JPH09148405A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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Publication number
JPH09148405A
JPH09148405A JP32837895A JP32837895A JPH09148405A JP H09148405 A JPH09148405 A JP H09148405A JP 32837895 A JP32837895 A JP 32837895A JP 32837895 A JP32837895 A JP 32837895A JP H09148405 A JPH09148405 A JP H09148405A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
substrate
group
spin
processing unit
Prior art date
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Pending
Application number
JP32837895A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanao Matsushita
正直 松下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP32837895A priority Critical patent/JPH09148405A/ja
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 第1処理群と第2処理群との間における基板
の搬送効率を維持しつつ、第1処理群における処理ユニ
ットの配置効率を高める。 【解決手段】 第1の処理ユニット群110は、同一サ
イズのホットプレートとクールプレートCP1〜CP5
を有し、第2の処理ユニット群120は、スピンコータ
SCとスピンデベロッパSD1,SD2を有する。スピ
ンデベロッパSD1,SD2は、境界領域K1を介在さ
せて隣り合わされており、それぞれの回転テーブルT
2,T3をこの境界領域K1を中心に左右対象の位置に
離して備え、現像液供給機構G1,G2を境界領域K1
の左右に備える。そして、スピンデベロッパSD1,S
D2にはクールプレートCP3,CP5がそれぞれ対向
されており、回転テーブルT2,T3間の現像液供給機
構G1,G2に対向するよう、クールプレートCP4が
無理なく組み込まれている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハや液
晶表示用基板等の各種基板を処理する処理装置に関し、
詳しくは基板を静止状態で処理する複数の処理ユニット
を有する第1処理群と、回転状態に置いた基板に薬液を
供給して該基板を処理する複数の処理ユニットを有する
第2処理群とを、並列に設置して備える基板処理装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の基板処理装置は、第1処
理群に属する処理ユニットとして、加熱処理を行なうホ
ットプレートや冷却処理を行なうクールプレートを複数
有し、第2処理群に属する処理ユニットとして、基板を
回転させる回転テーブルを有するスピンコータ(回転式
レジスト塗布装置)やスピンデベロッパ(回転式現像装
置)をも複数有する。そして、この基板処理装置では、
第1処理群と第2処理群にそれぞれ属する処理ユニット
を順次所定の順番で搬送しつつ基板処理が行なわれてい
る。なお、この搬送順序や該当する処理ユニットでの処
理条件は、予め規定されて処理レシピに設定されてお
り、基板は、この処理レシピに則って駆動する搬送機器
により各処理ユニットの間を順次搬送される。
【0003】このような構成の基板処理装置では、その
処理効率を上げるためには搬送機器による搬送時間の短
縮が有効である。ところで、第1処理群に属する処理ユ
ニットと第2処理群に属する処理ユニットとの間におい
て基板を搬送するには、第1処理群側にある基板を第2
処理群に回転させる動作が必要となる。このため、第2
処理群に属するスピンコータやスピンデベロッパは、そ
の回転テーブルが第1処理群のホットプレートやクール
プレートに個別に対向するよう、第2処理群に並べて配
置されていた。しかも、スピンコータやスピンデベロッ
パの回転テーブルは、該当するスピンコータ或いはスピ
ンデベロッパにおいて同じ側になるように設置されてい
た。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
基板処理装置では、次のような問題点が指摘されるに至
った。
【0005】第1処理群に属するホットプレートやクー
ルプレートは、基板を高い精度で管理された熱環境に置
かなければならない。よって、ホットプレートやクール
プレートは、基板を静止状態に置くことができるスペー
スがあればよく、また、熱管理の点からも余り大きくす
ることは好ましくない。このため、ホットプレートやク
ールプレートは、処理対象となる基板のサイズを考慮し
て、縦・横のサイズを比較的小さくできる。その一方、
