JPH09160088A

JPH09160088A - 測光装置

Info

Publication number: JPH09160088A
Application number: JP7324427A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Iwasaki; 宏之岩崎
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1995-12-13
Filing date: 1995-12-13
Publication date: 1997-06-20
Anticipated expiration: 2015-12-13
Also published as: JP3601146B2

Abstract

(57)【要約】【課題】設定された測光モードによって最適な目標値
を設定することにより、測光エラーを減少させ、測光効
率がよく信頼性の高い測光装置を提供する。【解決手段】蓄積型の測光素子を用いて被写界を複数
領域に分割して測光し、その複数領域に応じた複数の測
光出力を出力する測光回路１０と、複数の測光モードを
設定可能な測光モード設定部２１と、測光モード設定部
２１の設定に応じて、測光回路１０の出力の目標値を設
定する目標レベル設定部２３と、測光回路１０の出力と
そのときの蓄積時間と目標レベル設定部２３の目標値と
に基づいて、測光素子の新たな蓄積時間を決定する蓄積
時間設定部１２とを備えた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、被写体の輝度を測
定する測光装置に関し、特に、カメラの自動露出制御等
に好適に用いられる測光装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１６は、従来の測光装置の一例を示す
ブロック図である。測光回路５０からの測光出力は、Ａ
／Ｄ変換器５１によって数値化された後に、演算部５
２、蓄積時間設定部５３、判定部５５に接続される。演
算部５２は、Ａ／Ｄ変換器５１の出力に基づいて、測光
値を演算する。蓄積時間設定部５３は、Ａ／Ｄ変換器５
１の出力に基づいて、次回測光時の出力が目標値近傍と
なるように、次回蓄積時の蓄積時間を算出し、蓄積制御
部５４に出力する。また、判定部５５は、Ａ／Ｄ変換器
５１の出力に基づいて、今回の測光出力が測光ダイナミ
ックレンジ内に入っているか否かを判定し、判定結果を
蓄積制御部５４に出力する。蓄積制御部５４は、蓄積時
間設定部５３からの蓄積時間及び判定部５５の判定結果
に基づいて、測光回路５０を制御する。この蓄積制御部
５４は、今回の測光出力が測光ダイナミックレンジに入
っていない場合には、測光値を無効として、測光回路５
０に測光をやり直す等の制御を行う。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】前述した従来の測光装
置においては、前回の測光出力とその蓄積時間とから次
回の蓄積時間を設定する、いわゆるソフトウェアＡＧＣ
方式が採用れている。このソフトウェアＡＧＣ方式は、
前回と次回とで被写界輝度がほぼ同一であるという仮定
に基づいている。しかし、実際には、被写界の輝度は、
時事刻々変化している場合も多く、特にカメラの測光装
置等の場合には、カメラのフレーミングが変化すること
によって測光装置に入射する光量も容易に変化してしま
う。更に、被写体を照らす光源が蛍光灯などの場合には
電源周波数に同期して光量が揺らぎを起こす、いわゆる
フリッカー現象が起きるので、次回の測光時の光量を予
測するのが極めて困難である。そのために、予測通りの
測光出力が得られないことも多かった。

【０００４】上述した測光装置においては、判定部５５
は、測光値の有効／無効を判定する判定値に、常に同じ
値を用いていた。また、蓄積時間設定部５３も、次回の
蓄積時間を設定する測光出力の目標値に、常に同じ値を
用いていた。ところが、測光装置によっては、複数の測
光モードを有するものもある。例えば、カメラの測光装
置では、被写界を分割して測光する分割測光モード、被
写界の中央部を重点的に測光する中央重点測光モード、
被写界のごく狭い領域を測光するスポット測光モードな
どである。それらの異なるモードは、使用する測光出力
の領域や領域数、測光出力の演算の方法などが異なって
いる

【０００５】しかし、上記従来の測光装置においては、
それに関する配慮が一切なされていないので、測光モー
ドによっては、有効である測光データが無効と判定され
たり、逆に、無効であるデータが有効と判定されたり、
また、蓄積時間設定のための目標値が不適当であるため
に、測光データが無効になってしまうなどの不都合が生
じていた。

【０００６】そこで、本発明は、設定された測光モード
によって最適な目標値を設定することにより、測光エラ
ーを減少させ、測光効率がよく信頼性の高い測光装置を
提供することを課題としている。また、本発明は、測光
モードによって有効／無効の判定値を最適化することに
より、測光エラーを減少させ、無駄がなく信頼性の高い
測光装置を提供することを課題としている。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１の発明は、蓄積型の測光素子を用いて被写
界を複数領域に分割して測光し、その複数領域に応じた
複数の測光出力を出力する測光回路と、複数の測光モー
ドを設定可能な測光モード設定部と、前記測光モード設
定部の設定に応じて、前記測光回路の出力の目標値を設
定する目標値設定部と、前記測光回路の出力とそのとき
の蓄積時間と前記目標値設定部の目標値とに基づいて、
前記測光素子の新たな蓄積時間を決定する蓄積時間決定
部とを備えたことを特徴とする。

【０００８】請求項２の発明は、請求項１に記載の測光
装置において、前記測光モード設定部は、設定する測光
モードによって前記複数領域の内の使用する領域を選択
することを特徴とする。

【０００９】請求項３の発明は、請求項１に記載の測光
装置において、前記測光モード設定部は、大きさの異な
る複数の測光領域を設定可能であり、前記目標値設定部
は、前記測光領域が小さいほど目標値を低くすることを
特徴とする。

【００１０】請求項４の発明は、請求項１に記載の測光
装置において、前記測光モード設定部は、被写界の特定
領域の輝度値を算出する第１のモードと、前記測光回路
の出力を基に被写界の複数領域についての複数の輝度値
を算出する第２のモードとを設定可能であり、前記目標
値設定部は、前記第１のモードでの目標値を前記第２の
モードでの目標値よりも低く設定することを特徴とす
る。

【００１１】請求項５の発明は、蓄積型の測光素子を用
いて被写界を複数領域に分割して測光し、その複数領域
に応じた複数の測光出力を出力する測光回路と、前記測
光回路の出力とそのときの蓄積時間とに基づいて、前記
測光素子の新たな蓄積時間を決定する蓄積時間決定部
と、複数の測光モードを設定可能な測光モード設定部
と、前記測光モード設定部の設定に応じて、基準値を設
定する基準値設定部と、前記基準値と前記測光回路の出
力とに基づいて、前記測光回路の出力が有効か無効かを
判定する有効性判定部とを備えたことを特徴とする。

【００１２】請求項６の発明は、請求項５に記載の測光
装置において、前記測光モード設定部は、設定する測光
モードによって前記複数領域の内の使用する領域を選択
することを特徴とする。

