JPH09148391A - ウエハ観察装置 - Google Patents

ウエハ観察装置

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JPH09148391A
JPH09148391A JP7302408A JP30240895A JPH09148391A JP H09148391 A JPH09148391 A JP H09148391A JP 7302408 A JP7302408 A JP 7302408A JP 30240895 A JP30240895 A JP 30240895A JP H09148391 A JPH09148391 A JP H09148391A
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JP
Japan
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wafer
arm
cassette
cam
observing
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Application number
JP7302408A
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English (en)
Inventor
Manabu Komatsu
小松  学
Souta Honma
倉太 本間
Hisashi Tazawa
久史 田澤
Rika Watanabe
理香 渡辺
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】オペレータが顕微鏡観察を容易にできつつ、か
つ、カセット部の交換が容易なウエハ観察装置を実現す
る。 【解決手段】ウエハを収納するカセット部材2と、前記
ウエハを搬送する搬送装置10,23と、この搬送装置
10,23により搬送された前記ウエハを観察する観察
装置22と、を備えたウエハ観察装置であって、カセッ
ト部材2は、観察装置22が設置される位置よりも低い
位置に設置されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はウエハ観察装置に関
し、特に、カセット交換が容易にできるウエハ観察装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のウエハ観察装置は、複数の同一サ
イズのウエハを収納するカセット部材と、ウエハの観察
(検査)を行う顕微鏡観察部と、カセット部材と顕微鏡
観察部との間でウエハを搬送する搬送部とから構成され
ていた。オペレータは、カセット部材内のウエハの観察
が終了すると、観察済みのウエハが収納されているカセ
ット部材をウエハ観察装置から取り外し、未観察のウエ
ハが収納されたカセット部材をウエハ観察装置に取り付
けていた。
【0003】また、オペレータは、通常、椅子に座った
状態で顕微鏡観察部によってウエハを観察していた。こ
れらのカセット部と顕微鏡観察部と搬送部とは、同一平
面上に設置されていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ウエハ観察装置は、オペレータが顕微鏡観察を容易にで
きる高さに顕微鏡観察部を設けていた。このため、顕微
鏡観察部と同一平面上に設置されたカセット部は、床面
からの高さが高くなってしまい、オペレータがカセット
部を交換するときに、高い位置までカセット部を持ち上
げなければならず労力が掛かってしまうという問題点が
あった。
【0005】この問題点は、特に、オペレータが女性の
場合に顕著であった。そこで、本発明は、オペレータが
顕微鏡観察を容易にできつつ、かつ、カセット部の交換
が容易なウエハ観察装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、一実施例を示す図1と図5とに対応付けて説明す
ると、請求項1記載のウエハ観察装置は、ウエハを収納
するカセット部材(2)と、前記ウエハを搬送する搬送
装置(10,23)と、この搬送装置(10,23)に
より搬送された前記ウエハを観察する観察装置(22)
と、を備えたウエハ観察装置であって、カセット部材
(2)は、観察装置(22)が設置される位置よりも低
い位置に設置されている。
【0007】請求項2記載のウエハ観察装置は、搬送装
置(10)が、カセット部材(2)と観察装置(22)
との高低差を補正して搬送する補正装置(17,18,
