JPH09213615A - 走査型露光装置 - Google Patents

走査型露光装置

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JPH09213615A
JPH09213615A JP8020275A JP2027596A JPH09213615A JP H09213615 A JPH09213615 A JP H09213615A JP 8020275 A JP8020275 A JP 8020275A JP 2027596 A JP2027596 A JP 2027596A JP H09213615 A JPH09213615 A JP H09213615A
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illuminance
mask
carriage
exposure
speed
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JP8020275A
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Kazuaki Saeki
和明 佐伯
Kei Nara
圭 奈良
Hiroshi Shirasu
廣 白数
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Original Assignee
Nikon Corp
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70191Optical correction elements, filters or phase plates for controlling intensity, wavelength, polarisation, phase or the like
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70358Scanning exposure, i.e. relative movement of patterned beam and workpiece during imaging

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 キャリッジ15の走査速度が変動したとして
も露光むらが生じることのない走査型露光装置を提供す
る。 【解決手段】 照明光学系の光源2とフライアイインテ
グレータ6の間に、マスク10に照射される光束の照度
を調整する照度調整フィルタ21を設ける。速度検出手
段16は、マスク10と感光基板12を一体的に保持し
て走査方向に移動するキャリッジ15の移動速度を検出
する。フィルタ制御部22は、速度検出手段16の検出
結果に基づいて、感光基板12の露光量が実質的に一定
になるように照度調整フィルタの透過率を制御する

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は走査型露光装置に関
し、例えば大型液晶表示素子等の製造に好適な走査型露
光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】大型の液晶パネルや大面積の半導体素子
等を高いスループットで製造するために、走査型露光装
置が用いられる。走査型露光装置は、マスク又はレチク
ル(以下、マスクという)をスリット状の照明領域で照
明し、その照明領域に対して短辺方向にマスクを走査
し、照明領域と共役な露光領域に対してフォトレジスト
が塗布された感光基板(ガラスプレート又は半導体ウエ
ハ等)を同期して走査することにより、マスク上のパタ
ーンを逐次感光基板上に露光するものである。
【0003】図8は、従来の走査型露光装置の概略説明
図である。超高圧水銀ランプ等の光源2から射出された
露光光は楕円鏡3によって集光され、ダイクロイックミ
ラー4で反射されたのち、波長選択フィルタ5に導かれ
る。波長選択フィルタ5を透過した露光に必要な波長の
光は、フライアイインテグレータ6によって均一な照度
分布をもつ光束に変換され、スリット形状の開口を有す
るブラインド7によってスリット状に整形される。ブラ
インド7を通過したスリット状の光束は反射ミラー8を
介してコンデンサレンズ9の方向に反射され、コンデン
