JPH0919419A - 検査装置 - Google Patents
検査装置Info
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- JPH0919419A JPH0919419A JP18981595A JP18981595A JPH0919419A JP H0919419 A JPH0919419 A JP H0919419A JP 18981595 A JP18981595 A JP 18981595A JP 18981595 A JP18981595 A JP 18981595A JP H0919419 A JPH0919419 A JP H0919419A
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- Japan
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- answer
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- Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
- Medical Treatment And Welfare Office Work (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 専門家による検査や診断を受けなくとも、簡
便、かつ、容易に痴呆傾向を判定し得る検査装置を実現
する。 【解決手段】 入力操作部２の操作に対応した検査問題
を発生してＬＣＤパネル３ａに設問／図形表示し、この
ＬＣＤパネル３ａに積層された透明タッチパネル３ｂに
てなされる回答操作に応じた回答図形データと問題解答
とを比較して採点評価するので、専門家による知能検査
を受ける必要がなく、簡便で容易に痴呆傾向を判定する
ことが可能になる。
便、かつ、容易に痴呆傾向を判定し得る検査装置を実現
する。 【解決手段】 入力操作部２の操作に対応した検査問題
を発生してＬＣＤパネル３ａに設問／図形表示し、この
ＬＣＤパネル３ａに積層された透明タッチパネル３ｂに
てなされる回答操作に応じた回答図形データと問題解答
とを比較して採点評価するので、専門家による知能検査
を受ける必要がなく、簡便で容易に痴呆傾向を判定する
ことが可能になる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、脳血管性
痴呆やアルツハイマー型痴呆等の老人性痴呆症の診断に
用いて好適な検査装置に関する。
痴呆やアルツハイマー型痴呆等の老人性痴呆症の診断に
用いて好適な検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年の著しい高齢化に伴い、アルツハイ
マー型痴呆や脳血管性痴呆など加齢に伴う老人性痴呆症
が増加しており、痴呆の兆候や傾向をスクリーニングす
る知能検査の必要性が高まりつつある。痴呆の兆候が認
められる被験者に対しては周知の一般知能検査が適用し
難い場合が多い。そこで、痴呆傾向を判定する為に、
「長谷川式簡易知的機能スケール」あるいは「国立精研
式痴呆スクリーニングテスト」等で知られる質問形式の
老人用痴呆尺度や、アンケート形式の行動評価尺度およ
び精神症状評価尺度が確立されている。
マー型痴呆や脳血管性痴呆など加齢に伴う老人性痴呆症
が増加しており、痴呆の兆候や傾向をスクリーニングす
る知能検査の必要性が高まりつつある。痴呆の兆候が認
められる被験者に対しては周知の一般知能検査が適用し
難い場合が多い。そこで、痴呆傾向を判定する為に、
「長谷川式簡易知的機能スケール」あるいは「国立精研
式痴呆スクリーニングテスト」等で知られる質問形式の
老人用痴呆尺度や、アンケート形式の行動評価尺度およ
び精神症状評価尺度が確立されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、痴呆傾向を
スクリーニングする検査は、言うまでもなく専門家によ
る判断が必須となり、一般人が日常で簡便、かつ、容易
に検査し得るものではない。また、こうした検査は、殆
どの場合、医師や専門家との面談でなされる場合が多
く、医師や専門家の知識や経験だけが判断の目安になっ
ているのが現状である。そこで、本発明は、上述した事
情に鑑みてなされたもので、簡便、かつ、容易に痴呆傾
向を判定し得る検査装置を提供することを目的としてい
る。
スクリーニングする検査は、言うまでもなく専門家によ
る判断が必須となり、一般人が日常で簡便、かつ、容易
に検査し得るものではない。また、こうした検査は、殆
どの場合、医師や専門家との面談でなされる場合が多
く、医師や専門家の知識や経験だけが判断の目安になっ
ているのが現状である。そこで、本発明は、上述した事
情に鑑みてなされたもので、簡便、かつ、容易に痴呆傾
向を判定し得る検査装置を提供することを目的としてい
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に記載の発明では、入力操作に応じて複数
の検査項目のいずれかを指定する項目指定手段と、この
