JPH0917008A - 光ディスク原盤露光装置 - Google Patents
光ディスク原盤露光装置Info
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- JPH0917008A JPH0917008A JP7166635A JP16663595A JPH0917008A JP H0917008 A JPH0917008 A JP H0917008A JP 7166635 A JP7166635 A JP 7166635A JP 16663595 A JP16663595 A JP 16663595A JP H0917008 A JPH0917008 A JP H0917008A
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- JP
- Japan
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- disk
- linear velocity
- quantity control
- light quantity
- recording
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 実線速度に基づいた光量制御を行い、ピット
の品質を均一で安定なものできるようにした光ディスク
原盤露光装置を提供する。 【構成】 パラメータ設定部１により設定されたパラメ
ータに従って、光量制御部３により制御される記録用レ
ーザ光源５から出射された光を、スピンドル８により回
転されるディスク原盤９に、キャリッジ６によりディス
ク半径方向に移動される対物レンズヘッド７を介して投
射して、信号の記録を行う光ディスク原盤露光装置であ
って、ディスク原盤の回転数を検出する回転数検出器８
Ａと、対物レンズヘッド７のディスク半径位置を検出す
る位置検出器６Ａと、検出されたディスク回転数とディ
スク半径位置に基づいて実線速度を算出して上記光量制
御部３に与える実線速度処理部４を設け、上記光量制御
部３により実線速度に応じた光量制御を行う。
の品質を均一で安定なものできるようにした光ディスク
原盤露光装置を提供する。 【構成】 パラメータ設定部１により設定されたパラメ
ータに従って、光量制御部３により制御される記録用レ
ーザ光源５から出射された光を、スピンドル８により回
転されるディスク原盤９に、キャリッジ６によりディス
ク半径方向に移動される対物レンズヘッド７を介して投
射して、信号の記録を行う光ディスク原盤露光装置であ
って、ディスク原盤の回転数を検出する回転数検出器８
Ａと、対物レンズヘッド７のディスク半径位置を検出す
る位置検出器６Ａと、検出されたディスク回転数とディ
スク半径位置に基づいて実線速度を算出して上記光量制
御部３に与える実線速度処理部４を設け、上記光量制御
部３により実線速度に応じた光量制御を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクの原盤を作
成するための光ディスク原盤露光装置に関し、特に、線
速度により記録レーザの露光光量を制御する機能を有す
る光ディスク原盤露光装置に関するものである。
成するための光ディスク原盤露光装置に関し、特に、線
速度により記録レーザの露光光量を制御する機能を有す
る光ディスク原盤露光装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、光ディスクの原盤を作成する
ための光ディスク原盤露光装置では、ディスク記録方法
として角速度一定(CAV:Constant Angular Velocity)と
線速度一定(CLV:Constant Linear Velocity)の２つの方
式が採用されている。
ための光ディスク原盤露光装置では、ディスク記録方法
として角速度一定(CAV:Constant Angular Velocity)と
線速度一定(CLV:Constant Linear Velocity)の２つの方
式が採用されている。
【０００３】一般に、光ディスク原盤露光装置では、露
光によりピットの品質を均一で安定したものにするため
照射すべき光量については厳密な光量制御を必要する。
光によりピットの品質を均一で安定したものにするため
