JPH09148494A - Resin sealing semiconductor device - Google Patents

Resin sealing semiconductor device

Info

Publication number
JPH09148494A
JPH09148494A JP30603095A JP30603095A JPH09148494A JP H09148494 A JPH09148494 A JP H09148494A JP 30603095 A JP30603095 A JP 30603095A JP 30603095 A JP30603095 A JP 30603095A JP H09148494 A JPH09148494 A JP H09148494A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
lead frame
semiconductor chip
external terminal
lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP30603095A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3434633B2 (en
Inventor
Koji Nose
幸之 野世
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP30603095A priority Critical patent/JP3434633B2/en
Publication of JPH09148494A publication Critical patent/JPH09148494A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3434633B2 publication Critical patent/JP3434633B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor device which can achieve high performance and high density with such adaptability as several semiconductor devices being piled when they are used and which can not induce damage to the semiconductor chips or such improper as out of form regulation when they are manufactured. SOLUTION: A first lead frame 63 having inner leads 62 which fix a semiconductor chip 61 and of which near terminals are folded toward the lower direction, a second lead frame 65 having inner leads 64 which are piled with the first lead frame and of which near terminals are folded toward the upper direction and sealing resin 70 which seals a construction body to make a molded body 69, are provided. A rectangular recess 71 and a rectangular project 73 are formed on the lower and the upper surfaces of the molded body respectively, inner lead tips 62a of the first lead frame are arranged at a constant interval on the side wall facing the rectangular recess and one of the surfaces is exposured. Inner lead tips 64a of the second lead frame are arranged at a constant interval on the side wall facing the rectangular project and one of the surfaces is exposured.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップやイ
ンナーリード等からなる構造体を樹脂封止して構成され
る樹脂封止型半導体装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin-encapsulated semiconductor device formed by resin-encapsulating a structure including a semiconductor chip, inner leads and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、従来の樹脂封止型半導体装置
は、例えば図17及び図18に示すように、半導体チッ
プaと、該半導体チップaの左右両側にそれぞれ内端が
チップa端面に近接して配置された複数のインナーリー
ドbと、該各インナーリードbの外端に接続された複数
のアウターリードcと、前記半導体チップ主面a1 上の
電極端子dと対応する前記インナーリードbのボンディ
ング領域とをそれぞれ接続する複数の金属細線eと、前
記半導体チップa、インナーリードb及び金属細線eを
樹脂封止して一体の成形体とするための封止樹脂fとか
ら構成され、前記各アウターリードcは、封止樹脂fの
外部に延出し所定形状(図ではL字状)に成形加工され
ている。尚、図17及び図18中、gは半導体チップ裏
面a2 に接着剤hを介して固着支持するダイパッドであ
り、該ダイパッドgも封止樹脂f内に封止される。イン
ナリードb、アウターリードc及びダイパッドgは、通
常、一枚のリードフレームiによって構成されており、
このリードフレームiの外枠やダムバー等は、樹脂封止
後に切除される。jは実装基板である。
2. Description of the Related Art Generally, a conventional resin-encapsulated semiconductor device is, for example, as shown in FIGS. 17 and 18, a semiconductor chip a and inner ends on the left and right sides of the semiconductor chip a respectively close to the end face of the chip a. A plurality of inner leads b arranged in parallel, outer leads c connected to the outer ends of the inner leads b, and inner leads b corresponding to the electrode terminals d on the semiconductor chip main surface a1. A plurality of thin metal wires e that respectively connect to the bonding regions, and a sealing resin f for resin-sealing the semiconductor chip a, the inner leads b, and the thin metal wires e to form an integrated molded body, Each outer lead c extends outside the sealing resin f and is formed into a predetermined shape (L shape in the figure). 17 and 18, g is a die pad which is fixedly supported on the back surface a2 of the semiconductor chip via an adhesive h, and the die pad g is also sealed in the sealing resin f. The inner lead b, the outer lead c, and the die pad g are usually composed of one lead frame i,
The outer frame of the lead frame i, the dam bar, and the like are cut off after resin sealing. j is a mounting substrate.

【0003】そして、このような樹脂封止型半導体装置
を高密度で実装化するときの技術課題としては、外形の
薄型小型化、異なる種類の複数の半導体チップaを一つ
の封止樹脂f内に組み込むモジュール化、半導体チップ
aを直接実装基板j上に搭載するチップ実装化等があ
る。樹脂封止型半導体装置の薄型化は、従来、構成部品
寸法を薄くして組み立てることで実現してきた。つま
り、半導体チップaは機械研削もしくは化学刻食で標準
厚みの400〜500μmを250〜300μmに加工
し、リードフレームiは素材金属の圧延で標準厚みの2
00〜250μmを120〜150μmに加工し、金属
細線eの半導体チップ主面a1 からのループ高さは低ル
ープワイヤーボンド法で標準の300〜400μmから
100〜150μmに設定する。そして、封止樹脂fの
厚さを1mm以下に成形し、その後樹脂成形体の側面か
ら突出しているリードフレームiのアウターリードcを
10μm前後の厚さに錫過剰の錫鉛ハンダメッキを行
い、リードフレームiのダムバー等をトリミングした後
所定の形状にアウターリードcをフォーミングすること
で薄い樹脂封止型半導体装置を実現してきた。
The technical problems in packaging such a resin-encapsulated semiconductor device at a high density include thinning and miniaturization of the outer shape and a plurality of different types of semiconductor chips a within one encapsulating resin f. There is a modularization to be incorporated in the above, a chip mounting in which the semiconductor chip a is directly mounted on the mounting board j, and the like. The reduction in thickness of the resin-encapsulated semiconductor device has heretofore been realized by assembling the components by reducing their dimensions. That is, the semiconductor chip a is machined or chemically etched to process the standard thickness of 400 to 500 μm to 250 to 300 μm, and the lead frame i is rolled to a standard thickness of 2 to 2 μm.
The height of the loop of the metal fine wire e from the semiconductor chip main surface a1 is set to 300 to 400 μm, which is a standard value, to 100 to 150 μm by processing the metal thin wire e from 120 to 150 μm. Then, the thickness of the sealing resin f is molded to 1 mm or less, and then the outer lead c of the lead frame i projecting from the side surface of the resin molded body is plated with tin-excess tin-lead solder to a thickness of about 10 μm, A thin resin-sealed semiconductor device has been realized by trimming the dam bar of the lead frame i and then forming the outer lead c into a predetermined shape.

【0004】また、樹脂封止型半導体装置の小型化は、
ダイパッドgを省略し、内部に搭載する半導体チップ主
面a1 上もしくは半導体チップ裏面a2 下に電気的絶縁
材料膜を介してリードフレームiのインナーリードbを
配置してLOC(リードオンチップ)やCOL(チップ
オンリード)構造にし、前記半導体チップ主面a1 上の
電極端子dと前記インナーリードbのボンディング領域
を金属細線eで接続した構造体にして、この構造体を一
体的に封止樹脂fで成形することで実現してきた。樹脂
封止型半導体装置のマルチチップモジュール化は、リー
ドフレームiのダイパッドg上に異なる種類の複数個の
半導体チップaを固着して該各半導体チップa上の電極
端子d間もしくは前記各半導体チップa上の電極端子d
とリードフレームiのインナーリードbのボンディング
領域との間を金属細線eで接続した構造体にし、この構
造体を一体的に封止樹脂fで成形することで実現してき
た。実装基板jへの半導体チップaの実装化は、ウェハ
ーから切り出した半導体チップaを実装基板j上の所定
位置に銀ペースト接着剤で直接固着した後、前記半導体
チップ主面a1 上の電極端子dとリードフレームiのイ
ンナーリードbのボンディング領域との間を金属細線e
で接続した構造体にし、この構造体を一体的に封止樹脂
fで覆うことで実現してきた。
Further, miniaturization of the resin-sealed semiconductor device is
By omitting the die pad g and arranging the inner leads b of the lead frame i on the semiconductor chip main surface a1 or under the semiconductor chip back surface a2 to be mounted inside, the LOC (lead-on-chip) or COL is provided. (Chip-on-lead) structure, the electrode terminal d on the main surface a1 of the semiconductor chip and the bonding area of the inner lead b are connected by a thin metal wire e, and this structure is integrally sealed with a sealing resin f. It has been realized by molding. In order to make a resin-sealed semiconductor device into a multi-chip module, a plurality of semiconductor chips a of different types are fixed on a die pad g of a lead frame i and between the electrode terminals d on each semiconductor chip a or each of the semiconductor chips. Electrode terminal on a
This has been realized by forming a structure in which the metal wire e is connected between the and the bonding area of the inner lead b of the lead frame i, and integrally molding the structure with the sealing resin f. The mounting of the semiconductor chip a on the mounting board j is performed by directly fixing the semiconductor chip a cut out from the wafer to a predetermined position on the mounting board j with a silver paste adhesive, and then electrode terminals d on the main surface a1 of the semiconductor chip. And the bonding area of the inner lead b of the lead frame i between the thin metal wire e.
This has been realized by forming a structure connected by the above and integrally covering this structure with the sealing resin f.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、樹脂封止型
半導体装置の小型多機能化を実現する手段として、封止
樹脂部の薄型小型化と複数チップを組み合わせた樹脂封
止型半導体マルチチップモジュール化とを併用すること
が一般的に用いられている。しかし、この方法は製造時
の過剰な外力や僅かな適正作業条件からの逸脱によって
内部の半導体チップの破損や形状規格外れ等の不良を誘
発するという問題がある。また、複数チップの1パッケ
ージ化は最初に組み合わせた機能を変更することが不可
能であり、そのために半導体装置としての機能を自由に
変更することができず、融通性に欠けていた。
By the way, as a means for realizing the miniaturization and multifunction of the resin-encapsulated semiconductor device, the resin-encapsulated semiconductor multichip module in which the encapsulation resin portion is made thin and small and a plurality of chips are combined. It is generally used in combination with However, this method has a problem that an excessive external force at the time of manufacturing or a slight deviation from an appropriate working condition induces a failure such as damage of an internal semiconductor chip or a failure in shape specification. In addition, it is impossible to change the function of the first combination of a plurality of chips into one package, and therefore the function of the semiconductor device cannot be changed freely, which lacks flexibility.

【0006】本発明はかかる点に鑑みてなされたもので
あり、その目的とするところは、半導体装置のパッケー
ジ外形にアウターリード以外の第2或いは第3の外部リ
ードを設けて、使用時に複数個の半導体装置を積み重ね
ることなどの態様によって高機能高密度化を融通性よく
達成でき、しかも製造時に半導体チップの破損や形状規
格外れ等の不良を誘発しない樹脂封止型半導体装置を提
供せんとするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a second or third external lead other than the outer lead on the outer shape of a package of a semiconductor device, and to use a plurality of external leads at the time of use. It is intended to provide a resin-encapsulated semiconductor device which can flexibly achieve high-performance and high-density by an aspect such as stacking semiconductor devices, and which does not induce defects such as breakage of semiconductor chips and out-of-specification at the time of manufacturing. It is a thing.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、請求項1に係る発明は、樹脂封止型半導体装置とし
て、半導体チップと、該半導体チップを固着すると共に
先端近傍を外部端子とするために下方又は上方に折曲げ
た複数のインナーリードを有するリードフレームと、前
記半導体チップと前記リードフレームのインナーリード
との間に設けられた電気的絶縁シートと、前記半導体チ
ップ主面上の電極端子と対応する前記インナーリードの
ボンディング領域とをそれぞれ接続する複数の金属細線
と、以上のような構造体を樹脂封止して一体の成形体と
するための封止樹脂とを備える。そして、前記成形体の
下面及び上面のうち、前記インナーリードの外部端子部
折曲げ側の面に二つの矩形溝を平行に形成するととも
に、該各矩形溝の中心側の側壁もしくは対向する側壁又
は四辺の側壁に前記インナーリードの外部端子部を一定
間隔に配置し、かつ該外部端子部の少なくとも一つの面
を露出して設ける構成とする。これにより、樹脂封止型
半導体装置の成形体の下面又は上面に設けた2個の矩形
溝状外部端子に、それぞれ実装基板の端や表面上に設け
た矩形突起状端子又は他の樹脂封止型半導体装置の成形
体に設けた矩形突起状外部端子を差し込んで組み合わせ
ることで高機能高密度積層パッケージモジュールが達成
できる。
In order to achieve the above-mentioned object, the invention according to claim 1 is a resin-encapsulated semiconductor device, wherein a semiconductor chip is fixed, and the semiconductor chip is fixed, and the vicinity of the tip is an external terminal. On the main surface of the semiconductor chip, a lead frame having a plurality of inner leads bent downward or upward to achieve the above, an electrically insulating sheet provided between the semiconductor chip and the inner leads of the lead frame, A plurality of thin metal wires respectively connecting the electrode terminals and the bonding regions of the inner leads corresponding thereto, and a sealing resin for resin-sealing the above-mentioned structure to form an integral molded body are provided. Of the lower surface and the upper surface of the molded body, two rectangular grooves are formed in parallel on the surface of the inner lead on the side where the external terminal portion is bent, and the side wall on the center side of each rectangular groove or the opposing side wall or The external terminal portions of the inner leads are arranged on the four side walls at regular intervals, and at least one surface of the external terminal portions is exposed. As a result, the two rectangular groove-shaped external terminals provided on the lower surface or the upper surface of the molded body of the resin-sealed semiconductor device are provided with rectangular protruding terminals or other resin-sealed terminals provided on the end or surface of the mounting board, respectively. A high-performance high-density stacked package module can be achieved by inserting and combining rectangular projecting external terminals provided on the molded body of the semiconductor device.

