JPH09276858A - 紫外線toc分解装置 - Google Patents

紫外線toc分解装置

Info

Publication number
JPH09276858A
JPH09276858A JP11715896A JP11715896A JPH09276858A JP H09276858 A JPH09276858 A JP H09276858A JP 11715896 A JP11715896 A JP 11715896A JP 11715896 A JP11715896 A JP 11715896A JP H09276858 A JPH09276858 A JP H09276858A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ultraviolet
toc
pressure mercury
mercury lamp
ratio
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11715896A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Yamakoshi
裕司 山越
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIPPON PHOTO SCI KK
Original Assignee
NIPPON PHOTO SCI KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NIPPON PHOTO SCI KK filed Critical NIPPON PHOTO SCI KK
Priority to JP11715896A priority Critical patent/JPH09276858A/ja
Publication of JPH09276858A publication Critical patent/JPH09276858A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Treatment Of Water By Ion Exchange (AREA)
  • Physical Water Treatments (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 紫外線TOC分解装置の水銀ランプの紫外線
波長の185nmに対する254nmの比率を高比率に
し、後段のイオン交換装置の処理水の溶存酸素量の増加
を抑制し、シリコン基板の洗浄水等として支障を起こさ
ずに使用する。 【手段】 TOC成分含有水を紫外線TOC分解装置と
オン交換装置で処理するについて、水銀ランプの紫外線
の波長の185nmと254nmの比率を1:8以上に
254nmを高比率にした低圧水銀ランプを紫外線TO
C分解装置内に装填し、TOC成分含有水中のTOC成
分に対して紫外線照射を行うことによって、後段のイオ
ン交換装置の処理水の溶存酸素量の増加を抑制する紫外
線TOC分解装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の利用分野】本発明は、たとえば、半導体製造産
業におけるシリコン基板の洗浄に使用する超純水の製造
システムに組み込む紫外線TOC分解装置に関するもの
で、TOC含有水に対して照射する低圧水銀ランプの1
85nmに対する254nmの波長を高比率にすること
に特徴がある。
【0002】
【従来の技術】従来、前述した半導体製造産業における
シリコン基板の洗浄に使用する超純水の製造システムに
おいては、紫外線TOC分解装置とイオン交換装置が組
み込まれるが、通常、紫外線TOC分解装置のTOC成
分含有水に対して照射する低圧水銀ランプとして、18
5nmと254nmとの比率が1:5〜1:7.8のも
のを使用することが多く、185nmの比率が高いため
に、紫外線TOC分解処理装置の後段に設置するイオン
交換装置の処理水の溶存酸素量が増加して、シリコン基
板の洗浄を行う際に求められる水質基準に達しない欠点
があった。
【0003】それは、紫外線TOC分解装置のTOC含
有水に対して照射する紫外線の波長が、185nmを主
体とするものであると、TOC含有水中のTOC成分、
たとえば、メタノールに対して紫外線照射を行うと、メ
タノールはホルムアルデヒドを経て、メタノールに酸素
原子が二つまたはそれ以上連なった過酸化物になり、こ
の過酸化物含有水がイオン交換装置に流入して、イオン
交換樹脂に接触すると、この過酸化物より酸素分子が外
れて、イオン交換処理水の溶存酸素量が増加することに
