JPH09246348A - 基板搬送装置 - Google Patents
基板搬送装置Info
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- JPH09246348A JPH09246348A JP8048489A JP4848996A JPH09246348A JP H09246348 A JPH09246348 A JP H09246348A JP 8048489 A JP8048489 A JP 8048489A JP 4848996 A JP4848996 A JP 4848996A JP H09246348 A JPH09246348 A JP H09246348A
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70733—Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
- G03F7/7075—Handling workpieces outside exposure position, e.g. SMIF box
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 搬送処理すべき基板が、厚さ、大きさ、質量
等の異なる種類のものである場合、それぞれに最適な搬
送条件を自動的に選択し、搬送するようにした基板搬送
装置を得る。 【解決手段】 基板aを保持して第1の位置(基板用カ
セットA等)から第2の位置(露光装置等)へ搬送する
搬送手段Cと、基板の搬送経路中に配置され、搬送すべ
き基板の種類を検出する基板種検出手段5(例えば、基
板の振動状態を測定する振動測定器、質量計量器、寸法
計測器、厚み検出器、等)と、該基板種検出手段の検出
結果に応じて前記基板の搬送条件を設定し、前記搬送手
段を制御する制御手段7とを有することを特徴とする。
等の異なる種類のものである場合、それぞれに最適な搬
送条件を自動的に選択し、搬送するようにした基板搬送
装置を得る。 【解決手段】 基板aを保持して第1の位置(基板用カ
セットA等)から第2の位置(露光装置等)へ搬送する
搬送手段Cと、基板の搬送経路中に配置され、搬送すべ
き基板の種類を検出する基板種検出手段5(例えば、基
板の振動状態を測定する振動測定器、質量計量器、寸法
計測器、厚み検出器、等)と、該基板種検出手段の検出
結果に応じて前記基板の搬送条件を設定し、前記搬送手
段を制御する制御手段7とを有することを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は基板搬送装置、特
に、液晶表示基板製造用の露光装置等においてガラス基
板を搬送するのに有効に用いられる基板搬送装置に関す
るものである。
に、液晶表示基板製造用の露光装置等においてガラス基
板を搬送するのに有効に用いられる基板搬送装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の搬送装置は、図8に示す
ように、複数の基板a(例えば、TFT用ガラス基板
等)を保管する基板用カセットAの位置である第1の位
置から、基板処理装置(露光装置等)Bの位置である第
2の位置に基板aを一枚ずつ搬送する(X方向移動)搬
送手段Cを有している。搬送手段Cを構成する搬送アー
ム1は基板用カセットA内に入り込み、搬送アーム1が
上昇するか基板用カセットAが下降して(Y方向移動)
搬送アーム1上に一枚の基板aを載置し、X方向に移動
して反転し、再度X方向に移動して基板処理装置Bの位
置に達し、基板処理装置B側の搬送手段に引き継がれ
る。
ように、複数の基板a(例えば、TFT用ガラス基板
等)を保管する基板用カセットAの位置である第1の位
置から、基板処理装置(露光装置等)Bの位置である第
2の位置に基板aを一枚ずつ搬送する(X方向移動)搬
送手段Cを有している。搬送手段Cを構成する搬送アー
ム1は基板用カセットA内に入り込み、搬送アーム1が
上昇するか基板用カセットAが下降して(Y方向移動)
搬送アーム1上に一枚の基板aを載置し、X方向に移動
して反転し、再度X方向に移動して基板処理装置Bの位
置に達し、基板処理装置B側の搬送手段に引き継がれ
る。
【0003】基板としては厚さ1.1mmのガラス板が
主に使用されてきており、また、この種の搬送装置は、
その搬送条件が前もってハードウエア的に又はソフトウ
エア的に決まっているものが用いられ、基板の厚さ、大
きさ、材質等に関係なく、同一条件で搬送及び処理が行
なわれていた。近年になり、ノートパソコン等の軽量化
の要求に答えるために、厚さ0.7mmのガラスでTF
Tを作る動きが活発になってきており、また、基板の面
積も生産性向上のためますます大型化し、550mm×
650mm程度の基板に10インチクラスの画面を多面
取りにする動きも急になってきている。その一方におい
て、大型ディスプレイを作るには製品の強度を考えて厚
さ1.1mmのガラス基板の需要もあり、同じ搬送装置
により厚さ1.1mmと0.7mmの双方の基板を搬送
する必要も生じている。
主に使用されてきており、また、この種の搬送装置は、
その搬送条件が前もってハードウエア的に又はソフトウ
エア的に決まっているものが用いられ、基板の厚さ、大
きさ、材質等に関係なく、同一条件で搬送及び処理が行
なわれていた。近年になり、ノートパソコン等の軽量化
の要求に答えるために、厚さ0.7mmのガラスでTF
Tを作る動きが活発になってきており、また、基板の面
積も生産性向上のためますます大型化し、550mm×
650mm程度の基板に10インチクラスの画面を多面
取りにする動きも急になってきている。その一方におい
て、大型ディスプレイを作るには製品の強度を考えて厚
さ1.1mmのガラス基板の需要もあり、同じ搬送装置
により厚さ1.1mmと0.7mmの双方の基板を搬送
する必要も生じている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記のように単一の大
きさ、厚さのガラス基板に対応するように設計された装
置では、厚さ1.1mm用に調整されているところで厚
さ0.7mmのガラス基板を搬送しようとすると、例え
ば、基板用カセットA内での基板aのたわみ方の差で、
基板aと搬送装置の搬送アーム1とが接触して、基板を
損傷あるいは破損する等の問題を引き起こす可能性があ
る。
きさ、厚さのガラス基板に対応するように設計された装
置では、厚さ1.1mm用に調整されているところで厚
さ0.7mmのガラス基板を搬送しようとすると、例え
ば、基板用カセットA内での基板aのたわみ方の差で、
基板aと搬送装置の搬送アーム1とが接触して、基板を
損傷あるいは破損する等の問題を引き起こす可能性があ
る。
【0005】図9によりその状態を説明するに、A1、
A2は基板の収納間隔は同じとする基板用カセットであ
り、基板用カセットA1は撓みの少ない基板a1 (1.
