JPH09213728A - 半導体装置およびその製造に使用される成形装置 - Google Patents

半導体装置およびその製造に使用される成形装置

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JPH09213728A
JPH09213728A JP8040689A JP4068996A JPH09213728A JP H09213728 A JPH09213728 A JP H09213728A JP 8040689 A JP8040689 A JP 8040689A JP 4068996 A JP4068996 A JP 4068996A JP H09213728 A JPH09213728 A JP H09213728A
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JP
Japan
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molding
resin
chamfered
gate
cavity
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Pending
Application number
JP8040689A
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English (en)
Inventor
Shinya Koike
信也 小池
Kazuo Shimizu
一男 清水
Takuya Nakajo
卓也 中條
Kuniharu Muto
邦治 武藤
Junichi Tsuchiya
純一 土屋
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Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd
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Publication date
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Publication of JPH09213728A publication Critical patent/JPH09213728A/ja
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    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 アウタリードの本数を増加する。 【解決手段】 樹脂封止体を成形するキャビティーが合
わせ面に形成された上型または下型の一コーナー部に面
取り部45を成形する面取り部成形部が形成され、この
面取り部成形部にキャビティーの厚さ方向に長いゲート
が開設されているトランスファ成形装置によって成形さ
れたQFP・IC29の樹脂封止体26は、一コーナー
部に面取り部45が形成され、面取り部45には縦長の
ゲート痕46が形成された状態になり、面取り部45の
横幅が小さくなった分だけアウタリードの本数が増加さ
れた状態になっている。 【効果】 縦長のゲートは横幅が小さくてもレジンをキ
ャビティーに充分に注入でき、他方、ゲート横幅縮小
で、面取り部成形部の横幅を縮小でき、その分、樹脂封
止体26の一辺長を長くでき、アウタリードの本数を増
やせる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の製造
技術、特に、表面実装形樹脂封止パッケージを備えてい
る半導体集積回路装置の製造技術に関するもので、例え
ば、多ピンで小型かつ低価格化が要求される半導体集積
回路装置(以下、ICという。)に利用して有効なもの
に関する。
【0002】
【従来の技術】多ピンで小型かつ低価格のICとして、
クワッド・フラット・パッケージを備えているIC(以
下、QFP・ICという。)が広く知られている。すな
わち、QFP・ICのパッケージは絶縁性を有する樹脂
が使用されて四辺形の平盤形状に成形された樹脂封止体
と、樹脂封止体の四辺から直角に突出されてガル・ウイ
ング形状に屈曲された複数本のアウタリードとを備えて
いる。樹脂封止体の内部には半導体素子を含む集積回路