照射すべき光量については厳密な光量制御を必要する。
【０００４】そして、ＣＡＶディスクの原盤を作成する
場合には、キャリッジの位置検出部の出力値と入力パラ
メータのスピンドル回転数指令値に基づいて線速度処理
が行われている。また、ＣＬＶディスクの原盤を作成す
る場合には、入力パラメータで与えられる線速度に基づ
いて線速度処理が行われている。
場合には、キャリッジの位置検出部の出力値と入力パラ
メータのスピンドル回転数指令値に基づいて線速度処理
が行われている。また、ＣＬＶディスクの原盤を作成す
る場合には、入力パラメータで与えられる線速度に基づ
いて線速度処理が行われている。
【０００５】また、テレビジョン信号の垂直同期信号を
円周方向で極力一直線にならべるため微視的にＣＡＶ動
作を行い、画質の高品質化を実現したビデオ用の光ディ
スクなどの所謂ＭＣＬＶディスクの原盤を作成する場合
には、ＣＬＶディスクの場合と同様な手段により線速度
処理が行われている。
円周方向で極力一直線にならべるため微視的にＣＡＶ動
作を行い、画質の高品質化を実現したビデオ用の光ディ
スクなどの所謂ＭＣＬＶディスクの原盤を作成する場合
には、ＣＬＶディスクの場合と同様な手段により線速度
処理が行われている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の光デ
ィスク原盤露光装置では、線速度処理が実測値に基づい
ていないために、実線速度に微小変動が発生した場合、
結果的に露光光量に変動が生じてしまう。また、ＭＣＬ
Ｖディスクの原盤を作成する場合には、微視的なＣＡＶ
区間においても線速度一定の処理を行っているため、露
光光量に変動が発生している。この露光光量の変動によ
り、ピットの品質にバラツキを生じるという問題点があ
った。また、ディスクの種類によって必要なパラメー
タ、処理過程を異にするため、構成が複雑になるという
問題点があった。
ィスク原盤露光装置では、線速度処理が実測値に基づい
ていないために、実線速度に微小変動が発生した場合、
結果的に露光光量に変動が生じてしまう。また、ＭＣＬ
Ｖディスクの原盤を作成する場合には、微視的なＣＡＶ
区間においても線速度一定の処理を行っているため、露
光光量に変動が発生している。この露光光量の変動によ
り、ピットの品質にバラツキを生じるという問題点があ
った。また、ディスクの種類によって必要なパラメー
タ、処理過程を異にするため、構成が複雑になるという
問題点があった。
【０００７】そこで、上述の如き従来の問題点に鑑み、
本発明の目的は、実線速度に基づいた光量制御を行い、
ピットの品質を均一で安定なものできるようにした光デ
ィスク原盤露光装置を提供することにある。
本発明の目的は、実線速度に基づいた光量制御を行い、
ピットの品質を均一で安定なものできるようにした光デ
ィスク原盤露光装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した目的
を達成するために、パラメータ設定手段により設定され
たパラメータに従って、光量制御手段により制御される
記録用レーザ光源から出射された光を、回転駆動手段に
より回転されるディスク原盤に、移送手段によりディス
ク半径方向に移動される光学ヘッドを介して投射して、
信号の記録を行う光ディスク原盤露光装置であって、上
記回転駆動手段によるディスク原盤の回転数を検出する
回転数検出手段と、上記移送手段による光学ヘッドのデ
ィスク半径位置を検出する位置検出手段と、上記回転数
検出手段により検出されたディスク回転数と上記位置検
出手段により検出されたディスク半径位置に基づいて実
線速度を算出して、上記光量制御手段に実線速度情報を
与える実線速度算出手段とを設け、上記光量制御手段に
より実線速度に応じた光量制御を行うようにしたことを
特徴とするものである。
を達成するために、パラメータ設定手段により設定され
たパラメータに従って、光量制御手段により制御される
記録用レーザ光源から出射された光を、回転駆動手段に
より回転されるディスク原盤に、移送手段によりディス
ク半径方向に移動される光学ヘッドを介して投射して、
信号の記録を行う光ディスク原盤露光装置であって、上
記回転駆動手段によるディスク原盤の回転数を検出する
回転数検出手段と、上記移送手段による光学ヘッドのデ
