JPH09161278A - 光ピックアップの光軸ずれの検出調整装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、光軸ずれ量に基づいて、光軸の調
整を行うことが可能な光ピックアップの光軸ずれの検出
調整装置を提供する。 【解決手段】 本発明に係る光軸ずれの検出調整装置に
おいて、光軸のずれ量を検出したい光磁気ディスク装置
を、この検出調整装置の取り付け部に配置する。即ち、
前記光軸ずれ検出機構を、前記光ピックアップのキャリ
ッジ９を光ディスクのトラック方向に移動させるときの
摺動の基準となるガイドレールに対し、３点当て付けに
より垂直かつ平行に配置し、光磁気ディスク装置に搭載
されたレーザーダイオードを発光させて、光軸の位置を
光軸ずれの検出調整装置のポジションセンサにより検出
する。この光軸の位置は、オシロスコープ上に表示され
る。この光軸の表示位置が基準内に入るように、Ｘ−Ｙ
ステージ２５によりレーザーダイオードの取り付け位置
を移動させ、光軸が合ったところで固定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術の分野】本発明は、光ピックアップ
の光軸ずれの検出調整装置に関し、より詳しくは、光磁
気ディスク装置の光ピックアップに入射する光の光軸
と、光ピックアップの摺動基準であるガイドレールとの
光軸ずれ量を検出し調整する光ピックアップの光軸ずれ
の検出調整装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】―般に、分離光学系で構成される光磁気
ディスク装置では、対物レンズを含む光ピックアップが
摺動式のガイドレールに支持され、光磁気ディスクのト
ラック位置に応じ光ピックアップはこのガイドレール上
を摺動するようになっている。

【０００３】このような分離光学系からなる光磁気ディ
スク装置では、光ピックアップの摺動基準であるガイド
レールと、光ピックアップに入射する光との光軸が合致
していないと、光磁気ディスクへのデータの読み書きを
正確に行うことができない。従って、分難光学系からな
る光磁気ディスク装置では、光ピックアップの光軸ずれ
を検出し調整する検出調整装置が必要となる。

【０００４】このような光軸ずれの検出調整装置の従来
技術として、特開昭６１―１２９７４２号公報に開示さ
れた光軸ずれ検出装置が知られている。

【０００５】図１４に、従来技術の構成を示す。図１４
において、光学ヘッド１０５より射出された光は、光分
岐手段１０１により直角方向に折り曲げられ、前記光分
岐手段１０１の両側に配置した反射手段１０３と反射手
段１０４とによりさらに複数回直角方向に折り曲げら
れ、光合成手段１０２でさらに直角方向に反射し、入射
光位置検出手段１０６に入射する。

【０００６】これにより、入射光位置検出手段１０６に
入射した光の光軸と、光分岐手役１０１で分岐しないで
直進しさらに光合成手段１０２を直進した光の光軸との
ずれ量を検出することができる。

【０００７】上述した従来技術では、分岐された光を複
数回反射させることによって、光路長を長くとり、光軸
のずれ量を拡大して、光へッドの取り付け基準に対する
光軸ずれの検出を行うものである。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来技術では、光学ヘッド１０５の光軸の光軸ずれは
検出できるものの、そのずれ量をフィードバックし、光
軸の調整を行うことができない。

【０００９】従って、光軸の調整を行うためには、従来
技術で検出した光軸のずれ量を基に、光学ヘッド１０５
を分解し、組み立て直すか、別途の調整装置が必要とな
り、作業工数が多く調整作業が煩雑になるとともに、設
備費が高くなるという課題がある。

【００１０】本発明は、上記従来技術の課題を解消する
ため、光軸ずれの検出を行うと同時に、前記光軸ずれ量
に基づいて、光軸の調整を行うことが可能な光ピックア
ップの光軸ずれの検出調整装置を提供することを目的と
する。