が作り込まれた半導体ペレット(以下、ペレットとい
う。)と、ペレットに電気的に接続されて各アウタリー
ドにそれぞれ一体的に連結された複数本のインナリード
とが樹脂封止されている。
【0003】このQFP・ICの樹脂封止体を成形する
従来のトランスファ成形装置においては、四辺形に形成
されたキャビティーのコーナー部にキャビティーに成形
材料としてのレジン(樹脂)を注入するためのゲートが
配設されている。そして、樹脂封止体の成形後に樹脂封
止体にゲートを通じて一体的に成形された状態になる残
滓成形体をゲートの位置で確実に切り離すために、QF
P・ICの樹脂封止体を成形するキャビティーにおける
ゲートが配設されるコーナー部には面取り部成形部が形
成されている。
【0004】また、QFP・ICの樹脂封止体を成形す
る従来のトランスファ成形装置においては、樹脂封止体
を成形するためのキャビティーが上型と下型との合わせ
面に形成されているため、ゲートは合わせ面においてキ
ャビティーの周方向に長く(横長)なるように開設され
ている。
【0005】なお、ICのパッケージを成形するトラン
スファ成形技術を述べてある例としては、株式会社日経
BP社1993年5月31日発行「実践講座VLSIパ
ッケージング技術(下)」P35〜P41、がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
QFP・ICの樹脂封止体を成形するトランスファ成形
装置においては、キャビティーのコーナー部に形成され
た面取り部成形部にゲートが横長に開設されているた
め、QFP・ICのパッケージにおけるコーナー部にア
ウタリードを配置することができなくなり、その分、ピ
ン数が減少するという問題点がある。
【0007】本発明の目的は、アウタリードの本数を増
加することができる半導体装置の製造技術を提供するこ
とにある。
【0008】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0009】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
【0010】すなわち、半導体装置の樹脂封止体を成形
する成形装置は、樹脂封止体を成形するキャビティーが
合わせ面に形成された上型および下型を備えており、上
型または下型の一コーナー部には面取り部を成形する面
取り部成形部が形成され、この面取り部成形部にはキャ
ビティーの厚さ方向に長いゲートが開設されている。
【0011】前記した手段によれば、ゲートの周方向の
寸法を小さくしてもレジンをキャビティーに充分に注入
することができる。他方、ゲートの周方向の寸法を小さ
くすることにより、面取り部成形部の周方向の寸法を小
さく設定することができるため、面取り部成形部が小さ
くなった分だけアウタリードを余計に配置することがで
きる。
【0012】つまり、前記した成形装置によって成形さ
れた半導体装置の樹脂封止体は、一コーナー部に面取り
部が形成され、この面取り部には樹脂封止体の厚さ方向
に長いゲート痕が形成された状態になり、面取り部の周
方向の幅が小さくなった分だけアウタリードの本数が増
加された状態になっている。
【0013】
【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施形態である
QFP・ICを示しており、(a)は全体斜視図、
(b)はその拡大部分斜視図である。図2以降はそのQ
FP・ICの製造方法を示す各説明図である。
【0014】本実施形態において、本発明に係る半導体
装置はQFP・ICとして構成されており、このQFP
・ICのパッケージは図1に示されているように構成さ
れている。すなわち、QFP・IC29のパッケージは
絶縁性を有する樹脂が使用されて四辺形の平盤形状に成
形された樹脂封止体26と、樹脂封止体26の四辺から
直角に突出されてガル・ウイング形状に屈曲された複数
本のアウタリード20とを備えており、樹脂封止体26
の一コーナー部に形成された面取り部45には樹脂封止
体26の厚さ方向に長いゲート痕46が形成された状態
になり、面取り部45の周方向の幅が小さくなった分だ
けアウタリード20の本数が増加された状態になってい
る。そして、このQFP・ICは次に説明される製造方
法によって製造されている。
【0015】以下、本発明の一実施形態であるQFP・
ICの製造方法を説明する。この説明により、前記QF
P・ICについての構成の詳細が共に明らかにされる。