【0008】請求項2に係る発明は、請求項1に係る発
明と同じく、樹脂封止型半導体装置として、半導体チッ
プと、該半導体チップを固着すると共に先端近傍を外部
端子とするために下方又は上方に折曲げた複数のインナ
ーリードを有するリードフレームと、前記半導体チップ
と前記リードフレームのインナーリードとの間に設けら
れた電気的絶縁シートと、前記半導体チップ主面上の電
極端子と対応する前記インナーリードのボンディング領
域とをそれぞれ接続する複数の金属細線と、以上のよう
な構造体を樹脂封止して一体の成形体とするための封止
樹脂とを備える。そして、前記成形体の下面及び上面の
うち、前記インナーリードの外部端子部折曲げ側の面の
中心付近に矩形溝を形成するとともに、該矩形溝の対向
する側壁又は四辺の側壁に前記インナーリードの外部端
子部を一定間隔に配置し、かつ該外部端子部の少なくと
も一つの面を露出して設ける構成とする。これにより、
樹脂封止型半導体装置の成形体の下面又は上面に設けた
矩形溝状外部端子に、実装基板の端や表面上に設けた矩
形突起状端子又は他の樹脂封止型半導体装置の成形体に
設けた矩形突起状外部端子を差し込んで組み合わせるこ
とで高機能高密度積層パッケージモジュールが達成でき
る。
The invention according to claim 2 is, like the invention according to claim 1, as a resin-encapsulated semiconductor device, a semiconductor chip is fixed to the semiconductor chip, and the semiconductor chip is fixed to the semiconductor chip and the lower end is used as an external terminal. Corresponding to a lead frame having a plurality of inner leads bent upward, an electrically insulating sheet provided between the semiconductor chip and inner leads of the lead frame, and electrode terminals on the main surface of the semiconductor chip. A plurality of thin metal wires are respectively connected to the bonding regions of the inner leads, and a sealing resin for resin-sealing the above structure to form an integral molded body. Then, a rectangular groove is formed near the center of the surface of the inner lead on the bent side of the outer terminal portion of the lower surface and the upper surface of the molded body, and the inner lead is formed on the side wall or four side walls facing each other of the rectangular groove. The external terminal portions are arranged at regular intervals, and at least one surface of the external terminal portion is exposed. This allows
For a rectangular groove-shaped external terminal provided on the lower surface or the upper surface of the molded body of the resin-sealed semiconductor device, for a rectangular protruding terminal provided on the end or surface of the mounting board, or for a molded body of another resin-sealed semiconductor device. By inserting and combining the provided rectangular protruding external terminals, a high-performance high-density stacked package module can be achieved.

【0009】請求項3に係る発明は、請求項1に係る発
明と同じく、樹脂封止型半導体装置として、半導体チッ
プと、該半導体チップを固着すると共に先端近傍を外部
端子とするために下方又は上方に折曲げた複数のインナ
ーリードを有するリードフレームと、前記半導体チップ
と前記リードフレームのインナーリードとの間に設けら
れた電気的絶縁シートと、前記半導体チップ主面上の電
極端子と対応する前記インナーリードのボンディング領
域とをそれぞれ接続する複数の金属細線と、以上のよう
な構造体を樹脂封止して一体の成形体とするための封止
樹脂とを備える。そして、前記成形体の下面及び上面の
うち、前記インナーリードの外部端子部折曲げ側の面の
中心付近に矩形突起を形成するとともに、該矩形突起の
対向する側壁又は四辺の側壁に前記インナーリードの外
部端子部を一定間隔に配置し、かつ該外部端子部の少な
くとも一つの面を露出して設ける構成とする。これによ
り、樹脂封止型半導体装置の成形体の下面又は上面に設
けた矩形突起状外部端子を、実装基板の表面上に設けた
矩形状くり貫き孔周辺の端子、又は例えば請求項2記載
の樹脂封止型半導体装置のように成形体に設けた矩形溝
状外部端子に差し込んで組み合わせることで高機能高密
度積層パッケージモジュールが達成できる。
The invention according to claim 3 is the same as the invention according to claim 1, as a resin-sealed semiconductor device, a semiconductor chip is fixed to the semiconductor chip, and the semiconductor chip is fixed to the lower side or the lower end of the semiconductor chip to form an external terminal. Corresponding to a lead frame having a plurality of inner leads bent upward, an electrically insulating sheet provided between the semiconductor chip and inner leads of the lead frame, and electrode terminals on the main surface of the semiconductor chip. A plurality of thin metal wires are respectively connected to the bonding regions of the inner leads, and a sealing resin for resin-sealing the above structure to form an integral molded body. A rectangular protrusion is formed near the center of the surface of the inner lead on the side where the outer terminal portion is bent, of the lower surface and the upper surface of the molded body, and the inner lead is provided on the opposing side wall or four side wall of the rectangular protrusion. The external terminal portions are arranged at regular intervals, and at least one surface of the external terminal portion is exposed. Thereby, the rectangular projecting external terminal provided on the lower surface or the upper surface of the molded body of the resin-encapsulated semiconductor device, the terminal around the rectangular hollow hole provided on the surface of the mounting substrate, or for example, according to claim 2. A high-performance high-density stacked package module can be achieved by inserting and combining with a rectangular groove-shaped external terminal provided in a molded body like a resin-sealed semiconductor device.

【0010】請求項4に係る発明は、樹脂封止型半導体
装置として、半導体チップと、該半導体チップを固着す
ると共に先端近傍を成形体下面の外部端子とするように
下方に折曲げた複数のインナーリードを有する第1のリ
ードフレームと、該第1のリードフレームと重合する共
に先端近傍を成形体上面の外部端子とするように上方に
折曲げた複数のインナーリードを有する第2のリードフ
レームと、前記半導体チップと前記第1のリードフレー
ムのインナーリードとの間に設けられた電気的絶縁シー
トと、前記半導体チップ主面上の電極端子と対応する前
記インナーリードのボンディング領域とをそれぞれ接続
する複数の金属細線と、以上のような構造体を樹脂封止
して一体の成形体とするための封止樹脂とを備える。そ
して、前記成形体の下面の中心付近に矩形溝を、上面の
中心付近に矩形突起をそれぞれ形成するとともに、前記
矩形溝の対向する側壁又は四辺の側壁に前記第1のリー
ドフレームにおけるインナーリードの外部端子部を一定
間隔に配置し、かつ該外部端子部の少なくとも一つの面
を露出して設ける。また、前記矩形突起の対向する側壁
又は四辺の側壁に前記第2のリードフレームにおけるイ
ンナーリードの外部端子部を一定間隔に配置し、かつ該
外部端子部の少なくとも一つの面を露出して設ける構成
とする。これにより、樹脂封止型半導体装置の成形体の
上面に設けた矩形突起状外部端子を、実装基板の裏面上
に設けた矩形状くり貫き孔周辺の端子に差し込みととも
に、前記成形体の下面に設けた矩形溝状外部端子に2枚
目の実装基板の表面上に設けた矩形突起状端子を差し込
むことで2枚の実装基板を1個の半導体装置で接続して
高機能高密度システムが達成できる。また、各々異なる
機能の半導体チップを樹脂封止してなる複数個の半導体
装置を、それらの矩形溝状外部端子と矩形突起状外部端
子とで互いに差し込んで積み重ねることで高機能高密度
積層パッケージモジュールが達成できる。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a resin-encapsulated semiconductor device, which comprises a semiconductor chip, a plurality of semiconductor chips fixed to the semiconductor chip, and bent downward so that the vicinity of the tip serves as an external terminal on the lower surface of the molded body. A first lead frame having an inner lead, and a second lead frame having a plurality of inner leads that overlap with the first lead frame and are bent upward so that the vicinity of the tip is an external terminal on the upper surface of the molded body. And an electrically insulating sheet provided between the semiconductor chip and the inner lead of the first lead frame, and a bonding region of the inner lead corresponding to an electrode terminal on the main surface of the semiconductor chip, respectively. A plurality of fine metal wires and a sealing resin for resin-sealing the above-described structure to form an integral molded body. A rectangular groove is formed near the center of the lower surface of the molded body, and a rectangular protrusion is formed near the center of the upper surface, and the inner leads of the first lead frame are formed on the opposite side walls or four side walls of the rectangular groove. The external terminal portions are arranged at regular intervals, and at least one surface of the external terminal portions is exposed. Also, the external terminal portions of the inner leads of the second lead frame are arranged at regular intervals on opposite side walls or four side walls of the rectangular protrusion, and at least one surface of the external terminal portion is exposed. And As a result, the rectangular protruding external terminals provided on the upper surface of the molded body of the resin-encapsulated semiconductor device are inserted into the terminals around the rectangular hollow hole provided on the back surface of the mounting board, and the lower surface of the molded body is formed. By inserting the rectangular projecting terminals provided on the surface of the second mounting board into the provided rectangular groove external terminals, the two mounting boards are connected by one semiconductor device, and a high-performance high-density system is achieved. it can. In addition, a plurality of semiconductor devices each having a semiconductor chip with a different function sealed with a resin are stacked by inserting the rectangular groove-shaped external terminals and the rectangular protrusion-shaped external terminals into each other, and stacking them. Can be achieved.

【0011】請求項5に係る発明は、請求項4記載の樹
脂封止型半導体装置において、成形体の外形を、上面と
下面とを逆の形状とする。つまり、成形体の下面の中心
付近に矩形突起を、上面の中心付近に矩形溝をそれぞれ
形成するとともに、前記矩形突起の対向する側壁又は四
辺の側壁に第1のリードフレームにおけるインナーリー
ドの外部端子部を一定間隔に配置し、かつ該外部端子部
の少なくとも一つの面を露出して設ける。また、前記矩
形溝の対向する側壁又は四辺の側壁に第2のリードフレ
ームにおけるインナーリードの外部端子部を一定間隔に
配置し、かつ該外部端子部の少なくとも一つの面を露出
して設ける。これにより、樹脂封止型半導体装置の成形
体の上面に設けた矩形溝状外部端子を、実装基板の裏面
上に設けた矩形突起状端子に差し込むとともに、前記成
形体の下面に設けた矩形突起状外部端子に2枚目の実装
基板の表面上に設けた矩形状くり貫き孔周辺の端子を差
し込むことで2枚の実装基板を1個の半導体装置で接続
して高機能高密度システムが達成できる。また、各々異
なる機能の半導体チップを樹脂封止してなる複数個の半
導体装置を、それらの矩形溝状外部端子と矩形突起状外
部端子とで互いに差し込んで積み重ねることで高機能高
密度積層パッケージモジュールが達成できる。
According to a fifth aspect of the present invention, in the resin-encapsulated semiconductor device according to the fourth aspect, the outer shape of the molded body is such that the upper surface and the lower surface are reversed. That is, a rectangular protrusion is formed near the center of the lower surface of the molded body, and a rectangular groove is formed near the center of the upper surface, and the outer terminals of the inner leads of the first lead frame are formed on the opposing side walls or four side walls of the rectangular protrusion. The parts are arranged at regular intervals, and at least one surface of the external terminal part is exposed. Further, external terminal portions of the inner leads of the second lead frame are arranged at regular intervals on opposite side walls or four side wall sides of the rectangular groove, and at least one surface of the external terminal portions is exposed. As a result, the rectangular groove-shaped external terminals provided on the upper surface of the molded body of the resin-encapsulated semiconductor device are inserted into the rectangular protruding terminals provided on the back surface of the mounting board, and the rectangular protrusions provided on the lower surface of the molded body. A high-performance high-density system can be achieved by connecting the two mounting boards with one semiconductor device by inserting the terminals around the rectangular hole formed on the surface of the second mounting board into the external terminals. it can. In addition, a plurality of semiconductor devices each having a semiconductor chip with a different function sealed with a resin are stacked by inserting the rectangular groove-shaped external terminals and the rectangular protrusion-shaped external terminals into each other, and stacking them. Can be achieved.