19)を有している。請求項3記載のウエハ観察装置
は、搬送装置(10,23)が、カセット部材(2)か
らカセット部材(2)と観察装置(22)との間に設け
られた第1の位置まで前記ウエハを搬送する第1搬送装
置(10)と、前記第1の位置から観察装置(22)ま
で前記ウエハを搬送する第2搬送装置(23)とから構
成されている。
【0008】
【作用】請求項1記載のウエハ観察装置は、カセット部
材(2)が観察装置(22)の設置される位置よりも低
い位置に設置されているので、オペレータはカセット部
材(2)の交換するときに、カセット部材(2)を高く
持ち上げる必要がないので、簡単にカセット部材(2)
を交換することができる。
【0009】請求項2記載のウエハ観察装置は、補正装
置(17,18,19)がカセット部材(2)と観察装
置(22)との高低差を補正して搬送すれば、カセット
部材と観察装置との高低差の補正に特別の時間を要する
ことがない。請求項3記載のウエハ観察装置は、第1搬
送装置(10)と第2搬送装置(23)とによりウエハ
をカセット部材(2)から第2搬送装置(23)まで搬
送しているので、効率良くウエハを搬送することができ
る。
【0010】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態を表す
ウエハ観察装置の概要図であり、図2は図1のウエハ観
察装置の概要図を上から見た図である。図1と図2とに
おいて、カセット部1は、複数のウエハを収納し、この
カセット部1から取り付けと取り外しとが可能なカセッ
ト部材2と、カセット部材2から任意のウエハを取り出
せるように上下方向に移動可能なエレベータ部3とから
構成されている。
【0011】カセット部材2の大きさは、4インチ,5
インチ,6インチ,8インチ用とがあり、ウエハの大き
さに応じてウエハを収納するカセットが大きくなってい
る。カセット部材2の底面(エレベータ部3への取り付
け面)は、“H”形状をしている。また、カセット部材
2のウエハを収納する高さ間隔は、4インチ〜6インチ
は同じである。
【0012】図3はエレベータ部3の詳細を表す図であ
り、図3(a)は上から見た図であり、図3(b)は、
図3(a)のA−A’断面を表す図である。なお、図3
は、カセット部材2が取り外された状態を示しており、
図3(a)に点線で囲まれた領域AR1が4インチ用の
カセット部が取り付けられる位置であり、図3(a)に
一点鎖線で囲まれた領域AR2が8インチ用のカセット
部が取り付けられる位置である。
【0013】第1スイッチ4は、領域AR1内に設けら
れた押しスイッチであり、カセット部材2が取り付けら
れたときにON信号を出力し、カセット部材2が取り外さ
れたときにOFF 信号を出力するスイッチである。即ち、
4インチ〜8インチ用のカセットのいずれをエレベータ
部3に取り付けたときに、第1スイッチ4はON信号を出
力する。
【0014】第2スイッチ5は、領域AR2内に設けら
れた押しスイッチであり、4〜6インチ用のカセットと
は係合しない位置に設けられている。即ち、第2スイッ
チ5は、8インチ用のカセットが取り付けられたときの
みにON信号を出力するスイッチであり、それ以外はOFF
信号を出力する。エレベータ部3は、モ−タ6を駆動源
としており、モ−タ6の駆動力はギア部7を介してリー
ドネジ8に伝達され、2本のリニアシャフト9をガイド
として上下方向に移動する。
【0015】図1と図2とに戻って、デュアルアーム部
10は、ウエハの取り出しと収納とを行う部分である。
図4は、デュアルアーム部10の詳細を示す図であり、
デュアルアーム部10は、ロード用アーム11とアンロ
ード用アーム12とを有しており、Z方向に所定の間隔
を有してほぼ重なるように配置されている。
【0016】ロード用アーム11は、アンロード用アー
ム12の上方に配置されており、カセット部材2からウ
エハを公知の真空吸着により取り出して、後述の回転ア
ーム部23に搬送する。アンロード用アーム12は、検
査が終了し、回転アーム部23から受け渡されるウエハ
をカセット部材2に戻す。
【0017】モ−タ13は、ロード用アーム11とアン
ロード用アーム12とを図のX方向に移動するためのモ
−タである。モ−タ14はロード用アーム11を図のY
方向に移動するためのモ−タであり、モ−タ15はアン
ロード用アーム12を図のY方向に移動するためのモ−
タである。
【0018】即ち、ロード用アーム11とアンロード用
アーム12とは、それぞれ独立してY方向(ウエハの取
り出し及び収納方向)へ移動することが可能である。モ