1mm)を収納し、基板用カセットA2は撓みの大きい
基板a2 (0.7mm)を収納しているとする。図にお
いて、2a1(2b1)は基板用カセットから基板を引
き出す際に空の搬送アーム1を挿入する位置、若しく
は、基板を基板用カセットに収納する際に基板を置いた
後、空の搬送アームを引き出す位置であり、その高さを
床面よりDa1(Db1)とする。また、2a2(2b
2)は基板用カセットから基板を引き出す際に搬送アー
ム1で基板を持ち上げた位置、若しくは、基板を基板用
カセットに収納する際に基板を載せた搬送アームを挿入
する位置であり、その高さを床面よりDa2(Db2)
とする。この場合に、図からわかるように、撓み量が少
ない基板a1 の収納されている基板用カセットA1に対
する適正高さDa1のままで搬送アーム1を撓み量が大
きい基板a2 の収納されている基板用カセットA2に挿
入すると、基板a2 と搬送アーム1が接触、干渉し、基
板a2 を損傷してしまう。する。
A2は基板の収納間隔は同じとする基板用カセットであ
り、基板用カセットA1は撓みの少ない基板a1 (1.
1mm)を収納し、基板用カセットA2は撓みの大きい
基板a2 (0.7mm)を収納しているとする。図にお
いて、2a1(2b1)は基板用カセットから基板を引
き出す際に空の搬送アーム1を挿入する位置、若しく
は、基板を基板用カセットに収納する際に基板を置いた
後、空の搬送アームを引き出す位置であり、その高さを
床面よりDa1(Db1)とする。また、2a2(2b
2)は基板用カセットから基板を引き出す際に搬送アー
ム1で基板を持ち上げた位置、若しくは、基板を基板用
カセットに収納する際に基板を載せた搬送アームを挿入
する位置であり、その高さを床面よりDa2(Db2)
とする。この場合に、図からわかるように、撓み量が少
ない基板a1 の収納されている基板用カセットA1に対
する適正高さDa1のままで搬送アーム1を撓み量が大
きい基板a2 の収納されている基板用カセットA2に挿
入すると、基板a2 と搬送アーム1が接触、干渉し、基
板a2 を損傷してしまう。する。
【0006】これを避けるには、基板用カセットA2内
の基板収容ピッチを大きくし、1.1mm厚と0.7m
m厚の双方の基板a1 、a2 の撓みを考慮した位置へ搬
送アーム1を進入させる方法が取られるが、基板用カセ
ット内のピッチを大きくすることは、同一サイズの基板
用カセットでは収納枚数が減り、同一収納枚数を確保し
ようとすると、基板用カセットは大きくなり、搬送アー
ムあるいは基板用カセットのY方向ストロークを大きく
しておかねばならなかった。
の基板収容ピッチを大きくし、1.1mm厚と0.7m
m厚の双方の基板a1 、a2 の撓みを考慮した位置へ搬
送アーム1を進入させる方法が取られるが、基板用カセ
ット内のピッチを大きくすることは、同一サイズの基板
用カセットでは収納枚数が減り、同一収納枚数を確保し
ようとすると、基板用カセットは大きくなり、搬送アー
ムあるいは基板用カセットのY方向ストロークを大きく
しておかねばならなかった。
【0007】また、プリアライメント部が配置される場
合には、そこでの基板を押し付ける力及び衝撃力は、強
度的に弱い方の基板に合わせておかねばならず、プリア
ライメント不良等の発生原因になる可能性を持ってい
た。このように厚さ0.7mmと厚さ1.1mmの2種
類の基板を同一の搬送処理条件下で搬送することは色々
無理が生じ、特に基板の寸法が大きくなると、一層困難
となることが判った。解決手段として、スイッチ等によ
り厚さ0.7mmと厚さ1.1mmでの搬送条件の設定
を切り替える方法は考えられるが、このような人手によ
る切り替え操作は、人間のミスにより基板にダメージを
与える可能性があり、必ずとも有効な解決策とはいえな
い。
合には、そこでの基板を押し付ける力及び衝撃力は、強
度的に弱い方の基板に合わせておかねばならず、プリア
ライメント不良等の発生原因になる可能性を持ってい
た。このように厚さ0.7mmと厚さ1.1mmの2種
類の基板を同一の搬送処理条件下で搬送することは色々
無理が生じ、特に基板の寸法が大きくなると、一層困難
となることが判った。解決手段として、スイッチ等によ
り厚さ0.7mmと厚さ1.1mmでの搬送条件の設定
を切り替える方法は考えられるが、このような人手によ
る切り替え操作は、人間のミスにより基板にダメージを
与える可能性があり、必ずとも有効な解決策とはいえな
い。
【0008】そこで、本発明は、このような従来の問題
点に鑑みてなされたものであり、搬送処理すべき基板
が、厚さ、大きさ、質量等の異なる種類のものである場
合、それぞれに最適な搬送条件を自動的に選択し、搬送
するようにした基板搬送装置を提供することを目的とす
る。
点に鑑みてなされたものであり、搬送処理すべき基板
が、厚さ、大きさ、質量等の異なる種類のものである場
合、それぞれに最適な搬送条件を自動的に選択し、搬送
するようにした基板搬送装置を提供することを目的とす
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの本発明による基板搬送装置は、基本的に、基板を保
持して第1の位置から第2の位置へ搬送する搬送手段
と、基板の搬送経路中に配置され、搬送すべき基板の種
類を検出する基板種検出手段と、該基板種検出手段の検
出結果に応じて前記基板の搬送条件を設定し、前記搬送
手段を制御する制御手段とを有することを特徴とする。
めの本発明による基板搬送装置は、基本的に、基板を保
持して第1の位置から第2の位置へ搬送する搬送手段
と、基板の搬送経路中に配置され、搬送すべき基板の種
類を検出する基板種検出手段と、該基板種検出手段の検
出結果に応じて前記基板の搬送条件を設定し、前記搬送
手段を制御する制御手段とを有することを特徴とする。
【0010】前記基板種検出手段は、基板の厚さを検出
する厚さ検出器、基板の質量を検出する計量器、基板の
寸法を好ましくは非接触で検出する寸法検出器、あるい
は、基板の振動状態を測定する振動測定器、等であって