【0012】請求項6に係る発明は、請求項2、請求項
4又は請求項5記載の樹脂封止型半導体装置において、
矩形溝の側壁の代りに、矩形溝の底面にインナーリード
の外部端子部を一定間隔に配置し、かつ該外部端子部の
少なくとも一つの面を露出して設ける構成とする。これ
により、樹脂封止型半導体装置の成形体の上面に形成し
た矩形溝の底面に設けた外部端子に対し、チップ電子部
品群で構成される機能モジュールを差し込んだり、個々
のチップ電子部品をハンダで固定して使用することで高
機能高密度パッケージモジュールが達成できる。
The invention according to claim 6 is the resin-encapsulated semiconductor device according to claim 2, 4, or 5,
Instead of the side wall of the rectangular groove, the external terminal portions of the inner leads are arranged at regular intervals on the bottom surface of the rectangular groove, and at least one surface of the external terminal portion is exposed. As a result, a functional module including a chip electronic component group can be inserted into the external terminal provided on the bottom surface of the rectangular groove formed on the upper surface of the molded body of the resin-encapsulated semiconductor device, or individual chip electronic components can be soldered. A high-performance high-density package module can be achieved by fixing and using.

【0013】請求項7に係る発明は、請求項1〜6のい
ずれか一つに記載の樹脂封止型半導体装置において、リ
ードフレームが、各々対応するインナーリードと接続さ
れた複数のアウターリードを有してなり、該各アウター
リードを、封止樹脂の外部に延出し所定形状に成形加工
する構成とする。これにより、前記アウターリードを実
装基板の端子に接続して固定することができる。
According to a seventh aspect of the present invention, in the resin-encapsulated semiconductor device according to any one of the first to sixth aspects, the lead frame has a plurality of outer leads connected to corresponding inner leads. The outer leads are extended to the outside of the sealing resin and are molded into a predetermined shape. Thus, the outer leads can be connected and fixed to the terminals of the mounting board.

【0014】[0014]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0015】(第1実施例)図1及び図2は本発明の第
1実施例に係る樹脂封止型半導体装置Aを示し、図1は
半導体装置Aをその下面より見た平面図(底面図)であ
り、図2は図1のI−I線おける断面図である。半導体
装置Aは、矩形状の半導体チップ1と、複数のインナー
リード23,23,…を有するリードフレーム2と、前
記半導体チップ1と前記リードフレーム2のインナーリ
ード23との間に設けられた電気的絶縁シート3と、前
記半導体チップ1の主面1a上の電極端子4と対応する
前記インナーリード23のボンディング領域とをそれぞ
れ接続する複数の金属細線5,5,…と、以上のような
構造体を樹脂封止して一体の成形体6とするための封止
樹脂7とから構成されている。
(First Embodiment) FIGS. 1 and 2 show a resin-sealed semiconductor device A according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1 is a plan view (bottom surface) of the semiconductor device A seen from the bottom surface thereof. 2) is a cross-sectional view taken along line I-I of FIG. 1. The semiconductor device A includes a semiconductor chip 1 having a rectangular shape, a lead frame 2 having a plurality of inner leads 23, 23, and an electrical lead provided between the semiconductor chip 1 and the inner leads 23 of the lead frame 2. , A plurality of thin metal wires 5, 5, ... For respectively connecting the electrically insulating sheet 3 and the bonding regions of the inner leads 23 corresponding to the electrode terminals 4 on the main surface 1a of the semiconductor chip 1 and the structure as described above. A sealing resin 7 for sealing the body with a resin to form an integral molded body 6.

【0016】ここで、樹脂封止前のリードフレーム2
は、図3に示すように、矩形状の外枠21と、該外枠2
1の二つの長辺間に跨がりかつ長辺方向に所定間隔毎に
設けられた複数のダムバー22,22(図では2つのみ
示す)と、隣接する2つのダムバー22,22から各々
互いに向かい合う方向に延びる複数のインナーリード2
3,23,…と、前記ダムバー22,22を挟んで各イ
ンナーリード23と接続された複数のアウターリード2
4,24,…とを有してなる。そして、樹脂封止後の切
断工程では、本実施例の場合、封止樹脂7内に封止され
たインナーリード23を除き、リードフレーム2の他の
部位、つまり外枠21、ダムバー22及びアウターリー
ド24は切除される。
Here, the lead frame 2 before resin sealing
As shown in FIG. 3, the rectangular outer frame 21 and the outer frame 2
A plurality of dam bars 22 and 22 (only two are shown in the figure) that are provided across the two long sides of No. 1 and are provided at predetermined intervals in the long side direction, and face each other from two adjacent dam bars 22 and 22. Inner leads 2 extending in the same direction
, And a plurality of outer leads 2 connected to the inner leads 23 with the dam bars 22, 22 sandwiched therebetween.
4, 24, ... Then, in the cutting step after the resin sealing, in the case of the present embodiment, other parts of the lead frame 2 except the inner lead 23 sealed in the sealing resin 7, that is, the outer frame 21, the dam bar 22 and the outer. The lead 24 is cut off.

【0017】前記封止樹脂7内の各インナーリード23
の上面は、半導体チップ1の裏面1bに固着され、その
両者の間には電気的絶縁と接着とを目的として絶縁シー
ト3が介在されている。該絶縁シート3は、ポリイミド
やガラスエポキシからなる50〜200μmの薄い基材
の両面に熱可塑性樹脂を5〜30μmの薄さに塗布した
ものである。そして、絶縁シート3を介在してインナー
リード23上面と半導体チップ裏面1bとを固着する場
合には、まず、絶縁シート3下面を前記インナーリード
23上面の所定の位置(図3参照)に合わせた後に20
0〜450℃の温度で加圧して貼り合わせ、続いて前記
絶縁シート3上面の所定の位置に前記半導体チップ1を
合わせた後、該絶縁シート3上面と半導体チップ裏面1
bとを前記温度で加圧して貼り合わせるようになってい
る。
Each inner lead 23 in the sealing resin 7
Is fixed to the back surface 1b of the semiconductor chip 1, and an insulating sheet 3 is interposed between the two for the purpose of electrical insulation and adhesion. The insulating sheet 3 is formed by applying a thermoplastic resin to a thickness of 5 to 30 μm on both surfaces of a thin substrate of 50 to 200 μm made of polyimide or glass epoxy. When the upper surface of the inner lead 23 and the back surface 1b of the semiconductor chip are fixed to each other with the insulating sheet 3 interposed, first, the lower surface of the insulating sheet 3 is aligned with a predetermined position on the upper surface of the inner lead 23 (see FIG. 3). Later 20
After pressurizing and bonding at a temperature of 0 to 450 ° C. and then aligning the semiconductor chip 1 at a predetermined position on the upper surface of the insulating sheet 3, the upper surface of the insulating sheet 3 and the semiconductor chip back surface 1
b is pressed at the above temperature and bonded together.

【0018】また、前記各インナーリード23の先端部
23aは、それを外部端子とするために前記半導体チッ
プ裏面1bとの固着部よりも内側位置で下方(半導体チ
ップ1と離反する方向)に略直角に折曲げられている。
そして、成形体6の下面つまり各インナーリード23の
先端部折曲げ側の面には、各インナーリード23と略直
交する成形体6の長辺方向に延びる互いに平行な二つの
矩形溝11,11が形成され、該各矩形溝11の外側の
側壁(中心側の側壁と対向する側壁)には、前記インナ
ーリード23の先端部である外部端子部23aが一定間
隔で配置されている。前記外部端子部23aの一面は露
出されており、その表面には、良好な電気的導通を得る
ために金、銀、銅、パラジュウム等の金属で2〜15μ
mのメッキ12が施されている。
Further, the tip end portion 23a of each inner lead 23 is substantially downward (in the direction away from the semiconductor chip 1) at a position inside the fixing portion to the semiconductor chip back surface 1b in order to use it as an external terminal. It is bent at a right angle.
Then, on the lower surface of the molded body 6, that is, the surface on the tip side of each inner lead 23 that is bent, two rectangular grooves 11 and 11 that are parallel to each other and extend in the long side direction of the molded body 6 that are substantially orthogonal to each other. The outer terminal portions 23a, which are the tip portions of the inner leads 23, are arranged at regular intervals on the outer side wall (side wall facing the center side wall) of each rectangular groove 11. One surface of the external terminal portion 23a is exposed, and a metal such as gold, silver, copper, palladium or the like has a thickness of 2 to 15 μm on the surface in order to obtain good electrical conduction.
m plating 12 is applied.

【0019】次に、前記樹脂封止型半導体装置Aの製造
方法について説明するに、まず、図3に示すような外枠
21とダムバー22とインナーリード23とアウターリ
ード24とからなるリードフレーム2を用意し、該リー
ドフレーム2の各インナーリード23の先端部を下方に
折曲げる。そして、前記リードフレーム2のインナーリ
ード23上面の所定の位置に電気的絶縁シート3下面を
合わせた後に200〜450℃の温度で加圧して貼り合
わせ、続いて前記電気的絶縁シート3上面の所定の位置
に前記半導体チップ1を合わせた後、前記電気的絶縁シ
ート3上面と前記半導体チップ裏面1bを前記温度で加
圧して貼り合わせ、前記リードフレーム7をスライドさ
せながら徐冷して半導体チップ1をインナーリード23
上面に固定する。この構造体を前記電気的絶縁シート3
表面の熱可塑性樹脂が軟化しない温度範囲に設定した超
音波熱圧着型ワイヤーボンダーを用いて前記半導体チッ
プ主面1a上の電極端子4と対応する前記インナーリー
ド23上面のボンディング領域とをそれぞれ金属細線5
で接続する。
Next, a method of manufacturing the resin-encapsulated semiconductor device A will be described. First, as shown in FIG. 3, a lead frame 2 including an outer frame 21, a dam bar 22, inner leads 23, and outer leads 24. And the tip of each inner lead 23 of the lead frame 2 is bent downward. Then, the lower surface of the electrically insulating sheet 3 is aligned with a predetermined position on the upper surface of the inner lead 23 of the lead frame 2, and then pressed and bonded at a temperature of 200 to 450 ° C., and subsequently, the predetermined surface of the upper surface of the electrically insulating sheet 3 is bonded. After the semiconductor chip 1 is fitted to the position, the upper surface of the electrically insulating sheet 3 and the back surface 1b of the semiconductor chip are pressed and bonded together at the temperature, and the lead frame 7 is slid and gradually cooled to allow the semiconductor chip 1 to move. The inner lead 23
Fix on top. This structure is used as the electrical insulation sheet 3
Using an ultrasonic thermocompression bonding wire bonder set in a temperature range in which the thermoplastic resin on the surface is not softened, the electrode terminals 4 on the semiconductor chip main surface 1a and the bonding regions on the upper surface of the inner leads 23 corresponding to the metal terminals are respectively provided. 5
Connect with.