【００１１】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
取り付けベースに取り付けたレーザーダイオードと、こ
のレーザーダイオードが発する発散光を平行光に変換す
るコリメートレンズより出射された平行光の進路を変更
して対物レンズに導くプリズムミラーと、前記平行光を
光磁気ディスク面に集光させる対物レンズとからなるキ
ャリッジを備えた光ピックアップの光軸ずれを検出し調
整する検出調整装置において、前記対物レンズに平行光
を導くプリズムミラーに入射する前の平行光の光路上に
配置した平行光を光路に対し直角方向に反射する反射手
段と、光軸のずれ量を光位置として検出する光検出手段
と、前記反射手段により反射された平行光を前記光検出
手段に集光するための集光レンズとで構成され、前記光
ピックアップのキャリッジを光磁気ディスクのトラック
方向に移動させるときの摺動の基準となるガイドレール
に対し、３点当て付けにより垂直かつ平行に挿入可能な
光軸ずれ検出機構と、この光軸ずれ検出機構により検出
された光軸のずれ量を基に、前記レーザーダイオードの
取り付けベースに対する取り付け位置を調整する位置調
整手段と、前記光検出手段により検出された光軸の位置
を表示する光軸表示手段とを有することを特徴とするも
のである。

【００１２】請求項２記載の発明は、取り付けベースに
取り付けたレーザーダイオードと、このレーザーダイオ
ードが発する発散光を平行光に変換するコリメートレン
ズより出射された平行光の進路を変更して対物レンズに
導くプリズムミラーと、前記平行光を光磁気ディスク面
に集光させる対物レンズとからなるキャリッジを備えた
光ピックアップの光軸ずれを検出し調整する検出調整装
置において、前記対物レンズに平行光を導くプリズムミ
ラーに入射する前の平行光の光路上に配置した平行光を
光路に対し直角方向に反射する反射部材と、この反射部
材により反射した平行光を集光するための集光レンズ
と、この集光レンズにより集光される光を基に光軸のず
れ量を光位置として検出するポジションセンサとで構成
され、前記光ピックアップのキャリッジを光磁気ディス
クのトラック方向に移動させるときの摺動の基準となる
ガイドレールに対し、３点当て付けにより垂直かつ平行
に挿入可能な光軸ずれ検出機構と、この光軸ずれ検出機
構により検出された光軸のずれ量を基に、前記レーザー
ダイオードの取り付けベースに対する取り付け位置を２
次元方向に調整するＸ−Ｙステージと、前記ポジション
センサにより検出された光軸の位置を表示する光軸表示
手段とを有することを特徴とするものである。

【００１３】（作用）上記構成の請求項１記載の光軸ず
れの検出調整装置において、光軸のずれ量を検出及び調
整したい光磁気ディスク装置を、この光軸ずれの検出調
整装置の取り付け部に配置する。即ち、前記構成の光軸
ずれの検出機構を、前記光ピックアップのキャリッジを
光磁気ディスクのトラック方向に移動させるときの摺動
の基準となるガイドレールに対し、３点当て付けにより
垂直かつ平行に配置する。

【００１４】そして、光磁気ディスク装置に搭載された
レーザーダイオードを図示しない制御装置を介して発光
させると、光軸の位置が光軸ずれの検出調整装置の光検
出手段により検出され、光軸表示手段上に表示される。

【００１５】この光軸の表示位置が基準内に入るよう
に、位置調整手段によりレーザーダイオードの取り付け
位置を移動させ、光軸が合ったところで固定する。この
ようにして、光軸のずれ量に基づいて、レーザーダイオ
ードの取り付け位置を調整可能な光ピックアップの光軸
ずれの検出調整装置を実現できる。

【００１６】上記構成の請求項２記載の光軸ずれの検出
調整装置によれば、光軸ずれの検出機構を、前記対物レ
ンズに平行光を導くプリズムミラーに入射する前の平行
光の光路上に配置した平行光を光路に対し直角方向に反
射する反射部材と、この反射部材により反射した平行光
を集光するための集光レンズと、この集光レンズにより
集光される光を基に光軸のずれ量を光位置として検出す
るポジションセンサとからなる構成で、請求項１記載の
発明と同様な作用を発揮させることができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態を詳
細に説明する。

【００１８】（実施の形態１） （構成）本発明の実施の形態１の構成図を図１及び図２
に、検査対象である光ピックアップの光路図を図３に、
検査対象である光ピックアップに本実施の形態１の光軸
ずれ検出調整装置をセットしたときの光路図を図４に、
実施の形態１の装置の斜視図を図５に、また、光軸ずれ
の検出機構を光ピックアップの摺動基準となるガイドレ
ールに対し、直角かつ平行にセットしたとき時に光軸の
検出機構の位置がガイドレールに対して規制される状態
を説明する図を図６に各々示す。