よく、それぞれの検出手段自体は従来知られたものを用
い得る。また、検出手段は接触型、非接触型のいずれで
もよいが、接触型のものは基板表面に損傷を与える恐れ
があり、非接触型のものであることが好ましい。
する厚さ検出器、基板の質量を検出する計量器、基板の
寸法を好ましくは非接触で検出する寸法検出器、あるい
は、基板の振動状態を測定する振動測定器、等であって
よく、それぞれの検出手段自体は従来知られたものを用
い得る。また、検出手段は接触型、非接触型のいずれで
もよいが、接触型のものは基板表面に損傷を与える恐れ
があり、非接触型のものであることが好ましい。
【0011】非接触型の厚さ検出器としては、レーザ方
式または超音波変位計を対向させ差動をとるもの等を用
い得るが、大がかりなシステムとなってしまうことか
ら、非接触変位計により基板の振動を測定する振動測定
器を用い、該基板の振動の周波数から基板の厚さを推定
する方式を取る態様は有効である。すなわち、これは、
同一大きさの基板(縦×横)でかつ材質が同じならば、
厚さにより基板の固有振動数が異なるという原理に基づ
くものであり、基板用カセット内の一枚目の基板を搬送
用アームで抜き出す時に、当該基板の振動状態を測定し
てその厚さを推定するような態様で用いうる。
式または超音波変位計を対向させ差動をとるもの等を用
い得るが、大がかりなシステムとなってしまうことか
ら、非接触変位計により基板の振動を測定する振動測定
器を用い、該基板の振動の周波数から基板の厚さを推定
する方式を取る態様は有効である。すなわち、これは、
同一大きさの基板(縦×横)でかつ材質が同じならば、
厚さにより基板の固有振動数が異なるという原理に基づ
くものであり、基板用カセット内の一枚目の基板を搬送
用アームで抜き出す時に、当該基板の振動状態を測定し
てその厚さを推定するような態様で用いうる。
【0012】本発明の基板搬送装置によれば、基板を搬
送する際に、前記基板種検出手段によって当該基板の種
類がその厚み、質量、大きさ、等で区別される。それに
より、基板用カセットでの保管時、搬送時、あるいは、
他の処理装置側への引き渡し後での基板の撓み量が確実
に把握される。その撓み量に応じて、第1の位置から第
2の位置への搬送条件の最適値を決定し、その条件で搬
送を行なうことにより、同じ搬送装置を異なった種類の
基板の搬送に用いる場合であつても、搬送装置あるいは
処理装置と基板との機械的干渉による基板の損傷を確実
に回避することができる。
送する際に、前記基板種検出手段によって当該基板の種
類がその厚み、質量、大きさ、等で区別される。それに
より、基板用カセットでの保管時、搬送時、あるいは、
他の処理装置側への引き渡し後での基板の撓み量が確実
に把握される。その撓み量に応じて、第1の位置から第
2の位置への搬送条件の最適値を決定し、その条件で搬
送を行なうことにより、同じ搬送装置を異なった種類の
基板の搬送に用いる場合であつても、搬送装置あるいは
処理装置と基板との機械的干渉による基板の損傷を確実
に回避することができる。
【0013】前記搬送条件は、基板搬送装置本体の具体
的構成あるいは基板の種類等に応じて適宜選定される
が、第1の位置から第2の位置への基板の搬送速度条
件、第1の位置における搬送手段と基板との受け渡し条
件、あるいは、第2位置における処理装置側の搬送手段
と前記基板を搬送してきた搬送手段との受け渡し条件、
等であってよく、より具体的には、搬送アームの搬送速
度、搬送アームの基板用カセットへの進入及び引き出し
高さ(位置)、プリアライメント時のピンの力と速度等
であってよい。それらの条件を最適なものに選定するこ
とにより、必要最小限の時間で、かつ、基板に損傷を与
えることなく、安定した搬送処理が可能となる。
的構成あるいは基板の種類等に応じて適宜選定される
が、第1の位置から第2の位置への基板の搬送速度条
件、第1の位置における搬送手段と基板との受け渡し条
件、あるいは、第2位置における処理装置側の搬送手段
と前記基板を搬送してきた搬送手段との受け渡し条件、
等であってよく、より具体的には、搬送アームの搬送速
度、搬送アームの基板用カセットへの進入及び引き出し
高さ(位置)、プリアライメント時のピンの力と速度等
であってよい。それらの条件を最適なものに選定するこ
とにより、必要最小限の時間で、かつ、基板に損傷を与
えることなく、安定した搬送処理が可能となる。
【0014】
【発明の実施の形態】図1は本発明による基板搬送装置
の一実施例を説明する図であり、基板種検出手段とし
て、基板の振動状態を非接触で測定する振動測定器を用
いる場合の例である。この例において、基板aは複数枚
が基板用カセットAに収納されており、該基板用カセッ
トAは基台2上に固定されている。第1の位置である該
基板用カセットAから第2の位置(ここでは図示されな
い)に基板aを搬送する搬送手段Cとしては、rZθ型
のロボット3を用いている。ロボット3は、Zθ動は可
能なr軸支持部4に基板吸着機能を持つ搬送アーム1を
取り付けており、r軸支持部4の移動により、搬送アー
ム1が基板用カセットAの一番下の基板aの下方位置に
進入する。この場合、最初の進入高さは、前記のように
基板の厚みに起因する撓みとプロセスによるそりを考慮
した十分に低い高さとされる。進入後、基板aを持ち上
げるまでr軸支持部4は上昇し、基板aを吸着する。そ
の状態でr軸支持部4は後退して、基板用カセットAか
らの基板aを引き抜き始める。
の一実施例を説明する図であり、基板種検出手段とし
て、基板の振動状態を非接触で測定する振動測定器を用
いる場合の例である。この例において、基板aは複数枚
が基板用カセットAに収納されており、該基板用カセッ
トAは基台2上に固定されている。第1の位置である該
基板用カセットAから第2の位置(ここでは図示されな
い)に基板aを搬送する搬送手段Cとしては、rZθ型
のロボット3を用いている。ロボット3は、Zθ動は可
能なr軸支持部4に基板吸着機能を持つ搬送アーム1を
取り付けており、r軸支持部4の移動により、搬送アー