【００１３】請求項７の発明は、請求項５に記載の測光
装置において、前記測光モード設定部は、大きさの異な
る複数の測光領域を設定可能であり、前記基準値設定部
は、前記測光領域が小さいほど前記基準値を低くするこ
とを特徴とする。

【００１４】請求項８の発明は、請求項５に記載の測光
装置において、前記測光モード設定部は、被写界の特定
領域の輝度値を算出する第１のモードと、前記測光回路
の出力を基に被写界の複数領域についての複数の輝度値
を算出する第２のモードとを設定可能であり、前記基準
値設定部は、前記第１のモードでの基準値を前記第２の
モードでの基準値よりも低く設定することを特徴とす
る。

【００１５】請求項９の発明は、請求項５に記載の測光
装置において、前記測光モード設定部は、設定する測光
モードによって前記複数領域の内の使用する領域を選択
し、前記有効性判定部は、前記使用領域の内の最高輝度
の出力値と前記基準値とを比較して、前記出力値の方が
大きいときに、前記測光回路の出力を有効と判定するこ
とを特徴とする。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について説明する。図１は、本発明の一実施形態
に係わるカメラの測光装置の概略の構成を示すブロック
図である。測光回路１０から出力された測光データは、
Ａ／Ｄ変換部１１によって数値化された後に、蓄積時間
設定部１２、有効性判定部１３、領域作成部１４へ出力
される。蓄積時間設定部１２は、Ａ／Ｄ変換部１１から
の出力と、目標レベル設定部２３からの出力と、前回の
蓄積時間とに基づいて、次回の測光出力値が目標値にな
るように、次回の蓄積時間を設定し、蓄積制御部２４へ
出力する。次回蓄積時間の求め方は、後に詳しく説明す
る。

【００１７】有効性判定部１３は、Ａ／Ｄ変換部１１か
らの出力と、判定レベル設定部２２からの出力とから、
前回の測光出力が有効であるか無効であるかを判定し、
その出力は、蓄積制御部２４へ接続される。有効性の判
定方法は後述する。

【００１８】領域作成部１４は、測光モード設定部２１
からの情報に基づいて、そのときの測光モードに応じた
測光領域を形成するように、Ａ／Ｄ変換部１１の出力を
加工する。領域作成部１４によって領域化されたデータ
は、輝度算出部１５に出力される。

【００１９】測光モード設定部２１は、次のような３種
類の測光モードが設定可能である。すなわち、被写界を
複数に分割して、それぞれの輝度値を算出し、それら複
数の輝度値に基づいて、適正露出値を算出する分割測光
モード（以後、ＡＭＰモードと呼ぶ）、被写界の中央部
を重点的に測光する中央重点モード（以後、ＣＷモード
と呼ぶ）、被写界のごく狭い領域を測光するスポット測
光モード（以後ＳＰモードと呼ぶ）の３種類である。

【００２０】ＡＭＰモードの場合には、図３に示すよう
に、２４０領域全てについての輝度値を求めるために、
各々の領域を全て独立した測光領域とみなす。ＣＷモー
ドの場合には、図３の中央部に示した５２領域を１領域
とみなして、それらの測光出力を乎均する。ＳＰモード
の場合には、更に中心部の４領域を１領域とみなして、
それらの測光出力を平均化する。

【００２１】輝度算出部１５は、領域作成部１４によっ
て領域化されたデータを、レンズデータ記憶部１６から
の撮影レンズ内に格納された撮影レンズの焦点距離、開
放絞り値、射出瞳位置、ケラレ情報等のレンズデータに
基づいて補正し、領域毎の輝度値を算出する。露出演算
部１７は、輝度算出部１５からの出力と、測光モード設
定部２１からの情報に基づいて、設定された測光モード
に応した露出演算を行い、公知の手法により適正露出値
を算出する。

【００２２】露出制御部１８は、不図示のカメラのレリ
ーズボタンが押されることにより、露出演算部１７によ
って求められた適正露出値に基づいて、ミラー２、絞り
１９、シャッタ２０を制御することにより、フィルムへ
の露光を行う。

【００２３】蓄積制御部２４は、蓄積時間設定部１２に
よって設定された蓄積時間に従って、測光回路１０の制
御を行って次回の測光を行う。蓄積を行うタイミング
は、通常、露出演算部１７による露出演算が終了した後
であるが、有効性判定部１３によって前回の測光データ
が無効と判定された場合には、露出演算を行わずに直ち
に次回の測光を開始する。

【００２４】目標レベル設定部２３は、測光モード設定
部２１からの情報に基づいて、設定された測光モード毎
に最適な測光目標レベルを設定し、蓄積時間設定部１２
へ出力する。また、判定レベル設定部２２も同様に、測
光モード設定部２１からの情報に基づいて、設定された
測光モード毎に最適な有効性判定の基準値を設定し、有
効性判定部１３へ出力する。

【００２５】ここで、Ａ／Ｄ変換部１１、蓄積時間設定
部１２、有効性判定部１３、領域作成部１４、輝度算出
部１５、露出演算部１７、判定レベル設定部２２、目標
レベル設定部２３、及び蓄積制御部２４は、全て制御回
路であるマイクロプロセッサ（以下、マイコンと略す）
１００によって実現される。マイコン１００内のプログ
ラムについては後に詳しく説明する。

【００２６】図２は、本発明の実施形態の光学系を示す
ブロック図である。撮影レンズ１を通過した光束は、ク
イックリターンミラー２、拡散スクリーン３、コンデン
サレンズ４、ペンタプリズム５、接眼レンズ６を通っ
て、撮影者の目に到達する。一方、光束の一部は、拡散
スクリーン３によって拡散された後に、コンデンサレン
ズ４、ペンタプリズム５、測光用プリズム７、測光用レ
ンズ８、を通して測光素子９へ到達する。

【００２７】図３は、測光素子９の分割状態を被写界に
照らし合わせて示した図である。測光素子９は、例えば
ＣＣＤ等の蓄積型センサーによって構成されており、上
下方向に１２分割、左右方向に２０分割された合計２４
０領域からなり、被写界のほぼ全面を分割して測光でき
るようになっている。また、使用する測光領域は、測光
モード設定部２１の設定によって、選択されるようにな
っている。具体的には、ＡＭＰモードが選択されている
場合には、２４０領域全ての領域の測光出力を演算に用
い、ＣＷモードが選択されている場合には、図３に示し
た被写界の中央付近の５２個の測光領域のみを使用し、
ＳＰモードが選択されている場合には、被写界の中央部
の４領域のみを使用する。

