JPH09205355A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JPH09205355A
JPH09205355A JP8013221A JP1322196A JPH09205355A JP H09205355 A JPH09205355 A JP H09205355A JP 8013221 A JP8013221 A JP 8013221A JP 1322196 A JP1322196 A JP 1322196A JP H09205355 A JPH09205355 A JP H09205355A
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signal
circuit
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output
power supply
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JP8013221A
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Morihito Hasegawa
守仁 長谷川
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】低消費電力化を図りつつ、電源が遮断されても
論理回路の出力信号の電位を予め定められた電位にす
る。 【解決手段】第1の論理回路11は第1の電源V1を動
作電源として供給され、入力信号IN2の電位に基づく
第1の信号S11を出力する。第2の論理回路12は第
2の電源V2を動作電源として供給され、信号S11の
電位に基づく第2の信号S12を出力する。不定出力検
出回路13は電源V1及び電源V2を動作電源として供
給されており、電源V1の遮断に基づいて信号S11の
電位が不定であることを検出する。制御回路14は、不
定出力検出回路13によって信号S11の電位が不定で
あると検出されたとき、該信号S11を無効化し、信号
S12の電位が予め定められた電位になるように制御す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路に関
する。近年の半導体技術の進歩によって半導体集積回路
の小型化が進められている。移動体通信分野における半
導体技術の発達はめざましく、特に携帯電話の小型化が
要求されている。
【0002】これに伴い、携帯電話に使用されているバ
ッテリも少しずつ小型化されている。バッテリの小型化
に対応するためには携帯電話に搭載されている半導体集
積回路の低消費電力化を図ることが必要である。
【0003】
【従来の技術】従来の半導体集積回路として、図6に示
すように、電源V1で動作する第1の論理回路1と、電
源V2で動作する第2の論理回路2とを設けたものがあ
る。第1の論理回路1は入力信号IN1の電位に基づく
信号S1を出力する。第2の論理回路2は信号S1の電
位に基づく信号S2を出力する。この半導体集積回路
は、電源V1を遮断して第1の論理回路1を停止させる
ことにより低消費電力化を図ることができる。
【0004】しかしながら、電源V1が遮断されると、
論理回路1の信号S1の電位が不定となり、その結果、
論理回路2の信号S2の電位が不安定になってしまうと
いう問題がある。
【0005】このことを図7の半導体集積回路に従って
説明する。第1の論理回路としてのPLL周波数シンセ
サイザ3は電源V1及びグランドGNDを動作電源とし
て供給されている。PLL周波数シンセサイザ3は水晶
発振器の発振信号に基づいて設定周波数と等しい周波数
の出力信号をfv1を出力する。
【0006】PLL周波数シンセサイザ3は、PLLの
ロック状態を検出するためのロック検出回路4を備え
る。ロック検出回路4はロック状態を検出するとLレベ
ルの検出信号LD1を出力し、アンロック状態を検出し
ているとHレベルの検出信号LD1を出力する。
【0007】なお、PLLのロック状態とはPLL周波
数シンセサイザの出力信号を分周した比較信号の位相
と、前記発振信号を分周した基準信号の位相とが一致し
ている状態である。
【0008】第2の論理回路5はPLL周波数シンセサ
イザ6及び2入力OR回路8を備えており、電源V2及
びグランドGNDを動作電源として供給されている。P
LL周波数シンセサイザ6も前記発振信号に基づいて設
定周波数と等しい周波数の出力信号をfv2を出力す
る。
【0009】PLL周波数シンセサイザ6は、PLLの