ム1が基板用カセットAの一番下の基板aの下方位置に
進入する。この場合、最初の進入高さは、前記のように
基板の厚みに起因する撓みとプロセスによるそりを考慮
した十分に低い高さとされる。進入後、基板aを持ち上
げるまでr軸支持部4は上昇し、基板aを吸着する。そ
の状態でr軸支持部4は後退して、基板用カセットAか
らの基板aを引き抜き始める。
【0015】ロボット3のr軸支持部4には、引き抜か
れる基板aの下方位置でかつ該基板aには接しない状態
で、基板種検出手段としての斜入射反射式の変位計5が
固定されており、基板aの引き抜き時に、該変位計5か
ら光ビーム6を出して基板aの振動が測定される。デー
タは演算ユニット7に送られ、A/D変換、FFT等の
信号処理を行い、基板aの厚さの判断を行う。判断を行
うための元となるデータは、すでに厚さが判っている基
板を事前に搬送し測定しておけばよい(ロボットのティ
ーチングに相当する)。なお、判断に際して、測定周波
数の完全一致は基板の公差等により有りえないので、事
前データに近い方を選択する等の工夫を行なうことが望
ましい。
れる基板aの下方位置でかつ該基板aには接しない状態
で、基板種検出手段としての斜入射反射式の変位計5が
固定されており、基板aの引き抜き時に、該変位計5か
ら光ビーム6を出して基板aの振動が測定される。デー
タは演算ユニット7に送られ、A/D変換、FFT等の
信号処理を行い、基板aの厚さの判断を行う。判断を行
うための元となるデータは、すでに厚さが判っている基
板を事前に搬送し測定しておけばよい(ロボットのティ
ーチングに相当する)。なお、判断に際して、測定周波
数の完全一致は基板の公差等により有りえないので、事
前データに近い方を選択する等の工夫を行なうことが望
ましい。
【0016】演算ユニット7で判断された結果は、ロボ
ット3のシーケンサ8及び露光装置等の第2の位置に相
当する製造装置(図示されない)へ送られ、以後、後記
するように、ロボット3の搬送速度、搬送アーム1の基
板用カセットAへの進入高さ、製造装置内でのプリアラ
イメント、処理等を当該基板厚に応じた最適値に変更し
動作を行わせる。
ット3のシーケンサ8及び露光装置等の第2の位置に相
当する製造装置(図示されない)へ送られ、以後、後記
するように、ロボット3の搬送速度、搬送アーム1の基
板用カセットAへの進入高さ、製造装置内でのプリアラ
イメント、処理等を当該基板厚に応じた最適値に変更し
動作を行わせる。
【0017】この場合に、通常は同一基板用カセット内
には厚さの異なる基板は無いとの前提でロボットは動作
させ、1枚目の基板のデータに基づき当該基板用カセッ
ト内のすべての基板を搬出するように制御されるが、セ
ンサ(変位計5)をすべての基板に対して機能させ、同
一基板用カセット内に異なる厚さの基板が入っていた場
合にはアラームを出し動作を停止させるようにすること
により、基板厚が異なる処理シーケンスに起因するトラ
ブルを最小限に押さえることも可能となる。
には厚さの異なる基板は無いとの前提でロボットは動作
させ、1枚目の基板のデータに基づき当該基板用カセッ
ト内のすべての基板を搬出するように制御されるが、セ
ンサ(変位計5)をすべての基板に対して機能させ、同
一基板用カセット内に異なる厚さの基板が入っていた場
合にはアラームを出し動作を停止させるようにすること
により、基板厚が異なる処理シーケンスに起因するトラ
ブルを最小限に押さえることも可能となる。
【0018】図2は本発明による基板搬送装置の他の実
施例を説明する図であり、基板種検出手段として、基板
の質量を検出する計量器及び基板の寸法を非接触で検出
する寸法検出器とを用いる例である。この例において、
基板種検出手段は図8に示す従来の搬送装置における搬
送手段Cの第1の位置(基板用カセットA側)と第2の
位置(製造装置B側)の搬送経路に配置される。基板a
の質量を検出する計量器は、基板を支える支柱22と、
それらの質量によって変移するように設けた弾性体(ば
ね)23と、該支柱22の変移量に応じて上下する遮光
板24と、該遮光板24の位置を検出するためのフォト
センサ25a〜25d、から構成されている。また、基
板aの寸法を非接触で検出する寸法検出器は、搬送が予
定される基板(この例では大小2枚の基板)の大きさに
合わせて、前記支柱22の上方に配置される光電センサ
のような基板検出センサ26a、26bにより構成され
ている。
施例を説明する図であり、基板種検出手段として、基板
の質量を検出する計量器及び基板の寸法を非接触で検出
する寸法検出器とを用いる例である。この例において、
基板種検出手段は図8に示す従来の搬送装置における搬
送手段Cの第1の位置(基板用カセットA側)と第2の
位置(製造装置B側)の搬送経路に配置される。基板a
の質量を検出する計量器は、基板を支える支柱22と、
それらの質量によって変移するように設けた弾性体(ば
ね)23と、該支柱22の変移量に応じて上下する遮光
板24と、該遮光板24の位置を検出するためのフォト
センサ25a〜25d、から構成されている。また、基
板aの寸法を非接触で検出する寸法検出器は、搬送が予
定される基板(この例では大小2枚の基板)の大きさに
合わせて、前記支柱22の上方に配置される光電センサ
のような基板検出センサ26a、26bにより構成され
ている。
【0019】図2において、1は搬送装置Cの搬送アー
ムであり、第1の位置である基板用カセットAから搬送
アーム1により引き出され第2の位置に向けて搬送され
る基板aは、その搬送経路上において計量器の支柱22
上に載置されてその質量が測定され、必要に応じて、同
時にセンサ26a、26bにより寸法も測定される。そ
して、測定された質量及び寸法に関する情報は、図1に
示した例の場合と同様に、搬送手段を制御する制御手段
に送られ、撓み量も算出されて、搬送手段Cの搬送速
度、搬送アーム1の基板用カセットAへの進入高さ、製
造装置内でのプリアライメント等の処理条件を当該基板
に応じた最適値に変更し動作させるために利用される。
所定の計測を終えた時点で、搬送アーム1を再度上昇さ