【0016】本実施形態において、QFP・ICの製造
方法には、図2に示されている多連リードフレーム11
が使用されており、この多連リードフレーム11は多連
リードフレーム成形工程によって製作されて準備されて
いる。この多連リードフレーム11は、鉄−ニッケル合
金や燐青銅等の比較的大きい機械的強度を有するばね材
料からなる薄板が用いられて、打ち抜きプレス加工また
はエッチング加工等の適当な手段により一体成形されて
いる。多連リードフレーム11の表面には銀(Ag)等
を用いためっき処理が、後述するワイヤボンディングが
適正に実施されるように部分的または全体的に施されて
いる(図示せず)。この多連リードフレーム11には複
数の単位リードフレーム12が横方向に1列に並設され
ている。但し、説明および図示は一単位について行われ
る。
【0017】単位リードフレーム12は位置決め孔13
aが開設されている外枠13を一対備えており、両外枠
13は所定の間隔で平行になるように配されて一連にそ
れぞれ延設されている。隣り合う単位リードフレーム1
2、12間には一対のセクション枠14が両外枠13、
13間に互いに平行に配されて一体的に架設されてお
り、これら外枠、セクション枠により形成される略正方
形の枠体(フレーム)内に単位リードフレーム12が構
成されている。
【0018】各単位リードフレーム(以下、リードフレ
ームという。)12において、外枠13およびセクショ
ン枠14の接続部にはダム吊り部材15が略直角方向に
それぞれ配されて一体的に突設されており、ダム吊り部
材15には4本のダム部材16が略正方形の枠形状にな
るように配されて一体的に吊持されている。正方形の4
箇所のコーナー部のうち一箇所のコーナー部に配置され
た一対のダム吊り部材15a、15bはそれぞれ45度
の方向に延設されており、この両ダム吊り部材15a、
15b間の間隙によって後述するゲートを配置するため
のゲート配置部21が形成されている。
【0019】セクション枠14側の各ダム部材16には
タブ吊りリード17がそれぞれの一端に配されて、略4
5度の方向に対向して一体的に突設されており、各タブ
吊りリード17の先端には正方形の平板形状に形成され
たタブ18が、4本のダム部材16による枠形状と略同
心的に配されて、これらタブ吊りリード17により吊持
されるように一体的に連設されている。各タブ吊りリー
ド17はタブ18の付近においてそれぞれ屈曲されてお
り、このタブ吊りリード17の屈曲によって、タブ18
は後記するインナリード群の面よりも、後記するペレッ
トの厚さ分程度下げられている(所謂タブ下げ。)。
【0020】また、各ダム部材16の内側端辺にはイン
ナリード19が複数本、長手方向に等間隔に配されて互
いに平行でダム部材16と直交するように一体的に突設
されており、各ダム部材16における各インナリード1
9の先端部はタブ18の外周に近接した状態で略一直線
に揃うように敷設されている。他方、各ダム部材16の
外側端辺にはアウタリード20が複数本、各インナリー
ド19に一連に連続するように一体的に突設されてお
り、各ダム部材16における各アウタリード20の先端
部は外枠13およびセクション枠14にそれぞれ接続さ
れている。各ダム部材16における隣り合うアウタリー
ド20、20間の部分は、後述する樹脂封止体成形時に
レジンの流れをせき止めるダム16aを実質的に構成し
ている。
【0021】多連リードフレーム成形工程において準備
された以上の構成に係る多連リードフレーム11には、
ペレット・ボンディング工程およびワイヤ・ボンディン
グ工程において、ペレット・ボンディング作業、続い
て、ワイヤ・ボンディング作業が実施される。これらボ
ンディング作業は多連リードフレームが横方向にピッチ
送りされることにより、各単位リードフレーム毎に順次
実施される。
【0022】まず、ペレット・ボンディング作業によ
り、ICの製造工程における所謂前工程において半導体
素子を含む集積回路を作り込まれた半導体集積回路構造
物としてのペレット23が、図3に示されているよう
に、各単位リードフレーム12におけるタブ18上の略
中央部に配されて、タブ18とペレット23との間に形
成されたボンディング層22によって機械的に固着され
ることによりボンディングされる。ボンディング層22
の形成手段としては、銀ペースト接着層によるボンディ
ング法を用いることが可能である。