よる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、紫外線TO
C分解装置に挿填する従来の低圧水銀ランプの紫外線の
波長のうち、185nmと254nmの比率を1:8以
上、すなわち、185nmに対する254nmの比率を
高比率にして、TOC含有水中のTOC成分に対して紫
外線照射を行うことによって、後段のイオン交換装置の
処理水(超純水)の溶存酸素量の増加を抑制し、この溶
存酸素量の少ない処理水(超純水)を、たとえば、半導
体製造産業におけるシリコン基板の洗浄等の高品質製品
の用水として、溶存酸素による問題を起こすことなく、
使用することに目的がある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、紫外線TOC
分解装置に関するものであって、TOC成分含有水を紫
外線TOC分解装置とイオン交換装置で処理するについ
て、紫外線の波長の185nmと254nmの比率を
1:8以上に254nmを高比率にした低圧水銀ランプ
を処理装置内に装填し、TOC成分含有水中のTOC成
分に対して紫外線照射を行うことによって、後段のイオ
ン交換装置の処理水の溶存酸素量の増加を抑制すること
に特徴がある。
【0006】すなわち、本発明は、前述した紫外線TO
C分解装置において、185nmと254nmとを照射
する低圧水銀ランプの石英ガラスまたは185nmと2
54nmとを照射する低圧水銀ランプを内蔵する透過管
の石英ガラスの厚さを1cm以上にして、紫外線の波長
の185nmと254nmの比率を1:8以上に254
nmを高比率にして処理槽内に装填し、TOC成分含有
水中のTOC成分に対して紫外線照射を行うことによっ
て、後段のイオン交換装置の処理水の溶存酸素量の増加
を抑制することに特徴がある。
【0007】また、本発明は、前述した紫外線TOC分
解装置のうち、シリンダー型の処理筒内に、185nm
と254nmを照射する低圧水銀ランプに対する254
nmの紫外線を照射する低圧水銀ランプの割合を10〜
80%に挿填し、紫外線の波長の185nmと254n
mの比率を1:8以上に254nmを高比率にして、T
OC成分含有水中のTOC成分に対して紫外線照射を行
うことによって、後段のイオン交換装置の処理水の溶存
酸素量の増加を抑制することに特徴がある。
【0008】さらに、本発明は、前述のシリンダー型の
処理筒内に、185nmと254nmを照射する低圧水
銀ランプの電力に対する185nmと254nmとを照
射する中圧または高圧水銀ランプの電力の割合を10〜
80%に挿填し、紫外線の波長の185nmと254n
mの比率を1:8以上に254nmを高比率にして、T
OC成分含有水中のTOC成分に対して紫外線照射を行
うことによって、後段のイオン交換装置の処理水の溶存
酸素量の増加を抑制することに特徴がある。
【0009】さらに、本発明は、前述のシリンダー型の
処理筒内に、185nmと254nmとを照射する低圧
水銀ランプを内蔵した透過管を複数本装填する際に、低
圧水銀ランプを内蔵した透過管の間隔を1〜5cmに挿
填し、紫外線の波長として、紫外線の波長の185nm
と254nmの比率を1:8に254nmを高比率にし
て、TOC成分含有水中のTOC成分に対して紫外線照
射を行うことによって、後段のイオン交換装置の処理水
の溶存酸素量の増加を抑制することに特徴がある。
【0010】
【発明の実施の態様】以下に本発明の実施態様の一例を
TOC成分としてメタノールを含むTOC含有水を例と
して説明すると、前述したように、超純水製造システム
においては紫外線TOC分解装置とイオン交換装置とを
組み込むが、このTOC処理装置の処理槽内に、紫外線
波長の185nmと254nmの比率を1:8以上にし
た低圧水銀ランプ、すなわち、254nmの比率を高比
率にした低圧水銀ランプを装填する。
【0011】TOC処理装置内に紫外線波長の185n
mと254nmの比率を1:8以上にした低圧水銀ラン
プを装填するのは、254nmの比率の高い紫外線をT
OC含有水に対して照射し、これによって生成さたOH
ラジカルを相互に結合して過酸化水素を発生させ、この
過酸化水素によって一段とOHラジカルの生成を促進し
て、TOC含有水中のメタノールールを蟻酸にすること
にある。そして、この蟻酸を含む紫外線処理水を後段の
イオン交換装置に流入させて、紫外線処理水中の蟻酸を
イオン交換樹脂に吸着除去させることによって、イオン
交換処理水の溶存酸素量の増加を抑制する。
【0012】すなわち、従来の185nmの比率が高い
紫外線をTOC含有水に対して照射した場合のように、
TOC含有水中のメタノールールがホルムアルデヒドを
経て、メタノールに酸素原子が二つまたはそれ以上連な