せて基板aを保持させ、第2の位置に向けて再度基板a
は搬送される。
ムであり、第1の位置である基板用カセットAから搬送
アーム1により引き出され第2の位置に向けて搬送され
る基板aは、その搬送経路上において計量器の支柱22
上に載置されてその質量が測定され、必要に応じて、同
時にセンサ26a、26bにより寸法も測定される。そ
して、測定された質量及び寸法に関する情報は、図1に
示した例の場合と同様に、搬送手段を制御する制御手段
に送られ、撓み量も算出されて、搬送手段Cの搬送速
度、搬送アーム1の基板用カセットAへの進入高さ、製
造装置内でのプリアライメント等の処理条件を当該基板
に応じた最適値に変更し動作させるために利用される。
所定の計測を終えた時点で、搬送アーム1を再度上昇さ
せて基板aを保持させ、第2の位置に向けて再度基板a
は搬送される。
【0020】なお、図2では計量器は搬送経路上に配置
されるものとして示したが、同様な形式の計量器を搬送
アーム1に備えるようにしてもよい。その場合には、搬
送アーム1による基板aの基板用カセットAからの引き
出しあるいは搬送の過程で計量を行なうことができ、搬
送アーム1を一端停止させ、上下移動させることは不要
となり、処理を迅速化することができる。また、同一基
板用カセット内には厚さの異なる基板は無いとの前提で
作業を行い得る環境の場合には、例えば、図1に示す基
板用カセット置台2に上記のような計量器を備え、基板
用カセット単位での計量を行うこともできる。
されるものとして示したが、同様な形式の計量器を搬送
アーム1に備えるようにしてもよい。その場合には、搬
送アーム1による基板aの基板用カセットAからの引き
出しあるいは搬送の過程で計量を行なうことができ、搬
送アーム1を一端停止させ、上下移動させることは不要
となり、処理を迅速化することができる。また、同一基
板用カセット内には厚さの異なる基板は無いとの前提で
作業を行い得る環境の場合には、例えば、図1に示す基
板用カセット置台2に上記のような計量器を備え、基板
用カセット単位での計量を行うこともできる。
【0021】図2に示す基板の質量を検出する計量器及
び寸法を検出する検出器を基板種検出手段として用いる
場合の具体例を説明する。今、基板aは、大きさでは4
00×400mm程度のもの(基板a1 、a11)と、5
00×600mm程度のもの(基板a2 、a22)が、厚
さでは0.7mmのものと1.1mmのものが、混在し
て搬送されてくるものとする。両基板の材質が等しく、
密度が2.3gと仮定すると、処理すべき基板の質量は
次のようになる。
び寸法を検出する検出器を基板種検出手段として用いる
場合の具体例を説明する。今、基板aは、大きさでは4
00×400mm程度のもの(基板a1 、a11)と、5
00×600mm程度のもの(基板a2 、a22)が、厚
さでは0.7mmのものと1.1mmのものが、混在し
て搬送されてくるものとする。両基板の材質が等しく、
密度が2.3gと仮定すると、処理すべき基板の質量は
次のようになる。
【0022】 基板a1 (大きさ400×400mm、厚さ1.1mm):405g 基板a11(大きさ400×400mm、厚さ0.7mm):258g 基板a2 (大きさ500×600mm、厚さ1.1mm):759g 基板a22(大きさ500×600mm、厚さ0.7mm):483g これら4種の基板が混在した場合には、最低でも78g
の質量差を検出することによって各基板の大きさ、質量
を判別することができる。図2に示すように、基板の搬
送時に、支柱2に載せられた基板の質量によりばね3が
縮み、その変位量に応じて遮光板4が移動し、その移動
終了後にフォトセンサ5a〜5dのいずれかを遮光する
ことによって、ガラス基板aの大きさ及び厚さが判別さ
れる。この場合、基板の質量に78g以上の差異があっ
たが、大きさに差異があまりない場合は、基板の質量だ
けではその大きさと厚さを判別することは困難となる。
このような場合に、基板の大きさを検出するセンサ26
a、26bによって基板の大きさを求めることにより、
当該基板の質量とから、その厚さを判別することが可能
となる。
の質量差を検出することによって各基板の大きさ、質量
を判別することができる。図2に示すように、基板の搬
送時に、支柱2に載せられた基板の質量によりばね3が
縮み、その変位量に応じて遮光板4が移動し、その移動
終了後にフォトセンサ5a〜5dのいずれかを遮光する
ことによって、ガラス基板aの大きさ及び厚さが判別さ
れる。この場合、基板の質量に78g以上の差異があっ
たが、大きさに差異があまりない場合は、基板の質量だ
けではその大きさと厚さを判別することは困難となる。
このような場合に、基板の大きさを検出するセンサ26
a、26bによって基板の大きさを求めることにより、
当該基板の質量とから、その厚さを判別することが可能
となる。
【0023】なお、搬送処理する基板の大きさ、厚さが
一定(固定)であるが材質(密度)が違う場合にも、前
記の方法によりその違いを検出可能であり、材質の違い
により撓みに差異が生じて搬送系が影響を受けるような
場合にも、上記の判別方法は有効に利用できる。次に、
基板種検出手段の検出結果に応じた基板の搬送条件設定
の一例として、基板をプリアライメントする場合を説明
する。図3はプリアライメント装置の一例であり、1は
搬送アーム、aは搬送アーム1上の基板、x、yはプリ
アライメントピンであり、基板aは、搬送アーム1上で
プリアライメントピンx1、x2、y1、y2(なお、
ここでx1とy1は基準辺に対する基準ピンとする)に
よってプリアライメントされ、次に位置へ搬送されるも
のとする。
一定(固定)であるが材質(密度)が違う場合にも、前
記の方法によりその違いを検出可能であり、材質の違い
により撓みに差異が生じて搬送系が影響を受けるような
場合にも、上記の判別方法は有効に利用できる。次に、
基板種検出手段の検出結果に応じた基板の搬送条件設定
の一例として、基板をプリアライメントする場合を説明
