JP3385043B2 - 画像計測装置 - Google Patents
画像計測装置Info
- Publication number
- JP3385043B2 JP3385043B2 JP21410792A JP21410792A JP3385043B2 JP 3385043 B2 JP3385043 B2 JP 3385043B2 JP 21410792 A JP21410792 A JP 21410792A JP 21410792 A JP21410792 A JP 21410792A JP 3385043 B2 JP3385043 B2 JP 3385043B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- light
- count
- threshold value
- clock
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、画像計測装置、特に、
測定対象に光を照射して測定対象を計測する画像計測装
置に関する。
測定対象に光を照射して測定対象を計測する画像計測装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】自動化ラインにおいて、製品の検査を自
動的に行う場合には、製品の情報を自動的に取り出すこ
とが不可欠であり、そのため、素子を１次元的に配列し
たＣＣＤラインセンサ等を用いた画像計測装置が広く用
いられている。この種の計測装置は、ハロゲンランプ、
ＬＥＤ等の光源及び光源からの光を平行光にするための
投光レンズを有する投光部と、投光部からの光を受ける
ＣＣＤラインセンサと、ＣＣＤラインセンサのアナログ
出力を処理して画素ごとの受光量に対応するディジタル
データを得るための信号処理回路と、このディジタルデ
ータを順次しきい値データと比較して製品の計測を行う
演算処理回路とから主に構成されている。なお、演算処
理回路は、ディジタルデータを順次しきい値データと比
較して、その明から暗，暗から明への変化のエッジを判
断し、このエッジの数やエッジ間の寸法を測定すること
で、製品の形，位置，寸法，個数等の計測を行う。
動的に行う場合には、製品の情報を自動的に取り出すこ
とが不可欠であり、そのため、素子を１次元的に配列し
たＣＣＤラインセンサ等を用いた画像計測装置が広く用
いられている。この種の計測装置は、ハロゲンランプ、
ＬＥＤ等の光源及び光源からの光を平行光にするための
投光レンズを有する投光部と、投光部からの光を受ける
ＣＣＤラインセンサと、ＣＣＤラインセンサのアナログ
出力を処理して画素ごとの受光量に対応するディジタル
データを得るための信号処理回路と、このディジタルデ
ータを順次しきい値データと比較して製品の計測を行う
演算処理回路とから主に構成されている。なお、演算処
理回路は、ディジタルデータを順次しきい値データと比
較して、その明から暗，暗から明への変化のエッジを判
断し、このエッジの数やエッジ間の寸法を測定すること
で、製品の形，位置，寸法，個数等の計測を行う。
【０００３】この種の計測装置で例えば製品の外径を計
測する場合には、投光部からの平行光線の一部を遮る位
置に製品を配置する。このとき、ＣＣＤラインセンサの
出力は、製品により影になった部分の出力が他の部分に
比べて低くなる。この影の部分の幅は製品の外径寸法に
相当するので、この幅を測定することにより製品の外径
を知ることができる。
測する場合には、投光部からの平行光線の一部を遮る位
置に製品を配置する。このとき、ＣＣＤラインセンサの
出力は、製品により影になった部分の出力が他の部分に
比べて低くなる。この影の部分の幅は製品の外径寸法に
相当するので、この幅を測定することにより製品の外径
を知ることができる。
【０００４】この影の部分を判別するために、計測装置
では、明から暗，暗から明への変化のエッジをしきい値
データに基づき判断する。このしきい値データは、一般
に、外乱光等による影響を排除するために、外乱光等の
変化に応じて変化させる必要がある。このため、特開平
４−４４７７号公報に開示された画像計測装置では、測
定中に光の当たった部分（明部）と影の部分（暗部）と
をサンプリングし、それぞれディジタル信号に変換し、
その明部データと暗部データの差の一定の割合をしきい
値データとする。
では、明から暗，暗から明への変化のエッジをしきい値
データに基づき判断する。このしきい値データは、一般
に、外乱光等による影響を排除するために、外乱光等の
変化に応じて変化させる必要がある。このため、特開平
４−４４７７号公報に開示された画像計測装置では、測
定中に光の当たった部分（明部）と影の部分（暗部）と
をサンプリングし、それぞれディジタル信号に変換し、