【0020】続いて、前記構造体を、図4に示すような
下側金型32のキャビティー33中央付近に平行に配置
された二つのキャビティー内矩形状突起35,35を有
する樹脂封止金型30の所定の位置にセットする。その
際、前記インナーリード23の下方に折れ曲った先端部
(外部端子部)23aの面を前記各キャビティー内矩形
状突起35の外側側面に接触させて固定する。そして、
前記樹脂封止金型30の型締めは上側金型31面に前記
下側金型32上のリードフレーム2面が接して適正なク
ランプ圧力に到達するまで前記下側金型32を上昇させ
て行う。つぎに、樹脂封止を行うために前記樹脂封止金
型30のキャビティー33内に封止樹脂7を注入する。
この樹脂封止は熱硬化性もしくは熱可塑性樹脂を用いて
前記構造体を一体的に樹脂封止する。注入方法は前記樹
脂封止金型30のキャビティー33の一部に設けたゲー
ト(図示せず)から前記封止樹脂7をその溶融温度であ
る150〜400℃で行い、前記キャビティー33内に
溶融封止樹脂7を充填して、一定時間保持した後、前記
樹脂封止金型30を型開きし、樹脂成形体6をキャビテ
ィー33から取り出す。取り出した樹脂成形体6の下面
は平行に並んだ二つの矩形溝11,11を有し、該各矩
形溝11の外側の側壁には一定間隔に配置されたインナ
ーリード23の下方に折れ曲った外部端子部23aの面
が露出している。
Subsequently, the structure is sealed with a resin having two in-cavity rectangular projections 35, 35 arranged in parallel near the center of the cavity 33 of the lower mold 32 as shown in FIG. The mold 30 is set at a predetermined position. At this time, the surface of the tip portion (external terminal portion) 23a bent downward of the inner lead 23 is brought into contact with and fixed to the outer side surface of the rectangular projection 35 in each cavity. And
Clamping of the resin-sealed mold 30 is performed by raising the lower mold 32 until the surface of the upper mold 31 comes into contact with the surface of the lead frame 2 on the lower mold 32 and an appropriate clamp pressure is reached. To do. Next, in order to perform resin sealing, the sealing resin 7 is injected into the cavity 33 of the resin sealing mold 30.
In this resin encapsulation, the structure is integrally resin-encapsulated using a thermosetting or thermoplastic resin. The injection method is to perform the sealing resin 7 from a gate (not shown) provided in a part of the cavity 33 of the resin sealing mold 30 at a melting temperature of 150 to 400 ° C. After the molten sealing resin 7 is filled in and held for a certain period of time, the resin sealing mold 30 is opened and the resin molded body 6 is taken out from the cavity 33. The lower surface of the resin molded body 6 taken out has two rectangular grooves 11 arranged in parallel, and the outer side wall of each rectangular groove 11 is bent below inner leads 23 arranged at regular intervals. The surface of the external terminal portion 23a is exposed.

【0021】しかる後、前記各インナーリード23の外
部端子部23aの露出面に対し、良好な電気的導通を得
るために金、銀、銅、パラジュウム等の金属で2〜15
μmのメッキ12を施す。最後に樹脂封止型半導体装置
Aの形状となった前記樹脂成形体6の側面から突き出し
ているリードフレーム2の不要な部分である外枠21、
ダムバー22及びアウターリード24を切断することで
樹脂封止型半導体装置Aが実現できる。
Thereafter, in order to obtain good electrical continuity with the exposed surface of the external terminal portion 23a of each inner lead 23, a metal such as gold, silver, copper or palladium is used for 2 to 15 parts.
The plating 12 of μm is applied. Finally, the outer frame 21, which is an unnecessary portion of the lead frame 2 protruding from the side surface of the resin molded body 6 in the shape of the resin-encapsulated semiconductor device A,
The resin-sealed semiconductor device A can be realized by cutting the dam bar 22 and the outer leads 24.

【0022】そして、このような樹脂封止型半導体装置
Aにおいては、樹脂成形体6の下面に設けた2個の矩形
溝11,11の各外側側壁に複数のインナーリード23
の外部端子部23aが各々一面を露出して一定間隔に配
置されているため、この矩形溝11内の外部端子部23
aに、それぞれ実装基板の端や表面上に設けた矩形突起
状端子又は他の樹脂封止型半導体装置の成形体に設けた
矩形突起状外部端子を差し込んで組み合わせることで高
機能高密度積層パッケージモジュールが達成でき、高機
能高密度化を迅速にかつ融通性よく達成することができ
る。しかも、必要以上に樹脂成形体6を薄型化する必要
がなく、その内部に搭載される半導体チップ1も標準の
厚みに加工すれば足りるので、製造時に半導体チップ1
の破損や形状規格外れ等の不良を誘発することはない。
In such a resin-encapsulated semiconductor device A, a plurality of inner leads 23 are formed on the outer side walls of the two rectangular grooves 11, 11 provided on the lower surface of the resin molded body 6.
Since the external terminal portions 23a of each are exposed at one surface and are arranged at regular intervals, the external terminal portions 23 in the rectangular groove 11 are
A high-performance high-density stacked package by inserting a rectangular projecting terminal provided on the end or the surface of the mounting substrate or a rectangular projecting external terminal provided on a molded body of another resin-encapsulated semiconductor device into a and combining them with a. Modules can be achieved, and high-performance and high-density can be achieved quickly and flexibly. In addition, it is not necessary to make the resin molded body 6 thinner than necessary, and it is sufficient to process the semiconductor chip 1 mounted therein to a standard thickness.
It does not induce defects such as breakage and failure of shape specifications.

【0023】尚、第1実施例では、樹脂成形体6の下面
に設けた2個の矩形溝11,11の各外側側壁にインナ
ーリード23の外部端子部23aを所定間隔に配置した
が、本発明、特に請求項1に係る発明は、前記各矩形溝
11の中心側の側壁にインナーリード23の外部端子部
23aを所定間隔に配置したり、各矩形溝11の四辺の
側壁にインナーリード23の外部端子部23aを所定間
隔に配置したりしてもよい。また、樹脂成形体6の下面
の代りに、樹脂成形体6の上面に2個の矩形溝を形成
し、該各矩形溝の中心側の側壁もしくは対向する外側の
側壁又は四辺の側壁にインナーリード23の外部端子部
23aを所定間隔に配置するように構成してもよい。
In the first embodiment, the external terminal portions 23a of the inner leads 23 are arranged at predetermined intervals on the outer side walls of the two rectangular grooves 11, 11 provided on the lower surface of the resin molded body 6. The invention, particularly the invention according to claim 1, arranges the external terminal portions 23a of the inner leads 23 at predetermined intervals on the side walls on the center side of each of the rectangular grooves 11, or the inner leads 23 on the side walls of the four sides of each of the rectangular grooves 11. The external terminal portions 23a may be arranged at predetermined intervals. Further, instead of the lower surface of the resin molded body 6, two rectangular grooves are formed on the upper surface of the resin molded body 6, and the inner leads are formed on the side wall on the center side of each rectangular groove or on the opposite outer side wall or four side walls. The external terminal portions 23a of 23 may be arranged at a predetermined interval.

【0024】(第2実施例)図5及び図6は本発明の第
2実施例に係る樹脂封止型半導体装置Bを示し、図5は
半導体装置Bをその下面より見た平面図(底面図)であ
り、図6は図5のJ−J線おける断面図である。半導体
装置Bは、第1実施例の半導体装置Aと同じく、矩形状
の半導体チップ1と、該半導体チップ1を固着すると共
に先端部を外部端子とするために下方に折曲げた複数の
インナーリード23,23,…を有するリードフレーム
2と、前記半導体チップ1と前記リードフレーム2のイ
ンナーリード23との間に設けられた電気的絶縁シート
3と、前記半導体チップ1の主面1a上の電極端子4と
対応する前記インナーリード23のボンディング領域と
をそれぞれ接続する複数の金属細線5,5,…と、以上
のような構造体を樹脂封止して一体の成形体6とするた
めの封止樹脂7とから構成されている。
(Second Embodiment) FIGS. 5 and 6 show a resin-encapsulated semiconductor device B according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a plan view (bottom surface) of the semiconductor device B viewed from the bottom surface thereof. FIG. 6 is a sectional view taken along line JJ of FIG. The semiconductor device B, like the semiconductor device A of the first embodiment, has a rectangular semiconductor chip 1 and a plurality of inner leads that are fixed to the semiconductor chip 1 and that are bent downward in order to use the tips as external terminals. , A lead frame 2 having 23, 23, ..., An electrically insulating sheet 3 provided between the semiconductor chip 1 and the inner leads 23 of the lead frame 2, and electrodes on the main surface 1a of the semiconductor chip 1. A plurality of thin metal wires 5, 5, ... Which respectively connect the terminals 4 and the bonding regions of the inner leads 23 corresponding to each other, and a seal for resin-sealing the above structure to form an integrated molded body 6. It is composed of a stop resin 7.

【0025】前記半導体装置Bが第1実施例の半導体装
置Aと異なるところは、樹脂成形体6の下面の中心付近
に矩形溝41が1個だけ形成され、該矩形溝41の短手
方向の長さは、第1実施例の半導体装置Aのそれよりも
大きく設定されている。前記矩形溝41の対向する長辺
側の二つの側壁には、前記リードフレーム2の各インナ
ーリード23の下方に折れ曲った先端部である外部端子
部23aが一定間隔で配置され、該外部端子部23aの
一面は露出されており、その表面には、良好な電気的導
通を得るために金、銀、銅、パラジュウム等の金属で2
〜15μmのメッキ42が施されている。
The semiconductor device B is different from the semiconductor device A of the first embodiment in that only one rectangular groove 41 is formed in the vicinity of the center of the lower surface of the resin molding 6, and the rectangular groove 41 extends in the lateral direction. The length is set larger than that of the semiconductor device A of the first embodiment. External terminal portions 23a, which are bent front end portions of the inner leads 23 of the lead frame 2, are arranged at regular intervals on two opposing long side walls of the rectangular groove 41. One surface of the portion 23a is exposed, and a metal such as gold, silver, copper, or palladium is used for the surface of the portion 23a in order to obtain good electrical conduction.
A plating 42 of ˜15 μm is applied.

【0026】尚、半導体装置Bの製造方法では、樹脂封
止の際には、下側金型32のキャビティー33中心付近
に一つのキャビティー内矩形状突起35を有する樹脂封
止金型30を用い(図3参照)、前記インナーリード2
3の下方に折れ曲った先端部(外部端子部)23aの面
を前記キャビティー内矩形状突起35の対向する長辺側
の二つの側面に接触させて固定する。
In the method of manufacturing the semiconductor device B, at the time of resin encapsulation, the resin encapsulation mold 30 having one in-cavity rectangular projection 35 near the center of the cavity 33 of the lower mold 32. (See FIG. 3), the inner lead 2
The surface of the distal end portion (external terminal portion) 23a bent downward of 3 is brought into contact with and fixed to two opposing side surfaces of the rectangular protrusion 35 in the cavity.

【0027】そして、第2実施例の樹脂封止型半導体装
置Bにおいては、樹脂成形体6の下面中心付近に設けた
1個の矩形溝41の対向する長辺側の二つの側壁に複数
のインナーリード23の外部端子部23aが各々一面を
露出して一定間隔に配置されているため、この矩形溝4
1内の外部端子部23aに、実装基板の端や表面上に設
けた矩形突起状端子又は他の樹脂封止型半導体装置の成
形体に設けた矩形突起状外部端子を差し込んで組み合わ
せることで高機能高密度積層パッケージモジュールが達
成でき、高機能高密度化を迅速にかつ融通性よく達成す
ることができる。また、第1実施例の場合と同じく、製
造時に半導体チップ1の破損や形状規格外れ等の不良を
誘発することもない。
In the resin-encapsulated semiconductor device B of the second embodiment, a plurality of side walls on the opposite long sides of one rectangular groove 41 provided near the center of the lower surface of the resin molded body 6 are provided. Since the external terminal portions 23a of the inner leads 23 are exposed at one surface and are arranged at regular intervals, the rectangular groove 4
By inserting and combining the external terminal portion 23a in 1 with a rectangular projection terminal provided on the end or surface of the mounting substrate or a rectangular projection external terminal provided on a molded body of another resin-encapsulated semiconductor device, it is possible to increase the height. A functional high-density stacked package module can be achieved, and high functional density can be achieved quickly and flexibly. Further, as in the case of the first embodiment, the semiconductor chip 1 is not damaged or defective in conformity with the shape standard during manufacturing.

【0028】尚、第2実施例では、樹脂成形体6の下面
中心付近に設けた1個の矩形溝41の対向する長辺側の
二つの側壁にインナーリード23の外部端子部23aを
所定間隔に配置したが、本発明、特に請求項2に係る発
明は、前記矩形溝41の対向する短辺側の二つの側壁に
インナーリード23の外部端子部23aを所定間隔に配
置したり、矩形溝41の四辺の側壁にインナーリード2
3の外部端子部23aを所定間隔に配置したりしてもよ
い。また、樹脂成形体6の下面の代りに、樹脂成形体6
の上面中心付近に矩形溝を形成し、該矩形溝の対向する
側壁又は四辺の側壁にインナーリード23の外部端子部
23aを所定間隔に配置するように構成してもよい。
In the second embodiment, the external terminal portions 23a of the inner lead 23 are provided at predetermined intervals on the two side walls on the opposite long sides of one rectangular groove 41 provided near the center of the lower surface of the resin molded body 6. However, according to the present invention, particularly the invention according to claim 2, the external terminal portions 23a of the inner leads 23 are arranged at predetermined intervals on the two side walls of the rectangular groove 41 facing each other on the shorter side, or the rectangular groove 41 is arranged. Inner leads 2 on the four side walls of 41
The external terminal portions 23a of No. 3 may be arranged at a predetermined interval. Further, instead of the lower surface of the resin molded body 6, the resin molded body 6
A rectangular groove may be formed in the vicinity of the center of the upper surface of the above, and the external terminal portions 23a of the inner leads 23 may be arranged at predetermined intervals on opposite side walls or four side walls of the rectangular groove.

