JPH1084344A - Ａｔｍ交換機の診断方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は複数段の装置からなるＡＴＭ交換機の
診断方式に関し，試験セルの確認を段階を追って行うこ
とができ，試験セルによりユーザの通信に影響を少なく
することができることを目的とする。 【解決手段】複数段の各装置内に試験セルをカウントす
るセルカウンタと試験セルを停止させるセル停止回路と
を設け，試験セル発生受信装置を複数段の端部の装置に
接続し，診断対象となる装置に折り返し回路を設ける。
制御装置から診断の対象となるパスのＶＰＩ／ＶＣＩ
を，試験セル発生受信装置，診断の対象となるパスの区
間に関係する装置内のセルカウンタ及びセル停止回路に
指示し，駆動するセルカウンタ及びセル停止回路を選択
して，試験セル発生受信装置から所定数の試験セルを送
出し，各セルカウンタのカウント値を読み出して，送出
セル数及び各カウント値を比較することにより診断する
よう構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はＡＴＭ交換機におけ
る診断方式に関する。近年，ＢＩＳＤＮ（Broad-bandＩ
ＳＤＮ）に対応する交換機としてＡＴＭ（Asynchronous
Transfer Mode) 交換機が利用されるようになった。こ
のＡＴＭ交換機では, セル（５３オクテット）単位で高
速のスイッチングが行われるため，高い信頼性を維持す
ることが要求されている。また，障害が発生した場合に
障害発生個所を特定するための診断を効率的に行うこと
が求められている。

【０００２】

【従来の技術】図５は従来例の説明図である。図５に
は，交換機のスイッチを構成する各装置（例えば，集線
部，スイッチ部等）が示され，各装置は二重化され，交
換機の最初の段は装置Ａ，装置Ｂで構成され，次の段は
装置Ｃ，最後の段は装置Ｄ，装置Ｅにより構成され，そ
れぞれ０系と１系の２つの装置が設けられている。な
お，各装置には図では１本の線路により示すが実際には
上りと下りの双方向の線路が設けられている。

【０００３】このような構成において，診断対象装置と
して装置Ｄ（１系）を選んだ場合の従来の診断方式を動
作順に説明する。 (1) セル発生受信装置８０から，試験用セルを発生す
る。この場合，試験セルは，ＡＴＭセルの構成を備え，
５バイトのヘッダと４８バイトのペイロードとで構成さ
れる。試験セルのヘッダには診断対象の装置Ｄと接続す
るパスに対応するＶＰＩ／ＶＣＩが設定され，これによ
り図５にで示すルートを通って診断対象の装置Ｄにセ
ルが到達する。

【０００４】(2) １系の診断対象の装置Ｄに対し試験セ
ルの折り返しの経路が形成され，のルートで試験セル
をセル発生受信装置８０で回収できるようにパスを設定
する。

【０００５】(3) パスを設定した後にセル発生受信装置
８０から試験用セルを送出すると，のルートで装置Ｄ
に達して折り返しの経路を通ってのルートにより試験
セルがセル発生受信装置８０に回収される。この時，送
出したセルの数と，回収したセルの数を比較して，正常
にセルが導通したか否かをチェックする。

【０００６】(4) 上記の(1) 〜(3) までの処理を行う
と，のルートで診断対象の装置Ｄを通り，装置Ｃ，装
置Ａを経由してセル発生受信装置８０までセルが達する
が，この場合，送出セル数と受信セル数が等しければ正
常であるが，送出した試験セル数より受信した試験セル
数が少ない場合や，送出数より受信数の方が多い場合に
は，ルート上の何れかの装置で異常があることを検出す
ることができる。なお，送出したセル数より受信したセ
ル数の方が多い場合としては，セルをコピーする機能が
異常になった場合等に起きる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記の従来例によれ
ば，試験セルの送出数と受信数の不一致が検出された場
合に，往復の，のルート上の何れか一部の障害か，
診断対象装置Ｄにおける障害かの何れであるか識別する
ことができないという問題があった。

【０００８】また，装置Ｄの障害内容によってはセルが
増幅（セルをコピーする動作が異常に起きた場合）され
ると，装置Ｃの許容量を越えたセルが装置Ｃに入力する
可能性がある。その場合，正常にサービスを受けている
ユーザの帯域を圧迫してしまいシステムのサービス継続
性を失わせ，信頼性を低下させることになってしまうと
いう問題があった。

