検出器を別途設ける必要がない。ま
た、設定値記憶部を有しているので、段取り替えの際に
上記設定値を書き換えることができる。
た受光素子のアドレスと設定値とを比較して、対象物が
測定位置まで搬送されたことを検知するから、やはり、
タイミング検出用の検出器を別途設ける必要がない。ま
た、設定値記憶部を有しているので、段取り替えの際に
上記設定値を書き換えることができる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面にしたがって説
明する。図１ないし図３は第１実施例を示す。図１に示
すように、本実施例の寸法測定装置の機械的構成は、図
８の検出器１０３を有していない点を除けば従来と同様
であり、図８の従来例と同一部分または相当部分には同
一符号を付して、その説明を省略する。
明する。図１ないし図３は第１実施例を示す。図１に示
すように、本実施例の寸法測定装置の機械的構成は、図
８の検出器１０３を有していない点を除けば従来と同様
であり、図８の従来例と同一部分または相当部分には同
一符号を付して、その説明を省略する。
【００１５】一次元イメージセンサ１は、図示しないタ
イミング発生器からバッファアンプ３を経て出力される
リセット信号、スタート信号およびシフト信号によっ
て、ＣＣＤ（受光素子）１1 〜１n の配列方向に一定周
期で走査を繰り返しつつ、受光素子１i に入射した光Ｌ
１の光電変換を行う。一次元イメージセンサ１からの出
力は、初段アンプ４、サンプルホールド回路５およびゲ
イン制御アンプ６を介して、２値化回路７に入力され
る。２値化回路７は、一次元イメージセンサ１で得た光
量のアナログ情報を所定の閾値と比較して２値化し、図
２（ａ），（ｂ）のような２値化した（明または暗の）
２値化信号ａを図１のエッジ検出回路３０およびマイコ
ン２に出力する。上記エッジ検出回路３０は、ｉ番目の
アドレスと（ｉ＋１）番目のアドレスの２値化情報を次
々と比較し、両アドレスの情報が変化した位置にエッジ
（明暗の境界）Ｅi が存在すると判定し、そのエッジＥ
1 ，Ｅ2 のアドレス信号ｂをマイコン２に出力する。な
お、上記エッジ検出回路３０は、検出したエッジＥ1 ，
Ｅ2 が図２（ａ）の立上り部Ｃ1 か立下り部Ｃ2 かの判
別を、エッジアドレスＸ1 ，Ｘ2 の前後の数ビットの値
から判別する。
イミング発生器からバッファアンプ３を経て出力される
リセット信号、スタート信号およびシフト信号によっ
て、ＣＣＤ（受光素子）１1 〜１n の配列方向に一定周
期で走査を繰り返しつつ、受光素子１i に入射した光Ｌ
１の光電変換を行う。一次元イメージセンサ１からの出
力は、初段アンプ４、サンプルホールド回路５およびゲ
イン制御アンプ６を介して、２値化回路７に入力され
る。２値化回路７は、一次元イメージセンサ１で得た光
量のアナログ情報を所定の閾値と比較して２値化し、図
２（ａ），（ｂ）のような２値化した（明または暗の）
２値化信号ａを図１のエッジ検出回路３０およびマイコ
ン２に出力する。上記エッジ検出回路３０は、ｉ番目の
アドレスと（ｉ＋１）番目のアドレスの２値化情報を次
々と比較し、両アドレスの情報が変化した位置にエッジ
（明暗の境界）Ｅi が存在すると判定し、そのエッジＥ
1 ，Ｅ2 のアドレス信号ｂをマイコン２に出力する。な
お、上記エッジ検出回路３０は、検出したエッジＥ1 ，
Ｅ2 が図２（ａ）の立上り部Ｃ1 か立下り部Ｃ2 かの判
別を、エッジアドレスＸ1 ，Ｘ2 の前後の数ビットの値
から判別する。
【００１６】図１の上記マイコン２には、ＣＰＵ１０お
よびメモリ２０が内蔵されているとともに、操作部８お
よび表示器９が接続されている。ＣＰＵ１０は、測定タ
イミング検知手段１１，寸法算出手段１２およびホール
ド手段１３を備えている。一方、メモリ２０は、設定値
記憶部２１およびエッジアドレス記憶部２２を備えてい
る。この両記憶部２１，２２はＲＡＭで構成されてい
る。
よびメモリ２０が内蔵されているとともに、操作部８お
よび表示器９が接続されている。ＣＰＵ１０は、測定タ
イミング検知手段１１，寸法算出手段１２およびホール