ロック状態を検出するためのロック検出回路7を備え、
ロック検出回路7はロック状態を検出するとLレベルの
検出信号LD2を出力し、アンロック状態を検出してい
るとHレベルの検出信号LD2を出力する。
【0010】OR回路8はロック検出信号LD1,LD
2を入力している。OR回路8はロック検出信号LD
1,LD2のいずれか一方がHレベルである、すなわ
ち、PLL周波数シンセサイザ3,6のいずれか一方が
アンロック状態であると、Hレベルの信号S3を出力す
る。OR回路8はロック検出信号LD1,LD2が共に
Lレベルである、すなわち、PLL周波数シンセサイザ
3,6が共にロック状態であると、Lレベルの信号S3
を出力する。
【0011】このように構成された半導体集積回路にお
いて、PLL周波数シンセサイザ6がロックしていてロ
ック検出信号LD2がLレベルであるとする。このと
き、電源V1が遮断されると、PLL周波数シンセサイ
ザ3及びロック検出回路4が停止される。この場合、P
LL周波数シンセサイザ3は電源V1を遮断されてアン
ロック状態であるため、信号S3はHレベルとなる必要
がある。
【0012】ところが、電源V1が遮断されているた
め、検出信号LD1の電位は不定となる。その結果、信
号S3の電位はロック検出信号LD1と同様に不定とな
ってしまい、半導体集積回路全体が所望の動作を行えな
い。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記問題点を
解決するためになされたものであって、その目的は、低
消費電力化を図りつつ、電源が遮断されても論理回路の
出力信号の電位を予め定められた電位にすることができ
る半導体集積回路を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図である。第1の論理回路11は第1の電源V1を動作
電源として供給されており、入力信号IN2の電位に基
づく第1の信号S11を出力する。
【0015】第2の論理回路12は第2の電源V2を動
作電源として供給されており、第1の信号S11の電位
に基づく第2の信号S12を出力する。不定出力検出回
路13は第1の電源V1及び第2の電源V2を動作電源
として供給されており、第1の電源V1の遮断に基づい
て第1の信号S11の電位が不定であることを検出す
る。
【0016】制御回路14は、不定出力検出回路13に
よって第1の信号S11の電位が不定であると検出され
たとき、該第1の信号S11を無効化し、第2の信号S
12の電位が予め定められた電位になるように制御す
る。
【0017】(作用)従って、不定出力検出回路13に
よって第1の電源V1の遮断に基づいて第1の信号S1
1の電位が不定であることが検出される。不定出力検出
回路13によって第1の信号S11の電位が不定である
と検出されたとき、制御回路14によって第1の信号S
11が無効化され、第2の信号S12の電位が予め定め
られた電位になるように制御される。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図
2,図3に従って説明する。図2は本形態の半導体集積
回路を示し、第1の論理回路としてのPLL周波数シン
セサイザ21、第2の論理回路23、不定出力検出回路
27及び制御回路36を備えている。
【0019】PLL周波数シンセサイザ21は第1の電
源V1及び低電位電源としてのグランドGNDを動作電
源として供給されている。PLL周波数シンセサイザ2
1は水晶発振器の発振信号に基づいて設定周波数と等し
い周波数の出力信号をfv1を出力する。
【0020】PLL周波数シンセサイザ21は、PLL
のロック状態を検出するためのロック検出回路22を備
えており、検出結果に応じて第1の信号としてのロック
検出信号LD1を出力する。ロック検出回路22はロッ
ク状態を検出するとLレベルの検出信号LD1を出力
し、アンロック状態を検出しているとHレベルの検出信
号LD1を出力する。
【0021】なお、PLLのロック状態とはPLL周波
数シンセサイザの出力信号を分周した比較信号の位相
と、前記発振信号を分周した基準信号の位相とが一致し
ている状態である。
【0022】第2の論理回路23はPLL周波数シンセ
サイザ24及び2入力OR回路26を備えており、第2
の電源V2及びグランドGNDを動作電源として供給さ
れている。PLL周波数シンセサイザ24も前記発振信
号に基づいて設定周波数と等しい周波数の出力信号をf
v2を出力する。
【0023】PLL周波数シンセサイザ24は、PLL
のロック状態を検出するためのロック検出回路25を備