【０００９】本発明は試験セルの確認を段階を追って行
うことができ，試験セルによりユーザの通信に影響を少
なくすることができるＡＴＭ交換機の診断方式を提供す
ることを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理構成
図である。図１のＡ〜Ｄは本発明によるＡＴＭ交換機診
断のための構成と手順を示し，この構成では，簡略化の
ため試験セル発生受信装置と，セルが通過する通過装置
と診断対象装置の３つのブロックだけを示す。

【００１１】図中，１は試験セル発生受信装置，２はＡ
ＴＭ交換機内のセルの通過装置，３はＡＴＭ交換機内の
診断対象装置，４〜４”及び５〜５”は各ＡＴＭ交換機
の各装置に組み込まれた回路であり，４，４’，４”は
通過したセル（指定されたセル）数をカウントするセル
カウンタ，５，５’，５”は指定されたセルを停止（セ
ルを無効化または廃棄することと同義）させてその後の
伝送路のトラヒックに影響を与えないようにするセル停
止回路，６は折り返し回路である。

【００１２】図１のＡに示す第１の段階では，診断対象
装置３の内部に設けられたセルカウンタ４に対し図示省
略された制御装置から試験セルをカウンタするよう指示
し，セル停止回路５に対し試験セルを停止する（セルを
無効化，または廃棄する）よう指示し，試験セル発生受
信装置１の発生部１ａから特定のパスが指定（セルのヘ
ッダのＶＰＩ／ＶＣＩで指定）された試験セルを発生す
る。試験セルのヘッダには試験セルを表す１ビットの表
示ビットがセットされている。この試験セルはセルカウ
ンタ４において試験セルをカウントして，セル停止回路
５で試験セルを停止する。これにより，発生部１ａで発
生する試験セル数は指定された個数であるため，セルカ
ウンタ４でカウントした値を検出することにより通過装
置２を介して診断対象装置３にセルが伝達されたか否か
を判別して，試験セルがパス上を正常に伝送されたかの
診断をすることができる。この時，セル停止回路５によ
り試験セルが停止されるため，それ以降の伝送路上には
試験セルが存在しないため他の通信に影響を与えない。

【００１３】Ｂに示す第２の段階では，診断対象装置３
内の折り返し回路６を制御装置（図示せず）からの制御
により駆動して折り返しの経路を設定して上りのパスを
下りのパスへ折り返し，更に診断対象装置３内の下りの
パス（上りのパスに対応する）上に別のセルカウンタ
４’とセル停止回路５’を接続する。この状態で試験を
行う場合，セル停止回路５を動作させずにセルカウンタ
４，４’及びセル停止回路５’を駆動するよう制御す
る。試験セル発生受信装置１の発生部１ａからセルを発
生して，診断対象装置３のセルカウンタ４及び４’で試
験セルをカウントし，セル停止回路５で試験セルを停止
する。この場合，発生部１ａから発生した試験セルの個
数と，セルカウンタ４，セルカウンタ４’のカウント値
を比較して，折り返しを含むパスを診断することができ
る。

【００１４】Ｃに示す第３の段階では，上記Ｂで形成し
た折り返しの経路を通過装置２まで延ばした場合であ
り，通過装置２に備えられたカウンタ”とセル停止回路
５”を駆動し，セル停止回路５，５’は駆動しないで，
試験セル発生受信装置１の発生部１ａから試験セルを発
生する。この状態では，診断対象装置３のセルカウンタ
４，４’及び通過装置のセルカウンタ４”が駆動される
ため，発生部１ａで発生した試験セルの個数，各セルカ
ウンタ４，４’及び４”のカウント値を判別することで
通過装置２のセルカウンタ４”までのパスの状態を診断
することができる。

【００１５】Ｄに示す第４の段階では，折り返しの経路
を試験セル発生受信装置１の受信部１ｂまで接続する。
この場合，各セル停止回路５，５’及び５”を駆動しな
いで，各セルカウンタ４，４’及び４”を駆動して，試
験セル発生受信装置１の発生部１ａから試験セルを発生
し，折り返しの経路を介して戻ってきた試験セルは受信
部１ｂで回収されカウントされる。これにより，試験セ
ル発生受信装置１において，発生した試験セルの数と回
収した試験セルの数を判別することにより上りと下りを
合わせたパスを診断することができる。