【0029】(第3実施例)図7及び図8は本発明の第
3実施例に係る樹脂封止型半導体装置Cを示し、図7は
半導体装置Cをその下面より見た平面図(底面図)であ
り、図8は図7のK−K線おける断面図である。半導体
装置Cは、第1実施例の半導体装置Aと同じく、矩形状
の半導体チップ1と、該半導体チップ1を固着すると共
に先端部を外部端子とするために下方に折曲げた複数の
インナーリード23,23,…を有するリードフレーム
2と、前記半導体チップ1と前記リードフレーム2のイ
ンナーリード23との間に設けられた電気的絶縁シート
3と、前記半導体チップ1の主面1a上の電極端子4と
対応する前記インナーリード23のボンディング領域と
をそれぞれ接続する複数の金属細線5,5,…と、以上
のような構造体を樹脂封止して一体の成形体6とするた
めの封止樹脂7とから構成されている。
(Third Embodiment) FIGS. 7 and 8 show a resin-encapsulated semiconductor device C according to a third embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a plan view (bottom surface) of the semiconductor device C viewed from the bottom surface thereof. FIG. 8 is a sectional view taken along line KK of FIG. 7. The semiconductor device C, like the semiconductor device A of the first embodiment, has a rectangular semiconductor chip 1 and a plurality of inner leads that are fixed to the semiconductor chip 1 and are bent downward in order to use the tips as external terminals. , A lead frame 2 having 23, 23, ..., An electrically insulating sheet 3 provided between the semiconductor chip 1 and the inner leads 23 of the lead frame 2, and electrodes on the main surface 1a of the semiconductor chip 1. A plurality of thin metal wires 5, 5, ... Which respectively connect the terminals 4 and the bonding regions of the inner leads 23 corresponding to each other, and a seal for resin-sealing the above structure to form an integrated molded body 6. It is composed of a stop resin 7.

【0030】前記半導体装置Cが第1実施例の半導体装
置Aと異なるところは、樹脂成形体6の下面の中心付近
に矩形突起51が1個形成されている。そして、該矩形
突起51の対向する長辺側の二つの側壁には、前記リー
ドフレーム2の各インナーリード23の下方に折れ曲っ
た先端部である外部端子部23aが一定間隔で配置さ
れ、該外部端子部23aの一面は露出されており、その
表面には、良好な電気的導通を得るために金、銀、銅、
パラジュウム等の金属で2〜15μmのメッキ52が施
されている。
The semiconductor device C differs from the semiconductor device A of the first embodiment in that one rectangular protrusion 51 is formed near the center of the lower surface of the resin molding 6. External terminal portions 23a, which are bent front end portions of the inner leads 23 of the lead frame 2, are arranged at regular intervals on two opposing long side walls of the rectangular protrusion 51. One surface of the external terminal portion 23a is exposed, and gold, silver, copper, and
A plating 52 of 2 to 15 μm is applied with a metal such as palladium.

【0031】尚、半導体装置Cの製造方法では、樹脂封
止の際には、下側金型32のキャビティー33中心付近
にキャビティー内矩形状溝を有する樹脂封止金型30を
用い(図3参照)、前記インナーリード23の下方に折
れ曲った先端部(外部端子部)23aの面を前記キャビ
ティー内矩形状溝の対向する長辺側の二つの側面に接触
させて固定する。
In the method of manufacturing the semiconductor device C, when the resin is sealed, the resin-sealed mold 30 having a rectangular groove in the cavity near the center of the cavity 33 of the lower mold 32 is used ( (See FIG. 3), the surface of the tip portion (external terminal portion) 23a bent downward of the inner lead 23 is fixed by contacting with the two side surfaces on the opposite long sides of the rectangular groove in the cavity.

【0032】そして、第3実施例の樹脂封止型半導体装
置Cにおいては、樹脂成形体6の下面中心付近に設けた
1個の矩形突起51の対向する長辺側の二つの側壁に複
数のインナーリード23の外部端子部23aが各々一面
を露出して一定間隔に配置されているため、この矩形突
起51の外部端子部23aを、実装基板の表面上に設け
た矩形状くり貫き孔周辺の端子、又は例えば前記第2実
施例の樹脂封止型半導体装置Bのように樹脂成形体6に
設けた矩形溝41内の外部端子部23aに差し込んで組
み合わせることで高機能高密度積層パッケージモジュー
ルが達成でき、高機能高密度化を迅速にかつ融通性よく
達成することができる。また、第1実施例の場合と同じ
く、製造時に半導体チップ1の破損や形状規格外れ等の
不良を誘発することもない。
In the resin-encapsulated semiconductor device C of the third embodiment, a plurality of side walls on the opposite long sides of one rectangular protrusion 51 provided near the center of the lower surface of the resin molded body 6 are provided. Since the external terminal portions 23a of the inner leads 23 are exposed at one surface and are arranged at regular intervals, the external terminal portions 23a of the rectangular protrusions 51 are formed in the vicinity of the rectangular hollow hole provided on the surface of the mounting board. A high-performance high-density laminated package module is obtained by inserting the terminals or the external terminal portions 23a in the rectangular grooves 41 provided in the resin molded body 6 into the external terminal portions 23a like the resin-encapsulated semiconductor device B of the second embodiment. It can be achieved, and high functional density can be achieved quickly and flexibly. Further, as in the case of the first embodiment, the semiconductor chip 1 is not damaged or defective in conformity with the shape standard during manufacturing.

【0033】尚、第3実施例では、樹脂成形体6の下面
中心付近に設けた矩形突起51の対向する長辺側の二つ
の側壁にインナーリード23の外部端子部23aを所定
間隔に配置したが、本発明、特に請求項3に係る発明
は、前記矩形突起51の対向する短辺側の二つの側壁に
インナーリード23の外部端子部23aを所定間隔に配
置したり、矩形突起51の四辺の側壁にインナーリード
23の外部端子部23aを所定間隔に配置したりしても
よい。また、樹脂成形体6の下面の代りに、樹脂成形体
6の上面中心付近に矩形突起を形成し、該矩形突起の対
向する側壁又は四辺の側壁にインナーリード23の外部
端子部23aを所定間隔に配置するように構成してもよ
い。
In the third embodiment, the external terminal portions 23a of the inner leads 23 are arranged at predetermined intervals on the two long side walls facing each other of the rectangular protrusion 51 provided near the center of the lower surface of the resin molded body 6. However, according to the present invention, particularly the invention according to claim 3, the external terminal portions 23a of the inner leads 23 are arranged at predetermined intervals on the two short side walls of the rectangular projection 51 which face each other, or the four sides of the rectangular projection 51 are arranged. The external terminal portions 23a of the inner leads 23 may be arranged on the side walls of the above at predetermined intervals. Further, instead of the lower surface of the resin molded body 6, a rectangular protrusion is formed near the center of the upper surface of the resin molded body 6, and the external terminal portions 23a of the inner leads 23 are provided at predetermined intervals on the opposite side walls or four side walls of the rectangular protrusion. It may be configured to be arranged at.

【0034】(第4実施例)図9〜図11は本発明の第
4実施例に係る樹脂封止型半導体装置Dを示し、図9は
半導体装置Dをその上面より見た平面図、図10は半導
体装置Dをその下面より見た平面図(底面図)、図11
は図9のL−L線おける断面図である。半導体装置D
は、矩形状の半導体チップ61と、複数のインナーリー
ド62,62,…を有する第1のリードフレーム63
と、同じく複数のインナーリード64,64,…を有す
る第2のリードフレーム65と、前記半導体チップ61
と前記第1のリードフレーム63のインナーリード62
との間に設けられた電気的絶縁シート66と、前記半導
体チップ61の主面61a上の電極端子67と対応する
前記インナーリード64のボンディング領域とをそれぞ
れ接続する複数の金属細線68,68,…と、以上のよ
うな構造体を樹脂封止して一体の成形体69とするため
の封止樹脂70とから構成されている。
(Fourth Embodiment) FIGS. 9 to 11 show a resin-encapsulated semiconductor device D according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a plan view of the semiconductor device D seen from its upper surface, FIG. 10 is a plan view (bottom view) of the semiconductor device D as seen from its lower surface, and FIG.
FIG. 10 is a sectional view taken along line LL in FIG. 9. Semiconductor device D
Is a rectangular semiconductor chip 61 and a first lead frame 63 having a plurality of inner leads 62, 62, ....
A second lead frame 65 having a plurality of inner leads 64, 64, ..., And the semiconductor chip 61.
And the inner lead 62 of the first lead frame 63
A plurality of thin metal wires 68, 68 for respectively connecting an electrically insulating sheet 66 provided between the inner surface of the semiconductor chip 61 and the bonding area of the inner lead 64 corresponding to the electrode terminal 67 on the main surface 61a of the semiconductor chip 61. , And a sealing resin 70 for sealing the above structure with a resin to form an integral molded body 69.

【0035】ここで、樹脂封止前の第1のリードフレー
ム63は、図3に示すリードフレーム2の場合と同じ
く、外枠とダムバーとインナーリード62とアウターリ
ードとを有し、また樹脂封止前の第2のリードフレーム
65は、外枠とダムバーとインナーリード64とを有し
ている。そして、樹脂封止後の切断工程では、本実施例
の場合、第1及び第2のリードフレーム63,65は、
共に封止樹脂70内に封止されたインナーリード62,
64を除き、他の部位が切除される。
Here, the first lead frame 63 before resin sealing has an outer frame, a dam bar, an inner lead 62 and an outer lead, as in the case of the lead frame 2 shown in FIG. The second lead frame 65 before stopping has an outer frame, a dam bar, and an inner lead 64. Then, in the cutting step after resin sealing, in the case of the present embodiment, the first and second lead frames 63 and 65 are
Inner leads 62 both sealed in the sealing resin 70,
Except for 64, other sites are excised.

【0036】前記封止樹脂70内における第1のリード
フレーム63の各インナーリード62の上面は、半導体
チップ61の裏面61bに固着され、その両者の間には
電気的絶縁と接着とを目的として絶縁シート66が介在
されている。該絶縁シート66は、ポリイミドやガラス
エポキシからなる50〜200μmの薄い基材の両面に
熱可塑性樹脂を5〜30μmの薄さに塗布したものであ
る。また、前記各インナーリード62の先端部62a
は、それを外部端子とするために前記半導体チップ裏面
61bとの固着部よりも内側位置で下方(半導体チップ
61と離反する方向)に略直角に折曲げられている。そ
して、成形体69の下面中心付近には矩形溝71が形成
され、該矩形溝71の対向する長辺側の二つの側壁に
は、前記インナーリード62の先端部である外部端子部
62aが一定間隔で配置されている。前記外部端子部6
2aの一面は露出されており、その表面には、良好な電
気的導通を得るために金、銀、銅、パラジュウム等の金
属で2〜15μmのメッキ72が施されている。
The upper surface of each inner lead 62 of the first lead frame 63 in the encapsulating resin 70 is fixed to the back surface 61b of the semiconductor chip 61, and for the purpose of electrical insulation and adhesion between them. The insulating sheet 66 is interposed. The insulating sheet 66 is formed by applying a thermoplastic resin to a thickness of 5 to 30 μm on both sides of a thin substrate of polyimide or glass epoxy having a thickness of 50 to 200 μm. Further, the tip end portion 62a of each inner lead 62 is
In order to use it as an external terminal, it is bent at a substantially right angle downward (in a direction away from the semiconductor chip 61) at a position inside the fixing portion with the back surface 61b of the semiconductor chip. A rectangular groove 71 is formed in the vicinity of the center of the lower surface of the molded body 69, and an external terminal portion 62a, which is the tip of the inner lead 62, is fixed on the two long side walls of the rectangular groove 71 that face each other. It is arranged at intervals. The external terminal portion 6
One surface of 2a is exposed, and the surface thereof is plated with a metal 72 such as gold, silver, copper or palladium to a thickness of 2 to 15 [mu] m in order to obtain good electrical conduction.