【００１９】図７は、図６のＹＺ平面のＢ点における断
面図で、Ａ矢視方向より見た図である。

【００２０】図１、図３において、レーザーダイオード
・プレート２に支持されたレーザーダイオード１より発
っせられた発散光は、コリメートレンズ３により平行光
に変換され、ビームスプリッタ４を透過し、前記透過し
た平行光がディスク面１０の半径方向に移動可能なキャ
リッジ９内のプリズムミラー７で方向を変え、ディスク
面１０への集光用の前記キャリッジ９内の対物レンズ８
に入射する。

【００２１】前記対物レンズ８から出射した収束光は、
ディスク面１０で反射され、入射光と同じ光路を入射光
とは逆方向に進み、前記ビームスプリッタ４で直角方向
に折り曲げられ、信号再生用の受光素子５に入射する。

【００２２】ここで、レーザーダイオード１と、レーザ
ーダイオード・プレート２と、コリメートレンズ３と、
ビームスプリッタ４と、受光素子５とにより固定光学系
６が構成されている。

【００２３】前記プリズムミラー７と前記対物レンズ８
とディスク面１０との光軸は予め調整されているものと
する。以後この光軸を対物レンズ８の光軸と称する。

【００２４】前記対物レンズ８の光軸と、レーザーダイ
オード１より発っせられ、コリメートレンズ３を経てビ
ームスプリッタ４を透過した光の光軸（以後、平行光の
光軸と称する）とが、直角でなければ、正確な光磁気デ
ィスクの記録再生を実行できない。

【００２５】そこで、本実施の形態１では、図２に示す
ように、キャリッジ９内のプリズムミラー７と固定光学
系６内のビームスプリック４との間の光路に対物レンズ
８の光軸と平行光の光軸との光軸ずれ検出を行うための
センサ箱３４が挿入される構成となっている。

【００２６】次に、図１を参照して、本実施の形態１の
構成を説明する。図１において、２０は、調整される光
ピックアップを含むデッキ１１を載置するためのベース
板で、デッキ１１が入りきる大きさの平面を有する金属
板で形成される。２１ａ、２ｌｂ、２１ｃは、デッキ１
１をベース板２０に載置する際の当てつけ基準になる基
準ピンで、この基準ピン２１ａ、２１ｂ、２１ｃにデッ
キ１１の素材基準面が当てつくベース板２０上の位置に
圧入されている。

【００２７】図１において、２２、２３は、デッキ１１
をクランプするための一対のクランプ部材である。クラ
ンプ部材２２は、デッキ１１のレーザーダイオード・プ
レート２と当接する側とは反対の側に配置した固定部材
２２ａと、この固定部材２２ａの上面において図１に示
す矢印方向に回動可能に支持され、デッキ１１の上面に
接触してこのデッキ１１の位置規制を行う回動片２２ｂ
とを具備している。

【００２８】前記クランプ部材２３は、前記デッキ１１
のレーザーダイオード・プレート２と当接する側の隅部
に配置され、取手２３ａを図１に示す矢印方向に回すこ
とにより、クランプ片２３ｂによる前記デッキ１１の締
め付け又は締め付け解除を行うようになっている。この
ため、前記クランプ片２３ｂには、溝が形成され取手２
３ａの軸が挿通されているとともに、前記クランプ片２
３ｂに長穴２３ｄを穿設し、前記ベース板２０から立設
したピン２３ｃを長穴２３ｄの上方に突出させ、かつ、
前記クランプ片２３ｂの取手２３ａの近傍に立設したピ
ン２３ｅと、ピン２３ｃとにバネ２３ｆを張設して、前
記クランプ片２３ｂをバネ２３ｆの弾力により一方向に
付勢するようになっている。

【００２９】図１において、２５は、Ｘ−Ｙステージで
あり、前記平行光の光軸と前記対物レンズ８との光軸と
のずれ量に応じ、これらの光軸が合致するように調整す
るため、レーザーダイオード１を支持しているレーザダ
イオード・プレート２の当接部位２ａに対し、矢印２９
ａ、２９ｂに示す二次元方向に移動するようになってい
る。