ド手段１３を備えている。一方、メモリ２０は、設定値
記憶部２１およびエッジアドレス記憶部２２を備えてい
る。この両記憶部２１，２２はＲＡＭで構成されてい
る。
【００１７】上記設定値記憶部２１は、対象物１０２が
測定位置Ｐ１まで搬送されたか否かを判別する基準とな
る設定値ｍを記憶している。この設定値ｍは、一次元イ
メージセンサ１の受光素子１m のアドレスに相当する値
であり、たとえば、操作部８から入力される。上記エッ
ジアドレス記憶部２２は、エッジ検出回路３０で検出し
たエッジＥ1 ，Ｅ2 のアドレスに相当するエッジアドレ
スＸ1 ，Ｘ2 （図２）を記憶する。
測定位置Ｐ１まで搬送されたか否かを判別する基準とな
る設定値ｍを記憶している。この設定値ｍは、一次元イ
メージセンサ１の受光素子１m のアドレスに相当する値
であり、たとえば、操作部８から入力される。上記エッ
ジアドレス記憶部２２は、エッジ検出回路３０で検出し
たエッジＥ1 ，Ｅ2 のアドレスに相当するエッジアドレ
スＸ1 ，Ｘ2 （図２）を記憶する。
【００１８】上記測定タイミング検知手段１１は、受光
素子１1 〜１n のうちエッジＥ1 を検出した受光素子１
i のアドレスＸ1 と、設定値ｍとを比較することによ
り、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬送されたことを
検知するものである。本実施例の場合、上記測定タイミ
ング検知手段１１は、上記設定値記憶部２１に記憶され
ている設定値ｍと、エッジアドレス記憶部２２に記憶さ
れたエッジアドレスＸ1とを比較し、Ｘ1 ＞ｍ となっ
たときに、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬送されて
きたと認識し、検知信号ｃをホールド手段１３に出力す
る。
素子１1 〜１n のうちエッジＥ1 を検出した受光素子１
i のアドレスＸ1 と、設定値ｍとを比較することによ
り、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬送されたことを
検知するものである。本実施例の場合、上記測定タイミ
ング検知手段１１は、上記設定値記憶部２１に記憶され
ている設定値ｍと、エッジアドレス記憶部２２に記憶さ
れたエッジアドレスＸ1とを比較し、Ｘ1 ＞ｍ となっ
たときに、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬送されて
きたと認識し、検知信号ｃをホールド手段１３に出力す
る。
【００１９】上記寸法算出手段１２は、エッジアドレス
記憶部２２から寸法測定の基準となるエッジアドレスＸ
1 ，Ｘ2 （図２）を読み出し、下記の（１）式に従っ
て、影Ｓｈの部分の寸法Ｄ、この場合、対象物の寸法Ｄ
を算出する。 Ｄ＝（Ｘ1 −Ｘ2 ）・Ｐ …（１） 但し、Ｐ：受光素子のピッチ
記憶部２２から寸法測定の基準となるエッジアドレスＸ
1 ，Ｘ2 （図２）を読み出し、下記の（１）式に従っ
て、影Ｓｈの部分の寸法Ｄ、この場合、対象物の寸法Ｄ
を算出する。 Ｄ＝（Ｘ1 −Ｘ2 ）・Ｐ …（１） 但し、Ｐ：受光素子のピッチ
【００２０】上記ホールド手段１３は、測定タイミング
検知手段１１から検知信号ｃを受けたとき、寸法算出手
段１２において算出された寸法Ｄを一定時間ホールドさ
せるものである。ＣＰＵ１０は、寸法算出手段１２にホ
ールドされた寸法Ｄを表示器９に表示させる。
検知手段１１から検知信号ｃを受けたとき、寸法算出手
段１２において算出された寸法Ｄを一定時間ホールドさ
せるものである。ＣＰＵ１０は、寸法算出手段１２にホ
ールドされた寸法Ｄを表示器９に表示させる。
【００２１】つぎに、本発明の動作を図３のフローチャ
ートに従って説明する。図１の対象物１０２が、搬送装
置（図示せず）により二点鎖線の位置から破線で示す測
定位置Ｐ１まで搬送されてくる間に、２値化回路７から
マイコン２に図２（ａ）のような２値化信号ａが入力さ
れるとともに、図１のエッジ検出回路３０からマイコン