った過酸化物になり、この過酸化物含有水がイオン交換
装置に流入し、イオン交換樹脂に接触して過酸化物より
酸素分子が外れて起こる、イオン交換処理水の溶存酸素
量の増加の問題は発生しない。
【0013】一般にメタノール等のTOC成分の分解除
去に使用される従来の低圧水銀ランプの紫外線の波長の
185nmと254nmの比率は1:5〜1:7.8で
あるが、この比率を1:8以上にするには、従来の低圧
水銀ランプの石英ガラスまたは従来の低圧水銀ランプを
内蔵する透過管(保護管)の石英ガラスの厚みを変化さ
せる方法がある。たとえば、従来の低圧水銀ランプの石
英ガラスの厚みを1mmにすると、185nmと254
nmの比率が1:8になり、石英ガラスの厚み2mmに
すると、185nmと254nmの比率が1:14にな
り、石英ガラスの厚み3mmにすると、185nmと2
54nmの比率が1:26になり、石英ガラスの厚みが
増すにつれて、254nmの比率は高くなる(従来の低
圧水銀ランプを内蔵する透過管の石英ガラスの厚みを変
化させる場合も同様)。
【0014】さらに、紫外線TOC分解装置のうち、シ
リンダー型の処理筒内に185nmと254nmとを照
射する低圧水銀ランプと254nmを照射する低圧水銀
ランプを挿填して、185nmと254nmの比率を
1:8以上にすることもでき、この場合には、185n
mと254nmを照射する低圧水銀ランプに対して、2
54nmの紫外線を照射する低圧水銀ランプを10〜8
0%の割合にするとよく、50%前後にすると最適であ
る。
【0015】さらに、前述したシリンダー型の処理筒内
に185nmと254nmとを照射する低圧水銀ランプ
と185nmと254nmとを照射する中圧または高圧
水銀ランプを装填して、185nmと254nmの比率
を1:8以上にすることもでき、この場合には、185
nmと254nmを照射する低圧水銀ランプの電力に対
して、185nmと254nmとを照射する中圧または
高圧水銀ランプの電力の比率を10〜80%にするとよ
く、50%前後にすると最適である。
【0016】さらに、前述したシリンダー型の処理筒内
に185nmと254nmとを照射する低圧水銀ランプ
を内蔵した透過管を複数本挿填する際に、低圧水銀ラン
プを内蔵した透過管の間隔を1〜5cmにし、紫外線の
波長の185nmと254nmの比率を1:8以上にす
ることもでき、従来、低圧水銀ランプのメタノール等の
TOC成分含有水の水厚(低圧水銀ランプを複数本使用
した場合、ランプ1本当たりの断面積を求め、それを円
にしたときの半径からランプの透過管の半径を差し引い
た値)が0.5〜0.9cm前後であったのを、1cm
以上にするとよく、3cmにすると最適である。
【0017】すなわち、低圧水銀ランプのメタノール等
のTOC成分含有水の水厚を1cm以上にすると、18
5nmの紫外線の波長は水に90%以上吸収され、25
4nmの紫外線の波長は殆ど水に吸収されないために、
低圧水銀ランプの185nmと254nmの比率は1:
8以上になる。
【0018】本発明においては、紫外線波長の185n
mと254nmの比率が1:8未満であると、紫外線T
OC分解処理装置の後段に設置するイオン交換装置の処
理水の溶存酸素量が増加するので不適当でり、また、1
85nmに対する254nmの比率は高いほどよいが、
185nmの波長の紫外線が存在した方がよい場合(O
Hラジカルによるメタノールールの蟻酸化の促進)もあ
るので、185nmと254nmの比率が1:20程度
の低圧水銀ランプを使用することが望ましく、1:15
程度が最適である。
【0019】なお、本発明においては、低圧水銀ランプ
より照射される185nmと254nmの比率を測定し
て、この比率を1:8以上する場合があるが、185n
mと254nmの基準光源が存在しないために、それぞ
れの紫外線の波長を照度計で直接測定することはできな
い。そこで、その対策としては、サリチル酸ナトリウム
の蛍光特性を利用した測定法を用いると、185nmと
254nmの紫外線の波長は蛍光への変換率が一定であ
るので、185nmと254nmの比率を求めることが
できる。
【0020】紫外線TOC分解装置の後段に組み込むイ
オン交換装置としては、被処理水に含まれるTOC成分
やその他の不純物の種類や処理目的に応じて適宜選択し
て使用するが、通常の場合、カチオン交換樹脂とアニオ
ン交換樹脂を混合した混床式イオン交換装置を使用す
る。
【0021】
【実施例1】本発明の紫外線TOC分解装置として、処
理槽(縦240、横140、高さ150mm)に、厚み
2.5mmの石英ガラス製の透過管に65wの低圧水銀
ランプ(日本フォトサイエンス製AY−20)を内蔵さ
せて、185nmと254nmの比率を1:19になる