【００２８】図４は、測光素子９の構造を分かりやすく
示した図である。撮像画素２５は、上下方向に１２画
素、左右方向に２０画素に分割された光電変換部から成
っている。また、撮像画素２５の隣には、図中に斜線で
塗りつぶして示したように、撮像画素と構成はほぼ同等
であるが光電変換部が遮光されている補正用画素２６
が、上下方向に３行、左右方向に２０画素に分割された
形で配置されている。補正用画素２６の出力は、暗電流
補正、アンプゲイン補正等に用いられる。アンプゲイン
の補正については本発明には直接関係ないので説明を省
略するが、暗電流補正については後に説明を加える。蓄
積が終了すると、撮像画素２５及び補正用画素２６の電
荷情報は、各画素に隣接して配置されている不図示のＨ
レジスタによって１列ずつＶレジスタ２７へ転送され、
更に、Ｖレジスタによって１画素ずつ出力回路２８へ出
力される。出力回路２８は、各画素信号の電荷出力を電
圧に変換した後に、１倍（ゲインＬ）又は４倍（ゲイン
Ｈ）のアンプによって増幅した後に、測光素子９から出
力させる。

【００２９】図５は、測光素子９の不図示のＶｏｕｔ端
子から出力される出力信号の信号形態を示した図であ
る。図中には、Ｖレジスタ１列分の信号が示されてい
る。各出力信号は、信号取り込みのための同期クロック
ＳＹＮＣの立ち下がりに同期して取り込まれる。まず最
初に、基準電圧となるＶｏｒｅｆが出力される。各画素
の信号成分は、このＶｏｒｅｆを基準として電位の低い
方向に現れる。従って、各画素信号は、全てＶｏｒｅｆ
からの差として求められる。次に、暗電流信号であるＶ
ｏｐｂが出力される。その後に、このＶｏｐｂ成分を再
びＶｏｒｅｆレベルにクランプする処理が行われる。従
って、これ以降の出力は、全てこのＶｏｐｂ成分が差し
引かれた形となって出力される。更に、アンプゲイン補
正用の出力Ｖ１、Ｖ２が出力され、その後に１２個の測
光データが出力され、１列分の出力を完了する。この動
作を２０回繰り返すことにより、１画面分の読み出しが
完了する。

【００３０】図６は、Ｖｏｐｂと測光素子９の出力ダイ
ナミックレンジとの関係を分かりやすく示した図であ
る。既に述べたように、Ｖｏｐｂ出力後に、再び、Ｖｏ
ｒｅｆレベルへのクランプを行うことにより、Ｖ１以降
の出力は、実線で示したように全てＶｏｐｂ成分が除去
された形で出力されている。ところが、クランプを行わ
なければ、出力は、点線で示したようなものになってい
るはずである。測光素子９の出力ダイナミックレンジ
は、出力回路の構成上、各信号出力とＶｏｐｂとの和に
よって制限されている。すなわち、点線で示した出力値
が飽和電圧に達したところで出力の上限となる。従っ
て、Ｖｏｐｂが大きければ大きいほど、測光成分の出力
ダイナミックレンジは、小さくなる。

【００３１】図７（Ａ）は、一般的な撮影における被写
界の構図を示した図であり、図７（Ｂ）は、測光素子９
の出力ダイナミックレンジと被写界内の輝度分布との関
係を分かりやすく示した図である。図７（Ｂ）のグラフ
において、縦軸は測光出力であり、出力上限の飽和レベ
ル（３．４Ｖ）と下限のノイズレベル（４０ｍＶ）の間
の出力がダイナミックレンジとなっている。測光出力が
この範囲内に収まっていれば輝度値が算出可能である。

【００３２】図７（Ａ）に示したような構図では、画面
内に雲、空、木、人物等の異なる輝度の被写体が存在し
ており、それぞれの測光領域の出力レベルが異なってい
る。今、画面内の輝度分布がＡＭＰモードで示した矢印
のように、雲が一番輝度が高く、続いて、空、木、人物
の順であったとする。ＡＭＰモードの場合には、全ての
測光領域の出力を用いるので、これらの出力全てがダイ
ナミックレンジ内に収まっていることが望ましい。

【００３３】ＣＷモードの場合には、図７（Ａ）に示し
たように、画面中央付近の出力しか使用しないので、使
用する領域の出力分布は、図７（Ｂ）に示したように、
ＡＭＰモードに比べて狭くなっている。また、ＳＰモー
ドの場合には、ＣＷモードよりも更に小さい範囲しか用
いないので、その出力分布は、ＣＷモードよりも更に狭
くなっている。つまり、一般的な傾向として、使用する
測光領域数が少なくなると、それらの輝度分布範囲も狭
くなることが分かる。

【００３４】図８は、各測光モードにおいて、測光素子
９の蓄積時間の設定の仕方についての説明図である。図
８の縦軸は、測光回路１０の出力電圧を対数表示で示し
たものである。一番左側の矢印で示した範囲が測光ダイ
ナミックレンジである。ＡＭＰモードの場合には、図７
に説明したように、画面内に輝度の異なる複数の被写体
が存在する確率が高いので、ダイナミックレンジを最大
限利用できるような設定が望ましい。従って、図８に示
したように、出力の最大値が比較的レベルの高い２．５
６Ｖ付近に来るように、前回の測光出力と蓄積時間とか
ら次回の蓄積時間の設定を行う。飽和レベルぎりぎりと
せずに２．５６Ｖとしたのは、多少の誤差を見込んで出
力がオーバーフローしないようにするためである。

【００３５】ＣＷモードの場合には、ＡＭＰモードより
も輝度範囲が狭いと考えられるので、最大値の目標を
１．２８Ｖ付近に設定する。ＡＭＰモードよりも低い値
を設定したもう一つの理由は、測光出力が目標値通りに
ならない場合があり、その場合にも出力がオーバーフロ
ーしないようにするためである。例えば、蛍光灯などの
ように電源周波数に応じて明るさが脈動する、いわゆる
フリッカー光源を測光する場合では、前回の測光時と次
回の測光時とでは、フリッカーにより光源の輝度が異な
っているために、最適蓄積時間を正確に予測することが
極めて困難である。従って、そのような場合を考慮し
て、あらかじめ目標値を低めに設定しておけば、被写体
輝度が予測値を上回った場合でも、オーバーフローして
測光出力が無効になってしまうことを防止できる。但
し、あまり目標値を低くしすぎると、被写界の暗い部分
の測光出力がノイズレベルに埋もれてしまい、正確な測
光値が算出できなくなるので注意が必要である。

【００３６】ＳＰモードの場合には、ＣＷモードよりも
更に輝度範囲が狭いと考えられるので、最大値の目標を
更に下げて、６４０ｍＶ付近に設定する。設定値を低く
取った理由は、ＣＷモードの時と同様である。