ィスク半径位置を検出する位置検出手段と、上記回転数
検出手段により検出されたディスク回転数と上記位置検
出手段により検出されたディスク半径位置に基づいて実
線速度を算出して、上記光量制御手段に実線速度情報を
与える実線速度算出手段とを設け、上記光量制御手段に
より実線速度に応じた光量制御を行うようにしたことを
特徴とするものである。
【０００９】
【作用】本発明に係る光ディスク原盤露光装置では、回
転駆動手段によるディスク原盤の回転数を回転数検出手
段で検出するとともに、移送手段による光学ヘッドのデ
ィスク半径位置を位置検出手段で検出し、上記回転数検
出手段により検出されたディスク回転数と上記位置検出
手段により検出されたディスク半径位置に基づいて実線
速度算出手段で実線速度を算出して、光量制御手段に実
線速度情報を与えることにより、上記光量制御手段によ
り実線速度に応じた光量制御を行う。
転駆動手段によるディスク原盤の回転数を回転数検出手
段で検出するとともに、移送手段による光学ヘッドのデ
ィスク半径位置を位置検出手段で検出し、上記回転数検
出手段により検出されたディスク回転数と上記位置検出
手段により検出されたディスク半径位置に基づいて実線
速度算出手段で実線速度を算出して、光量制御手段に実
線速度情報を与えることにより、上記光量制御手段によ
り実線速度に応じた光量制御を行う。
【００１０】
【実施例】以下、本発明に係る光ディスク原盤露光装置
の実施例について、図面を用いて詳細に説明する。
の実施例について、図面を用いて詳細に説明する。
【００１１】本発明に係る光ディスク原盤露光装置は、
例えば図１に示すように、記録に必要なパラメータの設
定を行うパラメータ設定部１、このパラメータ設定部１
により制御コマンドが与えられる駆動制御部２及び光量
制御部３、上記駆動制御部２により制御されるキャリッ
ジ６及びスピンドル８、上記光量制御部３に線速度情報
を与える線速度処理部４、上記光量制御部３により制御
される記録用レーザ光源５、上記キャリッジ６の移動位
置を検出する位置検出器６Ａ、上記スピンドル８の回転
数を検出する回転数検出器８Ａ、上記キャリッジ６に搭
載された対物レンズヘッド７、上記スピンドル８に搭載
されたディスク原盤９などからなる。
例えば図１に示すように、記録に必要なパラメータの設
定を行うパラメータ設定部１、このパラメータ設定部１
により制御コマンドが与えられる駆動制御部２及び光量
制御部３、上記駆動制御部２により制御されるキャリッ
ジ６及びスピンドル８、上記光量制御部３に線速度情報
を与える線速度処理部４、上記光量制御部３により制御
される記録用レーザ光源５、上記キャリッジ６の移動位
置を検出する位置検出器６Ａ、上記スピンドル８の回転
数を検出する回転数検出器８Ａ、上記キャリッジ６に搭
載された対物レンズヘッド７、上記スピンドル８に搭載
されたディスク原盤９などからなる。
【００１２】上記パラメータ設定部１は、露光光量（単
位ｍｊ／ｍ）やＣＡＶ記録のスピンドル回転数（単位ｒ
ｐｍ）など記録に必要なパラメータの設定を行い、その
パラメータに基づいて制御コマンドを作成する。このパ
ラメータ設定部１は、作成した位置制御コマンドや回転
制御コマンドを上記駆動制御部２に供給し、また、記録
露光量をｍＷ単位で指定する記録露光量制御コマンドを
光量制御部３に供給する。
位ｍｊ／ｍ）やＣＡＶ記録のスピンドル回転数（単位ｒ
ｐｍ）など記録に必要なパラメータの設定を行い、その
パラメータに基づいて制御コマンドを作成する。このパ
ラメータ設定部１は、作成した位置制御コマンドや回転
制御コマンドを上記駆動制御部２に供給し、また、記録
露光量をｍＷ単位で指定する記録露光量制御コマンドを
光量制御部３に供給する。
【００１３】また、上記駆動制御部２は、上記パラメー
タ設定部１により与えられる位置制御コマンドに応じて
上記キャリッジ６を駆動して、該キャリッジ６に搭載さ
れた対物レンズヘッド７のディスク半径方向の位置及び
送り速度を制御する。そして、上記位置検出器６Ａは、
上記キャリッジ６の移動位置を検出することにより、上
記キャリッジ６に搭載された対物レンズヘッド７のディ
スク半径方向の位置を検出するもので、その検出出力と
して得られる上記対物レンズヘッド７のディスク半径方
向の位置をバイナリ値で示す位置情報を上記線速度処理
部４に供給する。