する。図3はプリアライメント装置の一例であり、1は
搬送アーム、aは搬送アーム1上の基板、x、yはプリ
アライメントピンであり、基板aは、搬送アーム1上で
プリアライメントピンx1、x2、y1、y2(なお、
ここでx1とy1は基準辺に対する基準ピンとする)に
よってプリアライメントされ、次に位置へ搬送されるも
のとする。
【0024】このとき、プリアライメントピンはモータ
若しくは空圧によって駆動するが、同一基準でプリアラ
イメントを行うと、すなわち、0.7mm厚の薄い基板
に対して1.1mm厚の基板と同じ衝撃力を与えるとマ
イクロクラック(ひび割れ)が生じる危険性がある。一
方、衝撃力を0.7mm厚の基板に対応して弱く設定し
ておくと、1.1mm厚の基板は質量が大きいために搬
送アームとの間に大きな摩擦力が働き、基板を押し切れ
ずプリアライメントが完了しない危険性が生じると共
に、衝撃力を弱く設定することはプリアライメントピン
の速度を遅くすることとなり、搬送速度にも影響を及ぼ
す。
若しくは空圧によって駆動するが、同一基準でプリアラ
イメントを行うと、すなわち、0.7mm厚の薄い基板
に対して1.1mm厚の基板と同じ衝撃力を与えるとマ
イクロクラック(ひび割れ)が生じる危険性がある。一
方、衝撃力を0.7mm厚の基板に対応して弱く設定し
ておくと、1.1mm厚の基板は質量が大きいために搬
送アームとの間に大きな摩擦力が働き、基板を押し切れ
ずプリアライメントが完了しない危険性が生じると共
に、衝撃力を弱く設定することはプリアライメントピン
の速度を遅くすることとなり、搬送速度にも影響を及ぼ
す。
【0025】従って、プリアライメントにおいても、基
板種検出手段からの検出結果に応じて選択される搬送さ
れる基板の種類に応じた最適の条件設定に基づいて操作
が行われることが望ましい。図4は、搬送アーム1上で
の基板aの姿勢に応じたプリアライメントのシーケンス
を示しており、この機構系において、閉じた状態のプリ
アライメントピンを開く際に、通常は搬送アーム1上で
基板aを真空吸着(バキュームチャック)した後、押し
付けピン(x2、y2)→基準ピン(x1、y1)の順
で開いている。これは、開放時に、プリアライメントピ
ンの押し付け力によって基板がずれることを防止するた
めである。しかし、0.7mm厚の基板をプリアライメ
ントする場合、プリアライメントピンに挟まれた基板が
凸状に撓んでしまい、真空吸着が不完全な状態になって
しまうことがある。このような場合は、基板を不完全な
がらも真空吸着力を働かせたまま押し付けピン(x2、
y2)を開き、その後で基板aが元に戻り完全に真空吸
着した後(真空吸着はバキュームセンサでチェックす
る)、基準ピン(x1、y1)を開くようにする。この
方法(シーケンス)を用いることにより、プリアライメ
ント精度を維持したまま、0.7mm厚の基板にも適切
に対応することが可能となる。しかし、このプリアライ
メントシーケンスは、通常の1.1mm厚基板用のシー
ケンスに比べてピンを順番に開くなど時間が余計にかか
ってしまう。そのために、このようなシーケンスによる
プリアライメントを行うに当たっても、搬送装置の搬送
タクトを最適化するために、前述のように基板の厚さ
(種別)に応じた最適の条件設定に基づいて操作を行う
ことが必要とされ、ここにおいても、本発明による基板
種検出手段の検出結果は有効に利用てれる。る。
板種検出手段からの検出結果に応じて選択される搬送さ
れる基板の種類に応じた最適の条件設定に基づいて操作
が行われることが望ましい。図4は、搬送アーム1上で
の基板aの姿勢に応じたプリアライメントのシーケンス
を示しており、この機構系において、閉じた状態のプリ
アライメントピンを開く際に、通常は搬送アーム1上で
基板aを真空吸着(バキュームチャック)した後、押し
付けピン(x2、y2)→基準ピン(x1、y1)の順
で開いている。これは、開放時に、プリアライメントピ
ンの押し付け力によって基板がずれることを防止するた
めである。しかし、0.7mm厚の基板をプリアライメ
ントする場合、プリアライメントピンに挟まれた基板が
凸状に撓んでしまい、真空吸着が不完全な状態になって
しまうことがある。このような場合は、基板を不完全な
がらも真空吸着力を働かせたまま押し付けピン(x2、
y2)を開き、その後で基板aが元に戻り完全に真空吸
着した後(真空吸着はバキュームセンサでチェックす
る)、基準ピン(x1、y1)を開くようにする。この
方法(シーケンス)を用いることにより、プリアライメ
ント精度を維持したまま、0.7mm厚の基板にも適切
に対応することが可能となる。しかし、このプリアライ
メントシーケンスは、通常の1.1mm厚基板用のシー
ケンスに比べてピンを順番に開くなど時間が余計にかか
ってしまう。そのために、このようなシーケンスによる
プリアライメントを行うに当たっても、搬送装置の搬送
タクトを最適化するために、前述のように基板の厚さ
(種別)に応じた最適の条件設定に基づいて操作を行う
ことが必要とされ、ここにおいても、本発明による基板
種検出手段の検出結果は有効に利用てれる。る。
【0026】次に、基板種検出手段の検出結果の他の利
用態様を説明する。図5はホストコンピュータ5aとそ
れに接続された基板処理装置5b、5c、5dの構成図
を示している。通常、ホストコンピュータ5aと各処理
装置5b、5c、5dはRS232C等の通信ケーブル
5eで接続されており、各処理装置に対して必要な処理
データが通信によって伝達される。このとき、処理デー
タ中に、基板種検出手段の検出情報としての基板の厚
さ、大きさの情報を盛り込むことによって、当該装置は
その装置で処理すべき基板の種類を知ることが可能とな
り、当該基板種に対する最適な処理態様を設定すること
が可能となる。
用態様を説明する。図5はホストコンピュータ5aとそ
れに接続された基板処理装置5b、5c、5dの構成図
を示している。通常、ホストコンピュータ5aと各処理
装置5b、5c、5dはRS232C等の通信ケーブル
5eで接続されており、各処理装置に対して必要な処理