サレンズ9はこの光束をマスク10上に結像することで
マスク10をスリット状の照明領域で照明する。マスク
10上のパターン像は、投影光学系11を介して基板ス
テージ14上に保持された感光基板12上に投影露光さ
れる。
【0004】この際、感光基板12上に投影されるのは
スリット状のパターン像であり、マスク10上に形成さ
れているマスクパターンの一部の像である。そこで走査
型露光装置では、マスク10を保持するマスクステージ
13と感光基板12を保持する基板ステージ14を一体
化したキャリッジ15を、キャリッジ制御部17によっ
て駆動制御し、マスク10上の照明領域及び投影光学系
11に対して移動走査することで、マスク10上に形成
されているマスクパターンの全てを感光基板12上に転
写する。キャリッジ速度計測部16はキャリッジ15の
速度を計測し、キャリッジ制御部17は、キャリッジ速
度計測部16によって計測されたキャリッジ15の速度
が上位コンピュータからの速度指令信号によって与えら
れる速度と等しくなるようにキャリッジ15を駆動制御
する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】走査型露光装置は、走
査中のキャリッジ15の速度変動がマスクパターン転写
時の露光むらになるため、キャリッジ15の速度制御誤
差を小さく抑える必要がある。しかし、大型の感光基板
12及びマスク10を保持するキャリッジ15は、寸法
が大きく重量も重いためキャリッジ15がもつ共振周波
数が低くなり、さらにキャリッジ15は一般に防振台の
上に配置されていることもあって、速度制御の応答を高
めることができず速度制御誤差を小さく抑えることが困
難である。このため、走査中に大きな速度変動が発生
し、マスクパターン転写時の露光むらが大きくなること
があった。本発明は、このような問題点に鑑みてなされ
たもので、キャリッジの走査速度が変動したとしても露
光むらが生じることのない走査型露光装置を提供するこ
とを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明においては、キャ
リッジ速度を計測し、計測されたキャリッジ速度に基づ
いてマスクに照射される光束の照度を調整することで前
記目的を達成する。すなわち、本発明は、光源を有しマ
スク上のパターンを所定形状の照明領域で照明する照明
光学系と、マスクと感光基板を一体的に保持し照明領域
に対して所定の走査方向に移動するキャリッジとを含
み、マスク上のパターンを逐次感光基板上に露光する走
査型露光装置において、マスクに照射される光束の照度
を調整する照度調整手段と、キャリッジの移動速度を検
出する速度検出手段と、速度検出手段の検出結果に基づ
いて感光基板の露光量が実質的に一定になるように照度
調整手段を制御する制御手段とを備えることを特徴とす
る。
【0007】マスク上のパターンは、照明光学系に対し
て固定して配置された投影光学系によって、実質的に等
倍の正立正像として感光基板上に投影される。照度調整
手段は、照明光学系中に配設した透過率可変フィルタと
することができる。その場合、透過率可変フィルタは、
照明光学系の光源とフライアイインテグレータ等の強度
分布均一化手段の間に配置するのが好ましい。本発明に
よると、キャリッジを走査し、マスク像を感光基板上に
逐次転写している期間に、キャリッジ速度を取り込み、
その速度の変動に応じて透過率可変フィルタ等の照度調
整手段によってマスクに照射される光束の照度を変更す
ることで、キャリッジの速度変動によらず露光量を一定
にすることができる。
【0008】また、光源の光出力をモニターする光検出
手段を更に備え、キャリッジ速度及び光源の光出力の検
出結果に基づいて感光基板の露光量が実質的に一定にな
るように照度調整手段を制御すると、キャリッジの速度
変動による露光むらと同時に光源の出力変動による露光
むらを防止することができる。あるいは、マスクに照射
される光束の照度をモニターする照度検出手段を更に備
え、速度検出手段の検出結果に基づいて照度検出手段に
よってモニターされた照度が所定値となるように照度調
整手段を制御することによっても、キャリッジの速度変
動による露光むらと同時に光源の出力変動による露光む
らを防止することができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図1は、本発明による走査型露光