【００１６】

【発明の実施の形態】図２は実施例の構成図である。図
２において，１０は上記図１の試験セル発生受信装置１
に対応し試験セルの発生と受信を行う試験セル発生装
置，１１，１３は多数の回線または中継線のセルの多重
化と分離を行う集線機能共通部，１２はセルのスイッチ
ングを行うスイッチング部，１４は端末または中継線と
接続する回線対応部１４０と，二重化された集線機能共
通部１３と接続するインタフェース（ＩＦ）１４１，１
４２とを備えた回線対応装置部，１５は各部と制御線に
より接続され，それぞれを制御すると共に，診断を行う
ための制御と結果データの収集と判別を行う制御装置で
ある。

【００１７】図２の構成では，集線機能共通部１１，ス
イッチング部１２及び集線機能共通部１３はそれぞれ０
系（＃０で表す）と１系（＃１で表す）の二重化された
装置であるが，試験セル発生装置１０と回線対応装置部
１４は端末または中継線に対して１つ設けられる装置
（一重化）である。

【００１８】集線機能共通部１１からスイッチング部１
２，集線機能共通部１３，及び回線対応装置部１４から
端末（または中継線）へセルを伝送する方向を下りと
し，逆方向を上りとする。二重化装置では，同じセルが
０系と１系の集線機能共通部１１，スイッチング部１２
及び集線機能共通部１３のパスｐ１，ｐ３を通って回線
対応装置部１４へ入力され，回線対応部１４０の選択部
Ｓ１において何れか一方が選択される。通常は，その時
のメイン系のパスのセルが選択され，図２の例では０系
をメイン系とすると，０系の下りのパスｐ１の信号が選
択されて，端末（または中継線）へ送出される。また，
回線対応装置部１４からの上りのセルは，回線対応部１
４０から同じセルが２つの系に対応するインタフェース
（ＩＦ）１４１，１４２の両方の上りのパスｐ２，ｐ４
へ送出されるが，折り返し回路が駆動される場合は，
選択部Ｓ２が動作してｐ２への経路を切ってｐ４への経
路だけ選択される。

【００１９】図２の集線機能共通部１１，スイッチング
部１２，集線機能共通部１３及び回線対応装置部１４に
備えられたはセルカウンタ（図１の４に対応），は
セル停止回路（図１の５に対応）を表し，回線対応装置
部１４に設けられたは同一系内で折り返し経路を形成
する折り返し回路，は異なる系間での折り返し経路
（及び同一系間の折り返しを含む）を形成する折り返し
回路である。

【００２０】各折り返し回路，は，下りのパスを伝
送する試験セルを上りのパスに送出する機能を備える
が，試験セルのヘッダに設定されたＶＰＩ／ＶＣＩは，
下りのパスと，上りのパスでは異なるため，各折り返し
回路は予め制御装置１５から入力するセルのＶＰＩ／Ｖ
ＣＩに対応して出力する（折り返される）セルのＶＰＩ
／ＶＣＩが指定されており，その指定に対応してＶＰＩ
／ＶＣＩの変換を行う。

【００２１】なお図２には，集線機能共通部１３の０系
と１系の片方向のパスｐ１，ｐ４に接続するセルカウン
タ，セル停止回路だけが示されているが，反対方向
のパスＰ２，ｐ３にも同様に，が設けられ，更に他
の集線機能共通部１１やスイッチング部１２にも同様に
，の各回路が予め必要な数だけ設けられている。

【００２２】図２のようなＡＴＭ交換機の構成におい
て，障害が発生した場合に試験セル発生装置１０から，
特定のパスに対応するＶＰＩ／ＶＣＩをヘッダ（５バイ
ト）内に設定し，ペイロード（４８バイト）内に試験セ
ルを表示するビットを含む試験セルを発生するよう制御
装置１５から試験セル発生装置１０に指示し，診断対象
装置の前後の装置のカウンタに対しカウントすべき試
験セル（特定のＶＰＩ／ＶＣＩを持ち試験セルの表示を
持つ）を指定すると共に試験セルを停止させる位置のセ
ル停止回路を指定して駆動させる。

【００２３】図２の構成に対しても，障害の発生個所が
明確でない場合には上記図１に示す原理により順番に診
断の範囲を変えることにより障害発生の原因となる装置
や，装置間の接続部分等を判別することができるが，以
下の説明では診断対象を回線対応装置部１４として，回
線対応装置部１４の１系のインタフェース１４２と上り
側の１系の集線機能共通部１３が接続する部分にセルを
増幅するような障害がある場合について診断動作を順を
追って説明する。