タ設定部１により与えられる位置制御コマンドに応じて
上記キャリッジ６を駆動して、該キャリッジ６に搭載さ
れた対物レンズヘッド７のディスク半径方向の位置及び
送り速度を制御する。そして、上記位置検出器６Ａは、
上記キャリッジ６の移動位置を検出することにより、上
記キャリッジ６に搭載された対物レンズヘッド７のディ
スク半径方向の位置を検出するもので、その検出出力と
して得られる上記対物レンズヘッド７のディスク半径方
向の位置をバイナリ値で示す位置情報を上記線速度処理
部４に供給する。
【００１４】また、上記駆動制御部２は、上記パラメー
タ設定部１により与えられる回転制御コマンドに応じて
上記スピンドル８を駆動して、該スピンドル８に搭載さ
れたディスク原盤９の回転を制御する。そして、上記回
転数検出器８Ａは、上記スピンドル８の回転数に比例し
た周波数の検出パルスを発生するもので、上記スピンド
ル８に搭載されたディスク原盤９の回転数を示す回転数
情報として上記検出パルスを上記線速度処理部４に供給
する。また、上記線速度処理部４は、上記位置検出器６
Ａから供給される上記対物レンズヘッド７のディスク半
径方向の位置を示す位置情報と、上記回転数検出器８Ａ
から供給される上記ディスク原盤９の回転数を示す回転
数情報に基づいて、実線速度を求めるもので、得られた
実線速度情報を上記光量制御部３に供給する。
タ設定部１により与えられる回転制御コマンドに応じて
上記スピンドル８を駆動して、該スピンドル８に搭載さ
れたディスク原盤９の回転を制御する。そして、上記回
転数検出器８Ａは、上記スピンドル８の回転数に比例し
た周波数の検出パルスを発生するもので、上記スピンド
ル８に搭載されたディスク原盤９の回転数を示す回転数
情報として上記検出パルスを上記線速度処理部４に供給
する。また、上記線速度処理部４は、上記位置検出器６
Ａから供給される上記対物レンズヘッド７のディスク半
径方向の位置を示す位置情報と、上記回転数検出器８Ａ
から供給される上記ディスク原盤９の回転数を示す回転
数情報に基づいて、実線速度を求めるもので、得られた
実線速度情報を上記光量制御部３に供給する。
【００１５】ここで、上記線速度処理部４は、図２に示
すように、クロック発生部１０の出力が供給されるタイ
ミングジェネレータ１１、上記回転数検出器８Ａの検出
パルスがＤ型フリップフロップ１２を介して供給される
回転量パルスカウンタ１３、上記位置検出器６Ａの検出
出力が供給される第１のラッチ回路１４、上記回転量パ
ルスカウンタ１３の出力が供給される第２のラッチ回路
１５、上記各ラッチ回路１４，１５の出力が供給される
中央演算処理部（ＣＰＵ）１６、上記ＣＰＵ１６に接続
されたルックアップテーブル１７などを備えてなる。
すように、クロック発生部１０の出力が供給されるタイ
ミングジェネレータ１１、上記回転数検出器８Ａの検出
パルスがＤ型フリップフロップ１２を介して供給される
回転量パルスカウンタ１３、上記位置検出器６Ａの検出
出力が供給される第１のラッチ回路１４、上記回転量パ
ルスカウンタ１３の出力が供給される第２のラッチ回路
１５、上記各ラッチ回路１４，１５の出力が供給される
中央演算処理部（ＣＰＵ）１６、上記ＣＰＵ１６に接続
されたルックアップテーブル１７などを備えてなる。
【００１６】この線速度処理部４において、上記クロッ
ク発生部１０は、例えば０．１秒間隔のクロック信号を
発生するもので、このクロック信号を上記タイミングジ
ェネレータ１１する。また、上記タイミングジェネレー
タ１１は、上記回転量パルスカウンタ１３のクリアタイ
ミングパルスと上記第２のラッチ回路１５のラッチタイ
ミングパルスを上記クロック信号に基づいて生成するも
ので、０．１秒間隔のクリアタイミングパルスを上記回
転量パルスカウンタ１３に供給し、また、０．１秒間隔
のラッチタイミングパルスを上記第２のラッチ回路１５
に供給する。また、上記Ｄ型フリップフロップ１２は、
供給される上記スピンドル８の回転数に比例した周波数
の検出パルスすなわち上記ディスク原盤９の回転数を示
す回転数情報をシステムクロックＳＹＣＬＯＣＫと同期
させるもので、上記システムクロックＳＹＣＬＯＣＫと
同期させた検出パルスを上記回転量パルスカウンタ１３
に供給する。また、上記回転量パルスカウンタ１３は、
上記Ｄ型フリップフロップ１２を介して供給される上記
回転数検出器８Ａの検出パルス列を上記タイミングジェ