その明部データと暗部データの差の一定の割合をしきい
値データとする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】前記従来の構成では、
測定中に明部及び暗部をサンプリングしてそれらに基づ
くしきい値データを設定しているので、しきい値データ
を外乱光等により変化させることができるが、測定対象
が小さい場合には、サンプリングした暗部のデータが正
しい暗部のレベルまで下がらず、暗部データが不確かな
ものになる。不確かな暗部データを用いてしきい値を求
めると、明部と暗部とのエッジを誤検出し、精度の良い
検出が行えない。
測定中に明部及び暗部をサンプリングしてそれらに基づ
くしきい値データを設定しているので、しきい値データ
を外乱光等により変化させることができるが、測定対象
が小さい場合には、サンプリングした暗部のデータが正
しい暗部のレベルまで下がらず、暗部データが不確かな
ものになる。不確かな暗部データを用いてしきい値を求
めると、明部と暗部とのエッジを誤検出し、精度の良い
検出が行えない。
【０００６】本発明の目的は、計測精度を向上させるこ
とにある。
とにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明に係る画像計測装
置は、測定対象に光を照射して測定を行う装置である。
この装置は、照射手段及び受光手段と明部信号獲得手段
と暗部信号獲得手段としきい値算出手段と計測手段とを
備えている。照射手段及び受光手段は測定対象に光を照
射して受光可能なものである。明部信号獲得手段は、照
射手段の照射中における受光手段の受光結果により明部
信号を得るものである。暗部信号獲得手段は、照射手段
の消灯中における受光手段の受光結果により暗部信号を
得るものである。しきい値算出手段は、明部信号と暗部
信号とによりしきい値を算出するものである。計測手段
は、しきい値を基準に受光結果の明暗を判断して測定対
象を計測するものである。
置は、測定対象に光を照射して測定を行う装置である。
この装置は、照射手段及び受光手段と明部信号獲得手段
と暗部信号獲得手段としきい値算出手段と計測手段とを
備えている。照射手段及び受光手段は測定対象に光を照
射して受光可能なものである。明部信号獲得手段は、照
射手段の照射中における受光手段の受光結果により明部
信号を得るものである。暗部信号獲得手段は、照射手段
の消灯中における受光手段の受光結果により暗部信号を
得るものである。しきい値算出手段は、明部信号と暗部
信号とによりしきい値を算出するものである。計測手段
は、しきい値を基準に受光結果の明暗を判断して測定対
象を計測するものである。
【０００８】
【作用】本発明に係る画像計測装置では、明部信号獲得
手段が、照射手段の照射中における受光手段の受光結果
により暗部信号を得る。また、暗部信号獲得手段が、照
射手段の消灯中における受光結果により暗部信号を得
る。そしてしきい値算出手段により、明部信号と暗部信
号とによりしきい値が算出される。しきい値が算出され
ると、算出されたしきい値を基準に、計測手段により受
光結果の明暗が判断され、測定対象が計測される。
手段が、照射手段の照射中における受光手段の受光結果
により暗部信号を得る。また、暗部信号獲得手段が、照
射手段の消灯中における受光結果により暗部信号を得
る。そしてしきい値算出手段により、明部信号と暗部信
号とによりしきい値が算出される。しきい値が算出され
ると、算出されたしきい値を基準に、計測手段により受
光結果の明暗が判断され、測定対象が計測される。
【０００９】ここでは、消灯中における受光結果により
暗部信号が得られるので、たとえ測定対象が小さくても
暗部信号が正しいレベルで得られる。このため、正確な
しきい値が算出される。このため、高精度の計測を行え
る。
暗部信号が得られるので、たとえ測定対象が小さくても
暗部信号が正しいレベルで得られる。このため、正確な
しきい値が算出される。このため、高精度の計測を行え
る。
【００１０】
【実施例】図１は、本発明の一実施例による画像計測装
置を示している。図において、画像計測装置は、間に測
定物Ｍを配置し得る間隔を隔てて配置された投光部１と
受光部２とから主に構成されている。投光部１は、発光
ダイオード（ＬＥＤ）３と、ＬＥＤ３から照射された光
を平行光にする投光レンズ４と、ＬＥＤ３を点灯するた
めの光源点灯回路５と、カウンタ６とを備えている。カ
ウンタ６は、後述するクロックＣＬＫを計数し、例えば
１０，０００回毎に、光源点灯回路５にカウントアップ
信号ＯＦＳを出力する。このカウントアップ信号ＯＦＳ
が出力されると、光源点灯回路５はＬＥＤ３を消灯す
る。
置を示している。図において、画像計測装置は、間に測