【0023】次に、ワイヤボンディング作業により、図
3に示されているように、タブ18上にボンディングさ
れたペレット23の電極としてのボンディングパッド2
3aと、各単位リードフレーム12におけるインナリー
ド19との間に、ワイヤ24が超音波熱圧着式ワイヤボ
ンディング装置等のワイヤボンディング装置(図示せ
ず)が使用されることにより、その両端部をそれぞれボ
ンディングされて橋絡される。これにより、ペレット2
3に作り込まれている半導体素子を含む集積回路は、ボ
ンディングパッド23a、ワイヤ24、インナリード1
9およびアウタリード20を介して電気的に外部に引き
出されることになる。
【0024】以上のようにしてペレットおよびワイヤ・
ボンディングされた組立体(以下、成形ワークとい
う。)25には各単位リードフレーム毎に樹脂封止体
が、図4〜図6に示されているトランスファ成形装置3
0が使用されて各単位リードフレームについて同時成形
される。
【0025】図4〜図6に示されているトランスファ成
形装置30はシリンダ装置等(図示せず)によって互い
に型締めされる一対の上型31と下型32とを備えてい
る。上型31と下型32との合わせ面には上型キャビテ
ィー凹部33aと下型キャビティー凹部33bとが複数
組、互いに協働してキャビティー33を形成するように
それぞれ没設されている。但し、図示および説明は多連
リードフレームと同様に一単位について行われている。
このキャビティー33は成形ワーク25におけるリード
フレーム12のダム部材16が画成する正方形に対応さ
れている。キャビティー33の全高は成形ワーク25の
全高よりも僅かに大きく設定されている。上型キャビテ
ィー凹部33aの深さは、成形ワーク25におけるワイ
ヤ24のリードフレーム12からの上方突出高さよりも
僅かに大きくなるように設定されている。下型キャビテ
ィー凹部33bの深さは、底面が成形ワーク25におけ
るタブ18の下面から僅かに離れるように設定されてい
る。
【0026】下型32の合わせ面にはポット34が開設
されており、ポット34にはシリンダ装置(図示せず)
により進退されるプランジャ35が成形材料としての樹
脂(レジン)を送給し得るように挿入されている。上型
31の合わせ面にはカル36がポット34との対向位置
に配されて没設されているとともに、互いに連通された
メインランナ37およびサブランナ38がメインランナ
37の一端をカル36に接続されて没設されている。サ
ブランナ38の他端は上側キャビティー凹部33aにお
ける後記する所定のコーナー部に形成されたゲート39
に接続されており、ゲート39はレジンをキャビティー
33内に充分に注入し得るように縦長に形成されてい
る。
【0027】下型32の合わせ面における上型31のゲ
ート39と対向する位置には後記する面取り部成形部を
収容するための収容穴40が、その深さが下型キャビテ
ィー凹部33bに一体的に連続するように没設されてい
る。この収容穴40が没設されていることにより、下型
キャビティー凹部33bのゲート39と対向するコーナ
ー部はC面取りされたように角を切り欠かれて開口した
状態になっている。収容穴40は平面形状が長方形で一
定深さの穴形状に形成されており、面取り部成形部の形
状に対応されている。
【0028】上型31の合わせ面におけるゲート39が
配置されたコーナー部には、縦長のゲート39を開設す
るための面取り部成形部41が突設されている。面取り
部成形部41は平面形状が長方形の略直方体に形成され
ており、下型32に没設された収容穴40に嵌入するこ
とによって収容穴40を丁度埋め戻すようになってい
る。また、面取り部成形部41はコーナー部において上
型キャビティー凹部33aの対角線上に延在されてお
り、面取り部成形部41の対角線上の内側側面(以下、
面取り面という。)42が対角線に直交した状態になる
ことにより、上型キャビティー凹部33aのゲート39
が配置されたコーナー部はC面取りされたように角を切
り欠かれた状態になっている。面取り部成形部41の面
取り面42は上型キャビティー凹部33aの底から開口
方向に向かって次第に広がる傾斜面に形成されていると
ともに、面取り面42の両側稜線が上型キャビティー凹
部33aの底から開口方向に行くに従って次第に広がる
テーパ形状に形成されている。
【0029】面取り部成形部41の面取り面42にはゲ
ート39が上型キャビティー凹部33aの底から開口方
向(以下、縦方向とする。)に長い台形形状に開設され