２に、図２（ａ）のエッジアドレスＸ1 ，Ｘ2 が入力さ
れる。この際、図１の寸法算出手段１２は、図３のステ
ップＳ１に示すように寸法Ｄを算出する。つづいて、ス
テップＳ２に進み、図１の測定タイミング検知手段１１
が、対象物１０２の前端のエッジＥ1 のエッジアドレス
Ｘ1 と、受光素子１m の位置に対応する設定値ｍとを比
較し、Ｘ1 ＞ｍ となったか否かを判別する。この判別
の結果、Ｘ1 ＞ｍ になっていなければ図３のステップ
Ｓ１に戻り、一方、図２（ｂ）のようにＸ1 ＞ｍ にな
っていれば、対象物１０２が測定位置Ｐ１（図１）まで
搬送されたと判断して、図３のステップＳ３に進む。ス
テップＳ３では、図１の寸法算出手段１２が算出した寸
法Ｄをホールド手段１３によってホールドさせ、つづい
て、図３のステップＳ４で、測定値（寸法Ｄ）が出力さ
れて、図１の表示器９に表示される。
ートに従って説明する。図１の対象物１０２が、搬送装
置（図示せず）により二点鎖線の位置から破線で示す測
定位置Ｐ１まで搬送されてくる間に、２値化回路７から
マイコン２に図２（ａ）のような２値化信号ａが入力さ
れるとともに、図１のエッジ検出回路３０からマイコン
２に、図２（ａ）のエッジアドレスＸ1 ，Ｘ2 が入力さ
れる。この際、図１の寸法算出手段１２は、図３のステ
ップＳ１に示すように寸法Ｄを算出する。つづいて、ス
テップＳ２に進み、図１の測定タイミング検知手段１１
が、対象物１０２の前端のエッジＥ1 のエッジアドレス
Ｘ1 と、受光素子１m の位置に対応する設定値ｍとを比
較し、Ｘ1 ＞ｍ となったか否かを判別する。この判別
の結果、Ｘ1 ＞ｍ になっていなければ図３のステップ
Ｓ１に戻り、一方、図２（ｂ）のようにＸ1 ＞ｍ にな
っていれば、対象物１０２が測定位置Ｐ１（図１）まで
搬送されたと判断して、図３のステップＳ３に進む。ス
テップＳ３では、図１の寸法算出手段１２が算出した寸
法Ｄをホールド手段１３によってホールドさせ、つづい
て、図３のステップＳ４で、測定値（寸法Ｄ）が出力さ
れて、図１の表示器９に表示される。
【００２２】このように、本測定装置では、別途タイミ
ング検出用の検出器を設けることなく、対象物１０２が
測定位置Ｐ１まで搬送されたタイミングを知ることがで
きる。したがって、タイミング検出専用の検出器が不要
となるばかりでなく、その取付工数を省くこともでき
る。
ング検出用の検出器を設けることなく、対象物１０２が
測定位置Ｐ１まで搬送されたタイミングを知ることがで
きる。したがって、タイミング検出専用の検出器が不要
となるばかりでなく、その取付工数を省くこともでき
る。
【００２３】また、本実施例では、対象物１０２が測定
位置Ｐ１まで搬送されたか否かを判別する基準となる設
定値ｍを設定値記憶部（ＲＡＭ）２１が記憶しているの
で、この設定値ｍを操作部８から容易に変更することが
できる。したがって、段取り替えの際に、検出器の取付
位置を変えるなどの作業が不要になる。
位置Ｐ１まで搬送されたか否かを判別する基準となる設
定値ｍを設定値記憶部（ＲＡＭ）２１が記憶しているの
で、この設定値ｍを操作部８から容易に変更することが
できる。したがって、段取り替えの際に、検出器の取付
位置を変えるなどの作業が不要になる。
【００２４】ところで、本実施例では、エッジＥ1 を検
出した受光素子１i のアドレスＸ1と、設定値ｍとを比
較することにより、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬
送されたことを検知したが、本発明は、かかる検知方法
に限定されるものではない。すなわち、以下に説明する
ように、本発明では、一次元イメージセンサ１または寸
法測定装置を構成する受光素子１1 〜１n のうち１つ以
上の受光素子１i の出力に基づいて、対象物１０２が測
定位置Ｐ１まで搬送されたことを検知するものであれば
よい。
出した受光素子１i のアドレスＸ1と、設定値ｍとを比
較することにより、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬
送されたことを検知したが、本発明は、かかる検知方法