装置の一例を示す概略図である。図1において、従来例
を示す図8と同じ機能部分には同じ符号を付して詳細な
説明を省略する。
【0010】図1の走査型露光装置が図8に示した従来
の走査型露光装置と異なる点は、照明光学系の波長選択
フィルタ5とフライアイインテグレータ6の間に照度調
整フィルタ21を配置し、照度調整フィルタ21の透過
率を制御するフィルタ制御部22を設けた点である。フ
ィルタ制御部22は、上位コンピュータからの速度指令
信号及びキャリッジ速度計測部16からの計測出力信号
を取り込み、フィルタ駆動部23に駆動信号を送って照
度調整フィルタの透過率を制御する。
【0011】投影光学系11としては、図2に略示する
ように、複数の投影光学系32a〜32gからなる正立
実像系の光学系(特開昭7−57986号公報参照)を
用いた。図2では、キャリッジ15の移動方向をX軸、
マスク10の面内でX軸と直交する方向をY軸、マスク
10の法線方向をZ軸とした座標系をとっている。露光
光は照明光学系中に配置されたブラインド7の開口によ
って整形され、図4に示すように、マスク10は投影光
学系32a〜32gの視野領域38a〜38gを各々包
含する7つの矩形領域からなる照明領域111a〜11
1gで照明されている。
【0012】図3は投影光学系32aのレンズ構成図を
示し、投影光学系32a〜32gは全てこの図3の構成
を有する。この投影光学系32aは、2組のダイソン型
光学系を組み合わせた構成を有し、第1の部分光学系4
1〜44と、視野絞り45と、第2の部分光学系46〜
49から構成されている。第1の部分光学系は、マスク
10に面して45゜の傾斜で配置された反射面を持つ直
角プリズム41と、マスク10の面内方向に沿った光軸
を有し、凸面を直角プリズム41の反射面に向けた平凸
レンズ成分42と、全体としてメニスカス形状であって
凹面を平凸レンズ成分42側に向けた反射面を有するレ
ンズ成分43と、直角プリズム41の反射面と直交しか
つマスク10の面に対して45゜の傾斜で配置された反
射面を持つ直角プリズム44とを有する。
【0013】マスク10を介した照明光学系からの露光
光は、直角プリズム41によって光路が90゜偏向さ
れ、直角プリズム41に接合された平凸レンズ成分42
に入射する。このレンズ成分42には、平凸レンズ成分
42とは異なる硝材にて構成されたレンズ成分43が接
合されており、直角プリズム41からの光はレンズ成分
42,43の接合面42aにて屈折し、反射膜が蒸着さ
れた反射面43aに達する。反射面43aで反射された
光は、接合面42aで屈折され、レンズ成分42に接合
された直角プリズム44に達する。レンズ成分42から
の光は、直角プリズム44により光路が90゜偏向され
て、この直角プリズム44の射出面側にマスク10の1
次像を形成する。ここで、第1の部分光学系41〜44
が形成するマスク10の1次像は、X方向の横倍率が正
であり、かつY方向の横倍率が負である等倍像である。
【0014】1次像からの光は、第2の部分光学系46
〜49を介して、マスク10の2次像を感光基板12の
表面上に形成する。この第2の部分光学系の構成は第1
の部分光学系と同一であるため、詳細な説明を省略す
る。第2の部分光学系46〜49は、第1の部分光学系
と同じく、X方向が正かつY方向が負となる等倍像を形
成する。したがって、感光基板12の表面に形成される
2次像は、マスク10の等倍の正立像(上下左右方向の
横倍率が正の像)となる。投影光学系32a(第1及び
第2の部分光学系)は、両側テレセントリック光学系で
ある。第1の部分光学系が形成する1次像の位置には、
視野絞り45が配置されている。
【0015】視野絞り45は台形状の開口部を有し、こ
の視野絞り45により感光基板12上の露光領域が台形
状に規定される。すなわち、投影光学系32a〜32g
は、投影光学系内の視野絞り45によって規定される視
野領域38a〜38gを有している。これらの視野領域
38a〜38gの像は、感光基板12上の露光領域39
a〜39g上に等倍の正立像として形成される。ここ
で、投影光学系32a〜32dは、視野領域38a〜3
8dが図中Y方向に沿って配列されるように設けられて
いる。また、投影光学系32e〜32gは、図中X方向
で視野領域38a〜38dとは異なる位置に、視野領域
38e〜38gがY方向に沿って配列されるように設け
