JPH09166423A - 検査装置 - Google Patents

検査装置

Info

Publication number
JPH09166423A
JPH09166423A JP32885695A JP32885695A JPH09166423A JP H09166423 A JPH09166423 A JP H09166423A JP 32885695 A JP32885695 A JP 32885695A JP 32885695 A JP32885695 A JP 32885695A JP H09166423 A JPH09166423 A JP H09166423A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning direction
light
reflecting
sub
main scanning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP32885695A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Ota
眞之 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP32885695A priority Critical patent/JPH09166423A/ja
Publication of JPH09166423A publication Critical patent/JPH09166423A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 均一な照明を被検査体にほぼ全方向から当て
ることによって、被検査体の正常な検査を行うことがで
きる検査装置を提供する。 【構成】 ラインセンサカメラ2と蛍光灯3,4と主走
査反射部5と逆主走査方向反射部6と反射板7,8とを
備えている。そして、蛍光灯3からの光L1 を主走査反
射部5の反射板50で主走査方向Aに反射させ、蛍光灯
4からの光L2 を逆主走査方向反射部6の反射板60で
主走査方向Aと逆の方向に反射させる。また、反射板7
によって、蛍光灯4からの光L2 を副走査方向Bに反射
させ、反射板8によって、蛍光灯3からの光L1 を副走
査方向Bと逆の方向に反射させる。これにより、撮像ラ
インN上に全方向から均一な光を照射する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板上の部品の取
付状態や半田付け状態を検査するための検査装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の検査装置は、基板の検査
部分を蛍光灯で照明しながら、上方のラインセンサカメ
ラで撮像し、部品の取付状態や半田付け状態を検査して
いた。検査装置には、蛍光灯を1本用いる場合と、図7
に示すように、2本用いる場合とがある。すなわち、図
7に示すように、2本の蛍光灯3,4を所定間隔で平行
に配置し、その間隙の上方にラインセンサカメラ2を配
置する。そして、ラインセンサカメラ2で主走査方向A
に撮像しながら、ラインセンサカメラ2と蛍光灯3,4
全体を副走査方向Bに移動させて、基板100上の部品
の取付状態や半田付け状態を検査していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した従来
の検査装置では、次のような問題があった。蛍光灯を1
本しか用いない検査装置では、図8に示すように、光が
部品101の片方からのみ当たるので、部品102が部
品101の影に隠れてしまう。このため、部品102の
外観を明瞭に撮像することができず、部品102の取付
状態等を検査することができなかった。
【0004】これに対して、蛍光灯を2本用いる図7の
検査装置では、両方から光を当てるので、図8に示した
部品101の影が生じず、部品102の外観を明瞭に撮
像することができ、部品102の取付状態等を正確に検
査することができる。しかしながら、半田付けの状態検
査では正常な検査ができなかった。すなわち、椀状の半
田付け部分を正常に撮像すると、図10の斜線部分で示
すように、実際の半田付け部分Cと対応したドーナッツ
状の画像が得られるはずである。しかし、図7に示した
検査装置では、図9に示すように、蛍光灯3,4の光
が、主走査方向Aの両側から半田付け部分Cに当たるの
で、丸破線で示す主走査方向A両端部と中央部分とに当
たる光が弱い。このため、明るさに偏りが生じ、ライン
センサカメラ2で撮像された画像が、斜線部分で示すよ
うに、主走査方向Aを境に二分割されたものとなり、正
常な検査が困難となってしまう。
【0005】本発明は上述した課題を解決するためにな
されたもので、均一な照明を被検査体にほぼ全方向から
当てることによって、被検査体の正常な検査を行うこと
ができる検査装置を提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1の発明に係る検査装置は、被検査体を撮像
する撮像部と、上記被検査体を照明する照明部と、上記
照明部からの光を反射して、上記被検査体を主走査方向
から照す光を形成する主走査方向反射部と、上記照明部
からの光を反射して、上記被検査体を上記主走査方向の
逆方向から照す光を形成する逆主走査方向反射部と、上
記照明部からの光を反射して、上記被検査体を上記撮像
部の副走査方向から照す光を形成する副走査方向反射部
と、上記照明部からの光を反射して、上記被検査体を上
記副走査方向の逆方向から照す光を形成する逆副走査方
向反射部とを具備する構成とした。
【0007】請求項2の発明は、請求項1に記載の検査
装置において、上記主走査方向反射部は、上記主走査方
向に沿って列設され、反射面が上記主走査方向を向き且
つ上記照明部を覗くように傾斜した複数の第1の反射板
を具備し、上記逆主走査方向反射部は、上記主走査方向
に沿って列設され、反射面が上記主走査方向と逆に向き
且つ上記照明部を覗くように傾斜した複数の第2の反射
板を具備し、上記副走査方向反射部は、上記副走査方向
とほぼ直交するように配設され、反射面が上記副走査方
向を向き且つ上記照明部を覗くように傾斜した第3の反
射板を具備し、上記逆副走査方向反射部は、上記副走査
方向とほぼ直交するように配設され、反射面が上記副走
査方向と逆に向き且つ上記照明部を覗くように傾斜した
第4の反射板を具備する構成とした。
【0008】上記請求項1の発明によれば、照明部から
の光が、主走査方向反射部光によって反射されて、撮像
部の主走査方向から被検査体を照すと共に、逆主走査方
向反射部によって反射されて、主走査方向の逆方向から
被検査体を照す。また、照明部の光は、副走査方向反射
部によって反射されて、撮像部の副走査方向から被検査
体を照すと共に、逆副走査方向反射部によって反射され
て、副走査方向の逆方向から被検査体を照す。この結
果、被検査体は、主走査方向の両側と副走査方向の両側
とから、すなわち、ほぼ全方向から均一な光で照明され
ることとなる。
【0009】請求項2の発明によれば、照射部からの光
が、主走査方向に沿って列設され且つ反射面が照明部を
覗くように傾斜した複数の第1の反射板によって、反射
される。このとき、第1の反射板の反射面が主走査方向
を向いているので、この第1の反射板で反射された光
は、主走査方向から被検査体を照明する。また、照射部
からの光は、主走査方向に沿って列設され且つ反射面が
照明部を覗くように傾斜した複数の第2の反射板によっ
て、反射される。このとき、第2の反射板の反射面が主
走査方向の逆を向いているので、この第2の反射板で反
射された光は、主走査方向の逆方向から被検査体を照明
する。さらに、照射部からの光が、副走査方向とほぼ直
交するように配設され且つ反射面が照明部を覗くように
傾斜した第3の反射板によって、反射される。このと
き、第3の反射板の反射面が副走査方向を向いているの
で、第3の反射板で反射された光は、副走査方向から被
検査体を照明する。また、照射部からの光は、副走査方
向とほぼ直交するように配設され且つ反射面が上記照明
部を覗くように傾斜した第4の反射板によって、反射さ
れる。このとき、第4の反射板の反射面が副走査方向の
逆を向いているので、第4の反射板で反射された光は、
副走査方向と逆の方向から被検査体を照明する。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図1は、本発明の一実施形
態に係る検査装置の要部を示す概略斜視図であり、図2
は検査装置の構成を示すブロック図である。図2に示す
ように、本実施形態の検査装置は、走査器1と、走査器
1を基板100(被検査体)の上方で副走査方向Bに移
動させる駆動装置10と、走査器1からの電気信号を画
像処理する画像処理装置11と、この画像処理装置11
と駆動装置10を制御すると共に画像処理した画像を図
示しないモニタに表示する制御装置12とを有してい
る。
【0011】走査器1は、図1に示すように、ラインセ
ンサカメラ2(撮像部)と、2本の蛍光灯3,4(照明
部)と、複数の反射板50(第1の反射板)を有した主
走査方向反射部5と、複数の反射板60(第2の反射
板)を有した逆主走査方向反射部6と、副走査方向反射
部としての反射板7(第3の反射板)と、逆副走査方向
反射部としての反射板8(第4の反射板)とを具備して
おり、この走査器1は、図2の駆動装置10によって、
基板100の副走査方向B方向に一体に1ラインづつ移
動させられるようになっている。
【0012】ラインセンサカメラ2は、CCD撮像素子
等を有したカメラであり、走査器1の最上位に取り付け
られている。このラインセンサカメラ2は、基板100
の表面を1ライン単位で主走査方向Aに撮像し、その光
信号を電気信号にして、図2の画像処理装置11に送る
機能を有している。
【0013】蛍光灯3,4は、主走査方向Aに伸びるラ
インセンサカメラ2の撮像ラインNの部分を照明するた
めの機器である。これら蛍光灯3,4は、ラインセンサ
カメラ2の光軸Mを挟んで互に平行になるように配さ
れ、ラインセンサカメラ2よりも多少下側に位置するよ
うに取り付けられている。これにより、蛍光灯3,4か
らの光は、ラインセンサカメラ2の光軸Mの両側から斜
め下に向かう。
【0014】主走査方向反射部5は、蛍光灯3の下側に
設けられ、蛍光灯3からの光L1 を反射して、主走査方
向Aから撮像ラインNに入射する光を形成する部分であ
る。具体的には、主走査方向Aに沿って光軸Mの右側
(図1の右側)に取り付けられた長尺状の支持板51
に、複数の小型の反射板50を等間隔で列設した構造に
なっている。支持板51は、図3に示すように、支持板
51の下端が光軸M側に寄るように所定角度だけ傾けら
れており、これによって、主走査方向Aから見ると、蛍
光灯3からの光L1 が反射板50を介して撮像ラインN
に真っ直ぐ入射する。また、反射板50の反射面50a
は、図4に示すように、主走査方向Aを向き且つ蛍光灯
3を覗くように所定角度だけ上向きに傾斜している。こ
れにより、蛍光灯3からの光L1 を一定の反射角で主走
査方向Aに反射させ、撮像ラインNに入射させる。
【0015】逆主走査方向反射部6は、図1に示すよう
に、蛍光灯4の下側に設けられ、蛍光灯4からの光L2
を反射して、主走査方向Aと逆の方向から撮像ラインN
に入射する光を形成する部分である。具体的には、主走
査方向反射部5の支持板51と対向するように主走査方
向Aに沿って光軸Mの左側(図1の左側)に取り付けら
れた長尺状の支持板61に、複数の小型の反射板60を
等間隔で列設した構造となっている。支持板61は、支
持板51と同形であり、図3に示すように、光軸Mを挟
んで支持板51と対称の位置に配され、その下端が光軸
M側に寄るように所定角度だけ傾けられている。これに
より、主走査方向Aから見ると、蛍光灯4からの光L2
が反射板60を介して撮像ラインNに真っ直ぐ入射す
る。また、反射板60の反射面60aは、図4に示すよ
うに、主走査方向Aと逆に向き且つ蛍光灯4を覗くよう
に所定角度だけ上向きに傾斜している。これにより、蛍
光灯4からの光L2 を一定の反射角で主走査方向Aと逆
方向に反射させ、撮像ラインNに入射させる。
【0016】一方、図1において、反射板7は、逆主走
査方向反射部6のさらに下側に設けられ、蛍光灯4から
の光L2 を反射して、副走査方向Bから撮像ラインNに
入射する光を形成する部分である。具体的には、反射板
7は、反射面7aを副走査方向Bに向けた状態で、副走
査方向Bと直交するように配設されている。そして、図
3に示すように、その下端が光軸M側に寄るように所定
角度だけ傾けられている。これにより、蛍光灯4からの
光L2 を一定の反射角で副走査方向Bに反射させ、撮像
ラインNに入射させる。
【0017】また、図1において、反射板8は、主走査
方向反射部5の下側に設けられ、蛍光灯3からの光L1
を反射して、副走査方向Bの逆方向から撮像ラインNに
入射する光を形成する部分である。具体的には、反射板
8は、反射板7と同形であり、副走査方向Bと直交する
ように配設されている。この反射板8は、光軸Mを挟ん
で反射板7と対称の位置に取り付けられており、その反
射面8aは、副走査方向Bと逆に向けられている。そし
て、図3に示すように、反射板8の下端が光軸M側に寄
るように所定角度だけ傾けられており、これによって、
蛍光灯3からの光L1 を一定の反射角で副走査方向Bの
逆方向に反射させ、撮像ラインNに入射させる。
【0018】次に、本実施形態の検査装置が示す動作に
ついて説明する。図2において、走査器1を基板100
の上方に配置し、検査装置を動作させると、走査器1が
駆動装置10によって副走査方向Bに1ラインづつ移動
させられる。基板100の各ラインは、図1に示すよう
に、蛍光灯3,4によって照明され、各ライン上の部品
の取付状態や半田付け状態が、ラインセンサカメラ2に
よって撮像される。
【0019】このとき、右側の蛍光灯3から主走査方向
反射部5に向かう光L1 は、複数の反射板50の反射面
50aで反射される。そして、図4に示すように、反射
面50aが主走査方向Aを向いているので、反射面50
aで反射した光L1 は主走査方向Aに沿って撮像ライン
Nに向かう。すなわち、図4において、例えば反射板5
0−1で反射した光L1 は、図5の破線内の矢印で示す
ように、撮像ラインNに対して主走査方向Aから入射す
る。そして、図4に示す反射板50−1の前後の反射板
50で反射した光L1 が、図5の(a)に示すように、
反射板50−1からの光L1 の前後に入射する。これに
より、全ての反射板50からの反射光L1 が順に主走査
方向Aから撮像ラインN上に均一に入射することとな
る。また、図1において、左側の蛍光灯4から逆主走査
方向反射部6に向かう光L2 は、複数の反射板60の反
射面60aで反射される。そして、図4に示すように、
反射面60aが主走査方向Aと逆を向いているので、反
射面60aの反射光L2 は主走査方向Aの逆方向から撮
像ラインNに向かう。これにより、図5の(b)に示す
ように、全ての反射板60からの反射光L2 が順に主走
査方向Aと逆の方向から撮像ラインN上に均一に入射す
ることとなる。
【0020】一方、図1において、蛍光灯4から反射板
7に向かう光L2 は、副走査方向Bを向いた反射面7a
で反射され、図5の(c)に示すように、その反射光L
2 が副走査方向Bから撮像ラインN上に均一に入射する
こととなる。また、図1において、蛍光灯3から反射板
8に向かう光L1 は、副走査方向Bと逆の方向を向いた
反射面8aで反射され、図5の(d)に示すように、そ
の反射光L1 が副走査方向Bと逆の方向から撮像ライン
N上に均一に入射することとなる。
【0021】このようにして、蛍光灯3からの光L1 が
主走査方向Aから撮像ラインNに入射すると共に副走査
方向Bと逆の方向からも撮像ラインNに入射し、蛍光灯
4からの光L2 が主走査方向Aと逆の方向から撮像ライ
ンNに入射すると共に副走査方向Bからも撮像ラインN
に入射するので、図6に示すように、撮像ラインN上の
半田付け部分Cや図示しない部品等が、蛍光灯3,4か
らの光によって全方向から均一に照される。この状態
で、撮像ラインN上の半田付け部分C等が、上方のライ
ンセンサカメラ2によって撮像される。そして、ライン
センサカメラ2において、その光信号が電気信号に変換
され、画像処理装置11で画像処理された後、半田付け
部分C等の画像が図示しないモニタに表示される。この
とき、ラインセンサカメラ2が、上記のように、蛍光灯
3,4からの光によって全方向から均一に照し出された
半田付け部分C等を撮像しているので、モニタには、図
10に示すように、半田付け部分Cの外観と正確に対応
したドーナッツ状の画像が表示される。この結果、撮像
ラインN上にある半田付け部分Cや部品等の取付状態を
正常に検査することができる。
【0022】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
るものではなく、発明の要旨の範囲内において種々の変
形や変更が可能である。例えば、本実施形態では、照明
部として、蛍光灯3,4を用いたが、蛍光灯3,4を用
いず、蛍光灯3,4の位置に複数の発光ダイオードを並
べて、照明部として使用することもできる。このように
することで、照明寿命の長い照明部を得ることができる
と共に部分的な明るさの調整を高精度で行うことができ
る。また、照明部として、2本の蛍光灯3,4を用いた
が、1本の蛍光灯をラインセンサカメラ2の光軸M近傍