【００２４】(1) 診断対象装置である回線対応装置部１
４に対して，制御装置１５から折り返しポイントとし
て，の折り返し部を駆動して０系から１系への折り返
し経路を形成すると共に，０系のインタフェース１４１
内の折り返し回路を駆動して０系内で折りかえし経路
を形成する。この時，選択部Ｓ１，Ｓ２は図２に示す状
態にすると０系の下りのパスｐ１から１系の上りのパス
ｐ４へ折り返される。また, 回線対応装置部１４内の回
線対応部１４０に備えられた上りのセル停止回路と，
１系の集線機能共通部１３内のセル停止回路を駆動状
態に設定する。

【００２５】(2) 試験セル発生装置１０から試験セルを
診断対象装置である回線対応装置部１４に対して送出す
る。この場合は，回線対応装置部１４に達するまでのル
ートは診断対象装置が障害になっていても影響を受けな
いので問題はない。

【００２６】(3) 上記(2) により予め決められた個数の
試験セルを送出した後，送出を止めて，制御装置１５か
ら集線機能共通部１３の０系の下りのパスｐ１のセルカ
ウンタと，インタフェース１４１の折り返し回路に
より接続された０系の上りのパスｐ２のセルカウンタ
（図示省略）及び回線対応装置部１４の回線対応部１４
０の下り側のセルカウンタの各計数値を取り出して比
較する。

【００２７】(4) この例では，上記０系の下りのパスｐ
１，０系の上りのパスｐ２及び回線対応部の各セルカウ
ンタの一致が検出されるため，０系の下りのパスｐ１と
上りのパスｐ２について集線機能共通部１３と回線対応
装置部１４のインタフェース１４１の間に異常はないこ
とが確認される。

【００２８】(5) また，回線対応装置部１４内の折り返
し部で折り返した後の１系の集線機能共通部１３の上
りのセルカウンタの値と，回線対応装置部１４内の回
線対応部１４０の下り側のカウンタ（折り返し前のカ
ウンタ）の値のそれぞれと，試験セル発生装置１０から
の送出セル数とを比較する。

【００２９】(6) 上記の比較について, この例のように
回線対応装置部１４のインタフェース１４２と集線機能
共通部１３の上り側にセルを増幅する障害がある場合
は，回線対応装置部１４の回線対応部１４０の上りのセ
ルカウンタのカウント値と送出セル数は同じである
が，１系の集線機能共通部１３の上りのセルカウンタ
のカウント値が送出セル数と異なることが確認される。

【００３０】(7) 従って，回線対応装置部１４の１系の
インタフェース１４１と１系の集線機能共通部１３の間
に障害があることが判明する。この例のように，セル増
幅の障害の場合，セル停止回路がなければ回線対応装
置部１４によってセルが増幅され障害が無い装置に対し
て悪影響を及ぼすことになる。すなわち，予定外のセル
が流入されることで帯域が圧迫され，集線機能共通部１
３に接続されたその他の回線対応装置部１４の加入者の
帯域申告値を維持できなくなる。また，０系，１系との
間に透過セル数の差分が出てしまい二重化装置とはいえ
ない状態になるが，各部のセル停止回路を診断対象の
区間に応じて駆動することによりこのような影響を無く
すことができる。

【００３１】上記の診断動作は，回線対応装置部１４を
対象装置として０系側の下りのパスを折り返して１系の
パスに折り返して行っているが，逆に１系側から０系側
への折り返しを行うことにより，同様の診断を行うこと
ができる。

【００３２】図３はセルカウンタの構成例である。図３
において，４０はＶＰＩ／ＶＣＩセルカウンタ，４１は
アンド回路，４２は微分回路，４３はリードレジスタ，
である。ＶＰＩ／ＶＣＩセルカウンタ４０は，カウンタ
・リセット信号の立ち上がりを微分回路４２で検出する
ことによりリセットされる。その後，アンド回路４１の
一方のＶＰＩ／ＶＣＩ・Ｅｎ信号は，伝送路に入力され
たセルが試験セルであることを表すビットがヘッダに設
定され，ヘッダのＶＰＩ／ＶＣＩが，予め制御装置（図
２の１５）から指定されたＶＰＩ／ＶＣＩと一致したこ
とを表す信号であり，アンド回路４１の他方の入力であ
るカウント開始信号は開始により“Ｈ”に保持される。
これにより，指定されたＶＰＩ／ＶＣＩをヘッダに持
ち，試験ビットが“１”に設定された試験セルが入力さ
れる毎にＶＰＩ／ＶＣＩセルカウンタ４０のＥＮ（イネ
ーブル）端子が駆動されてカウントを行う。リードレジ
スタ４３はリード（Read) 信号の入力によりＥＮ端子が
駆動されると，ＶＰＩ／ＶＣＩセルカウンタ４０のカウ
ント値が設定されて出力される。