【００３７】図９は、各測光モードにおける測光回路１
０の測光出力と測光出力有効性の判定レベルとの関係を
示した図である。図９の縦軸は、測光回路１０の出力電
圧を対数表示で示したものである。一番左側の矢印で示
した範囲が測光ダイナミックレンジである。ＡＭＰモー
ドの場合には、図７に説明したように、画面内に輝度の
異なる複数の被写体が存在する確率か高く、また、アル
ゴリズム上からもそれら複数の被写体を別々の被写体と
して認識し、各測光領域毎にそれぞれの輝度値を算出可
能であることが望ましい。そのために、ＡＭＰモードに
おいては、一回の測光において、できるだけ輝度差のあ
る被写体を測光ダイナミックレンジ内に入れることが要
求される。従って、測光出力の最大値は、ある程度高い
レベルである必要がある。

【００３８】もちろん、図１２のＡに示したように、被
写界内の輝度差か小さく、最高輝度の被写体と最低輝度
の被写体との両方が測光ダイナミックレンジに入ってい
た場合には、最高値が小さくてもかまわない。

【００３９】ところが、図１２のＢで示したように、被
写界内の低輝度被写体の測光出力がノイズレベルである
Ｖｕｎ以下になってしまうと、その被写体の正確な輝度
が算出不可能になってしまう。上述したように、ＡＭＰ
モードの場合には、被写界内の複数の被写体輝度を算出
することが要求されるので、図１２のＢのようなケース
では、測光出力の最高値があるレベル以下であれば、そ
の測光データが無効であると判定した方がよい。図９に
示したように、ここでは、そのレベルを６４０ｍＶとし
ている。

【００４０】ＣＷモードのときには、ＡＭＰモードとは
多少条件が異なっている。ＣＷモードは、既に説明した
ように、使用する測光領域内の測光出力を全て加算する
ことにより、あたかも１個の測光領域のように見せかけ
ている。そのために、測光領域内の高輝度領域の測光出
力の値が加算値に支配的な影響を与える。例えば、ある
被写体において、領域内の出力の分布が、図９のＣＷで
示したように最高値が１６０ｍＶであり、最低値かノイ
ズレベルの４０ｍＶであったとする。この場合に、４０
ｍＶの出力の方は、これ以上被写体輝度が低くてもノイ
ズ成分があるために出力は下からない。

【００４１】ここで今かりに、領域内の半数の出力が１
６０ｍＶであり、残りの半数が４０ｍＶであったとす
る。ところが、実際には、４０ｍＶの出力がもっと小さ
く、図の一番右のＣＷ’に示したように、１０ｍＶのレ
ベルであったとする。しかし、上述のようなＣＷモード
の計算方法では、ＣＷで示した出力値と一番右のＣＷ’
の出力値とではわすか０．２４ＥＶの誤差しか生じな
い。このように、ＣＷモードでは、使用領域内の出力が
ノイズレベル以下になっても、最高輝度の出力が支配的
であるので問題は生じにくい。従って、ＣＷモードで
は、ＡＭＰモードよりも有効判定レベルを低く設定する
ことが可能である。ここでは、そのレベルを１６０ｍＶ
としている。

【００４２】ＳＰモードの場合には、上述したようにＣ
Ｗモードよりも更に領域内の輝度差が小さいことが予想
されるので、更に低い有効判定レベルを設定可能であ
る。ここではその値を８０ｍＶとしている。

【００４３】図１０は、マイコン１００のプログラムを
示したフローチャートである。不図示のカメラのレリー
ズボタンが半押しされることによって、カメラの電源が
入り、本プログラムが実行される。まず、ステップＳ１
０１において、電源立ち上げ後の最初の測光であるか否
かを判別する。最初の測光であった場合には、ステップ
Ｓ１０２において、測光素子９の初期化を行い、出力回
路２８のゲインをＬ、蓄積時間ｔを１０ｍＳに設定す
る。この１０ｍＳの蓄積時間は、フリッカー周期の約１
周期分に相当するものである。蓄積時間をフリッカー周
期程度まで長くすると、蓄積中にフリッカーの強弱が相
殺されて、フリッカーの影響を受けにくい測光値を得る
ことができる。特に、初回の測光では、どの様な条件下
で測光が行われているかが分からないので、フリッカー
の影響を受けない測光値を得ることは、その後の安定し
た測光を行う上で重要である。

【００４４】その後に、ステップＳ１０３において、測
光ループ変数であるＦＮを０に初期化し、更に、ステッ
プＳ１０４において、測光カウンターであるｎを０にセ
ットする。

【００４５】初回の測光でなかった場合には、ステップ
Ｓ１０５において、セットされた蓄積時間によって測光
を行い、２４０領域それぞれの測光データを読み出す。
ステップＳ１０６では、測光を行う毎にカウンターｎに
１を加える。次に、ステップＳ１０７において、得られ
た測光データが有効であるか否かの判定を行う。判定の
仕方は、後にサブルーチンのフローチャートに従って説
明する。ステップＳ１０８では、次回測光時の蓄積時間
を算出する。次回蓄積時間の求め方は、後に詳しく説明
する。ステップＳ１０９では、次回測光時の測光素子９
のアンプゲイン（Ｈ／Ｌ）の設定を決定する。アンプゲ
インの設定方法についても後に詳しく説明する。

【００４６】次に、ステップＳ１１０では、ステップＳ
１０７の結果に基づいて、今回の測光データが有効であ
ったか否かを判定し、有効であった場合には、ステップ
Ｓ１１１でＦＮを０にクリアして、ステップＳ１１７に
進み、有効でなかった場合には、ステップＳ１１２によ
ってＦＮに１を加える。

【００４７】ステップＳ１１３では、ＦＮ＝５であるか
否か、すなわち測光エラーか５回連続したか否かを判別
する。ＦＮ＝５であった場合には、測光出力が長時間更
新されないために、撮影者にカメラが故障したと思われ
る可能性かあり、性能として望ましくないので、データ
が有効でなくてもその後の演算を行い、露出制御値を更
新するために、ステップＳ１１４において、ＦＮをクリ
アして、次のステップへ進む。

【００４８】ＦＮ＝５でなかった場合には、ステップＳ
１１５において、電源立ち上げ後の２回目の測光である
か否か、すなわちｎ＝２であるかを判定する。ｎが２で
ない場合には、ステップＳ１０５へ戻り、直ちに次の測
光を行う。ｎ＝２の場合には、ステップＳ１１６へ進
み、ＦＮ＝２か、すなわち測光開始後の２回の測光の
内、２回とも測光データが無効であったか否かを判定す
る。ＦＮ＝２であった場合には、電源立ち上げ後に、ま
だ、適正露出値の演算が１度も完了していないので、制
御すべき露出値がまた求められていない。従って、その
ときは、露出制御が不能となるので、撮影者がレリーズ
ボタンを押しても露光禁止としなければならない。露光
禁止期間か長いと速写性に欠けると共に、撮影者にカメ
ラか壊れたと思われる場合かあり、性能として望ましく
ない。そこで、露光禁止期間を最小限にとどめるため
に、データの有効性が確保されていなくても何らかの露
出制御値を算出するために、ステップＳ１１７へ進む。