定物Ｍを配置し得る間隔を隔てて配置された投光部１と
受光部２とから主に構成されている。投光部１は、発光
ダイオード（ＬＥＤ）３と、ＬＥＤ３から照射された光
を平行光にする投光レンズ４と、ＬＥＤ３を点灯するた
めの光源点灯回路５と、カウンタ６とを備えている。カ
ウンタ６は、後述するクロックＣＬＫを計数し、例えば
１０，０００回毎に、光源点灯回路５にカウントアップ
信号ＯＦＳを出力する。このカウントアップ信号ＯＦＳ
が出力されると、光源点灯回路５はＬＥＤ３を消灯す
る。
【００１１】受光部２は、投光部１からの平行光を受け
るＣＣＤラインセンサ７と、センサ７のアナログ出力を
処理して増幅する増幅器８ａと、センサ７を駆動するた
めのクロックＣＬＫを出力するクロック発生回路９と、
増幅出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器８ｂとを備えて
いる。また受光部３は、Ａ／Ｄ変換出力を記憶するメモ
リＡ１０と、Ａ／Ｄ変換出力と所定の明部レベルとを比
較する比較回路１１と、比較回路１１の出力を平均する
平均回路１２と、平均回路１２の出力を記憶するメモリ
Ｂ１３とを有している。メモリＡ１０及びメモリＢ１３
は、ＣＰＵ１４に接続されている。
るＣＣＤラインセンサ７と、センサ７のアナログ出力を
処理して増幅する増幅器８ａと、センサ７を駆動するた
めのクロックＣＬＫを出力するクロック発生回路９と、
増幅出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器８ｂとを備えて
いる。また受光部３は、Ａ／Ｄ変換出力を記憶するメモ
リＡ１０と、Ａ／Ｄ変換出力と所定の明部レベルとを比
較する比較回路１１と、比較回路１１の出力を平均する
平均回路１２と、平均回路１２の出力を記憶するメモリ
Ｂ１３とを有している。メモリＡ１０及びメモリＢ１３
は、ＣＰＵ１４に接続されている。
【００１２】ＣＰＵ１４は、消灯時におけるメモリＡ１
０の格納データと、メモリＢ１３の格納データとにより
しきい値データを算出する。またＣＰＵ１４にはメモリ
Ｃ１５が接続されており、算出されたしきい値データが
そこに格納される。またＣＰＵ１４には遅延回路１６も
接続されている。遅延回路１６にはカウンタ６からのカ
ウントアップ信号ＯＦＳが与えられており、それを所定
時間遅延させたタイミング信号ＤＴＭをＣＰＵ１４に与
える。これにより遅延回路１６が、消灯時の暗部データ
のＣＰＵ１４への読み込みタイミングを制御する。つま
り、ＬＥＤ３を消灯したときと、このときの暗部データ
をＣＰＵ１４に読み込むときとの時間的なずれを遅延回
路１６が調整する。
０の格納データと、メモリＢ１３の格納データとにより
しきい値データを算出する。またＣＰＵ１４にはメモリ
Ｃ１５が接続されており、算出されたしきい値データが
そこに格納される。またＣＰＵ１４には遅延回路１６も
接続されている。遅延回路１６にはカウンタ６からのカ
ウントアップ信号ＯＦＳが与えられており、それを所定
時間遅延させたタイミング信号ＤＴＭをＣＰＵ１４に与
える。これにより遅延回路１６が、消灯時の暗部データ
のＣＰＵ１４への読み込みタイミングを制御する。つま
り、ＬＥＤ３を消灯したときと、このときの暗部データ
をＣＰＵ１４に読み込むときとの時間的なずれを遅延回
路１６が調整する。
【００１３】次に上述の実施例の動作について説明す
る。クロック発生回路９でＣＣＤラインセンサ７に対し
クロックＣＬＫが出力されると、このクロックＣＬＫは
カウンタ６にも出力される。カウンタ６では、図３に示
すように、クロックＣＬＫを例えば１０，０００回計数
するとカウントアップ信号ＯＦＳを出力する。出力され
たカウントアップ信号ＯＦＳは光源点灯回路５と遅延回
路１６とに与えられる。
る。クロック発生回路９でＣＣＤラインセンサ７に対し
クロックＣＬＫが出力されると、このクロックＣＬＫは
カウンタ６にも出力される。カウンタ６では、図３に示
すように、クロックＣＬＫを例えば１０，０００回計数
するとカウントアップ信号ＯＦＳを出力する。出力され
たカウントアップ信号ＯＦＳは光源点灯回路５と遅延回
路１６とに与えられる。
【００１４】光源点灯回路５は、カウントアップ信号Ｏ
ＦＳが入力されていない間はＬＥＤ３を点灯させる。Ｌ
ＥＤ３が点灯している時の受光結果は、比較回路１１に
より所定レベル以上の結果だけが選別され、選別された
受光結果が平均回路１２により平均処理される。この平
均処理されたデータが明部データとしてメモリＢ１３に
記憶される。
ＦＳが入力されていない間はＬＥＤ３を点灯させる。Ｌ
ＥＤ３が点灯している時の受光結果は、比較回路１１に
より所定レベル以上の結果だけが選別され、選別された