ように装填した紫外線TOC分解装置を設置し、この後
段に、処理搭(直径250、高さ1200mm)に強酸
性陽イオン交換樹脂2.5リットルと強塩基性陰イオン
交換樹脂2.5リットルとを混合させた混床式イオン交
換搭を設置し、さらに、従来の紫外線TOC分解装置と
して、前述の同一容量の処理槽に、厚み1mmの石英ガ
ラス製の透過管に65wの低圧水銀ランプ(日本フォト
サイエンス製AY−20)を内蔵させて、185nmと
254nmの比率を1:6に装填した紫外線TOC分解
装置を設置し、この後段に、前述した混床式イオン交換
搭を設置した。
【0022】そして、メタノールを20ppb含む純水
製造装置の二次純水を原水を、前述した本発明の紫外線
TOC分解装置と混床式イオン交換搭および従来の紫外
線TOC分解装置とのに混床式イオン交換搭に、それぞ
れ、5m3 /hrの流量で通水して、紫外線照射処理と
イオン交換処理を行ったところ、本発明の場合、イオン
交換処理水中の溶存酸素量は3ppbであって、この処
理水でシリコン基板を奇麗に洗浄できたが、従来の場
合、イオン交換処理水中の溶存酸素量は15ppbであ
って、この処理水でシリコン基板を洗浄すると、シリコ
ン基板に若干の自然酸化膜が認められた。
【0023】
【実施例2】本発明の紫外線TOC分解装置として、3
4本入りのシリンダー型の処理筒(直径250、長さ1
500mm)に、185nmと254nmを照射する6
5wの低圧水銀ランプ(日本フォトサイエンス製AY−
6)に対して、254nmを照射する65wの低圧水銀
ランプ(日本フォトサイエンス製AY−4)を50%に
なるように挿填して、処理筒内の被処理水に照射する紫
外線の185nmと254nmの比率を1:16にした
紫外線TOC分解装置を設置し、さらに、従来の紫外線
TOC分解装置として、前述の同一容量の処理筒に、前
述した185nmと254nmを照射する65wの低圧
水銀ランプ(日本フォトサイエンス製AY−6)を10
0%挿填して、処理筒内の被処理水に照射する紫外線の
185nmと254nmの比率を1:7にした紫外線T
OC分解装置を設置し、これらの後段に、実施例1で述
べた混床式イオン交換搭をそれぞれ設置した。
【0024】そして、実施例1で述べたメタノールを2
0ppb含む純水製造装置の二次純水を原水を、前述し
た本発明の紫外線TOC分解装置と混床式イオン交換搭
および従来の紫外線TOC分解装置とのに混床式イオン
交換搭に、それぞれ、5m3/hrの流量で通水して、
紫外線照射処理とイオン交換処理を行ったところ、本発
明の場合、イオン交換処理水中の溶存酸素量は5ppb
であって、この処理水でシリコン基板を奇麗に洗浄でき
たが、従来の場合、イオン交換処理水中の溶存酸素量は
16ppbであって、この処理水でシリコン基板を洗浄
すると、シリコン基板に若干の自然酸化膜が認められ
た。
【0025】
【実施例3】本発明の紫外線TOC分解装置として、実
施例2で述べたシリンダー型の処理筒に、185nmと
254nmとを照射する65wの低圧水銀ランプ(日本
フォトサイエンス製AY−6)17本と254nmを照
射する1.2kwの中圧水銀ランプ(日本フォトサイエ
ンス製AV−11)1本とを、その電力の比率が50%
になるように設定して挿填し、処理筒内の被処理水に照
射する紫外線の185nmと254nmの比率を1:1
6にした紫外線TOC分解装置を設置し、さらに、従来
の紫外線TOC分解装置として、前述の同一容量の処理
槽に、前述した185nmと254nmとを照射する6
5wの低圧水銀ランプ(日本フォトサイエンス製AY−
6)34本挿填して処理筒内の被処理水に照射する紫外
線の185nmと254nmの比率を1:6.5にした
紫外線TOC分解装置を設置し、これらの後段に、実施
例1で述べた混床式イオン交換搭をそれぞれ設置した。
【0026】そして、実施例1で述べたメタノールを2
0ppb含む純水製造装置の二次純水を原水を、前述し
た本発明の紫外線TOC分解装置と混床式イオン交換搭
および従来の紫外線TOC分解装置とのに混床式イオン
交換搭に、それぞれ、5m3/hrの流量で通水して、
紫外線照射処理とイオン交換処理を行ったところ、本発
明の場合、イオン交換処理水中の溶存酸素量は8ppb
であって、この処理水でシリコン基板を奇麗に洗浄でき
たが、従来の場合、イオン交換処理水中の溶存酸素量は
15ppbであって、この処理水でシリコン基板を洗浄
すると、シリコン基板に若干の自然酸化膜が認められ
た。
【0027】
【実施例4】本発明の紫外線TOC分解装置として、シ
リンダー型の処理筒(直径480、高さ1500mm)
に、185nmと254nmとを照射する65wの低圧
水銀ランプ(日本フォトサイエンス製AY−6)を内蔵