データが通信によって伝達される。このとき、処理デー
タ中に、基板種検出手段の検出情報としての基板の厚
さ、大きさの情報を盛り込むことによって、当該装置は
その装置で処理すべき基板の種類を知ることが可能とな
り、当該基板種に対する最適な処理態様を設定すること
が可能となる。
【0027】ただし、このデータが誤情報として伝達さ
れたり、当該処理装置内で消失してしまったような場合
には、基板の搬送が不可能となるか、基板を損傷する危
険性が発生する。従って、より好ましくは、このような
通信による情報の伝達が行われるシステムにおいても、
各基板処理装置5b、5c、5d自体で基板の大きさ、
厚さを判し、また、ホストコンピュータと基板の情報に
関する照合を行うようにすることは望ましい態様であ
る。
れたり、当該処理装置内で消失してしまったような場合
には、基板の搬送が不可能となるか、基板を損傷する危
険性が発生する。従って、より好ましくは、このような
通信による情報の伝達が行われるシステムにおいても、
各基板処理装置5b、5c、5d自体で基板の大きさ、
厚さを判し、また、ホストコンピュータと基板の情報に
関する照合を行うようにすることは望ましい態様であ
る。
【0028】基板種検出手段の検出結果に基づき搬送手
段が制御されるさらに他の例を説明する。この例では、
外部装置のアーム部材10により基材aが搬送装置C内
に搬送され、適宜の計測手段(基板種検出手段)50に
より基板aの厚さと大きさが判別される(図6a)。次
に、基板aを昇降手段51により上昇させ(図6b)、
所定方向に移動した後降下して搬送手段の搬送アーム1
上に基板aを載置する(図6c)。この際、基板aの撓
みによる搬送装置Cの搬送アーム1と基板aとの干渉を
防ぐために、前記計測手段50の計測結果に基づいて昇
降手段51の駆動速度及びストロークを最適化する。さ
らに、計測手段50の検出結果に基づいて、搬送アーム
1のアーム幅wを基板aの撓みが最も小さくなるように
最適化し、また基板aを搬送するのに最適な搬送アーム
1の搬送速度も決定される。
段が制御されるさらに他の例を説明する。この例では、
外部装置のアーム部材10により基材aが搬送装置C内
に搬送され、適宜の計測手段(基板種検出手段)50に
より基板aの厚さと大きさが判別される(図6a)。次
に、基板aを昇降手段51により上昇させ(図6b)、
所定方向に移動した後降下して搬送手段の搬送アーム1
上に基板aを載置する(図6c)。この際、基板aの撓
みによる搬送装置Cの搬送アーム1と基板aとの干渉を
防ぐために、前記計測手段50の計測結果に基づいて昇
降手段51の駆動速度及びストロークを最適化する。さ
らに、計測手段50の検出結果に基づいて、搬送アーム
1のアーム幅wを基板aの撓みが最も小さくなるように
最適化し、また基板aを搬送するのに最適な搬送アーム
1の搬送速度も決定される。
【0029】さらに、前記図3、図4に基づき説明した
ような態様によりプリアライメント条件(速度とトル
ク)が計測手段50の検出結果に基づいて最適化され
て、プリアライメントが行なわれる。特に図示しない
が、基材をロードスライダ部材に受け渡すための旋回速
度、該ロードスライダ部材とアンロードスライダ部材と
のクリアランス及びアーム幅、ロードセンターアップ部
材の広がり角度と昇降速度、等も、前記検出結果に基づ
く基板の撓み量を考慮して、基材の撓みが最も小さくな
るように最適化される。
ような態様によりプリアライメント条件(速度とトル
ク)が計測手段50の検出結果に基づいて最適化され
て、プリアライメントが行なわれる。特に図示しない
が、基材をロードスライダ部材に受け渡すための旋回速
度、該ロードスライダ部材とアンロードスライダ部材と
のクリアランス及びアーム幅、ロードセンターアップ部
材の広がり角度と昇降速度、等も、前記検出結果に基づ
く基板の撓み量を考慮して、基材の撓みが最も小さくな
るように最適化される。
【0030】また、他の使用態様として、図7に示すよ
うに、基板種検出手段により判別した基材についての情
報(例えば、基材の厚み)を露光装置側に記憶させてお
き、2種類の基板a、bを混在して露光装置に流し、露
光基板の受台を該判別結果に基づいて移動させることに
より、露光後の各基板を種類別に自動分別して収納する
ことも可能である。
うに、基板種検出手段により判別した基材についての情
報(例えば、基材の厚み)を露光装置側に記憶させてお
き、2種類の基板a、bを混在して露光装置に流し、露
光基板の受台を該判別結果に基づいて移動させることに
より、露光後の各基板を種類別に自動分別して収納する
ことも可能である。
【0031】
【発明の効果】本発明による基板搬送装置よれば、従来
の装置のように、基板の種別に応じてハードウェア的に
機構系の変更をすることを必要とせず、基板種検出手段
による検出結果に基づき基材の種別を決定し、種別に応
じた最適の搬送条件を設定することができることから、
基材の大きさあるいは質量等の変化に対して柔軟かつ迅
速な対応が可能となる。それにより、基材の撓みに起因
する装置と基材との機械的干渉による基材の損傷発生を
有効に阻止することが可能となり、設計時間等の短縮も
含めコストダウンがもたらされる。
の装置のように、基板の種別に応じてハードウェア的に
機構系の変更をすることを必要とせず、基板種検出手段
による検出結果に基づき基材の種別を決定し、種別に応
じた最適の搬送条件を設定することができることから、
基材の大きさあるいは質量等の変化に対して柔軟かつ迅
速な対応が可能となる。それにより、基材の撓みに起因
する装置と基材との機械的干渉による基材の損傷発生を
有効に阻止することが可能となり、設計時間等の短縮も
含めコストダウンがもたらされる。
【図1】本発明による基板搬送装置の一実施例を説明す
る図。
る図。
【図2】本発明による基板搬送装置に用いる基板種検出
手段の一実施例を説明する図。
手段の一実施例を説明する図。
【図3】搬送装置におけるプリアライメントを説明する
図。
図。
【図4】プリアライメントのシーケンスを説明する図。