られている。投影光学系32a〜32dと、投影光学系
32e〜32gとは、それぞれの直角プリズム同士が極
近傍に位置するように配置される。
【0016】感光基板12上には、投影光学系32a〜
32dによって、図中Y方向に沿って配列された露光領
域39a〜39dが形成され、投影光学系32e〜32
gによって、露光領域39a〜39dとは異なる位置に
Y方向に沿って配列された露光領域39e〜39gが形
成される。これらの露光領域39a〜39gは、視野領
域38a〜38gの等倍の正立像である。
【0017】図4は、投影光学系32a〜32gによる
視野領域38a〜38gとマスク10との平面的な位置
関係を示す図である。マスク10上には、パターンPA
が形成されており、このパターンPAの領域を囲むよう
にして遮光部LSAが設けられている。照明光学系は、
図中破線で囲まれる照明領域111a〜111gを均一
に照明する。照明領域111a〜111g内には、投影
光学系内の視野絞り45による前述の台形状の視野領域
38a〜38gが配列されている。視野領域38a〜3
8dの上辺(一対の平行な辺のうちの短辺)と視野領域
38e〜38gの上辺とが対向するように配置されてい
る。このときX方向、すなわちキャリッジ15の移動方
向に沿った視野領域38a〜38g(又は露光領域39
a〜39g)の幅の総和が、どのY方向の位置において
も常に一定となるように台形状の視野領域38a〜38
g(又は露光領域39a〜39g)が配置されている。
これは、キャリッジ15をX方向に移動しながら感光基
板12の大きな露光領域を露光するとき、感光基板12
上の露光領域の全面にわたって均一な露光量分布を得る
ためである。
【0018】ここで、感光基板12上の露光領域39a
〜39dと露光領域39e〜39gとはX方向に離れて
設定されているため、Y方向に伸びるパターンは、まず
空間的に分離した飛び飛びの露光領域39a〜39dに
よって露光された後、ある時間をおいてその間を埋める
露光領域39e〜39gで露光されるというように時間
的及び空間的に分割されて露光されることになる。した
がって、露光中にキャリッジ15の移動速度が変化する
と、露光領域39a〜39dによる露光量と露光領域3
9e〜39gによる露光量とが相違したものとなり、Y
方向に伸びるパターンの太さがY方向の位置によって変
化する事態が生じ、デバイスの性能を劣化させてしま
う。
【0019】本発明は、投影光学系11として、このよ
うな複数の投影光学系32a〜32gからなる正立実像
系の光学系を用いた走査型露光装置に対して特に好適で
あり、仮にキャリッジ15の移動速度が変動したとして
も、時間的及び空間的に分割して露光されるY方向の複
数の露光領域の露光量を均一にすることができ、Y方向
に伸びるパターンの太さに変化を生じさせることがな
い。
【0020】図5に、照度調整フィルタ21の例を示
す。(a)は、透明ガラス板上にクロムによるくさび状
の蒸着パターン21a〜21dを形成した透過率可変フ
ィルタの例であり、蒸着パターン21a〜21dの面積
によってフィルタ21の透過率を(d)に示すように長
手方向に一定の割合で連続的に変化させたものである。
(b)は、透明ガラス板上にクロムのランダムパターン
を形成した透過率可変フィルタの例であり、ランダムパ
ターンの密度を変えることによってフィルタ21の透過
率を(d)に示すように長手方向に一定の割合で変化さ
せたものである。また(c)は、透明ガラス板上に形成
したクロム蒸着膜の膜厚をフィルターの長手方向に連続
的に変化させることにより、(d)に示すような透過率
分布を実現した透過率可変フィルタの例である。なお、
照度調整フィルタ21は、透過率分布が図5(d)に示
すように長手方向に一定の割合で変化していれば、図5
(a)〜(c)に例示した以外のフィルタであっても構
わない。また、フォトクロミック材料などによって電気
的に透過率を変化させることのできるフィルタであって
も構わない。
【0021】照度調整フィルタ21として図5に例示し
た透過率可変フィルタを用いる場合には、照度調整フィ
ルタ21をフィルタ駆動部23によって照明光学系の光
軸に対して出し入れすることによって、マスク10を照
明する光束の照度を変更することができる。照明光学系
の光軸に対するフィルタ21の位置は、フィルタ21に
並置されたリニアエンコーダやフィルタ駆動部23に取