受光結果が平均回路１２により平均処理される。この平
均処理されたデータが明部データとしてメモリＢ１３に
記憶される。
【００１５】一方、光源点灯回路５は、カウントアップ
信号ＯＦＳを受けると、ＬＥＤ３を消灯する。また、メ
モリＡ１０に記憶された受光結果が遅延回路１６による
遅延時間Ｄ（図３）後にＣＰＵ１４に読み込まれ、ＣＰ
Ｕ１４によって平均化処理され暗部データが算出され
る。ＣＰＵ１４は図２に示す制御を行う。
信号ＯＦＳを受けると、ＬＥＤ３を消灯する。また、メ
モリＡ１０に記憶された受光結果が遅延回路１６による
遅延時間Ｄ（図３）後にＣＰＵ１４に読み込まれ、ＣＰ
Ｕ１４によって平均化処理され暗部データが算出され
る。ＣＰＵ１４は図２に示す制御を行う。
【００１６】ここではまずステップＳ１で初期設定を行
う。この初期設定時には、たとえば、メモリＣ１５にし
きい値データの初期値が格納される。ステップＳ２で
は、メモリＡ１０の記憶内容を読み出す。つまり、ＣＣ
Ｄラインセンサ７の受光結果を読み出す。ステップＳ３
では、ＬＥＤ３がオンしているか否かを判断する。この
判断は、遅延回路１６からのタイミング信号ＤＴＭによ
り判断する。つまりタイミング信号ＤＴＭが入力された
場合にはＬＥＤ３がオフ（消灯）していると判断する。
う。この初期設定時には、たとえば、メモリＣ１５にし
きい値データの初期値が格納される。ステップＳ２で
は、メモリＡ１０の記憶内容を読み出す。つまり、ＣＣ
Ｄラインセンサ７の受光結果を読み出す。ステップＳ３
では、ＬＥＤ３がオンしているか否かを判断する。この
判断は、遅延回路１６からのタイミング信号ＤＴＭによ
り判断する。つまりタイミング信号ＤＴＭが入力された
場合にはＬＥＤ３がオフ（消灯）していると判断する。
【００１７】ステップＳ３でＬＥＤ３がオン（点灯）し
ていると判断するとステップＳ４に移行する。ステップ
Ｓ４では、メモリＣ１５に格納されたしきい値データを
読み出す。ステップＳ５では、読み出されたしきい値デ
ータによりメモリＡ１０から読み出した受光データを明
暗の概念で二値化する。ステップＳ６では、二値化され
た受光データの明暗のエッジを基準にして測定物Ｍの寸
法を演算する。ステップＳ７では、演算された測定値を
外部に出力する。ステップＳ８では他の一般的な処理を
行い、その処理が終了するとステップＳ２に戻る。
ていると判断するとステップＳ４に移行する。ステップ
Ｓ４では、メモリＣ１５に格納されたしきい値データを
読み出す。ステップＳ５では、読み出されたしきい値デ
ータによりメモリＡ１０から読み出した受光データを明
暗の概念で二値化する。ステップＳ６では、二値化され
た受光データの明暗のエッジを基準にして測定物Ｍの寸
法を演算する。ステップＳ７では、演算された測定値を
外部に出力する。ステップＳ８では他の一般的な処理を
行い、その処理が終了するとステップＳ２に戻る。
【００１８】ステップＳ３でＬＥＤ３がオフ（消灯）し
ていると判断するとステップＳ９に移行する。ステップ
Ｓ９では、メモリＡ１０に格納された受光データを平均
化処理し、暗部データを得る。ステップＳ１０では、メ
モリＢ１３に格納された平均化処理後の明部データを読
み出す。ステップＳ１１では、明部データと暗部データ
とによりしきい値データを算出する。ここでは、例えば
明部データと暗部データとの平均値をしきい値データと
する。ステップＳ１２では、算出されたしきい値データ
をメモリＣ１５に記憶する。
ていると判断するとステップＳ９に移行する。ステップ
Ｓ９では、メモリＡ１０に格納された受光データを平均
化処理し、暗部データを得る。ステップＳ１０では、メ
モリＢ１３に格納された平均化処理後の明部データを読
み出す。ステップＳ１１では、明部データと暗部データ
とによりしきい値データを算出する。ここでは、例えば
明部データと暗部データとの平均値をしきい値データと
する。ステップＳ１２では、算出されたしきい値データ
をメモリＣ１５に記憶する。
【００１９】この結果、測定時の基準となるしきい値デ
ータが更新されたことになる。ここでは、消灯時の暗部
データと点灯時の明部データとによりしきい値データを
算出しているので、正確なしきい値データを得ることが
できる。したがって、これ以後は、ステップＳ５で使用
されるしきい値データはより正確なものとなり、ステッ
プＳ６での寸法の演算がより正確なものとなる。
ータが更新されたことになる。ここでは、消灯時の暗部
データと点灯時の明部データとによりしきい値データを
算出しているので、正確なしきい値データを得ることが
できる。したがって、これ以後は、ステップＳ５で使用
されるしきい値データはより正確なものとなり、ステッ
プＳ６での寸法の演算がより正確なものとなる。
【００２０】〔他の実施例〕
（ａ） 前記実施例では、明部データの平均化処理のみ
