JPH09161066A - 画像処理装置 - Google Patents
画像処理装置Info
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- JPH09161066A JPH09161066A JP7337789A JP33778995A JPH09161066A JP H09161066 A JPH09161066 A JP H09161066A JP 7337789 A JP7337789 A JP 7337789A JP 33778995 A JP33778995 A JP 33778995A JP H09161066 A JPH09161066 A JP H09161066A
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- image processing
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 画像を多ブロックに分割し、そのブロック毎
に特徴量を求め総合的に基準画像と被検査画像とを比較
することで、より容易に正確に検査する。 【解決手段】 カメラ３から画像が取り込まれ、Ａ／Ｄ
変換器４を介してディジタル画像信号として画像メモリ
５へ供給される。画像プロセッサ６では、画像メモリ５
に記録された信号が処理、計測された後、再び画像メモ
リ５に記録される。画像ＣＰＵ８では、画像メモリ５か
ら処理された信号が演算される。Ｄ／Ａ変換器７では、
画像メモリ５からディジタル信号が供給され、変換され
たアナログ信号は、画像処理モニタ９へ出力される。ホ
ストＣＰＵ１１は、プログラムモニタ１２、マウス１３
およびキーボード１４を操作して、作成されたユーザプ
ログラムがプログラムメモリ１０に記憶されると共に、
ユーザの命令を画像ＣＰＵ８へ伝送する。
に特徴量を求め総合的に基準画像と被検査画像とを比較
することで、より容易に正確に検査する。 【解決手段】 カメラ３から画像が取り込まれ、Ａ／Ｄ
変換器４を介してディジタル画像信号として画像メモリ
５へ供給される。画像プロセッサ６では、画像メモリ５
に記録された信号が処理、計測された後、再び画像メモ
リ５に記録される。画像ＣＰＵ８では、画像メモリ５か
ら処理された信号が演算される。Ｄ／Ａ変換器７では、
画像メモリ５からディジタル信号が供給され、変換され
たアナログ信号は、画像処理モニタ９へ出力される。ホ
ストＣＰＵ１１は、プログラムモニタ１２、マウス１３
およびキーボード１４を操作して、作成されたユーザプ
ログラムがプログラムメモリ１０に記憶されると共に、
ユーザの命令を画像ＣＰＵ８へ伝送する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば製品の良
否を判定するための画像比較を行うことができる画像処
理装置に関する。
否を判定するための画像比較を行うことができる画像処
理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、例えば印刷物の良否を判定するの
に使用されていた画像処理は、良品とされる印刷物の画
像（以下、基準画像と称する）と比較するために、実際
の印刷物の画像（以下、被検査画像と称する）と基準画
像の間の正規化相関量が算出され、算出された正規化相
関量が比較される。または、基準画像と被検査画像の同
じ画素位置のレベル差分が算出され、そのレベル差分に
対して絶対値化を施した後、所定のしきい値を用いて２
値化され、そのしきい値より大きいか、小さいかによっ
て比較される手法が行われていた。
に使用されていた画像処理は、良品とされる印刷物の画
像（以下、基準画像と称する）と比較するために、実際
の印刷物の画像（以下、被検査画像と称する）と基準画
像の間の正規化相関量が算出され、算出された正規化相
関量が比較される。または、基準画像と被検査画像の同
じ画素位置のレベル差分が算出され、そのレベル差分に
対して絶対値化を施した後、所定のしきい値を用いて２
値化され、そのしきい値より大きいか、小さいかによっ
て比較される手法が行われていた。
【０００３】例えば、図９に示す構成により、正規化相