第2処理群に属するスピンコータやスピンデベロッパで
は、基板の回転テーブルの他に、回転している基板にそ
の上面からレジストや現像液や供給する薬液供給機器が
必要であり、この薬液供給機器を基板搬送の間には基板
上方からその側方に退避させなければならない。よっ
て、スピンコータやスピンデベロッパの横方向のサイズ
は、ホットプレートやクールプレートより必然的に広く
なる。このため、スピンコータやスピンデベロッパを第
2処理群において隣り合わせて設置させ、そのそれぞれ
の回転テーブルを上記したようにホットプレートやクー
ルプレートに個別に対向させると、上記した横方向のサ
イズの相違と回転テーブル位置の都合上、一の回転テー
ブルに対向するホットプレートやクールプレートと、他
の回転テーブルに対向するホットプレートやクールプレ
ートとの間に空きスペースができる。
【0006】この場合、スピンコータやスピンデベロッ
パの横方向のサイズをホットプレートやクールプレート
の2倍のサイズとすれば、この空きスペースにホットプ
レートやクールプレートを設置できる。しかし、スピン
コータやスピンデベロッパの横方向サイズは、基板サイ
ズ(6インチ,8インチ,12インチ等)と薬液供給機
器の設置スペースによりその最小サイズがほぼ規定さ
れ、ホットプレートやクールプレートの横方向サイズ
は、上記基板サイズによりその最小サイズがぼ規定され
る。よって、上記のように横方向のサイズを大きくする
ことは、スピンコータやスピンデベロッパについてその
構成上、何の利点もなく、単に基板処理装置全体の大型
化を招くに過ぎない。また、スピンコータやスピンデベ
ロッパを予め間隔を空けて隣り合わせてもこの空きスペ
ースにホットプレートやクールプレートを設置できる
が、やはり単に基板処理装置全体の大型化を招くに過ぎ
ない。
【0007】本発明は、上記問題点を解決するためにな
され、第1処理群に属する処理ユニットと第2処理群に
属する処理ユニットとの間における基板の搬送効率を維
持しつつ、第1処理群における処理ユニットの配置効率
を高めることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段およびその作用・効果】か
かる課題を解決するため、本発明の基板処理装置は、基
板を静止状態で処理する複数の処理ユニットを有する第
1処理群と、回転状態に置いた基板に薬液を供給して該
基板を処理する複数の処理ユニットを有する第2処理群
とを、並列に設置して備える基板処理装置であって、前
記第2処理群の隣合う処理ユニットは、前記基板を回転
状態とする回転テーブルと前記薬液を基板上面に供給す
る薬液供給機器とを有し、前記回転テーブルを、前記隣
合う処理ユニットの境界からそれぞれ離間して備える。
【0009】上記構成を有する本発明の基板処理装置で
は、第2処理群において隣合うそれぞれの処理ユニット
は、自身の回転テーブルを隣合う処理ユニットの境界か
ら離間させているので、この境界側に薬液供給機器を配
置することが可能となる。このため、境界を挟んでその
左右に薬液供給機器が並ぶことになるので、第2処理群
の隣合うそれぞれの処理ユニットの回転テーブルに第1
処理群の処理ユニットを対向させた場合、この第1処理
群の上記処理ユニットの間のスペースを、第2処理群の
隣合うそれぞれの処理ユニットのサイズを特段に大きく
しなくても、既述した従来の基板処理装置に比べて広く
することができる。よって、このスペースに、第1処理
群の処理ユニットを余分に配置することが可能となる。
しかも、それぞれの回転テーブルと第1処理群の処理ユ
ニットとは対向させたままである。この結果、本発明の
基板処理装置によれば、第1処理群に属する処理ユニッ
トと第2処理群に属する処理ユニットとの間における基
板の搬送効率を維持できると共に、第1処理群における
処理ユニットの配置効率を高めることができる。
【0010】
【発明の他の態様】本発明は、次のような態様を採るこ
とも可能である。この態様の基板処理装置では、前記第
2処理群の隣合う処理ユニットは、前記回転テーブルを
前記境界から左右対象にしてそれぞれ備える。
【0011】この態様によれば、隣合う処理ユニットを
それぞれいわゆる左勝手,右勝手とすることができるの
で、その設計形状を左右対象とすればよく、製造上或い
は組み付け上の著しい煩雑さを招かない。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明に係る基板処理装置
の実施の形態を実施例に基づき説明する。図1は、実施
例の基板処理装置100の外観斜視図であり、図2はそ
の概念的平面配置図である。なお、図1と図2には、方
向を明確にするためにXYZ直角座標系の座標軸が示さ
れている。
【0013】図1,図2に示すように、この基板処理装
置100の端部には、複数枚の基板1を収容したカセッ
ト10を載置するためのインデクサIDが設けられてい
る。インデクサIDの上にカセット10が載置される
と、インデクサIDはカセット10から基板1を1枚ず
つ取出して搬送ロボットTHに受け渡す。そして、搬送
ロボットTHは、受け渡された基板1を、第1の処理ユ
ニット群110の各処理ユニットに搬送する。また、こ
の第1の処理ユニット群110の各処理ユニットで処理
された基板1は、搬送ロボットTCにより、第2の処理
ユニット群120の各処理ユニットに搬送される。この