り付けられたエンコーダによってモニターされる。透過
率可変フィルタ21を通過した直後の光束は、フィルタ
通過位置によって光強度が異なるため強度分布を有する
が、続いてフライアイインテグレータ6を通ることで拡
散されるため均一な強度の露光光となってマスク10を
照明する。
【0022】キャリッジ速度計測部16は、位置計測用
レーザ干渉計にてキャリッジ15の位置を計測し、一定
時間(例えば1msec)ごとに計測された位置の差分
を取ることによってキャリッジの移動速度を算出し、キ
ャリッジ制御部17及びフィルタ制御部22に出力す
る。なお、キャリッジ15の移動速度の算出は、ラッチ
回路や減算器で構成されるハードウェアによって実現し
ても良いし、マイクロコンピュータを用いてソフトウェ
アで実現しても良い。キャリッジ15は、キャリッジ駆
動モータを含むキャリッジ制御部17によって駆動制御
される。キャリッジ制御部17は、キャリッジ速度計測
部16から出力されたキャリッジ15の移動速度信号
と、上位コンピュータから入力される速度指令信号の差
分がゼロになるようにキャリッジ15の移動速度をサー
ボ制御する。
【0023】次に、本発明による走査型露光装置の露光
動作について説明する。走査型露光装置は、図示しない
上位コンピュータより、キャリッジ制御部17及びフィ
ルタ制御部22に対し、走査露光に必要なキャリッジ速
度指令信号が与えられる。キャリッジ速度指令信号は、
次のようにして決められる。いま、露光スリット幅をa
[mm]とし、照度調整フィルタ21の長手方向中心が
ストロークの中央位置にある時、すなわち照明光学系の
光軸上にある時、予め基板ステージ14上の照度を測定
しておく。仮に、測定された照度がb[mw/cm2
であるとする。ここで走査露光量がx[mJ/cm2
と指定された場合、指令速度ycom[mm/sec]
は、次の(数1)によって算出される。
【0024】
【数1】ycom=a・b/x[mm/sec] 例えば、露光スリット幅がa=20mm、測定照度がb
=200mw/cm2、走査露光量がx=20mJ/c
2の時、指令速度ycomは次式のようになる。
【0025】 ycom=20×200/20=200[mm/sec] キャリッジ制御部17は、与えられたキャリッジ指令速
度ycomとキャリッジ速度計測部16より取り込んだ実
際のキャリッジ速度yrealとを比較し、指令速度ycom
と実速度yrealとの差が最小となるようフィードバック
制御を行う。ここでは説明を簡単にするために、実際の
キャリッジ速度yrealの速度変動は指令速度ycomに対
して±5%以内であるとする。フィルタ制御部22は、
キャリッジ指令速度ycomとキャリッジ実速度yreal
一定間隔のサンプリング時間毎に取り込み、その変動Δ
kを次の(数2)により各サンプリング毎に求める。
式中、添字kはサンプリング回を表す。
【0026】
【数2】Δyk=yreal-k/ycom-k ところで(数1)より、次の(数3)が成立する。
【0027】
【数3】x=a・b/y また、次の(数4)が成立するから、k回目のサンプリ
ング時にyreal-k/ycom-kが1からΔykに変動して
も、基板ステージ14上の照度bをΔykだけ変更すれ
ば走査露光量xはキャリッジ移動速度の変動によらず一
定にすることができる。
【0028】
【数4】x=∫bdt 図6に示すように、照度調整フィルタ21の長手方向を
d方向とし、長手方向中心位置をd=0とする。照明光
学系の光軸と交差する照度調整フィルタ21上のd座標
によって照度調整フィルタ21の位置を定義する。照度
調整フィルタ21は、図に破線で例示するように、d座
標で定められる位置を中心とする照明領域が照明光学系
の光源2からの光束で照明される。いま照度調整フィル
タ21のストロークがd=0を中心に±50mmである
として、予め照度調整フィルタ21がd=−50mm、
d=0mm、d=50mmにある時に基板ステージ14
に保持された感光基板12上の照度b-50,b0,b+50
をそれぞれ測定しておき、一次近似により次の(数5)
で表される照度調整フィルタ21の位置dと照度変化Δ
bの関係式を求めておく。
【0029】
【数5】d={50×2・b0/(b-50−b+50)}×
(Δb−1) この例では、キャリッジの速度変動が±5%以内である
ため、照度調整フィルタ21は、b-50/b0がほぼ1.