−タ16は、ロード用アーム11とアンロード用アーム
12とを図のZ方向に移動するためのモ−タであり、円
筒カム17を介して、モ−タ16の駆動力をロード用ア
ーム11とアンロード用アーム12とに伝達している。
【0019】図5は、円筒カム17の詳細を表す図であ
る。図5に示してあるように、円筒カム17は、ロード
用のカム溝18とアンロード用のカム溝19とを有して
いる。ロードアーム11はロード用のカム溝18にカム
フロワー20を係合させることによりZ方向に移動し、
アンロード用アーム12はアンロード用のカム溝19に
カムフロワー21を係合させることによりZ方向に移動
する。
【0020】図6は、ロード用のカム溝18とアンロー
ド用のカム溝19とを平面的に展開した図であり、横軸
が角度を表し、縦軸がZ方向の高さを表している。図中
〜で示す区間は、4〜6インチのウエハのロードと
アンロードとを行うときのストロークを表しており、
の位置が4〜6インチのウエハのアンロード位置であ
り、の位置が4〜6インチのウエハのロード位置であ
る。
【0021】図中〜で示す区間は、8インチのウエ
ハのロードとアンロードとを行うときのストロークを表
しており、の位置が8インチのウエハのアンロード位
置であり、の位置が8インチのウエハのロード位置で
ある。図1から明らかなように、本実施の形態において
は、オペレータがカセット部材2を交換するときに持ち
運び及び取り付けが簡単なように低い位置(電源部44
の上方に設置されており、床面から約900mmの位
置)にカセット部1を設け、また、オペレータが顕微鏡
観察を行い易いように高い位置(架台部45に設置され
ており、床面から約1200mmの位置)に顕微鏡観察
部22を設けている。 即ち、顕微鏡観察部22に対し
て、カセット部1が低い位置に設けられている。
【0022】このため、カセット部1と顕微鏡観察部2
2との高低差を補正するために、ロード用のカム溝18
とアンロード用のカム溝19とに受渡し高さ補正区間が
設けられている。即ち、ロードアーム11とアンロード
アーム12とは、後述の回転アーム部23とウエハの受
け取り及び受け渡しをの位置にて行う。
【0023】図1と図2とに戻って、回転アーム部23
は、反時計方向に回転可能であり、半円弧状の3つのア
ーム23a,23b,23cとを有している。図中のA
位置において、回転アーム部23は、ロード用アーム1
1からウエハを受け取るか、若しくは、アンロード用ア
ーム12へウエハを受け渡す。図中のB位置において、
回転アーム部23は、不図示のマクロ観察ユニットへウ
エハを受け渡すか、若しくは、不図示のマクロ観察ユニ
ットからウエハを受け取る。
【0024】なお、マクロ観察工程とは、オペレータの
目視によりウエハのキズ等の欠陥を観察する工程であ
る。図中のC位置において、回転アーム部23は、顕微
鏡観察部22へウエハを受け渡すか、若しくは、顕微鏡
観察部22からウエハを受け取る。図7は、回転アーム
部23の詳細を表す図である。
【0025】端面カム25は、平坦部と傾斜部とからな
るカム部を有しており、アーム23a〜23cを上下に
移動させる部材である。カムフロワ−26は、端面カム
25のカム部と係合する部材である。リンク27は、カ
ムフロワ−26を保持しており、一端が軸38に固定さ
れ、他端がリンク27に設けられた長孔を介して軸39
と係合している。
【0026】また、リンク27は、軸38を支点とし
て、端面カム25の平坦部と傾斜部とに沿って図の矢印
方向に回転運動する。即ち、モ−タ28の回転力が端面
カム25に伝達されると、端面カム25のカム部に沿っ
てリンク27が前述の回転運動をする。また、リンク2
7の下方には、間欠カム29と30とが設けられてお
り、モ−タ28の回転力により端面カム25と一体とな
って回転する。
【0027】図8は、図7のA−A断面であり、間欠カ
ム29と30とを表している。図8に表してあるよう
に、間欠カム29の先端部29aは、ベアリング31と
係合するときに、アーム23a〜23cが取り付けられ
ている軸32を回転させる。同様に、間欠カム30の先
端部30aは、ベアリング33と係合するときに、アー
ム23a〜23cが取り付けられている軸32を回転さ
せる。
【0028】即ち、アーム23a〜23cは、軸32の
回転により回転をする。図7に戻って、段付き環状カム
34は、2段階の高さを有した部材であり、上面部と下
面部と、この上面部と下面部との境界である境界面とか
ら構成されている。この段付き環状カム34は、リンク
27により上下方向に移動し、後述するように、所定の