に限定されるものではない。すなわち、以下に説明する
ように、本発明では、一次元イメージセンサ１または寸
法測定装置を構成する受光素子１1 〜１n のうち１つ以
上の受光素子１i の出力に基づいて、対象物１０２が測
定位置Ｐ１まで搬送されたことを検知するものであれば
よい。
【００２５】図４は第２実施例を示す。測定タイミング
検知手段１１Ａは、設定値記憶部２１に記憶された設定
値ｍを読み出し、ｍ番目のアドレスの受光素子１m の出
力を監視し、この受光素子１mの出力が明から暗に変化
したときに、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬送され
てきたと認識し、検知信号ｃを寸法算出手段１２Ａに出
力する。寸法算出手段１２Ａは、上記検知信号ｃを受け
たときに、前述の（１）式に従って寸法Ｄを算出する。
ＣＰＵ１０は、算出された寸法Ｄを表示器９に表示させ
る。したがって、別途検出器を設けなくても、対象物１
０２が測定位置Ｐ１まで搬送されてきたときに対象物１
０２の寸法Ｄが測定される。なお、第２実施例のその他
の構成は第１実施例と同様であり、同一部分または相当
部分には同一符号ないし符号の末尾にＡを付して、その
詳しい説明を省略する。
検知手段１１Ａは、設定値記憶部２１に記憶された設定
値ｍを読み出し、ｍ番目のアドレスの受光素子１m の出
力を監視し、この受光素子１mの出力が明から暗に変化
したときに、対象物１０２が測定位置Ｐ１まで搬送され
てきたと認識し、検知信号ｃを寸法算出手段１２Ａに出
力する。寸法算出手段１２Ａは、上記検知信号ｃを受け
たときに、前述の（１）式に従って寸法Ｄを算出する。
ＣＰＵ１０は、算出された寸法Ｄを表示器９に表示させ
る。したがって、別途検出器を設けなくても、対象物１
０２が測定位置Ｐ１まで搬送されてきたときに対象物１
０２の寸法Ｄが測定される。なお、第２実施例のその他
の構成は第１実施例と同様であり、同一部分または相当
部分には同一符号ないし符号の末尾にＡを付して、その
詳しい説明を省略する。
【００２６】第２実施例の動作を簡単に説明する。測定
タイミング検知手段１１Ａが、図５のステップＳ１１に
おいて、受光素子１m の出力が明から暗に変化したか否
かを判断し、判断の結果、出力に変化がなければ、ステ
ップＳ１１に戻り、変化した場合はステップＳ１２に進
む。ステップＳ１２では、寸法算出手段１２Ａ（図４）
が寸法Ｄを算出し、つづいて、ステップＳ１３でＣＰＵ
１０（図４）が寸法（測定値）Ｄを図４の表示器９に出
力して表示させる。
タイミング検知手段１１Ａが、図５のステップＳ１１に
おいて、受光素子１m の出力が明から暗に変化したか否
かを判断し、判断の結果、出力に変化がなければ、ステ
ップＳ１１に戻り、変化した場合はステップＳ１２に進
む。ステップＳ１２では、寸法算出手段１２Ａ（図４）
が寸法Ｄを算出し、つづいて、ステップＳ１３でＣＰＵ
１０（図４）が寸法（測定値）Ｄを図４の表示器９に出
力して表示させる。
【００２７】ところで、上記各実施例では、設定値ｍを
図４のメモリ２０に記憶させたが、本発明では、必ずし
も設定値ｍをメモリ２０に記憶させる必要はない。たと
えば、本発明にパソコンなどの制御装置を接続した場合
においては、パソコンからＣＰＵ１０に設定値ｍを出力
してもよい。また、設定値記憶部２１に複数種類の設定
値を記憶可能とすれば、搬送系の制御装置などから品種
の情報を受け取って、この品種の情報に従って、設定値
記憶部２１から読み出す設定値を自動的に変更すること
ができる。
図４のメモリ２０に記憶させたが、本発明では、必ずし
も設定値ｍをメモリ２０に記憶させる必要はない。たと
えば、本発明にパソコンなどの制御装置を接続した場合
においては、パソコンからＣＰＵ１０に設定値ｍを出力
してもよい。また、設定値記憶部２１に複数種類の設定
値を記憶可能とすれば、搬送系の制御装置などから品種
の情報を受け取って、この品種の情報に従って、設定値
記憶部２１から読み出す設定値を自動的に変更すること
ができる。
【００２８】また、上記各実施例では、測定位置Ｐ１に