ており、ゲート39の台形の長辺側は面取り部成形部4
1の収容穴40の方を向く主面(以下、下面とする。)
43において開口した状態になっている。縦長のゲート
39の断面積はレジンをキャビティー33に従来のトラ
ンスファ成形装置における横長のゲートと同等に注入し
得るように設定されている。したがって、ゲート39が
縦方向に長く形成されている分だけ、横方向の寸法が小
さく設定されている。ゲート39の横方向の寸法が小さ
く設定されているため、ゲート39が開けられた面取り
面42の横方向の寸法が小さく設定されている。そし
て、キャビティー33のコーナー部に面取り部を成形す
る面取り面42の横方向の寸法が小さく設定されている
分だけ、そのコーナー部において直交するキャビティー
33の二辺の長さが長くなるため、前記したリードフレ
ーム12においてはアウタリード20の本数を増加させ
ることができる。
【0030】面取り部成形部41の下面43にはサブラ
ンナ38がゲート39と連続する溝形状に没設されてい
る。すなわち、サブランナ38は面取り面側端において
ゲート39に流体連結されており、また、反対側端にお
いてメインランナ37に流体連結されている。
【0031】次に、前記構成に係るトランスファ成形装
置30による成形ワーク25への樹脂封止体26の成形
方法について説明する。
【0032】トランスファ成形に際して、成形ワーク2
5は多連リードフレーム11が下型32に没設されてい
る逃げ凹所内に収容され、各リードフレーム12におけ
るペレット23が各下型キャビティー凹部33bにそれ
ぞれ収容されるように配されてセットされる。このセッ
ト状態において、リードフレーム12の一コーナー部に
形成されたゲート配置部21は下型キャビティー凹部3
3bの一コーナー部に没設された収容穴40に配置され
た状態になる。
【0033】続いて、上型31と下型32とが型締めさ
れる。型締めされると、リードフレーム12のダム部材
16の周りは上型31と下型32の合わせ面間で上下か
ら挟まれた状態になる。また、上型31の合わせ面に突
設された面取り部成形部41は下型32の合わせ面に没
設された収容穴40に、リードフレーム12のゲート配
置部21を挿通して嵌入された状態になり、面取り部成
形部41の下面43は収容穴40の底面に当接した状態
になる。この状態において、下型キャビティー凹部33
bのコーナー部に収容穴40によって開いた開口は面取
り部成形部41によって閉塞された状態になるため、上
型キャビティー凹部33aと下型キャビティー凹部33
bとによって形成されたキャビティー33は、実質的に
完全に密封された状態になる。また、キャビティー33
において面取り部成形部41が位置するコーナー部には
面取り面42によってC面取り部が形成された状態にな
る。
【0034】次いで、図6に示されているように、成形
材料としてのレジン44がポット34からプランジャ3
5によりメインランナ37、サブランナ38およびゲー
ト39を通じてキャビティー33に送給されて注入され
る。面取り部成形部41に没設されたサブランナ38を
流通するレジン44は下型32の底面に沿って流れ、面
取り部成形部41の面取り面42に開設された縦長のゲ
ート39を通ってキャビティー33内に注入される。こ
のとき、縦長のゲート39の断面積は従来のトランスフ
ァ成形装置における横長のゲートと同等に設定されてい
るため、レジン44はキャビティー33に適正に充填さ
れることになる。
【0035】そして、樹脂封止体26はレジン44がキ
ャビティー33に充填されるとともに、レジン44が熱
硬化されることにより樹脂成形される。樹脂封止体26
が樹脂成形された後に、上型31および下型32は型開
きされる。この型開きと同時に、樹脂封止体26は上型
31および下型32に対してエジェクタ・ピン(図示せ
ず)により突き上げられて離型される。
【0036】以上のようにして成形ワーク25に樹脂封
止体26が樹脂成形されて離型された状態において、図
7に示されている成形品27が製造された状態になる。
この成形品27におけるペレット23、インナリード1
9、ワイヤ24は、樹脂封止体26の内部に樹脂封止さ
れた状態になっている。そして、樹脂封止体26の一コ
ーナー部には面取り部成形部41によって面取り部45
が成形され、この面取り部45には後記する残滓成形体
28が縦長のゲートの部位において連結された状態にな
っている。