【００４９】１回目の測光ではなく、２回目の測光時
に、このような処理を施す理由は以下の通りである。１
回目の測光時は、ステップＳ１０２で説明したとおり、
蓄積時間が１０ｍＳに固定されているので、１回目の測
光でデータが有効になる確率は比較的少ない。２回目の
測光時には、１回目の測光データを基にして、蓄積時間
を調節しているので、データが有効である確率が高い。
そのために、１回目のデータが有効でなかった場合に
は、そのまま直ちに測光をやり直し、２回目の測光時に
速写性を確保するために、強制的に次のステップへ進ま
せるのである。

【００５０】ステップＳ１１６において、ＦＮ＝２でな
い場合には、電源立ち上げ後の１回は測光が成功してお
り、既に、１回目の適正露出値の演算が終了しているの
で、急ぐ必要はなく、ステップＳ１０５へ戻り、測光を
やり直す。

【００５１】ステップＳ１１７では、測光データのアン
プゲイン補正及び測光光学系による測光出力値の補正を
するための各補正データを算出する。これらの補正デー
タは、本発明には直接関係しないので説明を省略する。
ステップＳ１１８では、得られた測光データと補正値と
に基づいて、設定された各測光モードに応じた方法によ
り、絶対輝度値を算出する。そして、ステップＳ１１９
では、求められた絶対輝度値を基にして設定された各測
光モードに応じた手法により適正露出値を算出する。適
正露出値の求め方は、本出願人による特開平６−９５２
００号公報等に詳しく記載されているので、ここでは説
明を省略する。

【００５２】ステップＳ１２０では、不図示のレリーズ
ボタンが全押しされたか否かを判定し、その場合には、
ステップＳ１２１において、求められた適正露出値に基
づいてフィルムへの露光を行った後に、全押しでない場
合には、直接ステップＳ１２２へ進む。ステップＳ１２
２において、半押しタイマーにより半押し解除後、所定
時間経過したか否かを判定し、半押し継続中または所定
時間内であった場合には、ステップＳ１０１へ戻って処
理を繰り返し、タイマー切れであった場合にはプログラ
ムを終了する。

【００５３】図１１は、測光データの有効性を判定する
サブルーチンを示すフローチャートである。図１０のス
テップＳ１０７が実行されることにより、本サブルーチ
ンが呼び出されて実行される。まず、ステップＳ２０１
により、フラグＴＸ及びＴＮを０にクリアする。ＴＸ
は、蓄積時間が最長時間に達した場合に１が立ち、ＴＮ
は最短時間に達した場合に１が立つフラグである。次
に、ステップＳ２０２において、設定された測光モード
がＡＭＰモードであるか否かを判定し、そうでない場合
には、ステップＳ２０３に進み、ＣＷモードであるか否
かを判定する。ＡＭＰモードであった場合には、ステッ
プＳ２０４において、有効判定レベルＶｏｋを６４０ｍ
Ｖに設定する。ＣＷモードであった場合には、ステップ
Ｓ２０５に進み、Ｖｏｋ＝１６０ｍＶに、ＳＰモードで
あった場合には、ステップＳ２０６に進み、Ｖｏｋ＝８
０ｍＶに設定する。

【００５４】次に、ステップＳ２０７によりＶｏｍａ
ｘ，Ｖｏｐｂ、Ｖｏｍｉｎを求める。Ｖｏｍａｘは、各
測光モードにおいて使用する測光領域の内の、測光デー
タの信号成分が最大である領域の測光データである。使
用する測光領域は、ＡＭＰモードの場合には２４０領域
全てであり、ＣＷモードでは図３に示した５２領域、Ｓ
Ｐモードでは中心部の４領域である。Ｖｏｐｂは、Ｖｏ
ｍａｘが存在する測光領域と同列にあるＶｏｐｂ出力で
ある。例えば、図５に示したデータ１からデータ１２の
中にＶｏｍａｘが存在した場合に、Ｖｏｐｂは、図中に
示したＯＰＢとなる。Ｖｏｍｉｎは、Ｖｏｍａｘと同様
に使用する測光領域の内の最小出力データである。

【００５５】つぎに、ステップＳ２０８により、以下に
示す数式１が成立するか否かを判定する。Ｖｏｍａｘ＋Ｖｏｐｂ＜Ｖｏｖ …（１）ここで、Ｖｏｖは、測光素子９の飽和出力電圧値であ
り、ゲインＨ、ゲインＬ毎にカメラ内の不図示の不揮発
性メモリに記憶されているものである。Ｖｏｖの標準的
な値は、３．４Ｖ程度である。既に説明したように、測
光素子９の出力は、暗電流成分があらかじめ引かれた形
で出力されているために、信号成分と暗電流成分の合計
が測光素子９の飽和出力電圧値を越えることができな
い。従って、信号が飽和しているか否かを判別する際に
は、信号成分と暗電流成分との和を取った値で比較する
必要があるのである。

【００５６】数式１が成立した場合には、ステップＳ２
０９へ進み、オーバーフローフラグＯＶに０を代入し、
成立しなかった場合には、ステップＳ２１０へ進みＯＶ
に１を代入する。ステップＳ２１１では、更に次の数式
２の判定を行う。Ｖｏｍｉｎ＞Ｖｕｎ …（２）ここで、Ｖｕｎは、測光素子９のノイズ電圧レベル値で
あり、ゲインＨ、ゲインＬ毎にカメラ内の不図示の不揮
発性メモリに記憶されているものである。Ｖｕｎの標準
的な値は、４０ｍＶ程度である。数式２が成立していた
場合は、図１２のＡで示したように、最高出力も最低出
力も測光ダイナミックレンジ内に収まっている状態であ
るので、ステップＳ２１２によってアンダーフローフラ
グＵＮに０を代入し、有効性を示すフラグＯＫに１を代
入して処理を終了する。

【００５７】ステップＳ２１１において、数式２が否定
の場合には、図１２のＢに示したようにオーバーフロー
はしていないが、アンダーフローであった場合であるの
で、ステップＳ２１４によりアンダーフローフラグＵＮ
に１を代入する。続いて、ステップＳ２１５において、
数式３の判定を行う。Ｖｏｍａｘ＞Ｖｏｋ …（３）ここで、Ｖｏｋは、設定された測光モードに基づいて、
ステップＳ２０４またはＳ２０５またはＳ２０６におい
て代入された値である。