した透過管を34本挿填する際に、低圧水銀ランプを内
蔵した透過管の間隔、すなわち、水厚を3cmにして、
185nmと254nmの比率を1:21になるように
した紫外線TOC分解装置を設置し、さらに、従来の紫
外線TOC分解装置として、前述の同一容量の処理槽
に、前述した185nmと254nmとを照射する65
wの低圧水銀ランプを内蔵した透過管を同じ本数挿填す
る際に、低圧水銀ランプを内蔵した透過管の間隔、すな
わち、水厚を1cmにして、185nmと254nmの
比率を1:7になるようにした紫外線TOC分解装置を
設置し、これらの後段に、実施例1で述べた混床式イオ
ン交換搭をそれぞれ設置した。
【0028】そして、実施例1で述べたメタノールを2
0ppb含む純水製造装置の一次純水を原水を、前述し
た本発明の紫外線TOC分解装置と混床式イオン交換搭
および従来の紫外線TOC分解装置とのに混床式イオン
交換搭に、それぞれ、5m3/hrの流量で通水して、
紫外線照射処理とイオン交換処理を行ったところ、本発
明の場合、イオン交換処理水中の溶存酸素量は10pp
bであって、この処理水でシリコン基板を奇麗に洗浄で
きたが、従来の場合、イオン交換処理水中の溶存酸素量
は15ppbであって、この処理水でシリコン基板を洗
浄すると、シリコン基板に若干の自然酸化膜がスケール
が認められた。
【0029】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によると、T
OC含有水のTOC成分を分解除去するために使用する
低圧水銀ランプの紫外線の波長のうち、185nmに対
する254nmの比率を高比率にすることによって、従
来の場合に問題になっていた、TOC含有水中のTOC
成分が反応し、ホルムアルデヒドを経て、過酸化物にな
り、この過酸化物含有水がイオン交換装置に流入して、
イオン交換樹脂に接触して、この過酸化物より酸素分子
が外れて、イオン交換装置の処理水の溶存酸素量が増加
すること効果的に抑制することができる。
【0030】本発明の装置の溶存酸素量の少ない処理水
(超純水)を、たとえば、半導体製造産業におけるシリ
コン基板の洗浄水として使用して、シリコン基板を奇麗
に洗浄することが可能であって、シリコン基板に自然酸
化膜を生成したり、汚染したりすることがなく、シリコ
ン基板の以外の高品質製品の用水としても溶存酸素の問
題を起こさず使用することができる。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成9年4月14日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項2
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項3
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0006
【補正方法】変更
【補正内容】
【0006】すなわち、本発明は、前述した紫外線TO
C分解装置において、185nmと254nmとを照射
する低圧水銀ランプの石英ガラスまたは185nmと2
54nmとを照射する低圧水銀ランプを内蔵する透過管
の石英ガラスの厚さを1m以上にして、紫外線の波長
の185nmと254nmの比率を1:8以上に254
nmを高比率にして処理槽内に装填し、TOC成分含有
水中のTOC成分に対して紫外線照射を行うことによっ
て、後段のイオン交換装置の処理水の溶存酸素量の増加
を抑制することに特徴がある。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0018
【補正方法】変更
【補正内容】
【0018】本発明においては、紫外線波長の185n
mと254nmの比率が1:8未満であると、紫外線T
OC分解処理装置の後段に設置するイオン交換装置の処
理水の溶存酸素量が増加するので不適当でり、また、1
85nmに対する254nmの比率は高いほどよいが、
185nmの波長の紫外線が存在した方がよい場合(O
Hラジカルによるメタノールールの蟻酸化の促進)もあ
るので、185nmと254nmの比率が1:15程度
の低圧水銀ランプを使用することが望ましく、1:20
程度が最適である。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0021
【補正方法】変更
【補正内容】
【0021】
【実施例1】本発明の紫外線TOC分解装置として、処
直径240mm長さ1500mm)に、厚み
2.5mmの石英ガラス製の透過管に65wの低圧水銀
ランプ(日本フォトサイエンス製AY−20)を34本
内蔵させて、185nmと254nmの比率を1:19