【００３０】また、前記Ｘ−Ｙステージ２５は、レーザ
ダイオード・プレート位置調整用の位置調整ピン２７
ａ、２７ｂを有するレーザーダイオード・プレート位置
調整部材２６と一体にネジ結合されている。

【００３１】このレーザーダイオード・プレート位置調
整部材２６の前記位置調整ピン２７ａ、２７ｂの間に
は、開口部２７ｃが形成されており、この開口部２７ｃ
を介して前記レーザダイオード・プレート２を位置調整
する際のドライバー７０の挿脱が行われるようになって
いる。

【００３２】前記位置調整ピン２７ａ、２７ｂは、レー
ザダイオード・プレート２の当接部位２ａ上に設けられ
たレーザーダイオード・プレート位置調整用の２点の穴
位置３７ａ、３７ｂの位置関係と合致するような位置関
係で、レーザーダイオード・プレート位置調整部材２６
上に圧入されていて、穴位置３７ａ、３７ｂにピン先が
挿入しやすいように、これらの先端はテーパ状となって
いる。尚、６８ａ、６８ｂは、ネジを示している。

【００３３】また、前記Ｘ−Ｙステージ２５は、図１に
示す矢印３８方向に移動可能なスライド部材３９と一体
となるようにネジ結合されている。尚、図１において、
２８ａ、２８ｂは、Ｘ−Ｙステージ２５をそれぞれ、矢
印２９ａ、２９ｂ方向に移動させる調整つまみである。
また、２８ｃはスライド部材３９を矢印３８方向に移動
せしめる調整つまみである。

【００３４】図１において、３０は、キャリッジ９を、
光軸の調整基準となるガイドレール４７に対し自重にて
押圧固定するためのキャリッジ固定部材であり、前記セ
ンサ箱３４を平行光の光軸上の位置３５に挿入したとき
に、キャリッジ９と前記センサ箱３４とが緩衝しない位
置で、矢印４８方向に１８０度回動可能にベース板２０
に取り付けられている。

【００３５】図１において、３１は、前記センサ箱３４
を上下に移動させるためのガイドとなる一対のシャフト
であり、図２において、３２はシャフト３１をガイドと
して上下に移動するために、各シャフト３１の間に連架
したべアリングである。

【００３６】前記シャフト３１は、前記センサ箱３４を
下降させたときに、このセンサ箱３４が固定光学系６と
キャリッジ９との間の位置３５にくるようなベース板２
０上の位置に固定されている。

【００３７】図２において、３３は、前記ベアリング３
２とセンサ箱３４とを連結するための連結部材であり、
ベアリング３２とセンサ箱３４及び連結部材３３とは一
体となるようにネジ結合されている。

【００３８】図２において、５２は、センサ箱３４を上
下移動させるためのレバーで、連結部材３３と一体とな
るようにこの連結部材３３上の側面に固定されている。
前記シャフト３ｌ上には、センサ箱３４の下端位置を制
限するためのストッパ部材４９が固定されていて、ベア
リング３２とストッパ部材４９とが緩衝することによ
り、センサ箱３４の下端位置を規制している。５０はセ
ンサ箱３４を上方で固定するためのボールプランジャ
（連結部材３３の両側面にそれぞれ突設されている）で
あり、シャフト３１の上方のセンサ箱３４の上方位置を
規制する上部固定部材５１上に設けた円形状の凹部に、
ボールプランジャ５０が入ることで、位置決めされるよ
うになっている。

【００３９】前記センサ箱３４（図４において２点鎖線
で示す）の内部には、下記の光学部品が固定若しくは把
持されている。即ち、前記センサ箱３４は、前記ビーム
スプリッタ４とプリズムミラー７との間の平行光を直角
方向に反射するためのプリズムミラー３６と、光軸のず
れ検出手段であるポジションセンサ４１と、プリズムミ
ラー３６により直角方向に反射した平行光をポジション
センサ４１上に結像させる集光レンズ４０とを具備して
いる。前記プリズムミラー３６と集光レンズ４０とポジ
ションセンサ４１との光軸は前記対物レンズ８の光軸と
平行、即ち、ガイドレール４７に対して直角となるよう
な位置関係で、センサ箱３４内に調整されて固定されて
いる。前記プリズムミラー３６は、図１においては、セ
ンサー箱３４の下端部よりもプリズムミラー３６の反射
面が突出した状態となっている。