場合、搬送ロボットTH,TCによる基板1の搬送順序
や搬送された各処理ユニットでの処理内容は予め処理レ
シピに設定されており、当該レシピに従って各処理ユニ
ットが基板1の処理を実行する。なお、インデクサID
の正面には、基板処理装置100の操作に必要なキー等
を有する操作部52と、プロセスの進行状況や異常の発
生などを表示して使用者に伝達する表示部53とが設け
られている。
【0014】第1と第2の処理ユニット群110,12
0は、ほぼ並行に2列に配置されている。インデクサI
Dと反対側の端部には、搬送の途中で基板1をステッパ
等の外部装置と受け渡しするためのインタフェイス部
(基板載置台)IFが設けられている。
【0015】第1の処理ユニット群110は、加熱処理
を行なうための複数のホットプレートHP1,HP2
と、冷却処理を行なうための複数のクールプレートCP
1,CP2,…CP5を含む複数の処理ユニットを有し
ている。これらホットプレートHP1,HP2やクール
プレートCP1〜CP5は、加熱・冷却の差はあれ高い
精度で熱管理した熱環境に基板1を置くので、共に基板
1を静止状態に置くことができる大きさとされ、その大
きさは統一されている。よって、図示するように、ホッ
トプレートHP1,HP2は、クールプレートCP1,
CP2に積み重ねて設置されている。また、第2の処理
ユニット群120は、スピンコータSCと、2つのスピ
ンデベロッパSD1,SD2とを有している。
【0016】第1の処理ユニット群110の下段には、
第1と第2の処理ユニット群110,120の間で基板
1を受け渡しするための受け渡しユニット列140が敷
設されている。2台の搬送ロボットTC,THは、第1
の処理ユニット群110の両側に配置されており、処理
レシピに登録された搬送順序に従って、第1と第2の処
理ユニット群110,120の各処理ユニットに基板1
を順次搬送する。
【0017】スピンコータSCおよびスピンデベロッパ
SD1,SD2は、搬送ロボットTCにより運び込まれ
た基板1を回転させる回転テーブルT1,T2,T3を
共に備える。また、スピンコータSCは、回転されてい
る基板1にレジストを供給して基板上面にレジスト膜を
形成するためのレジスト供給機構Rを、スピンデベロッ
パSD1,SD2は、図示しない露光装置にて焼き付け
・露光された基板1に現像液を供給して例えば未露光領
域のレジストを除去するための現像液供給機構G1,G
2を備える。
【0018】スピンデベロッパSD1,SD2は、境界
領域K1(図2参照)を介在させて隣り合わされてお
り、スピンデベロッパSD1では、回転テーブルT2は
境界領域K1から左側に離れて設置されている。その一
方、スピンデベロッパSD2では、回転テーブルT3は
境界領域K1から右側に離れて設置されている。しか
も、この回転テーブルT2,T3は、境界領域K1を中
心に左右対象の位置に設置されている。このため、現像
液供給機構G1,G2は、境界領域K1の側にそれぞれ
設置されており、境界領域K1を挟んでその左右に並ん
でいる。
【0019】スピンコータSCは、スピンデベロッパS
D1左方の境界領域K2を隔てて、スピンデベロッパS
D1の左隣に位置し、回転テーブルT1を境界領域K2
から左側に離して、レジスト供給機構Rを境界領域K2
の側に有する。
【0020】そして、第1の処理ユニット群110に含
まれるクールプレートCP1は、搬送ロボットTHによ
り搬送された基板1とスピンコータSCの回転テーブル
T1とがその中心軸をほぼ一致させて位置するよう、ス
ピンコータSCと対向して設置されている。同様に、ク
ールプレートCP3は、基板1とスピンデベロッパSD
1の回転テーブルT2とがその中心軸をほぼ一致させて
位置するよう、スピンデベロッパSD1と対向して設置
されている。更に、クールプレートCP5は、基板1と
スピンデベロッパSD2の回転テーブルT3とがその中
心軸をほぼ一致させて位置するよう、スピンデベロッパ
SD2と対向して設置されている。
【0021】既述したように、スピンデベロッパSD
1,SD2の現像液供給機構G1,G2は、境界領域K
1を挟んでその左右に並んでいるので、この現像液供給
機構G1,G2と対向して、クールプレートCP4が第
2の処理ユニット群120に組み込まれている。このよ
うな配置を採ることができる理由を、具体的な数値を上
げて以下に説明する。
【0022】クールプレートCP1…CP5のY軸方向
のサイズは、既述したように基板1のサイズでほぼ定ま
り、8インチが処理対象基板の最大サイズであれば、約
350mmで足りる。そして、各クールプレートにおけ
る基板1の処理位置(THにより搬送された基板位置)
は、各クールプレートのY軸方向中心位置や、中心から
やや左右にオフセットした位置(オフセット量25m
m)を採ることができる。なお、このクールプレートC
P1…CP5のY軸方向のサイズ(350mm)は従来
のサイズとほぼ同じである。
【0023】その一方、スピンデベロッパSD1,SD
2のY軸方向のサイズは、上記の最大基板サイズに現像
液供給機構G1,G2の設置スペースを加味して定ま
り、従来と同様に、約500mmで足りる。そして、現
像液供給機構G1,G2の設置スペースを考慮して、ス
ピンデベロッパSD1では回転テーブルT2を境界領域
K1から300mm程度左側に離し、スピンデベロッパ