おける対象物１０２のエッジＥ1 に相当する受光素子１
m のアドレスｍを設定値としたが必ずしも、これに限定
されない。たとえば、入口端部の受光素子１1 の出力を
ＣＰＵ１０に入力し、この入口端部の受光素子１1 の出
力が明から暗に変化した後、一定時間Ｔ秒後に寸法を算
出することとしてもよい。つまり、図４の距離Ｌｅは下
記の（２）式で表されるので、時間Ｔを設定値とすれ
ば、対象物１０２が測定位置Ｐ１に到達したときに、寸
法算出を行なうことができる。 Ｌｅ＝Ｖ・Ｔ …（２） 但し、Ｖ：搬送（移動）速度 Ｔ：時間
おける対象物１０２のエッジＥ1 に相当する受光素子１
m のアドレスｍを設定値としたが必ずしも、これに限定
されない。たとえば、入口端部の受光素子１1 の出力を
ＣＰＵ１０に入力し、この入口端部の受光素子１1 の出
力が明から暗に変化した後、一定時間Ｔ秒後に寸法を算
出することとしてもよい。つまり、図４の距離Ｌｅは下
記の（２）式で表されるので、時間Ｔを設定値とすれ
ば、対象物１０２が測定位置Ｐ１に到達したときに、寸
法算出を行なうことができる。 Ｌｅ＝Ｖ・Ｔ …（２） 但し、Ｖ：搬送（移動）速度 Ｔ：時間
【００２９】また、上記各実施例では、測定対象が対象
物１０２の全長であったが、測定対象は複数個の対象物
１０２のピッチや、対象物１０２における部分的な寸法
であってもよい。
物１０２の全長であったが、測定対象は複数個の対象物
１０２のピッチや、対象物１０２における部分的な寸法
であってもよい。
【００３０】また、本発明は、細いレーザ光または線状
のレーザ光を、ガルバノミラーやポリゴンミラーでスキ
ャンさせ、時間から影の寸法を測定する走査型の寸法測
定装置についても適用し得る。この種の寸法測定装置の
一例を図６の変形例を用いて説明する。
のレーザ光を、ガルバノミラーやポリゴンミラーでスキ
ャンさせ、時間から影の寸法を測定する走査型の寸法測
定装置についても適用し得る。この種の寸法測定装置の
一例を図６の変形例を用いて説明する。
【００３１】図６（ａ）において、光源１００Ａは、細
いレーザ光または線状のレーザ光Ｌ２を出射する。レー
ザ光Ｌ２は、ミラー１０５で反射され、ポリゴンミラー
１０４に向かって進む。ポリゴンミラー１０４は、矢印
Ｒ１方向に回転することにより、レーザ光Ｌ２を矢印Ｒ
２方向にたとえば数百回走査させる。レーザ光Ｌ２は、
コリメータレンズ１０１および集光レンズ１０１Ａによ
って、単一の受光素子（ホトダイオード）１Ａに集光さ
れる。これにより、受光素子１Ａは、エッジＥ1 ，Ｅ2
に対応して、図６（ｂ）のように、出力を変化させる。
図６（ａ）の寸法Ｄは、寸法測定の基準となるエッジＥ
1 ，Ｅ2 に対応する基準時間ｔ1 ，ｔ2に基づいて、下
記の（３）式から算出される。 Ｄ＝（ｔ1 −ｔ2 ）・ＶL …（３） 但し、ＶL ：レーザ光Ｌ２の走査速度 なお、本変形例の信号処理回路およびマイコンの構成
は、図４の第２実施例と同様であり、その詳しい説明お
よび図示を省略する。
いレーザ光または線状のレーザ光Ｌ２を出射する。レー
ザ光Ｌ２は、ミラー１０５で反射され、ポリゴンミラー
１０４に向かって進む。ポリゴンミラー１０４は、矢印
Ｒ１方向に回転することにより、レーザ光Ｌ２を矢印Ｒ
２方向にたとえば数百回走査させる。レーザ光Ｌ２は、
コリメータレンズ１０１および集光レンズ１０１Ａによ
って、単一の受光素子（ホトダイオード）１Ａに集光さ
れる。これにより、受光素子１Ａは、エッジＥ1 ，Ｅ2
に対応して、図６（ｂ）のように、出力を変化させる。
図６（ａ）の寸法Ｄは、寸法測定の基準となるエッジＥ
1 ，Ｅ2 に対応する基準時間ｔ1 ，ｔ2に基づいて、下
記の（３）式から算出される。 Ｄ＝（ｔ1 −ｔ2 ）・ＶL …（３） 但し、ＶL ：レーザ光Ｌ２の走査速度 なお、本変形例の信号処理回路およびマイコンの構成
は、図４の第２実施例と同様であり、その詳しい説明お
よび図示を省略する。
【００３２】つぎに、上記変形例のＣＰＵ（図示せず）
の動作について簡単に説明する。図７のフローチャート