ハードウエアで行い暗部データの平均化処理をソフトウ
エアにより行ったが、これらの処理はハードウエア及び
ソフトウエアのどちらで行っても良い。 （ｂ） 前記実施例では、１０，０００回の操作期間に
１回だけＬＥＤ３を消灯して暗部データを得る構成とし
たが、外乱光の変化が少ない場合には、測定前のＬＥＤ
３が消灯している状態で暗部データを得る構成としても
良い。
ハードウエアで行い暗部データの平均化処理をソフトウ
エアにより行ったが、これらの処理はハードウエア及び
ソフトウエアのどちらで行っても良い。 （ｂ） 前記実施例では、１０，０００回の操作期間に
１回だけＬＥＤ３を消灯して暗部データを得る構成とし
たが、外乱光の変化が少ない場合には、測定前のＬＥＤ
３が消灯している状態で暗部データを得る構成としても
良い。
【００２１】
【発明の効果】本発明に係る画像計測装置では、消灯中
における受光結果により暗部信号を得ているので、正確
な暗部信号を得ることができる。このため、暗部信号と
明部信号とから正確なしきい値を算出でき、高精度な計
測を行うことができる。
における受光結果により暗部信号を得ているので、正確
な暗部信号を得ることができる。このため、暗部信号と
明部信号とから正確なしきい値を算出でき、高精度な計
測を行うことができる。
【図１】本発明の一実施例による画像計測装置の概略ブ
ロック図。
ロック図。
【図２】その制御フローチャート。
【図３】消灯タイミングを示すタイミングチャート。
１ 投光部
２ 受光部
３ ＬＥＤ
５ 光源点灯回路
６ カウンタ
１０ メモリＡ
１３ メモリＢ
１４ ＣＰＵ
１５ メモリＣ
Ｍ 測定物
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01B 11/00 - 11/30
Claims (3)
- 【請求項１】 測定対象に光を照射して測定を行う画像
計測装置であって、 前記計測対象に光を照射して受光する照射手段及び受光
手段と、 前記受光手段を駆動するためのクロックを出力するクロ
ック発生回路と、 前記クロック発生回路からのクロックを入力し、該入力
されたクロックを計数して所定回数になったときにカウ
ントアップ信号を出力するカウンタと、 前記照射手段を点灯すると共に、前記カウンタからのカ
ウントアップ信号を受け、該カウントアップ信号を入力
したときに前記照射手段を消灯する照射手段点灯回路
と、 前記カウンタからのカウントアップ信号を受け、該カウ
ントアップ信号を入力したときから所定時間遅延してタ
イミング信号を出力する遅延回路と、 前記照射手段の点灯中における前記受光手段の受光結果
により明部信号を得る明部信号獲得手段と、 前記遅延回路からの前記タイミング信号を受け、前記照
射手段の消灯中における前記受光手段の受光結果により
暗部信号を得る暗部信号獲得手段と、 前記明部信号獲得手段からの前記明部信号と、前記暗部
信号獲得手段からの前記暗部信号とからしきい値を算出
するしきい値算出手段と、 前記しきい値を基準に前記受光結果の明暗を判断して前
記測定対象を計測する計測手段とを備えた画像計測装
置。 - 【請求項２】 測定対象に光を照射して測定を行う画像
計測装置であって、 前記計測対象に光を照射して受光する照射手段及び受光
手段と、 前記受光手段を駆動するためのクロックを出力するクロ
ック発生回路と、 前記クロック発生回路からのクロックを入力して該入力
されたクロックを計数し、所定回数になったときにカウ
ントアップ信号を出力するカウンタと、 前記照射手段を点灯すると共に、前記カウンタからのカ
ウントアップ信号を受け、該カウントアップ信号を入力
したときに前記照射手段を消灯する照射手段点灯回路
と、 前記カウンタからのカウントアップ信号を受け、該カウ
ントアップ信号を入力したときから所定時間遅延してタ
イミング信号を出力する遅延回路と、 前記照射手段の点灯中における前記受光手段の受光結果
により明部信号を得る明部信号獲得手段と、 前記遅延回路からの前記タイミング信号を受けて、前記
照射手段の消灯中における前記受光手段の受光結果によ
り暗部信号を得る暗部信号獲得手段と、 前記明部信号獲得手段からの前記明部信号と、前記暗部
信号獲得手段からの前記暗部信号とからしきい値を算出
するしきい値算出手段と、 前記しきい値を基準に前記受光結果の明暗を判断して前
記測定対象を計測する計測手段とを備え、 前記遅延回路における前記カウントアップ信号の入力か
ら前記タイミング信号を出力するまでの前記所定時間
が、前記照射手段が消灯した時と、この時の暗部信号を
前記暗部信号獲得手段が取り込む時との間の時間的なず
れを調整するためのものであることを特徴とするた画像
計測装置。 - 【請求項３】 前記しきい値算出手段にて算出されたし