ネレータ１１からのクリアタイミングパルスによりクリ
アされる０．１秒間隔でカウントアップするもので、
０．１秒毎のカウント値を上記ディスク原盤９の回転量
Ｒ（ｒｐｓ）情報として上記第２のラッチ回路１５を介
して上記ＣＰＵ１６に供給する。さらに、上記第１のラ
ッチ回路１４は、上記位置検出器６Ａの検出出力として
得られる上記対物レンズヘッド７のディスク半径方向の
位置をバイナリ値で示す位置情報をストローブ信号でラ
ッチするもので、ラッチしたディスク半径位置ｒ（ｍ）
情報を上記ＣＰＵ１６に供給する。
ク発生部１０は、例えば０．１秒間隔のクロック信号を
発生するもので、このクロック信号を上記タイミングジ
ェネレータ１１する。また、上記タイミングジェネレー
タ１１は、上記回転量パルスカウンタ１３のクリアタイ
ミングパルスと上記第２のラッチ回路１５のラッチタイ
ミングパルスを上記クロック信号に基づいて生成するも
ので、０．１秒間隔のクリアタイミングパルスを上記回
転量パルスカウンタ１３に供給し、また、０．１秒間隔
のラッチタイミングパルスを上記第２のラッチ回路１５
に供給する。また、上記Ｄ型フリップフロップ１２は、
供給される上記スピンドル８の回転数に比例した周波数
の検出パルスすなわち上記ディスク原盤９の回転数を示
す回転数情報をシステムクロックＳＹＣＬＯＣＫと同期
させるもので、上記システムクロックＳＹＣＬＯＣＫと
同期させた検出パルスを上記回転量パルスカウンタ１３
に供給する。また、上記回転量パルスカウンタ１３は、
上記Ｄ型フリップフロップ１２を介して供給される上記
回転数検出器８Ａの検出パルス列を上記タイミングジェ
ネレータ１１からのクリアタイミングパルスによりクリ
アされる０．１秒間隔でカウントアップするもので、
０．１秒毎のカウント値を上記ディスク原盤９の回転量
Ｒ（ｒｐｓ）情報として上記第２のラッチ回路１５を介
して上記ＣＰＵ１６に供給する。さらに、上記第１のラ
ッチ回路１４は、上記位置検出器６Ａの検出出力として
得られる上記対物レンズヘッド７のディスク半径方向の
位置をバイナリ値で示す位置情報をストローブ信号でラ
ッチするもので、ラッチしたディスク半径位置ｒ（ｍ）
情報を上記ＣＰＵ１６に供給する。
【００１７】そして、上記ＣＰＵ１６は、図３のタイム
チャートに示すように、上記第１のラッチ回路１４から
供給されるディスク半径位置ｒ（ｍ）情報と上記第２の
ラッチ回路１５から供給される回転量Ｒ（ｒｐｓ）情報
を取り込み、上記ルックアップテーブル１７を参照する
ことにより上記回転量Ｒ（ｒｐｓ）を２π×Ｒの変換を
行い、その値とディスク半径位置ｒ（ｍ）を乗算するこ
とにより、 線速度ｓ（ｍ／ｓ）＝２π×Ｒ×ｒ ・・・第１式 なる第１式で示される実線速度ｓ（ｍ／ｓ）を算出し
て、そのバイナリ値を出力する。
チャートに示すように、上記第１のラッチ回路１４から
供給されるディスク半径位置ｒ（ｍ）情報と上記第２の
ラッチ回路１５から供給される回転量Ｒ（ｒｐｓ）情報
を取り込み、上記ルックアップテーブル１７を参照する
ことにより上記回転量Ｒ（ｒｐｓ）を２π×Ｒの変換を
行い、その値とディスク半径位置ｒ（ｍ）を乗算するこ
とにより、 線速度ｓ（ｍ／ｓ）＝２π×Ｒ×ｒ ・・・第１式 なる第１式で示される実線速度ｓ（ｍ／ｓ）を算出し
て、そのバイナリ値を出力する。
【００１８】さらに、上記光量制御部３は、上記パラメ
ータ設定部１からの記録露光量制御コマンドと上記線速
度処理部４で得られた実線速度ｓ（ｍ／ｓ）情報に基づ
いて上記記録用レーザ光源５が出射する光の光量を制御
するものであって、上記記録露光量制御コマンドとして
与えられるｍＷ単位の記録露光量と上記線速度処理部４
で得られた実線速度ｓ（ｍ／ｓ）を乗算し、その乗算結
果を実際の記録露光量制御コマンドとして上記記録用レ
ーザ光源５に供給する。このように、上記光量制御部３
では、上記記録露光量制御コマンドとして与えられるｍ
Ｗ単位の記録露光量と上記線速度処理部４で得られた実
線速度ｓ（ｍ／ｓ）との乗算結果を実際の記録露光量制
御コマンドとして上記記録用レーザ光源５に供給するこ
とにより、実線速度ｓ（ｍ／ｓ）に基づいた光量制御を
行うことができる。
ータ設定部１からの記録露光量制御コマンドと上記線速
度処理部４で得られた実線速度ｓ（ｍ／ｓ）情報に基づ