SD2では回転テーブルT3を境界領域K1から同じく
300mm程度右側に離すことができる。なお、スピン
デベロッパSD1,SD2における回転テーブルT2,
T3の境界領域K1からの隔たり(300mm程度)
も、従来のスピンデベロッパとほぼ同じである。
【0024】従って、隣合うスピンデベロッパSD1,
SD2における回転テーブルT2,T3間の間隔Lは、
境界領域K1の幅(約50mm)が含まれるので、約6
50mmとなる。このため、クールプレートCP1…C
P5のY軸方向のサイズ(350mm)やクールプレー
トCP3,CP5における基板1の処理位置(Y軸方向
中心位置,その左右オフセット位置(オフセット量25
mm))を考慮すれば、回転テーブルT2,T3の間に
もう一つのクールプレート(CP4)を配置できるだけ
の領域(約350mm)を十分確保できる。よって、図
1,図2に示すように、本実施例の基板処理装置100
では、各クールプレートやスピンデベロッパのY軸方向
のサイズが従来とほぼ同じでありながら、スピンデベロ
ッパSD1に対向するクールプレートCP3とスピンデ
ベロッパSD2に対向するクールプレートCP5との間
に、クールプレートCP4を新たに設置することができ
る。この結果、本実施例の基板処理装置100によれ
ば、第1の処理ユニット群110と第2の処理ユニット
群120との間における基板1の搬送効率を維持したま
ま、第1の処理ユニット群110におけるクールプレー
トの配置効率を高めることができる。この場合、クール
プレートの配置効率向上に伴って、これに積み重なるホ
ットプレートHP1,HP2を始めとする第1の処理ユ
ニット群110の他の処理ユニットの配置効率をも向上
させることができ、基板処理装置100全体としての省
スペース化も図ることができる。
【0025】また、基板処理装置100では、スピンデ
ベロッパSD1,SD2がそれぞれの回転テーブルT
2,T3を境界領域K1から左右対象な位置に備える。
ところで、機械製造および組み付けに当たって左右対象
品の製造・組み付けは何の支障もなく通常行なわれてい
る。このため、基板の搬送効率が高くて第1の処理ユニ
ット群110の処理ユニットの配置効率が高い基板処理
装置100を、製造上および組み付け上の著しい煩雑さ
を招くことなく提供できる。なお、対象の関係にあるス
ピンデベロッパSD1,SD2への基板1の搬送は、処
理レシピにより予め定まるので、基板処理装置100の
使用上の支障もなんら生じないことは勿論である。
【0026】なお、この発明は上記の実施例や実施形態
に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々の態様において実施することが可能である。
例えば、上記の実施例では、基板搬送を搬送ロボットT
H,TCで行なう構成を例に採り説明したが、第1の処
理ユニット群110と第2の処理ユニット群120との
間に設けた搬送ロボットTCで、第1の処理ユニット群
110に含まれる処理ユニット間の基板搬送と、第1の
処理ユニット群110と第2の処理ユニット群120と
の間の基板搬送を行なうよう構成することもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例の基板処理装置100の外観斜視図。
【図2】基板処理装置100の概念的平面配置図。
【符号の説明】
1…基板 10…カセット 100…基板処理装置 110…第1の処理ユニット群 120…第2の処理ユニット群 140…受け渡しユニット列 CP1〜CP5…クールプレート G1,G2…現像液供給機構 HP1,HP2…ホットプレート ID…インデクサ K1,K2…境界領域 R…レジスト供給機構 SC…スピンコータ SD1,SD2…スピンデベロッパ T1〜T3…回転テーブル TC…搬送ロボット TH…搬送ロボット

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を静止状態で処理する複数の処理ユ
    ニットを有する第1処理群と、回転状態に置いた基板に
    薬液を供給して該基板を処理する複数の処理ユニットを
    有する第2処理群とを、並列に設置して備える基板処理
    装置であって、 前記第2処理群の隣合う処理ユニットは、前記基板を回
    転状態とする回転テーブルと前記薬液を基板上面に供給
    する薬液供給機器とを有し、前記回転テーブルを、前記
    隣合う処理ユニットの境界からそれぞれ離間して備える
    基板処理装置。
JP32837895A 1995-11-22 1995-11-22 基板処理装置 Pending JPH09148405A (ja)

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JP32837895A JPH09148405A (ja) 1995-11-22 1995-11-22 基板処理装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100851961B1 (ko) * 2007-08-16 2008-08-12 한성욱 링크 시스템을 구비한 lcd 프로텍팅 장치

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