関量による比較を説明する。メモリ５１には、Ａ／Ｄコ
ンバータからのディジタル画像信号、すなわち基準画像
と被検査画像とが順次供給され、記憶される。記憶され
たこれらの画像は、ブロック化回路５２へ供給され、後
述する図３に示すように所定のブロックに分割される。
演算回路５３によって、分割されたブロック毎の演算が
行われ、その演算結果は、メモリ５４および５５へ供給
される。
関量による比較を説明する。メモリ５１には、Ａ／Ｄコ
ンバータからのディジタル画像信号、すなわち基準画像
と被検査画像とが順次供給され、記憶される。記憶され
たこれらの画像は、ブロック化回路５２へ供給され、後
述する図３に示すように所定のブロックに分割される。
演算回路５３によって、分割されたブロック毎の演算が
行われ、その演算結果は、メモリ５４および５５へ供給
される。
【０００４】メモリ５４には、演算回路５３の演算結果
である被検査画像の演算データが記憶され、メモリ５５
には、基準画像から得られたデータが記憶される。すな
わち、メモリ５１、ブロック化回路５２および演算回路
５３の手順で得られた、正規化相関量に必要な基準画像
のデータがメモリ５５には、記憶される。メモリ５４お
よび５５からのデータが画像プロセッサ５６に供給さ
れ、画像プロセッサ５６によって、メモリ５４および５
５からのデータから正規化相関量５８が求められる。判
定回路５７では、画像プロセッサ５６で得られた正規化
相関係数が予め決定されている規格と比較され、印刷物
の良否が判定される。
である被検査画像の演算データが記憶され、メモリ５５
には、基準画像から得られたデータが記憶される。すな
わち、メモリ５１、ブロック化回路５２および演算回路
５３の手順で得られた、正規化相関量に必要な基準画像
のデータがメモリ５５には、記憶される。メモリ５４お
よび５５からのデータが画像プロセッサ５６に供給さ
れ、画像プロセッサ５６によって、メモリ５４および５
５からのデータから正規化相関量５８が求められる。判
定回路５７では、画像プロセッサ５６で得られた正規化
相関係数が予め決定されている規格と比較され、印刷物
の良否が判定される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成では、被検査画像が例えば印刷物の場合、輝度
の大きいものや、小さいもの等さまざまな印刷物があ
る。このような印刷物を基準画像と比較する場合、例え
ば正規化相関による判定に不向きな輝度変化の小さいも
のは、１つのパラメータ、すなわち正規化相関のみで充
分な判定をするのは困難であった。また、画像の１部分
で判定される場合でも、その領域（ブロック）等で、判
定される部分を設定する必要があり、対象物が変わる毎
に設定しなければならなかった。さらに、画像全体を見
ると正規化相関による比較では、判定の精度が落ちると
いう問題があった。
うな構成では、被検査画像が例えば印刷物の場合、輝度
の大きいものや、小さいもの等さまざまな印刷物があ
る。このような印刷物を基準画像と比較する場合、例え
ば正規化相関による判定に不向きな輝度変化の小さいも
のは、１つのパラメータ、すなわち正規化相関のみで充
分な判定をするのは困難であった。また、画像の１部分
で判定される場合でも、その領域（ブロック）等で、判
定される部分を設定する必要があり、対象物が変わる毎
に設定しなければならなかった。さらに、画像全体を見
ると正規化相関による比較では、判定の精度が落ちると
いう問題があった。
【０００６】従って、この発明の目的は、複数のパラメ
ータから製品の良否の判定を行うことで、高精度の判定
を容易に行うことができる画像処理装置を提供すること
にある。
ータから製品の良否の判定を行うことで、高精度の判定
を容易に行うことができる画像処理装置を提供すること
にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、良品を基準として被検査物を画像処理を用いて検査
する画像処理装置において、良品と対応する基準画像が
ブロック化され、ブロック毎に相関量、平均値および分
散が検出される手段と、被検査物の画像が基準画像と同