高さにあるときにアーム23a〜23cのベアリング部
23a1 〜23c1 (図9参照)と接触している。
【0029】なお、段付き環状カム34は、軸32の回
転により回転することはない。図9は、端面カム25の
回転と段付き環状カム34との関係を示す図である。上
段の図は、各アーム23a〜23cのベアリング部23
1 〜23c1 と、段付き環状カム34との位置関係を
示しており、黒く塗られた部分は段付き環状カム34の
上面部を表している。
【0030】また、段付き環状カム34は、外枠40と
ベアリング41とを介して固定されている。外枠40に
はストッパ42が固定されており、ベアリング41には
軸43が固定されている。バネ37は、環状カム34を
時計方向に付勢する部材である。図9(a)に示してあ
るように、カムフロワー26が端面カム25の傾斜部の
一番低い位置にあるときに、回転アーム23a〜23c
のベアリング部23a1〜23c1 は、段付き環状カム
34と接触しておらず、回転アーム23a〜23cは最
も低い位置において同じ高さになっている。
【0031】図9(a)の状態から端面カム25がモ−
タ28により105°回転すると、カムフロワー26が
端面カム25の平坦部に移動してリンク27が反時計方
向に回転するので、段付き環状カム34は上昇する。ま
た、段付き環状カム34は、上昇する途中でベアリング
部23a1 〜23c 1 と接触し、この後ベアリング部2
3a1 〜23c1 と一緒に上昇する(図9(b))。
【0032】端面カム25が105°回転する時に間欠
カム29,30のそれぞれの先端部29a,30aはベ
アリング31,33と係合していないので、軸32は回
転しない。これにより、回転アーム23aは回転アーム
23bと23cとに比べ高い位置になる。なお、後述す
るように、この高い位置にあるときにロードアーム11
からウエハが受け渡される。
【0033】図9(b)の状態から更に端面カム25が
112.5°回転すると、カムフロワー26の高さが変
わらないので、回転アーム23a〜23cの高さの関係
は維持される。端面カム25が112.5°回転するの
に伴って、間欠カム29,30のそれぞれの先端部29
a,30aはベアリング31,33と係合し、軸32を
回転させるので、ベアリング部23a1 〜23c1 が段
付き環状カム34の上面部と下面部をそれぞれ90°回
転移動する。
【0034】また、この時に、ベアリング部23c1
段付き環状カム34の上面と下面との境界面に接触する
(図9(c))。図9(c)の状態から更に端面カム2
5が37.5°回転すると、回転アーム23a〜23c
の高さの関係を維持したまま、ベアリング部23c1
段付き環状カム34の側面を押して回転するので、段付
き環状カム34がベアリング部23a1 〜23c1 と共
に30°回転する(図9(d))。
【0035】図9(b)と図9(c)とに示してあるよ
うに、端面カム25が150°回転している間に、間欠
カム29,30のそれぞれの先端部29a,30aはベ
アリング31,33と係合し、軸32を120°回転さ
せる。図9(d)の状態から端面カム25がモ−タ28
により回転すると、カムフロワー26が端面カム25の
平坦部から傾斜部に移動することにより、段付き環状カ
ム34は下降する(図9(e))。
【0036】カムフロワー26が端面カム25の一番低
い位置に達すると、ベアリング部23a1 〜23c1
段付き環状カム34とは非接触になる。このため、ベア
リング部23c1 が段付き環状カム34の側面を押さな
くなるため、段付き環状カム34はバネ37の力により
−30°回転し、元の位置に戻る。
【0037】図1に戻って、顕微鏡観察部22は、ウエ
ハを顕微鏡観察するものであり、種々の倍率を有した対
物レンズを取り付け可能である。モニター部24は、ウ
エハの検査結果及び装置の状態を表示すると共に、後述
のCPU36により検査レシピの設定を行うときに用い
られる。電源部44は、ウエハ観察装置に電源を供給す
るものである。
【0038】図10は、ウエハ観察装置のブロック図を
示しており、CPU36はウエハ観察装置全体を制御す
るものであり、特に、カセット部1,デュアルアーム部
10,顕微鏡観察部22,回転アーム部23,モニター
部35を制御するものである。 以上のように構成され
た、本実施の形態のウエハ観察装置の動作について以下
説明を続ける。
【0039】本実施の形態では、カセット1に4インチ
のウエハが25枚収納されている場合で、特にN枚目
(3<N≦25)のウエハを搬送する場合について説明
を行う。従って、アンロードアーム12は、回転アーム