【0037】一方、前記封止樹脂70における第2のリ
ードフレーム65の各インナーリード64の基端部は前
記第1のリードフレーム63(インナーリード62)に
重合され、各インナーリード64の先端部64aは、そ
れを外部端子とするために半導体チップ61の側端部に
沿って延びた後に上方に略直角に折曲げられている。そ
して、成形体69の上面中心付近には矩形突起73が形
成され、該矩形溝73の対向する長辺側の二つの側壁に
は、前記インナーリード64の先端部である外部端子部
64aが一定間隔で配置されている。前記外部端子部6
4aの一面は露出されており、その表面には、良好な電
気的導通を得るために金、銀、銅、パラジュウム等の金
属で2〜15μmのメッキ74が施されている。
On the other hand, the base end portion of each inner lead 64 of the second lead frame 65 in the sealing resin 70 is superposed on the first lead frame 63 (inner lead 62), and the tip portion of each inner lead 64. 64a extends along the side end portion of the semiconductor chip 61 to be used as an external terminal, and is then bent upward at a substantially right angle. A rectangular protrusion 73 is formed in the vicinity of the center of the upper surface of the molded body 69, and an external terminal portion 64a, which is the tip of the inner lead 64, is fixed on the two long side walls of the rectangular groove 73 that face each other. It is arranged at intervals. The external terminal portion 6
One surface of 4a is exposed, and the surface thereof is plated with a metal 74 such as gold, silver, copper, or palladium to a thickness of 2 to 15 μm to obtain good electrical conduction.

【0038】尚、半導体装置Dの製造方法は、基本的に
は第1実施例の半導体装置Aの製造方法と同じである
が、第1のリードフレーム63のインナーリード62と
半導体チップ61とを電気的絶縁シート66を介在して
固着した後、該半導体チップ主面61a上の電極端子6
7と対応する前記インナーリード62上面のボンディン
グ領域とを金属細線68で接続するに先立って、第1の
リードフレーム63の上に第2のリードフレーム65を
重ねて置く。その際、両リードフレーム63,65の位
置関係は、それらの外枠に設けられた位置決め孔によっ
て決められる。また、樹脂封止の際には、上側金型31
のキャビティー33中心付近にキャビティー内矩形状溝
を有し、下側金型32のキャビティー33中心付近にキ
ャビティー内矩形状突起35を有する樹脂封止金型30
を用い(図3参照)、第1のリードフレーム63におけ
る各インナーリード62の下方に折れ曲った先端部(外
部端子部)62aの面を前記キャビティー内矩形状突起
35の対向する長辺側の二つの側面に、第2のリードフ
レーム65における各インナーリード64の上方に折れ
曲った先端部(外部端子部)64aの面を前記キャビテ
ィー内矩形状溝の対向する長辺側の二つの側面にそれぞ
れ接触させて固定する。
The method of manufacturing the semiconductor device D is basically the same as the method of manufacturing the semiconductor device A of the first embodiment, but the inner lead 62 of the first lead frame 63 and the semiconductor chip 61 are not combined. The electrode terminals 6 on the main surface 61a of the semiconductor chip are fixed after the electrical insulation sheet 66 is interposed therebetween.
Prior to connecting the bonding area on the upper surface of the inner lead 62 corresponding to 7 with the thin metal wire 68, the second lead frame 65 is placed on the first lead frame 63 in an overlapping manner. At this time, the positional relationship between the lead frames 63 and 65 is determined by the positioning holes provided in the outer frames thereof. In addition, at the time of resin sealing, the upper mold 31
Of the lower mold 32 having an in-cavity rectangular groove near the center of the cavity 33 and having an in-cavity rectangular projection 35 near the center of the cavity 33 of the lower mold 32.
(See FIG. 3), the surface of the tip portion (external terminal portion) 62a bent downward of each inner lead 62 in the first lead frame 63 is formed on the opposite long side of the rectangular protrusion 35 in the cavity. To the two side surfaces of the inner lead 64 of the second lead frame 65, the surfaces of the front end portions (external terminal portions) 64a of the second lead frame 65 are provided on the two opposite long sides of the rectangular groove in the cavity. Fix by touching each side.

【0039】そして、第4実施例の樹脂封止型半導体装
置Dにおいては、成形体69の上面中心付近に設けた矩
形突起73の外部端子部64aを、実装基板の裏面上に
設けた矩形状くり貫き孔周辺の端子に差し込みととも
に、前記成形体69の下面中心付近に設けた矩形溝71
の外部端子部62aに2枚目の実装基板の表面上に設け
た矩形突起状端子を差し込むことで2枚の実装基板を1
個の半導体装置Dで接続して高機能高密度システムが達
成できる。また、各々異なる機能の半導体チップ61を
樹脂封止してなる複数個の半導体装置D,D,…を、そ
れらの矩形溝71の外部端子部62aと矩形突起73の
外部端子部64aとで互いに差し込んで積み重ねること
で高機能高密度積層パッケージモジュールが達成でき
る。従って、高機能高密度化を迅速にかつ融通性よく達
成することができる。また、第1実施例の場合と同じ
く、製造時に半導体チップ61の破損や形状規格外れ等
の不良を誘発することもない。
In the resin-sealed semiconductor device D of the fourth embodiment, the external terminal portion 64a of the rectangular protrusion 73 provided near the center of the upper surface of the molded body 69 is formed in a rectangular shape on the back surface of the mounting board. A rectangular groove 71 provided near the center of the lower surface of the molded body 69 while being inserted into the terminal around the hollowed hole.
By inserting the rectangular protruding terminal provided on the surface of the second mounting board into the external terminal portion 62a of
A high-performance high-density system can be achieved by connecting the semiconductor devices D. Further, a plurality of semiconductor devices D, D, ... Each of which is formed by resin-sealing a semiconductor chip 61 having a different function, are connected to each other by the external terminal portion 62a of the rectangular groove 71 and the external terminal portion 64a of the rectangular protrusion 73. A high-performance high-density stacked package module can be achieved by inserting and stacking. Therefore, high function and high density can be achieved quickly and flexibly. Further, as in the case of the first embodiment, the semiconductor chip 61 is not damaged at the time of manufacture, and the defect such as the deviation from the shape standard is not induced.

【0040】尚、第4実施例では、成形体69の下面中
心付近に設けた矩形溝71の対向する長辺側の二つの側
壁に第1のリードフレーム63のインナーリード62の
外部端子部62aを、成形体69の上面中心付近に設け
た矩形突起73の対向する長辺側の二つの側壁に第2の
リードフレーム65のインナーリード64の外部端子部
64aをそれぞれ所定間隔に配置したが、本発明、特に
請求項4に係る発明は、前記矩形溝71の対向する短辺
側の二つの側壁に第1のリードフレーム63のインナー
リード62の外部端子部62aを、前記矩形突起73の
対向する短辺側の二つの側壁に第2のリードフレーム6
5のインナーリード64の外部端子部64aをそれぞれ
所定間隔に配置したり、前記矩形溝71の四辺の側壁に
第1のリードフレーム63のインナーリード62の外部
端子部62aを、前記矩形突起73の四辺の側壁に第2
のリードフレーム65のインナーリード64の外部端子
部64aをそれぞれ所定間隔に配置したりしてもよい。
In the fourth embodiment, the external terminal portion 62a of the inner lead 62 of the first lead frame 63 is provided on two side walls on the opposite long sides of the rectangular groove 71 provided near the center of the lower surface of the molded body 69. The external terminal portions 64a of the inner leads 64 of the second lead frame 65 are arranged at predetermined intervals on two opposing long side walls of the rectangular protrusion 73 provided near the center of the upper surface of the molded body 69. According to the present invention, particularly the invention according to claim 4, the external terminal portions 62a of the inner leads 62 of the first lead frame 63 are provided on the two short side walls of the rectangular groove 71 which are opposed to each other, and the external terminals 62a are opposed to the rectangular protrusions 73. The second lead frame 6 is provided on the two side walls on the short side.
5, the external terminal portions 64a of the inner leads 64 are arranged at predetermined intervals, and the external terminal portions 62a of the inner leads 62 of the first lead frame 63 are attached to the four side walls of the rectangular groove 71 and the rectangular protrusions 73 of the rectangular protrusion 73. Second on the four side walls
The outer terminal portions 64a of the inner leads 64 of the lead frame 65 may be arranged at predetermined intervals.

【0041】(第5実施例)図12〜図14は本発明の
第5実施例に係る樹脂封止型半導体装置Eを示し、図1
2は半導体装置Eをその上面より見た平面図、図13は
半導体装置Eをその下面より見た平面図(底面図)、図
14は図12のM−M線おける断面図である。半導体装
置Eは、第4実施例の半導体装置Dと成形体69の外形
が上面と下面とで逆に形成されている。
(Fifth Embodiment) FIGS. 12 to 14 show a resin-sealed semiconductor device E according to a fifth embodiment of the present invention.
2 is a plan view of the semiconductor device E as seen from its upper surface, FIG. 13 is a plan view (bottom view) of the semiconductor device E as seen from its lower surface, and FIG. 14 is a sectional view taken along line MM in FIG. In the semiconductor device E, the outer shape of the semiconductor device D of the fourth embodiment and that of the molded body 69 are formed so that the upper surface and the lower surface are reversed.

【0042】すなわち、成形体69の下面中心付近には
矩形突起81が形成され、該矩形突起81の対向する長
辺側の二つの側壁には、第1のリードフレーム63のイ
ンナーリード62の先端部である外部端子部62aが一
定間隔で配置されており、該外部端子部62aの一面
は、露出して設けられ、かつ良好な電気的導通を得るた
めに金、銀、銅、パラジュウム等の金属で2〜15μm
のメッキ82が施されている。一方、成形体69の上面
中心付近には矩形溝83が形成され、該矩形溝83の対
向する長辺側の二つの側壁には、第2のリードフレーム
65のインナーリード64の先端部である外部端子部6
4aが一定間隔で配置されており、該外部端子部64a
の一面は、露出して設けられ、かつ良好な電気的導通を
得るために金、銀、銅、パラジュウム等の金属で2〜1
5μmのメッキ84が施されている。尚、半導体装置E
のその他の構成は、第4実施例の半導体装置Dと同じで
あり、同一部材には同一符号を付してその説明は省略す
る。
That is, the rectangular protrusion 81 is formed near the center of the lower surface of the molded body 69, and the two side walls of the rectangular protrusion 81 facing each other on the longer sides are provided with the tips of the inner leads 62 of the first lead frame 63. External terminals 62a are arranged at regular intervals. One surface of the external terminals 62a is exposed and is provided with gold, silver, copper, palladium or the like to obtain good electrical continuity. 2 to 15 μm with metal
Plating 82 is applied. On the other hand, a rectangular groove 83 is formed in the vicinity of the center of the upper surface of the molded body 69, and the two side walls on the opposite long sides of the rectangular groove 83 are the tips of the inner leads 64 of the second lead frame 65. External terminal part 6
4a are arranged at regular intervals, and the external terminal portion 64a
One surface is exposed and is made of a metal such as gold, silver, copper or palladium for good electrical conduction.
A plating 84 of 5 μm is applied. The semiconductor device E
The other structure is the same as that of the semiconductor device D of the fourth embodiment, and the same members are denoted by the same reference numerals and the description thereof is omitted.

【0043】そして、第5実施例の樹脂封止型半導体装
置Eにおいても、第4実施例の樹脂封止型半導体装置D
の場合と同じく、2枚の実装基板を1個の半導体装置E
で接続して高機能高密度システムが達成できるととも
に、各々異なる機能の半導体チップ61を樹脂封止して
なる複数個の半導体装置E,E,…を積み重ねることで
高機能高密度積層パッケージモジュールが達成できるの
で、製造時に半導体チップ61の破損や形状規格外れ等
の不良を誘発することなく、高機能高密度化を迅速にか
つ融通性よく達成することができる。
Also in the resin-sealed semiconductor device E of the fifth embodiment, the resin-sealed semiconductor device D of the fourth embodiment is used.
As in the case of, the two mounting boards are combined into one semiconductor device E.
And a high-performance high-density system can be achieved by stacking a plurality of semiconductor devices E, E, ... As a result, it is possible to achieve high-performance and high-density in a quick and versatile manner without causing damage such as breakage of the semiconductor chip 61 or failure of shape specification during manufacturing.