【００５８】数式３が肯定の場合には、アンダーフロー
ではあるが適正露出の演算に必要なダイナミックレンジ
が確保されているとみなして、ステップＳ２１６におい
て、ＯＫに１を代入して処理を終了し、否定の場合に
は、ステップＳ２１７において、その回の蓄積時間ｉｎ
ｔがｉｎｔ＿ｍａｘか、すなわち設定可能な最長蓄積時
間であったか否かを判定する。最長蓄積時間であった場
合には、これ以上測光出力レベルを上げることは不可能
であるので、ステップＳ２１８において、最長蓄積時間
フラグＴＸに１を代入し、ステップＳ２１９において、
ＯＫに１を代入する。フラグＴＸは、測光ダイナミック
レンジは確保されていないが、これ以上のレベル調整が
不可能であることを示しているので、適正露出演算時
に、このフラグを参照して特別な処理を行うこともでき
るが、それについては本発明に直接関係しないので説明
を省略する。ステップＳ２１７が否定の場合には、ステ
ップＳ２２０において、ＯＫに０を代入する。

【００５９】一方、ステップＳ２０８が否定であった場
合には、ステップＳ２１０において、オーバーフローフ
ラグＯＶに１を代入し、ステップＳ２２１において数式
２の判定を行う。ステップＳ２２１が肯定の場合には、
図１２のＣのように、オーバーフローしているが、アン
ダーフローしていない場合であり、否定の場合には、図
１２のＤのように、オーバーフローもアンダーフローも
している場合なので、それぞれの場合に応じて、ステッ
プＳ２２２及びステップＳ２２３において、アンダーフ
ローフラグＵＮに０または１を代入する。

【００６０】続いて、ステップＳ２２４において、その
回の蓄積時間ｉｎｔがｉｎｔ＿ｍｉｎか、すなわち設定
可能な最短蓄積時間であったか否かを判定する。最短蓄
積時間であった場合には、これ以上測光出力レベルを下
げることは不可能であるので、ステップＳ２２５におい
て、最短蓄積時間フラグＴＮに１を代入し、ステップＳ
２２６において、ＯＫに１を代入する。フラグＴＮは、
測光ダイナミックレンジは確保されていないが、これ以
上のレベル調整が不可能であることを示しているので、
適正露出演算時に、このフラグを参照して特別な処理を
行うこともできるが、それについては本発明に直接関係
しないので説明を省略する。ステップＳ２２４が否定の
場合には、ステップＳ２２７において、ＯＫに０を代入
し処理を終了する。

【００６１】図１３は、次回蓄積時間ｉｎｔを求めるサ
ブルーチンを示すフローチャートである。図１０のステ
ップＳ１０８が実行されることにより、本サブルーチン
が呼び出されて実行される。本サブルーチンが呼び出さ
れる前には、電源立ち上げ後少なくとも１回は測光が行
われているので、直前の測光データがマイコン１００内
の不図示のメモリに残っている。

【００６２】まず、ステップＳ３０１において、設定さ
れた測光モードがＡＭＰモードであるか否かを判定し、
そうでない場合には、ステップＳ３０２に進み、ＣＷモ
ードであるか否かを判定する。ＡＭＰモードであった場
合には、ステップＳ３０３において、使用測光領域数を
示す変数ｐｘに２４０を代入し、測光目標レベルＶａｇ
ｃを２．５６Ｖに設定する。ＣＷモードであった場合に
は、ステップＳ３０４に進み、ｐｘ＝５２、Ｖａｇｃ＝
１．２８Ｖに設定する。ＳＰモードであった場合には、
ステップＳ３０５に進み、ｐｘ＝４、Ｖａｇｃ＝０．６
４Ｖに設定する。

【００６３】次に、ステップＳ３０６では、Ｓ２０８と
同様に数式１の判定を、すなわち信号出力の最大値が飽
和していないか否かの判定を行う。数式１が肯定の場合
には、ステップＳ３０７へ進み、メモリに格納された測
光データが電源立ち上げ後の初回測光のものであるか否
かを判定し、そうであれば、ステップＳ３０８へ進んで
Ｖｏｍａｘ＜４０ｍＶであるか否かを判定する。Ｖｏｍ
ａｘが４０ｍＶより小だった場合には、被写界はかなり
暗いと予想される。また、電源立ち上げ時にレリーズボ
タンをすぐに全押しされた場合を想定して、できるだけ
早くに適正露出値を出力する必要があるので、この場合
には、ステップＳ３０９にあるように、測光素子９のゲ
インをＨにし、１次回蓄積時間を４０ｍＳに無条件に決
定する。この４０ｍＳという数値は、カメラの測光装置
に要求される測光下限から、１回目の測光により検出不
可能であった明るさまでを、できるだけカバーできるよ
うな蓄積時間として使用する測光系に合わせて決定され
たものである。従って、この数値は、カメラに要求され
る連写性と、測光装置に要求される低輝度限界と、測光
系の明るさから最適値を決定すればよい。

【００６４】ステップＳ３０８でＶｏｍａｘが４０ｍＶ
以上であった場合には、次回苔積時間を計算によって最
適化可能であるので、ステップＳ３１０へ進む。ステッ
プＳ３１０では、Ｖｏｍａｘ＝０Ｖであるか否かを判定
し、そうであれば、ステップＳ３１１において、次回蓄
積時間を前回の４倍とする。ステップＳ３１０が否定の
場合には、ステップＳ３１２において、以下の数式４に
よって次回蓄積時間候補値ｉｎｔ’を求める。ｉｎｔ’＝ｉｎｔ・Ｖａｇｃ／（Ｖｏｍａｘ＋Ｖｏｐｂ） …（４）数式４の与えるｉｎｔ’の意味するところは、仮に前回
と次回の測光時の被写界の明るさが等しいとすると、ｉ
ｎｔ’の蓄積時間で次回の測光を行えば、次回測光時に
求められるＶｏｍａｘ＋Ｖｏｐｂが、Ｖａｇｃに等しく
なるというものである。ここで、ｉｎｔは前回の蓄積時
間、ＶａｇｃはＶｏｍａｘ＋Ｖｏｐｂの目標値であり、
設定された測光モードに応じてステップＳ３０３または
ステップＳ３０４またはステップＳ３０５において設定
された値である。