一のブロック化が施され、ブロック毎の相関量および／
または平均値および／または分散が検出される手段と、
ブロック毎に検出された相関量および／または平均値お
よび／または分散に応じて、被検査物の画像のブロック
と基準画像のブロックとを比較する手段とからなること
を特徴とする画像処理装置である。
は、良品を基準として被検査物を画像処理を用いて検査
する画像処理装置において、良品と対応する基準画像が
ブロック化され、ブロック毎に相関量、平均値および分
散が検出される手段と、被検査物の画像が基準画像と同
一のブロック化が施され、ブロック毎の相関量および／
または平均値および／または分散が検出される手段と、
ブロック毎に検出された相関量および／または平均値お
よび／または分散に応じて、被検査物の画像のブロック
と基準画像のブロックとを比較する手段とからなること
を特徴とする画像処理装置である。
【０００８】まず、基準画像を取り込み、その基準画像
がブロック化され、ブロック毎に正規化相関が求められ
る。正規化相関が大きいブロックは、正規化相関を用い
て被検査画像の良否が判定されるが、正規化相関の小さ
いブロックは、ブロックの平均値の差、分散の差（また
は比率）を用いてブロックの良否が判定される。すなわ
ち、取り込まれた基準画像に基づいて、自動的に正規化
相関、平均値、分散などの特徴量が予め設定され、被検
査画像の良否が判定される。
がブロック化され、ブロック毎に正規化相関が求められ
る。正規化相関が大きいブロックは、正規化相関を用い
て被検査画像の良否が判定されるが、正規化相関の小さ
いブロックは、ブロックの平均値の差、分散の差（また
は比率）を用いてブロックの良否が判定される。すなわ
ち、取り込まれた基準画像に基づいて、自動的に正規化
相関、平均値、分散などの特徴量が予め設定され、被検
査画像の良否が判定される。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施例について
図面を参照しながら詳細に説明する。この発明が適用で
きる画像処理装置の一実施例を図１に示す。まず、この
図１の構成を説明する。この図１は、画像処理装置１、
入力装置（マウス１３およびキーボード１４）、出力装
置（プログラムモニタ１２）およびカメラ３から構成さ
れる。また、画像処理装置１は、画像処理ボード２、プ
ログラムメモリ１０およびホストＣＰＵ１１から構成さ
れる。さらに、画像処理ボード２は、Ａ／Ｄ変換器４、
画像メモリ５、画像プロセッサ６、Ｄ／Ａ変換器７およ
び画像ＣＰＵ８から構成される。
図面を参照しながら詳細に説明する。この発明が適用で
きる画像処理装置の一実施例を図１に示す。まず、この
図１の構成を説明する。この図１は、画像処理装置１、
入力装置（マウス１３およびキーボード１４）、出力装
置（プログラムモニタ１２）およびカメラ３から構成さ
れる。また、画像処理装置１は、画像処理ボード２、プ
ログラムメモリ１０およびホストＣＰＵ１１から構成さ
れる。さらに、画像処理ボード２は、Ａ／Ｄ変換器４、
画像メモリ５、画像プロセッサ６、Ｄ／Ａ変換器７およ
び画像ＣＰＵ８から構成される。
【００１０】カメラ３によって、写された被写体がビデ
オ信号として、画像処理装置１へ供給される。カメラ３
からのビデオ信号は、画像処理装置１の画像処理ボード
２に含まれるＡ／Ｄ変換器４へ供給され、ディジタル信
号に変換される。そのディジタル信号は、Ａ／Ｄ変換器
４から画像メモリ５へ供給され、記録される。この画像
メモリ５は、例えば３画面分の容量を有する。画像プロ
セッサ６では、画像メモリ５に記録された信号が処理、
計測された後、再び画像メモリ５へ記録される。画像Ｃ
ＰＵ８では、画像メモリ５から処理された信号の検査
（または判定）がなされる。Ｄ／Ａ変換器７では、画像
メモリ５からディジタル信号が供給され、変換されたア
ナログ信号は、画像処理モニタ９に出力される。
オ信号として、画像処理装置１へ供給される。カメラ３
からのビデオ信号は、画像処理装置１の画像処理ボード
２に含まれるＡ／Ｄ変換器４へ供給され、ディジタル信
号に変換される。そのディジタル信号は、Ａ／Ｄ変換器
４から画像メモリ５へ供給され、記録される。この画像
メモリ５は、例えば３画面分の容量を有する。画像プロ
セッサ６では、画像メモリ５に記録された信号が処理、
計測された後、再び画像メモリ５へ記録される。画像Ｃ
ＰＵ８では、画像メモリ５から処理された信号の検査
（または判定）がなされる。Ｄ／Ａ変換器７では、画像
メモリ５からディジタル信号が供給され、変換されたア
ナログ信号は、画像処理モニタ９に出力される。
【００１１】次に、ホストＣＰＵ１１は、マウス１３お
よび／またはキーボード１４を操作して画像ＣＰＵ８に
ユーザの命令を伝えると共に、画像ＣＰＵ８から処理さ
れたデータを受け取る。プログラムメモリ１０では、プ
ログラムモニタ１２を見ながらマウス１３および／また
はキーボード１４を操作して、作成されたユーザプログ
ラムが記憶される。
よび／またはキーボード１４を操作して画像ＣＰＵ８に
ユーザの命令を伝えると共に、画像ＣＰＵ８から処理さ
れたデータを受け取る。プログラムメモリ１０では、プ
ログラムモニタ１２を見ながらマウス１３および／また
はキーボード１４を操作して、作成されたユーザプログ
ラムが記憶される。
【００１２】ここで、この発明の要部である画像処理ボ
ード２について、図２を用いて説明する。メモリ２１に
は、Ａ／Ｄ変換器６からのディジタル信号が供給され、
記憶される。ブロック化回路２２では、メモリ２１から
のディジタル信号を図１に示す画像ＣＰＵ８からの指示
によって、図３に示すようにブロック毎に分割される。
平均値／分散演算回路２３は、図１に示す画像プロセッ
サ６であり、この平均値／分散演算回路２３では、ブロ
ック化回路２２によって分割されたブロック毎に平均値
および分散が演算される（図４）。
ード２について、図２を用いて説明する。メモリ２１に
は、Ａ／Ｄ変換器６からのディジタル信号が供給され、
記憶される。ブロック化回路２２では、メモリ２１から
のディジタル信号を図１に示す画像ＣＰＵ８からの指示
によって、図３に示すようにブロック毎に分割される。
平均値／分散演算回路２３は、図１に示す画像プロセッ
サ６であり、この平均値／分散演算回路２３では、ブロ
ック化回路２２によって分割されたブロック毎に平均値
および分散が演算される（図４）。
【００１３】このときの平均値および分散を求める式を
示す。 平均値 ｍ＝ΣＸｉ／ｎ 分散 Ｖ＝Σ（Ｘｉ−ｍ）2 ただし、ｍ：平均値、Ｘｉ：ブロックに含まれる画素、
ｎ：ブロックに含まれる画素数、Ｖ：分散とする。
示す。 平均値 ｍ＝ΣＸｉ／ｎ 分散 Ｖ＝Σ（Ｘｉ−ｍ）2 ただし、ｍ：平均値、Ｘｉ：ブロックに含まれる画素、
ｎ：ブロックに含まれる画素数、Ｖ：分散とする。
【００１４】メモリ２４では、平均値／分散演算回路２
３の演算結果が記憶される。メモリ２５では、メモリ２
１、ブロック化回路２２および平均値／分散演算回路２
３の手順で得られた基準画像の平均値、分散および正規
化相関の必要なデータが記憶される。図１に示す画像プ
ロセッサ６である画像プロセッサ２６によって、メモリ
２４および２５から正規化相関量２８、分散量２９およ
び平均値３０が求められる。すなわち、画像プロセッサ
２６では、メモリ２４および２５から供給されたデータ
から各ブロック毎に、正規化相関係数、平均値の差およ
び分散の差（または比率）が求められる。
３の演算結果が記憶される。メモリ２５では、メモリ２
１、ブロック化回路２２および平均値／分散演算回路２
３の手順で得られた基準画像の平均値、分散および正規
化相関の必要なデータが記憶される。図１に示す画像プ
ロセッサ６である画像プロセッサ２６によって、メモリ
２４および２５から正規化相関量２８、分散量２９およ
び平均値３０が求められる。すなわち、画像プロセッサ
２６では、メモリ２４および２５から供給されたデータ
から各ブロック毎に、正規化相関係数、平均値の差およ
び分散の差（または比率）が求められる。
【００１５】判定回路２７では、画像プロセッサ２６で
得られた、各ブロック毎の正規化相関係数、平均値の差
および分散の差（または比率）が予め決定されていた規
格を用いて判定される。この規格の一例として、正規化
相関は、正規化相関係数が１００％の場合、完全に同一
物と判定されるが、正規化相関係数が９０％以内なら同
一物と判断されることとする。また平均値は、被検査画
像の平均値と基準画像の平均値の差が０なら完全に同一
物と判定されるが、それぞれの平均値の差がα以内、す
なわちそれぞれの平均値の差がｍ±αの範囲に含まれる
なら同一物と判定されることとする。
得られた、各ブロック毎の正規化相関係数、平均値の差
および分散の差（または比率）が予め決定されていた規
格を用いて判定される。この規格の一例として、正規化
相関は、正規化相関係数が１００％の場合、完全に同一
物と判定されるが、正規化相関係数が９０％以内なら同
一物と判断されることとする。また平均値は、被検査画
像の平均値と基準画像の平均値の差が０なら完全に同一
物と判定されるが、それぞれの平均値の差がα以内、す
なわちそれぞれの平均値の差がｍ±αの範囲に含まれる
なら同一物と判定されることとする。
【００１６】ここで、特徴量によるブロックの選択方法
の一例を説明する。この実施例で用いられる特徴量は、
正規化相関、平均値および分散の３つである。この３つ
のうち、まず正規化相関によってブロックの判定が行わ
れる。しかしながら、ブロックの輝度の変化の小さい場
合、正規化相関では、判定が難しいので、基準画像の各
ブロックの分散によって判定が行われる。この分散によ
る判定も分散の高いブロックのみ判定に使用され、分散
の低いブロックは、平均値で判定される。
の一例を説明する。この実施例で用いられる特徴量は、
正規化相関、平均値および分散の３つである。この３つ
のうち、まず正規化相関によってブロックの判定が行わ
れる。しかしながら、ブロックの輝度の変化の小さい場
合、正規化相関では、判定が難しいので、基準画像の各
ブロックの分散によって判定が行われる。この分散によ
る判定も分散の高いブロックのみ判定に使用され、分散
の低いブロックは、平均値で判定される。
【００１７】ここで、この実施例の動作を図５のフロー
チャートを用いて説明する。このフローチャートは、ス
テップ３１から始まり、このステップ３１では、基準画
像が取り入れられ、ステップ３２において、その基準画
像がブロックに分割される。ステップ３３では、分割さ
れたブロック毎に平均値および分散が算出される。ステ
ップ３４では、ブロック毎に算出された平均値および分
散から検査量および検査ブロックが設定される。ステッ
プ３５では、被検査画像が取り入れられる。ステップ３
６において、その被検査画像がブロック毎に分割され
る。ステップ３７では、分割されたブロック毎に平均値
および分散が求められる。
チャートを用いて説明する。このフローチャートは、ス
テップ３１から始まり、このステップ３１では、基準画
像が取り入れられ、ステップ３２において、その基準画
像がブロックに分割される。ステップ３３では、分割さ
れたブロック毎に平均値および分散が算出される。ステ
ップ３４では、ブロック毎に算出された平均値および分
散から検査量および検査ブロックが設定される。ステッ
プ３５では、被検査画像が取り入れられる。ステップ３
６において、その被検査画像がブロック毎に分割され
る。ステップ３７では、分割されたブロック毎に平均値
および分散が求められる。
【００１８】ステップ３８では、ステップ３４におい
て、予め設定された検査項目および検査ブロックに従い
基準画像のデータから正規化相関係数、平均値の差およ
び分散の差（または比率）が比較される。ステップ３９
では、ステップ３８の比較結果と規格の比較が行われ、
被検査画像が良品と判定された場合、ステップ４０へ制
御が移り、良品表示が行われる。また、ステップ３９に
おいて、被検査画像が不良品と判定された場合、ステッ
プ４１へ制御が移り、不良品表示が行われ、排出機に製
造された製品が不良品である旨の信号が伝送される。ス
テップ４２では、検査を終了するか否かが判断され、検
査を継続する場合、ステップ３５へ制御が移り、検査を
終了する場合、このフローチャートは、終了する。
て、予め設定された検査項目および検査ブロックに従い
基準画像のデータから正規化相関係数、平均値の差およ
び分散の差（または比率）が比較される。ステップ３９
では、ステップ３８の比較結果と規格の比較が行われ、
被検査画像が良品と判定された場合、ステップ４０へ制
御が移り、良品表示が行われる。また、ステップ３９に
おいて、被検査画像が不良品と判定された場合、ステッ
プ４１へ制御が移り、不良品表示が行われ、排出機に製
造された製品が不良品である旨の信号が伝送される。ス
テップ４２では、検査を終了するか否かが判断され、検
査を継続する場合、ステップ３５へ制御が移り、検査を
終了する場合、このフローチャートは、終了する。
【００１９】上述した比較に使用する特徴量を色相、輝
度、彩度とした他の実施例について説明する。検査ブロ
ックを自動選択する一例として、この色相、輝度、彩度
のそれぞれのブロック平均に応じて比較を行い、無彩色
のブロックが検出される。この検査範囲に含まれる無彩
色のブロック、すなわち彩度の低いブロックは、検査か
ら除外される。そして、この特徴量、すなわち色相、輝
度、彩度を用いて色ムラの検出を行う場合、検査範囲の
ブロック毎の色相、輝度、彩度の平均を演算し、その演
算結果で色ムラを検出する。また、ブロック比較に使用
する特徴量の他の例として、Ｒ、Ｇ、Ｂのブロック平均
を使用することも可能である。
度、彩度とした他の実施例について説明する。検査ブロ
ックを自動選択する一例として、この色相、輝度、彩度
のそれぞれのブロック平均に応じて比較を行い、無彩色
のブロックが検出される。この検査範囲に含まれる無彩
色のブロック、すなわち彩度の低いブロックは、検査か
ら除外される。そして、この特徴量、すなわち色相、輝
度、彩度を用いて色ムラの検出を行う場合、検査範囲の
ブロック毎の色相、輝度、彩度の平均を演算し、その演
算結果で色ムラを検出する。また、ブロック比較に使用
する特徴量の他の例として、Ｒ、Ｇ、Ｂのブロック平均
を使用することも可能である。
【００２０】ここで、上述のように既に行われた１つの
画像に対するブロック分割が始点を変え、さらにブロッ
ク分割を行う、一例を図６に示す。通常、図６Ａに示す
ようにブロック分割が行われ、数個のブロック分割を行
う場合、図６Ｂに示すようにブロック分割の始点を変え
たブロック毎に上述した検査（判定）が行われる。この
ように１つの画像に対して数個のブロック分割を行う利
点として、ブロックの境界に輝度差の激しい場所がきた
場合、１つの画像に対して１つのブロック分割のみで検
査（判定）が行われると、被検査製品の位置ズレが少し
でも起これば良品と判断されるべき被検査製品が不良品
とみなされる恐れがある。しかしながら、数個のブロッ
ク分割を行う場合、このような誤判定が防止できる。
画像に対するブロック分割が始点を変え、さらにブロッ
ク分割を行う、一例を図６に示す。通常、図６Ａに示す
ようにブロック分割が行われ、数個のブロック分割を行
う場合、図６Ｂに示すようにブロック分割の始点を変え
たブロック毎に上述した検査（判定）が行われる。この
ように１つの画像に対して数個のブロック分割を行う利
点として、ブロックの境界に輝度差の激しい場所がきた
場合、１つの画像に対して１つのブロック分割のみで検
査（判定）が行われると、被検査製品の位置ズレが少し
でも起これば良品と判断されるべき被検査製品が不良品
とみなされる恐れがある。しかしながら、数個のブロッ
ク分割を行う場合、このような誤判定が防止できる。
【００２１】ここで、この発明の使用例を図７に示す。
この図７では、５１で示すカメラが画像処理装置５２と
接続され、印刷物５３の検査（判定）が行われる。図８
Ａに示すような印刷物５３は、どのようなデザインとな
るかわからないので、基準となる印刷物５４が画像処理
装置５２に取り入れられる。取り入れられた印刷物５４
を基準画像として比較され、検査される。このとき、ま
ず図８Ｂに示すように基準画像がブロック化され、ブロ
ック化された中から分散が大きいブロックが選択され
る。このように、選択されたブロックは、上述したよう
に比較時に正規化相関によって比較され、選択されなか
ったブロックは、平均値もしくは（または）分散で比較
される。
この図７では、５１で示すカメラが画像処理装置５２と
接続され、印刷物５３の検査（判定）が行われる。図８
Ａに示すような印刷物５３は、どのようなデザインとな
るかわからないので、基準となる印刷物５４が画像処理
装置５２に取り入れられる。取り入れられた印刷物５４