いて上記記録用レーザ光源５が出射する光の光量を制御
するものであって、上記記録露光量制御コマンドとして
与えられるｍＷ単位の記録露光量と上記線速度処理部４
で得られた実線速度ｓ（ｍ／ｓ）を乗算し、その乗算結
果を実際の記録露光量制御コマンドとして上記記録用レ
ーザ光源５に供給する。このように、上記光量制御部３
では、上記記録露光量制御コマンドとして与えられるｍ
Ｗ単位の記録露光量と上記線速度処理部４で得られた実
線速度ｓ（ｍ／ｓ）との乗算結果を実際の記録露光量制
御コマンドとして上記記録用レーザ光源５に供給するこ
とにより、実線速度ｓ（ｍ／ｓ）に基づいた光量制御を
行うことができる。
【００１９】そして、上記記録用レーザ光源５は、上記
光量制御部３からの記録露光量制御コマンドにより指定
されるｍＷ単位の記録露光量の光を出射する。この記録
用レーザ光源５から出射された光は、上記キャリッジ６
に搭載されたビーム集光用の対物レンズ７を介してディ
スク原盤９に投射される。従って、上記ディスク原盤９
には、記録露光量制御コマンドにより指定されるｍＷ単
位の記録露光量の光が投射されることによって、上記記
録露光量制御コマンドに応じた信号が記録される。
光量制御部３からの記録露光量制御コマンドにより指定
されるｍＷ単位の記録露光量の光を出射する。この記録
用レーザ光源５から出射された光は、上記キャリッジ６
に搭載されたビーム集光用の対物レンズ７を介してディ
スク原盤９に投射される。従って、上記ディスク原盤９
には、記録露光量制御コマンドにより指定されるｍＷ単
位の記録露光量の光が投射されることによって、上記記
録露光量制御コマンドに応じた信号が記録される。
【００２０】このように、この実施例の光ディスク原盤
露光装置では、このように実線速度ｓ（ｍ／ｓ）に基づ
いた光量制御を行うので、論理的な線速度と実線速度に
差が生じた場合やＭＣＬＶディスクの微視的なＣＡＶ区
間においても適正な露光光量指令が得られ、ピットの品
質を均一で安定なものとすることができる。
露光装置では、このように実線速度ｓ（ｍ／ｓ）に基づ
いた光量制御を行うので、論理的な線速度と実線速度に
差が生じた場合やＭＣＬＶディスクの微視的なＣＡＶ区
間においても適正な露光光量指令が得られ、ピットの品
質を均一で安定なものとすることができる。
【００２１】
【発明の効果】本発明に係る光ディスク原盤露光装置で
は、回転駆動手段によるディスク原盤の回転数を回転数
検出手段で検出するとともに、移送手段による光学ヘッ
ドのディスク半径位置を位置検出手段で検出し、上記回
転数検出手段により検出されたディスク回転数と上記位
置検出手段により検出されたディスク半径位置に基づい
て実線速度算出手段で実線速度を算出して、光量制御手
段に実線速度情報を与えることにより、上記光量制御手
段により実線速度に応じた光量制御を行うことができ
る。そして、実線速度に基づいた光量制御を行うことに
より、論理的な線速度と実線速度に差が生じた場合やＭ
ＣＬＶディスクの微視的なＣＡＶ区間においても適正な
露光光量指令が得られ、ピットの品質を均一で安定なも
のとすることができる。
は、回転駆動手段によるディスク原盤の回転数を回転数
検出手段で検出するとともに、移送手段による光学ヘッ
ドのディスク半径位置を位置検出手段で検出し、上記回
転数検出手段により検出されたディスク回転数と上記位
置検出手段により検出されたディスク半径位置に基づい
て実線速度算出手段で実線速度を算出して、光量制御手
段に実線速度情報を与えることにより、上記光量制御手
段により実線速度に応じた光量制御を行うことができ
る。そして、実線速度に基づいた光量制御を行うことに
より、論理的な線速度と実線速度に差が生じた場合やＭ
ＣＬＶディスクの微視的なＣＡＶ区間においても適正な
露光光量指令が得られ、ピットの品質を均一で安定なも
のとすることができる。
【図１】本発明に係る光ディスク原盤露光装置の構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図２】上記光ディスク原盤露光装置における線速度処
理部の具体的な構成例を示すブロック図である。
理部の具体的な構成例を示すブロック図である。
【図３】上記光ディスク原盤露光装置の動作を示すタイ
ムチャートである。
ムチャートである。