において、この変形例のＣＰＵの動作は、第２実施例の
図５の動作と同様であるが、ステップＳ１１，Ｓ１２に
おける寸法Ｄのタイミング検出および寸法算出の方法が
若干異なっているので、異なる点についてのみ説明す
る。図７のステップＳ１１Ａでは、測定タイミング検知
手段が、図６（ｂ）のカウント開始位置ｔ0 でカウント
を開始し、波形の立上がりｔ1 までのカウント値が、所
定値よりも大きくなったか否かを判断し、大きくなった
とき、ステップＳ１２Ａに進む。つづいて、ステップＳ
１２Ａでは、下記の（４）式に従って、寸法算出手段が
寸法Ｄを算出する。 Ｄ＝（ｔ1 −ｔ2 ）・ＶL …（４） 但し、ｔ1 ，ｔ2 ：エッジを検出した時間 ＶL ：レーザ光Ｌ２の走査速度
の動作について簡単に説明する。図７のフローチャート
において、この変形例のＣＰＵの動作は、第２実施例の
図５の動作と同様であるが、ステップＳ１１，Ｓ１２に
おける寸法Ｄのタイミング検出および寸法算出の方法が
若干異なっているので、異なる点についてのみ説明す
る。図７のステップＳ１１Ａでは、測定タイミング検知
手段が、図６（ｂ）のカウント開始位置ｔ0 でカウント
を開始し、波形の立上がりｔ1 までのカウント値が、所
定値よりも大きくなったか否かを判断し、大きくなった
とき、ステップＳ１２Ａに進む。つづいて、ステップＳ
１２Ａでは、下記の（４）式に従って、寸法算出手段が
寸法Ｄを算出する。 Ｄ＝（ｔ1 −ｔ2 ）・ＶL …（４） 但し、ｔ1 ，ｔ2 ：エッジを検出した時間 ＶL ：レーザ光Ｌ２の走査速度
【００３３】また、上記各実施例では透過型の寸法測定
装置について説明したが、本発明は対象物からの反射光
を一次元イメージセンサに受光させる反射型の寸法測定
装置についても適用し得る。
装置について説明したが、本発明は対象物からの反射光
を一次元イメージセンサに受光させる反射型の寸法測定
装置についても適用し得る。
【００３４】また、受光素子としてはＣＣＤに限らずＣ
ＰＤなどでもよく、表示素子も発光ダイオードに限ら
ず、たとえばＬＣＤ（液晶）などであってもよい。
ＰＤなどでもよく、表示素子も発光ダイオードに限ら
ず、たとえばＬＣＤ（液晶）などであってもよい。
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
寸法測定装置を構成する受光素子の出力に基づいて、対
象物が測定位置まで搬送されてきたことを検知するの
で、別途タイミング検出用の検出器を設ける必要がなく
なる。したがって、取付工数が少なくなるうえ、コスト
ダウンを図ることができる。
寸法測定装置を構成する受光素子の出力に基づいて、対
象物が測定位置まで搬送されてきたことを検知するの
で、別途タイミング検出用の検出器を設ける必要がなく
なる。したがって、取付工数が少なくなるうえ、コスト
ダウンを図ることができる。
【００３６】また、対象物が測定位置まで搬送されたか
否かを判別する基準となる設定値を記憶する設定値記憶
部を設ければ、段取り替えの際に、設定値を変更すると
いう簡単な操作で対処でき、したがって、段取り替えの
設定変更が容易になる。
否かを判別する基準となる設定値を記憶する設定値記憶
部を設ければ、段取り替えの際に、設定値を変更すると
いう簡単な操作で対処でき、したがって、段取り替えの
設定変更が容易になる。
【図１】本発明の第１実施例を示す寸法測定装置の概略
構成図である。
構成図である。
【図２】２値化回路からの出力を示す概念図である。
【図３】ＣＰＵの動作を示すフローチャートである。
【図４】第２実施例を示す寸法測定装置の概略構成図で
ある。
ある。
【図５】同実施例のＣＰＵの動作を示すフローチャート
である。
である。
【図６】（ａ）は本発明が適用される他の寸法測定装置
を示す概略構成図、（ｂ）は受光素子の出力を示す特性
図である。
を示す概略構成図、（ｂ）は受光素子の出力を示す特性
図である。
【図７】同変形例のフローチャートである。
【図８】従来例を示す概略構成図である。