部23から(N−3)枚目の顕微鏡観察を終えたウエハ
を受け取って保持している状態である。
【0040】なお、説明を簡単にするために、アンロー
ドアーム12は、アーム23aから(N−3)枚目のウ
エハを受け取ったものとする。CPU36は、カセット
部1のエレベータ部3をN枚目のウエハを搬送する位置
へ移動させる。CPU36は、第1スイッチ4と第2ス
イッチ5の出力からウエハのサイズが4インチと識別し
ている。
【0041】CPU36は、デュアルアーム部10を制
御して、ロードアーム11とアンロードアーム12とを
図6のの位置に移動させる。なお、8インチのウエハ
を検査する場合に、CPU36は、円筒カム17を制御
してロードアーム11とアンロードアーム12とを図6
のの位置に移動させる。
【0042】CPU36は、モータ14とモータ15と
を制御して、ロードアーム11とアンロードアーム12
とをカセット部材2内へ移動させる。CPU36は、モ
−タ16を制御して、ロードアーム11とアンロードア
ーム12とを図6のの位置からの位置へ上昇させ
る。これにより、ロードアーム11はロード用カム溝1
8に沿って上昇しカセット1内のウエハを下方から持ち
上げて真空吸着し、アンロードアーム12はロード用カ
ム溝19に沿って下降しカセット1内のウエハを受け渡
す。
【0043】本実施の形態では、ロードアーム11とア
ンロードアーム12とによりカセット部材2のウエハの
受取と収納とをほぼ同時に行っているので、ウエハの搬
送時間を大幅に短縮することができる。CPU36は、
ロードアーム11とアンロードアーム12とのZ方向の
位置を図6のの位置にしたまま、モ−タ14とモ−タ
15とを制御して、ロードアーム11とアンロードアー
ム12とをカセット部材2から退避させる。
【0044】CPU36は、カセット部1と顕微鏡観察
部22との高低差を補正するために、モ−タ16を制御
して、ロードアーム11とアンロードアーム12とを図
6のの位置へ上昇させる。CPU36は、モ−タ13
を制御してロードアーム11とアンロードアーム12と
を図2のAの位置に移動させる。
【0045】前述のアーム23aは、(N−3)枚目の
ウエハをアンロードアーム12に受け渡した後、図9の
(a)の位置で待機している。図11と図12とは、図
2のAの位置におけるデュアルアーム部10と回転アー
ム部23とのウエハの受渡しを表す概念図である。ロー
ドアーム11がウエハを保持しているときに、アーム2
3aは図9の(a)の位置にあり、図11(a)に表し
ているようにアンロードアーム12の下方に位置してい
る。
【0046】CPU36は、ロードアーム11とアンロ
ードアーム12とを図2のAの位置に移動させた後、回
転アーム部23を図9の(b)の位置まで上昇させて、
アーム23aにロードアーム11の下方からN枚目のウ
エハを受け取らせる(図11(b)参照)。CPU36
は、アーム23a〜23cを120°回転させる(回転
アーム部23を図9の(d)の位置にする。)。
【0047】これにより、アーム23aは図2のBの位
置に移動し、(N−2)枚目のウエハを保持しているア
ーム23cは図2のAの位置に移動し図12(a)に表
してあるようにロードアーム11とアンロードアーム1
2との間の空間に位置する。これは、アーム23cのベ
アリング部23c1 が段付き環状カム34の下面部に位
置しているためである。
【0048】CPU36は、アーム23a〜cを下降さ
せる(アーム23aを図9の(f)の位置に下降させ
る)間に、アーム23aはN枚目のウエハを不図示のマ
クロ観察ユニットにウエハを受け渡し、アーム23cは
図12(b)に示してあるようにアンロードアーム12
に(N−2)枚目のウエハを受け渡す。デュアルアーム
部10は、アンロードアーム12に(N−2)枚目のウ
エハを保持させて、再びカセット部材2へ移動し、(N
−2)枚目のウエハを収納するとともに、ロードアーム
に(N+1)枚目のウエハを受け取らせる。
【0049】以後、ウエハを全て検査するまで上述の工
程を繰り返す。以上詳述したように、本実施の形態にお
いては、デュアルアーム部10と回転アーム部23との
間でウエハの受け取り及び受け渡しをするときに、デュ
アルアーム部10が退避することないので、ウエハの受
け取り及び受け渡しを短時間で行うことができる。
【0050】
【発明の効果】以上説明してきたように、請求項1記載
のウエハ観察装置は、カセット部材が観察装置の設置さ
れる位置よりも低い位置に設置されているので、オペレ
ータはカセット部材の交換するときに、カセット部材を