に取り付けて照明部とすることもできる。これにより、
蛍光灯の交換作業等のメインテナンスを容易にすると共
にコストの低減化を図ることができる。また、本実施形
態では、主走査方向反射部5と反射板8との側に1本の
蛍光灯3を配設し、逆主走査方向反射部6と反射板7と
の側に1本の蛍光灯4を配設した構造としたが、主走査
方向反射部5,逆主走査方向反射部6,反射板7,反射
板8にそれぞれ1本づち蛍光灯を取り付けた構造として
も良い。このようにすることで、主走査方向Aに照射す
る光の強さ,主走査方向Aの逆方向に照射する光の強
さ,副走査方向Bに照射する光の強さ,副走査方向Bの
逆方向に照射する光の強さをそれぞれ正確に調整するこ
とができる。さらに、主走査方向反射部5(逆主走査方
向反射部6)を、支持板51(61)に別体の反射板5
0(60)を固着して形成したが、支持板51(61)
と反射板50(60)とを一体成型し、メッキ等によっ
て反射面50a(60a)を形成するようにしても良
い。これにより、製造工程の削減を図ることができる。
【0023】
【発明の効果】以上詳しく説明したように、請求項1の
発明によれば、主走査方向反射部,逆主走査方向反射
部,副走査方向反射部,及び逆副走査方向反射部によっ
て反射された照明部の光が、ほぼ全方向から均一に被検
査体を照明するので、上記した従来の検査装置のような
部品影の発生や半田付け部分の光の偏りの発生がなく、
この結果、被検査体の部品や半田付け部分等の実際の外
観に対応した正常な画像を得ることができ、被検査体の
正常な検査を行うことができるという優れた効果があ
る。
【0024】請求項2の発明によれば、主走査方向反射
部及び逆主走査方向反射部が複数の第1及び第2の反射
板を具備し、副走査方向反射部及び逆副走査方向反射部
が第3及び第4の反射板を具備した簡単な構造となって
いるので、安価な部品コストで装置を製造することがで
き、この結果、装置全体の製造コストを節減することが
できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る検査装置の要部を示す
概略斜視図である。
【図2】本実施形態の検査装置の構成を示すブロック図
である。
【図3】走査器を主走査方向から示す概略断面図であ
る。
【図4】走査器を副走査方向Bから一部を破断して示す
概略図である。
【図5】光の撮像ラインへの照射状態を示す平面図であ
り、図5の(a)は主走査方向からの照射状態を示し、
図5の(b)は主走査方向と逆方向からの照射状態を示
し、図5の(c)は副走査方向からの照射状態を示し、
図5の(d)は副走査方向と逆方向からの照射状態を示
す。
【図6】半田付け部分に照射される光の状態を示す概略
斜視図である。
【図7】従来例に係る検査装置の要部を示す概略斜視図
である。
【図8】部品の影発生現象を示す平面図である。
【図9】半田付け部分の正常でない画像を示す平面図で
ある。
【図10】半田付け部分の正常な画像を示す平面図であ
る。
【符号の説明】
2 ラインセンサカメラ 3,4 蛍光灯 5 主走査方向反射部 6 逆主走査方向反射部 7,8,50,60 反射板 51,61 支持板 100 基板 A 主走査方向 B 副走査方向 L1 ,L2 光

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査体を撮像する撮像部と、 上記被検査体を照明する照明部と、 上記照明部からの光を反射して、上記被検査体を主走査
    方向から照す光を形成する主走査方向反射部と、 上記照明部からの光を反射して、上記被検査体を上記主
    走査方向の逆方向から照す光を形成する逆主走査方向反
    射部と、 上記照明部からの光を反射して、上記被検査体を上記撮
    像部の副走査方向から照す光を形成する副走査方向反射
    部と、 上記照明部からの光を反射して、上記被検査体を上記副
    走査方向の逆方向から照す光を形成する逆副走査方向反
    射部と、 を具備することを特徴とする検査装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の検査装置において、 上記主走査方向反射部は、上記主走査方向に沿って列設
    され、反射面が上記主走査方向を向き且つ上記照明部を
    覗くように傾斜した複数の第1の反射板を具備し、 上記逆主走査方向反射部は、上記主走査方向に沿って列
    設され、反射面が上記主走査方向と逆に向き且つ上記照
    明部を覗くように傾斜した複数の第2の反射板を具備
    し、 上記副走査方向反射部は、上記副走査方向とほぼ直交す
    るように配設され、反射面が上記副走査方向を向き且つ
    上記照明部を覗くように傾斜した第3の反射板を具備
    し、 上記逆副走査方向反射部は、上記副走査方向とほぼ直交
    するように配設され、反射面が上記副走査方向と逆に向
    き且つ上記照明部を覗くように傾斜した第4の反射板を
    具備する、 ことを特徴とする検査装置。
JP32885695A 1995-12-18 1995-12-18 検査装置 Pending JPH09166423A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32885695A JPH09166423A (ja) 1995-12-18 1995-12-18 検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32885695A JPH09166423A (ja) 1995-12-18 1995-12-18 検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09166423A true JPH09166423A (ja) 1997-06-24

Family

ID=18214861

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32885695A Pending JPH09166423A (ja) 1995-12-18 1995-12-18 検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09166423A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014085264A (ja) * 2012-10-25 2014-05-12 Dainippon Printing Co Ltd Led照明装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014085264A (ja) * 2012-10-25 2014-05-12 Dainippon Printing Co Ltd Led照明装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100671766B1 (ko) 기판 검사 장치
JP2003294578A (ja) カラーフィルタ検査装置
CN1677093A (zh) 传感器单元及使用它的打印状态检查装置
JPH09166423A (ja) 検査装置
US6532063B1 (en) 3-D lead inspection
JP2879323B2 (ja) 撮像装置
JP2001305074A (ja) 板状ワークの検査方法及び装置
JPH11160035A (ja) 外観検査装置および外観検査方法
JP3836200B2 (ja) 透過認識照明装置及びそれを備えた部品装着装置
JPH03137502A (ja) 検査装置
KR100576392B1 (ko) 비전 검사 장치
US4895437A (en) Illumination method and apparatus
JP3757662B2 (ja) 電子部品認識装置
JP2000266680A (ja) 基板検査装置および斜照明ユニット
JP3398754B2 (ja) 集積回路チップ浮き上がり検査装置
JPH05198996A (ja) 電子部品実装機
KR100577421B1 (ko) 검사장치
JPH09252198A (ja) 電子部品読み取り装置及び電子部品実装装置
JP2000121574A (ja) 鋼板の疵検査装置
JP2885443B2 (ja) フラットパッケージ集積回路のリード検査装置
JP2879322B2 (ja) 照明用光源群を備えた装置
JP2000205841A (ja) ウエハ形状認識方法
KR0176538B1 (ko) 인쇄 회로 기판 검사 방법 및 장치
JP2001208693A (ja) 板状ワークの検査方法及び装置
CN113466260A (zh) 检查装置