【0044】尚、第5実施例では、成形体69の下面中
心付近に設けた矩形突起81の対向する長辺側の二つの
側壁に第1のリードフレーム63のインナーリード62
の外部端子部62aを、成形体69の上面中心付近に設
けた矩形溝83の対向する長辺側の二つの側壁に第2の
リードフレーム65のインナーリード64の外部端子部
64aをそれぞれ所定間隔に配置したが、本発明、特に
請求項5に係る発明は、前記矩形突起81の対向する短
辺側の二つの側壁に第1のリードフレーム63のインナ
ーリード62の外部端子部62aを、前記矩形溝83の
対向する短辺側の二つの側壁に第2のリードフレーム6
5のインナーリード64の外部端子部64aをそれぞれ
所定間隔に配置したり、前記矩形突起81の四辺の側壁
に第1のリードフレーム63のインナーリード62の外
部端子部62aを、前記矩形溝83の四辺の側壁に第2
のリードフレーム65のインナーリード64の外部端子
部64aをそれぞれ所定間隔に配置したりしてもよい。
In the fifth embodiment, the inner leads 62 of the first lead frame 63 are provided on the two opposite side walls of the rectangular protrusion 81 provided near the center of the lower surface of the molded body 69.
The external terminal portions 62a of the inner lead 64 of the second lead frame 65 are arranged at predetermined intervals on the two side walls on the opposite long sides of the rectangular groove 83 provided near the center of the upper surface of the molded body 69. However, according to the present invention, particularly the invention according to claim 5, the external terminal portion 62a of the inner lead 62 of the first lead frame 63 is provided on the two side walls of the rectangular projection 81 on the opposite short side. The second lead frame 6 is provided on the two side walls of the rectangular groove 83 on the opposite short sides.
5, the external terminal portions 64a of the inner leads 64 are arranged at predetermined intervals, and the external terminal portions 62a of the inner leads 62 of the first lead frame 63 are attached to the side walls of the four sides of the rectangular protrusion 81 and the rectangular groove 83 is formed. Second on the four side walls
The outer terminal portions 64a of the inner leads 64 of the lead frame 65 may be arranged at predetermined intervals.

【0045】(第6実施例)図11は本発明の第6実施
例に係る樹脂封止型半導体装置の平面図を示す。この半
導体装置は第2、第4及び第5実施例の各半導体装置
B,D,Eの変形例である。尚、以下の説明では、便宜
上、本実施例の半導体装置を第2実施例の半導体装置B
の変形例とし、この半導体装置Bと同一の部材符号を用
いて説明する。
(Sixth Embodiment) FIG. 11 is a plan view of a resin-sealed semiconductor device according to a sixth embodiment of the present invention. This semiconductor device is a modification of each of the semiconductor devices B, D and E of the second, fourth and fifth embodiments. In the following description, for convenience, the semiconductor device of this embodiment will be referred to as the semiconductor device B of the second embodiment.
Will be described using the same reference numerals as those of the semiconductor device B.

【0046】すなわち、第2実施例の半導体装置Bにお
いて成形体6の矩形溝41の対向する長辺側の二つの側
壁に配置されるインナーリード23の外部端子部23a
は、本実施例では、下方に折り曲げずに平面とし、成形
体6の矩形状溝17の底面に一定間隔に配置されてい
る。そして、前記各インナーリード23の外部端子部2
3a表面は、露出していると共に、良好な電気的導通を
得るために金、銀銅、パラジュウム等の金属で2〜15
μmのメッキ42が施されている。
That is, in the semiconductor device B of the second embodiment, the external terminal portions 23a of the inner leads 23 arranged on the two side walls on the opposite long sides of the rectangular groove 41 of the molded body 6 are opposed to each other.
In the present embodiment, is a flat surface without being bent downward, and is arranged at regular intervals on the bottom surface of the rectangular groove 17 of the molded body 6. Then, the external terminal portion 2 of each inner lead 23
The surface of 3a is exposed and is made of a metal such as gold, silver-copper, or palladium for 2 to 15 to obtain good electrical conduction.
A μm plating 42 is applied.

【0047】そして、第6実施例の樹脂封止型半導体装
置においては、成形体6の矩形溝41の底面に設けたイ
ンナーリード23の外部端子部23aに対し、チップ電
子部品群で構成される機能モジュールを差し込んだり、
個々のチップ電子部品をハンダで固定して使用すること
で高機能高密度パッケージモジュールが達成できるの
で、製造時に半導体チップ1の破損や形状規格外れ等の
不良を誘発することなく、高機能高密度化を迅速にかつ
融通性よく達成することができる。
In the resin-sealed semiconductor device of the sixth embodiment, the chip terminal component group is formed for the external terminal portion 23a of the inner lead 23 provided on the bottom surface of the rectangular groove 41 of the molded body 6. Plug in the function module,
Since high-performance high-density package modules can be achieved by fixing individual chip electronic components with solder and using them, high-performance high-density packages can be achieved without inducing defects such as breakage of semiconductor chips 1 or out of shape specifications during manufacturing. Can be achieved quickly and flexibly.

【0048】(第7実施例)図16は本発明の第7実施
例に係る樹脂封止型半導体装置の断面図を示す。この半
導体装置は、第2実施例の半導体装置Bの変形例であ
る。
(Seventh Embodiment) FIG. 16 is a sectional view of a resin-sealed semiconductor device according to a seventh embodiment of the present invention. This semiconductor device is a modification of the semiconductor device B of the second embodiment.

【0049】第2実施例の場合、樹脂封止後の切断工程
では、リードフレーム2のアウターリード24を外枠2
1及びダムバー22と共に切除したが、本実施例では、
このアウターリード24を切除せず、リードフレーム2
の一部として残している。つまり、完成品である樹脂封
止型半導体装置のリードフレーム2は、封止樹脂7内に
封止された複数のインナーリード23,23,…と、各
々対応するインナーリードと接続されかつ封止樹脂7外
に延出する複数のアウターリード24,24,…とを有
しており、前記各アウターリード24は所定形状、例え
ば図16(a)に示すI字状、図16(b)に示すJ字
状、又は図16(c)に示すL字状に成形加工されてい
る。
In the case of the second embodiment, the outer lead 24 of the lead frame 2 is attached to the outer frame 2 in the cutting step after resin sealing.
1 and the dam bar 22 were cut off, but in this embodiment,
This outer lead 24 is not cut off, and the lead frame 2
Left as part of. That is, the lead frame 2 of the resin-encapsulated semiconductor device which is a finished product is connected to and encapsulated with a plurality of inner leads 23, 23, ... Encapsulated in the encapsulating resin 7. The outer lead 24 has a plurality of outer leads 24, 24, ... That extend to the outside of the resin 7. Each outer lead 24 has a predetermined shape, for example, an I-shape shown in FIG. 16 (a), and FIG. 16 (b). It is formed into the J-shape shown or the L-shape shown in FIG.

【0050】そして、第7実施例の樹脂封止型半導体装
置においては、第2実施例の場合の効果以外に、封止樹
脂7外に延出したアウターリード24を実装基板の端子
に接続して固定することができるので、実装基板への取
付けを容易にできるという効果をも有する。
In the resin-sealed semiconductor device of the seventh embodiment, in addition to the effect of the second embodiment, the outer leads 24 extending outside the sealing resin 7 are connected to the terminals of the mounting board. Since it can be fixed by mounting, it also has an effect that it can be easily attached to the mounting board.

【0051】尚、第7実施例では、本発明、特に請求項
7に係る発明を、第2実施例の半導体装置Bの変形例と
して適用した場合について述べたが、第1、第3〜第6
の実施例の各半導体装置の変形例としても同様に適用す
ることができる。
In the seventh embodiment, the present invention, particularly the invention according to claim 7 is applied as a modified example of the semiconductor device B of the second embodiment, but the first, third and third embodiments are described. 6
The present invention can be similarly applied as a modification of each semiconductor device of the embodiment.

【0052】[0052]

【発明の効果】以上の如く、本発明の樹脂封止型半導体
装置によれば、成形体に設けた矩形溝状外部端子又は矩
形突起状外部端子を利用して、実装基板や他の樹脂封止
型半導体装置と容易に接続して組み合わせることができ
るので、高機能高密度化を迅速にかつ融通性よく達成す
ることができる。しかも、必要以上に成形体を薄型化す
る必要がなく、その内部に搭載される半導体チップも標
準の厚みに加工すれば足りるので、製造時に半導体チッ
プの破損や形状規格外れ等の不良を誘発することはな
い。
As described above, according to the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention, the mounting board or other resin sealing is performed by utilizing the rectangular groove-shaped external terminals or the rectangular protrusion-shaped external terminals provided in the molded body. Since the semiconductor device can be easily connected and combined with the static semiconductor device, high function and high density can be achieved quickly and flexibly. Moreover, it is not necessary to reduce the thickness of the molded body more than necessary, and it is sufficient to process the semiconductor chip mounted inside to a standard thickness, thus causing defects such as damage to the semiconductor chip and out of shape specifications during manufacturing. There is no such thing.

【0053】特に、請求項4及び5に係る発明によれ
ば、2枚の実装基板を1個の半導体装置で接続して高機
能高密度システムを達成できるとともに、機能が互いに
異なる複数個の半導体装置同士を積み重ねて高機能高密
度積層パッケージモジュールを達成できるので、高機能
高密度化のための融通性をより高めることができる。
Particularly, according to the inventions according to claims 4 and 5, a high-performance high-density system can be achieved by connecting two mounting boards by one semiconductor device, and a plurality of semiconductors having different functions from each other can be achieved. Since the devices can be stacked to achieve a high-performance and high-density stacked package module, flexibility for high-performance and high-density can be further enhanced.

【0054】また、請求項7に係る発明では、封止樹脂
の外部に延出したアウターリードを実装基板の端子に接
続して固定することができるので、実装基板への取付け
を容易にできるという効果をも併有する。
Further, in the invention according to claim 7, since the outer leads extending to the outside of the sealing resin can be connected and fixed to the terminals of the mounting board, the mounting on the mounting board can be facilitated. It also has an effect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施例に係る樹脂封止型半導体装
置の底面図である。
FIG. 1 is a bottom view of a resin-sealed semiconductor device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1のI−I線における断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line II of FIG.

【図3】樹脂封止前のリードフレームの平面図である。FIG. 3 is a plan view of a lead frame before resin sealing.

【図4】樹脂封止金型の縦断面図である。FIG. 4 is a vertical cross-sectional view of a resin sealing mold.

【図5】本発明の第2実施例を示す図1相当図である。FIG. 5 is a view, corresponding to FIG. 1, showing a second embodiment of the present invention.

【図6】図5のJ−J線おける断面図である。6 is a cross-sectional view taken along the line JJ of FIG.

【図7】本発明の第3実施例を示す図1相当図である。FIG. 7 is a view corresponding to FIG. 1 showing a third embodiment of the present invention.

【図8】図7のK−K線における断面図である。8 is a cross-sectional view taken along the line KK of FIG.

【図9】本発明の第4実施例に係る樹脂封止型半導体装
置の平面図である。
FIG. 9 is a plan view of a resin-sealed semiconductor device according to a fourth embodiment of the invention.

【図10】同底面図である。FIG. 10 is a bottom view of the same.

【図11】図9のL−L線における断面図である。11 is a cross-sectional view taken along the line LL in FIG.

【図12】本発明の第5実施例を示す図9相当図であ
る。
FIG. 12 is a view, corresponding to FIG. 9, showing a fifth embodiment of the present invention.

【図13】同じく図10相当図である。13 is a view equivalent to FIG. 10.

【図14】図12のM−M線における断面図である。14 is a cross-sectional view taken along line MM in FIG.

【図15】本発明の第6実施例に係る樹脂封止型半導体
装置の底面図である。
FIG. 15 is a bottom view of the resin-sealed semiconductor device according to the sixth embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第7実施例に係る樹脂封止型半導体
装置の断面図である。
FIG. 16 is a sectional view of a resin-sealed semiconductor device according to a seventh embodiment of the invention.

【図17】従来例を示す樹脂封止型半導体装置の斜視図
である。
FIG. 17 is a perspective view of a resin-encapsulated semiconductor device showing a conventional example.