項目指定手段が指定する検査項目に対応する図形問題お
よびその解答を発生する問題発生手段と、この問題発生
手段が発生する図形問題を表示する問題表示手段と、前
記図形問題に対応した回答を入力する回答入力手段と、
この回答入力手段により入力される回答と前記図形問題
の解答とを比較演算して採点すると共に、その採点結果
に応じて痴呆傾向を評価する評価手段とを具備すること
を特徴としている。
め、請求項１に記載の発明では、入力操作に応じて複数
の検査項目のいずれかを指定する項目指定手段と、この
項目指定手段が指定する検査項目に対応する図形問題お
よびその解答を発生する問題発生手段と、この問題発生
手段が発生する図形問題を表示する問題表示手段と、前
記図形問題に対応した回答を入力する回答入力手段と、
この回答入力手段により入力される回答と前記図形問題
の解答とを比較演算して採点すると共に、その採点結果
に応じて痴呆傾向を評価する評価手段とを具備すること
を特徴としている。
【０００５】上記請求項１に従属する請求項２に記載の
発明によれば、前記問題表示手段および解答入力手段と
は、積層されて一体形成されることを特徴としている。
また、請求項１に従属する請求項３に記載の発明によれ
ば、前記評価手段は、前記回答入力手段により入力され
る回答と前記図形問題の解答とを比較演算して被験者の
精神機能、知能および視覚運動機能を判定することを特
徴とする。
発明によれば、前記問題表示手段および解答入力手段と
は、積層されて一体形成されることを特徴としている。
また、請求項１に従属する請求項３に記載の発明によれ
ば、前記評価手段は、前記回答入力手段により入力され
る回答と前記図形問題の解答とを比較演算して被験者の
精神機能、知能および視覚運動機能を判定することを特
徴とする。
【０００６】本発明では、項目指定手段が入力操作に応
じて複数の検査項目のいずれかを指定すると、問題発生
手段が指定された検査項目に対応する図形問題およびそ
の解答を発生する。そして、回答入力手段が図形問題に
対応した回答を入力すると、評価手段が入力される回答
と前記図形問題の解答とを比較演算して採点すると共
に、その採点結果に応じて痴呆傾向を評価する。これに
より、専門家による検査や診断を受けなくとも、簡便、
かつ、容易に痴呆傾向を判定することが可能になる。
じて複数の検査項目のいずれかを指定すると、問題発生
手段が指定された検査項目に対応する図形問題およびそ
の解答を発生する。そして、回答入力手段が図形問題に
対応した回答を入力すると、評価手段が入力される回答
と前記図形問題の解答とを比較演算して採点すると共
に、その採点結果に応じて痴呆傾向を評価する。これに
より、専門家による検査や診断を受けなくとも、簡便、
かつ、容易に痴呆傾向を判定することが可能になる。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明による検査装置は、電子手
帳や所謂、電卓など携帯型電子装置に適用され得る。以
下では、本発明の実施の形態である携帯型電子装置を実
施例として図面を参照して説明する。 Ａ．実施例の外観 図１は、本発明の一実施例によるカード型の検査装置１
の外観を示す図である。この図において、２はコマンド
入力キーや文字入力キーなどの複数の操作キーからなる
入力操作キーであり、各キー操作に応じた操作信号を発
生する。ここで、コマンド入力キーとは、検査装置１の
動作モードを指定するキーであり、例えば、検査問題を
出題する際に操作される出題キー、回答完了後にその得
点集計を指示する得点キー、あるいは得点集計された成
績を評価する際に操作される評価キー等が設けられてい
る。３は表示・入力タブレットであり、後述するＬＣＤ
パネル３ａ上にマトリクススイッチが設けられた透明タ
ッチパネル３ｂを積層して一体形成されている。このタ
ブレット３では、下層のＬＣＤパネル３ａに問題文や図
形が表示され、これを被験者が視認して上層の透明タッ
チパネル３ｂにペンＰで筆記操作して回答するようにな
っている。
帳や所謂、電卓など携帯型電子装置に適用され得る。以
下では、本発明の実施の形態である携帯型電子装置を実
施例として図面を参照して説明する。 Ａ．実施例の外観 図１は、本発明の一実施例によるカード型の検査装置１
の外観を示す図である。この図において、２はコマンド
入力キーや文字入力キーなどの複数の操作キーからなる
入力操作キーであり、各キー操作に応じた操作信号を発
生する。ここで、コマンド入力キーとは、検査装置１の
動作モードを指定するキーであり、例えば、検査問題を
出題する際に操作される出題キー、回答完了後にその得
点集計を指示する得点キー、あるいは得点集計された成
績を評価する際に操作される評価キー等が設けられてい
る。３は表示・入力タブレットであり、後述するＬＣＤ
パネル３ａ上にマトリクススイッチが設けられた透明タ
ッチパネル３ｂを積層して一体形成されている。このタ
ブレット３では、下層のＬＣＤパネル３ａに問題文や図
形が表示され、これを被験者が視認して上層の透明タッ
チパネル３ｂにペンＰで筆記操作して回答するようにな
っている。
【０００８】Ｂ．実施例の構成 次に、図２を参照して上記外観による検査装置１の全体
構成について説明する。なお、この図において、図１に
示す部分と共通する要素には同一の番号を付している。
検査装置１は、「入力部」、「制御部」、「計時部」、
「問題発生部」、「回答集計部」および「表示制御部」
に大別でき、以下ではこれら各部の構成について説明し
て行く。
構成について説明する。なお、この図において、図１に
示す部分と共通する要素には同一の番号を付している。
検査装置１は、「入力部」、「制御部」、「計時部」、
「問題発生部」、「回答集計部」および「表示制御部」
に大別でき、以下ではこれら各部の構成について説明し
て行く。
【０００９】（１）入力部 図２において、入力制御部４は、上述した入力操作キー
２のキーマトリクスに一定周期毎にスキャン信号を供給
してキー操作を検出すると共に、透明タッチパネル３ｂ
のマトリクス電極にスキャン信号を供給してタッチ操作
を検出する。この入力制御部４は、検出したキー操作お
よびタッチ操作に応じた操作信号を発生する。５はコマ
ンド入力回路であり、コマンド入力キーの操作に対応し
て上記入力制御部４が発生する操作信号に応じた動作指
示データを発生する。６は文字入力キーの操作に対応し
て入力制御部４が発生する操作信号に応じた文字入力デ
ータを発生する。７は座標入力回路であり、透明タッチ
パネル３ｂのタッチ操作に対応して入力制御部４が発生
する操作信号に基づき座標データを発生する。なお、上
述した透明タッチパネル３ｂは、図３に示すように、ス
ペーサＳＰを介して互いに対向配置される透明パネルＰ
Ｎ１，ＰＮ２の各内面側に透明電極Ｄ１，Ｄ２をマトリ
クス配置したものである。
２のキーマトリクスに一定周期毎にスキャン信号を供給
してキー操作を検出すると共に、透明タッチパネル３ｂ
のマトリクス電極にスキャン信号を供給してタッチ操作
を検出する。この入力制御部４は、検出したキー操作お
よびタッチ操作に応じた操作信号を発生する。５はコマ
ンド入力回路であり、コマンド入力キーの操作に対応し
て上記入力制御部４が発生する操作信号に応じた動作指
示データを発生する。６は文字入力キーの操作に対応し
て入力制御部４が発生する操作信号に応じた文字入力デ
ータを発生する。７は座標入力回路であり、透明タッチ
パネル３ｂのタッチ操作に対応して入力制御部４が発生
する操作信号に基づき座標データを発生する。なお、上
述した透明タッチパネル３ｂは、図３に示すように、ス
ペーサＳＰを介して互いに対向配置される透明パネルＰ
Ｎ１，ＰＮ２の各内面側に透明電極Ｄ１，Ｄ２をマトリ
クス配置したものである。
【００１０】（２）制御部 図２に示す制御回路８は、ＣＰＵ，ＲＯＭおよびＲＡＭ
から構成され、上記回路５〜７から供給される各データ
に応じて装置各部を制御する。また、制御回路８には、
後述する分周回路１０から動作タイミングを規定する動
作クロックが入力される。 （３）計時部 ９は発振回路であり、クロック原振信号を出力する。分
周回路１０は、発振回路９から供給されるクロック原振
信号を分周して各部の動作クロックや経時の基準信号と
なる計時クロックを発生する。１１は計時クロックに基
づきタイマデータや、現在時刻および日付を表わす計時
データを発生する計時回路である。
から構成され、上記回路５〜７から供給される各データ
に応じて装置各部を制御する。また、制御回路８には、
後述する分周回路１０から動作タイミングを規定する動
作クロックが入力される。 （３）計時部 ９は発振回路であり、クロック原振信号を出力する。分
周回路１０は、発振回路９から供給されるクロック原振
信号を分周して各部の動作クロックや経時の基準信号と
なる計時クロックを発生する。１１は計時クロックに基
づきタイマデータや、現在時刻および日付を表わす計時
データを発生する計時回路である。
【００１１】（４）問題発生部 １２は出題制御回路であり、上述した動作指示データに
応じて制御回路１０が発生する信号に基づいて所定の検
査問題を発生させるべく設問指示データを次段の設問作
成部１３へ出力する。設問作成部１３では、この設問指
示データを受けて設問ライブラリ１４から対応する設問
データを読み出して出力する。１５は上記設問作成部１
３から供給される設問データに対応する検査問題文を発
生する文章作成部である。１６は図形作成部であり、設
問作成部１３から供給される設問データに対応する図
形、すなわち、検査問題に使用する問題図形を、図形ラ
イブラリ１７を参照して読み出し、次段へ出力する。図
形ライブラリ１７には、設問データに対応した複数の問
題図形を形成するための図形データが記憶されている。
応じて制御回路１０が発生する信号に基づいて所定の検
査問題を発生させるべく設問指示データを次段の設問作
成部１３へ出力する。設問作成部１３では、この設問指
示データを受けて設問ライブラリ１４から対応する設問
データを読み出して出力する。１５は上記設問作成部１
３から供給される設問データに対応する検査問題文を発
生する文章作成部である。１６は図形作成部であり、設
問作成部１３から供給される設問データに対応する図
形、すなわち、検査問題に使用する問題図形を、図形ラ
イブラリ１７を参照して読み出し、次段へ出力する。図
形ライブラリ１７には、設問データに対応した複数の問
題図形を形成するための図形データが記憶されている。
【００１２】（５）回答集計部 １８は、透明タッチパネル３ｂによる座標入力（描画入
力）を制御回路８を介して取込む回答図形入力回路であ
る。１９は入力操作キー２による数値入力を制御回路８
を介して取り込む数値入力回路である。２０は図形座標
比較回路であり、設問作成部１３が発生する設問データ
と、図形作成部１６が発生する図形データとを参照して
回答図形入力回路１８から出力される回答図形データの
適否、つまり、入力図形や入力打点の座標位置が適正で
あるかどうかを判断する。２１は数値入力回路１９を介
して入力される数値に基づき周知の電卓と同様に四則演
算を行ったり、図形座標比較回路２０から供給される比
較結果に基づき評価演算を施す演算部である。２２は採
点／得点集計回路であり、図形座標比較回路２０から出
力さえる比較結果に応じて採点／集計する一方、上記演
算部２１から供給される評価演算結果を成績データに変
換して出力する。
力）を制御回路８を介して取込む回答図形入力回路であ
る。１９は入力操作キー２による数値入力を制御回路８
を介して取り込む数値入力回路である。２０は図形座標
比較回路であり、設問作成部１３が発生する設問データ
と、図形作成部１６が発生する図形データとを参照して
回答図形入力回路１８から出力される回答図形データの
適否、つまり、入力図形や入力打点の座標位置が適正で
あるかどうかを判断する。２１は数値入力回路１９を介
して入力される数値に基づき周知の電卓と同様に四則演
算を行ったり、図形座標比較回路２０から供給される比
較結果に基づき評価演算を施す演算部である。２２は採
点／得点集計回路であり、図形座標比較回路２０から出
力さえる比較結果に応じて採点／集計する一方、上記演
算部２１から供給される評価演算結果を成績データに変
換して出力する。
【００１３】（６）表示制御部 ２３は上述した計時部、問題発生部および回答集計部か
ら出力される各種データを文字データ、座標データおよ
び図形データに分別して次段へ出力する表示制御回路で
ある。２４は文字記号表示回路であり、表示制御回路２
３から供給される文字データをキャラクタデータに変換
して出力する。２５は座標表示回路であり、表示制御回
路２３から供給される座標データを、座標位置を示すた
めのドット表示データに変換して出力する。２６は前段
から供給される図形データを、図形表示するためのドッ
ト表示データに変換して出力する図形表示回路である。
２７は、これら表示回路２４〜２６から出力されるキャ
ラクタデータあるいは座標、図形表示用のドット表示デ
ータに応じてＬＣＤパネル３ａを表示駆動する表示駆動
回路である。
ら出力される各種データを文字データ、座標データおよ
び図形データに分別して次段へ出力する表示制御回路で
ある。２４は文字記号表示回路であり、表示制御回路２
３から供給される文字データをキャラクタデータに変換
して出力する。２５は座標表示回路であり、表示制御回
路２３から供給される座標データを、座標位置を示すた
めのドット表示データに変換して出力する。２６は前段
から供給される図形データを、図形表示するためのドッ
ト表示データに変換して出力する図形表示回路である。
２７は、これら表示回路２４〜２６から出力されるキャ
ラクタデータあるいは座標、図形表示用のドット表示デ
ータに応じてＬＣＤパネル３ａを表示駆動する表示駆動
回路である。
【００１４】Ｃ．実施例の動作 次に、図４〜図７を参照して上記構成による検査装置１
の動作について説明する。ここでは、痴呆傾向を判定す
る為の図形模写問題および打点問題を発生し、その回答
に基づいて評価する一例を挙げて説明して行く。 （１）図形模写問題の発生および採点評価 図形模写問題とは、ＬＣＤパネル３ａに参照図形を表示
しておき、この参照図形と同じ図形を被験者に描かせる
問題であり、描かれた図形と参照図形とを対比して痴呆
傾向を評価するものである。この場合、まず、図形模写
問題を選択すべく入力操作キー２を操作すると、制御回
路８がそのキー操作に応じて出題制御回路１２に対応す
る問題を出題するよう指示する。そうすると、出題制御
回路１２は図形模写問題を発生させるべく設問指示デー
タを次段の設問作成部１３へ出力する。
の動作について説明する。ここでは、痴呆傾向を判定す
る為の図形模写問題および打点問題を発生し、その回答
に基づいて評価する一例を挙げて説明して行く。 （１）図形模写問題の発生および採点評価 図形模写問題とは、ＬＣＤパネル３ａに参照図形を表示
しておき、この参照図形と同じ図形を被験者に描かせる
問題であり、描かれた図形と参照図形とを対比して痴呆
傾向を評価するものである。この場合、まず、図形模写
問題を選択すべく入力操作キー２を操作すると、制御回
路８がそのキー操作に応じて出題制御回路１２に対応す
る問題を出題するよう指示する。そうすると、出題制御
回路１２は図形模写問題を発生させるべく設問指示デー
タを次段の設問作成部１３へ出力する。
【００１５】設問作成部１３では、この設問指示データ
を受けて設問ライブラリ１４から対応する設問データを
読み出して出力する一方、文章作成部１５が設問作成部
１３から供給される設問データに対応する検査問題文を
発生する。さらに、図形作成部１６が設問データに対応
した問題図形を発生する。これにより、表示制御部で
は、問題発生部から供給される各種データ（問題文、問
題図形）をＬＣＤパネル３ａに表示する。この結果、タ
ブレット３には図４に図示する図形模写問題が表示され
ることになる。
を受けて設問ライブラリ１４から対応する設問データを
読み出して出力する一方、文章作成部１５が設問作成部
１３から供給される設問データに対応する検査問題文を
発生する。さらに、図形作成部１６が設問データに対応
した問題図形を発生する。これにより、表示制御部で
は、問題発生部から供給される各種データ（問題文、問
題図形）をＬＣＤパネル３ａに表示する。この結果、タ
ブレット３には図４に図示する図形模写問題が表示され
ることになる。
【００１６】図４では、タブレット３に参照図面ＲＤと
問題図面ＥＤとが表示される一方、その上部側に問題文
が表示され、この状態で被験者がペンＰを用いて問題図
面ＥＤ中に「出発点」から参照図形ＲＤを模写して描画
入力する。すると、その描画操作に応じてペンＰが透明
タッチパネル３ｂを押下し、これに応じた回答図形デー
タが座標入力回路７から制御回路８を介して回答図面入
力回路１８に供給され、スタート位置、終了位置および
方向が変わった位置の位置座標が夫々検出される。そし
て、当該回路１８は、夫々の位置座標を回答図形データ
として出力する。次に、図形座標比較回路２０は、設問
作成部１３から供給される設問データと、図形作成部１
６から供給される図形データとを参照して回答図形入力
回路１８が出力する回答図形データの適否、つまり、入
力図形や入力打点の座標位置が適正であるかどうかを判
断する。
問題図面ＥＤとが表示される一方、その上部側に問題文
が表示され、この状態で被験者がペンＰを用いて問題図
面ＥＤ中に「出発点」から参照図形ＲＤを模写して描画
入力する。すると、その描画操作に応じてペンＰが透明
タッチパネル３ｂを押下し、これに応じた回答図形デー
タが座標入力回路７から制御回路８を介して回答図面入
力回路１８に供給され、スタート位置、終了位置および
方向が変わった位置の位置座標が夫々検出される。そし
て、当該回路１８は、夫々の位置座標を回答図形データ
として出力する。次に、図形座標比較回路２０は、設問
作成部１３から供給される設問データと、図形作成部１
６から供給される図形データとを参照して回答図形入力
回路１８が出力する回答図形データの適否、つまり、入
力図形や入力打点の座標位置が適正であるかどうかを判
断する。
【００１７】ここで、図５を参照して図形座標比較回路
２０と採点／得点集計回路２２とによりなされる採点評
価方法について述べる。図５（イ）に示す参照図形に対
応する正解図形は、同図（ロ）に示す通り、点ｄ0，
ｄ1，ｄ2およびｄ3を結んだものとなり、各点ｄ0〜ｄ3
は座標（ｘ0，ｙ0），（ｘ1，ｙ1），（ｘ2，ｙ2），
（ｘ3，ｙ3）である。これに対し、例えば、同図（ハ）
に図示する回答図形が被験者によって描画された場合、
この回答図形は点Ｄ0，Ｄ1，Ｄ2およびＤ3を結んだもの
となり、各点Ｄ0〜Ｄ3は座標（Ｘ0，Ｙ0），（Ｘ1，
Ｙ1），（Ｘ2，Ｙ2），（Ｘ3，Ｙ3）となる。そして、
採点・評価では、回答図形と描画図形との差分、すなわ
ち、この例では、次式（１）に基づき各座標点間の差分
の和を合計得点Ｓとして算出すると共に、平均得点Ｓ’
を次式（２）により算出する。 Ｓ＝Σ｛（Ｘi−ｘi）2＋（Ｙi−ｙi）2｝1/2 但し、i=0,n=4 …（１） Ｓ’＝Ｓ／ｎ …（２） これにより、簡単に参照図形に対する描画図形の差異情
報を数値として評価し得る。
２０と採点／得点集計回路２２とによりなされる採点評
価方法について述べる。図５（イ）に示す参照図形に対
応する正解図形は、同図（ロ）に示す通り、点ｄ0，
ｄ1，ｄ2およびｄ3を結んだものとなり、各点ｄ0〜ｄ3
は座標（ｘ0，ｙ0），（ｘ1，ｙ1），（ｘ2，ｙ2），
（ｘ3，ｙ3）である。これに対し、例えば、同図（ハ）
に図示する回答図形が被験者によって描画された場合、
この回答図形は点Ｄ0，Ｄ1，Ｄ2およびＤ3を結んだもの
となり、各点Ｄ0〜Ｄ3は座標（Ｘ0，Ｙ0），（Ｘ1，
Ｙ1），（Ｘ2，Ｙ2），（Ｘ3，Ｙ3）となる。そして、
採点・評価では、回答図形と描画図形との差分、すなわ
ち、この例では、次式（１）に基づき各座標点間の差分
の和を合計得点Ｓとして算出すると共に、平均得点Ｓ’
を次式（２）により算出する。 Ｓ＝Σ｛（Ｘi−ｘi）2＋（Ｙi−ｙi）2｝1/2 但し、i=0,n=4 …（１） Ｓ’＝Ｓ／ｎ …（２） これにより、簡単に参照図形に対する描画図形の差異情
報を数値として評価し得る。
【００１８】（２）打点問題の発生および採点評価 次に、打点問題の発生および採点評価について説明す
る。打点問題とは、ＬＣＤパネル３ａに複数の異なる図
形を表示しておき、これら図形中に指定された数の点を
被験者に打点させる問題であり、指定された領域（図
形）内に正確に指定個数分の打点が描かれるかどうかを
判定するものである。この場合も上述した図形模写問題
と同様、入力操作キー２の操作により出題制御回路１２
に対応する問題を出題するよう指示すると、出題制御回
路１２が打点問題を発生させるべく設問指示データを設
問作成部１３へ出力する。
る。打点問題とは、ＬＣＤパネル３ａに複数の異なる図
形を表示しておき、これら図形中に指定された数の点を
被験者に打点させる問題であり、指定された領域（図
形）内に正確に指定個数分の打点が描かれるかどうかを
判定するものである。この場合も上述した図形模写問題
と同様、入力操作キー２の操作により出題制御回路１２
に対応する問題を出題するよう指示すると、出題制御回
路１２が打点問題を発生させるべく設問指示データを設
問作成部１３へ出力する。
【００１９】そうすると、設問作成部１３が設問指示デ
ータを受けて設問ライブラリ１４から対応する設問デー
タを読み出して出力する一方、文章作成部１５が設問作
成部１３から供給される設問データに対応する検査問題
文を発生する。さらに、図形作成部１６が設問データに
対応した問題図形を発生する。これにより、表示制御部
では、問題発生部から供給される各種データ（問題文、
問題図形）をＬＣＤパネル３ａに表示する。この結果、
例えば、ＬＣＤパネル３ｂには、図６に示すように、打
点領域を示す図形〜とその問題文とからなる打点問
題が表示される。
ータを受けて設問ライブラリ１４から対応する設問デー
タを読み出して出力する一方、文章作成部１５が設問作
成部１３から供給される設問データに対応する検査問題
文を発生する。さらに、図形作成部１６が設問データに
対応した問題図形を発生する。これにより、表示制御部
では、問題発生部から供給される各種データ（問題文、
問題図形）をＬＣＤパネル３ａに表示する。この結果、
例えば、ＬＣＤパネル３ｂには、図６に示すように、打
点領域を示す図形〜とその問題文とからなる打点問
題が表示される。
【００２０】そして、この状態で被験者がペンＰを用い
て各図形〜に指定数分の打点操作を透明タッチパネ
ル３ｂに加えると、この打点操作に応じた回答図形デー
タが座標入力回路７から制御回路８を介して回答図面入
力回路１８に供給され、当該回路１８が回答データを出
力する。そして、図形座標比較回路２０は、設問作成部
１３から供給される設問データと、図形作成部１６から
供給される図形データとを参照して回答図形入力回路１
８が出力する回答データの適否を判断する。
て各図形〜に指定数分の打点操作を透明タッチパネ
ル３ｂに加えると、この打点操作に応じた回答図形デー
タが座標入力回路７から制御回路８を介して回答図面入
力回路１８に供給され、当該回路１８が回答データを出
力する。そして、図形座標比較回路２０は、設問作成部
１３から供給される設問データと、図形作成部１６から
供給される図形データとを参照して回答図形入力回路１
８が出力する回答データの適否を判断する。
【００２１】ここで、図７を参照して図形座標比較回路
２０と採点／得点集計回路２２とによりなされる採点評
価方法について述べる。例えば、図６に図示した打点問
題に対して、図７（イ）に示す回答が得られたとする。
なお、この図において、黒丸は被験者により為された打
点位置を示している。この場合、正答は同図（ロ）に示
す通り、図形内部に打点された状態を指し、同図（ハ）
に示すように、打点位置が図形からはみ出したり、打点
数が規定数より過不足する場合には誤答となる。
２０と採点／得点集計回路２２とによりなされる採点評
価方法について述べる。例えば、図６に図示した打点問
題に対して、図７（イ）に示す回答が得られたとする。
なお、この図において、黒丸は被験者により為された打
点位置を示している。この場合、正答は同図（ロ）に示
す通り、図形内部に打点された状態を指し、同図（ハ）
に示すように、打点位置が図形からはみ出したり、打点
数が規定数より過不足する場合には誤答となる。
【００２２】そして、この場合、採点・評価は、次式
（１）に基づき算出される合計得点Ｓと、次式（２）で
算出される平均得点Ｓ’とからを式（２）により算出す
る。 Ｓ＝Σ｛（設問数−誤答設問数）i／（設問数）i｝ 但し、i=1,n=6 …（１） Ｓ’＝Ｓ／ｎ …（２） したがって、図７（イ）に示す回答例の場合、 Ｓ＝3/3+4/4+(3-1)/3+(4-1)/4+(3-1)/3+(3-1)/3=4.75 Ｓ’＝4.75/6=0.79 となり、簡単に数値化して評価することが可能になる。
（１）に基づき算出される合計得点Ｓと、次式（２）で
算出される平均得点Ｓ’とからを式（２）により算出す
る。 Ｓ＝Σ｛（設問数−誤答設問数）i／（設問数）i｝ 但し、i=1,n=6 …（１） Ｓ’＝Ｓ／ｎ …（２） したがって、図７（イ）に示す回答例の場合、 Ｓ＝3/3+4/4+(3-1)/3+(4-1)/4+(3-1)/3+(3-1)/3=4.75 Ｓ’＝4.75/6=0.79 となり、簡単に数値化して評価することが可能になる。
【００２３】このように、本実施例にあっては、入力操
作部２の操作に対応した検査問題を発生してＬＣＤパネ
ル３ａに設問／図形表示し、このＬＣＤパネル３ａに積
層された透明タッチパネル３ｂにてなされる回答操作に
応じた回答図形データと問題解答とを比較して採点評価
するので、専門家による知能検査を受ける必要がなく、
簡便で容易に痴呆傾向を判定することが可能になる。
作部２の操作に対応した検査問題を発生してＬＣＤパネ
ル３ａに設問／図形表示し、このＬＣＤパネル３ａに積
層された透明タッチパネル３ｂにてなされる回答操作に
応じた回答図形データと問題解答とを比較して採点評価
するので、専門家による知能検査を受ける必要がなく、
簡便で容易に痴呆傾向を判定することが可能になる。
【００２４】なお、上述した実施例では、痴呆傾向を判
定する知能検査問題として図形模写問題や打点問題を一
例にとり説明したが、これに限らず、絵画完成問題ある
いは縦線記入問題、線の二等分問題など痴呆傾向を判定
する多種多用な図形問題を発生し、かつ、評価し得るこ
とは勿論のことである。要は、ＬＣＤパネル３ａに表示
した問題に対して被験者が透明タッチパネル３ｂにおい
て為す回答操作を抽出して両者の比較から知能程度を評
価するものであれば、どんな形式の問題であろうとも具
現できる。また、本実施例では、例えば、カード型電卓
の機能として検査装置１を具体化したものを例示した
が、これに限らず、周知の電子手帳やハンディーターミ
ナルなどに適用することも可能である。また、パソコン
等のソフトとしてフロッピーディスクにプログラムを作
成することも出来る。
定する知能検査問題として図形模写問題や打点問題を一
例にとり説明したが、これに限らず、絵画完成問題ある
いは縦線記入問題、線の二等分問題など痴呆傾向を判定
する多種多用な図形問題を発生し、かつ、評価し得るこ
とは勿論のことである。要は、ＬＣＤパネル３ａに表示
した問題に対して被験者が透明タッチパネル３ｂにおい
て為す回答操作を抽出して両者の比較から知能程度を評
価するものであれば、どんな形式の問題であろうとも具
現できる。また、本実施例では、例えば、カード型電卓
の機能として検査装置１を具体化したものを例示した
が、これに限らず、周知の電子手帳やハンディーターミ
ナルなどに適用することも可能である。また、パソコン
等のソフトとしてフロッピーディスクにプログラムを作
成することも出来る。
【００２５】
【発明の効果】本発明によれば、項目指定手段が入力操
作に応じて複数の検査項目のいずれかを指定すると、問
題発生手段が指定された検査項目に対応する図形問題お
よびその解答を発生する。そして、回答入力手段が図形
問題に対応した回答を入力すると、評価手段が入力され
る回答と前記図形問題の解答とを比較演算して採点する
と共に、その採点結果に応じて痴呆傾向を評価するの
で、専門家による検査や診断を受けなくとも、簡便、か
つ、容易に痴呆傾向を判定することができる。
作に応じて複数の検査項目のいずれかを指定すると、問
題発生手段が指定された検査項目に対応する図形問題お
よびその解答を発生する。そして、回答入力手段が図形
問題に対応した回答を入力すると、評価手段が入力され
る回答と前記図形問題の解答とを比較演算して採点する
と共に、その採点結果に応じて痴呆傾向を評価するの
で、専門家による検査や診断を受けなくとも、簡便、か
つ、容易に痴呆傾向を判定することができる。
【図１】本発明による携帯型電子装置の一実施例の外観
を示す図である。
を示す図である。
【図２】同実施例の全体構成を示すブロック図である。
【図３】同実施例における透明タッチパネル３ｂの構造
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図４】同実施例による図形模写問題の出題例を示す図
である。
である。
【図５】同実施例による図形模写問題の採点・評価を説
明するための図である。
明するための図である。
【図６】同実施例による打点問題の出題例を示す図であ
る。
る。
【図７】同実施例による打点問題の採点・評価を説明す
るための図である。
るための図である。
２ 入力操作キー（項目指定手段） ３ａ ＬＣＤパネル（問題表示手段） ３ｂ 透明タッチパネル（回答入力手段） ４ 入力制御回路（項目指定手段、回答入力手段） ８ 制御回路（項目指定手段、問題発生手段、回答入力
手段、評価手段） １２ 出題制御回路（問題発生手段） １３ 設問作成回路（問題発生手段） １６ 図形作成部（問題発生手段） １８ 解答図形入力回路（回答入力手段） ２０ 図形座標比較回路（評価手段） ２２ 採点得点集計部（評価手段） ２３ 表示制御部（問題表示手段）
手段、評価手段） １２ 出題制御回路（問題発生手段） １３ 設問作成回路（問題発生手段） １６ 図形作成部（問題発生手段） １８ 解答図形入力回路（回答入力手段） ２０ 図形座標比較回路（評価手段） ２２ 採点得点集計部（評価手段） ２３ 表示制御部（問題表示手段）
Claims (3)
- 【請求項１】 入力操作に応じて複数の検査項目のいず
れかを指定する項目指定手段と、 この項目指定手段が指定する検査項目に対応する図形問
題およびその解答を発生する問題発生手段と、 この問題発生手段が発生する図形問題を表示する問題表
示手段と、 前記図形問題に対応した回答を入力する回答入力手段
と、 この回答入力手段により入力される回答と前記図形問題
の解答とを比較演算して採点すると共に、その採点結果
に応じて痴呆傾向を評価する評価手段とを具備すること
を特徴とする検査装置。 - 【請求項２】 前記問題表示手段および解答入力手段と
は、積層されて一体形成されることを特徴とする請求項
１記載の検査装置。 - 【請求項３】 前記評価手段は、前記回答入力手段によ
り入力される回答と前記図形問題の解答とを比較演算し
て被験者の精神機能、知能および視覚運動機能を判定す
ることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18981595A JPH0919419A (ja) | 1995-07-03 | 1995-07-03 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18981595A JPH0919419A (ja) | 1995-07-03 | 1995-07-03 | 検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0919419A true JPH0919419A (ja) | 1997-01-21 |
Family
ID=16247679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18981595A Pending JPH0919419A (ja) | 1995-07-03 | 1995-07-03 | 検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0919419A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020006125A (ko) * | 2000-07-11 | 2002-01-19 | 우진호 | 치매 환자 관리 시스템 |
| JP2003079631A (ja) * | 2001-09-17 | 2003-03-18 | Katsuya Uragami | 物忘れ自己診断システムおよびその方法、装置 |
| WO2003045252A1 (fr) * | 2001-11-28 | 2003-06-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Appareil d'evaluation de capacite de jugement, robot, procede d'evaluation de capacite de jugement, programme et support |
| CN100360076C (zh) * | 2005-04-01 | 2008-01-09 | 浙江工业大学 | 计算机辅助早期鉴别和预测老年性痴呆的装置 |
| WO2012169010A1 (ja) * | 2011-06-07 | 2012-12-13 | 株式会社日立製作所 | 生体特徴計測装置および生体特徴計測プログラム |
| JP2017140424A (ja) * | 2017-03-30 | 2017-08-17 | 日立マクセル株式会社 | 脳機能障害評価方法、脳機能障害評価装置およびそのプログラム |
-
1995
- 1995-07-03 JP JP18981595A patent/JPH0919419A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020006125A (ko) * | 2000-07-11 | 2002-01-19 | 우진호 | 치매 환자 관리 시스템 |
| JP2003079631A (ja) * | 2001-09-17 | 2003-03-18 | Katsuya Uragami | 物忘れ自己診断システムおよびその方法、装置 |
| WO2003045252A1 (fr) * | 2001-11-28 | 2003-06-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Appareil d'evaluation de capacite de jugement, robot, procede d'evaluation de capacite de jugement, programme et support |
| JPWO2003045252A1 (ja) * | 2001-11-28 | 2005-04-07 | 松下電器産業株式会社 | 判断力評価装置、ロボット、判断力評価方法、プログラム、および媒体 |
| CN100360076C (zh) * | 2005-04-01 | 2008-01-09 | 浙江工业大学 | 计算机辅助早期鉴别和预测老年性痴呆的装置 |
| WO2012169010A1 (ja) * | 2011-06-07 | 2012-12-13 | 株式会社日立製作所 | 生体特徴計測装置および生体特徴計測プログラム |
| JP2017140424A (ja) * | 2017-03-30 | 2017-08-17 | 日立マクセル株式会社 | 脳機能障害評価方法、脳機能障害評価装置およびそのプログラム |
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