高く持ち上げる必要がないので、簡単で、かつ、労力を
要することなくカセット部材を交換することができる。
【0051】請求項2記載のウエハ観察装置は、補正装
置がウエハの搬送中にカセット部材と観察装置との高低
差を補正して搬送するので、カセット部材と観察装置と
の高低差の補正に特別の時間を要することがない。この
ため、ウエハ観察装置のスループットを低下することな
く、カセット部材と観察装置との高低差を補正すること
ができる。
【0052】請求項3記載のウエハ観察装置は、第1搬
送装置と第2搬送装置とによりウエハをカセット部材か
ら第2搬送装置まで搬送しているので、効率良くウエハ
を搬送することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態のウエハ観察装置を示す概
要図である。
【図2】図1のウエハ観察装置の概要図を上から見た図
である。
【図3】エレベータ部3の詳細を表す図であり、図3
(a)は上から見た図であり、図3(b)は図3(a)
のA−A’断面を表す図である。
【図4】デュアルアーム部10の詳細を示す図である。
【図5】円筒カム17の詳細を表す図である。
【図6】ロード用のカム溝18とアンロード用のカム溝
19とを平面的に展開した図である。
【図7】回転アーム部23の詳細を表す図である。
【図8】間欠カム29,30を表す図である。
【図9】端面カム25の回転と段付き環状カム34との
関係を示す図である。
【図10】ウエハ観察装置のブロック図を表す図であ
る。
【図11】デュアルアーム部10と回転アーム部23と
のウエハの受渡しを表す概念図である。
【図12】デュアルアーム部10と回転アーム部23と
のウエハの受渡しを表す概念図である。
【符号の説明】
1 カセット部 2 カセット部材 3 エレベータ部 10 デュアルアーム部 11 ロードアーム 12 アンロードアーム 17 円筒カム 18 ロード用のカム溝 19 アンロード用のカム溝 22 顕微鏡観察部 23 回転アーム部 34 段付き環状カム 36 CPU
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渡辺 理香 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ウエハを収納するカセット部材と、 前記ウエハを搬送する搬送装置と、 前記搬送装置により搬送された前記ウエハを観察する観
    察装置と、を備えたウエハ観察装置において、 前記カセット部材は、前記観察装置が設置される位置よ
    りも低い位置に設置されることを特徴とするウエハ観察
    装置。
  2. 【請求項2】請求項1記載のウエハ観察装置において、 前記搬送装置は、前記カセット部材と前記観察装置との
    高低差を補正して搬送する補正装置を有していることを
    特徴とするウエハ観察装置。
  3. 【請求項3】請求項1または請求項2記載のウエハ観察
    装置において、 前記搬送装置は、前記カセット部材から前記カセット部
    材と前記観察装置との間に設けられた第1の位置まで前
    記ウエハを搬送する第1搬送装置と、前記第1の位置か
    ら前記観察装置まで前記ウエハを搬送する第2搬送装置
    とから構成されていることを特徴とするウエハ観察装
    置。
JP7302408A 1995-11-14 1995-11-21 ウエハ観察装置 Pending JPH09148391A (ja)

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KR1019960052211A KR970030586A (ko) 1995-11-14 1996-11-06 웨이퍼 검사장치
TW085113733A TW330911B (en) 1995-11-14 1996-11-09 The inspection apparatus, storing unit & convey system for wafer
US09/323,113 US6405610B1 (en) 1995-11-14 1999-06-01 Wafer inspection apparatus

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006165586A (ja) * 2000-09-06 2006-06-22 Olympus Corp 基板搬送装置

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