になるように装填した紫外線TOC分解装置を設置し、
この後段に、処理搭(直径250mm、高さ1200m
m)に強酸性陽イオン交換樹脂2.5リットルと強塩基
性陰イオン交換樹脂2.5リットルとを混合させた混床
式イオン交換搭を設置し、さらに、従来の紫外線TOC
分解装置として、前述の同一容量の処理に、厚み1m
mの石英ガラス製の透過管に65wの低圧水銀ランプ
(日本フォトサイエンス製AY−)を内蔵させて、1
85nmと254nmの比率を1:に装填した紫外線
TOC分解装置を設置し、この後段に、前述した混床式
イオン交換搭を設置した。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0023
【補正方法】変更
【補正内容】
【0023】
【実施例2】本発明の紫外線TOC分解装置として、3
4本入りのシリンダー型の処理筒(直径250、長さ1
500mm)に、185nmと254nmを照射する6
5wの低圧水銀ランプ(日本フォトサイエンス製AY−
6)に対して、254nmを照射する65wの低圧水銀
ランプ(日本フォトサイエンス製AY−4)を50%に
なるように挿填して、処理筒内の被処理水に照射する紫
外線の185nmと254nmの比率を1:16にした
紫外線TOC分解装置を設置し、さらに、従来の紫外線
TOC分解装置として、前述の同一容量の処理筒に、前
述した185nmと254nmを照射する65wの低圧
水銀ランプ(日本フォトサイエンス製AY−6)を10
0%挿填して、処理筒内の被処理水に照射する紫外線の
185nmと254nmの比率を1:にした紫外線T
OC分解装置を設置し、これらの後段に、実施例1で述
べた混床式イオン交換搭をそれぞれ設置した。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0027
【補正方法】変更
【補正内容】
【0027】
【実施例4】本発明の紫外線TOC分解装置として、シ
リンダー型の処理筒(直径480、高さ1500mm)
に、185nmと254nmとを照射する65wの低圧
水銀ランプ(日本フォトサイエンス製AY−6)を内蔵
した透過管を34本挿填する際に、低圧水銀ランプを内
蔵した透過管の間隔、すなわち、水厚を3cmにして、
185nmと254nmの比率を1:21になるように
した紫外線TOC分解装置を設置し、さらに、従来の紫
外線TOC分解装置として、前述の同一容量の処理槽
に、前述した185nmと254nmとを照射する65
wの低圧水銀ランプを内蔵した透過管を同じ本数挿填す
る際に、低圧水銀ランプを内蔵した透過管の間隔、すな
わち、水厚を1cmにして、185nmと254nmの
比率を1:になるようにした紫外線TOC分解装置を
設置し、これらの後段に、実施例1で述べた混床式イオ
ン交換搭をそれぞれ設置した。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 TOC成分含有水を紫外線TOC分解装
    置とイオン交換装置で処理するについて、前段の紫外線
    TOC分解装置内に185nmと254nmの紫外線波
    長の比率を1:8以上に254nmを高比率にした低圧
    水銀ランプを装填して、TOC成分含有水中のTOC成
    分に対して紫外線照射を行うことによって、後段のイオ
    ン交換装置の処理水の溶存酸素量の増加を抑制する紫外
    線TOC分解装置。
  2. 【請求項2】 185nmと254nmとを照射する低
    圧水銀ランプの石英ガラスの厚さを1cm以上にした請
    求項1記載の紫外線TOC分解装置。
  3. 【請求項3】 185nmと254nmとを照射する低
    圧水銀ランプを内蔵する透過管の石英ガラスの厚さを1
    cm以上にした請求項1記載の紫外線TOC分解装置。
  4. 【請求項4】 紫外線TOC分解装置のシリンダー型の
    処理筒内に、185nmと254nmを照射する低圧水
    銀ランプに対する254nmの紫外線を照射する低圧水
    銀ランプの割合を10〜80%に装填する請求項1記載
    の紫外線TOC分解装置。
  5. 【請求項5】 紫外線TOC分解装置のシリンダー型の
    処理筒内に、185nmと254nmを照射する低圧水
    銀ランプの電力に対する185nmと254nmとを照
    射する中圧または高圧水銀ランプの電力の割合を10〜
    80%に装填する請求項1記載の紫外線TOC分解装
    置。
  6. 【請求項6】 紫外線TOC分解装置のシリンダー型の
    処理筒内に、185nmと254nmとを照射する低圧
    水銀ランプを内蔵した透過管を複数本装填するについ