【００３３】本発明で使用するセル停止回路（図２の
）は，セルを無効化（またはセルの廃棄）と同じ機能
であり，実際にはセルヘッダ内にセルの有効・無効を表
すビットを設け，セル停止回路において予め制御装置か
ら指定されたセルの有効・無効を表すビットを無効状態
にセットする動作が行われる。

【００３４】次に図４は実施例の構成による他の診断動
作の例を示す。図４に示す符号１０〜１５は上記図２に
示す同じ符号と名称及び機能は同じであり，説明を省略
する。但し，図４には０系の下りのパスｐ１と１系の上
りのパスｐ４だけ示し，これに対応して回線対応装置部
１４のインタフェース１４１，１４２の内部を簡単化し
て示す。

【００３５】この診断動作の例では，回線対応装置部１
４内で障害が有るが，回線対応部１４０にあるのか，イ
ンタフェース１４１，１４２の何れにあるか特定できな
い場合の診断動作であり，以下に順を追って説明する。

【００３６】(1) 診断対象装置である回線対応装置部１
４に対して制御装置１５から折り返しポイントを設定
し，回線対応装置部１４の回線対応部１４１のセル停止
回路を駆動状態（停止動作を行う状態）に設定する。
この場合の折り返しポイントは，回線対応装置部１４の
系間の折り返しを行う折り返し回路である。

【００３７】(2) 試験セル発生装置１０から試験セルを
診断対象装置である回線対応装置部１４に対して送出す
る。この場合は，診断対象装置が障害になっていても影
響を受けないので問題ない。

【００３８】(3) 予め決められた個数の試験セルを送出
した後，制御装置１５から集線機能共通部１３のセルカ
ウンタと回線対応装置部１４の下り側のインタフェー
ス１４１のカウンタを読み出して，送出セル数と比較
する。この例では，障害個所が含まれていないので同じ
であることが確認できる。

【００３９】(4) 回線対応装置部１４で折り返した後の
インタフェース１４２の上りのパスのセルカウンタと
１系の集線機能共通部１３のセルカウンタの各値と，
送出セル数を比較する。

【００４０】(5) この例では，０系の場合は全てのセル
カウンタが同じであることが確認されるが，１系の場合
は回線対応装置部１４のインタフェース１４２のセルカ
ウンタの値と送出セル数が違うことが確認される。

【００４１】(6) 回線対応装置部１４内の回線対応部１
４０の各セルカウンタと送出セル数が同じであること
が確認される。 (7) この結果から，回線対応装置部１４内の回線対応部
１４０とインタフェース１４２の間に障害があることが
確認でき，この試験中にシステムには悪影響を及ぼすこ
となく診断を実施することができる。

【００４２】回線対応装置部１４の回線対応部１４０の
折り返し回路により，０系の下りのパスを１系の上り
のパスｐ４に折り返すことにより，０系をメイン系とし
た場合に折り返しの経路がサブ系（予備系）を通るた
め，折り返しによりユーザのセルの伝送に与える影響を
少なくすることができる。

【００４３】上記の図２に示す構成において，回線対応
装置部１４内のインタフェース１４１内に設けられた，
折り返し回路は０系の下りのパスｐ１と上りのパスｐ
２の間で折り返し経路を形成して診断を行う場合に使用
する。同様に，インタフェース１４２内に設けられた折
り返し回路も１系の下りのパスｐ３と上りのパスｐ４
との間で折り返しを行う場合に使用する。

【００４４】

【発明の効果】本発明によれば以下のような効果を奏す
る。 (1) 診断を行った時に試験セルを障害発生装置において
セル増幅が発生してもセル入力を抑止することができ
る。

【００４５】(2) 診断実行時に障害発生装置からのセル
誤配送を抑止することができる。 (3) 診断実行時にセルの停止（廃棄）位置を変化させる
ことにより障害個所を特定化することが可能となる。

【００４６】(4) 診断実行時にポイント・ツウ・ポイン
トの試験で誤配送の障害試験を行ってもシステムへの影
響を与えることなく実施することができる。 (5) 診断実行時にポイント・ツウ・マルチポイントの試
験で誤配送の障害試験を行ってもシステムへ影響を与え
ることなく試験を実施することが可能となる。

【００４７】(6) 診断実行時に障害発生装置からのセル
増幅により加入者への帯域圧迫を抑えることができる。 (7) 診断実行時に，ユーザセルと試験セルを別々に制御
して試験セルだけを透過させることにより試験セルと認
識されないようなセルに対して抑止することができ，シ
ステムへの影響を低減でき，信頼性の向上を図ることが
できる。

【００４８】(8) 診断時に，メイン系に影響を与えるこ
とがないようにサブ系からセルの回収を行うことでシス
テムの信頼性を向上できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理構成図である。

【図２】実施例の構成図である。

【図３】セルカウンタの構成例である。

【図４】実施例の構成による他の診断動作の例を示す図
である。

【図５】従来例の説明図である。

【符号の説明】

１ 試験セル発生受信装置 １ａ 発生部 １ｂ 受信部 ２ ＡＴＭ交換機内のセルの通過装置 ３ ＡＴＭ交換機内の診断対象装置 ４〜４” セルカウンタ ５〜５” セル停止回路 ６ 折り返し回路

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数段の装置からなるＡＴＭ交換機の診
   断方式において，複数段の各装置内に試験セルをカウン
   トするセルカウンタと試験セルを停止させるセル停止回
   路とを備え，試験セルを発生すると共に受信する試験セ
   ル発生受信装置を前記複数段の端部の装置に接続し，各
   部を制御する制御装置から診断の対象となるパスのＶＰ
   Ｉ／ＶＣＩを，前記試験セル発生受信装置，及び診断の
   対象となる前記パスの区間に関係する装置内のセルカウ
   ンタ及びセル停止回路に指示すると共に駆動するセルカ
   ウンタ及びセル停止回路を選択して，前記試験セル発生
   受信装置から所定数の試験セルを送出し，各セルカウン
   タのカウント値を読み出して，送出セル数及び各カウン
   ト値を比較することにより診断することを特徴とするＡ
   ＴＭ交換機の診断方式。
2. 【請求項２】 請求項１において，前記ＡＴＭ交換機を
   構成する複数段の装置の中の端末または中継線が接続さ
   れる装置内に下りのパスを上りのパスに折り返す折り返
   し回路を設け，前記複数段の装置の中の前記端末または
   中継線が接続される装置と反対側の終段の装置に前記試
   験セル発生受信装置を接続し，前記制御装置からの制御
   により前記折り返し回路を駆動すると共に，各装置の下
   りと上りの折り返し経路上の診断対象となる区間に関係
   するセルカウンタ及びセル停止回路を駆動して，前記試
   験セル発生受信装置から試験セルを発生することを特徴
   とするＡＴＭ交換機の診断方式。
3. 【請求項３】 請求項１において，前記ＡＴＭ交換機
   は，端末または中継線が接続された回線対応装置部と，
   回線対応装置部に接続され，それぞれが二重化された一
   方の集線機能共通部，スイッチング部及び他方の集線機
   能共通部の各装置により構成され，前記回線対応装置部
   に集線機能共通部の一方の系からの下りのパスを他方の
   系の上りのパスへ折り返す折り返し回路を設け，制御装
   置は，診断時に前記折り返し回路を設定し，各装置の一
   方の系の下りのパス及び折り返し後の他方の系の経路上
   の診断対象となる区間に関係するセルカウンタ及びセル
   停止回路を選択して駆動し，前記試験セル発生受信装置
   から試験セルを発生することを特徴とするＡＴＭ交換機
   の診断方式。
4. 【請求項４】 請求項３において，前記回線対応装置部
   は，端末または中継線と接続する回線対応装置部と前記
   二重化された各集線機能共通部とを接続するための２つ
   のインタフェースを備え，前記各インタフェースには，
   それぞれ自系の集線機能共通部からの下りのパスを自系
   の上りのパスへ折り返す折り返し回路を備え，制御装置
   は，診断時に前記折り返し回路を設定し，各装置の同一
   系の下りのパス及び折り返し経路上の診断対象となる区
   間に関係するセルカウンタ及びセル停止回路を選択して
   駆動し，前記試験セル発生受信装置から試験セルを発生
   することを特徴とするＡＴＭ交換機の診断方式。