【図18】同断面図である。FIG. 18 is a sectional view of the same.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,61 半導体チップ 1a,61a 半導体チップ主面 1b,61b 半導体チップ裏面 2 リードフレーム 3,66 電気的絶縁シート 4,67 電極端子 5,68 金属細線 6,69 成形体 7,70 封止樹脂 11,41,71,83 矩形溝 23,62,64 インナーリード 23a,62a,64a インナーリード先端部(外
部端子部) 24 アウターリード 51,73,81 矩形突起 63 第1のリードフレーム 65 第2のリードフレーム
1,61 Semiconductor chip 1a, 61a Semiconductor chip main surface 1b, 61b Semiconductor chip back surface 2 Lead frame 3,66 Electrical insulating sheet 4,67 Electrode terminal 5,68 Metal thin wire 6,69 Molded body 7,70 Sealing resin 11 , 41, 71, 83 Rectangular groove 23, 62, 64 Inner lead 23a, 62a, 64a Inner lead tip portion (external terminal portion) 24 Outer lead 51, 73, 81 Rectangular protrusion 63 First lead frame 65 Second lead flame

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体チップと、該半導体チップを固着
すると共に先端近傍を外部端子とするために下方又は上
方に折曲げた複数のインナーリードを有するリードフレ
ームと、前記半導体チップと前記リードフレームのイン
ナーリードとの間に設けられた電気的絶縁シートと、前
記半導体チップ主面上の電極端子と対応する前記インナ
ーリードのボンディング領域とをそれぞれ接続する複数
の金属細線と、以上のような構造体を樹脂封止して一体
の成形体とするための封止樹脂とから構成されており、
前記成形体の下面及び上面のうち、前記インナーリード
の外部端子部折曲げ側の面には二つの矩形溝が平行に形
成され、該各矩形溝の中心側の側壁もしくは対向する側
壁又は四辺の側壁には前記インナーリードの外部端子部
が一定間隔に配置され、該外部端子部の少なくとも一つ
の面が露出して設けられていることを特徴とする樹脂封
止型半導体装置。
1. A semiconductor chip, a lead frame having a plurality of inner leads which are fixed to the semiconductor chip and are bent downward or upward in order to make the vicinity of the tip an external terminal, and the semiconductor chip and the lead frame. An electrically insulating sheet provided between the inner lead and a plurality of thin metal wires respectively connecting the bonding area of the inner lead corresponding to the electrode terminal on the main surface of the semiconductor chip, and the structure as described above. And a sealing resin for sealing the resin into an integrated molded body,
Of the lower surface and the upper surface of the molded body, two rectangular grooves are formed in parallel on the surface of the inner lead on the side where the external terminal portion is bent, and the side wall on the center side of each rectangular groove or the opposing side wall or four sides is formed. A resin-encapsulated semiconductor device, wherein external terminals of the inner leads are arranged at regular intervals on the side wall, and at least one surface of the external terminals is exposed.
【請求項2】 半導体チップと、該半導体チップを固着
すると共に先端近傍を外部端子とするために下方又は上
方に折曲げた複数のインナーリードを有するリードフレ
ームと、前記半導体チップと前記リードフレームのイン
ナーリードとの間に設けられた電気的絶縁シートと、前
記半導体チップ主面上の電極端子と対応する前記インナ
ーリードのボンディング領域とをそれぞれ接続する複数
の金属細線と、以上のような構造体を樹脂封止して一体
の成形体とするための封止樹脂とから構成されており、
前記成形体の下面及び上面のうち、前記インナーリード
の外部端子部折曲げ側の面の中心付近には矩形溝が形成
され、該矩形溝の対向する側壁又は四辺の側壁には前記
インナーリードの外部端子部が一定間隔に配置され、該
外部端子部の少なくとも一つの面が露出して設けられて
いることを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
2. A semiconductor chip, a lead frame having a plurality of inner leads which are fixed to the semiconductor chip and are bent downward or upward in order to make the vicinity of the tip an external terminal, and the lead frame having the semiconductor chip and the lead frame. An electrically insulating sheet provided between the inner lead and a plurality of thin metal wires respectively connecting the bonding area of the inner lead corresponding to the electrode terminal on the main surface of the semiconductor chip, and the structure as described above. And a sealing resin for sealing the resin into an integrated molded body,
Of the lower surface and the upper surface of the molded body, a rectangular groove is formed in the vicinity of the center of the surface of the inner lead on the side where the outer terminal portion is bent, and the inner wall of the inner lead is formed on side walls or four side walls facing the rectangular groove. A resin-encapsulated semiconductor device, wherein external terminal portions are arranged at regular intervals, and at least one surface of the external terminal portions is exposed.
【請求項3】 半導体チップと、該半導体チップを固着
すると共に先端近傍を外部端子とするために下方又は上
方に折曲げた複数のインナーリードを有するリードフレ
ームと、前記半導体チップと前記リードフレームのイン
ナーリードとの間に設けられた電気的絶縁シートと、前
記半導体チップ主面上の電極端子と対応する前記インナ
ーリードのボンディング領域とをそれぞれ接続する複数
の金属細線と、以上のような構造体を樹脂封止して一体
の成形体とするための封止樹脂とから構成されており、
前記成形体の下面及び上面のうち、前記インナーリード
の外部端子部折曲げ側の面の中心付近には矩形突起が形
成され、該矩形突起の対向する側壁又は四辺の側壁には
前記インナーリードの外部端子部が一定間隔に配置さ
れ、該外部端子部の少なくとも一つの面が露出して設け
られていることを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
3. A semiconductor chip, a lead frame having a plurality of inner leads which are fixed to the semiconductor chip and are bent downward or upward in order to make the vicinity of the tip an external terminal, and the semiconductor chip and the lead frame. An electrically insulating sheet provided between the inner lead and a plurality of thin metal wires respectively connecting the bonding area of the inner lead corresponding to the electrode terminal on the main surface of the semiconductor chip, and the structure as described above. And a sealing resin for sealing the resin into an integrated molded body,
Of the lower surface and the upper surface of the molded body, a rectangular protrusion is formed in the vicinity of the center of the surface of the inner lead on the side where the outer terminal portion is bent. A resin-encapsulated semiconductor device, wherein external terminal portions are arranged at regular intervals, and at least one surface of the external terminal portions is exposed.
【請求項4】 半導体チップと、該半導体チップを固着
すると共に先端近傍を成形体下面の外部端子とするよう
に下方に折曲げた複数のインナーリードを有する第1の
リードフレームと、該第1のリードフレームと重合する
共に先端近傍を成形体上面の外部端子とするように上方
に折曲げた複数のインナーリードを有する第2のリード
フレームと、前記半導体チップと前記第1のリードフレ
ームのインナーリードとの間に設けられた電気的絶縁シ
ートと、前記半導体チップ主面上の電極端子と対応する
前記インナーリードのボンディング領域とをそれぞれ接
続する複数の金属細線と、以上のような構造体を樹脂封
止して一体の成形体とするための封止樹脂とから構成さ
れており、前記成形体の下面の中心付近には矩形溝が、
上面の中心付近には矩形突起がそれぞれ形成され、前記
矩形溝の対向する側壁又は四辺の側壁には前記第1のリ
ードフレームにおけるインナーリードの外部端子部が一
定間隔に配置され、該外部端子部の少なくとも一つの面
が露出して設けられているとともに、前記矩形突起の対
向する側壁又は四辺の側壁には前記第2のリードフレー
ムにおけるインナーリードの外部端子部が一定間隔に配
置され、該外部端子部の少なくとも一つの面が露出して
設けられていることを特徴とする樹脂封止型半導体装
置。
4. A first lead frame having a semiconductor chip, a plurality of inner leads fixed to the semiconductor chip, and bent downward so that the vicinity of the tip serves as an external terminal on the lower surface of the molded body, and the first lead frame. A second lead frame having a plurality of inner leads that are bent upward so as to overlap with the lead frame of the first lead frame so that the vicinity of the tip thereof serves as an external terminal on the upper surface of the molded body; and an inner lead of the semiconductor chip and the first lead frame. An electrically insulating sheet provided between the leads and a plurality of thin metal wires respectively connecting the bonding areas of the inner leads corresponding to the electrode terminals on the main surface of the semiconductor chip, and the above structure. It is composed of a sealing resin for resin sealing to form an integral molded body, and a rectangular groove near the center of the lower surface of the molded body,
Rectangular protrusions are formed near the center of the upper surface, and external terminal portions of the inner leads of the first lead frame are arranged at regular intervals on opposing side walls or four side walls of the rectangular groove. At least one surface of the inner surface of the second lead frame is provided with an outer terminal portion of the inner lead of the second lead frame arranged at regular intervals on opposite side walls or four side walls of the rectangular protrusion. A resin-encapsulated semiconductor device, wherein at least one surface of a terminal portion is exposed.
【請求項5】 請求項4記載の樹脂封止型半導体装置に
おいて、成形体の外形が上面と下面とを逆の形状とし、
成形体の下面の中心付近には矩形突起が、上面の中心付
近には矩形溝がそれぞれ形成され、前記矩形突起の対向
する側壁又は四辺の側壁には第1のリードフレームにお
けるインナーリードの外部端子部が一定間隔に配置さ
れ、該外部端子部の少なくとも一つの面が露出して設け
られているとともに、前記矩形溝の対向する側壁又は四
辺の側壁には第2のリードフレームにおけるインナーリ
ードの外部端子部が一定間隔に配置され、該外部端子部
の少なくとも一つの面が露出して設けられていることを
特徴とする樹脂封止型半導体装置。
5. The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 4, wherein the outer shape of the molded body has an upper surface and a lower surface that are opposite to each other.
A rectangular protrusion is formed near the center of the lower surface of the molded body, and a rectangular groove is formed near the center of the upper surface, and the external leads of the inner lead in the first lead frame are formed on the opposing side walls or four side walls of the rectangular protrusion. Portions are arranged at regular intervals, at least one surface of the external terminal portion is exposed, and the opposite side walls or four side walls of the rectangular groove are provided on the outer side of the inner lead of the second lead frame. A resin-sealed semiconductor device, wherein terminal portions are arranged at regular intervals, and at least one surface of the external terminal portion is exposed.
【請求項6】 請求項2、請求項4又は請求項5記載の
樹脂封止型半導体装置において、矩形溝の側壁の代り
に、矩形溝の底面にインナーリードの外部端子部が一定
間隔に配置され、該外部端子部の少なくとも一つの面が
露出して設けられていることを特徴とするす樹脂封止型
半導体装置。
6. The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 2, 4, or 5, wherein the external terminal portions of the inner leads are arranged at regular intervals on the bottom surface of the rectangular groove instead of the side wall of the rectangular groove. And at least one surface of the external terminal portion is exposed and provided.
【請求項7】 請求項1〜6のいずれか一つに記載の樹
脂封止型半導体装置において、リードフレームは、各々
対応するインナーリードと接続された複数のアウターリ
ードを有し、該各アウターリードは、封止樹脂の外部に
延出し所定形状に成形加工されていることを特徴とする
樹脂封止型半導体装置。
7. The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 1, wherein the lead frame has a plurality of outer leads connected to corresponding inner leads, and each of the outer leads. The resin-encapsulated semiconductor device is characterized in that the lead is extended to the outside of the encapsulating resin and is molded into a predetermined shape.
JP30603095A 1995-11-24 1995-11-24 Resin-sealed semiconductor device Expired - Fee Related JP3434633B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30603095A JP3434633B2 (en) 1995-11-24 1995-11-24 Resin-sealed semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30603095A JP3434633B2 (en) 1995-11-24 1995-11-24 Resin-sealed semiconductor device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09148494A true JPH09148494A (en) 1997-06-06
JP3434633B2 JP3434633B2 (en) 2003-08-11

Family

ID=17952232

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30603095A Expired - Fee Related JP3434633B2 (en) 1995-11-24 1995-11-24 Resin-sealed semiconductor device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3434633B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JP3434633B2 (en) 2003-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100186309B1 (en) Stacked bottom lead package
US7405104B2 (en) Lead frame and method of producing the same, and resin-encapsulated semiconductor device and method of producing the same
KR100445073B1 (en) Dual die package
JP3205235B2 (en) Lead frame, resin-encapsulated semiconductor device, method of manufacturing the same, and mold for manufacturing semiconductor device used in the manufacturing method
KR100470897B1 (en) Method for manufacturing dual die package
JP2972096B2 (en) Resin-sealed semiconductor device
JPH11260856A (en) Semiconductor device and its manufacture and mounting structure of the device
KR100389230B1 (en) Individual semiconductor device and its manufacturing method
JP2000294715A (en) Semiconductor device and manufacture thereof
JP2012015202A (en) Semiconductor device, and method of manufacturing the same
JP3269025B2 (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
JPH11191562A (en) Manufacture of semiconductor device
JP2001035961A (en) Semiconductor and manufacture thereof
JPH11176856A (en) Manufacture of semiconductor device
JP3203228B2 (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP3434633B2 (en) Resin-sealed semiconductor device
JPH11186481A (en) Lead frame
JP2503029B2 (en) Method for manufacturing thin semiconductor device
JP2001177007A (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP4215300B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device
JPH08279575A (en) Semiconductor package
JP2000124236A (en) Manufacture of semiconductor device
JP3738144B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device
JPH10303350A (en) Lead frame
JP2005150294A (en) Semiconductor device and its manufacturing method

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20030513

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090530

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100530

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110530

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees