JPH02185192A - 均一性評価装置 - Google Patents

均一性評価装置

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JPH02185192A
JPH02185192A JP1005425A JP542589A JPH02185192A JP H02185192 A JPH02185192 A JP H02185192A JP 1005425 A JP1005425 A JP 1005425A JP 542589 A JP542589 A JP 542589A JP H02185192 A JPH02185192 A JP H02185192A
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JP
Japan
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candidate
uniform
evaluation
ununiform
picture
Prior art date
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Pending
Application number
JP1005425A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Tsukada
弘志 塚田
Hiroyuki Shimizu
宏之 清水
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Publication of JPH02185192A publication Critical patent/JPH02185192A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、ビデオカメラやカメラ一体型ビデオテープレ
コーダ等に用いられるCCD (固体撮像素子)やMO
S型撮像素子等の評価対象の不均一性例えば画質欠陥を
評価する不均一評価装置に関する。
(従来の技術) 第10図はかかる装置の構成図である。評価対象となる
COD又はMOS型撮像素子はビデオカメラ1内に組込
まれている。一方、2はライトボックスであって、この
ライトボックス2は全面から均一の輝度の光を放射する
ものとなっている。
そして、ビデオカメラ1はライトボックス2の前方に配
置されてライトボックス2を撮像してその画像信号を出
力する。この画像信号は画像処理装置3に送られて画像
処理されてモニタデイスプレィ4に送られる。これによ
り、CCD又はMOS型撮像素子で撮像された絵がモニ
タデイスプレィ4に映し出される。しかるに、オペレー
タはモニタデイスプレィ4に映し出された画像を見るこ
とによって不均一部分つまりCCD又はMOC型撮像素
子の画質欠陥を目視で検査する。
しかしながら、このような画質欠陥の検査方法ではオペ
レータの官能検査の要因が大きくオペレータの気分や体
調に大きく左右される。このため、検査結果ばらつきが
生じて均一な検査結果を得ることが困難となっている。
又、COD又はMOS型撮像素子は製品として完成され
てからビデオカメラ1に組込んでいるために、検査の結
果不良の判定されたCCD又はMOS型撮像素子は無駄
となってしまいコストアップにつながる。
(発明が解決しようとする課題) 以上のようにオペレータによる目視検査により検査結果
にばらつきが生じてしまい、かつ製品として完成された
CCDやMOS型撮像素子で検査しているので不良と判
定された場合に無駄となってしまう。
そこで本発明は、客観的に定量的に均一性の検査ができ
かつチップのままでも検査でき評価対象を無駄にするこ
とがない均一性評価装置を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は、評価対象の画像を撮像する撮像手段と、この
撮像手段により撮像された画像データを予め定められた
大きさの複数の小領域に分割し、分割した小領域ごとに
所定種類の代表値を算出し、各小領域間で所定種類の代
表値を比較することから画像データにおける不均一部分
の候補を検出する不均一候補検出手段と、この不均一候
補検出手段により検出された不均一候補部分の変動の度
合いと、その濃淡レベルの変動の度合いとの違いから不
均一の評価値を算出する評価手段とを備えて上記目的を
達成しようとする均一性評価装置である。
(作用) このような手段を備えたことにより、撮像装置により得
られた評価対象の画像データに対して不均一候補検出手
段は画像データを予め定められた大きさの複数の小領域
に分割する。ここで、予め定められた大きさとは評価対
象の評価基準に準じて定める。この分割した小領域ごと
に所定種類の代表値を算出し、各小領域間で所定種類の
代表値を比較することから画像データにおける不均一部
分の候補を検出する。この不均一候補検出手段により検
出された不均一候補部分の変動の度合いと、その濃淡レ
ベルの変動の度合いとの違いから不均一の評価値を算出
する。
(実施例) 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
第1図は均一性評価装置の構成図である。バックライト
2の前方にはビデオカメラ10が配置されている。この
ビデオカメラ10の内部にはCOD製造工程におけるウ
ェハ段階のCCDチップが組込まれている。このビデオ
カメラ10から出力される画像信号は画像処理装置11
のA/D(アナログ/ディジタル)変換器12でディジ
タル画像信号に変換されて画像データとして画像メモリ
13に記憶されるようになっている。画像処理装置11
は、画像メモリ13に記憶された画像データを予め定め
られた大きさの複数の小領域に分割し、この分割した小
領域ごとに所定の代表値を算出し、各小領域間で所定の
代表値を比較することから画像データにおける不均一部
分の候補を検出する不均一候補検出手段14と、この不
均一候補検出手段14により検出された不均一候補部分
の変動の度合いと、その濃淡レベルの変動の度合いとの
違いから不均一の評価値を算出する評価手段15と機能
を有している。具体的に構成を説明すると、主制御部1
6が備えられ、この主制御部16に画像メモリ13、不
均一候補検出手段14、評価手段15及び出力部17が
接続されている。前記不均一候補検出手段14は広域平
均演算部18、局所平均演算部19及び差演算部20か
ら構成されている。広域平均演算部18は画像メモリ1
3に記憶された画像データを所定の大きさの小領域に分
割し、その濃度代表値の平均の濃淡レベルを求める機能
を有するものであり、局所平均演算部19は画像データ
における濃淡レベルの局所的な平均を求める機能を有す
るものである。
そして、差演算部20はこれら広域平均演算部18及び
局所平均演算部19でそれぞれ求められた広域平均のデ
ータと局所平均のデータと差を演算して画像データにお
ける不均一部分の候補を検出する機能を有するものであ
る。又、評価手段15は局所ウィンドウ設定部21及び
パラメータ算出部22から構成されている。局所ウィン
ドウ設定部21は不均一部分の候補にこの不均一部分の
候補よりも大きいウィンドウを設定するものであり、又
パラメータ算出部22は不均一部分の候補の周囲に対す
る濃淡レベルの度合いから不均一の評価パラメータを算
出する機能を有するものである。なお、出力部17には
モニタデイスプレィ23が接続されている。
次に上記の如く構成された装置の作用について第2図に
示す検査流れ図を参照して説明する。ビデオカメラ10
から出力された画像信号はA/D変換器12でディジタ
ル画像信号に変換されて画像データとして画像メモリ1
3に記憶される。このように画像データが記憶されると
、主制御部16の指令により不均一候補検出手段14は
次のような処理を実効する。すなわち、ステップS1に
おいて広域平均演算部18は第3図に示すように画像デ
ータQを各領域に分割する。ここで、画像データの分割
作用について説明すると、分割された各領域数はNXM
となっている。なお、領域番号1. Jは 1−0.・・・N−1 J−0,・・・M−1 である。又、各領域は第4図に示すように画素数nXm
に形成されており、これらnxmは観測スケールとなる
。この観測スケールは可変である。
そして、g (x、y)は画像データの各1画素ごとの
濃淡レベルを表わしており、例えばg(1゜1)は位置
(1,1)の1画素の濃淡レベルを示している。
ところで、前記広域平均演算部18は観測スケールn、
mを比較的大きな値つまり広域的な濃淡レベルの変動(
むら)が現われる値に設定する。
そして、この観測スケールn、mを用いて各領域ごとの
平均濃淡レベルfa+m(X+  y)を演算し求める
÷n −m          ・・・(1)ここで、
xlm l o n+1. x2− (1+1) n。
1m 1nt(x/n) ylm J  −m + 1. y2−  (J + 
1)m。
J  −1nt (y/m) ところで、上記観測スケールn、mは小さければ小さい
程画像データを詳細に見ることになる。従って、上記の
如く比較的大きな観1jlJスケールn。
mに設定することにより画像データ全体の濃淡レベルの
変動が得られる。
次にステップs2に移って主制御部16は局所平均演算
部19に指令を発する。これにより、局部平均演算部1
9は上記第(1)式における観測スケールn、mを小さ
な値つまりノイズ成分を除去するとともに局所的な濃淡
レベルの不均一部分(しみ)を現わすfan″、m−に
設定する。しかるに、局部平均演算部19はこの観n1
スケールn  、mでそれぞれ分割された各領域ごとの
平均濃淡レベルf、・、・(x、y)を上記第(1)式
に従って求める。
次にステップS3に移って主制御部16は差演算部20
に対して指令を発する。これにより、差演算部20は広
域平均演算部18で求められた平均濃淡レベルつまり広
域平均データf (x、y)と局所平均演算部19で求
められた平均濃淡レベルつまり局所平均データf。−1
・(x、y)との差演算を行なって差分画像データS 
(x、y)を求める。つまり S  (x+  y)w(、、()(、y)−fn−m
−(x、  y)・・・(2) である。そして、この差分画像データS (x、y)に
対して所定のしきい値以上の濃淡レベルを持った画素を
抽出してその画素を不均一部分の候補とする。第5図は
画像データQにおける不均一部分の候補61〜G4の例
を示している。
次にステップs5において主制御部16はこれら不均一
部分の候補01〜G4の数と予め定められた候補数のし
きい値とを比較し、候補数がしきい値よりも少なければ
ステップS6において候補のしきい値を変更して再びス
テップS3に戻る。
次にステップS7に移って主制御部16は局所ウィンド
ウ設定部21に指令を発する。これにより、局所ウィン
ドウ設定部21は第6図に示すように各不均一部分の候
補01〜G4に対して外接長方形L1〜L4を求め、こ
れら不均一部分の候補G1〜G4の大体の大きさ及びそ
の位置を把握する。そして、ステップS8において局所
ウィンド設定部21は第7図に示すように各不均一部分
の候補61〜G4に対してこれら不均一部分の候補61
〜G4よりも大きな局所ウィンドウW1〜W4を設定す
る。
次にステップs9に移って主制御部16は評価パラメー
タ算出部22に指令を発する。これにより、評価パラメ
ータ算出部22は各局所ウィンドウW1〜W4に対して
それぞれその六方向に副ウィンドウを設ける。具体的に
局所ウィンドウW1について説明すると、第8図に示す
ようにウィンドウW1に対して副ウィンドウv2〜v8
が設定される。
そして、これらウィンドウW1及び各副ウィンドウv2
〜v9の各濃淡レベルの分散V1及びv2〜V9が求め
られる。つまり、各ウィンドウWl。
v2〜v9内の画素数をSとすれば、各ウィンドウW 
1 、 v2〜w9の各平均濃淡レベルA i  (i
−1+2、・・・9)は Ai−Σy/S            ・・・(3)
となり各分散■1は V i−1:o (g−A i) 2/ (S−T)・
・・(4) となる。但し、gは1画素の持つ8ビット濃度であり、
Φ(g−At)はg−Aiの値がある条件を満たす場合 Φ(g−At) −g−Ai であり、条件を満たさない場合 Φ(g−At)=0 となる関数である。本実施例ではg>Aiの場合、Φ(
g−Ai)=O g≦Atの場合は Φ(g−At) −g−Ai とし、Tはその条件を満たした画素数とする。
このようにして求めた分散v1〜V9は局所ウィンドウ
W1内の平均濃淡レベルより高い画素を無視したものと
なる。そして、これら分散v1〜v9から評価パラメー
タPが求められる。
P−Σ(Vl/V i)          −(5)
ところで、この評価パラメータPは局所ウィンドウW1
の周囲に対する濃淡レベルの関係を示している。つまり
、第9図(a)はウィンドウW1内の濃淡レベル変動が
小さくても周囲濃淡レベルが均一であればPは高い値を
示す。又、同図(b)はウィンドウW1内の濃淡レベル
変動が大きくても周囲濃淡レベルの変動が大きければ評
価パラメータは低い値となる。これは人間の視覚特性に
従っている。しかるに、主制御部16はこの評価パラメ
ータPがしきい値を越えると局所ウィンドウWl内に不
均一部分つまりじみが在ると判断する。
以下、他の局所ウィンドウW2〜W4に対しても同様に
評価パラメータPが求められて、じみの存在が判断され
る。
このように上記一実施例においては、ビデオカメラ10
により得られた画像データに対してこの画像データ全体
を2つのスケールで分割し、各スケールの分割領域ごと
にその領域の濃度平均値を求め各位置で2つのスケール
での濃度平均値の差を求めその大きさから不均一部分の
候補を検出し、この不均一候補部分とその周囲領域の濃
淡レベルの変動の度合いの差から不均一の評価パラメー
タPを算出するようにしたので、CCDのしみ等の不均
一部分を定量的にかつ正確に、そのうえ自動的に検査で
きる。そして、以上の検査は人間の対象物を注目すると
きの見方つまり対象物を大まかに見たり、必要に応じて
部分的な特徴に注意を向けて細かく見るという、大局的
な観察と局所的な観察とによっている。従って、人間の
視覚特性に近い検査ができる。又、CCD製造における
ウニ八段階のものを使用することにより、不良品と判断
されたチップを省くことにより不良チップを使用した素
子の組立てを行なわずに済むので、CCD製造において
大幅にコストダウンが図る。
又、これによりCCDの厳確な品質管理ができることに
なる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、C
CDの評価に限らずMO3型撮像素子の評価、さらには
塗装むらの評価にも適用できる。又、本実施例では対象
を濃淡データとしたが、これは色度データ、例えばR−
Y、B−Y色相、彩度データ、又はこれらの複合データ
でもよい。
[発明の効果] 以上詳記したように本発明によれば、定量的に均一性の
検査ができかつ評価対象を無駄にすることがない均一性
評価装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第9図は本発明の均一性評価装置の一実施例
を説明するための図であって、第1図は構成図、第2図
は検査流れ図、第3図及び第4図は各分割領域を示す模
式図、第5図は不均一部分の候補を示す模式図、第6図
は不均一部分の候補に外接長方形を設けた図、第7図は
不均一部分の候補に局所ウィンドウを設定した模式図、
第8図は評価パラメータの算出作用を説明するための模
式図、第9図は評価パラメータの示す値を説明するため
の図、第10図は従来技術を示す構成図である。 2・・・ライトボックス、10・・・ビデオカメラ、1
1・・・画像処理装置、12・・・A/D変換器、13
・・・画像メモリ、14・・・不均一候補検出手段、1
5・・・評価手段、16・・・主制御部、17・・・出
力部、18・・・広域平均演算部、19・・・局所平均
演算部、20・・・差演算部、21・・・局所ウィンド
ウ設定部、15・・・評価パラメータ算出部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 図 第 図 第6 図 第 図 一 一一 第3 図 第4 第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 評価対象の画像を撮像する撮像手段と、この撮像手段に
    より撮像された画像データを予め定められた大きさの複
    数の小領域に分割し、分割した小領域ごとに所定種類の
    代表値を算出し、各小領域間で前記所定種類の代表値を
    比較することから前記画像データにおける不均一部分の
    候補を検出する不均一候補検出手段と、この不均一候補
    検出手段により検出された不均一候補部分の変動の度合
    いと、その濃淡レベルの変動の度合いとの違いから不均
    一の評価値を算出する評価手段とを具備したことを特徴
    とする均一性評価装置。
JP1005425A 1989-01-12 1989-01-12 均一性評価装置 Pending JPH02185192A (ja)

Priority Applications (1)

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JP1005425A JPH02185192A (ja) 1989-01-12 1989-01-12 均一性評価装置

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JP (1) JPH02185192A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0478972A (ja) * 1990-07-23 1992-03-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 濃淡画像識別装置
JPH04156212A (ja) * 1990-10-17 1992-05-28 Chubu Electric Power Co Inc 架空線の自動点検方法
CN102353526A (zh) * 2011-07-14 2012-02-15 中国科学院上海光学精密机械研究所 平板有色玻璃滤光片均匀性的检测装置和方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0478972A (ja) * 1990-07-23 1992-03-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 濃淡画像識別装置
JPH04156212A (ja) * 1990-10-17 1992-05-28 Chubu Electric Power Co Inc 架空線の自動点検方法
CN102353526A (zh) * 2011-07-14 2012-02-15 中国科学院上海光学精密机械研究所 平板有色玻璃滤光片均匀性的检测装置和方法

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