え、ロック検出回路25はロック状態を検出するとLレ
ベルの検出信号LD2を出力し、アンロック状態を検出
しているとHレベルの検出信号LD2を出力する。
【0024】OR回路26はロック検出信号LD2と、
制御回路36の出力信号S39を入力しており、両信号
LD2,S39の電位に基づいて第2の信号としての信
号S26を出力する。
【0025】不定出力検出回路27は、電源V1,V2
を動作電源として供給されており、電源V1の遮断に基
づいて第1の信号LD1の電位が不定であることを検出
する。
【0026】不定出力検出回路27は、第1のインバー
タ28と第2のインバータとしてのCMOSインバータ
31とを備える。インバータ28は電源V1に一端が接
続された抵抗回路としてのpMOSトランジスタ29
と、pMOSトランジスタ29とグランドGNDとの間
に接続された第1のMOSトランジスタとしてのnMO
Sトランジスタ30とからなる。pMOSトランジスタ
29のゲートはグランドGNDに接続されており、pM
OSトランジスタ29は常時オンしている。nMOSト
ランジスタ30のゲートにはCMOSインバータ31の
出力信号DUが入力されている。インバータ28はpM
OSトランジスタ29とnMOSトランジスタ30との
間の出力端子から電源V1の遮断に基づく検出信号を出
力する。
【0027】CMOSインバータ31は電源V2及びグ
ランドGND間に直列に接続された第2のMOSトラン
ジスタとしてのpMOSトランジスタ32及び第3のM
OSトランジスタとしてのnMOSトランジスタ33か
らなる。CMOSインバータ31は第1のインバータ2
8の検出信号を反転した検出信号DUを出力する。
【0028】また、第1のインバータ28の出力端子と
グランドGNDとの間にはプルダウン抵抗34が接続さ
れている。同抵抗34は電源V1が遮断されたとき、イ
ンバータ28の出力端子の電位を速やかにグランドGN
Dレベルにするためのものである。
【0029】制御回路36は、ディレイ調整回路37及
び第3の論理回路としての2入力OR回路39を備え、
制御回路36は電源V2及びグランドGNDを動作電源
として供給されている。
【0030】ディレイ調整回路37は直列に接続された
偶数個のインバータ38からなり、前記ロック検出信号
LD1を遅延させた信号LD11を出力する。OR回路
39は信号LD11を入力するとともに、不定出力検出
回路27の検出信号DUを入力しており、両信号LD
1,DUの電位に基づく信号S39を出力する。検出信
号DUがLレベルであると、OR回路39はディレイ調
整回路37の出力信号LD11を通過させる。また、検
出信号DUがHレベルであると、OR回路39は出力信
号LD11を遮断することによって出力信号LD11を
無効化する。
【0031】さて、このように構成された半導体集積回
路において、PLL周波数シンセサイザ24がロックし
ていてロック検出信号LD2がLレベルであるとする。
このとき、不定出力検出回路27では第1のインバータ
28の検出信号はHレベル(電源V1のレベル)とな
り、pMOSトランジスタ32はオフしnMOSトラン
ジスタ33がオンし、CMOSインバータ31からはL
レベルの検出信号DUが出力される。検出信号DUがL
レベルであるため、nMOSトランジスタ30はオフさ
れ、インバータ28の検出信号はHレベルに維持され
る。
【0032】検出信号DUがLレベルであるため、ロッ
ク検出信号LD1を遅延させた信号LD11がOR回路
39を通過して信号S39として出力される。従って、
PLL周波数シンセサイザ21がロックしていてロック
検出信号LD1がLレベルであれば、信号S39はLレ
ベルとなる。PLL周波数シンセサイザ21がアンロッ
ク状態でロック検出信号LD1がHレベルであれば、信
号S39はHレベルとなる。
【0033】また、ロック検出信号LD2がLレベルで
あるため、信号S39がOR回路26を通過して信号S
26として出力される。従って、ロック検出信号LD1
がLレベルであれば、信号S26はLレベルとなり、ロ
ック検出信号LD1がHレベルであれば、信号S26は
Hレベルとなる。
【0034】次に、電源V1が遮断されると、PLL周
波数シンセサイザ21及びロック検出回路22が停止さ
れ、PLL周波数シンセサイザ21はアンロック状態と
なる。すると、ロック検出信号LD1の電位は不定とな
る。ロック検出信号LD1はディレイ調整回路37によ
って所定の遅延時間だけ遅れて信号LD11として出力
される。
【0035】このとき、不定出力検出回路27では第1
のインバータ28の検出信号はプルダウン抵抗34によ