１：一次元イメージセンサ １1 〜１n ，１Ａ：受光素子 １１，１１Ａ：測定タイミング検知手段 １２，１２Ａ：寸法算出手段 ２１：設定値記憶部 ２２：エッジアドレス記憶部 １０２：対象物 ｃ：検知信号 Ｅ1 ，Ｅ2 ：エッジ Ｐ１：測定位置
Claims (4)
- 【請求項１】 対象物に光を照射し、その透過光または
反射光を受光素子に受光させて、受光素子からの出力に
基づいてエッジの位置を検出し、所定のエッジを基準と
した寸法を測定する寸法測定装置において、 上記寸法測定装置を構成する上記受光素子の出力に基づ
いて、上記対象物が測定位置まで搬送されたことを検知
して検知信号を出力する測定タイミング検知手段と、 上記検知信号が出力された検知タイミングにおける寸法
を算出する寸法算出手段とを備えていることを特徴とす
る寸法測定装置。 - 【請求項２】 請求項１において、上記寸法測定装置
は、対象物が測定位置まで搬送されたか否かを判別する
基準となる設定値を記憶する設定値記憶部を有し、上記
測定タイミング検知手段が上記受光素子からの出力およ
び上記設定値に基づいて対象物が測定位置まで搬送され
たことを検知する寸法測定装置。 - 【請求項３】 対象物に光を照射し、その透過光または
反射光を一次元イメージセンサに受光させて、この一次
元イメージセンサからの出力に基づいてエッジの位置を
検出し、所定のエッジを基準とした寸法を測定する寸法
測定装置において、 対象物が測定位置まで搬送されたか否かを判別する基準
となる設定値を記憶する設定値記憶部を設け、 上記一次元イメージセンサを構成する受光素子のうちエ
ッジを検出した受光素子のアドレスと上記設定値とを比
較することにより、上記対象物が測定位置まで搬送され
たことを検知する測定タイミング検知手段を設けたこと
を特徴とする寸法測定装置。 - 【請求項４】 請求項２もしくは３において、上記設定
値記憶部が、上記設定値を複数個記憶可能であることを
特徴とする寸法測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6023208A JPH07208933A (ja) | 1994-01-24 | 1994-01-24 | 寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6023208A JPH07208933A (ja) | 1994-01-24 | 1994-01-24 | 寸法測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07208933A true JPH07208933A (ja) | 1995-08-11 |
Family
ID=12104255
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6023208A Pending JPH07208933A (ja) | 1994-01-24 | 1994-01-24 | 寸法測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07208933A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7177584B2 (en) | 2004-05-10 | 2007-02-13 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Determining a media feature |
-
1994
- 1994-01-24 JP JP6023208A patent/JPH07208933A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7177584B2 (en) | 2004-05-10 | 2007-02-13 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Determining a media feature |
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