【0037】詳細な説明および図示は省略するが、レジ
ンをキャビティーにトランスファするためのカルやラン
ナおよびゲートに充填して成形した残滓成形体28は、
残滓成形体28と樹脂封止体26との境目であるゲート
39の位置でチョコレートブレーキングされて除去され
る。ゲート39が縦長に形成されていたため、このブレ
ーキングに際して、残滓成形体28はゲート39が薄い
方向すなわち横方向に折られることになる。そして、残
滓成形体28がゲート39において折られると、樹脂封
止体26の面取り部45には縦長のゲート痕46が形成
された状態になる。
【0038】その後、はんだめっき工程において、成形
品27は樹脂封止体26からの露出面全体にわたっては
んだめっき被膜(図示せず)を被着される。次いで、成
形品27はリード切断成形工程において、ダム部材16
が隣合うアウタリード20、20間において切り落とさ
れ、各アウタリード20は外枠13およびセクション枠
14から切り離された後に、ガルウイング形状に屈曲成
形される。
【0039】以上のようにして図1に示されている前記
構成に係るQFP・IC29が製造されたことになる。
【0040】前記実施形態によれば次の効果が得られ
る。 (1) QFP・ICの樹脂封止体を成形するトランス
ファ成形装置のキャビティーにおけるコーナー部に面取
り部成形部を形成するとともに、面取り部成形部にゲー
トを縦長に形成することにより、面取り部成形部の周方
向の寸法を小さくしてもレジンをキャビティーに充分に
注入することができるため、樹脂封止体を適正に成形す
ることができる。
【0041】(2) 他方、ゲートの周方向の寸法を小
さくすることにより、キャビティーにおける面取り部成
形部の周方向の寸法を小さく設定することができるた
め、面取り部成形部の寸法が小さくなった分だけキャビ
ティーの一辺の長さを長くすることができ、その結果、
アウタリードを余計に配置することができる。
【0042】(3) 前記(2)のトランスファ成形装
置によって成形されたQFP・ICの樹脂封止体は面取
り部の周方向の幅が小さくなった分だけアウタリードの
本数が増加された状態になっているため、多ピン化する
ことができる。
【0043】図8は本発明の他の実施形態である低熱抵
抗形QFP・ICを示しており、(a)は全体斜視図、
(b)は拡大部分斜視図である。
【0044】本実施形態2が前記実施形態1と異なる点
は、低熱抵抗形QFP・IC29Aの樹脂封止体26に
おけるコーナー部に形成された面取り部45からヒート
シンク47の一部が放射状に突出されており、このヒー
トシンク47の上面に縦長のゲート痕46Aの一部が接
触されている点にある。
【0045】図示しないが、この低熱抵抗形QFP・I
C29Aの樹脂封止体26を成形するトランスファ成形
装置において、面取り部成形部にはヒートシンクの一部
が縦長のゲートの一部を挿通してキャビティーから突出
した状態になる。
【0046】以上本発明者によってなされた発明を実施
形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施形
態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0047】例えば、縦長のゲートは縦に長い台形形状
に形成するに限らず、縦に長い半分の楕円形等に形成し
てもよい。
【0048】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるQFP
・ICに適用した場合について説明したが、それに限定
されるものではなく、QFJ・IC、QFI・IC等の
ような表面実装形樹脂封止パッケージを備えたIC、さ
らには、そのパッケージを備えたパワートランジスタ
や、その他の電子装置全般に適用することができる。特
に、本発明は多ピンで小型かつ低価格の半導体装置に利
用して優れた効果が得られる。
【0049】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
【0050】縦長のゲートをキャビティーのコーナー部
の面取り部成形部に配置することにより、ゲートの周方
向の寸法(横幅)を小さくしてもレジンをキャビティー
に充分に注入することができる。他方、ゲートの横幅を
小さくすることにより、ゲートが設けられたコーナー部
の面取り部の横幅を小さくできるため、キャビティーの
一辺の長さを長くすることができ、その結果、樹脂封止
体に配されるアウタリードの本数を増加することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるQFP・ICを示して
おり、(a)は全体斜視図、(b)は拡大部分斜視図で
ある。
【図2】そのQFP・ICの製造方法に使用される多連
リードフレームを示す一部省略平面図である。
【図3】その製造方法におけるペレットおよびワイヤ・
ボンディング工程後を示す一部省略拡大平面図である。
【図4】そのQFP・ICの樹脂封止体の成形に使用さ
れるトランスファ成形装置における下型を示す一部省略
平面図である。
【図5】同じく上型を示しており、(a)は一部省略底
面図、(b)は(a)の面取り部成形部の拡大部分斜視
図である。
【図6】同じく成形途中を示しており、(a)は正面断
面図、(b)は対角線に沿う側面断面図である。
【図7】樹脂封止体成形後を示す一部省略平面図であ
る。
【図8】本発明の他の実施形態である低熱抵抗形QFP
・ICを示しており、(a)は全体斜視図、(b)は拡
大部分斜視図である。
【符合の説明】
11…多連リードフレーム、12…単位リードフレー
ム、13…外枠、14…セクション枠、15…ダム吊り
部材、16…ダム部材、16a…ダム、17…タブ吊り
リード、18…タブ、19…インナリード、20…アウ
タリード、21…ゲート配置部、22…ボンディング
層、23…ペレット、23a…ボンディングパッド(電
極)、24…ワイヤ、25…成形ワーク、26…樹脂封
止体、27…樹脂封止体成形後の成形品、28…残滓成
形体、29、29A…QFP・IC(表面実装形樹脂封
止パッケージを備えている半導体装置)、30…トラン
スファ成形装置、31…上型、32…下型、33…キャ
ビティー、33a…上型キャビティー凹部、33b…下
型キャビティー凹部、34…ポット、35…プランジ
ャ、36…カル、37…メインランナ、38…サブラン
ナ、39…ゲート、40…収容穴、41…面取り部成形
部、42…面取り面、43…下面、44…レジン、45
…面取り部、46、46A…ゲート痕、47…ヒートシ
ンク。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中條 卓也 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 (72)発明者 武藤 邦治 埼玉県入間郡毛呂山町大字旭台15番地 日 立東部セミコンダクタ株式会社内 (72)発明者 土屋 純一 埼玉県入間郡毛呂山町大字旭台15番地 日 立東部セミコンダクタ株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体ペレットと、半導体ペレットに電
    気的に接続された複数本のインナリードと、各インナリ
    ードにそれぞれ一体的に連結された各アウタリードと、
    半導体ペレットおよびインナリード群を樹脂封止する樹
    脂封止体とを備えており、樹脂封止体が四辺形の平盤形
    状に形成され、アウタリード群が樹脂封止体の四辺から
    それぞれ引き出されている半導体装置において、 前記樹脂封止体の一コーナー部に面取り部が形成されて
    おり、この面取り部には樹脂封止体の厚さ方向に長いゲ
    ート痕が形成されていることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記面取り部に金属片が埋設されてお
    り、前記ゲート痕の一部が金属片に接触していることを
    特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の半導体装置の製造に使
    用される成形装置であって、 前記樹脂封止体を成形するキャビティーが合わせ面に形
    成された上型および下型を備えており、上型または下型
    の一コーナー部には前記面取り部を成形する面取り部成
    形部が形成されているとともに、この面取り部成形部に
    はキャビティーの厚さ方向に長いゲートが開設されてい
    ることを特徴とする成形装置。
  4. 【請求項4】 前記面取り部成形部に金属片が挿通され
    ており、この金属片の一部に前記ゲートが接触されてい
    ることを特徴とする請求項3に記載の成形装置。
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