を基準画像として比較され、検査される。このとき、ま
ず図８Ｂに示すように基準画像がブロック化され、ブロ
ック化された中から分散が大きいブロックが選択され
る。このように、選択されたブロックは、上述したよう
に比較時に正規化相関によって比較され、選択されなか
ったブロックは、平均値もしくは（または）分散で比較
される。
【００２２】
【発明の効果】この発明に依れば、ブロック化を行うこ
とで、領域を狭くすることができるため、正規化相関に
よる比較を詳細に行うことができ、画面全体を総合的に
比較できる。
とで、領域を狭くすることができるため、正規化相関に
よる比較を詳細に行うことができ、画面全体を総合的に
比較できる。
【００２３】また、この発明に依れば、その基準画像の
特徴に合わせ、正規化相関、平均値および分散をブロッ
ク毎の比較に利用できることで、より詳細に最適な比較
することが可能となる。
特徴に合わせ、正規化相関、平均値および分散をブロッ
ク毎の比較に利用できることで、より詳細に最適な比較
することが可能となる。
【００２４】さらに、この発明に依れば、正規化相関、
平均値および分散などの特徴量を基準画像から自動的に
設定できるため、その予め設定された設定値に従うこと
で、検査物が代わるたびに人間が指定しなくても、ブロ
ック毎に比較データを選択することが可能となる。
平均値および分散などの特徴量を基準画像から自動的に
設定できるため、その予め設定された設定値に従うこと
で、検査物が代わるたびに人間が指定しなくても、ブロ
ック毎に比較データを選択することが可能となる。
【図１】この発明を適用できる画像処理装置の一実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】この発明の画像処理の一実施例を示すブロック
図である。
図である。
【図３】この発明に係るブロック分割の説明に用いる概
略図である。
略図である。
【図４】この発明に係る平均値および分散の説明に用い
る概略図である。
る概略図である。
【図５】この発明の画像処理の一例を示すフローチャー
トである。
トである。
【図６】この発明に係る複数のブロック化を行う説明に
用いる略線図である。
用いる略線図である。
【図７】この発明を適用できる画像処理装置の使用例を
示す概略図である。
示す概略図である。
【図８】この発明に係る画像処理装置の説明に用いる概
略図である。
略図である。
【図９】従来の画像処理を示すブロック図である。
１ 画像処理装置 ２ 画像処理ボード ３ カメラ ４ Ａ／Ｄ変換器 ５ 画像メモリ ６ 画像プロセッサ ７ Ｄ／Ａ変換器 ８ 画像ＣＰＵ ９ 画像処理モニタ １０ プログラムメモリ １１ ホストＣＰＵ １２ プログラムモニタ １３ マウス １４ キーボード
Claims (3)
- 【請求項１】 良品を基準として被検査物を画像処理を
用いて検査する画像処理装置において、 上記良品と対応する基準画像がブロック化され、ブロッ
ク毎に相関量、平均値および分散が検出される手段と、 上記被検査物の画像が上記基準画像と同一のブロック化
が施され、上記ブロック毎の相関量および／または平均
値および／または分散が検出される手段と、 上記ブロック毎に検出された上記相関量および／または
平均値および／または分散に応じて、上記被検査物の画
像のブロックと上記基準画像のブロックとを比較する手
段とからなることを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項２】 良品を基準として被検査物を画像処理を
用いて検査する画像処理装置において、 上記良品と対応する基準画像がブロック化され、ブロッ
ク毎に色相、輝度および彩度が検出される手段と、 上記被検査物の画像が上記基準画像と同一のブロック化
が施され、上記ブロック毎の色相および／または輝度お
よび／または彩度が検出される手段と、 上記ブロック毎に検出された上記色相および／または輝
度および／または彩度に応じて、上記被検査物の画像の
ブロックと上記基準画像のブロックとを比較する手段と
からなることを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項３】 請求項１または請求項２に記載の画像処