ってLレベル(グランドGNDのレベル)にされる。そ
のため、pMOSトランジスタ32はオンしnMOSト
ランジスタ33がオフし、CMOSインバータ31から
はHレベルの検出信号DUが出力される。検出信号DU
がHレベルになるため、nMOSトランジスタ30はオ
ンされ、インバータ28の検出信号はLレベルに維持さ
れる。
【0036】検出信号DUがHレベルであるため、OR
回路39の出力信号S39はHレベルとなり、ロック検
出信号LD1を遅延させた信号LD11は遮断されて無
効化される。
【0037】このとき、ロック検出信号LD2はLレベ
ルであるが、信号S39がHレベルであるため、OR回
路26の信号S26はHレベルとなり、PLL周波数シ
ンセサイザ21のアンロック状態を検出する。その結
果、半導体集積回路全体が所望の動作をする。
【0038】さて、本実施の形態は、以下の効果があ
る。 (1)不定出力検出回路27は第1の電源V1が遮断さ
れるとロック検出信号LD1の電位が不定であることを
検出してHレベルの検出信号DUを出力し、ロック検出
信号LD1を無効化する。そのため、第1の電源V1が
遮断されたときPLL周波数シンセサイザ21のアンロ
ック状態を検出でき、半導体集積回路の低消費電力化を
図りつつ、半導体集積回路を正常かつ安定に動作させる
ことができる。
【0039】(2)不定出力検出回路27は、インバー
タ28の出力端子とグランドGNDとの間にプルダウン
抵抗34を設けているため、電源V1が遮断されたと
き、同抵抗34によってインバータ28の検出信号を速
やかにグランドGNDレベルにすることができる。
【0040】(3)不定出力検出回路27はインバータ
28の検出信号をCMOSインバータ31に入力し、C
MOSインバータ31の出力信号をインバータ28のn
MOSトランジスタ30に入力するようにしている。そ
のため、インバータ28が第1の電源V1の遮断を検出
してLレベルの検出信号を出力すると、Hレベルの検出
信号DUに基づいてインバータ28の検出信号をLレベ
ルに維持することができる。
【0041】(4)制御回路36は、ロック検出回路2
2のロック検出信号LD1を遅延させた信号LD11を
出力するディレイ調整回路37を設けた。そのため、不
定出力検出回路27の検出信号DUの電位の変化を、ロ
ック検出信号LD1の電位の変化よりも速くOR回路3
9に伝えることができ、電源V1が遮断されたときPL
L周波数シンセサイザ21のアンロック状態を確実に検
出でき、半導体集積回路を正常かつ安定に動作させるこ
とができる。
【0042】なお、本発明は次のように任意に変更して
具体化することも可能である。 (1)前記不定出力検出回路27に代えて、図4に示す
不定出力検出回路41を用いる。この不定出力検出回路
41は前記不定出力検出回路27の構成におけるプルダ
ウン抵抗34を省略し、第3のインバータとしてpMO
Sトランジスタ43及びnMOSトランジスタ44より
なるCMOSインバータ42を設けている。CMOSイ
ンバータ42はCMOSインバータ31の出力信号を反
転した信号を制御回路に出力する。なお、この場合に
は、制御回路36におけるOR回路39をAND回路に
変更すればよい。
【0043】この不定出力検出回路41においては、電
源V1が遮断されると、第1のインバータ28の検出信
号は徐々に低下しLレベル(グランドGNDのレベル)
になる。そのため、CMOSインバータ31からHレベ
ルの信号が出力され、CMOSインバータ42からLレ
ベルの検出信号DUが出力される。なお、CMOSイン
バータ31の出力信号がHレベルであるため、インバー
タ28の出力信号はLレベルに維持される。この場合に
も、前記不定出力検出回路27と同様の効果がある。
【0044】(2)制御回路におけるディレイ調整回路
として、図5に示すように、抵抗47及びコンデンサ4
8よりなる積分回路46を用いてもよい。この場合に
も、前記ディレイ調整回路37と同様の作用及び効果が
ある。
【0045】(3)不定出力検出回路27におけるCM
OSインバータ31に代えて、pMOSトランジスタを
負荷とし、nMOSトランジスタを出力トランジスタと
するインバータを用いてもよい。この場合にも、前記C
MOSインバータ31と同様の作用及び効果がある。
【0046】(4)上記の形態において、電源V1が遮
断されたとき、不定出力検出回路27の検出信号DUの
出力の変化が、ロック検出信号LD1の電位が不定にな
るよりも速い場合には、ディレイ調整回路37を省略し
てもよい。この場合にも、上記形態と同様の作用及び効
果がある。
【0047】上記の各実施の形態からから把握できる請