【図5】基板種検出手段の検出結果の他の利用態様を説
明する図。
明する図。
【図6】基板種検出手段の検出結果のさらに他の利用態
様を説明する図。
様を説明する図。
【図7】基板種検出手段の検出結果のさらに他の利用態
様を説明する図。
様を説明する図。
【図8】基板搬送装置の概要を説明する図。
【図9】基板用カセットにおける異なった種別の基板の
状態を説明する図。
状態を説明する図。
A…基板用カセット(第1の位置の例)、B…露光装置
(第1の位置の例)、C…搬送装置、a…基板、1…搬
送アーム、3…ロボット、5…基板種検出手段としての
斜入射反射式の変位計、6…ビーム、7…制御手段とし
ての演算ユニット
(第1の位置の例)、C…搬送装置、a…基板、1…搬
送アーム、3…ロボット、5…基板種検出手段としての
斜入射反射式の変位計、6…ビーム、7…制御手段とし
ての演算ユニット
Claims (7)
- 【請求項1】 基板を保持して第1の位置から第2の位
置へ搬送する搬送手段と、基板の搬送経路中に配置さ
れ、搬送すべき基板の種類を検出する基板種検出手段
と、該基板種検出手段の検出結果に応じて前記基板の搬
送条件を設定し、前記搬送手段を制御する制御手段とを
有することを特徴とする基板搬送装置。 - 【請求項2】 前記基板種検出手段は、前記基板の厚さ
を検出する厚さ検出器であることを特徴とする請求項1
に記載の基板搬送装置。 - 【請求項3】 前記基板種検出手段は、前記基板の質量
を検出する計量器であることを特徴とする請求項1に記
載の基板搬送装置。 - 【請求項4】 前記基板種検出手段は、前記基板の寸法
を検出する寸法検出器であることを特徴とする請求項1
に記載の基板搬送装置。 - 【請求項5】 前記基板種検出手段は、前記基板の振動
状態を測定する振動測定器であることを特徴とする請求
項1に記載の基板搬送装置。 - 【請求項6】 前記搬送条件は、前記搬送の速度、前記
第1又は第2の位置における前記搬送手段相互の受け渡
し位置、の少なくとも1つであることを特徴とする請求
項1に記載の基板搬送装置。 - 【請求項7】 前記基板搬送装置は、前記第1又は第2
の位置の少なくとも一方に前記基板を複数収納する基板
用カセットを配置し、該基板用カセットに収納される前
記複数の基板に対して前記検出を行なった際に、前記種
類の異なる基板が存在する場合に警告を発する警告手段
をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の基板
搬送装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8048489A JPH09246348A (ja) | 1996-03-06 | 1996-03-06 | 基板搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8048489A JPH09246348A (ja) | 1996-03-06 | 1996-03-06 | 基板搬送装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09246348A true JPH09246348A (ja) | 1997-09-19 |
Family
ID=12804811
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8048489A Pending JPH09246348A (ja) | 1996-03-06 | 1996-03-06 | 基板搬送装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09246348A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999040623A1 (fr) * | 1998-02-04 | 1999-08-12 | Nikon Corporation | Systeme d'exposition et appareil de positionnement de cassette a substrat |
JP2002367888A (ja) * | 2001-06-06 | 2002-12-20 | Nikon Corp | 露光装置、基板収納装置、デバイス製造システム |
JP2006339574A (ja) * | 2005-06-06 | 2006-12-14 | Nikon Corp | 基板検査装置 |
JP2008053302A (ja) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Tokyo Electron Ltd | 基板検知機構および基板収容容器 |
JPWO2006104121A1 (ja) * | 2005-03-29 | 2008-09-11 | 株式会社日立国際電気 | 半導体製造装置 |
JP2019021679A (ja) * | 2017-07-12 | 2019-02-07 | キヤノン株式会社 | インプリント装置および物品製造方法 |
JP2021048322A (ja) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | 株式会社Screenホールディングス | 基板搬送装置および基板搬送方法 |
-
1996
- 1996-03-06 JP JP8048489A patent/JPH09246348A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6432849B1 (en) * | 1998-02-04 | 2002-08-13 | Nikon Corporation | Substrate storage cassette positioning device and method |
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