【００４０】図１において、４７は、キャリッジ９のデ
ィスク面１０に対するトラック方向５３（図６のＸ方向
と同義）の移動基準となるガイドレールであり、前記キ
ャリッジ９は、このガイドレール４７上を摺動すること
により光磁気ディスクのトラック移動を行うものであ
る。

【００４１】前記ガイドレール４７は、前記固定光学系
６から発っせられた平行光とは略平行となるデッキ１１
上に合計４個の支持部材４７ａを介して支持されてデッ
キ１１から浮いた状態でこのデッキ１１と平行に配置さ
れている。

【００４２】前記平行光の光軸と、前記対物レンズ８と
の光軸が合致したときに、キャリッジ９に入射される光
と平行であり、キャリッジ９より出射される光とは垂直
となる。

【００４３】図２において、５４、５５、５６は、金属
棒であり、前記センサ箱３４をシャフト３１に沿って下
降させたときに、２本のガイドレール４７と当接した
際、このガイドレール４７とセンサ箱３４内のプリズム
ミラー３６ヘの入射光とが、図６のＺ方向（高さ方向）
において平行となるようにセンサ箱３４の下面、即ち、
プリズムミラー３６の位置を規制するため、これらの下
方の先端部が平面の金属棒で、センサ箱３４の下面の金
属板に長さが等しく圧入され固定されている。

【００４４】図２において、５７、５８は図６のＹ方向
の位置を規制する金属棒で、挿入しやすいように、先端
部はテーパ状となっていて、ガイドレール４７の片方の
レールに対して、これら金属棒５７、５８の一端が当て
付く図６に示す位置関係で、センサ箱３４の下面の金属
板に固定されている。

【００４５】図２において、５９、６０は、それぞれ板
バネであり、図６のＹ方向の位置決め用の金属棒５７、
５８とで、ガイドレール４７を挟み込むことにより、セ
ンサ箱３４のガイドレール４７に対するＹ方向の位置決
めを行うようになっている。

【００４６】前記板バネ５９、６０は、無負荷時にはそ
れぞれ金属棒５７、５８に当接し、ガイドレール４７と
は平行なセンサ箱３４の下面の金属板上の位置に固定さ
れている。

【００４７】また、図４において（図１には不図示）、
４２は、ポジションセンサ４１上の結像位置を２次元の
方向のアナログ出力値に変換するセンサアンプであり、
このセンサアンプ４２の２次元のアナログ出力値は、オ
シロスコープ４３に入力され、このオシロスコープ４３
の画面に表示される構成となっている。

【００４８】（作用）次に本実施の形態１の作用につい
て説明する。尚、図８には、光軸ずれがない時のオシロ
スコープ４３上の像の表示状態を、図９には、光軸ずれ
が有る時のオシロスコープ４３上の像の表示状態を示
す。

【００４９】まず、クランプ部材２２とクランプ部材２
３とが、どちらもデッキ１１をベース板２０上にセッテ
ィング可能な状態で、センサ箱３４が上方に位置する状
態で、また、キャリッジ固定部材３０がデッキ１１をベ
ース板２０上にセッティング可能な状態で、光軸ずれの
検出および調整対象である光ピックアップ２１ｂ、２１
ｃに３点で当て付け、クランプ部材２２及びクランプ部
材２３をクランプする方向に動かし、デッキ１１をベー
ス板２０にクランプする。

【００５０】そして、キャリッジ９を、キャリッジ固定
部材３０により所定の位置に固定する。

【００５１】次に、レバー５２を押し下げて、センサ箱
３４をベアリング３２が下端のストッパ部材４９の上面
に当接する位置まで下降させる。

【００５２】これにより、センサ箱３４の下面のセンサ
箱位置規制用の金属棒５４、５５、５６、５７、５８と
位置規制の板バネ５９、６０とにより、センサ箱３４の
ガイドレール４７に対する位置が規制され、図４の光学
構成となると同時に、図５のような装置構成となる。