05、b+50/b0がほぼ0.95となるような透過率分
布を有する。以上より、前記(数2)を用いてサンプリ
ングごとのキャリッジ15の速度変動Δykを求め、次
【0030】
【数6】Δbk=1/Δyk とおき、(数5)及び(数6)より、サンプリングごと
の照度調整フィルタ21の目標位置dkを求める。そし
て、求めた目標位置dkとリニアエンコーダ等によって
検出された照度調整フィルタ21の実際の位置とを比較
し、その差が最小になるようにフィルタ駆動部23で照
度調整フィルタ21を駆動するサーボ制御を行う。
【0031】このようにキャリッジ15の速度変動を検
出し、検出された速度変動に応じて照明光学系内に配置
された照度調整フィルタをサーボ制御し、キャリッジ1
5の移動速度が遅いときにはマスク10に照射される光
束の照度を低くし、キャリッジ15の移動速度が速いと
きにはマスク10に照射される光束の照度を高くするこ
とで、キャリッジ15の移動速度が変動してもそれによ
って露光むらが生じるのを防ぐことができる。
【0032】なお、上記の説明では、キャリッジ15の
速度変動を±5%以内とし、照度調整フィルタ21がd
=0にあるときの感光基板12上の照度b0に対して9
5%〜105%の範囲で照度を調整可能なように照度調
整フィルタ21の濃度勾配を設定した。しかし、キャリ
ッジ15の速度変動が±5%を超える場合にも、照度調
整フィルタ21の濃度勾配あるいはフィルタ長手方向の
寸法及び移動ストロークを変更することでキャリッジ1
5の速度変動によらず感光基板上の露光量を一定にする
ことが可能である。
【0033】以上の説明においては、照明光学系から射
出される光束の照度は一定であると仮定した。しかし、
光束の照度を計測する光センサを照明光学系中に設け、
そのセンサの出力をフィルタ制御部に取り込むことによ
り、光束の照度が走査露光中変動しても、露光量を一定
に保つことができる。図7は、光束の照度を測定するセ
ンサを照明光学系中に設けた実施の形態の説明図であ
る。図7において、図1と同じ部分には同じ符号を付し
て詳細な説明を省略する。図7には2個の光センサ5
1,52を示してあるが、実際にはそのうちの1個の光
センサを使用すれば十分である。
【0034】まず、光センサ51を使用する場合につい
て説明する。光センサ51はダイクロイックミラー4の
背後に配置され、光源2の光出力をモニターする。な
お、光センサ51の設置場所はダイクロイックミラー4
の背後とは限らず、光源2から射出される光を直接検知
できる位置に配置してもよい。光センサ51で検知され
た光源2からの光束の照度をIk(kはサンプリング回
を表す)、その設計値をI0とするとき、フィルタ制御
部22は光源の光出力変化ΔIkを次の(数7)により
演算する。
【0035】
【数7】ΔIk=Ik/I0 また、前記(数6)の代わりに次の(数8)を用い、前
記(数5)と(数8)より、サンプリングごとの照度調
整フィルタ21の目標位置dkを求める。
【0036】
【数8】Δbk=(1/Δyk)・ΔIk そして、求めた目標位置dkとリニアエンコーダ等によ
って検出された照度調整フィルタ21の実際の位置とを
比較し、その差が最小になるようにフィルタ駆動部23
で照度調整フィルタ21を駆動するサーボ制御を行うこ
とで、キャリッジ15の速度変動による露光むらと同時
に光源2の出力変動による露光むらを防止することがで
きる。
【0037】次に、光センサ52を用いる制御について
説明する。光センサ52は例えば反射率99%、透過率
1%程度になるように製作された反射ミラー8の背後に
配置され、照度調整フィルタ21を透過したマスク照明
光の照度をモニターする。なお、光センサ52の設置場
所は反射ミラー8の背後とは限らず、照度調整フィルタ
21によって照度調整されたマスク照明光を検知できる
場所であればどの場所に設置しても構わない。また、光
センサ52の出力は、感光基板12上の照度bと一致す
るようにキャリブレーションしておく。
【0038】フィルタ制御部22は、前記(数2)によ
り各サンプリング毎にキャリッジ15の速度変動Δyk
を求め、続いて前記(数6)により感光基板12上の照
度目標値、すなわち光センサ52の出力目標値Δbk
求める。そして、光センサ52によってモニターされた
マスク照明光の照度が目標値となるようにフィルタ制御
部23をサーボ駆動することで、キャリッジ15の速度
変動による露光むらと同時に光源2の出力変動による露
光むらを防止することができる。光センサ52を用いる
場合には、露光光の照度を直接検出し、検出された照度
が目標照度に近づくように照度調整フィルタ21をサー
ボ駆動するものであるため、照度調整フィルタ21の位
置を検出するエンコーダが不要となる。
【0039】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、照明光学
系中に設けた照度調整手段を走査露光中のキャリッジの
速度変動に応じて駆動し、マスクに照射される光束の照
度をリアルタイムで変更することにより、キャリッジの
速度変動にかかわらず感光基板の露光量を一定に保つこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による走査型露光装置の一例を示す概略
図。
【図2】投影光学系の一例を示す斜視図。
【図3】図2に示した投影光学系のレンズ光製図。
【図4】投影光学系による視野領域とマスクとの平面的
な位置関係を示す図。
【図5】照度調整フィルタの例を示す図。
【図6】照度調整フィルタの位置と照度の関係を示す
図。
【図7】本発明による走査型露光装置の他の例を示す概
略図。
【図8】従来の走査型露光装置の概略図。
【符号の説明】
1,20…走査型露光装置、2…光源、3…楕円鏡、4
…ダイクロイックミラー、5…波長選択フィルタ、6…
フライアイインテグレータ、7…ブラインド、8…反射
ミラー、9…コンデンサレンズ、10…マスク、11…
投影光学系、12…感光基板、13…マスクステージ、
14…プレートステージ、15…キャリッジ、16…キ
ャリッジ速度計測部、17…キャリッジ制御部、21…
照度調整フィルタ、22…フィルタ制御部、32a〜3
2g…投影光学系、38a〜38g…視野領域、39a
〜39g…露光領域、41,44,46,49…直角プ
リズム、42,47…平凸レンズ成分、43,48…レ
ンズ成分、45…視野絞り、51,52…光センサ、1
11a〜111g…照明領域
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/30 516D

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源を有しマスク上のパターンを所定形
    状の照明領域で照明する照明光学系と、前記マスクと感
    光基板を一体的に保持し前記照明領域に対して所定の走
    査方向に移動するキャリッジとを含み、前記マスク上の
    パターンを逐次前記感光基板上に露光する走査型露光装
    置において、 前記マスクに照射される光束の照度を調整する照度調整
    手段と、前記キャリッジの移動速度を検出する速度検出
    手段と、前記速度検出手段の検出結果に基づいて前記感
    光基板の露光量が実質的に一定になるように前記照度調
    整手段を制御する制御手段とを備えることを特徴とする
    走査型露光装置。
  2. 【請求項2】 前記照明光学系は前記光源から射出され
    た光束の強度分布を均一化する強度分布均一化手段を備
    え、前記照度調整手段は前記光源と前記強度分布均一化
    手段の間に配置された透過率可変フィルタを含むことを
    特徴とする請求項1記載の走査型露光装置。
  3. 【請求項3】 前記光源の光出力をモニターする光検出
    手段を更に備え、前記制御手段は前記速度検出手段及び
    前記光検出手段の検出結果に基づいて前記感光基板の露
    光量が実質的に一定になるように前記照度調整手段を制
    御することを特徴とする請求項1又は2記載の走査型露
    光装置。
  4. 【請求項4】 前記マスクに照射される光束の照度をモ
    ニターする照度検出手段を更に備え、前記制御手段は前
    記速度検出手段の検出結果に基づいて前記照度検出手段
    によってモニターされた照度が所定値となるように前記
    照度調整手段を制御することを特徴とする請求項1又は
    2記載の走査型露光装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999046807A1 (fr) * 1998-03-09 1999-09-16 Nikon Corporation Procede et appareil d'exposition par balayage, procede de fabrication associe, dispositif et procede de fabrication associe
JP2008298980A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Hamamatsu Photonics Kk テラヘルツ波用減光フィルタ
JP2011022529A (ja) * 2009-07-21 2011-02-03 Mejiro Precision:Kk 光源装置及び露光装置
JP2016040528A (ja) * 2014-08-12 2016-03-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

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