【００６５】次に、ステップＳ３１３では、以下に示す
数式５によって次回蓄積時間を決定する。ｉｎｔ＝Ｋ・ｉｎｔ’＋（１−Ｋ）・ｉｎｔ …（５）ここで、ｉｎｔ’はステップＳ３１２で求めた新たな蓄
積時間値、ｉｎｔは前回の蓄積時間値、Ｋはフリッカー
光源などの下で測光した場合に蓄積時間値が急激に変化
しないための安定係数であり、前回の蓄積時間値に応じ
て、図１４のような値を取る変数である。これを数式５
に当てはめて考えると、蓄積時間が１０ｍＳ以下の場合
には、Ｋ＝０．２５であるので、次回の蓄積時間はｉｎ
ｔが３に対してｉｎｔ’が１の割合での加重平均とな
る。また、蓄積時間が２０ｍＳ以上の場合には、フリッ
カーの影響はほとんどないのでＫ＝１となり、ｉｎｔ’
の値のみによって新たな蓄積時間の設定が行われる。蓄
積時間が１０ｍＳと２０ｍＳの中間では、数式６に示す
ように徐々にＫの値が変化するようになっている。Ｋ＝０．０７５・ｉｎｔ−０．５ …（６）但し、ｉｎｔは前回の蓄積時間値である。蓄積時間ｉｎ
ｔをフリッカーによって受ける影響の度合いによってあ
まり変化させないようにした方がよい理由は、本発明に
直接関係しないので説明は省略する。尚、Ｋの値に関し
ては、カメラの測光系や対象とする光源の特性によって
最適化することが望ましいので、図１４の値に限定する
ものではない。

【００６６】一方、ステップＳ３０６における数式２の
判定が否定だった場合には、ステップＳ３１４へ進み、
使用する測光領域の内オーバーフローした領域数をカウ
ントし、変数ｏｖｆへ代入する。ここで、オーバーフロ
ーとは、その領域の信号出力＋暗電流出力がＶｏｖに達
しているか否かによって判定する。ｏｖｆの最小値は１
（飽和領域が１つだけ）、最大値はｐｘ（使用する全領
域がオーバーフロー）である。ステップＳ３１５では、
ｏｖｆ＜ｐｘ／１６か否かを判定し、そうであれば、ス
テップＳ３１６において、次回蓄積時間ｉｎｔを前回の
蓄積時間の２分の１に設定する。次に、ステップＳ３１
７では、ｏｖｆ＜ｐｘ／８か否かを判定し、そうであれ
ば、ステップＳ３１８において、次回蓄積時間ｉｎｔを
前回の蓄積時間の４分の１に設定する。次に、ステップ
Ｓ３１９では、ｏｖｆ＜ｐｘ／４か否かを判定し、そう
であれば、ステップＳ３２０において、次回蓄積時間ｉ
ｎｔを前回の蓄積時間の８分の１に設定する。次に、ス
テップＳ３２１では、ｏｖｆ＜ｐｘ／２か否かを判定
し、そうであれば、ステップＳ３２２において、次回蓄
積時間ｉｎｔを前回の蓄積時間の１６分の１に設定す
る。

【００６７】ステップＳ３２１が否定の場合には、ステ
ップＳ３２３によって、前回の測光が電源立ち上げ後の
１回目の測光であったか否かを判定し、そうであった場
合には、図１０で説明したように、次回測光結果が有効
無効に係わらず適正露出演算に用いられるので、オーバ
ーフローしないように、ステップＳ３２４において、次
回蓄積時間を短めの２０μＳに設定する。１回目の測光
でなかった場合にはステップＳ３２２の処理を行う。測
光データがオーバーフローしていた場合の処理では、ス
テップＳ３１５からステップＳ３２２までに見られるよ
うに、オーバーフローした測光領域の数が多ければ多い
ほど被写界が明るいとみなして、次回蓄積時間を前回よ
りも短くするにうにしている。

【００６８】図１５は、次回測光時の測光素子９内の出
力回路２８のゲイン調整を行うサブルーチンを示すフロ
ーチャートである。図１０のステップＳ１０９が実行さ
れることにより、本サブルーチンが呼び出されて実行さ
れる。ステップＳ４０１では、出力回路２８のゲイン設
定がゲインＬであるか否かを判定する。ゲインＬであっ
た場合には、ステップＳ４０２において、次回蓄積時間
ｉｎｔが、ｉｎｔ＞ｉｎｔ＿Ｌ＿ｍａｘであるか否かを
判定する。ここで、ｉｎｔ＿Ｌ＿ｍａｘは、ゲイン切り
換えのためのしきい値であり、４０ｍＳ程度の数値を代
入すればよい。ステップＳ４０２を満たしている場合に
は、ステップＳ４０３へ進んで、次回の測光時にはゲイ
ンＨに切り換え、蓄積時間ｉｎｔを図１３で求めた値の
４分の１とする。

【００６９】ステップＳ４０１が否定の場合には、ゲイ
ンＨであるので、ステップＳ４０４において、ｉｎｔ＜
ｉｎｔ＿Ｈ＿ｍｉｎであるか否かを判定し、そうであれ
ば、ステップＳ４０５によって、次回の測光時のゲイン
をＬに、蓄積時間を図１３で求めたｉｎｔの４倍とす
る。ここで、ｉｎｔ＿Ｈ＿ｍｉｎは、５ｍＳ程度の数値
を代入すればよい。また、上の例でも分かるように、ｉ
ｎｔ＿Ｌ＿ｍａｘとｉｎｔ＿Ｈ＿ｍｉｎの比は、ゲイン
Ｈ／Ｌの比である４倍以上の値であることが望ましい。
これによって、測光データに多少の揺らぎがあっても、
ゲイン切り換えにヒステリシス特性ができるために、必
要以上にゲイン切り換えが行われて測光値が不安定にな
ることを防止できる。

【００７０】次に、ステップＳ４０６では、次回の蓄積
時間があらかじめ設定された最小蓄積時間ｉｎｔ＿ｍｉ
ｎを下回っていないか否かを判定し、下回っていた場合
には、ステップＳ４０７により、蓄積時間をｉｎｔ＿ｍ
ｉｎにクリップする。同様に、ステップＳ４０８では、
次回蓄積時間があらかじめ定められた最大蓄積時間ｉｎ
ｔ＿ｍａｘを上回っていないか否かを判定し、上回って
いた場合には、ステップＳ４０９により、蓄積時間をｉ
ｎｔ＿ｍａｘにクリップする。ここではｉｎｔ＿ｍｉｎ
＝１０μＳ、ｉｎｔ＿ｍａｘ＝１００ｍＳとするが、こ
の値は使用する測光光学系及び測光範囲などによって最
適化するのがよい。

【００７１】尚、本実施形態においては、目標レベル設
定部２３が請求項の目標値設定部に、蓄積時間設定部１
２が蓄積時間決定部に、ＡＭＰモードが第１のモード
に、ＣＷモードまたはＳＰモードが第２のモードに、判
定レベル設定部２２が有効性判定部にそれぞれ対応す
る。

【００７２】前述した実施例では、中央重点測光、スポ
ット測光を画面中央を基準とした例で説明したが、他の
任意の位置、例えば、多点測距の測距領域などを基準と
した、重点測光、スポット測光であってもよい。