【００５３】ここで、図５と図６を参照して、センサ箱
３４がガイドレール４７に対して位置規制される状態を
説明する。

【００５４】まず、Ｘ−Ｚからなる平面の傾きについて
は、金属棒５４と金属捧５５とにより既成され、次に、
Ｙ−Ｚからなる平面の傾きについては、金属棒５４、５
５と金属棒５６とで規制され、Ｘ−Ｙからなる平面の傾
きについては、金属棒５７と板バネ５９とによりガイド
レール４７を挟み込むことと、金属棒５８と板バネ６０
とによリガイドレール４７を挟み込むことにより規制さ
れる。これらにより、ＸＹＺの三次元の平面のいづれの
傾きも規制される。

【００５５】そして、図示しない制御回路によりレーザ
ダイオード１の発光が行われ、レーザーダイオード１よ
り発っせられた発散光は、コリメートレンズ３により、
平行光に変換され、ビームスプリッタ４を透過した後、
挿入したセンサ箱３４内のプリズムミラー３６により直
角の方向に反射され、集光レンズ４０に入射する。

【００５６】集光レンズ４０に入射した光は、その焦点
位置に配置されたポジションセンサ４１上に結像され
る。ポジションセンサ４１に入射した光は、センサアン
プ４２により、２次元のアナログ信号に変換され、その
２次元の位置がオシロスコープ４３上に表示される。

【００５７】ここで、光軸のずれがないデッキ１１のレ
ーザーダイオード１を発光させた時のオシロスコープ４
３上の表示位置を図８に示す０点（オシロスコープ表示
の中心位置）６１と一致させることにより、オシロスコ
ープ４３上の表示位置の中心位置からの像のずれを光軸
のずれとして検出できる。

【００５８】ここで、図９に示す表示位置６２のよう
に、オシロスコープ４３上の像の表示位置が中心位置と
一致していない時は、レーザーダイオードプレート位置
調整部材２６と―体となったスライド部材３９を前進さ
せ、前記位置調整ピン２７ａ、２７ｂを調整対象のデッ
キ１１に搭載されたレーザーダイオード１のレーザーダ
イオード・プレート２への穴位置３７ａ、３７ｂに挿入
し、調整つまみ２８ａ、２８ｂを回して、レーザーダイ
オード１のレーザーダイオード・プレート２ヘの取付け
位置を矢印２９ａ、２９ｂ方向に移動させ、ネジ６８
ａ、６８ｂによりレーザーダイオード・プレート２を固
定光学系６へ固定することにより、平行光と対物レンズ
８との光軸の調整を行うことができる。

【００５９】尚、実施の形態１では、センサ箱３４内の
集光レンズ４０の焦点位置に光軸ずれ検出用のポジショ
ンセンサ４１を配置したが、センサ箱３４を小型にする
ため、集光レンズ４０とポジションセンサ４１との間の
光路をプリズムミラーなどの反射手段により折り曲げて
も良い。

【００６０】（効果）このようにして、実施の形態１に
よれば、光軸ずれの検出量に基づいた光軸の調整が行え
る光ピックアップの光軸ずれの検出調整装置を提供でき
る。

【００６１】（実施の形態２） （構成）図１０に実施の形態２の光学配置図を、図１３
に実施の形態２における実施の形態１とは異なる部分の
斜視図を示す。また、図１１、図１２に、実施の形態２
の構成要素であるチャート６３を図１０のＢ矢視方向よ
り見た状態を示す。

【００６２】本実施の形態２では、実施の形態１の場合
と光軸ずれの検出機構のみ異なるので、光軸ずれの検出
機構を詳細に説明する。尚、実施の形態１と同じ機構に
ついては、同じ符号を付し、その説明は省略する。

【００６３】図１０に示す実施の形態２において、６３
は、センサ箱３４をガイドレール４７にセットした時、
プリズムミラー３６により直角方向に折り曲げられた平
行光７１をＣＣＤカメラ６４上に光軸ずれとして投影す
るためのチャートであり、このチャート６３は、図１１
に示すように、スポット孔６５ａを穿設した金属製の平
板か、若しくは、図１２に示すように、十字穴６５ｂを
穿設した金属製の平板であり、これらの表面には光を透
過又は反射しないように黒色にアルマイト処理を施して
いる。

【００６４】前記チャート６３は、ＣＣＤカメラ６４と
プリズムミラー３６との光路間の任意の位置で、プリズ
ムミラー３６に入射される光軸７０に対し平行になるセ
ンサ箱３４内の位置に取り付けられている。

【００６５】また、図１３において、６７は、ＣＣＤカ
メラ６４の固定部材で、センサ箱３４の上方向の位置の
規制部材５１の上方でＣＣＤカメラ６４を固定し得る位
置にシャフト３１の軸を挟み込み、ネジ結合することに
よりこのシャフト３１に固定されている。

【００６６】前記ＣＣＤカメラ６４は、光軸ずれの検出
の分解能を向上させるため、プリズムミラー３６とは、
極力、離れた位置で、プリズムミラー３６により反射さ
れた光軸７０上のセンサ箱３４の上方に配置してあり、
固定部材６７と一体にネジ結合されている。

【００６７】また、センサ箱３４には、図１３に示すよ
うに、センサ箱３４の上面の中心付近に、チャート像が
通過するに充分な孔６６を穿設している。尚、図１０に
おいて、８０は、ＣＣＤカメラ６４で撮像されたチャー
ト像を表示させる画像モニタであり、本実施の形態２の
光軸ずれの検出調整装置の本体とは別位置に配置されて
いる。

【００６８】（作用）本実施の形態２では、実施の形態
１の場合と同様に、前記センサ箱３４をガイドレール４
７に対し、セットした後、プリズムミラー３６で反射し
た平行光７１をチャート６３を介してＣＣＤカメラ６４
上に投影する。すると、チャート像（チヤートがスポッ
ト孔の場合スポット像、チャートが十字穴の場合十字の
像）が、画像モニタ８０上に表示される。

【００６９】この時、光軸が合致している光ピックアッ
プのチャート像が画像モニタ８０の中央にくるように、
ＣＣＤカメラ６４の取り付け位置を合わせておけば、図
８に示すように光軸ずれがなければチャート像が画像モ
ニタ８０の中央に表示され、図９に示すように光軸ずれ
がある場合にはチャート像が画像モニタ８０の中央から
離れた位置に表示されるので、実施の形態１の場合と同
様な光軸ずれの検出を行うことが可能となる。そして、
実施の形態１の場合と同様にして、レーザーダイオード
・プレート２の取り付け位置を調整すればよい。

【００７０】（効果）本実施の形態２によれば、センサ
箱３４内部の光学部品が少なくて済む分、センサ箱３４
が軽量になり、ガイドレール４７にならいやすくなるた
め、センサ箱３４の精度の高い位置決めを実行でき、こ
の結果、光軸ずれの検出精度が向上する。また、光検出
手段として、ポジションセンサではなくＣＣＤカメラ６
４を用いた方が安価になるという効果がある。

【００７１】

【発明の効果】以上説明した本発明によれば、光軸のず
れ量に基づいて光軸の調整を行うことができ、設備効率
の良い光ピックアップの光軸ずれの検出調整装置を提供
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１の光ピックアップの光軸
ずれの検出調整装置を示す斜視図である。