求項以外の技術的思想について、以下に記載する。 (イ)前記不定出力検出回路は、前記第2の電源が動作
電源として供給され、かつ、前記第2のインバータの出
力信号を反転した信号を出力する第3のインバータを備
える請求項2〜4のいずれか一項に記載の半導体集積回
路。
【0048】インバータ・・・この明細書においてイン
バータとは入力信号の電位を反転した信号を出力する回
路を意味し、CMOSインバータや、pMOSトランジ
スタを負荷とするインバータを含むものとする。
【0049】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明は、低消費
電力化を図りつつ、電源が遮断されても論理回路の出力
信号の電位を予め定められた電位にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図
【図2】実施の形態の半導体集積回路を示す回路図
【図3】図2の半導体集積回路の作用を示すタイムチャ
ート
【図4】別の不定出力検出回路を示す回路図
【図5】別のディレイ調整回路を示す回路図
【図6】従来の半導体集積回路を示すブロック図
【図7】従来の半導体集積回路を示す回路図
【符号の説明】
11 第1の論理回路 12 第2の論理回路 13 不定出力検出回路 14 制御回路 28 第1のインバータ 29 抵抗回路としてのpMOSトランジスタ 30 第1のMOSトランジスタとしてのnMOSトラ
ンジスタ 31 第2のインバータとしてのCMOSインバータ 32 第2のMOSトランジスタとしてのpMOSトラ
ンジスタ 33 第3のMOSトランジスタとしてのnMOSトラ
ンジスタ 34 プルダウン抵抗 37 ディレイ調整回路 39 第3の論理回路としてのOR回路 GND 低電位電源としてのグランド IN2 入力信号 S11 第1の信号 S12 第2の信号 V1 第1の電源 V2 第2の電源

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の電源が動作電源として供給され、
    かつ、入力信号の電位に基づく第1の信号を出力する第
    1の論理回路と、 第2の電源が動作電源として供給されるとともに、前記
    第1の信号の電位に基づく第2の信号を出力する第2の
    論理回路と、 前記第1及び第2の電源が動作電源として供給され、か
    つ、前記第1の電源の遮断に基づいて前記第1の信号の
    電位が不定であることを検出するための不定出力検出回
    路と、 前記不定出力検出回路によって前記第1の信号の電位が
    不定であると検出されたとき、該第1の信号を無効化
    し、前記第2の信号の電位が予め定められた電位になる
    ように制御する制御回路とを備える半導体集積回路。
  2. 【請求項2】 前記不定出力検出回路は、前記第1の電
    源に一端が接続された抵抗回路と、前記抵抗回路の他端
    と低電位電源との間に接続された第1のMOSトランジ
    スタとを備え、前記抵抗回路及び第1のMOSトランジ
    スタ間の出力端子から前記第1の電源の遮断に基づく検
    出信号を出力する第1のインバータと、 前記第2の電源及び前記低電位電源間に直列に接続され
    た第2及び第3のMOSトランジスタを有し、該第2及
    び第3のMOSトランジスタ間の出力端子から前記第1
    のインバータの検出信号を反転した信号を前記第1のM
    OSトランジスタに供給する第2のインバータとを備え
    る請求項1に記載の半導体集積回路。
  3. 【請求項3】 前記不定出力検出回路は、前記第1のイ
    ンバータの出力端子と前記低電位電源との間にプルダウ
    ン抵抗を備える請求項2に記載の半導体集積回路。
  4. 【請求項4】 前記制御回路は、前記第2の電源が動作
    電源として供給され、かつ、前記第1の信号を遅延させ
    るためのディレイ調整回路と、 前記不定出力検出回路の検出結果に基づいて前記ディレ
    イ調整回路の出力信号の通過及び遮断を制御するための
    第3の論理回路とを備える請求項1〜3のいずれか一項
    に記載の半導体集積回路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2001028087A (ja) * 1999-07-13 2001-01-30 Kawamura Electric Inc 警報装置
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