    て、低圧水銀ランプを内蔵した透過管の間隔を1〜5c
    mにした請求項1記載の紫外線TOC分解装置。
JP11715896A 1996-04-16 1996-04-16 紫外線toc分解装置 Pending JPH09276858A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11715896A JPH09276858A (ja) 1996-04-16 1996-04-16 紫外線toc分解装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11715896A JPH09276858A (ja) 1996-04-16 1996-04-16 紫外線toc分解装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09276858A true JPH09276858A (ja) 1997-10-28

Family

ID=14704896

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11715896A Pending JPH09276858A (ja) 1996-04-16 1996-04-16 紫外線toc分解装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09276858A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003059453A (ja) * 2001-08-10 2003-02-28 Photoscience Japan Corp 紫外線による液体処理装置及び方法
JP2012525247A (ja) * 2009-04-30 2012-10-22 ロワラ 水中の生体異物を除去するための浄化方法および装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003059453A (ja) * 2001-08-10 2003-02-28 Photoscience Japan Corp 紫外線による液体処理装置及び方法
JP2012525247A (ja) * 2009-04-30 2012-10-22 ロワラ 水中の生体異物を除去するための浄化方法および装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109890766B (zh) 水处理方法及装置
JP2008173637A (ja) 超純水製造方法および超純水製造装置
JPH1199395A (ja) 有機物含有水の処理方法
JP5512357B2 (ja) 純水製造方法及び装置
JP4978275B2 (ja) 一次純水製造プロセス水の処理方法及び装置
US11814304B2 (en) Ultraviolet treatment method and system
JP4519930B2 (ja) 超純水製造方法及び超純水製造装置
JPH1199394A (ja) 水中の有機物除去方法
JP3110034B2 (ja) 有機物と溶存酸素とを同時に除去する方法
JPH09276858A (ja) 紫外線toc分解装置
JP5512358B2 (ja) 純水製造方法及び装置
JP3560631B2 (ja) 水処理装置
JP3853776B2 (ja) 超純水製造装置
JPS5924671B2 (ja) 錯シアンの処理装置
JPH09192658A (ja) 超純水製造装置
JP2666340B2 (ja) 紫外線酸化分解装置
JP3539992B2 (ja) 超純水製造装置
JPH0889976A (ja) 水中の有機物の除去方法
JP3856493B2 (ja) 超純水製造装置
JPH0639366A (ja) 超純水製造方法、及びその装置
JPH09253639A (ja) 超純水製造装置
JP4159823B2 (ja) 超純水製造方法
US20240246834A1 (en) Pure water production apparatus and pure water production method
JP5720122B2 (ja) 超純水製造システム
JPH10180243A (ja) 超純水製造装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040928

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060627

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20061031