【図２】本発明の実施の形態１の光軸ずれの検出調整装
置における光軸ずれ検出機構の斜視図である。

【図３】本発明の実施の形態１の光ピックアップの光学
系を示す拡大斜視図である。

【図４】本発明の実施の形態１の光ピックアップ及び光
軸ずれ検出機構の光学系を示す斜視図である。

【図５】本発明の実施の形態１の光ピックアップの光軸
ずれの検出調整装置を示す斜視図である。

【図６】本発明の実施の形態１におけるセンサ箱に設け
た金属棒及び板バネの拡大斜視図である。

【図７】本発明の実施の形態１におけるセンサ箱に設け
た金属棒及び板バネの拡大断面図である。

【図８】本発明の実施の形態１におけるオシロスコープ
の光軸表示例を示す説明図である。

【図９】本発明の実施の形態１におけるオシロスコープ
の光軸表示例の他例を示す説明図である。

【図１０】本発明の実施の形態２における光ピックアッ
プ及び光軸ずれ検出機構の光学系を示す斜視図である。

【図１１】本発明の実施の形態２における光軸表示例を
示す説明図である。

【図１２】本発明の実施の形態２における光軸表示例の
他例を示す説明図である。

【図１３】本発明の実施の形態２における光軸ずれ検出
機構及びＣＣＤカメラの取り付け例を示す斜視図であ
る。

【図１４】従来の光ピックアップの光軸ずれの検出調整
装置を示す光学配置図である。

【符号の説明】

１ レーザーダイオード ２ レーザーダイオード・プレート ３ コリメートレンズ ４ ビームスプリッタ ６ 固定光学系 ７ プリズムミラー ８ 対物レンズ ９ キャリッジ １０ ディスク面 １１ デッキ ２０ ベース板 ２２ クランプ部材 ２３ クランプ部材 ２５ Ｘ−Ｙステージ ２６ レーザーダイオード・プレート位置調整部材 ３０ キャリッジ固定部材 ３１ シャフト ３３ 連結部材 ３４ センサ箱 ３６ プリズムミラー ４０ 集光レンズ ４１ ポジションセンサ ４２ センサアンプ ４３ オシロスコープ ４７ ガイドレール ５４ 金属棒 ５５ 金属棒 ５６ 金属棒 ５７ 金属棒 ５８ 金属棒 ５９ 板バネ ６０ 板バネ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 取り付けベースに取り付けたレーザーダ
   イオードと、このレーザーダイオードが発する発散光を
   平行光に変換するコリメートレンズより出射された平行
   光の進路を変更して対物レンズに導くプリズムミラー
   と、前記平行光を光磁気ディスク面に集光させる対物レ
   ンズと、 からなるキャリッジを備えた光ピックアップの光軸ずれ
   を検出し調整する検出調整装置において、 前記対物レンズに平行光を導くプリズムミラーに入射す
   る前の平行光の光路上に配置した平行光を光路に対し直
   角方向に反射する反射手段と、光軸のずれ量を光位置と
   して検出する光検出手段と、前記反射手段により反射さ
   れた平行光を前記光検出手段に集光するための集光レン
   ズとで構成され、 前記光ピックアップのキャリッジを光磁気ディスクのト
   ラック方向に移動させるときの摺動の基準となるガイド
   レールに対し、３点当て付けにより垂直かつ平行に挿入
   可能な光軸ずれ検出機構と、 この光軸ずれ検出機構により検出された光軸のずれ量を
   基に、前記レーザーダイオードの取り付けベースに対す
   る取り付け位置を調整する位置調整手段と、 前記光検出手段により検出された光軸の位置を表示する
   光軸表示手段と、 を有することを特徴とする光ピックアップの光軸ずれの
   検出調整装置。
2. 【請求項２】 取り付けベースに取り付けたレーザーダ
   イオードと、このレーザーダイオードが発する発散光を
   平行光に変換するコリメートレンズより出射された平行
   光の進路を変更して対物レンズに導くプリズムミラー
   と、前記平行光を光磁気ディスク面に集光させる対物レ
   ンズと、 からなるキャリッジを備えた光ピックアップの光軸ずれ
   を検出し調整する検出調整装置において、 前記対物レンズに平行光を導くプリズムミラーに入射す
   る前の平行光の光路上に配置した平行光を光路に対し直
   角方向に反射する反射部材と、この反射部材により反射
   した平行光を集光するための集光レンズと、この集光レ
   ンズにより集光される光を基に光軸のずれ量を光位置と
   して検出するポジションセンサとで構成され、 前記光ピックアップのキャリッジを光磁気ディスクのト
   ラック方向に移動させるときの摺動の基準となるガイド
   レールに対し、３点当て付けにより垂直かつ平行に挿入
   可能な光軸ずれ検出機構と、 この光軸ずれ検出機構により検出された光軸のずれ量を
   基に、前記レーザーダイオードの取り付けベースに対す
   る取り付け位置を２次元方向に調整するＸ−Ｙステージ
   と、 前記ポジションセンサにより検出された光軸の位置を表
   示する光軸表示手段と、 を有することを特徴とする光ピックアップの光軸ずれの
   検出調整装置。