１ パラメータ設定部 ２ 駆動制御部 ３ 光量制御部 ４ 線速度処理部 ５ 記録用レーザ光源 ６ キャリッジ ６Ａ 位置検出器 ７ 対物レンズヘッド ８ スピンドル ８Ａ 回転数検出器 ９ ディスク原盤
Claims (1)
- 【請求項１】 パラメータ設定手段により設定されたパ
ラメータに従って、光量制御手段により制御される記録
用レーザ光源から出射された光を、回転駆動手段により
回転されるディスク原盤に、移送手段によりディスク半
径方向に移動される光学ヘッドを介して投射して、信号
の記録を行う光ディスク原盤露光装置であって、 上記回転駆動手段によるディスク原盤の回転数を検出す
る回転数検出手段と、 上記移送手段による光学ヘッドのディスク半径位置を検
出する位置検出手段と、 上記回転数検出手段により検出されたディスク回転数と
上記位置検出手段により検出されたディスク半径位置に
基づいて実線速度を算出して、上記光量制御手段に実線
速度情報を与える線速度算出手段とを設け、 上記光量制御手段により実線速度に応じた光量制御を行
うようにしたことを特徴とする光ディスク原盤露光装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7166635A JPH0917008A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | 光ディスク原盤露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7166635A JPH0917008A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | 光ディスク原盤露光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0917008A true JPH0917008A (ja) | 1997-01-17 |
Family
ID=15834942
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7166635A Withdrawn JPH0917008A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | 光ディスク原盤露光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0917008A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1463040A2 (en) * | 2003-03-28 | 2004-09-29 | Ricoh Company, Ltd. | Method and device for use in the manufacture of optical disk media |
| JP2007309713A (ja) * | 2006-05-17 | 2007-11-29 | Hitachi High-Technologies Corp | 光学式検査方法及び光学式検査装置 |
-
1995
- 1995-06-30 JP JP7166635A patent/JPH0917008A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1463040A2 (en) * | 2003-03-28 | 2004-09-29 | Ricoh Company, Ltd. | Method and device for use in the manufacture of optical disk media |
| EP1463040A3 (en) * | 2003-03-28 | 2006-11-22 | Ricoh Company, Ltd. | Method and device for use in the manufacture of optical disk media |
| JP2007309713A (ja) * | 2006-05-17 | 2007-11-29 | Hitachi High-Technologies Corp | 光学式検査方法及び光学式検査装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020903 |