【００７３】

【発明の効果】以上詳しく説明したように、請求項１に
よれば、測光モード設定部の設定に応じて測光回路の出
力の目標値を最適に設定させることにより、測光出力の
レベルを各測光モード毎に最適に制御可能になった。請
求項２によれば、設定する測光モードによって、複数領
域の内の使用する領域を選択することにより、使用する
領域に応じて最適な目標値を設定可能になった。請求項
３によれば、測光領域が小さいほど目標値を低くするよ
うにしたので、小さい測光領域の時に測光出力がばらつ
いて測光値がオーバーフローする確率が低くなった。請
求項４によれば、被写界の特定領域の輝度値を算出する
第１のモードでの目標値を、被写界の複数領域について
の輝度値を算出する第２のモードでの目標値よりも低く
設定することにより、比較的広い測光レンジを必要とし
ない第１のモードにおいて測光値がオーバーフローする
確率が低くなった。

【００７４】請求項５によれば、測光モード設定部の設
定に応じて測光回路の出力が有効か無効かを判定する基
準値を最適化することにより、各測光モード毎に最適な
判定が行えるようになった。請求項６によれば、設定す
る測光モードによって、複数領域の内の使用する領域を
選択することにより、使用する領域に応じて最適な基準
値を設定可能になった。請求項７によれば、測光領域が
小さいほど基準値を低くするようにしたことにより、小
さい測光領域の時に測光出力が無効と判定される確率が
低くなる。請求項８によれば、被写界の特定領域の輝度
値を算出する第１のモードでの基準値を、被写界の複数
領域についての輝度値を算出する第２のモードでの基準
値よりも低く設定することにより、比較的広い測光レン
ジを必要としない第１のモードで測光値が無効であると
判定される確率が低くなった。請求項９によれば、有効
性判定部が使用領域の内の最高輝度の出力値と基準値と
を比較し、出力値の方が大きいときに、測光回路の出力
を有効とするようにしたことにより、有効／無効の判定
がより確実に行えるようになった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態の構成を示すブロック図であ
る。

【図２】本実施形態の光学系を示した図である。

【図３】本実施形態の測光手段の分割状態を示す図であ
る。

【図４】本実施形態の測光素子の構造を示した図であ
る。

【図５】本実施形態の測光素子の測光出力の出力順序を
示した図である。

【図６】本実施形態の測光素子の測光出力レベルを示し
た図である。

【図７】被写界と測光出力についての説明図である。

【図８】測光出力とダイナミックレンジとの関係の説明
図である。

【図９】測光出力とダイナミックレンジとの関係の説明
図である。

【図１０】本実施形態のアルゴリズムを示す流れ図であ
る。

【図１１】本実施形態のアルゴリズムを示す流れ図であ
る。

【図１２】測光出力とダイナミックレンジとの関係の説
明図である。

【図１３】本実施形態のアルゴリズムを示す流れ図であ
る。

【図１４】本実施形態のアルゴリズムを示す流れ図であ
る。

【図１５】本実施形態のアルゴリズムを示す流れ図であ
る。

【図１６】従来の技術を説明するブロック図である。

【符号の説明】

１撮影レンズ２クイックリターンミラー３拡散スクリーン４コンデンサレンズ５ペンタプリズム６接眼レンズ７測光用プリズム８測光用レンズ９測光素子１０測光素子１１Ａ／Ｄ変換部１２蓄積時間設定部１３有効性判定部１４領域作成部１５輝度算出部１６レンズデータ１７露出演算部１８露出制御部１９絞り２０シャッター２１測光モード設定部２２判定レベル設定部２３目標レベル設定部２４蓄積制御部２５撮像画素２６補正用画素２７Ｖレジスタ２８出力回路５０測光回路５１Ａ／Ｄ変換器５２演算部５３蓄積時間設定部５４蓄積制御部５５判定部１００マイクロプロセッサ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】蓄積型の測光素子を用いて被写界を複数
領域に分割して測光し、その複数領域に応じた複数の測
光出力を出力する測光回路と、複数の測光モードを設定可能な測光モード設定部と、前記測光モード設定部の設定に応じて、前記測光回路の
出力の目標値を設定する目標値設定部と、前記測光回路の出力とそのときの蓄積時間と前記目標値
設定部の目標値とに基づいて、前記測光素子の新たな蓄
積時間を決定する蓄積時間決定部とを備えたことを特徴
とする測光装置。
【請求項２】請求項１に記載の測光装置において、前記測光モード設定部は、設定する測光モードによって
前記複数領域の内の使用する領域を選択することを特徴
とする測光装置。
【請求項３】請求項１に記載の測光装置において、前記測光モード設定部は、大きさの異なる複数の測光領
域を設定可能であり、前記目標値設定部は、前記測光領域が小さいほど目標値
を低くすることを特徴とする測光装置。
【請求項４】請求項１に記載の測光装置において、前記測光モード設定部は、被写界の特定領域の輝度値を
算出する第１のモードと、前記測光回路の出力を基に被
写界の複数領域についての複数の輝度値を算出する第２
のモードとを設定可能であり、前記目標値設定部は、前記第１のモードでの目標値を前
記第２のモードでの目標値よりも低く設定することを特
徴とする測光装置。
【請求項５】蓄積型の測光素子を用いて被写界を複数
領域に分割して測光し、その複数領域に応じた複数の測
光出力を出力する測光回路と、前記測光回路の出力とそのときの蓄積時間とに基づい
て、前記測光素子の新たな蓄積時間を決定する蓄積時間
決定部と、複数の測光モードを設定可能な測光モード設定部と、前記測光モード設定部の設定に応じて、基準値を設定す
る基準値設定部と、前記基準値と前記測光回路の出力とに基づいて、前記測
光回路の出力が有効か無効かを判定する有効性判定部と
を備えたことを特徴とする測光装置。
【請求項６】請求項５に記載の測光装置において、前記測光モード設定部は、設定する測光モードによって
前記複数領域の内の使用する領域を選択することを特徴
とする測光装置。
【請求項７】請求項５に記載の測光装置において、前記測光モード設定部は、大きさの異なる複数の測光領
域を設定可能であり、前記基準値設定部は、前記測光領域が小さいほど前記基
準値を低くすることを特徴とする測光装置。
【請求項８】請求項５に記載の測光装置において、前記測光モード設定部は、被写界の特定領域の輝度値を
算出する第１のモードと、前記測光回路の出力を基に被
写界の複数領域についての複数の輝度値を算出する第２
のモードとを設定可能であり、前記基準値設定部は、前記第１のモードでの基準値を前
記第２のモードでの基準値よりも低く設定することを特
徴とする測光装置。
【請求項９】請求項５に記載の測光装置において、前記測光モード設定部は、設定する測光モードによって
前記複数領域の内の使用する領域を選択し、前記有効性判定部は、前記使用領域の内の最高輝度の出
力値と前記基準値とを比較して、前記出力値の方が大き
いときに、前記測光回路の出力を有効と判定することを
特徴とする測光装置。