理装置において、 さらに、上記ブロック化された領域の始点をずらし、複
数個のブロック化された領域を有し、上記ブロック化と
同様な処理を上記複数個のブロック化に対しても行うこ
とを特徴とする画像処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7337789A JPH09161066A (ja) | 1995-12-01 | 1995-12-01 | 画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7337789A JPH09161066A (ja) | 1995-12-01 | 1995-12-01 | 画像処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09161066A true JPH09161066A (ja) | 1997-06-20 |
Family
ID=18311988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7337789A Pending JPH09161066A (ja) | 1995-12-01 | 1995-12-01 | 画像処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09161066A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002071461A (ja) * | 2000-08-28 | 2002-03-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 物体表面に施色された図柄パターンの色調評価方法およびその装置 |
| JP2006293859A (ja) * | 2005-04-13 | 2006-10-26 | Nippon Television Network Corp | 画像比較方法、画像比較システム及びプログラム |
| JP2011209105A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-10-20 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 画像検査装置および印刷装置、並びに、画像検査方法 |
| JP2019203865A (ja) * | 2018-05-25 | 2019-11-28 | 国立大学法人金沢大学 | 診断装置、診断方法、及びプログラム |
-
1995
- 1995-12-01 JP JP7337789A patent/JPH09161066A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002071461A (ja) * | 2000-08-28 | 2002-03-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 物体表面に施色された図柄パターンの色調評価方法およびその装置 |
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| JP4620516B2 (ja) * | 2005-04-13 | 2011-01-26 | 日本テレビ放送網株式会社 | 画像比較方法、画像比較システム及びプログラム |
| JP2011209105A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-10-20 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 画像検査装置および印刷装置、並びに、画像検査方法 |
| JP2019203865A (ja) * | 2018-05-25 | 2019-11-28 | 国立大学法人金沢大学 | 診断装置、診断方法、及びプログラム |
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