きい値を記憶するしきい値記憶手段を更に有し、 前記計測手段が、前記照射手段が点灯しているときに、
前記しきい値記憶手段に記憶されているしきい値を基準
に前記受光結果の明暗を判断して前記測定対象を計測す
ることを特徴とする請求項１又は２に記載の画像計測装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21410792A JP3385043B2 (ja) | 1992-08-11 | 1992-08-11 | 画像計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21410792A JP3385043B2 (ja) | 1992-08-11 | 1992-08-11 | 画像計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0658722A JPH0658722A (ja) | 1994-03-04 |
| JP3385043B2 true JP3385043B2 (ja) | 2003-03-10 |
Family
ID=16650353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21410792A Expired - Fee Related JP3385043B2 (ja) | 1992-08-11 | 1992-08-11 | 画像計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3385043B2 (ja) |
-
1992
- 1992-08-11 JP JP21410792A patent/JP3385043B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0658722A (ja) | 1994-03-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| SE8902945D0 (sv) | Objekten | |
| US7750951B2 (en) | Apparatus to synchronize change cycle of external light and associated methodology | |
| US5107127A (en) | Method and apparatus for precision location of a perforation | |
| JP3385043B2 (ja) | 画像計測装置 | |
| TW399246B (en) | Method and apparatus for checking shape | |
| JPH08247722A (ja) | 寸法測定装置 | |
| JP3281986B2 (ja) | 画像計測装置 | |
| JPH0618907U (ja) | 画像計測装置 | |
| JP2625723B2 (ja) | 画像２値化処理装置 | |
| JP3262924B2 (ja) | ２値化法 | |
| US6509963B2 (en) | Photometric apparatus | |
| JP3455922B2 (ja) | 放射体温計 | |
| JPH08189894A (ja) | 路面状態検出装置 | |
| JPH05172632A (ja) | 光量測定装置 | |
| JP3439521B2 (ja) | 光電センサ | |
| JPS59155704A (ja) | 穴中心位置検出装置 | |
| JP3401816B2 (ja) | 光電スイッチ | |
| JPH0618906U (ja) | 画像計測装置 | |
| JPH0875657A (ja) | 米粒判別装置 | |
| JPH0441290B2 (ja) | ||
| JPH05180953A (ja) | 光電式物品検出装置 | |
| JP3278268B2 (ja) | 光源種類検知機能付カメラ | |
| JP2655546B2 (ja) | 光源変動補正方法および装置 | |
| JPH07229715A (ja) | エッジ位置検出装置 | |
| JP3409108B2 (ja) | フルカラー光電センサ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081227 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111227 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |