JPH09181735A

JPH09181735A - Ａｔｍ交換機のセル導通試験方式

Info

Publication number: JPH09181735A
Application number: JP7340510A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Adachi; 博足立; Nobuhiko Eguchi; 信彦江口
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1995-12-27
Filing date: 1995-12-27
Publication date: 1997-07-11
Anticipated expiration: 2015-12-27
Also published as: JP3175571B2

Abstract

(57)【要約】【課題】本発明はＡＴＭ交換機のセル導通試験方式に関
し、セル導通試験を高い精度で、効率良く行なうことの
できるＡＴＭ交換機のセル導通試験方式を実現すること
を目的とする。【解決手段】セルのヘッダを参照して、セルの宛先を決
定するＡＴＭ交換機において、ＡＴＭ交換機に組み込ま
れ、試験セルの送受信を行なう試験装置と、試験装置か
らの試験セルのヘッダを付け替え、宛先の指定を行なう
共通制御部と、ＡＴＭ交換機に接続されたコンソールか
ら入力される試験情報を、前記試験装置、および、前記
共通制御部に送出するインタフェース部を設け、コンソ
ールから試験ルート、送出試験セル数のセル導通試験条
件を設定し、試験装置が設定されたセル導通試験条件に
したがって、試験セルを送出し、折り返えされた試験セ
ルを受信してセル導通試験を行なうように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＡＴＭ交換機のセ
ル導通試験方式に関する。ＡＴＭ（Asynchronous Trans
fer Mode、非同期転送モード）通信は画像通信、高速デ
ータ通信、音声信号の通信等のマルチメディアの通信を
提供可能とする高速通信技術である。

【０００２】このＡＴＭ通信においては、通信される情
報を４８バイトの固定長のデータに分割し、その先頭に
５バイトの宛先情報（ヘッダと称する）を付加したセル
と呼ばれる固定長のデータとして転送する。そして、Ａ
ＴＭ交換機内では、それぞれのセルのヘッダの情報か
ら、そのセルの送出先を判定して、指定の回線、あるい
は端末に送出することにより通信を行なっている。

【０００３】このようなマルチメディア通信に利用され
るＡＴＭ交換機は高い信頼度が要求されている。そこ
で、ＡＴＭ交換機の高い信頼度を維持するために、セル
導通試験を、高い精度で、効率良く行なうことが望まれ
ている。

【０００４】

【従来の技術】図１４は従来例を説明する図を示す。図
中の１００はＡＴＭ交換機、１１０、１１１は加入者カ
ード、１２１、１２２は共通制御部、１３０はスイッチ
部であり、１６０はＡＴＭ交換機１００の保守を行なう
ためのコンソールであり、３００はＡＴＭ交換機１００
に外付けする測定器である。

【０００５】加入者カードにはセルリレー方式用、フレ
ームリレー用等のものがあり、例えば、ＡＴＭセル導通
試験を行なう場合は、測定器３００から、加入者カード
１１１、共通制御部１２１、スイッチ部１３０を介して
試験セルを送出し、試験セルは共通制御部１２２をとお
して、試験対象の加入者カード１１０で折り返えされ、
逆のルートをとおって測定器３００で受信され、測定器
３００で折り返えされた試験セルをチェックする。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述の従来例では、下
記のような問題点が生じる。・試験の都度、測定器３００のつなぎこみが必要である
ので、試験の前準備に長時間を要する。

【０００７】・測定器３００から送出した試験セルを、
折り返し受信して正常性をチェックする。しかし、異常
が検出されたとき、その障害発生箇所の特定に長時間を
要する。

【０００８】・スイッチ部１３０の試験においては、ユ
ーザセルと同じルートしか試験できないので、スイッチ
の二重化構成による系切り替え後のルートの保証ができ
ない。

【０００９】・ポイント〜マルチポイントサービスの試
験が困難である。・回線切り替えを行なうＡＰＳ(Automatic Protection
Switching)サービスの試験が困難である。

【００１０】・ＡＴＭ交換機１００内の残留セルにより
試験の精度が低下する。本発明は、ＡＴＭ交換機のセル
導通試験を高い精度で、効率良く行なうことのできるＡ
ＴＭ交換機のセル導通試験方式を実現しようとする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の第１の原
理を説明する図である。図中の１００はＡＴＭ交換機で
あり、１４０はＡＴＭ交換機に組み込まれ、試験セルの
生成、送受信を行なう試験装置であり、１２１、１２２
は試験装置１４０からの試験セルのヘッダを付け替え、
宛先の指定を行なう共通制御部であり、１５０はＡＴＭ
交換機１００に接続されたコンソール１６０から入力さ
れる試験情報を、試験装置１４０、および、共通制御部
１２１、１２２に送出するインタフェース部である。

【００１２】本発明では、コンソール１６０から試験ル
ート、送出試験セル数のセル導通試験条件を設定し、Ａ
ＴＭ交換機１００に組み込まれた試験装置１４０に送出
し、試験装置１４０は設定されたセル導通試験条件にし
たがって、試験セルを送出し、折り返えされた試験セル
を受信してセル導通試験を行なう。

【００１３】このような構成をとることにより、ＡＴＭ
交換機１００のコンソール１６０から試験条件を設定す
ることができ、従来例で必要であった、測定器のつなぎ
こみがなくなり、、試験条件の設定も容易に行なうこと
ができ、効率的にセル導通試験を行なうことができる。

【００１４】図２は本発明の第２の原理を説明する図で
ある。図中の１００はＡＴＭ交換機、１１０は加入者カ
ード、１２１、１２２は共通制御部、１３０はスイッチ
部、１４０は試験装置、１５０はインタフェース、１６
０はコンソールであり、原理図１で説明したと同一構成
物である。２００はＡＴＭ交換機１００に収容される遠
隔集線装置であり、２１１、２１２は加入者カード、２
２１、２２２は共通制御部、２３０は集線部である。

【００１５】本発明では、遠隔集線装置２００に収容さ
れる加入者カード２１１を試験するとき、ＡＴＭ交換機
１００に収容される試験装置１４０から試験セルを送出
し、試験セルを受信した遠隔集線装置２００側で試験セ
ルに試験セルであることを示す試験セル表示ビット（以
下Ｔビットと称する）を付与し、共通制御部２２２を通
して、被試験加入者カード２１１で折り返し、逆のルー
トをとおってＡＴＭ交換機１００へ送出する。

【００１６】このとき、回線Ｌを通過するので、試験セ
ルはＴビットを含まないフォーマットであることが必要
であり、共通制御部２２２でＴビットをクリアして回線
Ｌに送出する。

【００１７】ＡＴＭ交換機１００の試験装置１４０は回
線Ｌをとおして受信した試験セルをカウントしてセルの
導通試験を行なう。

【００１８】

【発明の実施の形態】図３は本発明のセルフォーマット
を説明する図である。本発明のセル導通試験はＡＴＭ交
換機１００の信頼度を維持するために、ＡＴＭ交換機１
００の運用中にユーザ間の通信に使用するユーザセルの
間に、試験セルを挿入して送出し導通試験を行なうもの
である。そこで、ユーザセルと試験セルとを識別するた
めに試験セルには試験セルであることを示す試験セル識
別ビット（以下Ｔビットと称する）を付与している。

【００１９】試験セルには試験装置１４０で試験ＩＤを
付与して送出している。本発明では６オクテットに試験
ＩＤを付与しており、試験セル全体としては５４オクテ
ットとしている。

【００２０】また、８〜５４オクテットには疑似ランダ
ムパターンを挿入しておき、疑似ランダムパターンのエ
ラーチェックを行なうことによりビットエラーの発生数
もカウントすることができる。

【００２１】このような試験セルを使用することによ
り、本発明のセル導通試験が可能となる。図４は本発明
の実施の形態（１）を説明する図を示す。本発明のＡＴ
Ｍ交換機１００は、スイッチ部１３０を３段構成として
おり、スイッチ１３１〜１３３から構成している。セル
カウンタはＡＴＭ交換機１００のそれぞれの構成部に設
けており、加入者カード１１０、共通制御部１２１、１
２２には、入側、出側に設けており、セル導通試験の結
果がＮＧの場合、それぞれの前後のセルカウンタのカウ
ント値を比較することにより、容易にセルの脱落が発生
した箇所を特定することができる。

【００２２】また、試験セルはユーザセルと混在して通
過するので、図４で説明したセルカウンタを試験セルの
みを選択してカウントする機能を備えた試験セルカウン
タ（図示省略）で構成することにより、ユーザセルの影
響を排除することが可能となる。

【００２３】図５は本発明の実施の形態（１）のセル受
信のフローチャートである。以下、フローチャートのス
テップ（図中Ｓと示す）にしたがって、試験装置１４０
の動作を説明する。

【００２４】Ｓ１；受信したセルのヘッダに書き込まれ
たＶＰＩ、ＶＣＩが指定の値に一致したか否かを判定す
る。Ｓ２；ＰＴＩ(Payload Type)の値が指定の値に一致した
か否かを判定する。

【００２５】Ｓ３；ＣＬＰ(Congestion Level)の値が指
定の値に一致したか否かを判定する。Ｓ４；ＴＥＳＴ−ＩＤが一致したか否かを判定する。Ｓ
１〜Ｓ４で否の場合はＳ１１へ進む。

【００２６】Ｓ５；受信セルのカウント値を「＋１」カ
ウントする。Ｓ６；試験セルのシーケンシャルナンバ（図中ＳＮと示
す）のＣＲＣのチェックを行なう。

【００２７】Ｓ７；シーケンシャルナンバが前に受信し
たセルのシーケンシャルナンバ＋１（図中シーケンシャ
ルナンバの期待値をＳＮＲと示す）であるかをチェック
する。

【００２８】Ｓ８；シーケンシャルナンバが期待値に一
致しない場合は、エラーセルカウンタを「＋１」する。Ｓ９；シーケンシャルナンバが期待値に一致した場合
は、次の期待値としてシーケンシャルナンバ＋１を設定
する。

【００２９】Ｓ１０；Ｓ６のシーケンシャルナンバのＣ
ＲＣチェックでエラー発生の場合は、シーケンシャルナ
ンバエラーカウンタを「＋１」カウントし、シーケンシ
ャルナンバの期待値はそのまま保持する。

【００３０】Ｓ１１；Ｓ１〜Ｓ４で否となった場合は、
そのセルを廃棄する。このような処理により、試験セル
の正常受信数、シーケンシャルナンバのＣＲＣエラー発
生数、シーケンシャルナンバエラー発生数をカウントし
セル導通試験を行なう。

【００３１】このような試験セルはユーザセルの間に挿
入され送受信されるものであり、ＡＴＭ交換機１００の
運用中に自動的に実行することができる。そこで、セル
導通試験スケジューラを設け、任意のタイミングでセル
導通試験を行なうように構成することも可能である。

【００３２】図６は本発明の試験セル選択部を説明する
図を示す。本発明で、スイッチ部１３０は、図４で説明
したようにスイッチ部１３０は３段構成をとっている。
さらにＡＴＭ交換機１００の信頼度を高めるために、二
重化構成を採用しており、スイッチ部１３０は複数のス
イッチ１３１Ａ〜１３３Ａ、１３１Ｂ〜１３３Ｂから構
成されている。

【００３３】例えば、スイッチ１３２Ａの入力側にはＡ
ＣＴ系のスイッチ１３１ＡとＳＢＹ系のスイッチ１３１
Ｂが接続されている。ここで、スイッチ１３２Ａ内のセ
ル監視部１３０Ａは入力してくるセルのＴビットを監視
し、Ｔビットが設定されたセルを検出したときには、そ
のタイミングだけ、ＳＢＹ系のスイッチ１３１Ｂからの
セルを選択するようにセル選択部１３０Ｂに指示を出
す。

【００３４】このような、構成により、ＳＢＹ系のスイ
ッチ１３１Ｂからの試験セルを選択して流すことが可能
となる。上図はスイッチ１３２Ａで説明したが、すべて
のスイッチ１３１Ａ〜１３３Ａ、１３１Ｂ〜１３３Ｂも
同様な構成をとっており、このような構成により、試験
セルをＡＣＴ系、ＳＢＹ系のいずれにも導通させること
ができ、二重化交絡部分の試験も可能となり、系切替え
後の正常性を保証することができる。

【００３５】図７は本発明の実施の形態（２）を説明す
る図を示す。図は、試験装置１４０から加入者カード１
１１、１１２に試験セルを送出するポイントツウマルチ
ポイントのセル導通試験を行なう図を示す。実施の形態
（２）では、加入者カード１１１、１１２に試験セルの
廃棄を行なう試験セル廃棄部と図４で説明したセルカウ
ンタとを設けている。

【００３６】本発明では、試験装置１４０から試験セル
を送出し、共通制御部１２１、１２２、スイッチ部１３
０をとおして、複数の加入者カード１１１、１１２（３
個以上であっても同様である。）に送出する。加入者カ
ード１１１、１１２では、セルカウンタで受信した試験
セルの個数をカウントすることにより、それぞれのパス
の正常性をチェックする。また、異常がある場合には、
それぞれの装置に設けられたセルカウンタのカウント値
から容易に障害箇所を特定することができる。

【００３７】図中の破線は試験セルの通過ルートを示
し、ここでは、スイッチ部１３０でセルコピーを行なっ
て、マルチポイント通信を行なう状態を示す。また、加
入者カード１１１、１１２の試験セル廃棄部で試験セル
を廃棄することにより、他のパスへの使用済みの試験セ
ルの混入を防止することができる。

【００３８】図８、９は本発明の実施の形態（３）を説
明する図（その１）、（その２）を示す。ＡＴＭ通信に
おいては、システムとして高い信頼度が要求されている
ので、回線も二重化構成としている。二重化された一方
の回線をワーキングライン(Working Line)と称し、他方
の回線をプロテクションライン(Protection Line) と称
し、通常は、ワーキングラインにより通信を行なってお
り、障害が発生した場合にはプロテクションラインに切
り替え使用する。高い信頼度が維持するには、ワーキン
グラインの稼働中でも、プロテクションラインの正常性
のチェックを行なうことが必要である。

【００３９】本発明では、共通制御部１２１でＴビット
を識別することにより、非サービス状態の加入者カード
１１２からの試験セルを通過させる試験セル制御部１２
０Ｂを設けた構成としている。

【００４０】図８（Ａ）に示す折り返し設定により、ワ
ーキングラインに対応する共通制御部１２１の回線対応
部での折り返し試験、図８（Ｂ）に示す折り返し設定に
より、ワーキングラインに対応する加入者カード１１１
での折り返し試験、図９（Ｃ）に示す折り返し設定によ
りプロテクションラインに対応する共通制御部１２１の
回線対応部での折り返し試験、図９（Ｄ）に示す折り返
し設定によりプロテクションラインに対応する加入者カ
ード１１２での折り返し試験を行なうことができる。

【００４１】図９（Ｃ）、（Ｄ）においては、共通制御
部１２１にプロテクションライン側からの試験セルが折
り返されるが、Ｔビットが「オン」であることから試験
セルであることを確認し、試験セル制御部１２０Ｂを通
過させ試験装置１４０へ送出する。

【００４２】それぞれの折り返し設定において、折り返
し設定されない側に送出された試験セルはそれぞれの試
験セル廃棄部でヘッダが参照され、試験セルはＴビット
がオンとなっているので、そこで廃棄される。

【００４３】このような設定により、ワーキングライ
ン、プロテクションラインを個別に試験することが可能
となる。図１０は本発明の実施の形態（４）を説明する
図である。図において、共通制御部１２１にはＴビット
削除部１２０Ａ、加入者カード１１０にはＴビットを付
加するＴビット付加部１１０Ａを設けた構成としてい
る。

【００４４】加入者カード１１０で、Ｔビット＝１の試
験セルは、回線側には送出されず廃棄される。図１０で
は、試験セルを回線側に送出ために、試験装置１４０か
ら送出された試験セルのＴビットを共通制御部１２１の
Ｔビット削除部１２０Ａで「０」に設定する。Ｔビット
＝「０」に設定された試験セルはヘッダの指定により、
試験対象の加入者カード１１０を経由して、回線側に出
力される。

【００４５】回線側に出力された試験セルは回線側で折
り返えされ、加入者カード１１０に入力される。加入者
カード１１０では試験セルであることを表示するため
に、Ｔビット付加部１１０ＡでＴビット＝「１」に設定
して、送出することにより、試験装置１４０で回収さ
れ、セル導通試験を行なうことができる。

【００４６】図１１は本発明の実施の形態（５）を説明
する図を示す。ＡＴＭ交換機１００は先に述べたように
高い信頼度を要求されており、ＡＴＭ交換機１００を構
成するそれぞれの装置を二重化している。二重化されて
いる一方の系を０系、他方の系を１系を称しており、障
害の発生等により、切り替え使用を行なう。

【００４７】本発明では、このような０系、１系のＡＴ
Ｍ交換機１００、１０１にそれぞれの試験装置１４０を
搭載し、０系、１系の試験装置１４０から独立に試験セ
ルを送出、折り返すことにより、ＡＣＴ系、ＳＢＹ系の
ルートの導通試験も同時に行なうことができる。

【００４８】図においては、０系は０系内のルート（太
線で示す）、１系は１系内のルートで導通試験を行なっ
ているが、交絡したルート（破線で示す）で導通試験を
行なうことができることは勿論である。

【００４９】また、図１１の構成において、試験装置１
４０は独立した構成であり、コンソール１６０から、そ
れぞれ独立に試験条件を設定することができ、例えば、
試験セルの送出個数、送出速度を任意に設定できる。

【００５０】本発明において、試験セルを送出する試験
装置１４０には、図示省略の試験識別番号付与部を設け
てある。セル導通試験は複数の導通ルートを指定し、連
続して行なうことが一般的である。ＡＴＭ交換機１００
のスイッチ部１３０には、バッファを備えており、セル
を一旦蓄積してから、指定の速度で送出する。

【００５１】かかる、セル導通試験において、試験ルー
トを切り替えたとき、スイッチ部１３０のバッファに、
前の導通試験用の試験セルが残留していた場合には、次
の試験において、試験セルの混入が発生し、通過した試
験セル数を正しくカウントすることができなくなる。

【００５２】そこで、本発明では試験識別番号付与部を
設け、導通試験ごとにＴＥＳＴ−ＩＤを付与することに
より、前回の導通試験の残留セルが存在しても、ＴＥＳ
Ｔ−ＩＤにより前の試験の残留セルを分離することが可
能となり、正確な試験セル数をカウントすることが可能
となる。

【００５３】図１２は本発明の実施の形態の試験ルート
設定部のフローチャートを示す。例えば、図４で説明し
たように、スイッチ部１３０が複数のスイッチ１３１〜
１３３から構成されている場合、１つの端末から、他の
端末へのルートは複数存在する。このような、複数のル
ートについて、全ての導通試験を行なうと、重複したル
ートの試験を行なうことになり、導通試験の効率を低下
させることになる。

【００５４】そこで、セル導通試験においては、すべて
のスイッチを通過し、且つ、重複したルートは試験しな
いよう、試験ルート設定部で試験ルートを設定する。Ｓ１；スイッチ部１３０が３段構成か否かを判定する。

【００５５】Ｓ２；３段構成の場合には、２段目のスイ
ッチ（図中ＩＣＳＷと示す）内の同一の入出ルートの試
験を行なう。（同一スイッチ系）Ｓ３；２段目のスイッチ内のクロスルートの試験を行な
う。（同一スイッチ系）Ｓ４；２段目のスイッチ内の同一の入出ルートの試験を
行なう。（交絡スイッチ系）Ｓ５；２段目のスイッチ内のクロスルートの試験を行な
う。（交絡スイッチ系）Ｓ６；３段スイッチ構成でない場合はｎ×ｎの交点試験
を行なう。

【００５６】例えば、８入力、８出力のスイッチを４個
使用した、３段構成のスイッチの導通試験においては、
導通試験ルート数を約１／４に削減することができる。
図１３は本発明の実施の形態（６）を説明する図であ
る。図はＡＴＭ交換機１００に収容される遠隔集線装置
２００のセル導通試験を行なう図である。

【００５７】図において、ＡＴＭ交換機１００と遠隔集
線装置２００は回線Ｌで接続される。回線Ｌ上のセルフ
ォーマットはＴビットは「０」であり、遠隔集線装置２
００に送出される試験セルのＴビットを共通制御部１２
１のＴビット削除部で「０」に設定する。

【００５８】Ｔビットが「０」に設定された試験セルを
受信した遠隔集線装置２０１、２０２の加入者カード２
１２はＴビット付与部により、Ｔビット「１」に設定す
る。そして、Ｔビット「１」に設定した試験セルを被試
験加入者カード２１１に送出し、被試験加入者カード２
１１で折り返す。そして、共通制御部２２２でＴビット
「０」に設定して回線Ｌに送出し、ＡＴＭ交換機１００
の試験装置１４０で回収することにより、遠隔集線装置
２００に対するセル導通試験を行なう。

【００５９】この構成においても、セレクタ２００Ａに
より、試験セルを選択通過させることにより、ＡＣＴ系
と、ＳＢＹ系の導通試験を同時に行なうことが可能であ
る。

【００６０】

【発明の効果】本発明によれば、試験セルの送出、受信
を行なう試験装置をＡＴＭ交換機内に実装することによ
り、ＡＴＭ交換機のコンソールから試験条件の設定が容
易となり、セル導通試験を効率良く行なうことができ
る。

【００６１】また、０系、１系の二重化されたＡＴＭ交
換機にそれぞれ試験装置を実装し、独立に折り返し設定
し、ＡＣＴ系、ＳＢＹ系のセル導通試験を同時に行なう
ことができ、系切り換え後の正常性も保証できる。

【００６２】さらに、試験セルには試験セルであること
を表示するＴビットを付与し、Ｔビットを監視して、通
過、廃棄処理を行なうことにより、ポイントツウマルチ
ポイントの導通試験、回線折り返し試験、ＡＰＳ回線試
験等ＡＴＭ交換機の運用に必要な試験を行なうことがで
きる。

【００６３】さらに、ＡＴＭ交換機に収容される遠隔集
線装置も同様にＡＣＴ系、ＳＢＹ系のセル導通試験を同
時に行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の原理を説明する図

【図２】本発明の第２の原理を説明する図

【図３】本発明のセルフォーマットを説明する図

【図４】本発明の実施の形態（１）を説明する図

【図５】本発明の実施の形態（１）のセル受信のフロ
ーチャート

【図６】本発明の試験セル選択部を説明する図

【図７】本発明の実施の形態（２）を説明する図

【図８】本発明の実施の形態（３）を説明する図（そ
の１）

【図９】本発明の実施の形態（３）を説明する図（そ
の２）

【図１０】本発明の実施の形態（４）を説明する図

【図１１】本発明の実施の形態（５）を説明する図

【図１２】本発明の試験ルート設定のフローチャート

【図１３】本発明の実施の形態（６）を説明する図

【図１４】従来例を説明する図

【符号の説明】

１００、１０１ＡＴＭ交換機１１０、１１１、１１２、２１１、２１２加入者カー
ド１１０ＡＴビット付与部１２１、１２２、２２１、２２２共通制御部１２０ＡＴビット削除部１２０Ｂ試験セル制御部１３０スイッチ部１３１〜１３３、１３１Ａ〜１３３Ａ、１３１Ａ〜１３
３Ｂスイッチ１３０Ａセル監視部１３０Ｂセル選択部１４０試験装置１５０インタフェース部１６０コンソール２００、２０１、２０２遠隔集線装置２００Ａセレクタ２３０集線部３００測定器Ｌ回線

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】セルのヘッダを参照して、セルの宛先を
決定するＡＴＭ交換機において、前記ＡＴＭ交換機に組み込まれ、試験セルの生成、送受
信を行なう試験装置と、試験装置からの試験セルのヘッダを付け替え、宛先の指
定を行なう共通制御部と、前記ＡＴＭ交換機に接続されたコンソールから入力され
る試験情報を、前記試験装置、および、前記共通制御部
に送出するインタフェース部を設け、前記コンソールから試験ルート、送出試験セル数のセル
導通試験条件を設定し、前記試験装置が設定されたセル
導通試験条件にしたがって、試験セルを送出し、折り返
えされた試験セルを受信してセル導通試験を行なうこと
を特徴とするＡＴＭ交換機のセル導通試験方式。
【請求項２】前項記載のＡＴＭ交換機のセル導通試験
方式において、前記ＡＴＭ交換機を構成する装置ごとにセルカウンタを
設け、前記セルカウンタのカウント値から障害箇所を特定する
ことを特徴とする請求項１記載のＡＴＭ交換機のセル導
通試験方式。
【請求項３】前項記載のセルカウンタを、試験セルのみをカウントする試験セルカウンタで構成し
たことを特徴とする請求項２記載のＡＴＭ交換機のセル
導通試験方式。
【請求項４】２項記載のＡＴＭ交換機のセル導通試験
方式において、ＡＴＭ交換機のセル導通試験を実行するスケジュールを
設定するセル導通試験スケジューラを設けたことを特徴
とする請求項２記載のＡＴＭ交換機のセル導通試験方
式。
【請求項５】２項記載のＡＴＭ交換機のセル導通試験
方式において、試験セルを識別し、試験セルを廃棄する試験セル廃棄部
を設け、前記セルカウンタのカウント値からマルチポイント通信
の各加入者カードで受信した試験セル数をカウントし、
カウント後の試験セルは試験セル廃棄部で廃棄すること
を特徴とする請求項２記載のＡＴＭ交換機のセル導通試
験方式。
【請求項６】２項記載のＡＴＭ交換機のセル導通試験
方式において、非サービス状態の加入者カードからの試験セルの通過、
廃棄を制御する試験セル制御部を設け、セルに試験セルであることを表示し、ワーキングライン
側、プロテクションライン側に送出し、ワーキングライ
ン側、プロテクションライン側の一方で折り返し設定を
行ない、試験セルは折り返し設定された側で折り返さ
れ、他方の折り返し設定されない側では前記試験セル制
御部により試験セルを廃棄することを特徴とする請求項
２記載のＡＴＭ交換機のセル導通試験方式。
【請求項７】２項記載のＡＴＭ交換機のセル導通試験
方式において、回線側から折り返されたセルに、試験セルであることを
表示するビットを付与する試験セル表示ビット付与部を
設け、回線側で折り返したセルに試験セルであることを表示す
るビットを付加して、試験セル導通試験を行なうことを
特徴とする請求項２記載のＡＴＭ交換機のセル導通試験
方式。
【請求項８】２項記載のＡＴＭ交換機のセル導通試験
方式において、０系、１系のＡＴＭ交換機に組み込まれた０系、１系の
試験装置を設け、０系、１系の独立の折り返し設定を行ない、現用系、予
備系の試験セル導通試験を同時に行なうことを特徴とす
る請求項２記載のＡＴＭ交換機のセル導通試験方式。
【請求項９】前項記載の０系、１系の試験装置は、そ
れぞれ独立に、試験セル送出速度、試験セル送出個数を
設定することを特徴とする請求項８記載のＡＴＭ交換機
のセル導通試験方式。
【請求項１０】２項記載のＡＴＭ交換機のセル導通試
験方式において、独立したルートのみを試験ルートを設定する試験ルート
設定部を設けたことを特徴とする請求項２記載のＡＴＭ
交換機のセル導通試験方式。
【請求項１１】２項記載のＡＴＭ交換機のセル導通試
験方式において、試験セルフォーマット内に試験識別番号を付与する試験
識別番号付与部を設け、セル導通試験を行なうとき、送出試験セル数、受信試験
セル数を試験識別番号単位に管理することを特徴とする
請求項２記載のＡＴＭ交換機のセル導通試験方式。
【請求項１２】１項記載のＡＴＭ交換機に収容される
遠隔集線装置の導通試験方式において、前記ＡＴＭ交換機に収容される前記試験装置から試験セ
ルを送出し、試験セルを受信した前記遠隔集線装置は試
験ビットを付与し、被試験加入者カードに送出し、該加
入者カードは試験セルを折り返し、前記ＡＴＭ交換機内
の前記試験装置に送出し、試験セルの導通試験を行なう
ことを特徴とする請求項１記載のＡＴＭ交換機のセル導
通試験方式。